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Está basada en interferencias ópticas producidas cuando por una rendija, atraviesa una
radiación monocromática; el espesor de la rendija tiene el tamaño muy similar a la longitud de
onda de la radiación (están en el mismo orden que as distancias interatómicas de los
componentes de las redes cristalinas).
Cuando se irradia una muestra para su análisis, los Rx se difractan en ángulos que dependen de
las distancias interatómicas. Para esto se utiliza la Ley de Bragg.
𝑛𝜆 = 2𝑑 sin 𝜃
Donde
Se utiliza un difractorama que está formado por una fuente de rayos X, un portamuestras en un
geniómetro giratorio y un detector. El difractograma obtenido nos muestra en el eje de las
abscisas el ángulo de difracción, y en las ordenadas la intensidad correspondiente. Con estos
difractograma, se ubica al material en una base de datos.
BIBLIOGRAFÍA