CURSO

Metrologia

Objetivos Gerais
No final da ao de formao o participante capaz de:
Compreender a principal terminologia utilizada no vocabulrio internacional de Metrologia (VIM);
Gerir de forma eficaz o equipamento de monitorizao e medio (EMM);
Analisar certificados de calibrao com uma metodologia correta;
Calcular a Incerteza na Calibrao de Instrumentos de Medio ou em Ensaios.

Destinatrios
Diretores, Responsveis Tcnicos e Tcnicos, com responsabilidades ao nvel da gesto do sistema metrolgico.

Condies de acesso
N.A.

Contedo Programtico
1. SI Sistema Internacional de Unidades
2. Vocabulrio Internacional de Metrologia (VIM:IPQ):
2.1. Principal terminologia utilizada no mbito da metrologia (calibrao, rastreabilidade, erro, exatido, incerteza)
3. Gesto de EMM (Equipamento de Monitorizao e Medio):
3.1. Critrios de aceitao
3.2. Equipamento sujeito a calibrao
3.3. Anlise de certificados de calibrao
3.4. Confirmao Metrolgica (ISO 10012)
3.5. Clculo da Periodicidade de Calibrao (OIML D10)
4. Clculo de Incertezas
4.1. Identificao e Quantificao das Fontes de Incerteza
4.2. Combinao das fontes de Incerteza de acordo com o Documento EA-4/02
4.3. Apresentao do resultado

Durao: 14 horas

Horrio: 9:30 s 13:00 e 14:00 s 17:30

Metrologia
 INSCRIO

Valor da Inscrio: 275

Descontos: 5% para 2 inscries da mesma organizao, 10% para 3 ou mais inscries da mesma organizao.
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