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UNIVERSIDAD AUTONOMA DEL ESTADO DE HIDALGO

LICENCIATURA EN INGENIERA EN GEOLOGA AMBIENTAL


TCNICAS DE ANLISIS INSTRUMENTAL
2do. EXAMEN PARCIAL
Octubre 2016

PREGUNTAS
1. Del siguiente especto de difraccin de rayos X, calcular las
intensidades correspondientes para cada pico y a partir de la frmula
de la ley de Bragg, calcular el espaciamiento d para cada pico de
mayor y de menor intensidad correspondiente

2
3
5

= 2d Sen por lo tanto d = / 2 Sen

No. Picos Angulo Sen d ()


2
1 9.5 4.5 .0828 63 63/ 380.434
(2*.0828) 7
2 19 9.5 .1650 47 47/ 142.424
(2*.1650) 2
3 24.5 12.25 .2121 38 38/ 89.5803
(2*.2121)
4 32 16 .2756 87.5 16/ 158.744
(2*.2756) 5
5 47 23.5 .3987 29 47/ 36.3681
(2*.3987)
6 42 21 .3583 10 10/ 13.9547
(2*.3583)

2. Describe que es lo que esta ocurriendo en la siguiente figura.

Las sustancias cristalinas poseen hileras paralelas de tomos


separadas por una sustancia nica denominada distancia interplanar,
en esta imagen se observa una interferencia constructiva segn la ley
de Bragg, este fenmeno se genera a partir de la incidencias de una
onda de radiacin sobre cada uno de los planos en un sistema
cristalino los cuales segn el ngulo de incidencia generan una
direccin e intensidad de la difraccin respecto a la radiacin.

3. Que es el siguiente elemento, en que equipo se usa y cmo


funciona?
El elmento pudiera ser cobre considerando su capacidad de
conduccin elctrica y ergonoma, se utiliza en un tubo de rayos X, el
cual es un recipiente de vidrio al vaco en el cual se hace circular
corriente a travs de un filamento hasta su incandescencia
denominado ctodo, el cual emite electrones por efecto termoinico.
Los electrones son acelerados haca un nodo mediante una diferencia
de potencial entre nodo y ctodo, el nodo soporta el blanco donde
se producen los rayos X. La gran cantidad de energa trmica generada
cuando el haz de electrones incide sobre el blanco, produce calor.

4. Describe la Tcnica de Microscopa Electrnica de Barrido.


Mnimo pgina.

El Microscopio electrnico de barrido es un anlisis puntual que utiliza


un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una
imagen ampliada de la superficie de un objeto. Es un instrumento que
permite la observacin y caracterizacin superficial de slidos
inorgnicos y orgnicos.

En el microscopio electrnico de barrido es necesario acelerar los


electrones en un campo elctrico, para aprovechar de esta manera su
comportamiento ondulatorio, lo cual se lleva a cabo en la columna del
microscopio. Los electrones acelerados salen del can, y se enfocan
mediante las lentes condensadora y objetiva, cuya funcin es reducir
la imagen del filamento, de manera que incida en la muestra un haz de
electrones lo ms pequeo posible para as tener una mejor resolucin.
Con las bobinas deflectoras se barre este fino haz de electrones sobre
la muestra, punto por punto y lnea por lnea. Cuando el haz incide
sobre la muestra, se producen muchas interacciones entre los
electrones del mismo haz y los tomos de la muestra; puede haber,
por ejemplo, electrones que reboten como las bolas de billar. Por otra
parte, la energa que pierden los electrones al "chocar" contra la
muestra puede hacer que otros electrones salgan despedidos y
producir rayos X, electrones Auger, etc. El ms comn de stos es el
que detecta electrones secundarios, y es con el que se hacen la
mayora de las imgenes de microscopios de barrido.

La preparacin de las muestras es relativamente sencilla las


principales caractersticas son: muestra slida, conductora. Caso
contrario, la muestra es recubierta con una capa de carbn o una capa
delgada de un metal como el oro para darle propiedades conductoras a
la muestra. De lo contrario, las muestras no conductoras se trabajan
en bajo vaco.
5. Que representa la siguiente figura. Explica ampliamente.

Esta imagen representa el fenomeno creado por un microscopio


electronico de barrido al incidir un haz de electrones sobre un sistema
cristalino, al colisionar los electrones producen varios fenmenos, los
representados en la imagen son :

Electrones secundarios: La propia muestra emite electrones


secundarios debido a la colisin con el haz incidente para generar
imgenes tridimensionales de alta resolucin, la energa de estos
electrones es muy baja, inferior a 50 eV, por lo que los electrones
secundarios provienen de los primeros nanmetros de la superficie.

Electrones retrodispersados: Algunos electrones primarios son


reflejados o retrodispersados tras interactuar con los tomos de la
muestra. La intensidad de emisin de estos electrones est
directamente relacionada con el nmero atmico medio de los tomos
de la muestra, as los tomos ms pesados producen mayor cantidad
de electrones retrodispersados, permitiendo la obtencin de imgenes
planas de composicin y topografa de la superficie BEI (Backscattered
Electron Image).

Absorcin de electrones: La muestra absorbe electrones en funcin


del espesor y la composicin; esto produce la diferencia de contraste
en la imagen.

Emisin de rayos X: Cuando los electrones de niveles internos son


expulsados por la interaccin de los electrones primarios, habr
transiciones entre los niveles de energa con emisin de rayos X, esta
energa y longitud de onda estn relacionadas con la composicin
elemental del espcimen, permitiendo realizar anlisis qumicos
mediante espectroscopa por dispersin de energa y de longitud de
onda (EDS y WDS).

Emisin de electrones Auger: Cuando un electrn es expulsado de


un tomo, otro electrn ms externo puede saltar hacia el interior para
llenar esta vacancia resultando en un exceso de energa. Esta energa
extra puede ser liberada emitiendo un nuevo electrn de la capa ms
externa (electrn Auger). Son utilizados para obtener informacin
sobre la composicin de pequesimas partes de la superficie de la
muestra.
Todas estas seales estn relacionadas entre s y dependen en gran
medida de la topografa, el nmero atmico y el estado qumico de la
muestra; por lo tanto, un MEB suministra informacin morfolgica,
topogrfica y composicional de las superficies de las muestras.