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INSTITUTO POLITCNICO NACIONAL

PROCESO DE ADMISIN ESCOLAR 2016 - 2017


NIVEL SUPERIOR ESCOLARIZADO *2017101-043327*

FICHA DE EXAMEN

FICHA: 43327 CICLO ESCOLAR: 2016 - 2017


SEMESTRE: AGOSTO - DICIEMBRE 2016

ASPIRANTE: LEDESMA
[65549] HERNANDEZ
SERGIO
CURP: LEHS970914HDFDRR07

APLICACIN DEL EXAMEN


SEDE: ESCA TEPEPAN
CITA PARA EL EXAMEN: DOMINGO 29 DE MAYO DE 2016 A LAS 08:00 HRS.
EDIFICIO: 39
ACCESO POR PUERTA: PRINCIPAL
DIRECCIN: PERIFERICO SUR No. 4863 COL. PROLONGACIN SAN FERNANDO
PISO: 1
TEPEPAN, DELEGACION TLALPAN, CP 16020, CIUDAD DE MEXICO SALN: 686
HORA DE APLICACIN: 09:00 HRS.
BANCA: 3

ESTA FICHA ES VLIDA SLAMENTE PARA EL DA Y LA HORA SEALADOS

OPCIONES DE CARRERA
No. CLAVE CARRERA
1 353 INGENIERA EN COMPUTACIN
2 631 INGENIERA EN SISTEMAS COMPUTACIONALES
3 605 INGENIERA EN INFORMTICA

INSTRUCCIONES :
a. Es necesario presentarse puntualmente en la fecha, horario y lugar indicado. Tienes que llevar tu FICHA DE EXAMEN, sin ella
no podrs presentar el examen. La duracin del mismo es de tres horas.
b. El lpiz, goma de borrar y sacapuntas necesarios para presentar el examen te sern proporcionados en el saln asignado. El nico
documento que debes traer contigo es una impresin de esta FICHA DE EXAMEN.
c. A fin de ubicar las mejores rutas de acceso, medios de transporte y vias de comunicacin que mas te convengan es recomendable
que visites anticipadamente el lugar en donde se ubica la sede del examen.
d. NO LLEVAR AUTOMVIL , ya que no se cuenta con estacionamiento para aspirantes.
e. No se te permitir el acceso a la sede del examen con mochilas, morrales, bolsos de mano, ni de dispositivos electrnicos tales como
telfonos celulares, calculadoras, agendas electrnicas, radio localizadores, etctera.
f. Como medida de seguridad y siguendo el programa de prevencin contra la radiacin solar te sugerimos usar crema protectora o bien
ropa ligera de manga larga.
g. Se sugiere usar en esa fecha zapatos bajos, cmodos.
h. El Instituto Politcnico Nacional informa que, con el propsito de detectar el posible uso de los dispositivos electrnicos mencionados
o la portacin de armas enunciadas, antes , durante y despus de la presentacin del examen de admisin, podr realizar una revisin
minuciosa a los aspirantes y, para ello, se podr auxiliar con detectores de metales.
3X

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