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Teorema del muestreo y el problema del enmascaramiento de seales (aliasing)

TEOREMA DEL MUESTREO:

El teorema de muestreo de Nyquist-Shannon, tambin conocido como teorema de muestreo de


Whittaker-Nyquist-Kotelnikov-Shannon, teorema de Nyquist.

Muestreo, tomando instantneas de x(t) cada T segundos. Donde T es el periodo de muestreo

x(nt), n = ..., -1, 0, 1, 2, ... corresponden a muestras espaciadas a intervalos regulares

Muchas seales pueden tener los mismos valores de muestras

La mayora de las seales que nos encontramos son seales de tiempo continuo; por ejemplo, x(t).

Las tcnicas de muestreo dejan de lado mucha informacin se pierden todos los valores de x(t)
entre los puntos de muestreo.

Bajo qu condiciones podemos reconstruir la seal original x(t) en tiempo continuo a partir de
sus muestras?

Para que el proceso de muestreo sea til, se debe mostrar que es posible recuperar x(t) de las
muestras de x s (t).

Si se sabe que x(t) muestreada es x s (t) y esta definida por:


p(t) es conocida como la funcin de muestreo, modelando la accin del conmutador electrnico.
Consideraremos a esta funcin como un tren de pulsos peridico. De all, que p(t) puede ser
escrita como una serie de Fourier.

La seal muestreada puede ser escrita como:

Por definicin la transformada de Fourier de x s (t) es:


El problema del enmascaramiento de seales (aliasing)

Aliasing o enmascaramiento de frecuencias

Este fenmeno aparece cuando se muestrea una seal a una tasa inferior a la de Shannon y se
intenta reconstruir despus.

Al reconstruir la seal se obtiene otra de diferente frecuencia.

El aliasing aparece cuando al muestrear dos seales se obtienen los mismos valores.
Aparece el aliasing, pues la componente de 4 rad/s aparece en la salida como si fuera de 1 rad/s.