Informe Final Chilca Uno

Gigawatt
Ingenieros
CENTRAL TERMICA CHILCA UNO
MANTENIMIENTO ANUAL 2015
PRUEBAS FUNCIONALES DE LOS RELES DE PROTECCION

DE LAS UNIDADES TG21
AGOSTO 2015
Gigawatt
Ingenieros
CENTRAL TERMICA CHILCA UNO
PRUEBAS FUNCIONALES DE LOS RELES DE PROTECCION DE

LAS UNIDADES TG21
AGOSTO 2015
1
Pruebas Funcionales de los Rels de Proteccin de las Unidades TG21
OC
N 4400083559
Informe de Ejecucin
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1. INTRODUCCIN
El programa de mantenimiento anual de la Central Trmica Chilca Uno considera

dentro de sus actividades las pruebas de los rels de proteccin de la unidad TG21.
Enersur S.A. contrat los servicios de la empresa GIGAWATT S.A.C. para realizacin
de estas pruebas de acuerdo a la orden de compra N 4400083559.
Se realiz las pruebas solicitadas entre los das 04 al 08 de agosto de 2015,

cumplindose con el cronograma establecido.
2. OBJETIVO
Verificar la operatividad y actuacin de los rels de proteccin de acuerdo a los

ajustes configurados en ellos.
Verificar la operatividad de los interruptores con pruebas funcionales de dispar

efectivo.
3. ALCANCE
TG21 Transformadores:
Rel SIEMENS 7UT613 01 unidad.
Rel SIEMENS 7SJ6215 02 unidades.
Rel SIEMENS 7UT6135 01 unidades.
TG21 Generador:
Rel SIEMENS 7UM623 01 unidad.
Rel BECKWITH ELECTRIC M3425A 01 unidad.
Rel SIEMENS 7SJ6415 01 unidad.
Rel SIEMENS 7VE6110 01 unidad.
TG21 Medio Voltaje:
Rel SIEMENS 7SJ6215 03 unidades.
2
OC
N 4400083559
Informe de Ejecucin
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4. PRUEBA DE RELES DE PROTECCION.
Las pruebas han sido realizadas mediante la inyeccin de corrientes y voltajes

secundarios, simulando condiciones de falla, con la finalidad de verificar el pickup
(arranque) y los tiempos de operacin, para lo cual se utiliz el equipo de pruebas
CMC356 de la marca Omicron.
En lo referente a las tolerancias para verificar los resultados obtenidos, podemos

considerar lo manifestado por el COES en el documento Criterios de Ajuste y
Coordinacin de los Sistemas de Proteccin del SEIN en el punto 1.3.1.
Sensibilidad y Velocidad, en el que establece los tiempos mximos de operacin
de los rels de proteccin principal en su funcin instantnea:
El rel SIEMENS 7VE6110 perteneciente al generador con la funcin 25 no se

lleg a probar por falta de tiempo, ya que nuestra representada utilizo un tiempo
mayor de lo previsto en la prueba del rel de generador.
Al finalizar los trabajos se realizaron las pruebas funcionales de disparo de

interruptores, las cuales resultaron efectivas.
Los resultados de las pruebas funcionales de los rels se pueden apreciar en mayor
detalle en el anexo 01 (protocolos de prueba de rels).
3
OC
N 4400083559
Informe de Ejecucin
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5. CONCLUSIONES Y RECOMENDACIONES
5.1. La mayora de las pruebas de los rels de proteccin resultaron

satisfactorias, operando dentro de los rangos permisibles.
5.2. Solo el rel Beckwith Electric no temporiza para la sobrexcitacin de

ncleo, se recomienda evaluar el cambio de rel.
5.3. El rel SIEMENS 7VE6110 perteneciente al generador con la funcin 25 no

se lleg a probar por falta de tiempo, ya que se excedi el tiempo
programado por Enersur
5.4. Todas las pruebas funcionales de los rels con disparo a interruptor
resultaron correctas.
5.5. Se recomienda realizar las pruebas de manera anual para mantener un

control de la operacin de los equipos de proteccin.
6. ANEXOS
6.1. Anexo 01: Protocolos de Prueba de Rels de Proteccin.
6.2. Anexo 02: Certificado de Calibracin de Equipos de Prueba.
4
OC
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ANEXO 01
PROTOCOLO DE PRUEBA DE RELS

OC
N 4400083559
Informe de Ejecucin
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PROTOCOLOS DE PRUEBA TG21 TRANSFORMADOR

OC
N 4400083559
Informe de Ejecucin
ENERSUR
PRUEBAS DE OPERACION
PROYECTO
"PRUEBAS DE MANTENIMIENTO RELES TG21"
PROTOCOLO DE PRUEBAS
N PPR-204-SECHILCA01-21BAT-PROT-TRAFO-PPAL-7SJ621.occ
REL SIEMENS 7SJ62

PROTECCION MULTIFUNCION
RESPALDO TRANSFORMADOR PRINCIPAL
50/51 BBT
SALA ELCTRICA
TABLERO DE PROTECCION DE TRANSFORMADORES
21BAT - 21BBT
FECHA DE PRUEBA: 8/5/2015
REALIZADO POR : GIGAWATT SAC APROBADO : ENERSUR
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
FECHA: 30.08.2015 FECHA :
1
Equipo en prueba - Ajustes del dispositivo
Subestacin/Baha:
Subestacin: SE CHILCA 01 Direccin de subestacin: TABLERO PROTECCION
TRANSFORMADOR PPAL
21TAB
Baha: TRAFO Direccin de baha:
Dispositivo:
Nombre/descripcin: 7SJ62 Fabricante: SIEMENS
Tipo de dispositivo: PROTECCION DE Direccin del dispositivo: PROTECCION RESPALDO
SOBRECORRIENTE TRAFO PRINCIPAL
No de serie: 0812084409
Info adicional 1: MODELO
Info adicional 2: 7SJ6215-4AE-C02-1FE0
Valores nominales:
f nom: 60.00 Hz Nmero de fases: 3
V nom (secundario): 120.0 V V primario: 16.50 kV
I nom (secundario): 5.000 A I primario: 1.200 kA
Hardware Configuration
HARDWARE
Configuracin del Hardware
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 BD335B
Comprobacin del hardware

Realizado en Resultado Detalles
8/5/2015 10:31:01 AM Correcta
2
MEDICIONES
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON QuickCMC Versin: 3.00
Comienzo: 05-Aug-2015 10:31:31 Fin: 05-Aug-2015 10:35:49
Nombre de usuario: GIGAWATT SAC Director:
Compaa: ENERSUR CHILCA 1
Resultados de la prueba
Ttulo: MEDICIONES
Clculo de falta:
Modo de entrada en tabla Parmetros (Todos los valores son secundarios)
Directo V A-N 69.28 V 0.00 60.000 Hz
V B-N 69.28 V -120.00 60.000 Hz
V C-N 69.28 V 120.00 60.000 Hz
IA 1.000 A -30.00 60.000 Hz
IB 1.000 A -150.00 60.000 Hz
IC 1.000 A 90.00 60.000 Hz
Ajustes del generador

V A-N 69.282V 0.00 +90 I C
V B-N 69.282V -120.00 V C-N
V C-N 69.282V 120.00
IA 1.000A -30.00
V A-N
IB 1.000A -150.00 180 0
IC 1.000A 90.00
IVBB-N IA
80.0 V -90 1.0 A
IA = 239.0A
IB = 236.0A
IC = 239.0A
VA = 9.5KV
VB = 9.5KV
VC = 9.5KV
P = 5.9MW
Q = 3.5MVAr
S = 6.8MVA
PF = 0.86
3
51 - SOBRECORRIENTE TEMPORIZADA:
Equipo en prueba - Parmetros de sobrecorriente
General - Valores:
Tol. tiem. abs.: 0.04 s Conexin del TT: En equipo protegido
To. tiem. rel.: 5.00 % Conexin del pto. de A equipo protegido
estrella del TC:
Tol. corr. abs.: 0.05 Iref
Tol. corr. rel.: 5.00 %
Direccional: No
Elementos - Fase:
I Relacin de
Activo Nombre Caracterstica de disparo Tiempo Direccin
arranque restauracin:
S 51 ANSI EI 0.63 Iref 3.55 0.95 No direccional
S 50-1 CEI Tiempo definido 8.00 Iref 0.01 s 0.95 No direccional
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON Overcurrent Versin: 3.00
Resultados de la prueba de disparo:

Sobrecarg
Tipo Relativa a Factor Magnitud ngulo tnom. treal Resultado
a
L1-L2 51 1.200 3.78 A -60.00 45.59 s 45.83 s No Correcta
L1-L2 51 5.000 15.75 A -60.00 920.7 ms 921.6 ms No Correcta
L1-L2 50-1 1.100 44.00 A -60.00 10.00 ms 37.80 ms No Correcta
L1-L2-L3 51 1.200 3.78 A -60.00 45.59 s 45.41 s No Correcta
L1-L2-L3 51 5.000 15.75 A -60.00 920.7 ms 920.4 ms No Correcta
L1-L2-L3 50-1 1.100 44.00 A -60.00 10.00 ms 42.00 ms No Correcta
Grficos para tipos de falta:

Tipo ngulo
L1-L2 -60.00
10000.000
1000.000
100.000
10.000
t/s
1.000
0.100
0.010
3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70
4
I/A
Tipo ngulo
L2-L3 -60.00
10000.000
1000.000
100.000
10.000
t/s
1.000
0.100
0.010
3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70
I/A

Tipo ngulo
L3-L1 -60.00
10000.000
1000.000
100.000
10.000
t/s
1.000
0.100
0.010
3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70
I/A

Tipo ngulo
L1-L2-L3 -60.00
10000.000
1000.000
100.000
10.000
t/s
1.000
0.100
0.010
3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70
I/A
Estado:
24 de 24 puntos probados.
24 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
Evaluacin general: Prueba correcta
5
Group:51N-NEUTRO TRANSFORMADOR
Valores nominales:
I nom (secundario): 5.000 A I primario: 600.0 A
51N - SOBRECORRIENTE TEMPORIZADA:
General - Valores:
estrella del TC:
Direccional: No
Elementos - Residuales:
I Relacin de
S 51N Siemens SI SHORT TIME 0.20 Iref 15.00 0.95 No direccional
S 50N-2 CEI Tiempo definido 6.04 Iref 0.10 s 0.95 No direccional
Mdulo de prueba

Sobrecarg
a
L1-E 51N 1.200 1.20 A -60.00 15.48 s 15.97 s No Correcta
L1-E 50N-2 1.100 33.21 A -60.00 100.0 ms 131.6 ms No Correcta

Tipo ngulo
L1-E -60.00
10000.00
1000.00
100.00
10.00
t/s
1.00
0.10
1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0 50.0

I/A
Estado:
7 puntos correctos.

Group end:51N-NEUTRO TRANSFORMADOR
6
7
ENERSUR
PROYECTO
N PPR-205-SECHILCA01-21BBT-PROT-TRAFO-AUX-7SJ621.occ
REL SIEMENS 7SJ62

RESPALDO TRANSFORMADOR AUXILIAR
50/51 UAT
SALA ELCTRICA
21BAT - 21BBT
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
1
Subestacin/Baha:
TRANSFORMADOR PPAL
21TAB
Baha: SECCION 03 Direccin de baha: MAIN BREAKER
Dispositivo:
Tipo de dispositivo: PROTECCION DE Direccin del dispositivo: PROTECCION RESPALDO
SOBRECORRIENTE TRAFO PRINCIPAL
No de serie: 0812084409
Info adicional 2: 7SJ6215-4AE-C02-1FE0
Valores nominales:
HARDWARE
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 BD335B

8/5/2015 11:31:46 AM Correcta
2
MEDICIONES
Mdulo de prueba
Ttulo: MEDICIONES
Clculo de falta:
Directo V A-N 69.28 V 0.00 60.000 Hz
V B-N 69.28 V -120.00 60.000 Hz
V C-N 69.28 V 120.00 60.000 Hz
IA 1.000 A -30.00 60.000 Hz
IB 1.000 A -150.00 60.000 Hz
IC 1.000 A 90.00 60.000 Hz

V A-N 69.282V 0.00 +90 I C
V B-N 69.282V -120.00 V C-N
V C-N 69.282V 120.00
IA 1.000A -30.00
V A-N
IB 1.000A -150.00 180 0
IC 1.000A 90.00
IVBB-N IA
80.0 V -90 1.0 A
IA = 240.0A
IB = 240.0A
IC = 240.0A
VA = 9.5KV
VB = 9.5KV
VC = 9.5KV
P = 5.9MW
Q = 3.5MVAr
S = 6.8MVA
PF = 0.86
3
General - Valores:
estrella del TC:
Direccional: No
Elementos - Fase:
I Relacin de
Mdulo de prueba

Sobrecarg
a

Tipo ngulo
L1-L2 -60.00
10000.000
1000.000
100.000
10.000
t/s
1.000
0.100
0.010
2 3 5
47 10 20 30 50
I/A
Tipo ngulo
L2-L3 -60.00
10000.000
1000.000
100.000
10.000
t/s
1.000
0.100
0.010
2 3 5 7 10 20 30 50
I/A

Tipo ngulo
L3-L1 -60.00
10000.000
1000.000
100.000
10.000
t/s
1.000
0.100
0.010
2 3 5 7 10 20 30 50
I/A

Tipo ngulo
L1-L2-L3 -60.00
10000.000
1000.000
100.000
10.000
t/s
1.000
0.100
0.010
2 3 5 7 10 20 30 50
I/A
Estado:
5
Group:51N-NEUTRO TRANSFORMADOR
Valores nominales:
General - Valores:
estrella del TC:
Direccional: No
I Relacin de
S 51N Siemens SI SHORT TIME 0.20 Iref 0.50 0.95 No direccional
Mdulo de prueba

Sobrecarg
a
L1-E 51N 1.200 1.20 A -60.00 516.1 ms 548.2 ms No Correcta

Tipo ngulo
L1-E -60.00
10000.000
1000.000
100.000
10.000
t/s
1.000
0.100
0.010
1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0

I/A
Estado:
7 puntos correctos.

Group end:51N-NEUTRO TRANSFORMADOR
6
7
ENERSUR
PROYECTO
N PPR-206A-SECHILCA01-21BAT-TRAFO PPAL-PROT-PPAL-7UT61.occ
REL SIEMENS 7UT61

PROTECCION DE TRANSFORMADOR
PRINCIPAL TRANSFORMADOR PRINCIPAL
87BBT
138/184/230MVA (ONAN/ONAF/ONAF)
220/16.5kV - YNd1
SALA ELCTRICA
21BAT - 21BBT
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Subestacin/Baha:
TRANSFORMADOR PPAL
21TAB
Baha: TRANSFORMADOR PRINCIPAL Direccin de baha: 230/230/10MVAMVA
Dispositivo:
Nombre/descripcin: 7UT61 Fabricante: SIEMENS
Tipo de dispositivo: PROTECCION DIFERENCIAL DE Direccin del dispositivo: 87UAT - 21BBT
TRANSFORMADOR
No de serie: 0901062594
Info adicional 2: 7UT6135-4EC02-1AB0
Valores nominales:
Equipo en prueba - Parmetros de diferencial

Equipo protegido:
Equipo protegido: Transformador
Grupo vectorial: YD1
Nombre de devanado: Primario Secundario
Tensin: 220.00 kV 16.50 kV
Potencia: 230.00 MVA 230.00 MVA
Pto. estrella a tierra: S No
TC de conexin en No No
tringulo:
TC:
Corriente del TC Prim: 800.00 A 3000.00 A
Corriente del TC Sec: 5.00 A 5.00 A
Puesta a tierra del TC: Hacia equipo prot. Hacia equipo prot.
I prim de TC tierra: 200.00 A 800.00 A
I sec de TC tierra: 1.00 A 1.00 A
Puesta a tierra de TC n/a n/a
tierra:
Dispositivo de proteccin:
Devanado de ref.: Primario
Clculo de Ipol: ( |Ip| + |Is| ) / K1 (K1 = 1.00)
Eliminacin de IL-I0
homopolar:
Corriente de Corriente nominal del OP
referencia:
TC tierra usado: No
Idiff>: 0.20 In
Idiff>>: 5.00 In tdiff>: 0.03 s
tdiff>>: 0.03 s
Itol rel: 2.00 %
Itol abs: 0.05 In ttol rel: 3.00 %
ttol abs: 0.01 s
HARDWARE
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 BD335B

8/5/2015 5:11:47 PM Correcta
MEDICION
Mdulo de prueba
Ttulo: MEDICION
W1_V A-N 69.282V 0.00 +90
W1_V B-N 69.282V -120.00 1_V C-N
W3_IA W3_IB
W1_V C-N 69.282V 120.00
W1_IA 0.164A 0.00 W1_ICW1_IA
W1_V A-N
W1_IB 0.164A -120.00 180 W1_IB 0
W1_IC 0.164A 120.00
W3_IA 0.583A 150.00
W3_IB 0.583A 30.00 1_V B-N
W3_IC 0.583A 270.00 80.0 V -90 W3_IC

600.0 mA
Ttulo: TRIP
W1_V A-N 69.282V 0.00 +90
W1_V B-N 69.282V -120.00 W1_IC
1_V C-N
W1_V C-N 69.282V 120.00 W3_IA W3_IB
W1_IA 0.964A 0.00
W1_VW1_IA
A-N
W1_IB 0.964A -120.00 180 0
W1_IC 0.964A 120.00
W3_IA 0.583A 150.00 W3_IC
W3_IB 0.583A 30.00 1_V B-N
W1_IB
W3_IC 0.583A 270.00 80.0 V -90 1.0 A
IA_W1 = 26.0A IA_W3 = 353A IA_DIFF = 0.00 IA_REST = 0.09

IB_W1 = 26.0A IB_W3 = 353A IB_DIFF = 0.00 IB_REST = 0.09
IC_W1 = 26.0A IC_W3 = 353kA IC_DIFF = 0.00 IC_REST = 0.09
%W1 = 4.3 %W2 =100
ESTABILIDAD L1-E
Grfico:
Diagrama Unifilar del equipo protegido (YD1)
L1-E Suministro
Y D1
Ipru = 1.00 In Estado: Probado Resultado: Correcta

Primario Secundario
Fase
ngulo Ipru ngulo Ipru ngulo
3.77A -180.0 7.74A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 7.74A 180.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0

Primario Secundario
Fase
7.54A -180.0 15.49A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 15.49A 180.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0

Primario Secundario
Fase
11.32A -180.0 23.23A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 23.23A 180.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
ESTABILIDAD L2-E
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON Diff Configuration Versin: 3.00
Resultados de la prueba de tipo de falta L2-E en ubicacin de falta Primario

Primario Secundario
Fase
ngulo Ipru ngulo ngulo
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
3.77A -180.0 7.74A 0.0 0.0
0.00A 0.0 7.74A 180.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
7.54A -180.0 15.49A 0.0 0.0
0.00A 0.0 15.49A 180.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
11.32A -180.0 23.23A 0.0 0.0
0.00A 0.0 23.23A 180.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Estado de la prueba:
Prueba correcta
3 puntos correctos.
ESTABILIDAD L3-E
Mdulo de prueba
Resultados de la prueba de tipo de falta L3-E en ubicacin de falta Primario

Primario Secundario
Fase
Ipru ngulo Ipru ngulo ngulo
L1 0.00A 0.0 7.74A 180.0 0.0
L2 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
L3 3.77A -180.0 7.74A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 0.00A 0.0 15.49A 180.0 0.0
L2 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
L3 7.54A -180.0 15.49A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 0.00A 0.0 23.23A 180.0 0.0
L2 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
L3 11.32A -180.0 23.23A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
ESTABILIDAD L1-L2
Mdulo de prueba
Resultados de la prueba de tipo de falta L1-L2 en ubicacin de falta Primario

Primario Secundario
Fase
L1 3.77A -180.0 7.74A 0.0 0.0
L2 3.77A 0.0 15.49A 180.0 0.0
L3 0.00A 0.0 7.74A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 5.66A -180.0 11.62A 0.0 0.0
L2 5.66A 0.0 23.23A 180.0 0.0
L3 0.00A 0.0 11.62A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 7.54A -180.0 15.49A 0.0 0.0
L2 7.54A 0.0 30.98A 180.0 0.0
L3 0.00A 0.0 15.49A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
ESTABILIDAD L2-L3
Mdulo de prueba

Primario Secundario
Fase
L1 0.00A 0.0 7.74A 0.0 0.0
L2 3.77A -180.0 7.74A 0.0 0.0
L3 3.77A 0.0 15.49A 180.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 0.00A 0.0 11.62A 0.0 0.0
L2 5.66A -180.0 11.62A 0.0 0.0
L3 5.66A 0.0 23.23A 180.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 0.00A 0.0 15.49A 0.0 0.0
L2 7.54A -180.0 15.49A 0.0 0.0
L3 7.54A 0.0 30.98A 180.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
ESTABILIDAD L3-L1
Mdulo de prueba

Primario Secundario
Fase
L1 3.77A -180.0 15.49A 0.0 0.0
L2 0.00A 0.0 7.74A 180.0 0.0
L3 3.77A 0.0 7.74A 180.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 5.66A -180.0 23.23A 0.0 0.0
L2 0.00A 0.0 11.62A 180.0 0.0
L3 5.66A 0.0 11.62A 180.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 7.54A -180.0 30.98A 0.0 0.0
L2 0.00A 0.0 15.49A 180.0 0.0
L3 7.54A 0.0 15.49A 180.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
ESTABILIDAD L1-L2-L3
Mdulo de prueba
Resultados de la prueba de tipo de falta L1-L2-L3 en ubicacin de falta Primario

Primario Secundario
Fase
L1 3.77A -180.0 13.41A -30.0 0.0
L2 3.77A 60.0 13.41A -150.0 0.0
L3 3.77A -60.0 13.41A 90.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 7.54A -180.0 26.83A -30.0 0.0
L2 7.54A 60.0 26.83A -150.0 0.0
L3 7.54A -60.0 26.83A 90.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
2 puntos correctos.
TIEMPO DE DISPARO L1-E
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON Diff Trip Time Versin: 3.00
Characteristic
Resultados de la prueba de tipo de falta L1-E en el lado de referencia Primario

t de t de
Idiff Ipol disparo disparo Desv (rel) Desv (abs) Estado Resultado
nominal real
0.50 In 0.50 In 0.0300 s 0.0286 s 4.67 % -0.0014 s Probado Correcta
Plano de pruebas del tiempo de disparo

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
3 puntos correctos.

Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
3 puntos correctos.

Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
3 puntos correctos.

TIEMPO DE DISPARO L1-L2
Mdulo de prueba
Characteristic
Resultados de la prueba de tipo de falta L1-L2 en el lado de referencia Primario

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
3 puntos correctos.

Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
3 puntos correctos.

Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
3 puntos correctos.

TIEMPO DE DISPARO L1-L2-L3
Mdulo de prueba
Characteristic
Resultados de la prueba de tipo de falta L1-L2-L3 en el lado de referencia Primario

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
4 puntos correctos.

CONFIGURACION DIFERENCIAL:
1221 I-DIF> = 0.20 I/In0

1231 I-DIF>> = 14.5 I/In0
1241 PENDIENTE 1 = 0.25
1242 PUNTO BASE 1 = 0.0 I/In0
1243 PENDIENTE 2 = 0.5
CARACTERISTICA DE OPERACION L1-E
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON Diff Operating Versin: 3.00
Characteristic
Resultados de la prueba de ubicacin de falta L1-E en el lado de referencia Primario

Prueba de
Idiff
Ipol Idiff real Desv (rel) Desv (abs) verificaci Estado Resultado
Nominal
n
0.50 In 0.200 In 0.197 In -1.56 % -0.0031 In Probado Correcta
2.00 In 0.500 In 0.504 In 0.85 % 0.0042 In Probado Correcta
Diagrama de la caracterstica de operacin

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
2 4 6 8 10 12 14 16
Ipol [In]
Prueba correcta
4 puntos correctos.
Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n
Prueba correcta
2 puntos correctos.
Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
2 4 6 8 10 12 14 16
Ipol [In]
Prueba correcta
2 puntos correctos.
CARACTERISTICA DE OPERACION L1-L2
Mdulo de prueba
Characteristic
Resultados de la prueba de ubicacin de falta L1-L2 en el lado de referencia Primario

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
Ipol [In]
Prueba correcta
5 puntos correctos.
Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
Ipol [In]
Prueba correcta
4 puntos correctos.
Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
Ipol [In]
Prueba correcta
3 puntos correctos.
CARACTERISTICA DE OPERACION L1-L2-L3
Mdulo de prueba
Characteristic
Resultados de la prueba de ubicacin de falta L1-L2-L3 en el lado de referencia Primario

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
Ipol [In]
Prueba correcta
3 puntos correctos.
RESTRICCION DE ARMONICOS 2TH
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON Diff Harmonic Versin: 3.00
Restraint
Resultados de la prueba para fase de prueba L1-L2-L3 en el lado de referencia Primario

para 2. Armnico
ngulo
Idiff Ixf/Idiff Disparo Estado Resultado
(Ixf,Idiff)
0.50 I/In 2.10 % -120.0 S Probado Correcta
0.50 I/In 16.30 % -120.0 No Probado Correcta
Plano de prueba de frenado por armnicos

Idiff/In [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
2 4 6 8 10 12 14 16
I2f/Idiff [%]
Estado:
4 puntos correctos.

Mdulo de prueba
Restraint

para 5. Armnico
ngulo
(Ixf,Idiff)

Idiff/In [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
5 10 15 20 25 30 35
I5f/Idiff [%]
Estado:
4 puntos correctos.

24 V/F SOBREXITACION DEL NUCLEO:
Ajustes de la prueba
Estado NORMAL NORMAL NORMAL
V/f = 1.4 V/f = 1.3 V/f = 1.2
1 2 3
W1_V A-N 69.28 V 79.50 V 69.28 V 75.50 V 69.28 V 72.50 V
0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00
60.000 Hz 49.000 Hz 60.000 Hz 50.000 Hz 60.000 Hz 52.000 Hz
W1_V B-N 69.28 V 79.50 V 69.28 V 75.50 V 69.28 V 72.50 V
-120.00 -120.00 -120.00 -120.00 -120.00 -120.00
60.000 Hz 49.000 Hz 60.000 Hz 50.000 Hz 60.000 Hz 52.000 Hz
W1_V C-N 69.28 V 79.50 V 69.28 V 75.50 V 69.28 V 72.50 V
120.00 120.00 120.00 120.00 120.00 120.00
60.000 Hz 49.000 Hz 60.000 Hz 50.000 Hz 60.000 Hz 52.000 Hz
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON State Sequencer Versin: 3.00
Evaluacin de tiempo
Ignor.
Nombre Inicio Fin tnom. tdesv- tdesv+ treal tdesv. Eval.
antes
24 V/F = NORMAL V/f = 1.4 Trip_87T_ 1.000 s 500.0 ms 500.0 ms 1.077 s 77.00 ms +
1.4 1 DIFF 0>1
24 V/F = NORMAL V/f = 1.3 Trip_87T_ 19.00 s 2.000 s 2.000 s 17.63 s -1.367 s +
1.3 2 DIFF 0>1
24 V/F = NORMAL V/f = 1.2 Trip_87T_ 60.00 s 6.000 s 6.000 s 54.90 s -5.103 s +
1.2 3 DIFF 0>1
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado
Prueba correcta
ENERSUR
PROYECTO
N PPR-207-SECHILCA01-21BBT-PROT-PPAL-TAUX-7UT61.occ
REL SIEMENS 7UT61

PROTECCION DE TRANSFORMADOR
PRINCIPAL TRANSFORMADOR AUXILIAR
87UAT
6,000/7,500KVA-16.5KV/4.16KV-Dyn1
SALA ELCTRICA
21BAT - 21BBT
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
FECHA: FECHA :
1
Subestacin/Baha:
TRANSFORMADOR PPAL
21TAB
Baha: TRANSFORMADOR AUXILIAR Direccin de baha: 6000/7500KVA
Dispositivo:
Nombre/descripcin: 7UT61 Fabricante: SIEMENS
Tipo de dispositivo: PROTECCION DIFERENCIAL DE Direccin del dispositivo: 87UAT - 21BBT
TRANSFORMADOR
No de serie: 0901062593
Info adicional 2: 7UT6135-4EC02-1AB0
Valores nominales:

Equipo protegido:
Equipo protegido: Transformador
Grupo vectorial: DY1
Tensin: 16.50 kV 4.12 kV
Pto. estrella a tierra: No S
tringulo:
TC:
tierra:
Eliminacin de IL-I0
homopolar:
referencia:
TC tierra usado: No
Idiff>: 0.20 In
tdiff>>: 0.03 s
Itol rel: 2.00 %
ttol abs: 0.01 s
2
HARDWARE
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 BD335B

8/5/2015 12:44:00 PM Correcta
3
MEDICION
Mdulo de prueba
Ttulo: MEDICION
W1_V A-N 69.282V 0.00 +90
W1_V B-N 69.282V -120.00 1_V C-N
W1_V C-N 69.282V 120.00 W2_IA
W1_IC W2_IB
W1_IA 1.640A 0.00
W1_V A-N
W1_IA
W1_IB 1.640A -120.00 180 0
W1_IC 1.640A 120.00
W1_IB
W2_IA 2.170A 150.00
1_V B-N W2_IC
W2_IB 2.170A 30.00
W2_IC 2.170A 270.00 80.0 V -90 3.0 A
Ttulo: TRIP
W1_V A-N 69.282V 0.00 +90
W1_V B-N 69.282V -120.00 1_V C-N
W1_IC
W1_V C-N 69.282V 120.00 W2_IA W2_IB
W1_IA 1.640A 0.00
W1_V
W1_IA
A-N
W1_IB 1.640A -120.00 180 0
W1_IC 1.640A 120.00
W2_IA 1.270A 150.00 W2_IC
W1_IB
1_V B-N
W2_IB 1.270A 30.00
W2_IC 1.270A 270.00 80.0 V -90 2.0 A
IA_W1 = 131A IA_W2 = 520A IA_DIFF = 0.01 IA_REST = 1.01

IB_W1 = 131A IB_W2 = 520A IB_DIFF = 0.01 IB_REST = 1.00
IC_W1 = 131A IC_W2 = 520A IC_DIFF = 0.01 IC_REST = 1.01
%W1 = 49.9 %W2 =50.4
VA_W1 = 9.53KV
VB_W1 = 9,53KV
VB_WC =9,53KV
4
ESTABILIDAD L1-E
Grfico:
Diagrama Unifilar del equipo protegido (DY1)
Suministro L1-E
D Y1
Primario Secundario
Fase
1.89A 0.0 4.38A -180.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
1.89A 180.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
Primario Secundario
Fase
3.79A 0.0 8.76A -180.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
3.79A 180.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
Primario Secundario
Fase
9.47A 0.0 21.90A -180.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
9.47A 180.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
5
ESTABILIDAD L2-E
Mdulo de prueba
Resultados de la prueba de tipo de falta L2-E en ubicacin de falta Secundario

Primario Secundario
Fase
1.89A 180.0 0.00A 0.0 0.0
1.89A 0.0 4.38A -180.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
3.79A 180.0 0.00A 0.0 0.0
3.79A 0.0 8.76A -180.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
9.47A 180.0 0.00A 0.0 0.0
9.47A 0.0 21.90A -180.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
6
ESTABILIDAD L3-E
Mdulo de prueba

Primario Secundario
Fase
L1 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
L2 1.89A 180.0 0.00A 0.0 0.0
L3 1.89A 0.0 4.38A -180.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
L2 3.79A 180.0 0.00A 0.0 0.0
L3 3.79A 0.0 8.76A -180.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
L2 9.47A 180.0 0.00A 0.0 0.0
L3 9.47A 0.0 21.90A -180.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
7
ESTABILIDAD L1-L2
Mdulo de prueba
Resultados de la prueba de tipo de falta L1-L2 en ubicacin de falta Secundario

Primario Secundario
Fase
L1 3.79A 0.0 4.38A -180.0 0.0
L2 1.89A 180.0 4.38A 0.0 0.0
L3 1.89A 180.0 0.00A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 7.58A 0.0 8.76A -180.0 0.0
L2 3.79A 180.0 8.76A 0.0 0.0
L3 3.79A 180.0 0.00A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 18.94A 0.0 21.90A -180.0 0.0
L2 9.47A 180.0 21.90A 0.0 0.0
L3 9.47A 180.0 0.00A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
8
ESTABILIDAD L1-L2
Mdulo de prueba

Primario Secundario
Fase
L1 1.89A 180.0 0.00A 0.0 0.0
L2 3.79A 0.0 4.38A -180.0 0.0
L3 1.89A 180.0 4.38A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 3.79A 180.0 0.00A 0.0 0.0
L2 7.58A 0.0 8.76A -180.0 0.0
L3 3.79A 180.0 8.76A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 9.47A 180.0 0.00A 0.0 0.0
L2 18.94A 0.0 21.90A -180.0 0.0
L3 9.47A 180.0 21.90A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
9
ESTABILIDAD L3-L1
Mdulo de prueba

Primario Secundario
Fase
L1 1.89A 0.0 4.38A -180.0 0.0
L2 1.89A 0.0 0.00A 0.0 0.0
L3 3.79A 180.0 4.38A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 3.79A 0.0 8.76A -180.0 0.0
L2 3.79A 0.0 0.00A 0.0 0.0
L3 7.58A 180.0 8.76A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 9.47A 0.0 21.90A -180.0 0.0
L2 9.47A 0.0 0.00A 0.0 0.0
L3 18.94A 180.0 21.90A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
10
Mdulo de prueba
Resultados de la prueba de tipo de falta L1-L2-L3 en ubicacin de falta Secundario

Primario Secundario
Fase
L1 3.28A 30.0 4.38A -180.0 0.0
L2 3.28A -90.0 4.38A 60.0 0.0
L3 3.28A 150.0 4.38A -60.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 6.56A 30.0 8.76A -180.0 0.0
L2 6.56A -90.0 8.76A 60.0 0.0
L3 6.56A 150.0 8.76A -60.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 16.40A 30.0 21.90A -180.0 0.0
L2 16.40A -90.0 21.90A 60.0 0.0
L3 16.40A 150.0 21.90A -60.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
11
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
4 puntos correctos.
12
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
4 puntos correctos.
13
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
4 puntos correctos.
14
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
4 puntos correctos.
15
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
4 puntos correctos.
16
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
4 puntos correctos.
17
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
4 puntos correctos.
18
CONFIGURACION DIFERENCIAL:
1221 I-DIF> = 0.20 I/In0

1231 I-DIF>> = 14.5 I/In0
1241 PENDIENTE 1 = 0.25
1243 PENDIENTE 2 = 0.5
19
Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
2 4 6 8 10 12 14 16
Ipol [In]
Prueba correcta
4 puntos correctos.
20
Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n
Prueba correcta
3 puntos correctos.
21
Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
2 4 6 8 10 12 14 16
Ipol [In]
Prueba correcta
3 puntos correctos.
22
Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
Ipol [In]
Prueba correcta
5 puntos correctos.
23
Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
Ipol [In]
Prueba correcta
5 puntos correctos.
24
Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
Ipol [In]
Prueba correcta
3 puntos correctos.
25
Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
Ipol [In]
Prueba correcta
3 puntos correctos.
26
Mdulo de prueba
Restraint

para 2. Armnico
ngulo
(Ixf,Idiff)

Idiff/In [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
2 4 6 8 10 12 14 16
I2f/Idiff [%]
Estado:
4 puntos correctos.
27
Mdulo de prueba
Restraint

para 5. Armnico
ngulo
(Ixf,Idiff)

Idiff/In [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
5 10 15 20 25 30 35
I5f/Idiff [%]
Estado:
4 puntos correctos.
28
Gigawatt
Ingenieros
PROTOCOLOS DE PRUEBA TG21 GENERADOR

OC
N 4400083559
Informe de Ejecucin
ENERSUR
PROYECTO
N ~PPR-208-SECHILCA01-TAB_GPR-PROT-GENERADOR_7UM62.occ
REL SIEMENS 7UM62

PROTECCION DE GENERADOR
PRINCIPAL GENERADOR
16.5KV - 200MVA
SALA ELCTRICA
TABLERO DE PROTECCION DE GENERADOR
GPR
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
FECHA: 31/08/2015 FECHA :
Subestacin/Baha:
GENERADOR
Baha: GENERADOR Direccin de baha: 200MVA
Dispositivo:
Nombre/descripcin: 7UM62 Fabricante: SIEMENS
Tipo de dispositivo: PROTECCION DIFERENCIAL DE Direccin del dispositivo: GPR
GENERADOR
No de serie: 0804075261
Info adicional 2: 7UM6235-5EC99-0CA0-0D1K
Valores nominales:

Equipo protegido:
Equipo protegido: Generador
Grupo vectorial: YY0
Pto. estrella a tierra: S S
tringulo:
TC:
tierra:
Eliminacin de ninguno
homopolar:
referencia:
TC tierra usado: No
Idiff>: 0.10 In
tdiff>>: 0.03 s
Itol rel: 2.00 %
ttol abs: 0.01 s
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 ??????
No se ha realizado
todava
MEDICION
Mdulo de prueba
Ttulo: MEDICIONES
W1_V A-N 69.282V 180.00 +90
W1_V B-N 69.282V 60.00 W1_IC W1_V B-
W2_IB
W1_V C-N 69.282V 300.00
W1_IA 0.500A 0.00
W1_V
W2_IAA-N W1_IA
W1_IB 0.500A -120.00 180 0
W1_IC 0.500A 120.00
W2_IA 0.500A 180.00
W1_IB W2_IC
W1_V C-
W2_IB 0.500A 60.00
W2_IC 0.500A 300.00 80.0 V -90 600.0 mA
IA_S1 = 1.2KA 0
IB_S1 = 1.2KA 240
IC_S1 = 1.2KA 120
IA_S2 = 1.2KA 179

IB_S2 = 1.2KA 59
IC_S2 = 1.2KA 300
VA = 9.53KV
VB = 9.53KV
VC = 9.53KV
Group:87G DIFERENCIAL DE GENERADOR
ESTABILIDAD L1-E
Grfico:
Diagrama Unifilar del equipo protegido (YY0)
Suministro L1-E
Y Y0
Primario Secundario
Fase
2.92A 0.0 2.92A -180.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
Primario Secundario
Fase
5.83A 0.0 5.83A -180.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
Primario Secundario
Fase
14.58A 0.0 14.58A -180.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
ESTABILIDAD L2-E
Mdulo de prueba

Primario Secundario
Fase
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
2.92A 0.0 2.92A -180.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
5.83A 0.0 5.83A -180.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
14.58A 0.0 14.58A -180.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
ESTABILIDAD L1-L2
Mdulo de prueba

Primario Secundario
Fase
L1 2.92A 0.0 2.92A -180.0 0.0
L2 2.92A 180.0 2.92A 0.0 0.0
L3 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 5.83A 0.0 5.83A -180.0 0.0
L2 5.83A 180.0 5.83A 0.0 0.0
L3 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 14.58A 0.0 14.58A -180.0 0.0
L2 14.58A 180.0 14.58A 0.0 0.0
L3 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
Mdulo de prueba

Primario Secundario
Fase
L1 2.92A 0.0 2.92A -180.0 0.0
L2 2.92A -120.0 2.92A 60.0 0.0
L3 2.92A 120.0 2.92A -60.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 5.83A 0.0 5.83A -180.0 0.0
L2 5.83A -120.0 5.83A 60.0 0.0
L3 5.83A 120.0 5.83A -60.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 14.58A 0.0 14.58A -180.0 0.0
L2 14.58A -120.0 14.58A 60.0 0.0
L3 14.58A 120.0 14.58A -60.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real
0.50 In 1.00 In 0.0300 s 0.0327 s 9.00 % 0.0027 s Probado Correcta

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
1 puntos correctos.

Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
1 puntos correctos.

Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
1 puntos correctos.

Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
1 puntos correctos.

Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
1 puntos correctos.

Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
1 puntos correctos.

Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Idiff [In]
Estado:
1 puntos correctos.

Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
Ipol [In]
Prueba correcta
5 puntos correctos.
Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
Ipol [In]
Prueba correcta
5 puntos correctos.
Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
5.0
4.0
3.0
2.0
1.0
0.0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
Ipol [In]
Prueba correcta
3 puntos correctos.
Group end:87G DIFERENCIAL DE GENERADOR
Group:46 SEQ NEGATIVA
46 SECUENCIA NEGATIVA:
Estado NORMAL NORMAL
I2> = 20% I2> = 50%
1 2
W1_V A-N 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V
0.00 0.00 0.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_V B-N 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V
-120.00 -120.00 -120.00 -120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_V C-N 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V
120.00 120.00 120.00 120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IA 1.000 A 1.000 A 1.000 A 2.500 A
0.00 0.00 0.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IB 1.000 A 1.000 A 1.000 A 2.500 A
-120.00 120.00 -120.00 120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IC 1.000 A 1.000 A 1.000 A 2.500 A
120.00 -120.00 120.00 -120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IA 1.000 A 1.000 A 1.000 A 2.500 A
180.00 180.00 180.00 180.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IB 1.000 A 1.000 A 1.000 A 2.500 A
60.00 -60.00 60.00 -60.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IC 1.000 A 1.000 A 1.000 A 2.500 A
-60.00 60.00 -60.00 60.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
I2> 20% NORMAL I2> = 20% Trip_gene 85.00 s 5.000 s 5.000 s 85.21 s 209.7 ms +
1 ral 0>1
I2> 50% NORMAL I2> = 50% Trip_gene 13.60 s 5.000 s 5.000 s 15.40 s 1.799 s +
2 ral 0>1
Prueba correcta
Group end:46 SEQ NEGATIVA
Group:59 - SOBRETENSION
59N> FASES:
Estado SOBRET SOBRET
NORMAL NORMAL
RENSION ENSION
1 2
1.0 V> 1.1 V>
W1_V A-N 69.28 V 83.15 V 69.28 V 91.45 V
0.00 0.00 0.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_V B-N 69.28 V 83.15 V 69.28 V 91.45 V
-120.00 -120.00 -120.00 -120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_V C-N 69.28 V 83.15 V 69.28 V 91.45 V
120.00 120.00 120.00 120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
V> NORMAL SOBRET Trip_gene 15.00 s 1.000 s 1.000 s 15.05 s 51.60 ms +
1 RENSION ral 0>1
1.0 V>
V> NORMAL SOBRET Trip_gene 15.00 s 1.000 s 1.000 s 15.03 s 34.90 ms +
2 ENSION ral 0>1
1.1 V>
Prueba correcta
59N> NEUTRO:
Estado SOBRET
SOBRET
NORMAL RENSION NORMAL
ENSION
1 1.0 V> 2
1.1 -8V
7.11V
VN 0.000 V 69.28 V 0.000 V 8.000 V
0.00 0.00 0.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
V> NORMAL SOBRET Trip_gene 1.000 s 100.0 ms 100.0 ms 1.027 s 26.70 ms +
1 RENSION ral 0>1
1.0 V>
7.11V
V> NORMAL SOBRET Trip_gene 1.000 s 100.0 ms 100.0 ms 1.049 s 49.20 ms +
2 ENSION ral 0>1
1.1 -8V
Prueba correcta
Group end:59 - SOBRETENSION
Group:24 V/F SOBREXITACION DEL NUCLEO
Estado NORMAL NORMAL NORMAL
V/f = 1.4 V/f = 1.3 V/f = 1.2
1 2 3
W1_V A-N 69.28 V 79.50 V 69.28 V 75.50 V 69.28 V 72.50 V
0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00
60.000 Hz 49.000 Hz 60.000 Hz 50.000 Hz 60.000 Hz 52.000 Hz
W1_V B-N 69.28 V 79.50 V 69.28 V 75.50 V 69.28 V 72.50 V
-120.00 -120.00 -120.00 -120.00 -120.00 -120.00
60.000 Hz 49.000 Hz 60.000 Hz 50.000 Hz 60.000 Hz 52.000 Hz
W1_V C-N 69.28 V 79.50 V 69.28 V 75.50 V 69.28 V 72.50 V
120.00 120.00 120.00 120.00 120.00 120.00
60.000 Hz 49.000 Hz 60.000 Hz 50.000 Hz 60.000 Hz 52.000 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
24 V/F = NORMAL V/f = 1.4 Trip_87G 5.000 s 2.000 s 2.000 s 5.043 s 43.40 ms +
1.4 1 _DIFF
0>1
24 V/F = NORMAL V/f = 1.3 Trip_87G 5.000 s 2.000 s 2.000 s 5.060 s 59.80 ms +
1.3 2 _DIFF
0>1
24 V/F = NORMAL V/f = 1.2 Trip_87G 30.00 s 6.000 s 6.000 s 26.44 s -3.564 s +
1.2 3 _DIFF
0>1
Prueba correcta
Group end:24 V/F SOBREXITACION DEL NUCLEO
Group:81 O/U FREQ
81-3 OF> 61.81HZ:
Estado NORMAL 81-3 UF<
1 _61.821
W1_V A-N 69.28 V 69.28 V
0.00 0.00
60.000 Hz 61.820 Hz
W1_V B-N 69.28 V 69.28 V
-120.00 -120.00
60.000 Hz 61.820 Hz
W1_V C-N 69.28 V 69.28 V
120.00 120.00
60.000 Hz 61.820 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
81-3 NORMAL 81-3 UF< Trip_gene 30.00 s 1.000 s 1.000 s 30.13 s 126.5 ms +
1 _61.821 ral 0>1
Prueba correcta
81-4 OF> 63.01HZ:
1 _63.01
W1_V A-N 69.28 V 69.28 V
0.00 0.00
60.000 Hz 63.050 Hz
W1_V B-N 69.28 V 69.28 V
-120.00 -120.00
60.000 Hz 63.050 Hz
W1_V C-N 69.28 V 69.28 V
120.00 120.00
60.000 Hz 63.050 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
81-3 NORMAL 81-3 UF< Trip_87G 100.0 ms 200.0 ms 200.0 ms 227.4 ms 127.4 ms +
1 _63.01 _DIFF
0>1
Prueba correcta
81-1 UF 58.5HZ:
1 _58.5
W1_V A-N 69.28 V 69.28 V
0.00 0.00
60.000 Hz 58.400 Hz
W1_V B-N 69.28 V 69.28 V
-120.00 -120.00
60.000 Hz 58.400 Hz
W1_V C-N 69.28 V 69.28 V
120.00 120.00
60.000 Hz 58.400 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
81-3 NORMAL 81-3 UF< Trip_gene 6.000 s 200.0 ms 200.0 ms 6.122 s 122.2 ms +
1 _58.5 ral 0>1
Prueba correcta
82-2 UF 56.8HZ:
1 _56.8
W1_V A-N 69.28 V 69.28 V
0.00 0.00
60.000 Hz 56.700 Hz
W1_V B-N 69.28 V 69.28 V
-120.00 -120.00
60.000 Hz 56.700 Hz
W1_V C-N 69.28 V 69.28 V
120.00 120.00
60.000 Hz 56.700 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
81-3 NORMAL 81-3 UF< Trip_87G 120.0 ms 200.0 ms 200.0 ms 251.3 ms 131.3 ms +
1 _56.8 _DIFF
0>1
Prueba correcta
Group end:81 O/U FREQ

Group:32 - REV POWER
ARRANQUE 32R
Mdulo de prueba
Ttulo: ARRANQUE 32R
Clculo de falta:
Directo W1_V A-N 69.28 V 0.00 60.000 Hz
W1_V B-N 69.28 V -120.00 60.000 Hz
W1_V C-N 69.28 V 120.00 60.000 Hz
W1_IA 233.5 mA 0.00 60.000 Hz
W1_IB 233.5 mA -120.00 60.000 Hz
W1_IC 233.5 mA 120.00 60.000 Hz

W1_V A-N 69.282V 0.00 +90
W1_V B-N 69.282V -120.00 1_V C-N
W1_IC W2_IB
W1_V C-N 69.282V 120.00
W1_IA 0.234A 0.00
W2_IA W1_V
W1_IA
A-N
W1_IB 0.234A -120.00 180 0
W1_IC 0.234A 120.00
W2_IA 0.234A 180.00
W1_IB
1_V B-N W2_IC
W2_IB 0.234A 60.00
W2_IC 0.234A 300.00 80.0 V -90 300.0 mA
Entradas binarias
Trip_87G_DIFF Trip_general Bin. in 2 Bin. in 3 Bin. in 5 Sobrecarga
1->0 0->1 1->0 1->0 1->0 1->0
n/a 10.418s n/a n/a n/a n/a
Resumen
1 pruebas correctas, 0 pruebas incorrectas, 0 pruebas no 100.00% correcto
evaluadas
Prueba correcta
32 REV POT:
Estado 32> =
NORMAL 1.1xIarr3 NORMAL 32> = 2 x NORMAL 32> =
1 2= 2 32> 3 5X32>
0.35Asec
W1_V A-N 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V
0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_V B-N 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V
-120.00 -120.00 -120.00 -120.00 -120.00 -120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_V C-N 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V
120.00 120.00 120.00 120.00 120.00 120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IA 4.811 A 350.0 mA 4.811 A 466.7 mA 4.811 A 5.610 A
180.00 0.00 180.00 0.00 180.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IB 4.811 A 350.0 mA 4.811 A 466.7 mA 4.811 A 5.610 A
60.00 -120.00 60.00 -120.00 60.00 -120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IC 4.811 A 350.0 mA 4.811 A 466.7 mA 4.811 A 5.610 A
-60.00 120.00 -60.00 120.00 -60.00 120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IA 4.811 A 350.0 mA 4.811 A 466.7 mA 4.811 A 5.610 A
0.00 180.00 0.00 180.00 0.00 180.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IB 4.811 A 350.0 mA 4.811 A 466.7 mA 4.811 A 5.610 A
-120.00 60.00 -120.00 60.00 -120.00 60.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IC 4.811 A 350.0 mA 4.811 A 466.7 mA 4.811 A 5.610 A
120.00 300.00 120.00 300.00 120.00 300.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
1 NORMAL 32> = Trip_gene 10.00 s 1.000 s 1.000 s 10.27 s 270.8 ms +
1 1.1xIarr32 ral 0>1
=
0.35Asec
2 NORMAL 32> = 2 x Trip_gene 10.00 s 1.000 s 1.000 s 10.27 s 269.4 ms +
2 32> ral 0>1
3 NORMAL 32> = Trip_gene 10.00 s 1.000 s 1.000 s 10.15 s 150.7 ms +
3 5X32> ral 0>1
Prueba correcta
Group end:32 - REV POWER
Group:50/27 INADVER ARRANQUE
PRUEBA DE ARRANQUE INTEMPESTIVO

ARRANQUE SUAVE:
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON Ramping Versin: 3.00
Resultados de la evaluacin
Nombre /
Rampa Condicin Se. Nom. Real Tol.- Tol.+ Desv. Eval. treal
ejec.
Arranque Rampa 1 Trip_87G_DIF W1_IA, 500.0 mA 50.00 mA 50.00 mA x
F 0->1 W1_IB,
W1_IC
Reposicin Rampa 2 Trip_87G_DIF W1_IA, 500.0 mA 50.00 mA 50.00 mA x
F 1->0 W1_IB,
W1_IC
Rampa 1 Rampa 2
Se. 1/mA Se. 2/mA

580 580
560 560
540 540
520 520
500 500
480 480
460 460
440 440
420 t/s 420
10 20 30 40 50 60
400 400
W1_IA, W1_IB, W1_IC W2_IA, W2_IB, W2_IC
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
10 20 30 40 50 60
t/s
Trip_87G_DIFF
Trip_general
Bin. in 2
Bin. in 3
Bin. in 5
10 20 30 40 50 60
t/s
Prueba correcta (Evaluado manualmente!)
PRUEBA CORRECTA, NO DISPARA
ARRANQUE INTEMPESTIVO:
Mdulo de prueba
Nombre /
ejec.
Arranque Rampa 1 Trip_87G_DIF W1_IA, 500.0 mA 510.0 mA 50.00 mA 50.00 mA 10.00 mA + 21.50 ms
F 0->1 W1_IB,
W1_IC
Rampa 1 Rampa 2
Se. 1/A Se. 2/A
0.9 1.75
0.8
1.50
0.7
1.25
0.6
0.5 1.00
0.4 0.75
0.3
0.50
0.2
t/s 0.25
0.1 0.25 0.50 0.75 1.00 1.25 1.50 1.75 2.00 2.25
0.0 0.00
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
0.25 0.50 0.75 1.00 1.25 1.50 1.75 2.00 2.25

t/s
Trip_87G_DIFF
Trip_general
Bin. in 2
Bin. in 3
Bin. in 5
0.25 0.50 0.75 1.00 1.25 1.50 1.75 2.00 2.25

t/s
Prueba correcta
Group end:50/27 INADVER ARRANQUE
Group:21 IMPEDANCIA
21 IMPEDANCIA:
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON Advanced Distance Versin: 3.00
Prueba de disparo: tipo de falta L1-L2
|Z| Phi % % de tnom. t real Desv. Ipru Resultado
1.000 70.00 n/a 1.000 s 1.029 s 2.91 % 5.000 A Correcta
3.000 70.00 n/a 1.000 s 1.039 s 3.87 % 5.000 A Correcta
3.559 70.00 n/a no dispar no dispar 5.000 A Correcta
1.000 20.00 n/a 1.000 s 1.033 s 3.31 % 5.000 A Correcta
3.000 20.00 n/a 1.000 s 1.031 s 3.05 % 5.000 A Correcta
1.000 -20.00 n/a 1.000 s 1.037 s 3.66 % 5.000 A Correcta
3.534 -20.00 n/a no dispar no dispar 5.000 A Correcta
1.000 -70.00 n/a 1.000 s 1.042 s 4.15 % 5.000 A Correcta
1.000 -110.00 n/a 1.000 s 1.035 s 3.52 % 5.000 A Correcta
3.000 -110.00 n/a 1.000 s 1.032 s 3.23 % 5.000 A Correcta
1.000 -160.00 n/a 1.000 s 1.030 s 2.98 % 5.000 A Correcta
3.000 -160.00 n/a 1.000 s 1.036 s 3.63 % 5.000 A Correcta
1.000 160.00 n/a 1.000 s 1.041 s 4.08 % 5.000 A Correcta
3.000 160.00 n/a 1.000 s 1.026 s 2.62 % 5.000 A Correcta
2.766 100.00 n/a 1.000 s 1.041 s 4.12 % 5.000 A Correcta
X/
3.0
2.0
1.0
0.0
-1.0
-2.0
-3.0
-3.0 -2.0 -1.0 0.0 1.0 2.0 3.0

R/
Prueba correcta
Group end:21 IMPEDANCIA
ENERSUR
PROYECTO
N PPR-209-SECHILCA01-TAB_GPR-PROT-GENERADOR_M3425.occ
REL BECKWITH ELECTRIC M3425

PROTECCION DE GENERADOR
PRINCIPAL GENERADOR
16.5KV - 200MVA
SALA ELCTRICA
GPR
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
1
Subestacin/Baha:
GENERADOR
Dispositivo:
Nombre/descripcin: M-3425A Fabricante: BECKWITH ELECTRONIC CO.
Tipo de dispositivo: PROTECCION DIFERENCIAL DE Direccin del dispositivo: GPR
GENERADOR
No de serie: 5082
Info adicional 2: M-3425A-A3DE
Valores nominales:

Equipo protegido:
Equipo protegido: Generador
Grupo vectorial: YY0
Pto. estrella a tierra: S S
tringulo:
TC:
tierra:
Eliminacin de ninguno
homopolar:
referencia:
TC tierra usado: No
Idiff>: 0.10 In
tdiff>>: 0.01 s
Itol rel: 5.00 %
ttol abs: 0.03 s
2
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 GD183M

8/7/2015 4:14:31 PM Correcta
3
MEDICION
Mdulo de prueba
Ttulo: MEDICIONES
W1_V A-N 69.282V 0.00 +90
W1_IC W2_IB
W1_V B-N 69.282V -120.00 1_V C-N
W1_V C-N 69.282V 120.00
W1_IA 0.400A 0.00
W2_IA W1_VW1_IA
A-N
W1_IB 0.400A -120.00 180 0
W1_IC 0.400A 120.00
W2_IA 0.400A 180.00
W2_IB 0.400A 60.00 1_V B-N
W1_IB W2_IC
W2_IC 0.400A 300.00 80.0 V -90 400.0 mA
Ttulo: MEDICIONES
W1_V A-N 69.282V 0.00 +90
W1_IC W2_IB
W1_V B-N 69.282V -120.00 1_V C-N
W1_V C-N 69.282V 120.00
W1_IA 0.400A 0.00
W2_IA W1_VW1_IA
A-N
W1_IB 0.400A -120.00 180 0
W1_IC 0.400A 120.00
W2_IA 0.400A 180.00
W2_IB 0.400A 60.00 1_V B-N
W1_IB W2_IC
W2_IC 0.400A 300.00 80.0 V -90 400.0 mA
IA_S1 = 1.2KA 0
IB_S1 = 1.2KA 240
IC_S1 = 1.2KA 120
IA_S2 = 1.2KA 179

IB_S2 = 1.2KA 59
IC_S2 = 1.2KA 300
VA = 9.53KV
VB = 9.53KV
VC = 9.53KV
4
Group:87G DIFERENCIAL DE GENERADOR
87G DIFERENCIAL DE GENERADOR

ESTABILIDAD
Grfico:
Diagrama Unifilar del equipo protegido (YY0)
Suministro L1-E
Y Y0
5
ESTABILIDAD L1-E
Mdulo de prueba
Primario Secundario
Fase
2.92A 0.0 2.92A -180.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
Primario Secundario
Fase
5.83A 0.0 5.83A -180.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
Primario Secundario
Fase
14.58A 0.0 14.58A -180.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.00A 0.0
6
ESTABILIDAD L2-E
Mdulo de prueba

Primario Secundario
Fase
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
2.92A 0.0 2.92A -180.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
5.83A 0.0 5.83A -180.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
14.58A 0.0 14.58A -180.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
7
ESTABILIDAD L1-L2
Mdulo de prueba

Primario Secundario
Fase
L1 2.92A 0.0 2.92A -180.0 0.0
L2 2.92A 180.0 2.92A 0.0 0.0
L3 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 5.83A 0.0 5.83A -180.0 0.0
L2 5.83A 180.0 5.83A 0.0 0.0
L3 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 14.58A 0.0 14.58A -180.0 0.0
L2 14.58A 180.0 14.58A 0.0 0.0
L3 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
8
Mdulo de prueba

Primario Secundario
Fase
L1 2.92A 0.0 2.92A -180.0 0.0
L2 2.92A -120.0 2.92A 60.0 0.0
L3 2.92A 120.0 2.92A -60.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 5.83A 0.0 5.83A -180.0 0.0
L2 5.83A -120.0 5.83A 60.0 0.0
L3 5.83A 120.0 5.83A -60.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0

Primario Secundario
Fase
L1 14.58A 0.0 14.58A -180.0 0.0
L2 14.58A -120.0 14.58A 60.0 0.0
L3 14.58A 120.0 14.58A -60.0 0.0
E 0.00A 0.0 0.00A 0.0 0.0
Prueba correcta
3 puntos correctos.
9
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
-0.01
1.0 2.0 3.0 4.0 5.0
Idiff [In]
Estado:
1 puntos correctos.
10
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
-0.01
1.0 2.0 3.0 4.0 5.0
Idiff [In]
Estado:
1 puntos correctos.
11
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
-0.01
1.0 2.0 3.0 4.0 5.0
Idiff [In]
Estado:
1 puntos correctos.
12
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
-0.01
1.0 2.0 3.0 4.0 5.0
Idiff [In]
Estado:
1 puntos correctos.
13
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
-0.01
1.0 2.0 3.0 4.0 5.0
Idiff [In]
Estado:
1 puntos correctos.
14
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
-0.01
1.0 2.0 3.0 4.0 5.0
Idiff [In]
Estado:
1 puntos correctos.
15
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
nominal real

t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
-0.01
1.0 2.0 3.0 4.0 5.0
Idiff [In]
Estado:
1 puntos correctos.

Mdulo de prueba
Characteristic
16

t de t de
Idiff Ipol disparo disparo Estado Resultado
nominal real
0.10 In 2.50 In N/D N/D Probado Correcta
1.00 In 7.60 In 0.0100 s 0.0081 s Probado Correcta

Idiff [In]
1.75
1.50
1.25
1.00
0.75
0.50
0.25
0.00
2.5 5.0 7.5 10.0 12.5 15.0 17.5
Ipol [In]
Prueba correcta
9 puntos correctos.
17
Mdulo de prueba
Characteristic

t de t de
Idiff Ipol disparo disparo Estado Resultado
nominal real

Idiff [In]
1.75
1.50
1.25
1.00
0.75
0.50
0.25
0.00
2.5 5.0 7.5 10.0 12.5 15.0 17.5
Ipol [In]
Prueba correcta
9 puntos correctos.
18
Mdulo de prueba
Characteristic

Prueba de
Idiff
Nominal
n

Idiff [In]
1.75
1.50
1.25
1.00
0.75
0.50
0.25
0.00
2.5 5.0 7.5 10.0 12.5 15.0 17.5
Ipol [In]
Prueba correcta
4 puntos correctos.
Group end:87G DIFERENCIAL DE GENERADOR
19
Group:46 SEQ NEGATIVA
46 SECUENCIA NEGATIVA
46> TIEMPO INVERSO:
Estado I2> = 7%
NORMAL NORMAL
NO I2> = 50%
1 2
DISPARA
W1_V A-N 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V
0.00 0.00 0.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_V B-N 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V
-120.00 -120.00 -120.00 -120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_V C-N 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V
120.00 120.00 120.00 120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IA 1.000 A 204.4 mA 1.000 A 1.460 A
0.00 0.00 0.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IB 1.000 A 204.4 mA 1.000 A 1.460 A
-120.00 120.00 -120.00 120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IC 1.000 A 204.4 mA 1.000 A 1.460 A
120.00 -120.00 120.00 -120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IA 1.000 A 204.4 mA 1.000 A 1.460 A
180.00 180.00 180.00 180.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IB 1.000 A 204.4 mA 1.000 A 1.460 A
60.00 -60.00 60.00 -60.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IC 1.000 A 204.4 mA 1.000 A 1.460 A
-60.00 60.00 -60.00 60.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
I2> 50% NORMAL I2> = 50% Trip_outp 40.00 s 1.000 s 1.000 s 39.71 s -288.0 ms +
1 ut2 0>1
Prueba correcta
20
46> TIEMPO INVERSO:
Estado NORMAL
I2> =70%
1
W1_V A-N 69.28 V 69.28 V
0.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz
W1_V B-N 69.28 V 69.28 V
-120.00 -120.00
60.000 Hz 60.000 Hz
W1_V C-N 69.28 V 69.28 V
120.00 120.00
60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IA 1.000 A 2.044 A
0.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IB 1.000 A 2.044 A
-120.00 120.00
60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IC 1.000 A 2.044 A
120.00 -120.00
60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IA 1.000 A 2.044 A
180.00 180.00
60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IB 1.000 A 2.044 A
60.00 -60.00
60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IC 1.000 A 2.044 A
-60.00 60.00
60.000 Hz 60.000 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
I2> 70% NORMAL I2> =70% Trip_outp 20.40 s 1.000 s 1.000 s 20.41 s 13.20 ms +
1 ut2 0>1
Prueba correcta
Group end:46 SEQ NEGATIVA
21
Group:59 - SOBRETENSION
59> PHASES:
Estado SOBRET
SOBRET
ENSION normal 3
1 1.0 V> 2
1.1 V>
83V
W1_V A-N 69.28 V 69.28 V 0.000 V 91.30 V 69.28 V
0.00 0.00 0.00 0.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_V B-N 69.28 V 83.15 V 0.000 V 91.30 V 69.28 V
-120.00 -120.00 -120.00 -120.00 -120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_V C-N 69.28 V 83.15 V 0.000 V 91.30 V 69.28 V
120.00 120.00 120.00 120.00 120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
V> NORMAL SOBRET Trip_outp 15.00 s 1.000 s 1.000 s 15.25 s 252.7 ms +
1 RENSION ut2 0>1
1.0 V>
83V
V> NORMAL SOBRET Trip_outp 15.00 s 1.000 s 1.000 s 15.13 s 128.1 ms +
2 ENSION ut2 0>1
1.1 V>
Prueba correcta
22
59N> NEUTRO:
Estado SOBRET
SOBRET
ENSION
1 1.0 V> 2
1.1 -8V
7.11V
VN 0.000 V 69.28 V 0.000 V 8.000 V
0.00 0.00 0.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
V> NORMAL SOBRET Trip_outp 1.000 s 100.0 ms 100.0 ms 997.4 ms -2.600 ms +
1 RENSION ut2 0>1
1.0 V>
7.11V
V> NORMAL SOBRET Trip_outp 1.000 s 100.0 ms 100.0 ms 1.008 s 7.700 ms +
2 ENSION ut2 0>1
1.1 -8V
Prueba correcta
Group end:59 - SOBRETENSION
23
Group:24 V/F SOBREXITACION DEL NUCLEO
V/F SOBREXITACION DEL NUCLEO:

Magnitudes en rampa
W1_V A-N, B-N, C-N / Magnitud
W1_V A-N, B-N, C-N / Frecuencia
Estados de rampa
Rampa Rampa 1
W1_V A-N 73.00 V
0.00
58.000 Hz
W1_V B-N 73.00 V
-120.00
58.000 Hz
W1_V C-N 73.00 V
120.00
58.000 Hz
W1_IA 0.000 A
0.00
60.000 Hz
W1_IB 0.000 A
-120.00
60.000 Hz
W1_IC 0.000 A
120.00
60.000 Hz
VN 69.28 V
0.00
60.000 Hz
W2_IA 0.000 A
0.00
60.000 Hz
W2_IB 0.000 A
-120.00
60.000 Hz
W2_IC 0.000 A
120.00
60.000 Hz
Se. 1 Desde 73.00 V
Se. 1 Hasta 74.00 V
Se. 1 Delta 10.00 mV
Se. 1 d/dt 8.333 mV/s
Se. 2 Desde 58.000 Hz
Se. 2 Hasta 57.000 Hz
Se. 2 Delta -10.000
mHz
Se. 2 d/dt -8.333
mHz/s
Mdulo de prueba
Nombre /
ejec.
Arranque Rampa 1 Trip_output2 W1_V 73.21 V o 240.6 ms
0->1 A-N,
B-N,
C-N
24
Rampa 1
Se. 1/V Se. 2/Hz

57.9
73.8
57.8
73.7
73.6 57.7
73.5 57.6
73.4
57.5
73.3
57.4
73.2
73.1 57.3
73.0 57.2
72.9 t/s
10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 57.1
72.8
57.0
W1_V A-N, B-N, C-N
W1_V A-N, B-N, C-N (Frecuencia)
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110
t/s
Trip_output2
Trip_output3
Trip_output4
Bin. in 3
Bin. in 5
10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110
t/s
Prueba correcta
25
Estado NORMAL NORMAL
V/f = 1.2 V/f = 1.3 V/f = 1.2
1 2
W1_V A-N 69.28 V 83.00 V 69.28 V 79.60 V 72.50 V
0.00 0.00 0.00 0.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 52.000 Hz
W1_V B-N 69.28 V 83.00 V 69.28 V 79.60 V 72.50 V
-120.00 -120.00 -120.00 -120.00 -120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 52.000 Hz
W1_V C-N 69.28 V 83.00 V 69.28 V 79.60 V 72.50 V
120.00 120.00 120.00 120.00 120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 52.000 Hz
Mdulo de prueba
Comienzo: Fin:
Nombre de usuario: Director:
Compaa:
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
24 V/F = NORMAL V/f = 1.2 Trip_outp 36.00 s 2.000 s 2.000 s o
1.4 1 ut2 0>1
24 V/F = NORMAL V/f = 1.3 Trip_outp 5.000 s 2.000 s 2.000 s o
1.3 2 ut2 0>1
No hay resultados disponibles!
EL RELE NO TEMPORIZA PARA SOBREXITACION DEL NUCLEO
Group end:24 V/F SOBREXITACION DEL NUCLEO
26
Group:81 O/U FREQ
81-3 OF> 61.81HZ:
1 _61.51
W1_V A-N 69.28 V 69.28 V
0.00 0.00
60.000 Hz 61.520 Hz
W1_V B-N 69.28 V 69.28 V
-120.00 -120.00
60.000 Hz 61.520 Hz
W1_V C-N 69.28 V 69.28 V
120.00 120.00
60.000 Hz 61.520 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
81-3 NORMAL 81-3 UF< Trip_outp 60.00 s 1.000 s 1.000 s 60.02 s 19.40 ms +
1 _61.51 ut2 0>1
Prueba correcta
27
81-4 OF> 63.01HZ:
Estado NORMAL 81-3 UF>
1 _62.11
W1_V A-N 69.28 V 69.28 V
0.00 0.00
60.000 Hz 62.120 Hz
W1_V B-N 69.28 V 69.28 V
-120.00 -120.00
60.000 Hz 62.120 Hz
W1_V C-N 69.28 V 69.28 V
120.00 120.00
60.000 Hz 62.120 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
81-3 NORMAL 81-3 UF> Trip_outp 10.00 s 200.0 ms 200.0 ms 10.02 s 19.40 ms +
1 _62.11 ut2 0>1
Prueba correcta
28
81-1 UF 57.5HZ:
Estado NORMAL #1 UF<
1 57,5
W1_V A-N 69.28 V 69.28 V
0.00 0.00
60.000 Hz 57.490 Hz
W1_V B-N 69.28 V 69.28 V
-120.00 -120.00
60.000 Hz 57.490 Hz
W1_V C-N 69.28 V 69.28 V
120.00 120.00
60.000 Hz 57.490 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
#1 NORMAL #1 UF< Trip_outp 10.00 s 200.0 ms 200.0 ms 10.02 s 21.90 ms +
1 57,5 ut2 0>1
Prueba correcta
29
82-2 UF 56.39HZ:
Estado NORMAL #2 UF<
1 56.39
W1_V A-N 69.28 V 69.28 V
0.00 0.00
60.000 Hz 56.380 Hz
W1_V B-N 69.28 V 69.28 V
-120.00 -120.00
60.000 Hz 56.380 Hz
W1_V C-N 69.28 V 69.28 V
120.00 120.00
60.000 Hz 56.380 Hz
Mdulo de prueba
Comienzo: 08-Aug-2015 09:46:55 Fin:
Nombre de usuario: Director:
Compaa:
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
81-3 NORMAL #2 UF< Trip_outp 100.0 ms 200.0 ms 200.0 ms 119.7 ms 19.70 ms +
1 56.39 ut2 0>1
Prueba correcta
Group end:81 O/U FREQ
30
Group:32 - REV POWER
ARRANQUE 32R
Mdulo de prueba
Ttulo: ARRANQUE 32R
Clculo de falta:
Directo W1_V A-N 69.28 V 0.00 60.000 Hz
W1_V B-N 69.28 V -120.00 60.000 Hz
W1_V C-N 69.28 V 120.00 60.000 Hz
W1_IA 233.5 mA 180.00 60.000 Hz
W1_IB 233.5 mA 60.00 60.000 Hz
W1_IC 233.5 mA 300.00 60.000 Hz

W1_V A-N 69.282V 0.00 +90
W1_V B-N 69.282V -120.00 1_V C-N
W2_IC W1_IB
W1_V C-N 69.282V 120.00
W1_IA 0.234A 180.00
W1_IA W1_V
W2_IA
A-N
W1_IB 0.234A 60.00 180 0
W1_IC 0.234A 300.00
W2_IA 0.234A 0.00
W2_IB
1_V B-N W1_IC
W2_IB 0.234A -120.00
W2_IC 0.234A 120.00 80.0 V -90 300.0 mA
Entradas binarias
Trip_output2 Trip_output3 Trip_output4 Bin. in 3 Bin. in 5 Sobrecarga
0->1 0->1 1->0 1->0 1->0 1->0
12.147s 12.147s n/a n/a n/a n/a
Resumen
1 pruebas correctas, 0 pruebas incorrectas, 0 pruebas no 100.00% correcto
evaluadas
Prueba correcta
31
32 REV POT:
Estado 32> =
NORMAL 1.1xIarr3 NORMAL 32> = 2 x NORMAL 32> =
1 2= 2 32> 3 5X32>
0.35Asec
W1_V A-N 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V
0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_V B-N 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V
-120.00 -120.00 -120.00 -120.00 -120.00 -120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_V C-N 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V 69.28 V
120.00 120.00 120.00 120.00 120.00 120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IA 4.811 A 350.0 mA 4.811 A 466.7 mA 4.811 A 5.610 A
0.00 180.00 0.00 180.00 0.00 180.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IB 4.811 A 350.0 mA 4.811 A 466.7 mA 4.811 A 5.610 A
-120.00 60.00 -120.00 60.00 -120.00 60.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W1_IC 4.811 A 350.0 mA 4.811 A 466.7 mA 4.811 A 5.610 A
120.00 -60.00 120.00 -60.00 120.00 -60.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IA 4.811 A 350.0 mA 4.811 A 466.7 mA 4.811 A 5.610 A
180.00 0.00 180.00 0.00 180.00 0.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IB 4.811 A 350.0 mA 4.811 A 466.7 mA 4.811 A 5.610 A
60.00 -120.00 60.00 -120.00 60.00 -120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
W2_IC 4.811 A 350.0 mA 4.811 A 466.7 mA 4.811 A 5.610 A
300.00 120.00 300.00 120.00 300.00 120.00
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
Mdulo de prueba
Evaluacin de tiempo
Ignor.
antes
1 NORMAL 32> = Trip_outp 10.00 s 2.000 s 2.000 s 10.24 s 242.4 ms +
1 1.1xIarr32 ut2 0>1
=
0.35Asec
2 NORMAL 32> = 2 x Trip_outp 10.00 s 2.000 s 2.000 s 11.13 s 1.133 s +
2 32> ut2 0>1
3 NORMAL 32> = Trip_outp 10.00 s 2.000 s 2.000 s 10.13 s 132.7 ms +
3 5X32> ut2 0>1
Prueba correcta
Group end:32 - REV POWER
32
Group:50/27 INADVER ARRANQUE
ARRANQUE INTEMPESTIVO
ARRANQUE SUAVE:
Mdulo de prueba
Nombre /
ejec.
Arranque Rampa 1 Trip_output2 W1_IA, 500.0 mA 50.00 mA 50.00 mA x
0->1 W1_IB,
W1_IC
Reposicin Rampa 2 Trip_output2 W1_IA, 500.0 mA 50.00 mA 50.00 mA x
1->0 W1_IB,
W1_IC
Rampa 1 Rampa 2
Se. 1/mA Se. 2/mA

580 580
560 560
540 540
520 520
500 500
480 480
460 460
440 440
420 t/s 420
10 20 30 40 50 60
400 400
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
10 20 30 40 50 60
t/s
Trip_output2
Trip_output3
Trip_output4
Bin. in 3
Bin. in 5
10 20 30 40 50 60
t/s
Prueba correcta (Evaluado manualmente!)
NO DISPARA : PRUEBA CORRECTA
33
ARRANQUE INTEMPESTIVO:
Mdulo de prueba
Nombre /
ejec.
Arranque Rampa 1 Trip_output2 W1_IA, 500.0 mA 510.0 mA 50.00 mA 50.00 mA 10.00 mA + 25.10 ms
0->1 W1_IB,
W1_IC
Reposicin Rampa 2 Trip_output2 W2_IA, 500.0 mA 470.0 mA 50.00 mA 50.00 mA -30.00 mA + 41.40 ms
1->0 W2_IB,
W2_IC
Rampa 1 Rampa 2
Se. 1/A Se. 2/A
0.9 1.75
0.8
1.50
0.7
1.25
0.6
0.5 1.00
0.4 0.75
0.3
0.50
0.2
t/s 0.25
0.1 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0
0.0 0.00
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0

t/s
Trip_output2
Trip_output3
Trip_output4
Bin. in 3
Bin. in 5
0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0

t/s
Prueba correcta
Group end:50/27 INADVER ARRANQUE
34
Group:21 IMPEDANCIA
21 IMPEDANCIA:
Mdulo de prueba
Prueba de disparo: tipo de falta L1-L2-L3
166.0 m 50.00 n/a 1.000 s 1.022 s 2.17 % 2.000 A Correcta
588.0 m 70.00 n/a 1.000 s 1.027 s 2.67 % 2.000 A Correcta
2.835 80.00 n/a 1.000 s 1.027 s 2.66 % 2.000 A Correcta
2.736 70.00 n/a 1.000 s 1.028 s 2.76 % 2.000 A Correcta
2.400 60.00 n/a 1.000 s 1.025 s 2.47 % 2.000 A Correcta
2.031 50.00 n/a 1.000 s 1.028 s 2.76 % 2.000 A Correcta
2.744 100.00 n/a 1.000 s 1.026 s 2.55 % 2.000 A Correcta
2.539 110.00 n/a 1.000 s 1.018 s 1.84 % 2.000 A Correcta
X/
3.0
2.5
2.0
1.5
1.0
0.5
0.0
-1.5 -1.0 -0.5 0.0 0.5 1.0 1.5

R/
Prueba correcta
Group end:21 IMPEDANCIA
35
Group:40 PERDIDA DE CAMPO
PERDIDA DE CAMPO:
Mdulo de prueba
Prueba de disparo: tipo de falta L1-L2-L3
5.476 -90.00 n/a 83.30 ms 95.80 ms 15.01 % 2.000 A Correcta
X/
-5
-10
-15
-20
-25
-30
-35
-40
-20 -15 -10 -5 0 5 10 15 20

R/
Prueba correcta
Group end:40 PERDIDA DE CAMPO
36
ENERSUR
PROYECTO
N PPR-210-SECHILCA01-TAB_sycheck_7SJ64.occ
REL SIEMENS 7SJ64

MULTIFUNCION
VERIFICACION DE SINCRONISMO
SALA ELCTRICA
GPR
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
1
Subestacin/Baha:
GENERADOR
Dispositivo:
Tipo de dispositivo: PROTECCION DIFERENCIAL DE Direccin del dispositivo:
GENERADOR
No de serie: 1007098180
Info adicional 2: 7SJ6415-5EB92--3FA4
Valores nominales:
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 GD183M

8/9/2015 12:13:44 AM Correcta
2
MEDICION
Mdulo de prueba
Ttulo: MEDICIONES
V_SYS-B 120.000V 0.00 +90
V_SYS-C 0.000V 0.00
V_GEN 120.000V 0.00
V_SYS-B
V_GEN
180 0
150.0 V -90
3
DELTA DE TENSION:
Mdulo de prueba
Nombre /
ejec.
Arranque Rampa 1 25_SYN 0->1 V_SYS 115.0 V o 21.30 ms
-B
Rampa 1
Se. 1/V Se. 2/V

100
125
80
100
60
75
40 50
20 t/s
5 10 15 20 25 30 35 40 45 25
0 0
-20 -25
-40 -50
-75
-60
-100
-80
V_SYS-B V_GEN
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
5 10 15 20 25 30 35 40 45
t/s
25_SYN
5 10 15 20 25 30 35 40 45
t/s
Datos del cursor

Tiempo Seal Valor
Cursor 1 0.00 s V_SYS-B 110.00
Cursor 2 25.02 s V_GEN 120.00
C2 - C1 25.02 s V_GEN-V_SYS-B 10.00
Prueba correcta
4
DELTA DESFASE:
Mdulo de prueba
Nombre /
ejec.
Arranque Rampa 1 25_SYN 0->1 V_SYS 0.00 o 18.20 ms
-B
Rampa 1
Se. 1/ Se. 2/
7.5 40
30
5.0
20
2.5 10
0.0 0
-2.5 5 10 15 20 25 30 35 -10
t/s
-20
-5.0
-30
-7.5 -40
-10.0 -50
V_SYS-B V_GEN
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
5 10 15 20 25 30 35
t/s
25_SYN
5 10 15 20 25 30 35
t/s
Datos del cursor

Tiempo Seal Valor
Cursor 1 0.000 s V_SYS-B -10.0000
Cursor 2 20.02 s V_GEN 10.0000
C2 - C1 20.02 s V_GEN-V_SYS-B 20.0000
Prueba correcta
5
DELTA DE FRECUENCIA:
Mdulo de prueba
Nombre /
ejec.
Arranque Rampa 1 25_SYN 0->1 V_SYS 59.950 Hz o 504.4 ms
-B
Rampa 1
Se. 1/Hz Se. 2/Hz
60.0
60.8
59.8
60.6
59.6
60.4
59.4
60.2
59.2
60.0
59.0
59.8
58.8
59.6
58.6 t/s
5 10 15 20 25 30 35 59.4
58.4
V_SYS-B V_GEN
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
5 10 15 20 25 30 35
t/s
25_SYN
5 10 15 20 25 30 35
t/s
Datos del cursor

Tiempo Seal Valor
Cursor 1 0.000 s V_SYS-B 59.80 Hz
Cursor 2 15.50 s V_GEN 60.00 Hz
C2 - C1 15.50 s V_GEN-V_SYS-B 200.00 mHz
Prueba correcta
6
7
Gigawatt
Ingenieros
PROTOCOLOS DE PRUEBA TG21 MV

OC
N 4400083559
Informe de Ejecucin
ENERSUR
PROYECTO
N PPR-201-SECHILCA01-MVSSSG-SECTION01-7SJ62.occ
REL SIEMENS 7SJ62

SALA ELCTRICA
MV STATION SERVICE SWITCHGEAR
SECTION 1 - MAIN BREAKER
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
1
Subestacin/Baha:
Subestacin: SE CHILCA 01 Direccin de subestacin: MV STATION SERVICE
SWITCHGEAR
Dispositivo:
Tipo de dispositivo: PROTECCION DE Direccin del dispositivo: PROTECCION PRINCIPAL
SOBRECORRIENTE SECCION 01 MAIN BREAKER
No de serie: 0806078017
Info adicional 2: 7SJ6215-4EC92-3FE0/FF
Valores nominales:
HARDWARE
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 BD335B

8/4/2015 11:52:12 AM Correcta
2
MEDICIONES
Mdulo de prueba
Ttulo: MEDICIONES
Clculo de falta:
Directo V A-N 69.28 V 0.00 60.000 Hz
V B-N 69.28 V -120.00 60.000 Hz
V C-N 69.28 V 120.00 60.000 Hz
IA 1.000 A -30.00 60.000 Hz
IB 1.000 A -150.00 60.000 Hz
IC 1.000 A 90.00 60.000 Hz

V A-N 69.282V 0.00 +90 I C
V B-N 69.282V -120.00 V C-N
V C-N 69.282V 120.00
IA 1.000A -30.00
V A-N
IB 1.000A -150.00 180 0
IC 1.000A 90.00
IVBB-N IA
80.0 V -90 1.0 A
IA = 0.40kA
IB = 0.40kA
IC = 0.40kA
VA = 2.41KV
VB = 2.42KV
VC = 2.42KV
P = 2.5MW
Q = 1.5MVAr
S = 2.9MVA
PF = 0.86
3
51 - SOBRECORRIENTE ARRANQUE:
Mdulo de prueba
Nombre /
ejec.
Arranque Rampa 1 Trip 0->1 I A, B, 2.730 A 2.750 A 100.0 mA 100.0 mA 20.00 mA + 18.90 ms
C
Reposicin Rampa 2 Trip 1->0 I A, B, 2.550 A 2.550 A 100.0 mA 100.0 mA 0.000 A + 55.50 ms
C
Rampa 1 Rampa 2
Se. 1/A
2.725
2.700
2.675
2.650
2.625
2.600
2.575
2.550
2.525 t/s
1 2 3 4 5 6 7 8
2.500
I A, B, C
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
1 2 3 4 5 6 7 8
t/s
Trip
1 2 3 4 5 6 7 8
t/s
Prueba correcta
4
General - Valores:
estrella del TC:
Direccional: No
Elementos - Fase:
I Relacin de
S I #1 Fase ANSI VI 0.55 Iref 3.42 0.95 No direccional
Mdulo de prueba

Sobrecarg
a
L1-L2 I #1 Fase 1.200 3.28 A -60.00 30.82 s 31.09 s No Correcta
L1-L2 I #1 Fase 5.000 13.65 A -60.00 894.7 ms 891.1 ms No Correcta
L1-L2-L3 I #1 Fase 1.200 3.28 A -60.00 30.82 s 30.96 s No Correcta
L1-L2-L3 I #1 Fase 5.000 13.65 A -60.00 894.7 ms 890.6 ms No Correcta

Tipo ngulo
L1-L2 -60.00
10000.0
1000.0
100.0
t/s
10.0
1.0
3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50
I/A

Tipo ngulo
5
L2-L3 -60.00
10000.0
1000.0
100.0
t/s
10.0
1.0
3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50
I/A

Tipo ngulo
L3-L1 -60.00
10000.0
1000.0
100.0
t/s
10.0
1.0
3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50
I/A

Tipo ngulo
L1-L2-L3 -60.00
10000.0
1000.0
100.0
t/s
10.0
1.0
3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50
I/A
Estado:
6
27 - MINIMA TENSION U< :
Mdulo de prueba
Nombre /
ejec.
Pick-up Rampa 2 Trip 0->1 V A-N, 43.30 V 43.28 V 1.000 V 1.000 V -20.00 mV + 1.533 s
B-N,
C-N
Drop-off Rampa 4 Trip 1->0 V A-N, 53.00 V 53.28 V 1.000 V 1.000 V 280.0 mV + 24.30 ms
B-N,
C-N
Resultados del clculo

Nombre /
Calc. X Y Nom. Real Tol.- Tol.+ Desv. Eval.
ejec.
Drop-off/Pick- X/Y Drop-off Pick-up 1.231 o
up
Rampa 1 Rampa 2 Rampa 3 Rampa 4
Se. 1/V
65.0
62.5
60.0
57.5
55.0
52.5
50.0
47.5
45.0 t/s
10 20 30 40 50
42.5
V A-N, B-N, C-N
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
10 20 30 40 50
t/s
Trip
10 20 30 40 50
t/s
Prueba correcta
7
27 - MINIMA TENSION U<< :
Nombre /
ejec.
Pick-up Rampa 2 Trip 0->1 V A-N, 40.41 V 40.28 V 1.000 V 1.000 V -130.0 mV + 536.5 ms
B-N,
C-N
B-N,
C-N

Nombre /
ejec.
up
Se. 1/V
65.0
62.5
60.0
57.5
55.0
52.5
50.0
47.5
45.0
42.5 t/s
10 20 30 40 50 60 70
40.0
V A-N, B-N, C-N
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
10 20 30 40 50 60 70
t/s
Trip
10 20 30 40 50 60 70
t/s
Prueba correcta
8
ENERSUR
PROYECTO
REL SIEMENS 7SJ62

SALA ELCTRICA
SECTION 2
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
1
Subestacin/Baha:
SWITCHGEAR
Dispositivo:
SOBRECORRIENTE SECCION 02
No de serie: 0806078016
Valores nominales:
HARDWARE
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 BD335B

8/4/2015 4:23:01 PM Correcta
2
MEDICIONES
Mdulo de prueba
Ttulo: MEDICIONES
Clculo de falta:
Directo V A-N 69.28 V 0.00 60.000 Hz
V B-N 69.28 V -120.00 60.000 Hz
V C-N 69.28 V 120.00 60.000 Hz
IA 1.000 A -30.00 60.000 Hz
IB 1.000 A -150.00 60.000 Hz
IC 1.000 A 90.00 60.000 Hz

V A-N 69.282V 0.00 +90 I C
V B-N 69.282V -120.00 V C-N
V C-N 69.282V 120.00
IA 1.000A -30.00
V A-N
IB 1.000A -150.00 180 0
IC 1.000A 90.00
IVBB-N IA
80.0 V -90 1.0 A
IA = 80.0A
IB = 80.0A
IC = 80.0A
VA = 2.41KV
VB = 2.42KV
VC = 2.42KV
P = 0.50MW
Q = 0.30MVAr
S = 0.58MVA
PF = 0.86
3
51 - SOBRECORRIENTE ARRANQUE:
Mdulo de prueba
Nombre /
ejec.
Arranque Rampa 1 Trip 0->1 I A, B, 4.300 A 4.300 A 100.0 mA 100.0 mA 0.000 A + 27.40 ms
C
Reposicin Rampa 2 Trip 1->0 I A, B, 4.000 A 4.050 A 100.0 mA 100.0 mA 50.00 mA + 29.50 ms
C
Rampa 1 Rampa 2
Se. 1/A
4.275
4.250
4.225
4.200
4.175
4.150
4.125
4.100
4.075
4.050
t/s
4.025 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
4.000
I A, B, C
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
t/s
Trip
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
t/s
Prueba correcta
4
General - Valores:
estrella del TC:
Direccional: No
Elementos - Fase:
I Relacin de
Mdulo de prueba

Sobrecarg
a

Tipo ngulo
L1-L2 -60.00
10000.000
1000.000
100.000
10.000
t/s
1.000
0.100
0.010
5 7 10 20 30 50 70 100
I/A
5
Tipo ngulo
L2-L3 -60.00
10000.000
1000.000
100.000
10.000
t/s
1.000
0.100
0.010
5 7 10 20 30 50 70 100
I/A

Tipo ngulo
L3-L1 -60.00
10000.000
1000.000
100.000
10.000
t/s
1.000
0.100
0.010
5 7 10 20 30 50 70 100
I/A

Tipo ngulo
L1-L2-L3 -60.00
10000.000
1000.000
100.000
10.000
t/s
1.000
0.100
0.010
5 7 10 20 30 50 70 100
I/A
Estado:
6
51N - SOBRECORRIENTE ARRANQUE:
Mdulo de prueba
Nombre /
ejec.
Arranque Rampa 1 Trip 0->1 IA 1.000 A 1.000 A 100.0 mA 100.0 mA 0.000 A + 33.20 ms
Reposicin Rampa 2 Trip 1->0 IA 850.0 mA 850.0 mA 100.0 mA 100.0 mA 0.000 A + 35.00 ms
Rampa 1 Rampa 2
Se. 1/A
0.95
0.90
0.85
0.80
0.75
0.70
0.65
0.60
0.55 t/s
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
0.50
IA
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
t/s
Trip
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
t/s
7
General - Valores:
estrella del TC:
Direccional: No
I Relacin de
S 51N Siemens SI Short inverse 0.20 Iref 0.50 0.95 No direccional
Mdulo de prueba

Sobrecarg
a

Tipo ngulo
L1-E -60.00
10000.000
1000.000
100.000
10.000
t/s
1.000
0.100
0.010
1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0

I/A
Estado:
7 puntos correctos.
8
27 - MINIMA TENSION U< :
Nombre /
ejec.
Pick-up Rampa 2 Trip 0->1 V A-N, 43.30 V 43.28 V 1.000 V 1.000 V -20.00 mV + 1.541 s
B-N,
C-N
B-N,
C-N

Nombre /
ejec.
up
Se. 1/V
65.0
62.5
60.0
57.5
55.0
52.5
50.0
47.5
45.0 t/s
10 20 30 40 50
42.5
V A-N, B-N, C-N
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
10 20 30 40 50
t/s
Trip
10 20 30 40 50
t/s
Prueba correcta
9
27 - MINIMA TENSION U<< :
Nombre /
ejec.
Pick-up Rampa 2 Trip 0->1 V A-N, 40.41 V 40.28 V 1.000 V 1.000 V -130.0 mV + 521.2 ms
B-N,
C-N
B-N,
C-N

Nombre /
ejec.
up
Se. 1/V
65.0
62.5
60.0
57.5
55.0
52.5
50.0
47.5
45.0
42.5 t/s
10 20 30 40 50 60 70
40.0
V A-N, B-N, C-N
CB aux. A
CB aux. B
CB aux. C
Bin. Out 4
10 20 30 40 50 60 70
t/s
Trip
10 20 30 40 50 60 70
t/s
Prueba correcta
10
ENERSUR
PROYECTO
REL SIEMENS 7SJ62

SALA ELCTRICA
SECTION 3
------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
1
Subestacin/Baha:
SWITCHGEAR
Dispositivo:
SOBRECORRIENTE SECCION 03
No de serie: 0806078015
Valores nominales:
HARDWARE
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 BD335B

8/4/2015 4:23:01 PM Correcta
2
MEDICIONES
Mdulo de prueba
Ttulo: MEDICIONES
Clculo de falta:
Directo V A-N 69.28 V 0.00 60.000 Hz
V B-N 69.28 V -120.00 60.000 Hz
V C-N 69.28 V 120.00 60.000 Hz
IA 1.000 A -30.00 60.000 Hz
IB 1.000 A -150.00 60.000 Hz
IC 1.000 A 90.00 60.000 Hz

V A-N 69.282V 0.00 +90 I C
V B-N 69.282V -120.00 V C-N
V C-N 69.282V 120.00
IA 1.000A -30.00
V A-N
IB 1.000A -150.00 180 0
IC 1.000A 90.00
IVBB-N IA
80.0 V -90 1.0 A
IA = 118.0A
IB = 118.0A
IC = 118.0A
VA = 2.42KV
VB = 2.42KV
VC = 2.42KV
P = 0.75MW
Q = 0.44MVAr
S = 0.87MVA
PF = 0.86
3
General - Valores:
estrella del TC:
Direccional: No
Elementos - Fase:
I Relacin de
S 51 DEFINIDA USUARIO 0.78 Iref 2.83 0.95 No direccional
Mdulo de prueba

Sobrecarg
a

Tipo ngulo
L1-L2 -60.00
10000.0
1000.0
100.0
t/s
10.0
1.0
1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0 50.0 70.0
I/A

Tipo ngulo
L2-L3 -60.00
4
10000.0
1000.0
100.0
t/s
10.0
1.0
1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0 50.0 70.0
I/A

Tipo ngulo
L3-L1 -60.00
10000.0
1000.0
100.0
t/s
10.0
1.0
1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0 50.0 70.0
I/A

Tipo ngulo
L1-L2-L3 -60.00
10000.0
1000.0
100.0
t/s
10.0
1.0
1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0 50.0 70.0
I/A
Estado:
5
General - Valores:
estrella del TC:
Direccional: No
I Relacin de
S 51N Siemens SI Short inverse 0.15 Iref 5.00 0.95 No direccional
Mdulo de prueba

Sobrecarg
a

Tipo ngulo
L1-E -60.00
10000.00
1000.00
100.00
10.00
t/s
1.00
0.10
0.7 1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0

I/A
Estado:
7 puntos correctos.
6
46 - SOBRECORRIENTE TEMPORIZADA SECUENCIA NEGATIVA:
General - Valores:
estrella del TC:
Direccional: No
Elementos - Secuencia negativa:

I Relacin de
S 46 TOC ANSI EI 0.90 Iref 5.00 0.95 No direccional
Mdulo de prueba

Sobrecarg
a
I2 46-1 1.200 0.60 A -60.00 1.500 s 1.530 s No Correcta
I2 46-1 1.500 0.75 A -60.00 1.500 s 1.521 s No Correcta
I2 46-1 2.000 1.00 A -60.00 1.500 s 1.520 s No Correcta
I2 46-1 3.000 1.50 A -60.00 1.500 s 1.515 s No Correcta
I2 46-2 1.200 3.00 A -60.00 1.500 s 1.516 s No Correcta
I2 46-2 1.500 3.75 A -60.00 1.500 s 1.515 s No Correcta
I2 46-2 2.000 5.00 A -60.00 1.500 s 1.509 s No Correcta
I2 46-2 3.000 7.50 A -60.00 1.500 s 1.508 s No Correcta
I2 46 TOC 8.000 36.00 A -60.00 569.3 ms 565.1 ms No Correcta

Tipo ngulo
I2 -60.00
10000.00
1000.00
100.00
t/s
10.00
1.00
0.10
0.3 0.5 0.7 1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0 50.0 70.0
I/A
Estado:
9 puntos correctos.
7
8
Gigawatt
Ingenieros
ANEXO 02
CERTIFICADO DE CALIBRACION
EQUIPO CMC 356

OC
N 4400083559
Informe de Ejecucin

Informe Final Chilca Uno

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Gigawatt

CENTRAL TERMICA CHILCA UNO

MANTENIMIENTO ANUAL 2015

PRUEBAS FUNCIONALES DE LOS RELES DE PROTECCION

CENTRAL TERMICA CHILCA UNO

PRUEBAS FUNCIONALES DE LOS RELES DE PROTECCION DE

El programa de mantenimiento anual de la Central Trmica Chilca Uno considera

Se realiz las pruebas solicitadas entre los das 04 al 08 de agosto de 2015,

Verificar la operatividad y actuacin de los rels de proteccin de acuerdo a los

Verificar la operatividad de los interruptores con pruebas funcionales de dispar

Rel SIEMENS 7UT613 01 unidad.

Rel SIEMENS 7SJ6215 02 unidades.

Rel SIEMENS 7UT6135 01 unidades.

Rel SIEMENS 7UM623 01 unidad.

Rel BECKWITH ELECTRIC M3425A 01 unidad.

Rel SIEMENS 7SJ6415 01 unidad.

Rel SIEMENS 7VE6110 01 unidad.

TG21 Medio Voltaje:

Rel SIEMENS 7SJ6215 03 unidades.

4. PRUEBA DE RELES DE PROTECCION.

Las pruebas han sido realizadas mediante la inyeccin de corrientes y voltajes

En lo referente a las tolerancias para verificar los resultados obtenidos, podemos

El rel SIEMENS 7VE6110 perteneciente al generador con la funcin 25 no se

Al finalizar los trabajos se realizaron las pruebas funcionales de disparo de

5.1. La mayora de las pruebas de los rels de proteccin resultaron

5.2. Solo el rel Beckwith Electric no temporiza para la sobrexcitacin de

5.3. El rel SIEMENS 7VE6110 perteneciente al generador con la funcin 25 no

5.5. Se recomienda realizar las pruebas de manera anual para mantener un

6.1. Anexo 01: Protocolos de Prueba de Rels de Proteccin.

6.2. Anexo 02: Certificado de Calibracin de Equipos de Prueba.

PROTOCOLO DE PRUEBA DE RELS

Pruebas Funcionales de los Rels de Proteccin de las Unidades TG21

PROTOCOLOS DE PRUEBA TG21 TRANSFORMADOR

Pruebas Funcionales de los Rels de Proteccin de las Unidades TG21

REL SIEMENS 7SJ62

FECHA DE PRUEBA: 8/5/2015

REALIZADO POR : GIGAWATT SAC APROBADO : ENERSUR

Comprobacin del hardware

Ajustes del generador

80.0 V -90 1.0 A

Resultados de la prueba de disparo:

Grficos para tipos de falta:

Grficos para tipos de falta:

Grficos para tipos de falta:

Evaluacin general: Prueba correcta

Resultados de la prueba de disparo:

Grficos para tipos de falta:

1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0 20.0 30.0 50.0

Evaluacin general: Prueba correcta

REL SIEMENS 7SJ62

FECHA DE PRUEBA: 8/5/2015

REALIZADO POR : GIGAWATT SAC APROBADO : ENERSUR

Comprobacin del hardware

Ajustes del generador

80.0 V -90 1.0 A

Resultados de la prueba de disparo:

Grficos para tipos de falta:

Grficos para tipos de falta:

Grficos para tipos de falta:

Evaluacin general: Prueba correcta

Resultados de la prueba de disparo:

Grficos para tipos de falta:

1.0 2.0 3.0 5.0 7.0 10.0

Evaluacin general: Prueba correcta