Está en la página 1de 12

ENERO 2000

REVISTA MEXICANA DE FSICA ~fl(1) 91-10:!


ENSEANZA

El abc de la formacin de imgenes en un microscopio electrnico

A. Huanosta- Tcra
Insrillllo de Investigat'iollt's Nacional AlltlJnO/1/ll de Mxico
en Malafa/cs. Ulli\'ersidud
Apartado postal 70.360, 04510, Mxico D.F.. Mc.\ico
Recibido el 14 de mayo de 19l)lJ: ;Jceptado el 22 \.k septiemhre de 1999

El advenimiento de la microscopa electrnicn ha cambiado nuestra comprensin en torno a ct"lmo est constituida la materia. Esto ha
lllnoitlcado profundamente el campo de la investigacin en 1;;1ciencia de materiales. particularmente dehido ti la posihilidad dc ohtener
f()to~mfas del interior de la materia. Para interpretar algunas caractersticas dc las im~g.el1csde microscopa clcl:trnica dchcmos tener al
menos una idea rudimentaria de cmo se formaron stas. En csla nota elementalusalllOS ideas familiares cn ptica clsica para describir la
formacin dc imf!cncs en los microscopios electrnicos. Nuestro intcrs estl en hacer nfasis cn a..pcclOs fsicos. cualitativamentc. en el
proccso de fOrJllilcin de imgenes particularmente en un microscopio clcclrniro dC'transmisin, Aunque se ha incluido buena cantidad de
u"tos. csta nola est dirigida a quienes quieran cOllocer las ideas bsicas ueltcma. m(s que a expertos cn la materia.

lJl'JcriptoreJ: f\.1icroscopio electrnico de transmisin; imagen; formacin de im<gcncs: invcstigacin en cicnciil de materiales

'fhe advcnt of c1cctron micrnscopy has changed our understanding ahout ho\'/ mallcr is constituted. It has deeply modified the field of
materials sccncc research. cspccially because Ihe possibilily of taking photogrnphs from the interior of a matcrial. Howcvcr. in on.!er to
interprct SOIllCreatures in imagcs taken with an elcctron microscopc we must llave al Icast nn clcl11entary iden ahout how thm imagcs were
gener\ted. It is cspecially tfUe when we start 10 Icrn diffrnction techniqucs. In this elementary note we use familiar ideas in c1assical
opli('s to dcscrihc imaging formation in e1ectron microscopcs. OUT intcrest ies in to cmphasilc qualitJlively physical aspc(ts particularly
in thc imaging process of a transmission ec(tron microscopc. Although wc have incluoed ccrtain alTlount 01' u~cful tlatn. this note is rather
dedicatcd to no cxpcricnced pcoplc who want to know the hasic ideas 01'thc sllhjecl.

';l'.\'Imrd.~: Transmission clcctron microscopc; imagc; imagc formatlon; lTI<lterialsscicnce rcscarch

PAes: 87.64.Ec: 61.16.Bg

1. Introduccin emhargo. cs un poco dccepcionantc rcconoccr que una ima-


gen que deha contcner toda la informacin que podramos
Una de las funciones ms importantes en nuestra actividad desear para poder formular juicios. o sacar conclusiones de
diaria consiste en establecer las diferencias que nos permi- lo que se ohserva. est lejos dc contenerla. Si pensramos
tan asignar el uso adecuado a los objetos que nos rodean: un que esto es lo que deha ocurrir estaramos pasando por alto
automvil. una computadora. una flor. un pequeo artefacto que la naturaleza de la imagen que ohservamos depende, na-
de lahoratorio. un microcircuito. etc. turalmente, del ohjeto que se est;: ohservando. de "longitud
de onda de la radiacin que se use para la observacin. es de-
Utilil.amos nuestros sentidos en un primer intento para
cir, la iluminacin y de la tecnologa que se est utilizando
ohtener informacin de o acerca de los ohjetos que estn a
pma la deteccin y despliegue de la informacin. Esto, oh-
Ilucstro alrcdellor. En este proceso cognoscitivo nuestnls (Jjl)S
viamcnte. no es posihle. Por ejemplo la utilizacin directa de
juegan un papel estelar. Lo primero que hacemos es poner en
nuestros ojos. en el intcnto de conocer las caractersticas mi-
nuestro campo visual el o los ohjetos de nuestro inters. Aun-
crosl:{lpicas de las cosas. impone limitaciones. El ojo humano
que seguramente no siempre nos preguntamos qu es lo que
est limitado en cuanto a su poder de resolucin. esto es, en
ocurre cuando miramos ti ohservamos un ohjeto? o ,qu es
su capacidad de separar visualmente puntos. lneas o detalles
lo que involucra el proceso de percatarse de que ah hay un
estructurales a distancias pequeas. La resolucin del ojo hu-
ohjeto con tales o cuales caractersticas?
mano es aproximadamente de 0.1 a 0.2 mm. ohservando a
Si nosotros ohservamos un ohjeto con nuestros ojos. en
una distancia dc 30 cm. aproximadamcnte.
forma directa () ayudados con algn instrumento. 10 que real-
mente vemos no cs el ohjeto en s mismo. sino lo que perci- El ingenio del homhre. sin emhargo, ha podido crear ins-
himos. es decir. lo que nuestro cerebro registra es una imagen trumentos capaces de superar ciertas limitaciones. Para mc-
de ese ohjeto 111. De todos modos nadie podr negar el valor jorar la capacidad de resolucin de nuestros ojos utilizamos
descriptivo de una imagen. pues se dice que la imagcn de un Icntcs. Como sahemos. una lente no es otra cosa quc un me-
ohjeto frccuentcmcnte supera, con mucho. cualquier descrip- dio refractor, cs decir. un medio capaz de desviar la trayec-
cin verbal o escrita dcl mismo. toria de UIl haz luminoso. Las lentes son los instrumentos
Sera maravilloso poder ohtcner toda la informacin re- pticos m<s ltiles en el proceso de formacin de imgenes.
ferente a un ohjeto usando nicamente nuestros sentidos. Sin Aunque todos tenemos una idea intuitiva de 10 que significa la
A IIUANOSTA.TERA

Si queremos saher cmo es realmcnte el objcto dehernos


descuhrir o entender tan exactamenle como sca posihle el
proceso de transferencia de la informacin, del ohjeto hacia
OJO su imagl'n,lihre de interfercncias indeseahles 1;)1.

2.2. Ell'ontraste

Un par<metro ttil para evaluar el comportamiento de un sis-


tema formador de imgcnL's es el contraste. El lrmino "con-
trastc" se reflerc a la t.liferellcia en inlensit.lad que hace que
una parte dc la imagen SC.:l.dislinguible de la intensidad dc
fondo. Las regiones que sc aprecien ms claras, o brillantcs,
Fl(jllRA l. Formaci6n de la imagen en la retina del ojo hum:mo. de un ohjeto que est siendo irradiado con luz natural, simple-
mcnte renejan el hecho de que. desde esa posicin. e! ohser-
vador eslt apreciando mayor cantidad dc fotoncs dispersados
p:lIahra ima~l'll. v<lk la pena hacer notar que aqu la usamos
en esas n:gioncs. En cambio aqucllas zonas del ohjeto que no
L'lI1111 sentidn pictrico. en donde su car<cler descriptivo es
se aprecien o que se vcan francamente ohscuras, rcnejan el
-.;ensihk a la presencia de colores. matices o claro-oscuros
hecho de que la luz ljue llega a cSlSregiones se dispersa en
que puedan resaltar todas. o la mayor caJ1lidad posihle de las
otras direcciones o es ahsorbida por el objeto. slC es e! ori-
caraL.tcrstiG.lsde eso que llamamos imagen.
gen del contraste. Por otra p:lrte. si el ohservador camhia de
posici6n. entonces camhia e! ngulo de ohservacin y segu-
2. La microscopa ptica ramente camhiaT<n las caracterslicas de la imagen ohserva-
da. simplemente porque scr~ otra la distrihucin de intensi-
2.1. La utilidad 11('la i1ulIlinaci()1l dad dispersada y/o ahsorhida que se pueda apreciar desde su
nueva posicin. En csta ltima IlTin el ohservador cslara
.Cmo nos damos cuenta de que algo est frente a nosotros'! eligicndo qu informacin recihir y cul no.
11rtlhahlemcIllc el hecho cotidiano. con frecuencia descuida-
Es hueno rl'conocer que "ielllpre scri.necesario usar algn
do, dcl uso dc nucstros ojos hace que restemos importancia
tipo de instrumento para dctectar una imagen. aun en el ca-
n:speclo al vehculo que usamos para .'ver". Conviene sel
so dcl ojo humano. Finalmcnlc, la retina del ojo es un ins-
l.ollscientes del pr{lceso que implica el percatarse. a travs de
lrumenlo de dcteccin. Otros L.OJllpOnentesplicos tambin
la vist.:l..de la prcsencia de objetos. Es decir. la formacin de
pueden scr considerados como importantes en el proceso Je
imjgellcs en nuestro cerehro.
fonnaci<n de im:lgcncs: el cristalino. lentes. espejos, pris-
El ojo tienc una k'nte. cl cristalino, que forma imgenes
mas. etc.
reales en una superlicie sensihlc a la luz, la rClina. El cris-
Desde lucgo que. en un illtento de ani.lisis completo del
l:lIill(l es una lellle maravillosa. es flexihle y puede cambiar
proceso de formaci6n de imgencs. resultar~ de suma uli lidad
"LJdistancia focal a voluntad o por requerimiento externo, lo
descubrir y cOlllpn:ndcr los efectos que tcndT<nestos compo-
cual le permite enfocar casi instant:ncilmente los ohjetos. Su
nentes ptkos cn el proces() de transferencia de informacin
ndice de refraccin esti.l en el intervalo 1..106-1.3S8. El ojo
de! ohjeto a la imagen. Hahlamos, desde luego, lk prdidas
l'S sensihle i.ll<)n~iIUdesde onda normalmcnte enlre 3DO 11m
oc cnergaluminosa, pnKcs:lmicnto .'defectuoso" de la infor-
y 7:'0 nm. aunque se sahe que hay ojos que pueden caplar
macin, que podra re."ullar cn adicin. presencia espuria o,
long iludes de onda [21 desde 310nm hasta lOOnlll.
tamhin, prdida dc illforlllaci()n.
Si hacemos la ohservacin utilizando simplemente la IU/.
La leora moderna de funciones de transferencia. en el
..;olar.entonces la energa luminosa que incide sohre el ohje-
proceso dc formacin de imi.genes y sistemas formadores de
to L'''' di"'persaL!aen todas direcciones formando un complejo
las mismas. funciona oa.io la idea Je transferencia lIe informa-
campo dc radiacin. cuya distrihucin cspaci.:l.lcontendr1 to-
cin del ohjcto hacia su imagen y lIe cmo se pueJe distor-
da la informacin acerca del ohjeto (Fig. 1). Se puede decir
sionar cll.olltcnido dc la informacin en el proceso de trans-
que la radiocin luminosa dispersada transfiere, en forllla co-
ferencia. Se puede decir que una funcin de transferencia cs
diticada. la informacin del ohjclo hacia la imagen que se
Ulla descripcin matemi.tica de la forma en la cual la infor-
ha de formar en lluestra retina. Esto significa quc aunqul' l'I
macin es lIlodilicada Ul1ll0 clll'rga radiante !' es transferilla
palrtlll de radial.n dispersada pueda Sl'r lllUYcomplicado rl'-
del ohjcto a la imagell 13].
allllelllc no L'Scatico ni azaroso. puesto que la dislribudn
de intensidad dispersada est estrictamcnte determinada por
l'I ohjeto. Entonces, el proceso de percepcin visual, o la po- 2.J. La hll. ~.la ptil'a d:.sil'a
sihilidad dc formar la imagen dc un ohjeto mediante alglin
disposilivo, lrae atada principalmcnle la cucstin: ,cmo se I.a IU/. posee naluraleza electromagntica y se comporta con
Iranslicre la informacin dc un objeto a su imagen'! canctcr tic llllda-part cula. Esta admirahlc dualidaJ ha sido el

R('\: Me,\. r . ..t6 (1) COOO) l) 1-1 o::!


EL ABC DE LA FORMACiN DE IMGENES EN UN ~lICR()scell'l() El.ECTRNICO 93

Ulla medida del poder colector de una lente. o de un


sistellla de ellas. lo proporciona el cuadrado de la apertura
numrica. AN. Este nmero dellne el mximo cono de luz
que una lente puede alcanzar. desde un punto, en una mues-
tra. :\:'\ = 11SI'Il n. donde n es la apertura angular. la cual
es un medio del mximo ngulo posihle de la lente. es decir.
el ~llgulo para el cual los rayos ms divergentes pasan por
la lente para formar ill1.gencs. 11 es el ndice de refraccin
f~". de la lente. En un micro,>copio ptico (MO) clsico () puede
: ""'::" alean/ar valorcs dt: Oo. El nmcro AN aparece. general.
mente. como el segundo lllmero en los tubos objetivos tic los
-----.1....-. r I

microscopio", pticos. Estc va dc O.OOi'. para lentcs objetivas


de haja potencia. hasta 1.4, para ohjetivos de alta potencia.
como un IOtlX. Para el aire Al\' = 1.
Fut: Emest Ahhe ( I X40-19(5). quien reconoci que la
distancia tran",vcrsallllnima entre dos puntos del ohjeto que
PiC,URA 2. Fornl3n de imtigenes. real y virtual, con una lente
se observa. (1que puede resolvcrse en una imagen. es decir.
c1;sil:apositiva.
el poder de resolucin (PR). vara directamente con.\ e in-
versamente con AN. PH = O.GI A 1..-\ 1\. En realidad. el PR
el ohjeto de amplsimas investigaciones desdc finalcs del si- determina la calidad de Ull instrumento ptico. Un microsco-
glo XIX. Aunque aqu no se discutirn estos aspectos. s di- pio de luz visihle puede poseer un PR del orden de 200 nm.
rcmos que lit manifestacin ondulatoria cst presente en la Con lul. ultraviolCla el PI{ puedc ser hasta de 100 nm.
ptica cl<sica de manera insistentc. Manejamos como ptica
c1i.sicageomlrica aquella quc utilila en todo su formalismo 2A. Es la ('n('r~a ele las ondas de luz una Iimitante'?
lllliL.alllclltc haces de luz comn. formada por fotones. cu-
~ti movimiento ondulatorio asociado oscila a frecuencias dc En el desarrollo dL' la ciencia, la ptica clsica ha tenido un
0.-1 x 101."; a I x lOI~J Hl. Olras caractersticas bien conoci- papel protag6nico. Hahr que reconocer, sin emhargo. las
das dc la IULson: que su velocidad cs una de las conslantes Iimit<leiollcs dc la ptica clsica en diversos campos de la
universales m.s conspicuas. 3 x 1010 cm/seg. y que las on- investigacin cicntfica actual. especialmente en las ltimas
das que la forman ohedeccn el principio de superposicin. dcadas. en quc se ha vuelto particularmente importante es-
La iJca que encicrra este principio cs. por una parte. que las tudiar caractersticas L'slrucluralcs "ntimas" de la materia.
ondas quc viajan en cualquier medio interactan entre ellas. Ohservar una imagen del interior de un material tendra la
Por otra parte, que en cualquier expcrimento de interferen- fascinacin de que sta pertenecera a otro mundo, un mundo
cia ondulatoria la onda resultante en un punlO del espacio es que cSl fuera de nuestra experiencia cotidiana. De la mis-
la suma dc los movimientos ondulatorios individuales de las ma forma que podran maravillarnos im<igenes de galaxias a
Olidas inleractuantcs en ese punto [.11. milloncs de aios hll.
El car<cter de partcula de la luz se manifiesta cuando la La invcstigacin h;sica en el rea de la ciencia de ma-
onda intcracta con algn ohjelo. teriales esl: intercsada en caracterizar microestruclUralmentc
No hay discusin en cuanto a los benefIcios que se han a los materiales. en especial aquellos de nueva snlesis. Es
obtenido a travs oel tiempo. y que an se pueden obtener, imporl<intc lent:r una idea clara de los arreglos atmicos que
l1eluso de una lente. o de sistemas de lentes. stos han sido y forman la materia. En los materiales cristalinos esto requiere.
siguen sienl10 utilizados para colectar y cambiar la forma de con frecuencia, conocer las coordenadas de los tomos que
un frente de ondas. generalmcnte con la intencin de analizar forman las celdas unitarias de las estructuras cristalinas.
informacin difundida a travs de alguna regin del espacio. En el caso de los lI;unados hiomateriales es importante
Sabemos que la forma ms comn de percibir la .'accin" de conoccr la eslructura Illolecular de los componentes de un
una lente es formando imgenes. bien sobrc una pantalla o sistema. de ",uertl' quc una imagen de las formas geomtricas
hien directamente en la retina del ojo humano. En la Fig. 2 se de las molculas 11lIl'dcllser una buena gua para tcncr una
ilustra la obtencin clsica de imgenes reales y virtuales por idea del tipo de interacciones que se podran esperar entre los
lentes nH1\'crgentcs. diversos componentes.
Como sc ha mencionado antes. una lente puede resul- Con la tecnologa generada en torno a la ptica de luz
tar un instrumento defectuoso en el proceso de formacin de visible. fue posible hacer una gran contrihucin al conoci-
imgenes, lo cual perjudicara el poder de resolucin. Los de- miento estructural de la materia. Pero este logro estuvo hasa-
fcl:tos cn las lentes se COIl(){:encomo aberraciones. La correl,;- do. fundamcntalmcnte, cn ohservaciones de la topografa dc
cin de defectos es un asunto difcil y frecuentemente se re- los matcriales y cn razonamicntos deductivos muy destaca.
suelve por ensayo y error. combinando cfectos opuestos hasta dos. Por desgracia. utilizando haces de fotones no es posihle
ohtener el resultado que se desea [5]. escudrilar la constilucin estructural interna dc la materia,

Rev. ,"In. FJ. 46 (1) (2CX)())91-102


A. HUANOSTA.TERA

dehido principalmente a que las ondas que forman la lut no


SOI1 lo sufkcntcmenlc energticas. La longitud de onda de la

luz natural esta en el intervalo 0.5/f1n-l/"1). Se estima que


la profundidad de penetracin de un hat. de fotones no es ma- '"
,...
yor que (J.{J()2 nm-(J,O(J;j 11m [61. La energa d~ un fotn es
apenas del on..!ende un electrn \'011.

3. La microscopa electrnica
J.l. IllIIninamlo el interior de la materia lllCTIIlOlIIlS

El concepto de iluminacin. desde luego, no es privativo de la


radiacin formada por fotones. Otros tipos de radiacin han
sioo implementados como medios de iluminacin. Aunque.
FI<HJRA J. Comparacin ~squem;tica entre una lente c1:sica y una
como haremos 1101<11', su origen y efecto tendrn implicacio-
lente magntica.
nes que escapan a nuestra experiencia diaria.
Oc 1.1misma forma que la dispersin de la luz natural sir-
ve C0ll10vehculo para que el homhre perciba la presencia de dependiendo de la direccin de la velocidad y de la direccin
ohjetos. ;] travs de sus ojos. de esa misma forma podra ser del yector de campo elctrico o magnlico al cual estn suje-
utilizada otra forma de iluminacin. capaz de penetrar la ma- tas las cargas. Aprovechando esta caracterstica es posible di-
teria. para tener un panorama visual de la estructura atmica sear dispositivos. elctricos (1 magnticos. que descmpeen
de las cosas. Entonces. para incursionar en el mundo ntimo la funcidn de una lenle [8]. En este caso el medio refractor
de la materia requerimos UIl vehculo que IIOSpermita ex.tra- estara constituido por el campo elctrico o magntico. En la
er la informacin a escala atmica y molecular. Aun cuando Fig. 3 se muestr<l esquemticamcnte una lente clsica y una
esto impliquc la creacin dc una ptica de panculas acelera- lente magntica.
das. Una lente clsica tiene un ndice de refraccin constan-
La utilizacin de haces de partculas. tales como electro- te en todo el e"pacio que ocupa. En el nuevo tipo de lentc. el
nes. previamente accleradoas por una diferencia de potencial ndice de refraccin depender de la magnitud instantnea del
elevada. puede proporcionar el camino para obtener la infor- campo en cada punto. Ciertamente los electrones no seguirn
macin. va fenmenos de dispersin e interferencia ondula- lrayectorias rectilneas cuando estn cruzando el campo, pero
toria. en el momento que ahandonen las regiones del espacio en que
Si un haz de electrones se est moviendo bajo la inlluen- los campos actLenentonces seguirn su viaje en lnea recta.
cia de una diferencia de potencial aceleradora V. entonces la De aqu se desprende que. en el esquema de la ptica de
longitud de onda 17J asociada al movimiento de las partculas electrones. el prohlem<J del diseo de lentes. por medio de
viene dada por campos elctricos o magnticos. es crear distrihuciones de
campo tales que un haz de electrones pueda ser guiado hacia
12.26.-\ un punto especfico del esp<lcio. Oc hccho el desarrollo y la
-\= ----------
j!'/'(l +O.98 x 10-61')'/" comprensin de la <'1pticade eleclrones han llevado a la crea-
cin de sistemas pticos altamente ~ofisticados: los microsco-
V en \'o!ts. Es evidente que la longitud de onda asodada al
pios electrnicos. El uso de estos instrumentos ha permitido
movimiento del electrn depende slo del potencial acelera-
dor. Si. por ejemplo. se utilizara un potencial acelerador de comprender muchos aspectos de la constitucin interna de la
materia [DI.
100 ~V. encontraramos 4ue -\ = O.03 A. Un valor pequeo
comparado con las dimcnsiones interat6micas cn un cristal. Ahora. todos los tipos de radiaci6n usados para formar
Con esta .A asociada. un electrn ser capaz de penctrar la imgenes tienen la caracterstica unificadora de poder ser es-
materia. tudiados. entendidos y aun modelados en trminos de movi-
micntos ondulatorios. Por olra parle. dado el hecho nOlahle-
3.2. Un nuevo tipo de lente mcnte afortunado de que los esquemas tericos utililados en
ptica clsica son, en general. v.1idos en la llamada ptica de
Los dectroncs en moyimiento poseen el atributo de compor- electrones. amhas circunstancias facilitan la comprensin y
tarse como partculas cargadas y COI11O ondas o paqueles de y aplicacin de COIH:Cptos ya conocidos; dos de ellos impor-
Olidas viajando en la misma direccin que las partculas cu- tantsimos. Uno es que. igual que lo hacen las lentes clsicas.
yas trayectorias estn descritIS por la amplitud de prohahili- ste lluevo tipo de lentes tamhin forma patrones de difrac-
dad de sus ondas asociadas. Es decir. stos tamhin poseen el cin de Fraunhofer de un objeto a una distancia finita de la
carcter dual onda-partcula que tiene la luz natural. tente. El segundo es que pueden formar una imagen del ohje-
Una pancula o un haz de partculas cargadas movindose lO. en una relacin lino a uno. entre los puntos que forman el
cnlln campo elctrico o magntico cambian su trayectoria. ohjeto y los de la imagen fIO].

Rev. Mex. F;. 4(. (1) (20(X)) 91-102


EL ABe I)E LA F()R~1AC1N VE IMGENES EN UN r-.11CR()SC(H'H) ELECTRNICO 95

J.J. Los mil"roscol'ios electnJnicos


U{(UOO'f n.oOlS_

La diferencia de potencial que utilizan los microscopios el('c- ....... ~{ oos


{l(lltO
'-.'os
rIItCU"04_

lrnicos modernos para acelerar electrones. y convertirlos en


haces de partculas Illovindosc a velocidades del orden de la "'. ';.: lIu{l'U

mitad de la velol.:idaJ de la luz, es muy variada pero siempre


eSl: en el orden de kilo electrn volts (keV). Por ejemplo. a ;
U{C"OOOUo,.pr.SAOOI (U('IIO"U D'SP{.Uoos
lOOkeV, 1',._ = I.G.j X IOH m/seg. Una clasificacin a .:rosso HUTlC."U1( '"uu'oc r,,'{

moJo sera la siguiente: de O a 1000 e!cclrn volts (eV) para


ek'ctrones de naja energa. de 1 a 20 keV para c1eclrones de FJ(iURA 4. H;l/, de electrones incidiendo sohrc una muestra dd-
energa media y de :20 keV a 2 MeV para elc(.:trones de alta gada. Pueden ol'tnrir los proccsos fsicos que se mencionan aqu.
energa 101.
Mientras que un microscopio ptico funciona con sus
lel1tes inmersas cn almsfera normal, UIl microscopio clet,;-
tnlllico (tvlE) rcquiere que el espacio en que se van a mover
los haces de electrones est Iihre dc partculas que pudieran
interacluar con los electrones. Esto se logra neando regiones
conlinadas. con alto vaco (- 10-7 torr). para la trayectoria
de los elcclHlnes.
La lcrnologa actual ofrcce dos grandes vertientes en ImO\ll'n

ruanlo a microst,;opios electrnicos: el microscopio elec-


trnico de transmisin (MET) y cl microscopio clc(.:trnico
de harrido (M EH).
Una difercnciJ fundamental entre uno y otro raLlica en el
tipo de muestra susceptinle de scr cstudida en cada equipo.
FI<HIRA 5. Se ilustra. csqllcm;ticamcl1tc. IJ profundidad de C:llnpo
En cl de transmisi6n un haz de electrones acelerados inci-
y dl' foco l'O Ulla Ienle de clCl.troncs.
de cn la supcrficie de una muestra y sale por la cara opuesta
de ella. Esto tiene una implicacin seria en cuanto al tipo de
Illuestras que pueden ser sujeto de observacin en este tipo dad (Fig. S). t':!'>taes una magnitud ligada a ,,\ y a la AN por
de microscopio. El poder de pcnetmcin que un haz de elec- PI" = "\/(AN)~. En un MET esta distancia es ms grande que
lrones ImeLlelener no alcanza los 0.05 mlll. En realidad, una el espesor de la llluestra que se ohserva. Para una lente onjc-
muestra para este microscopio que garantice la transmisin tiva de un MET. ron AN = 10-:i rad y 1 kV de accleraci6n
de CleClI"tH1l..'S
dene tener un espesor menor a 1000 . sto (>' = U.O{):~U 1\111), Pf' = :~~)()O
nlll. El poder de resolucin na-
puede lograrse con tcnicas de homhardeo inico. por ataque turalmente depende de). y de AN. aunque Sle es cien veces
qumico o electroqumico 171. superior al PR del mejor ~tO. Un MET puede resolver 0.:\5
En ramnio, una Illuestra para un microscopio de harrido nlll, punto [ punto, y 0.1,1 nl1l, lnea a lnea.
puede ser relativamente grande, desde unos milmetros hasta La profundidad de I"oco(PI) es la dist<.ll1cia,a lo largo del
varios centmetros. En esta clase de microscopio los electro- eje de la lente, en el plano de la imagen. en la cual la imagen
nes que van ; dar origen a una imagen salen por la misma puedc enfocarse sin prdida de claridad. PI esta relacionada
cara de la muestra donde incidi6 el haz de electrones, C0l110 con la amplilicacill (.4.), con el PR y es inversamentc pro-
\i fuera un microscopio de lUl reflejada. La superllcie de on- rorcional a la !IN. es decir. PI = A2(PR)/AN.
ser\'acin dene llenar condiciones de limpieza excepcionales. Para un microscopio de transmisin con PR = 0.:2 nm.
Realmente en ambos casos (MET y MEB) es indispen- AN = 10-:1 rad y ..l = 1 x 10". PI = 2000 m. Esto es
\ahlc fanricar muestras Iihres de panculas que puedan in- lo quc permite colocar una cmara fotogrfica deoajo de la
terferir con la informacin que presumiblemente se ohlen- pantalla del MET y poder tomar fotografas sin prdida de
dr,i de la lTlueslra. En la Fig. 4 se esquematilan los posinles claridad focal. Los valores tan pequeos de AN se dehen a
fentmellos asoci<ldos cuando un haz de electrones incide so- que la apertura angular de (o) es del orden de unos dcimos
bre una muestra que permita la transmisi6n de electrones. de grado. 11 es igual a lIIlO.
El poder de resolucin cn un MET no depende s610 de la
JA. '\1~lInas l'aI":.H.'ter.sticasdel microscopio clectrnil"o calidad y nuen eSlado del instrumento sino tambin. y fucr-
temente, de la preparacin de las muestras quc se ohscrvan
dl' Iransmisi6n
en l. Cosslcll enunci una regla en relacin con la resolu-
Es importante mencionar la gran profundidad de campo (Pe) cin: Sla no puede ser mayor que un dcimo del espesor de
y de foco 1111 que tiene este microscopio. Pe se refiere a la la Illuestra [GI. En la Fig. 6 se muestra la gran semejanza en
distancia, a lo largo del eje de la lente, en el plano del ohjeto, el sistema ptico de un Illicrsoscopio ptico con el de lino
ell la cual se puede enfocar una imagen sin prdida de clari. clertr<nico de transmisin.

Rel'. Mt'x. FiJ. -16 (1) (20(Xl) t)1-I02


96 A. HUANOSTA-TERA

FllilJR,\ (l. El sistema tlplil.:o de un microscopio c1,sico y un clcc-


I rtln iUI.
FI(;URA 7. Un ha de elcctrones que sufre JispersilI elstica e
incl<stica.

J.5. La interaccin de electrones con la materia


En trminos comparativos con la ptica clsica cl pro.
Cuando un haz de electrones incide en un material stos in- hlcma puede descrihirse como sigue: En el caso de haces de
lcractlan tanto cldstka como inclsticamente con los dtoJnos luz comn. una onda que viaja en un medio con ndice de
del material. En la Fig. 7 se ilustran estos eventos. En don- refracci6n Jifcrenle de la unidad sufre un camhio de fase.
dc no s~ ve involucrada la expulsin de un electrn de los comparado con un ha/. de luz que viaja en el vaco. Un h<lz
<tomosdel material. las trayectorias de los haces camhian- de de electrones que viaje en el interior de un slido tambin
direccin muy poco. Estas trayectorias representan choques camhiar. la direccin de su trayectoriu inicial dehido a un
e1.slicos. Otras trayectorias de electrones cambian aprecia- camhio en el ndice de refracci6n del medio. El ndil'e de re-
hlcmellte dehido a que la interaccin es inelstica. Se mues. fraccin camhia cuando las ondas de electrones penetran a
tran tamhin trayectorias que no se modilican, estas repre- una regin de diferentc potencial electrosttico dehido a los
sentan la fraccin del haz de electrones que no sufre ninguna ;tomos que forman el slido, ste les camhia la velocidad y
dispersin. por consiguicnte la longitud de onda [12j. En el caso de elec-
En el proceso de dispersin elstica los electrones in- lrones, el ,ngulo de dispersin es tan pequeo que en su viaje
tCnlcllall principalmente con los cmnpos de potencial elec- a travs de una muestra delgada. del orden de 100 de espe-
trost;itico de los nlcleos de los tomos que constituyen elma- sor, sufre un despla/.amiento lateral de alrededor de 1 . Por
eria!. Estc potenci.ll es, en cualquier caso, inferior alOa ev' ejemplo, en el caso de electroncs acelerados por una diferen-
La energa de los electrones incidentes no call1hia apreciahle- cia de potencial de 100 keV. los ngulos de dispersin andan
mente en este caso. El momento de los electrones s se modi- del orden de lO miliradianes. Por esta razn, como primera
tk'a. produciendo una distrihucin angular de dispersin del aproximacin. se puede suponer quc una onda de electrones
ha/. incidcnte de electrones. Esta distrihucin angular es ca- alravesando una muestra delgada sufre un camhio de fase que
racterSl ica de cada material dispersor y sera de esperar que depende de la distrihucin de potencial a lo largo de una lnea
se manifestad en la distrihucin espacial de intensidad lu- recta que atraviesa el material.
minosa emergente. En este evento el ohjeto dispersor sufre
un pequco redlazo en la direccin opuesta al movimiento J.6. Formacin dl' la imagen
dL' los electrones. tal que la energa cedida de los electro-
ncs incidentes al ohjeto dispersor en realidad es dcspreciahle Como ya sc ha mencionado antes, si tratamos de descuhrir
;j(J e V). Esto ocurre debido a la gran di ferencia dc ma- "C(lIllOes realmente el ohjeto", en este caso la microestructu-
sa cntre las p.lrtkulas incidentes y los <itomos dispersores. ra interna del material donde incidi la radiacin que usamos
La dispL'rsidn c1.stica proporciona uno de los mccanismos de como iluminacin. entonces dehemos recurrir a la informa-
inleraccidn que contri huyen al contraste de una imagen <le cin contenida en la imagen. cualquier COsa que esto pueda
~1ET. significar. Es decir, nuestro inters se enfocar en el proceso
En el caso de dispersin ehstica de electrones acelera- de transferencia de informacin, va el campo de radiacin
dos por ulla diferencia de potcncial de 100 kcV. la trayectoria proveniente del interior del sistema fsico. a su correspon-
lihn: 1IH..'diaque Ullelectrn puede viajar en un slido consti- diente imagen.
lUido por tollloS ligeros vara, desdc unos pocos cientos de Cuando se homhardea con electrones un material delga-
amstrongs hasta unas de<:enas panl materialcs formados por do. los electrones que salen continuar<in su viaje. con tina
.il(llll()Spesados. I>araevitar complicllciones es rec()mcndahle distrihucin de valores tIc fase. relativos a la fase de la onda
Iralar de construir muestras, para ohservar cn el microscopio incidente. Esta distrihucin de fases depender ue los valores
de lransmisin. del orden de la trayectoria lihre media. dell'mnpo de potencial (o sus variaciones) a travs del cual

1'1-:Mex. F. 46 (1) (2000) 91-102


EL ABe DE LA FOR~tACI;' DE lt-.l;\GENES EN UN t-.l1Cl{()SC()l'lO EU':Cmt'\ICO
')7

D.

Ho, 1 1 1 1 1 'ocideole
A. B,

c.

F](;ul{ ..' () Lo puntos 1\. B. C. D. 11L'1ll'1lasoci;l(.1a tilla .. im~gcll


alll[llitiC:lt!a'. A'. Ir. c. 1r

Ulla Illuestra. en regiones "alllplilicadas" en la imagen. El


punlo A produce 1;1rL'gin A .. B-+W. etc .. en la Pig. <) se
ilustra e....
ta idea. Aqu se h;H;e notar que la manera en que se
formil la ilIlagen ti Ilal es mediante una comhinacin de contri-
Imoo.n huci(lIles de la di ....
persi'l1l pnlVcniente de muchsimos centn)s
dispersores de la Illuestra. Esto. por otra parte. sugiere la po-
FHit'I{\ X. EsquC'ma del proceso de formacin ue imgenes en un sihilidad de obtener imgellcs de alta resolucin de las redes
Illicro ..copio e1cClftlllico de lransmisill. cristalinas. lo cllal 1l\'oluna distancias del orden de fraccin
de nanmetros. Aunque para este tipo Je trahajo se requie~
re un i\IET con aditamentos adecuados, principalmente una
<cada e!cclnn (Fi~. X). Muchos de estos eleclrones lalll-
pa ....
hiL'1Ihahr:n c:\perimenlado un peljueo camhio cn la ampli- piela polar de alla resolucin,
IlId dl' olida a ...ociatia a ellos. dehido a procesos de dispersin Iklk'ndiendo de uimo interacten las fases de las onda.;
lanto ineljslica i,.'()1Jl(1 l'l;slica. que salen de la lIluestra. ser< el tipo de contraste que se ohser-
La dislrihuci<n angular de intensidad de electrones S<l- ,'ar; linalmente en la imagen. Es decir. cl corrimiento relativo
lielltlo's. es decir. la densidad de eleclrones susceptihles t.Ie ser de las rases dL' ond;ls vecinas determinar si la presencia de
detcdados a una cicrta distancia de la Illuestra vendra dada un {lomo. (l conjunto dc ellos. se \'a a manifestar en contraste
por la distrihuci<n dc intensidad luminosa. cuyas variacio~ c1;ll'O 1Iohscuro. En el caso de microscopa de alta resoItH:i<'lIl
llCS producen l'l contraste. Esle parmetro cs. en realidad. la se dice que el l.ontraste es positivo si los tomos aparecen
principal ohsi..'rvahk en el proceso fsico. Si esta ohservahlc ohscuros en rondo claro y ser< negati\"{) si aquellos aparecen
puede deleClarse. digamos sohre una pantalla lluoresL'entc. hrillantl's en l"ond(l oscuro ll:q,
seguramcnte se !"<ll"Illar;IIna dislrihuci<n dc regiones claras y
ohscuras. es decir. tilla imagell. como se vc en la Fig. X, J.7. ;Yodl'mos nI' la imagen'!
La ~arant de (jUlo'un ;lOmo. o un grupo de ellos. puc-
llc haccr "sentir" su presencia en tilla imagen Jc microscopa El prohIL'l1Ia L'Sque la distrihucin espacial Jc electrones, a
electnnica de transmisin MET radica en que un solo ;tOIl1O Ulla ricrta dist;lIlL"ia de la superficie Je salida de la Illuestra,
puede dispersar un mimero suHciente de electrones delecta~ c.....
t; restringida a tilla regin microscpica. De poco nos ser~
hles en tilla pantalla Ilumescente o una placa fotogdfica. \'ira inlelltar trahajar con tilla imagen de dimensiones Illi~
La radiacin dispersada podr; formar. prohahlementc. un i..Tosc(picas. Es indispensahle utilizar un sistema all1plilica~
p~ltrI1muy complejo de campo de radiacin. pero la forma dor que nos permita tener una imagen de dimensiones r<l~
de este campo dehed ser. necesariamente, una funcin hien onahles para Sil manipulacin y para algn clculo que se
dL'linida del arreglo interno de las partculas que formen el quiera realiar. El sistema ptico [1:31 del I\,'IET es el encarga~
"'('Ilido. Si c;mhi.ramos de ohjeto. () la distrihucin de los do de resolver L'ste prohlema, Elmecanisl1lo de formachn de
arregl(l<., almic(ls. la f()fflla del campo de radiacin emergen- im;genL's por medio de lentes dc electrones es semejante al
te darla origcn a una imagcn diferente. de la ptica c1<sica, Si la lIluestra es cristalina el proceso de
'nllllbi~l1 i..'n cste caso. el patr6n de campo de radiacin. dispersin oClIlTir;. salisfaciendo las condiciones de Laue. o
quc transporta y codilica la informacin. no scr<.ulla l"ulKin .;iguiendo la ky de Bragg. C0l110 se prefiera ver. Esto signilka
solamenle del arreglo ;i1timico (l molecular existente cn i..'1sis- quc, en un cierto mimero (111 - 1) de direcciones se t1chcn sao
tema. sino t;l1nhin depcnder; de f.lCtorcs ajenos al sistema ,isracl'r \;s L'olHlkipnes de Bragg. lo cual signifka que el 11;1/.
fsico que se analice. que lleg.l a la Illuestra se va a "fragmentar" en 111 haces que
Podemos imaginar qUi..' el microscopio de transmisin llevan inl'ormacitlll espcdlica. De manera que una regin del
lralhl'onna puntos. o re~i(ll1es lllicrosnpicas del interior dc espacio sc llena con "puntos" de intellsiJad electrnica. dis-

Nl'I'. M!'.\. F . ..l(I(I) (2()OO)lJl-l02


A HUA:\'OSTA-TERA

PIona de
la muestra im<genes. La funcin que realiza esta tarea es lo que se co-
noce como funci6n de transferencia ptica, Sla es una fun-
a lente ci6n compleja, dependiente dc la frecuencia espacial, cuyo
m6dulo es la funcin de transferencia de modulacin y cu-
ya fasc es la funci<n de transferencia dc fasc. La funcin de
transferencia de modulacin cs una mcdida de la reduccin
en el contraste, del ohjelo a la imagcn, sohre todo el espectro
tlL'frecuencias. La funcin tic transferencia de fase represen-
la el corrillliL'n!O relativo de las fascs. que puede ser medi-
FlCilll{A J O. E:-;qll~lll;j tlc la fOrl11dCin de patrll de difraccln ~ do 11.11.
imagen tle tina llluestra cristalina. Cahe aqu una ohservncin: cuando la teora se presenta
cn lrminos de rases y amplitudes de campos de ondas, en-
dislrihuidos regular y peridicamente en el espa;io tridimen- tonces pierde sentido hahlar de lrayectorias de electrones o
sional. Una seccin transversal de esta regin del espacio es distinguir enlre haces individuales.
lo qUL'l.onOCl'mos como patrn de difracci6n de electrones.
En una placa fotogrfica los puntos ohscuros que forman el
4. El contraste en el microscopio electrnico de
patrn se distrihuyen en arreglos geomtricos definidos. La
transmisin
parle del ha/oque /lO contahiliza cn trminos de condiciones
de Bragg es la parlc del ha.l que no sufre desviacin respecto La interprL'lacin del contraste en las indgenes ohtenidas con
al 11<11 incidente. En la literatura especializada se le llama el un !vlET es determinante en la investigacin ciel1\lica. En la
ha/. transmitido. microscopa 6ptica la mayor fuente de conlraste es la ahsor.
Ohviamcntc. en cadn una de estns direcciones se podr cin de lul.. En este tipo de microscopio la ahsorci<n no con-
detectar una distrihuci6n de intensidad que puede formar trihuye signilicativamellte al contra,,;tc de la imagen: en este
imagen, aunque seguramente con caractersticas di rerentes en caso el contraste puede ser dehido a tres posihles mecanis-
l'ada direcci<'lIl. Enseguida cada haz es retomado por la lente mos: a) contraste de fase, h) contraste por difraccin y e)
()hjeti\"a para enfocarlo en el plano focal posterior de la lente, contraste por espesor-masa. Estos mecanismos de contraste
a continuacin se forma la imagen correspondiente. podran operar uno a UIlOo mezclados.
Como se ve en la Fig. 10, la imagen est invertida y pue-
de pensarse que fue originnda por la interacl'in de onditas -l, t. Cnntnlsh.' de fase
dI..'Huygl.:ns generadas por fuentes puntuales situadas en ca-
d" punto dd patr6n de difraccin. Esta imagen es retomada En microscopa ptica es posihlc limitar la sCl'cin transver.
por otro juego tic lentes. conocidas como proyectoras. que sal del ha/. de luz utilizando colimadores o aherturas. En un
linalmente fonnaf:n la imagen en la pantalla del MET. El MET tamhin sc utiliza este Illccanismo. Una de las ahcrturas
patr6n ,iL'difracci6n completo puede, a su vez, considerarse ms importantes en este microscopio cs la abertura ohjetiva.
como una imagen de la red y se localiza en un espacio forma- su posicin puede verse en la Fig. 6. Usando esta ahertura se
do por l'oordenadas construidas con los valores recprocos de puede aUlllentar la profundidad de focn, como se ilustra en la
las dislancias en el espacio real. Es decir, es una medida de la Fig.5.
fn:cuenciaespacial, dnoa por l/.r, donde.1" es la dist<lncia a la Si el h;11.transmitido y los haces difract<ldos pasan a
que est;ill colocados los centros dispersores distrihuidos sohre travs de la ahertura ohjetiva inleractuann entre ellos, co-
planos imaginarios. De aqu su nombre de espacio recproco. mo se ha hct:ho ver en secciones anteriores. Ahora. puesto
que las ondas de los electrones difractados hahrin sufrido un
J.M. El aspcl'to formal corrimientos de fase <.:Cm respecto a los que forman el haz
lranslllititlo. entonces se formad un patrn tic interferencia,
En trminos formales, el proceso ue formaci6n ue imagenes en el plano de la imagen. que estar inlluido de manera im-
en el llliLTosl'opio de tmnsmisin quedara representado por portanle por las diferencias de fase que traen las onu as que
dos transformadas uc Fourier sucesivas, es decir. la transi- lo forman I ).~d.La imagen formada tle esIJ manera se cono-
;il)1lde 1" funci6n de onda que emerge dc la muestra, 'l' d. a ce COIllOimagen por contraste de fase y se formar cuales-
la transformada de Fourier \)"1 F Y de "regreso" a la funcin quiera que sea el tipo tic muestra. Si la mucstra es amorfa su
imagen ,JI l. ti' r quednlocalizada en el pl:lno del patrn de imagen se ver; en la pantalla como "moteada", no formar
dirracl'i6n y se gCllera por interferencia, a una distancia "in- ningn tipo de palrn regular. Pero en el caso de una muestra
Ji!lita", dL'las ondas generadas en la muestm. cristalina. su imagen por ;ontraste tic fase cOlltendr;l franjas
CUllldo se trata de un cristal y dado quc ste es un obje- provenientes de la interferencia de los haces que pasaron por
[o integrado por componentes de Fourier. la forma en la cual la ahertura objetiva. A tal tipo de imagcn se le conocc corno
sus (OmpOllentes armnicos son transformados por el siste- imagen tic la red cuando son slo dos los haces que contritlll-
llIa plil:o l'll los correspondientes componentes armnicos yen a su formacin. Si intervienen varios haces, a la imagen
de la im<lgenes la parte medular del proceso de formacin de se le conoce m;s comnmcnte como imagen de estructura. En

Rl'\'. Me.\". F. ~6 (1) (2000) 91-102


EL ABC DE LA FORMACiN DE 1\1.A.GENES EN UT' t-.IICIH)SCClPlC) ELECTR;\ICO 99

In)

FI(;IIl{ ..\ 11. Ima!!cn de la red cristalina dcl complJe~to cCr:lmico


Ca~ d~i.ITi:uO\lu. El l'Olurastc osr.::uro proviene de capa~ de
Bi;,!O;,!,cn tanto que d claro ('orrespondc a ('apas dc pcrovskita
illll.'rraladas. El Vollajl.' de :!<:l'lerncin utilizado fue 200 kV, am-
plitll:arin 1.8 x lO'iX. La orientacin cristalogrlica cs cercana a
10111 dI.'una red cristalina ortorrmbica.

la Fig. 11 se muestra la imagen de estructura de franjas de


un compuesto cermico (Ca:u Bi4 Ti .'i I01l'U). La estruclU.
ra cristalina ut: este compuesto es ortorrrnhica. El contraste
claro-oscuro indica la existencia de una estructura de capas
(h)
dL' Bi101 (oscuras) y dc perovskita (claras), cada una de las
ctJ<llestielle un espesor de aproximadamente.) A.. Ellllateria! F](;tJRA 12. Campo claro (al. en la oricntacin cristalogr:lica
le observado en el MET en forma de polvos Illicrocristali. ({XJlI. y campo oscuro (h) dc una aleacin del sistema Cu-AI con-
nos, soportados en una rejilla de eu cuhierla con una pelcula laminada con Bc. La amplificacin en ambos casos es 4 x l(y1X. el
de polmero refor7.ado con pelcula de carh6n eV<lporado.En l'ampo oscuro sc hizo utilizando el punto que se indica en el palrn
de difraccin. El MET se oper a 100 kV.
la fotografa se ohserva un contraste oscuro de forma circular
que corresponde a cmulos de ,tomos del carbn evaporado.
Si se lnn<l imagen slo con el haz transmitido no se ohser. En la Fig. 12a se Illucstra una imugen de campo claro de
var;n franjas de la red. una aleacin del sistema Cu.AI con laminada con Be. La es-
La resolucin posihle en una im<lgen por contraste de fa- truclura cristalina es chica y la microfotografa se tom en
se, esl<limitada por las aherraciones, en especial la esfrica. la llricntacin [0011. Una imugen de campo oscuro de la mis-
presentes en el sistema ptico del MET y por el (i.lInailode la lila muestra se puede ver ell la Fig. 12h. Esta ltima se hizo
ahertura ohjetiva. ya que sta selecciona la regin del espacio utililando el punlo que se indica en el patr6n de difraccin.
recproco que contribuir a la formacin de la imagen. Si no
se lisa ahertura alg.una, la resolucin quedar limitada por las ...3. Contraste por espesor.masa
':lllL'ITaciones.
El contraste por espesor. masa de cualquier tipo dc mucstra
4.2. Contrastl' por difracin se forma de la misma manera que en el caso anterior, es decir
formando la imagen con un solo h<lz.Su origen es, principal.
El ,:ontraS(epor difraccin {IG] de muestras cristalinas surge mente, por dispersin cl<.slica incoherente (13]. La intensi.
CUi.lIldola ahcrlura ohjetiva se inserta para dejar rasar sola- dad de dispersin dc una tlluestra amorfa y las componentes
mente el haz transmitido. De suerte que aquellas regiones de inelsticas de dispersitln de un cristal decaen rpidamente co-
la lllucstra que difractaron intensamentc aparecedn oscuras rno funcin dd i.ngulo de Bragg:. es decir, para :ngulos gran-
('n la imagen, en (;tillOque aquellas regiones que dispersaron des la inlcl1sidad de la dispersin disminuye hrscamentc.
ponrclllente apareced n brillantes. A este tiro de imagen sc Atotllos con llllllCm altlmico alto dispersarn mayores can.
le conoce como de "campo claro", PUCSIOque si no huhiera tidades de clectrones que tomos con nmero atmico pc-
muestra la pantalla se vera clara. () sea hrillante. Es posihle qucilo, dehido a qUL'poscl'n diferente sc(;cin transversal oe
inclinar la trayectoria del haz de electrones hasta que UllOde dispersin y el Illmero dI..'cventos oc dispersin es diferente.
los haces difractados pJse por la ahertura objetiva, quedando Eso significa que solamente PO(;OSelectrones, provenientes
hloqueado el ha/. Iransmitido. A la imagen ohservada por es- de esa regiones de ulla muestra donde existan lomos pe.
\1..' mlodo se le conoce como imagcn de "campo oscuro", El sados, pi.1sarll por la ahertura para formar la imagen. esa
nomhre es porque si no huhiera muestra interpuesta al ha!. de regin apareced mi.s oscura en la panlalla del microscopio
C"lectrones. la pantalla del microscopio aparecera oscura. c!eclrnico dc transmisin.

M('I'. Mex. F. ,U, (1) (2()()()) 91-102


11111 A IIU:\N()STA.TEK:\

I R I
~

FI<;III<.\ 13. Imagen ('~qllcm;itic<l de una dis]Ol:acin de honlt:.

Ft{jURA 14. Esquema de la lormaL'I'Hl de imagen de UI1,1 frontera


En la pr;clica este mecanismo se usa para mejorar el COIl- L1L'!!r<lIlO en un crist,ll L'n forma de (lIna.
lra'ilL' tk la imagen. Ohviamcnlc este mecanismo de form<l-
l'jn dL' contraste no permite la ocurrencia de franjas dc la red
Ca~al> de
cristalina. De moJo que, el hCl'hn dc mejorar el contr .l'.tc Ptlf elec!tol>u
LenTe condeosa_
dfran:i<lllloS conduce a perder la informacin contenida ell doro
L'Inllltra ..lc dc fase.
BOD,I>OS de
Barrida

~,..Otrus l'jelllplns

Abertu'O
Es cOlllln que en un material cristalino existan desarreglos _t~<!! _

;ll\llli,:os (dcfcclos) en la estructura; fallas de apilamiento.


di:.ducaL'illllcs. etc. La Jislrihuci(n de intensidades de he revc-
luDo F"oTOmull,plicao:lo'
lar la prL"'L'llCia y el carcter dc los defectos. El campo dc cs-
-TilDO de .!.u{.
IUl'I"lOSque, gL'Jlcralmcnlc. existe en la \'L'cindad del defeclo "'Jaula de .fa'adol

l'jercc inl1uencia en el proceso de dispersin. principalmcnte


ohligando a los tolllOS a ocupar posiciones que no les corres- Fl{a' R\ 15. ES411t'lI1a de UlI lllinmcopio electrnico de b:llTiJo.
pondell. Lo cual. naturalmente, se dehe rL'llejar en el tipo de
I,:onlraslc que apare/ca l'n la imagen 1171. En la Fig. 13 se cs-
quclllati/a la imagcn de M13T de una dislocacin. Los !laces l!L'roS{lSprogramas dc Clllnputo, con aquellas obtenidas en Ull
A y B son lransmitidos, C. O y E son difractados con difc- MET. Esta comparacitln y el conocimiento previo que Icn-
rellll' inll'llsidad. La imagen destaca en la pantalla del MET gamos del malcrial proporcionan el cdigo que permite un
l"Oll1OUll gusanillo hrillante en Ull fondo de intensidad ho~ camino para fonnular juici{lS acerca dc la constituci6n inlcr.
l111lgl;JlCa. na de la malcra. El prol"esamiento de im;gcnes lamhin est;
Pcro, L'll este punto cs dont.!c la maravilla de tener una sicndo l'\plotado para mcjorar 1<1apariencia de las imgenes.
imagell del interior de la materia se convierte en un posihle aunque tamhiL'n para reali/ar l'I l'kulo de algn padmetro
IlI'tlhh.'IIl~1.I~",te est< represcntado por la dilkullad de no rl'- ill\'(llul'I'IL\(l.
l"<1I10l"l'rl'ontra..;tes que correspondan a im<genes con las qUL'
pi IdallHl'i eslahlccer correspondencias illlllcdialas, airo cjclll-
pll,) se \'l' en la Fig. 14, la cual corresponde a una frontera dI..' 5. El microscopio c1cclrnico de harrido
grano Cll UIl cristal en forma de cuna, Su imag.en se V( ..' en
la pantalla COIllO una cuila que penetra una dislrihuci(1l de En este tipo de L'quipo ... SL' ha desarrollado una amplia va-
franj.l'i c1;lra'i y oscuras (franjas dc espcsor). En amhos lados riL'dad de microscopa ... IIUI por electroncs sL'cunt.!arios, re-
de la frontera operan condiciones de difraccin cspecficas trodispersados, Auger. et,,:, En estos equipos puetJe hacerse
(din:imil'as l. an;li",is qumico y. actuallllL'llte l'llL'ntan con dispo\itivos ra.
lIahr:i que considerar un proceso de re-educacin aso~ ra hacer difraccin de ek,,:trollL'S. Aqu sc l'olllL'ntar~ll slo
d:l1iva qUL' 1I0S pL'rmita LTeal"un nuevo archivo mental quc <llgunas caractersticas dL' la", im:genes formadas por electro~
IHI'i i1yude a intcrpretar las fotografas de un MET. 1~"'lecs llL'SSl'clllldario",.
un (',Ilnpo dL' gran actividad, cn el cual la simulacitln de En l'l miL.'ro'icopiockctrtlnicll de harrido un ha/. de elec.
illl:gl'lIL'S IISI est . jugando un papel muy importantc. La lrolles incidc cn ulla 1l1l1L'stragenerando una scrie de inICr;C~
IL;cnil"acOllsistc en comparar im:genes generadas, da POdl'- dOllCS, L'l;stiGI'i c illL'l:'iti(,:as. un producto de estas ltimas

Re,'. Me\". F/\. -l6 (1) (211()O) 91-102


EL ABe DE LA F()1{~lACIC-)NDE IM:\GE:"ES EN UN ~lICl{{)SC()I'I() ELECTl{ON1CO
1111

Haz incidente

Muestra

fll;llI{"\ 16. H,lI. lk clcctrollC<' inJiendo \ohre la supcrficll' de


una I1llle l!"aen el interior de: un mic]"{,C(lpjode harrido.

\un In, \,.'lcl'tmne'" sccundarios, cuyas cllergas son del orden


de :~-.j eV. Esto, e1t:'ctrones son rCl'olectados por un detec-
tor I(; de Everhart-Thornley que COllsta de una caja de Fa-
raday, un tuho de lul., etc., (Fig. 15), cuyas funciones no se
desl.:'ribidn aqu. Los electrones secundarios son conn::rtidos
l'n Ulla diferencia de potencial. cuya magnitud (ampliflcadal
es una medida de la cantidad de partculas dispersadas en ca-
da regin de la muestra. f.k manera que aquellas regiones en (h,
forma dl' protuberancias fa\'orecern valores "altos" de ,'olta.
Flf"'lc\ 17. a) EstnKlUra de ~rllms de un compuc:-.lo (crmico fe-
jc, 1'1ltanto que las depresiones producir,n voltajl's muy Jll'" lTllelrll'iI.'n \inIL',"itado, el C{llll]1l1eslo Pt'r1L'llt'CC a la familia PZT.
qUl'11I'"II;ig. I(l). i\kdiante h)s disp()sitivos e!ectrnicos dl'1 La amplilil'lCIn e :~I(JOX. L'I tamaio de grano c\t; cnlrc 1 y
Illino"'l"opio Sl' lo~r;J que las variaciollcs lit:: volta.ie detecta- 10 IllTl. lP'"P''illll;ldllll(,ll!e. 11) Aqu e llHlC.\lra un cjl'mplo de csltl.
d,l'" se transformen ell puntos hrillantes cn la pantalla lluu- dio de 1llllt'rjale~or!!nro\ plra aplicaciollL':-'en la rieneja mdica
re ...cellll' de Ulllll\lo de rayos catdicos. La modulacill en la Amplillclcin 2. ,t1()X. El i'vlEB e llpcr a:W ~V e:n arnhos casm.
p

inlen.sidad de los PUlltos depcnded dc la magnitud del vol-


taje lktcClado formando claro-oscuH1S que llenan la pantalla.
cacill de la nlilTo ...copa ckctnnica cn la inn:stigaci6n dI.'
Todo l'l conjunto dc puntos tle diferente intensidad e...lo que
hiomatl.'riaks. (~...ta L'Suna fotograra de un hueso de rata. I ,ti
nl\lslituye la imagen de microscopa clectr6nica de harrido.
estrlll.tura 01.' poros de lo ..hucsos cs de suma importancia cn
E ...IO p\lne de manifiesto que en la l\'lEB no existe una relaci6n
tratalll entos regL'nenll ivos.
tra:'l'ctoria de electrones-imagen, como en el caso del ~lET.
rk aqu que la imagen no sea tina "verdadera imagen' sino Ull
lllapa lt lpogr<ilic(l de la superficie, 1.<1lllicroscopa elcctr6nica 6. COlllcntm'ios finalcs
teIlL' un potencial c.\traordinariamente amplio en el campo
tll' la ill\'e ...tigaci6n cil'ntlica, aunque es la microscopa elec- 6,1, La lentl' ohjet\"a. d l'unlln de un mil"roscopio e1l'l'-
lrclllil'a lk harrido la que a la fecha sc ha convertido en una trnil"o cll' Iransmisil)1I
kl.:nica m,b popular que la de transmbi6n y que la 6ptil"a.
Al igual que cn la 6ptica cUsica. C'1lla ptica de electroncs
l:ntre las razonl'S que la haccn til y preferida, se pueden
contar las siguil'lltes, Tienc una gran profundidad de campo, se con ...idera a la k'l1te ohjeti\"a col110 el elemento ms im.
rn;s lli.: lOO veces la de un microscopio ptico. Tiene gran portante del sislellla, esla kntc es cl corazn dc un MET. La
fUllcin de la le!lle objeti\'a e ....;Korlar la uistancia a la cual se
,'ersatilidau cn elmancjo de amplifkaciones (IOX-t 10~'X),
mayor rcsolucin (3-G nm) y la preparacin de mucstras e .. forma la imagen, C0l110esto depende de la longitud focal. en-
tonces Cllanlo IJl,..corta sca sta m;s poderosa scr< la lentc.
rclaliv,ltllcllte rcil. El nivcl de interaccin de los electrolll's
Pero ll1is qUl' nada SL'le considera como una kntc transfor-
incidentes est:i determinado por la energa de los electrones
que chocan y por el tipo de tomo que exista cn la Illuestra. madora, puesto que la podemos imaginar como si fuera una
El hal puclk penetrar cntrc (),m)3-\ mm, depcndiendo del l"(1111pU\adora{ptica capal de gcnerar transformadas de FOll-
voltaje lItiliz;ulo y del nlmero atmico de los tolllOS de la riel' in ...t;l1llnl'tl ....
Illuestra. Dehemos anotar, sin cmhargo, que cstas espcCiliGI- La lellt~ Iransforllladora forma un patrn de difraccin de
ciones ...cran llenadas por un MEB funcionando en ptillla ... frallllhofer. d~ la red espal'ia!. en el plano de la transformada
de Fourier. (l ..ca en el plano fOl"tll posterior. Enseguida las
C<Hldiciones.
I,as Illil'nllo(ografas de la Fig. 17 ilustran el trabaj() que ondas ...c prop;gan y rl'combinan hasta llegar al plano ima-
puede hacerse con l\1E13. La rig:, 17a conticne informaci(n gen.
((rCI de la eslrul'IUra dc grano de un material fcrroc!ctrico En otras pa\;lhra .... la imagen sur~l' de un pnll'eso ue do-
(I'ZT). En tanltl que la Fig. 17h es una ilustraci6n de ti apli- hli.: difracl'i)n. I'odelllos imaginar qlJ~ la onda incident~ e ...

1<1"\: .\1('.\. /.. -l6 (1) I ~(lOIl) l)' -1 ll2


11I2 A. HUANOSTA.TERA

difraL'lada por el ohjeto y la onda difractada resultante es di- no sc pllcdcn dcscanar. Esta posihilidad de he considerarse
fractada. una vez mis. p:)r la lente objetiva. Si la lente ohjeti- sohrc todo cuando se hace trahajo de alta resolucin. en cuyo
V<I 110 estuviera colocada el patrn de difraccin de la muestra caso es posihle teIll'r una imagen semejante para dos arreglos
cri,I;llina aparecera en el plano de la imugen. En esta discu- atmicos cstructuralmente diferentcs.
,in se ha l'onsidcrado que la lente es ideal. Es decir, que se Otro posihle inconveniente radica en las dificultades
[r;11a dc ulla lente sin aherraciones. la cual marca el ohjcto- 10cnica ....que a menudo se descuidan al operar UIl MET. Existe
lIluestra l'l1 una correspondencia punto a punlo en la imagen. un hUCIl mlllcro de parmetros scnsibles a las condiciones del
i\'lET que podrian dilicultar la toma de huenas y, sohre todo.
l..l. La utilidad de la microsl'opa Ch.'l'tn)nic..'a conliablcs fotografas. A linal de cucntas. que exis!a una rc-
lacill univoctl enlre las caracteristkas del material analizado
Un llliCrthCOpio eicL'tnlnico puede usarse en una gran varie-
y la imagell depende del sistema ptico del MET. Han que-
dad dc :ircas dc il1\'CSligacin. hien para conlirmm hiptesis
dado puntos importantes sin mencionar respecto a este tema.
{}para rcali/.ar algn nuevo descuhrimiento. En hiologa pue-
por ejemplo, en el trahajo de microscopa electr()nica puede
den estudiarse tejidos. huesos, morfologa. virus, hacterias.
ocasionarse dao por radiacin a la muestra que se obser-
clulas, protenas. cte. En cicncia de matcrialcs. para idcnti-
va. puesto que los electrones incidentes pueden ionizar y/o
tic;ll"itln dc materiales geol6gicos. uetenninacin de cstructu-
desplazar :tomos del material. y otros Jluntos que requieren
rtl....cri ....
talinas. en materiales compuestos, pclkulas delgadas.
mayor espacio para exponerse. Tampoco se ha hecho una sc-
En lIIateriales cermicos y metales para localil.ar y estudiar
parilcin precisa de la microscopia c1ectr6nica de transmisin
defcctos (l para hacer an;lisis qumico. de alta n:solllcin respccto a la MET convencional. Es conve.
Aunquc la infonnaci6n ohtenida por medio de la micros-
niente que el lector interesado se documcnte respecto a estos
copia clectrnica pudiera no ser suticiente. s cs. con frecuen-
importantes aspeclos.
cia. nCl.'l'saria para cnlendcr la e.-.truclura intcrna de la malc-
ria. e'pcciallllcIlIC crisralina.

Agradecinlicntns
fl.J, Adn'rtl'lH:ias

La posihilidad de equi\'ocaciones a la hora dc estar formulan. El autor agradece las ohservacioncs y comentarios del DI'.
do juicio, cuando sc lrahaia con un microscopio electrnico (1onl.alo Cioll/;lCl. R.eyes.

l. R,I'. FL'ymall, IUJ. Lciglltoll. amI t\1. SallLls. T/c Ferlllall Ll'C- 11. L. Kcimer. "Transmision Elcctroll i\licroscopy", PII.nics of
/lm'l 0/1 I'}nin. Sc(onJ ctlilion. (Adtlison-\Vcslcy. Puhlishing 111/(/~cFomwrioll al/(I Micmclf/aly,\i.L (Springcr-Vcrlag, 1997)
('Il,. l.iSA. 19(6) VoL l. Chap.4.
2. Llkeht ;llld A. Zajac. (J//I//, (Fondo Educativo Il1lcrnmcrica- l:!. G. Tholllas. Tmll,\'/llisioll l:'Iectmn Micrmcol'Y of Ml'tcJls. (Wi-
IllI. S,A. USA. 1977) Cap. 5. ley, Ncw York. 1<)(12).
:1 "An Introducltln 10 Imagin~". III/(/gillg (/l/(llllf(rlllaliofl. (Thc n OH. Williarns amI e Barry Carter. "Translllision Electron Mi-
()ren llni\'crsity. United KlllgtlOIll. I<N2). croscory", A /C'.Hhooklor Ma/aial.\- Scil'fWl'. (1996) Chal'. 9
FS. Clawford. JI'.. '.'Van:s". Ut'rkf,J,\' Phrsic.\' COllrSl'.
11 J.M, CO\~'lcy. Jlig/ Resoll/tio/I TramlJlisioll Uf't"lnm ,Hjcro.'i-
(.\lr(jra\V-lIill Boo'" Company. USA. 196H) Vol. 3- ("{IV\' (//1(1 A.~.\'{/cinlc'd Ti'c!lIliq//('.\". editctl hy I'.K. Buscck. J,~1.
:) .\1. Ikrlhcl');cf. IIrllldhook (JI" Phy.cs. cditcd hy E.U. Cnntlon Cowlcy. and L. Eyring. (t 992) Charo 1.
;1I1d 11 Odish;lw. (i'\'lcGraw-lIil1. USA. 19(7) Chapo 2.
1,.). J.\\'. Edill!lnll, I'metic(/! 1:'1t'('(n)ll ,\ficm.\"('o//y 1/1 Ml//er;als
(j S,l.. Fkjk'r. lW. Ilccman. Jr .. ami K.L. Klomparens. Seall- SC'I/("c. (Van Nostrand Rcinhold. Nc\\' yor\.... 1975).
lIi,,:: l/lid Tnllllllli.of/ IJc'('/nm .\1icm.\co/1l'. (An Introduetion).
IG. LE. :\hm. Ul'C//WI (Jprical A,,11CllriollS 11I Ala(('f"ial.~ Sef1Ct'.
l \\'.1 1, FrCl'lllan alld Company. USA. 199~).
(:\k (iraw.llill Boo\... Compan}'. Nev.' York. 1970).
7 P.B Ilirsch ef al.. /JeCII"OI1 Micm.\C/!I'Y oITltill Crys(als. (S11l-
hCI\\"IHh ..... I_olldon. 19(5) Chap. 4. 17. S. Amclinck\. K. Gcn::rs. and J. Van LanJuyt fl.:Js.).IJ~Umcrioll
11l1Cllmagfllg Ti'c!1I1;ql/('.\' /tI AllIfc'l"Itlfs Se/cm'f'. Sccond cdilion.
;-:. AB. EILllCh amI J.eJ. Elbreh. /JCClrtm !lf'CIIIIS, 1.c'IlSl's. {l/ul
()/lfi(',I. (Acal!cll1il' Prl'ss. 1\'c\',' Ytll~. 1970)
(Norlh-llo11allll Pllhlishin~ eo.. Thc NclllL'rlanJs. 1<)78) Vol. 11.

!) :'\1, [..;r;H:",{llI. '\1, Ohbll~i. anJ t\1. Ullaul./II/I'('/ucrioll rO Ana/y- l.~. A,K. Ikad f'1nI. C(JIII/'ltff'd E!f'c/ml/ Micmgm/,hs (/1/(1 f)efecr
!dnlfi/imrio1/. Edited hy S. AlIlclind;\, R. (Jcwrs. and J. Ni-
/iml/Jf'('lm" lIIicmsco/J.". l'<Iitce! hy J.J. !lrcll. J,!. Goldstcin.
;lId DC J(IY. lPJcnllllJ Prcss. NI.'\\" York. 1979) Charo I~. hOlll. (Nortlt-lIolland puhli ...hin,!.eo .. Thc Ndhcrl .llIds, t971).

lO .1.:\1. <"owky. PUli'(/cllOll I'''y.cs. (N(lrth J10lland Puhlishing. I~I n.E. Nl'whury f'f al .. Adl'(II/("(yl SClIfIl/il/g Uec/nm Micmscopy
('o .. llnll;nd.llJ75), (l/u! X-Na\, '\llcm(///(//I".\"i,\'. tPknull1 Press. Ncw York. 19R6).

R('I'. Mex. F,\, -!fl(I)(20()())91-1()2