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RESUMEN
La emisión de electrones por metales iluminados con luz de determinada frecuencia
fue observada a finales del siglo XIX por Hertz y Hallwachs. El proceso por el cual
se liberan electrones de un material por la acción de la radiación se denomina efecto
fotoeléctrico o emisión fotoeléctrica. Sus características esenciales son: Para cada
sustancia hay una frecuencia mínima o umbral de la radiación electromagnética por
debajo de la cual no se producen fotoelectrones por más intensa que sea la
radiación, en otra característica tenemos que la emisión electrónica aumenta
cuando se incrementa la intensidad de la radiación que incide sobre la superficie del
metal, ya que hay más energía disponible para liberar electrones.
Palabras claves: frecuencia, fotoelectrones, radiación, electrones.
ABSTRACT:
The electron emission light illuminated metals with certain frequency were observed
in the late nineteenth century by Hertz and Hallwachs. The process by which
electrons are released material by the action of radiation is called photoelectric effect
or photoelectric emission. It’s essential features are: For each substance is a
minimum frequency or threshold electromagnetic radiation below which no
photoelectrons are produced by more intense than either radiation in another
characteristic have that electron emission increases as the intensity increases the
radiation incident on the metal surface, since more energy is available to release
electrons.
Keywords: frequency, photoelectrons, radiation, electrons.
I. INTRODUCCION Ahora bien, en este informe se
redactarán las experimentaciones
Por estudios anteriores, se había
hechas con distintos instrumentos,
podido determinar que la luz viajaba
recreando las pruebas que
en forma de ondas, esto es, la luz es
demostrarían el efecto fotoeléctrico,
una forma de energía de carácter
haciendo incidir radiación sobre un
ondulatorio, donde campos eléctricos
sensor, el cual permitirá, además,
y magnéticos oscilaban
concluir varias de las hipótesis y ya
perpendicularmente. Sin embargo, en
ideas firmes del efecto fotoeléctrico,
algunas situaciones este carácter
tal como la relación entre la intensidad
ondulatorio fallaba, se observaba que
de la radiación y la fotocorriente, entre
la radiación no se comportaba como
otros.
debería. Uno de los fenómenos en que
se incurría este hecho fue descubierto
por Heinrich Hertz (el mismo que
demostró la existencia de ondas
electromagnéticas diferentes a luz II. ASPECTO TEORICO
visible), en el año 1887, mientras
experimentaba con descargas
eléctricas entre esferas conductoras. Constante de Planck
Por accidente, una de las esferas fue
incidida con luz ultravioleta, y para
asombro de Hertz, la chispa entre las La constante de Planck es la relación
esferas se producía con mayor entre la cantidad de energía y de
facilidad (se cargó más fácil). frecuencia asociadas a un cuanto o a
una partícula elemental.
1 bobina de reactancia
universal 230 V, 50 Hz.
1 lente f = + 100 mm y 1
diafragma de iris.
Figura 1. Montaje experimental.
5 filtros de interferencia.
IV. DATOS EXPERIMENTALES
1 fuente de alimentación 230
V/12V~/20 W.
Para la obtención de los datos, se
1 capacitor STE 100 nF, 630 V, hacía incidir un haz de luz, el cual
1 pulsador STE (interruptor), de pasaba por el iris para regular que
un punto. tanta radiación pasaba, luego se
enfocaba con la lupa para luego pasar
1 voltímetro de CC. por los filtros, los cuales solo permitían
el paso de una radiación con longitud
1 banco óptico, perfil normal de onda específica, para que por
1m. ultimo llegaran a el sensor de
radiación que mandaba información
de potencial al multímetro analógico.
2 jinetillos ópticos, H = 90 mm/B
= 50 mm.
La información está condensada en la
3 jinetillos ópticos, H = 120 siguiente tabla.
mm/B = 50 mm.
V. ANALISIS
Filtro Pequeño
1200
1000
Tensión (mV)
En la práctica pudimos notar como a 800
medida que cambiamos la intensidad 600
de haz incidente, en la cual tomamos 400
tamaños como grande, mediano y 200
pequeño. Para cada filtro hicimos este 0
proceso en el cual notamos como la 519 549 688 741 822
tensión para cada filtro dependiendo Frecuencia (GHz)
de la intensidad de haz que incidía
cambiaba, entre los cambios pudimos
ver que entre más grande era el haz Para el filtro mediano
mayor era la tensión, esto se debe a
las leyes del efecto fotoeléctrico donde
se indica que entre la intensidad de luz
es directamente proporcional a la Frecuencia Tensión
corriente, por consiguiente la corriente (GHz) (mV)
es directamente proporcional a la 519 200
tensión. Por lo tanto el cambio de cada 549 400
haz de pequeño a mediano y luego a 688 800
grande pudimos ver como 741 900
incrementaba la tensión, al 822 1200
incrementar el haz de luz incidente.
1000
800 Ahora, utilizando los métodos
600 conocidos de regresión lineal, se
400 procede a linealizar los datos
200 anteriormente representados.
0
519 549 688 741 822
Frecuencia (GHz) Para el filtro pequeño
Filtro Pequeño
Filtro Grande 1200
y = 3.1011x - 1458.5
1000
Frecuencia Tensión Tensión (mV)
(GHz) (mV) 800
519 200 600
549 400
400
688 800
741 900 200
822 1200 0
0 200 400 600 800 1000
Frecuencia (GHz)
Filtro Grande
1400 Ecuación de la Recta
1200
Tensión (mV)
𝑚 = 3.1011*1.6𝑥10−19 C
Filtro Grande ℎ = 4.96𝑥10−19 𝑒𝑉 ∗ 𝑠
1400
Comparándola con el valor real, y
1200
y = 3.1011x - 1258.5 calculando el error tenemos:
1000
Tensión (mV)
800 𝐸
600 |4.14𝑥10−15 𝑒𝑉 ∗ 𝑠 − 4.96𝑥10−19 𝑒𝑉 ∗ 𝑠|
=
400 4.14𝑥10−15 𝑒𝑉 ∗ 𝑠
200
∗ 100%
0 𝐸 = 9.98%
0 500 1000
Frecuencia (GHz)
A continuación procederemos a
Ecuación de la Recta calcular de acuerdo las leyes del
𝑦 = 3,1011 ∗ x − 1258,5 efecto fotoeléctrico la función trabajo,
en el cual si tomamos la energía
cinética como mínima tenemos que:
ℎ𝑣 = ∅ 𝑣 = 8.21 𝑥 1014
Donde los términos que tenemos son Por lo tanto tenemos como frecuencia
la constante de Planck y la frecuencia, promedio =
la cual sería una frecuencia promedio,
tiendo en cuenta las frecuencias de 𝑣 = 6.634 𝑥 1014 Hertz.
cada filtro usado. Entonces la función trabajo será igual
a:
𝑐 ∅ = 4.39 x 10−19 J
𝑣=
𝜆
Convirtiendo este valor a eV nos
14
𝑣 = 5.19 𝑥 10 queda:
∅ = 2.74 𝑒𝑉
VII. BIBLIOGRAFIA