CIENCIAS BSICAS APLICADAS

Informe Tcnico Semana 7

REFRACCIN DE LA LUZ

INTEGRANTES:
LVAREZ CAJIGAS Rthner Adalberto
ROJAS SILUP Julio Andr

ELECTRNICA Y AUTOMATIZACIN INDUSTRIAL

C5-1-C
Docente:
Garcs Crdova, Walmer
2016-II
 NDICE:

INTRODUCCIN
I. OBJETIVOS
II. MARCO TERICO
III. MATERIALES Y EQUIPOS
IV. PROCEDIMIENTO EXPERIMENTAL
4.1 DESCRIPCIN DE TAREAS
V. RESULTADOS Y ANLISIS

5.1 Tabla de datos

5.2 Grficas de resultados

VI. CONCLUCIONES
VII. RECOMENDACIONES
BIBLIOGRAFA
 INTRODUCCIN
En el presente informe se dar en conocimiento conceptos de la refraccin de la luz,

y el laboratorio que hicimos. La refraccin de la luz es fenmeno ptico, este fenmeno ha

permitido que en la actualidad se logren grandes innovaciones en la tecnologa y ha

abarcado muchos mbitos, como en la medicina, las pantallas tctiles, radio terapias, etc.

Lo que pasa es que la luz es un tipo de onda electromagntica la cual transporta energa y

tambin masa en forma de corpsculos. En este informe se presentara las nociones del

tema, los procesos que se hace, los resultados que se obtuvo; todo esto en relacin a la

refraccin de la luz.
 I. OBJETIVOS

1.1. Determinar la relacin matemtica entre el ngulo de incidencia y el ngulo de

refraccin de un haz de luz cuando pasa de un medio a otro.

1.2. Evaluar sus resultados medidos y encontrar el ajuste de lnea apropiado.

 II. MARCO TERICO
REFRACCIN DE LA LUZ

2.1 Luz
La luz es una forma de energa que emiten los cuerpos luminosos y que percibimos
mediante el sentido de la vista. La luz es una refraccin que se propaga en formas de ondas,
aunque tambin se propaga en lnea recta en forma de corpsculos.

2.2 Refraccin
Es el cambio de direccin y velocidad que experimenta una onda al pasar de un medio a
otro producindose solo si la onda incide oblicuamente sobre la superficie de separacin de
los dos medios y si estos tienen ndices de refraccin distintos. La refraccin se origina en
el cambio de velocidad de propagacin de la onda sealada.

2.3 La refraccin de la luz:

Es el paso de la luz de un medio transparente el cual sufre un cambio en su direccin
debido a la distinta velocidad de propagacin que tiene la luz en los diferentes medios
materiales.

La refraccin de la luz tiene a su vez distintas variables que influyen en l, los cuales son
los siguientes:
Donde:
n1 : ndice de refraccin del medio uno.

n2 : ndice de refraccin del medio dos.

c : Velocidad de la luz en el vaco.

v 1 : La velocidad de la luz en el medio material uno

V 2 : La velocidad de la luz en el medio material dos

i : ngulo de incidencia

r : ngulo de reflexin

1
r : ngulo de refraccin

a. ngulo de incidencia (r o i ):

Es el ngulo formado por el rayo incidente y la normal que es la recta imaginaria

perpendicular a la superficie de separacin de los dos medios en el punto de
contacto del rayo.
 o r ):
1
b. ngulo de refraccin ( r

Es el ngulo formado por el rayo refractado y la normal.

c. Velocidad de la luz en el vaco (c):

La velocidad de la luz en el vaco es:
300000 km/s

d. Velocidad de la luz en el medio material ( v 1 y V 2 ):

La velocidad de la luz en el medio material depender mucho del grado de desorden

molecular de estas. Las velocidades de la luz en algunos medios son:

MEDIO MATERIAL VELOCIDAD DE LA LUZ(km/s)

Aire 299910

Agua 225564

Etanol 220588

Cuarzo 205479

Vidrio crown 197368

Vidrio flint 186335

Diamante 123967

2.4 ndice de refraccin del medio ( n1 y n2 )

Consiste en la divisin entre la velocidad de la luz (c) y la velocidad de la luz en el medio

(v) .Esta relacin permitir conocer con que rapidez la luz se transporta en un medio y a
partir de l saber la refraccin.
 2.5 Ley de Snell
La ley de Snell es una frmula simple utilizada para calcular el ngulo de refraccin de la
luz al atravesar la superficie de separacin entre dos medios de ndice de refraccin
distinto. El nombre proviene de su descubridor, el matemtico holands Willebrord van
Roijen Snell (1580-1626).

La ley de Snell dice que el producto del ndice de refraccin por el seno del ngulo de
incidencia es constante para cualquier rayo de luz incidiendo sobre la superficie separatriz
de dos medios. Aunque la ley de Snell fue formulada para explicar los fenmenos de
refraccin de la luz se puede aplicar a todo tipo de ondas atravesando una superficie de
separacin entre dos medios en los que la velocidad de propagacin la onda vare.
 III. MATERIALES Y EQUIPOS
III.1 Laser Ray Box

La funcin del rayo lser en el montaje es la de originar, dicho sea de paso, lo rayos
que incidirn el aire o en el acrlico.

III.2 Lente media luna.

La lente de madia luna nos da en otro material que necesitamos para el montaje,
pues al tener como medio 1 al aire necesitamos otro medio para que la luz pueda
refractarse, por consiguiente la luz varia su velocidad en este medio y por lo tanto se
puede indicar que la luz se puede refractar.

III.3 Papel polar

 Esta es una hoja con la cual se midi los ngulos de incidencia y de refraccin con
respecto a la normal. Esta hoja viene con un sistema trigonomtrico que permite
medir los ngulos en el sistema sexagesimal.

III.4 PC de escritorio
La PC del escritorio o computadora cumple la funcin de que almacena la
informacin y procesa los datos utilizando el software Pasco capstone

III.5 Software Pasco Capstone

Es el programa al cual se remota todo el proyecto, siendo este el programa en el que se le
puede graficar, almacenar y darle el ajuste necesario ala grfica.
 IV. PROCEDIMIENTO EXPERIMENTAL
4.1 DESCRIPCIN DE TAREAS

Para realizar la toma de datos en el laboratorio se realiz lo

siguiente:

a) Primero se verific que el Laser Ray Box este en

buenas condiciones.
b) Seguidamente se coloc el papel polar y encima de
l se coloca el acrlico. Se debe recordar que se
realizar el sistema AIRE ACRLICO colocando el
lser al otro lado del acrlico.
c) El acrlico tiene forma media luna, por lo tanto se
colocar cntricamente en el papel
d) Se pasar a enchufar el lser y seguidamente la luz
que desprende ser alineada de tal manera que
pueda coincidir con el ngulo de incidencia (se
comenz con 10, luego 20 y as hasta 80).
e) Luego se observar el ngulo que describe la
refraccin y se tomar apunte. Con el mismo
procedimiento se realizar la tomas de todos los
datos y finalmente se pasar a hacer los clculos
correspondientes.
f) Una vez hecho el primer sistema se pasar a
realizar el sistema ACRLICO AIRE lo cual el
montaje ser al revs estando ahora el lser en el
mismo lado que el acrlico y la toma de medidas
 ser tomada a partir del ngulo de incidencia de
5 ,luego 10 y as hasta 40 .

V. RESULTADOS Y ANLISIS

5.1 Tabla de datos

5.1.1Sistema AIRE- ACRLICO
Los resultados de sistema aire acrlico son los siguientes:

ngulo de incidencia i ()

ngulo de refraccin r ()

ndice de refraccin del aire n 1 =1

ndice de refraccin del acrlico n 2

ngulo de refraccin terico r-teo ()

Seno del ngulo de incidencia sen i

Seno ngulo de refraccin sen r

5.1.2 SISTEMA ACRLICO-AIRE
Los resultados de sistema acrlico aire son los siguientes:

ngulo de incidencia i ()

ngulo de refraccin r ()

ndice de refraccin del acrlico n1

ndice de refraccin del aire n 2 =1

ngulo de refraccin terico r-teo ()

Seno del ngulo de incidencia sen i

Seno del ngulo de refraccin sen r

5.2 GRFICAS DE RESULTADOS
5.2.1 SISTEMA AIRE ACRLICO

a) Grfica ngulo de incidencia i

() vs ngulo de refraccin r ()
b) Grfica Seno del ngulo de
incidencia sen i vs Seno del ngulo de
sen r
refraccin
 5.2.2 SISTEMA ACRLICO- AIRE

a)Grfica ngulo de incidencia i () vs

ngulo de refraccin r ()
 sen i
b)Grfica Seno del ngulo de incidencia
sen r
vs Seno del ngulo de refraccin

VI. CONCLUCIONES