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OBJETIVOS
PRESENTACIÓN DE RESULTADOS
Curva Ajustada
0.04
0.01
y = 0.0082x - 0.0008
0
R² = 0.9706
0.0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5
1/C
(1/Cteo) 1/Cexo)
Linear ((1/Cteo)) Linear (1/Cexo))
o CORTE EN LA ORDENADA
o PENDIENTE
b=B teórico se obtiene con la ecuación (13), con K=1
𝐵𝑡𝑒𝑜 = 𝐵𝑒𝑥𝑝 ± 𝑈𝑏 𝑈𝑏 = 𝑡𝛼 2⁄,−2 ∙ 𝑠𝑏
En cuyo caso no se validaría la hipótesis nula para la pendiente puesto que en
dicho rango no se encuentra ɛ0 = 8,85*1012.
CÁLCULOS COMPLEMENTARIOS
4 4 𝑝𝐹
𝜀0 = 2
= 2
= 7.04 ∗ 10−3 ( )
𝐵∗𝜋∗𝐶 0.0082 ∗ 𝜋 ∗ 148.5 𝑚𝑚
𝑝𝐹
𝜀0 = 7.04 ∗ 10−3 ( )
𝑚𝑚
Curva Ajustada
0.025
0.02
0.015
Yi
4 4 𝑝𝐹
Y= 2
= 2 2
= 6.54 ∗ 106 ( )
8.82𝑥10 − 12 ∗ 𝜋 ∗ 𝐶 8.82 ∗ 10 ∗ 𝜋 ∗ 148.5 𝑚𝑚
𝑝𝐹
𝑌 = 6.5 ∗ 106 (𝑚𝑚)
Para el cartón: K1
Para el Baqueta: K2
Para el Acrilico: K3
1 1
K= = = 0.5864
1 1 1 1 1 1
+ + + +
𝐾1 𝐾2 𝐾3 1.014 3.907 2.160
Calcule la relación:
1 1
𝐶𝑒𝑞𝑢𝑖 = = = 7.617
1 1 1 1 1 1
+ + + +
𝐶1 𝐶2 𝐶3 100 47 10
DISCUSIÓN DEL EXPERIMENTO
2. Supóngase que debido a la holgura del sistema, existe una capa de aire de
0,1 [mm] de espesor entre cada placa metálica y el dieléctrico empleado. ¿En
qué forma afecta esto a los resultados? ¿se obtendría una permitividad del
dieléctrico mayor o menor a la correcta?
r.- En el experimento la capacitancia esta en función de la distancia por lo tanto si
hay esa holgura este aumentaría la separación entre placas y este tiende a
aumentar la permisividad
CONCLUSION
BIBLIOGRAFÍA