Alumno: Eduardo Avila Flores

ECONOMIC GEOLOGY Vol. 98 – No. 3 (Mayo 2003)

ORO INVSIBLE Y TELURIO EN PIRITA RICA EN ARSENICO DEL DEPOSITO DE ORO “EL EMPERADOR”, FIJI: IMPLICANCIAS
EN LA DISTRIBUCION Y DEPOSITACIÓN
DAVID W. PALS, PAUL G. SPRY,†

Técnicas de análisis instrumental usadas

1) TEM (Transmission Electron Microscopy - Microscopio electrónico de transmisión)
Es un microscopio que utiliza un haz de electrones para visualizar un objeto, debido a que la potencia amplificadora de
un microscopio óptico está limitada por la longitud de onda de la luz visible. La iluminación proviene de un cañón de
electrones emitidos por un filamento de W o LaB 6. Los electrones son acelerados al aplicar un potencial negativo (100
kV - 1000 kV) y focalizados mediante dos lentes condensadoras sobre una muestra delgada, transparente a los electrones.
Lo característico de este microscopio es el uso de una muestra ultrafina y que la imagen se obtenga de los electrones que
atraviesan la muestra. Los microscopios electrónicos de transmisión pueden aumentar un objeto hasta un millón de
veces.

2) SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry – Espectroscopía de masas de iones secundarios)

Es una técnica para el análisis de superficies la cual utiliza iones para bombardear la muestra, estos iones son llamados
iones primarios y pueden ser de carga positiva o negativa. El impacto de los iones produce una erosión que resulta en
partículas como átomos, moléculas, iones entre otras. Los iones producto de este bombardeo son llamados iones
secundarios, son recolectados y seleccionados de acuerdo a su carga, energía y masa, finalmente son cuantificados. El
SIMS es una técnica destructiva. Así mismo mide niveles de traza de todos los elementos en la tabla periódica y provee
distribuciones laterales y en profundidad de estos elementos en la muestra. En geología tambien es usado para
mediciones de elementos y sus isótopos.

3) EPMA (Electron Probe Mycro-Analysis – Microsonda Electronica de Barrido)

La técnica EPMA es no destructiva y aporta información cualitativa y cuantitativa en análisis elemental para volúmenes
micrométricos en la superficie de los materiales, con sensibilidades del orden de los ppm. La técnica permite obtener de
forma simultánea imágenes de rayos X (WDS y EDS), SEM y BSE, además de microscopía óptica. El análisis por sonda de
electrones es la técnica disponible más precisa y exacta en el ámbito del microanálisis, pudiendo analizarse todos los
elementos desde el Berilio hasta el Uranio. Así mismo ayuda a la determinación del espesor y composición elemental de
capas con grosores desde nm hasta mm en materiales estratificados.

4) PIXE (Particle-induced X-ray Emission - Emisión de rayos X inducida por partículas)

La técnica PIXE es un método analítico atómico a través del cual podemos llegar a conocer la concentración de los
elementos en la superficie de la muestra que estamos estudiando. Para ello, la muestra que queremos analizar es
irradiada con partículas cargadas y aceleradas, normalmente protones. Dichas partículas producen vacantes en las capas
electrónicas de los átomos de la muestra, las cuales, al desexcitarse, emiten rayos X característicos. Los rayos X son
recogidos por uno o varios detectores de Si (Li) o Le (Ge), los cuales producen señales que son procesadas en una cadena
electrónica y llevadas hasta un sistema de adquisición que nos da toda la información obtenida mediante el espectro de
emisión de rayos X de nuestra muestra. Este espectro está formado por una serie de picos cuyas energías corresponden
a las líneas de rayos X característicos de la muestra irradiada y cuya área está directamente relacionada con la
concentración del elemento al que corresponde.

Referencias:

 Acosta, E., Llovet, X., Coleoni, E., Riveros, J.A. & Salvat, F. (1998). Monte Carlo simulation of x-ray emission by
kilovolt electron bonbardment. Journal of Applied Physics, 83, 6038 – 6049
 Kniseley, R. & Laabs, F. (1973). Applications of cathodoluminescence in electron microprobe analysis: in
Anderson CA, ed., Microprobe Analysis, Wiley, pp. 371-382.
 Vickerman, J. C., Brown, A., Reed, N. M., "Secondary Ion Mass Spectrometry: Principles and Applications",
Clarendon Press, Oxford, 1989 (341 pages)