UNIVERSIDAD NACIONAL DE SAN ANTONIO ABAD DEL

CUSCO
FACULTAD DE INGENIERIA DE PROCESOS
ESCUELA PROFESIONAL DE INGENIERIA QUIMICA

INFORME DE LABORATORIO N 05
INTERFEROMETRO DE MICHELSON

CURSO: FISICA C

CUSCO PERU
2017
 INTERFEROMETRO DE MICHELSON

a) OBJETIVO:

Determinar la longitud de onda de la fuente de luz laser

b) MARCO TERICO:

El interfermetro de Michelson es uno de los instrumentos de interferencia ms

conocido, tanto por sus mltiples aplicaciones como por su implicancia en el
desarrollo de nuestro entendimiento del mundo fsico. Usando este dispositivo,
Michelson y Morley pusieron en evidencia la inconsistencia de la teora del ter.
Este hecho contribuy al desarrollo de la teora de la relatividad.

Aunque inicialmente Michelson dise este interfermetro (1881) para detectar el ter,
una vez que fue imposible demostrar su existencia se utiliza su dispositivo para medir
longitudes de onda o para, conocida la longitud de onda de una fuente emisora, medir
distancias muy pequeas o ndices de refraccin de distintos medios.

Ilustracin 1. Diagrama esquemtico del interfermetro de Michelson. M1 y M2 son dos espejos de primeras superficies.
Ms es un divisor de haz (beam spliter) o espejo semitransparente. Los haces se recombinan en la pantalla P, donde se
pueden ver las figuras de interferencia. La lente sirve para aumentar el tamao de la imagen y hacer ms visibles la
imagen de interferencia.

Un rayo procedente del lser es desdoblado mediante un espejo semitransparente MS (espejo que
refleja slo el 50% de la luz que incide sobre l, dejando pasar el otro 50%). Uno de los rayos se
refleja en el espejo fijo M1, y el otro en el espejo mvil M2. Ambos rayos vuelven a juntarse en
la pantalla. Sobre la pantalla vemos la superposicin o interferencia de los dos haces de luz, cuyas
fases (estados de oscilacin de los campos), estn altamente correlacionadas por proceder de la
misma fuente. Si con una lente abrimos el haz justo antes de ser desdoblado, se podr observar
en pantalla el modelo de interferencia formado por anillos alternativamente claros y oscuros. Es
el patrn de interferencia que se muestra en la figura 2:

Ilustracin 2. Franjas de interferencia producidas por el interfermetro de Michelson con espejos M1 y M2

perpendiculares

Ilustracin 3. Diagrama esquemtico del interfermetro de Michelson. S1 y S2 son la dos imgenes de la fuente formadas
por los espejos Ms, M1 y M2.

Cmo se ha formado? Inicialmente los dos haces desdoblados estaban en fase. La

diferencia de fase que haya entre ellos cuando se encuentren de nuevo en un mismo punto del
espacio depender de la diferencia de camino que hayan recorrido. Si M1 y M2 estn a la misma
distancia del espejo semitransparente, el camino recorrido por ambos rayos es el mismo, y por
tanto llegarn en fase a la pantalla, y la interferencia en cualquier punto ser mxima o mnima
pero constante en el tiempo, lo que nos permite observar el patrn de interferencia.
Moviendo el espejo M2 cambiaremos esta situacin. Si la distancia MS-M2 se vara en
un cuarto de longitud de onda, los haces en pantalla estarn en oposicin de fase (desfasados
180). Esto es debido a que el haz que va de MS a M2 recorre esa distancia dos veces, por lo que
la diferencia de camino recorrido por los dos haces es de media longitud de onda: en la pantalla
las posiciones de los mximos y mnimos estarn intercambiadas.
Si se vara ahora la distancia de MS a M2 en media longitud de onda, de nuevo los haces
estarn en fase en la pantalla. El modelo de interferencia volvera a ser ahora como inicialmente.
De esta forma, moviendo M2 tendremos un modelo de interferencia que va variando al
variar la posicin del espejo, y que volver a ser como inicialmente cada vez que el espejo se
mueva un mltiplo de la semilongitud de onda de la luz utilizada.
Por tanto, moviendo M2 una distancia dm y contando m, el nmero de veces que el patrn de
interferencia vuelve a ser como inicialmente, se puede calcular la longitud de onda de la luz
utilizada:
Si la longitud de onda es conocida, se puede usar el mismo procedimiento para medir una
distancia dm.

c) EQUIPO Y MATERIALES:

Interfermetro de Michelson
Un lser de He-Ne

d) PROCEDIMIENTO
determinacin de la longitud de onda.
1. Arme el sistema como se muestra en la figura 1
2. Mueve el laces apara enfocar adecuadamente el haz de luz. El patrn de
interferencia de v estar el medio de la pantalla, esto se logra movindolas las
tuercas del espejo mvil. Es posible que debido a las aberraciones pticas y
deficiencias de alineacin, las franjas de interferencia no sean perfectamente
circulares.
3. Fije un punto de referencia en la pantalla
4. Gire lentamente el tornillo del micrmetro y observe lo que sucede
5. Fije una referencia en el tornillo micromtrico
6. Es importante que antes de empezar a contar las franjas que desaparecen debido al
movimiento del espejo el micrmetro se gire una vuelta y se contine
desplazndolo en el mismo sentido. De esta forma se consigue eliminar lo
posibles errores del retroceso (backlach) del tornillo micromtrico
7. Cuente la cantidad de mximos que desaparecen igual 20, iy mida la variacin de
la distancia y (usando el micrmetro). Anote esta medida en la tabla 1
8. Contine girando el micrmetro , contando cada vez 20 desapariciones de
mximos, midiendo la variacin del micrmetro y anotando en la tabla 1

e) DIAGRAMA DE INSTALACIN:

Ilustracin 4. Alineacin del laser

 Ilustracin 5. Sistema ptico

f) TOMA DE DATOS

Tabla 1

m 20 40 60 80 100 120 140 160

Y (um) 11 17 23.5 30 36 42 48 54

g) OBSERVACIONES EXPERIMENTALES:

1. de qu depende la aparicin de mximos y mnimos en el patrn de interferencia?

Si dos haces provienen de la misma fuente estarn correlacionados en frecuencia y fase. De

esta forma cuando en los rayos se superponen (interfieren) se producir una interferencia
constructiva si estado de fase es el mismo y se tendr un mximo de intensidad.
Si por el contrario los campos se encuentran en oposicin de fase, la superposicin supondr
la anulacin del campo total y se produce un mnimo (cero) en la intensidad.

2. Realice dos medidas para la creacin mediante mximos, anote sus valores y
comprelos con la desaparicin de 20 mximos.

Para la creacin de 20 mximos obtuvimos una medicin de

() = 11
y para la desaparicin de 20 mximos obtuvimos una medicin de
() = 25 14 = 11
al compararlos nos dimos cuenta que tanto para la aparicin y desaparicin de los mximos
() es el mismo.

3. qu sucede al colocar= un prisma en el camino de los haces? por qu?

Colocando el prisma delante de la primera lente de paso aparecen pocos mximos

Colocando el prisma entre el divisor de haz y el espejo m1 se notan ms mximos que
colocado en la posicin anterior
Colocando el prisma entre el divisor de haz y el espejo m2 se obtiene la mayor cantidad de
mximos
h) ANLISIS DE DATOS EXPERIMENTALES.

1. Determine cul es el desplazamiento terico del espejo para una variacin de m=20
2
=


=
2
(20)(633)
=
2
= 633

2. Determinar cul es la variacin en y, para variacin de m=20 para cada medida

realizada.
Tabla 2

m y=633nm y=m/2
20 633 6330
40 633 12660
60 633 18990
80 633 25320
100 633 31650
120 633 37980
140 633 44310
160 633 50640

3. Determine la longitud de onda del laser para cada medida realizada halle un
promedio con su respectivo error.

Tabla 3

m Y (um) =2y/m
20 11000 1100
40 17000 850
60 23500 783.33
80 30000 750
100 36000 720
120 42000 700
140 48000 685.71
160 54000 675

+ + +
Promedio = 1 2 3

= 783.005
 2
=1
error probable = = = | |
1

Tabla 4

promedio
1100 783.005 316.995
850 783.005 66.995
783.33 783.005 0.328333333
750 783.005 33.005
720 783.005 63.005
700 783.005 83.005
685.71 783.005 97.29071429
675 783.005 108.005

=1 2
= = 140.435
1

= = 49.651365

4. Determine el error porcentual entre este valor experimental y la longitud de onda

de laser de He-Ne.
| |
% = 100

|633 783.005|
% = 100
633

% = 23.6974

i) CONCLUSIONES:

Se puede concluir que si dos haces que provienen de la misma fuente se produce
un mximo si el estado de fase es el mismo y se encuentran en oposicin de fase
se produce un mnimo

Para poder observar la interferencia de dos ondas se debe de cumplir que las
fuentes deben de ser coherentes (su diferencia de fase debe de sr constante) y que
las fuentes deben ser monocromticas (que tengan la misma longitud de onda)

j) COMENTARIOS.

Los materiales con los que trabajamos en el laboratorio son un poco antiguos por
eso los resultados que obtenemos nos dan con un margen de error considerable.
Que el laboratorio cuente con un equipo de escuadras y un equipo de accesorios y una mejor
pantalla para as mejor medir las distancias la aparicin de mximos y mnimos para una
mejor toma de datos

Probar el experimento con distintos tipos de lentes para poder observar lo que ocurre y si al
cambiar de lentes vara la aparicin de mximos y mnimos
 k) CUESTIONARIO

Aplicaciones

Generalmente cuando se monta un interfermetro de Michelson se observa una figura de interferencia

inicial, de la que no se puede determinar cul es la diferencia de camino, porque si se observa una
suma constructiva slo se puede inferir que la diferencia es mltiplo de la longitud de onda. Por esto
el interfermetro se usa para medir pequeos desplazamientos; una vez que se tiene una figura de
interferencia inicial, al cambiar la posicin de uno de los espejos se ver que las franjas de
interferencia se mueven. Si tomamos un punto de referencia, por cada franja que lo atraviese
habremos movido el espejo una distancia equivalente a una longitud de onda (menor al micrmetro.)
Hacia fines del siglo XIX, este interfermetro se utilizaba con fuentes luminosas de descarga en gases,
con un filtro y una pequea rendija. En particular, para el experimento de Michelson y Morley, se
utiliz la luz proveniente de alguna estrella. Actualmente en cualquier laboratorio de enseanza bsico
se puede montar uno de estos interfermetros utilizando un lser.