Introduccin

Los tratamientos trminos a algunos materiales como

el acero, mejora sus propiedades para algn tipo de
aplicacin, como puede ser estructuras como vigas.
Algunos de estos tratamientos son recocidos,
normalizado, temple, revenido. En este proyecto se
pretende construir una herramienta para
experimentar con este tipo de tratamientos a los
diversos materiales aplicables.
Objetivo General
La realizacin de prcticas de tratamientos
trmicos.

Justificacin
Un horno controlado automticamente, para hacer tratamientos
trmicos

Explicacin del problema que resuelve

Ensayo preliminar o prueba experimental

Controlador PID
Tpicamente, todo proceso industrial es representado por funciones de transferencia de primer
o segundo orden. A continuacin es expuesto un modelo de primero orden sobre el cual
vamos a trabajar para poder modelar el comportamiento de nuestra planta.

El modelo est representado en su forma continua, es decir en el dominio de Laplace.

donde es la ganancia del sistema, es la constante de tiempo del proceso y es el retardo
del proceso.

1
Control por Ziegler y Nichols
Ziegler y Nichols propusieron unas tablas de sintonia de controladores PID a partir de
funciones de transferencias de primer orden con retardo.

Controlador PID discreto

Como vamos a implementar el PID en nuestro microcontrolador PIC, debemos colocar la ley
de control en tiempo discreto con un tiempo de muestreo (T) adecuado. Ziegler y Nichols
propusieron determinar el tiempo de muestreo rpidamente de dos formas distintas:

1.

2.

Para nuestro caso del horno escogeremos un que corresponde a 100mS y siendo

menor que .

El control discreto PID viene dado por:

donde:

2
Con esto, la ley de control que vamos a ingresar a nuestro PIC sale del control PID discreto
(Despejando u(k))

Aplicando transformada inversa Z obtenemos la ecuacin en diferencias:

As, u(k) quiere decir la ley de control actual, u(k-1) es la ley de control un instante de
muestreo atrs, e(k) es el error actual (Referencia temperatura), e(k-1) es el error un
instante de muestreo atrs, e(k-2) es el error dos instantes de muestreo atrs.

Componente innovador