EXPERIMENTO FIV-02

DIFRACCIÓN II
OBJETIVO
Visualizar otras formas de Difracción de Fraunhofer.

Equipo Necesario Cantidad

Slide de varias rendijas Dobles 1
Slide de varias rendijas (3,4,5,40) 1
Slide con red bidimensional 1
láser 1
carril 1
Soporte para slides 1

FUNDAMENTO TEORICO

DIFRACCION DOBLE RENDIJA

Considerando lo visto en el experimento anterior ( Difracción 1), ahora debido a dos

fuentes separadas una distancia d, que generan ondas de la misma amplitud y que
mantienen una diferencia de fase ?, como se ve en la siguiente figura,
consecuencia de la interferencia entre rayos provenientes de puntos correspondientes entre
dos rendijas y la difracción que determina la cantidad de luz que emana de cada una de las
rendijas, para un ángulo ? determinado, entonces la intensidad tiene la forma:

Sen 2u
I = 4.I 0 2
Cos 2 ?
u
πb πd
donde u = Senθ γ = Senθ
λ λ
En resumen el patrón de difracción puede entenderse como, la interferencia de los rayos
correspondientes que provienen de las dos rendijas, las cuales dan lugar a máximos y
mínimos delgados y estrechos dados por Cos2.?, y la difracción Sen2.u/u2 que modula las
intensidades de esas franjas de interferencia.

El factor de cuatro surge del hecho de que la amplitud del campo eléctrico en ese punto es
el doble del que seria en ese punto si se cubriera una rendija.

Si en la ecuación anterior b se hace muy pequeño, entonces Sen2.u/u2 =1 y la ecuación se

parece a la expresión para la densidad de flujo para un par de fuentes lineales largas
(experiencia de YOUNG), también si d=0 las dos rendijas se funden en una, ?=0, y queda
I(?)= 4I0 Sen2.u/u2. que es la expresión para la intensidad de una rendija.

Ahora I será CERO sí

2 2 2
( )
Cos 2 γ = 0 ⇒ γ = π , 3π ,... ⇒ dSenθ = m + 1 λ , m = 1,2,3,.......
.o
Sen 2 u
= 0 ⇒ u = π ,2π ,3π ,... ⇒ bSenθ = pλ , p ≠ 0
u2

Esto nos da mínimos por interferencia.

Las posiciones exactas de los máximos no están dados por una relación simple, en el caso
de dos rendijas muy delgadas y si solo los máximos cercanos al centro, entonces las
posiciones aproximadas de los máximos, pueden determinarse, despreciando la variación
del factor. Sen2.u/u2, entonces los máximos quedan determinados por. Cos2.?
I . max . ⇒ Cos 2γ max
⇒ dSenθ = mλ

Las variables u y ? no son independientes:

d 
γ =  u
b
Los máximos están dados por ?=mp

Y los mínimos están dados por u=pp

 m
⇒γ = u
p
o
d
m= p
b
Para cada orden P (mínimos por difracción) se tiene d/b ordenes M (máximos por
interferencia)

Cuando las coincidencias de un máximo por interferencia y un mínimo por difracción son
satisfechas por el mismo ángulo ----, entonces algunos ordenes de interferencia (máximos)
desaparecen.
dSenθ = mλ d m
〉〉 =
bSenθ = pλ b p

si
d
= 3 ⇒ m = 3 p = 3,6,9,.. ⇒ desaparecen
b

REJILLA DE DIFRACCION ( ARREGLO DE N RENDIJAS)

Es de esperar que el patrón corresponde a N fuentes coherentes modulado por el patrón de

una sola rendija.
Entonces si d es la separación de rendijas sucesivas y b es el ancho de cada una de ellas,
entonces:

2
 SenNγ  πb πd
2
 Senu 
I = I0     donde u = Senθ y γ = Senθ
 u   γ  λ λ

los máximos principales son determinados por el factor de interferencia:

I (θ ) = N 2 I 0
cuando u y γ son pequeños
γ = 0,π ,2π ,... ⇒ dSenθ = mλ
Notamos que los máximos principales están localizados en la misma posición que los
máximos en el caso de dos rendijas, las intensidades N2 I0 están moduladas por la
envolvente. Sen2.u/u2 de difracción, entonces ?/u=d/b sigue vigente, también d/b=m/p.para
la desaparición de ordenes.
MINIMOS Y MAXIMOS SECUNDARIOS

2
 SenNγ 
min  ⇒ Nγ = 0, π ,2π ,... = pπ
 γ 

excepto
p = 0, N ,2 N ,...

⇒ dSenθ =
λ 2λ
, ,....,
(N − 1)λ , (N + 1)λ
N N N N
Nλ 2 Nλ
Excepto → dSenθ = 0, , , etc.
N N

RED BIDIMENSIONAL

Es una pantalla opaca con un numero de pequeñas aberturas ubicadas en los puntos de
intersección de dos familias de líneas paralelas y equidistantes mutuamente
perpendiculares.

Si iluminamos con una fuente monocromática plana la red, la intensidad será máxima en
puntos donde los rayos salientes de las aberturas llegan con la misma fase, esto ocurre
cuando las trayectorias ópticas sobre la red y el punto de convergencia difieren en múltiplos
enteros de longitud de onda.

Consecuentemente, se observara una distribución rectangular de puntos luminosos sobre un

fondo oscuro, siendo cada una imagen separada de una fuente puntual.
En una abertura rectangular lo que veríamos seria una superposición de patrones de
difracción por rendija lineal mutuamente perpendiculares.

PROCEDIMIENTO

1. Conecte la interfaz ScienceWorkshop a la computadora, Seguidamente, encienda la

interfaz y la computadora.
2. Conecte el amplificador de potencia y el sensor de voltaje a la interfaz y establezca el
siguiente esquema.

3 Armar el siguiente diagrama

 Sensor de posición

Sensor de luz
LASER

Rendija Sentido de
movimiento

Figura 1

4 Abrir el programa FIV-02 y leer con atención la libreta de apuntes del programa. El
programa mostrara un gráfica de la intensidad de la luz vs la posición

5 Verificar que el Haz del láser pase a través de la rendija variable y este a la altura
del sensor de luz.

6 En el programa FIV-02, presione REC para comenzar a tomar datos, a la vez que se
mueve el sensor por sobre todo el espectro.

7 Imprimir la gráfica Intensidad vs. Posición y hallar con las expresiones conocidas el
ancho de la rendija (debe ser el promedio del ancho para varios ordenes del patrón).
8 Colocar el haz láser a la altura del sensor de luz y poner el Slide de rendijas dobles
frente al haz de láser.

9 Luego, en el programa, presione REC para comenzar a tomar datos, a la vez que se
mueve el sensor por sobre todo el espectro.

10 Imprimir la grafica Intensidad vs. Posición y hallar con las expresiones conocidas el
ancho de la rendija (debe ser el promedio del ancho para varios ordenes del patrón).

11 Imprimir las graficas y obtener los valores de b y d.

12 Determinar los ordenes desaparecidos en la grafica obtenida.

13 Repita los pasos anteriores con un slide de mas de dos rendijas, haga varias pruebas
(3,4,5,..,40 líneas).
 REPORTE DE LABORATORIO
ACTIVIDAD: FIV-02-DIFRACCION 2
Rendija Doble

Realizar el procedimiento experimental líneas arriba con un obstáculo formado por rendijas
dobles de diferentes valores de b y d. y responda las siguientes preguntas:

• ¿Que son los máximos y mínimos secundarios?

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• Explique porque vemos mas franjas luminosas en este caso que cuando realizamos
el experimento de una rendija.
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.......................................................................................................................................
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• Imprima los resultados y determine las constantes b y d de varios pares de rendijas,
compare con los datos dados por el fabricante.
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B) Rendijas de 3,4,5,40 líneas, rejilla

• Seguir el procedimiento experimental explicado líneas arriba con un obstáculo
formado 3, 4, 5 y 40 rendijas, que sucede, explique.
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• Utilice Una rejilla de difracción y halle la constante de red , compareel valor

obtenido con el dado por el fabricante.
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C) Red Bidimensional
Seguir el procedimiento experimental explicado líneas arriba con un obstáculo formado por
una red bidimensional. Analizar cualitativamente el patrón de difracción producido por una
red bidimensional, para esto colocar un pápelografo en lugar del sensor, apagar la luz e
interpretar el resultado.
• Explique y discuta cualitativamente los resultados obtenidos.
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