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Sesin 3. El microscopio.

Julio Esteban Rodrguez Martn


Jonathan Gilbert Machado Rodrguez

A lo largo de esta prctica se ha medido el aumento lateral de uno de los objetivos de un microscopio. Por otro
lado se ha obtenido su apertura numrica y su poder resolutivo con buenos resultados. Finalmente se ha estudiado
el ndice de refraccin de una lmina planoparalela, sin embargo, se ha tenido que descartar la validez de este
resultado por inconsistencias experimentales.

1 Resultados
1.1 Medida del aumento del objetivo

A continuacin se presentan los resultados obtenidos para la posicin inicial del trazo del retculo del ocular mi-
cromtrico (P1) (dado por el tornillo micromtrico del mismo), la posicin nal (P2), el tamao de la imagen
intermedia (y'), calculada como la diferencia entre ambas posiciones, y el aumeno lateral ( 0 ). El tamao del objeto
fue en todo momento fue de 0,3 mm, al tomar siempre tres divisiones del micrmetro (consideradas sin error, tal y
como indica el guin).

P10.005 (mm) P20.005 (mm) y (mm) y'0.01 (mm) 0 0.03


0,475 3,825 0,3 -3,350 -11,17
0,185 3,605 0,3 -3,420 -11,40
0,140 3,720 0,3 -3,580 -11,93
0,350 3,715 0,3 -3,365 -11,22
0,480 3,855 0,3 -3,375 -11,25
0,220 3,605 0,3 -3,385 -11,28
Cuadro 1: Datos para la obtencin del aumento lateral del objetivo del microscopio.

Haciendo su media, el valor obtenido para el aumento lateral es:


0 = 11, 38 0, 03

1.2 Apertura numrica y poder resolutivo

Se midi la posicin de O, de A (vase Figura 1 para la notacin), obtenindose a partir de estas el espesor d = OA
de la lmina planoparalela, que en nuestro caso era un portaobjetos. Adems se obtuvo el nmero de divisiones
(N ) de la escala del micrmetro delimitadas por los rayos marginales del haz central, siendo m la mitad de la
distancia asociada a dichas divisiones en el micrmetro, con lo que se ha podido obtener la apertura numrica A.N.
(considerando el ndice de refraccin del aire como 1), y el poder resolutivo r del microscopio para la longitud de
onda central del espectro visible = 555 nm. Llamaremos al ngulo que forma el rayo marginal del haz central
respecto del eje ptico.

1
Figura 1: Esquema para la medida de la apertura numrica. (Imagen extrada del guin de sta prctica.)

A continuacin se exponen los resultados:

O 0, 0025 (mm) A 0, 0025 (mm) d 0, 005 (mm) N 1 m 0, 05 (mm) 0, 04 (rad) A.N. 0, 04 r 0, 00012 (mm)
0,1475 1,1775 1,030 7 0,35 0,33 0,32 0,00104

Cuadro 2: Datos para la obtencin del aumento lateral del objetivo del microscopio.

1.3 ndice de refraccin de una lmina planoparalela

Se midi la posicin O y O0 (vase Figura 1), para obtener la traslacin de los rayos causada por la lmina, s0 , y
partiendo del espesor medido en el apartado anterior, se obtuvo el ndice de refraccin del vidrio de la lmina, n.

O 0, 0025 (mm) O0 0, 0025 (mm) s0 0, 005 (mm) d 0, 005 (mm) n 0, 009


0,0250 0,2675 0,2425 1,030 1,308
Cuadro 3: Datos para la obtencin del ndice de refraccin del vidrio de la lmina.

2 Discusin
2.1 Medida del aumento del objetivo

El resultado obtenido para este caso puede resultar en cierto modo sorprendente, pues no es lo que uno esperara
obtener como el aumento lateral del objetivo de un microscopio comercial, sino que esperar probablemente un
valor ms prximo a 10 por ejemplo. Sin embargo, tras haber tomado varias medidas, la dispersin de las mismas
es pequea, luego lo nico que cabe esperar es que efectivamente ese sea el valor del aumento lateral.

2.2 Apertura numrica y poder resolutivo

El poder resolutivo obtenido coincide con el esperado, segn se coment en el laboratorio del orden de una micra,
por lo que se puede tomar este resultado como bueno. El error asociado es considerable, pero eso es debido a que el
nmero de divisiones del micrmetro delimitadas por los rayos marginales del haz central llevan asociado un error
de una divisin, que frente a siete divisiones observadas es bastante grande.

2
2.3 ndice de refraccin de una lmina planoparalela

Dado que en el guin de la prctica se indica que los valores normales del ndice de refraccin de los vidrios
pticos estn entre 1,4 y 2,0, todo parece indicar que se ha debido de cometer algn error en el proceso de medida,
seguramente al medir la traslacin de los rayos por la lmina o al medir su espesor, afectando al resultado. Por
lo tanto, debemos descartar este resultado como vlido, hacindose necesario repetir el proceso de medida, para
obtener un nuevo resultado.

3 Conclusiones
4 Clculos y errores
Notas previas:
Para la obtencin del error de medidas indirectas, F = F (x1 , ..., xn ), se ha empleado la expresin:
s 2  2
F F
F = (x1 )2 + ... + (xn )2
x1 xn

Se expresarn ls frmulas de error directamente, omitiendo los procesos de derivacin y simplicacin.


El criterio de redondeo para los errores empleado a la hora de expresar los resultados es el siguiente: Si la
primera cifra signicativa es un 1, un 2 seguido de una cifra menor que 5, se toman dos cifras signicativas;
si no, se toma una sla cifra signicativa redondeando convenientemente en funcin de la cifra siguiente. Una
vez determinado el error, es ste el que determina el criterio de redondeo del resultado al que acompaa, de
manera que la posicin de la ltima cifra signicativa de ambos, tras redondear, sea la misma.
A continuacin se expresan las frmulas de error para cada una de las medidas indirectas obtenidas. Los
valores de dichas medidas aparecen directamente en el apartado de resultados, ya redondeados.

4.1 Aumento lateral

y0 = P 2 P 1

Tal y como se indica en el guin, por ser distancias medidas en el banco calibrado, el error asociado a y' es el
doble del error instrumental del ocular micromtrico
y0
0 =
y
Donde se tomo y=0.3mm para todos los casos. Tal y como se indica en el guin, al no haber error dado por el
fabricante, este valor se considera sin error. As el error en 0 es
s
0 2 4y 0
4 0 = ( ) (4y 0 )2 = = 0.007
y 0 y

Al tratarse de seis medidas, el error asociado al valor nal del aumento angular ser el mximo entre la dispersion
artida por seis y el error calculado anteriormente. En este caso D6 = 3.5803.350
6 = 0.038333 0.04 claramene mayor
que 0.007, por lo que ser en error asociado.

4.2 Apertura numrica y poder resolutivo

Usando que
m
= arctan( )
d

3
Su error ser
s
m
r 1
2 d d 2
4 = ( ) (4m)2 + ( )2 (4d)2 = ( )2 (4m)2 + ( 2
m 2 ) (4d)
2
m d 1 + (m
d )2 1 + ( d )

Para la apertura numrica:


A.N. = n sen()
p
4(A.N.) = sen()2 (4n)2 + (n cos())2 (4)2
donde n es el ndice del espacio objeto, en nuestro caso se ha considerado n = 1, sin error asociado.
Sabiendo que el poder resolutivo viene dado como :
0.61
r=
nsen()

Su error ser
r s
r 0.61 0.61 2 0.61cos() 2
4r = ( )2 (4)2 + ( )2 (4n)2 + ( )2 (4)2 = ( )2 (4)2 + ( 2 ) (4n)2 + ( ) (4)2
n nsen() n sen() nsen2 ()

En nuestro caso el error asignado a = 555 nm y a n = 1 es nulo.

4.3 ndice de refraccin de una lmina planoparalela

Es posible calcularlo mediante la expresin:


d
n=
d s0
Su error se calcular como
r s
n 2 n d s0
4n = ( 0
) (4s0 )2 + ( )2 (4d)2 = ( )2 (4s0 )2 + ( )2 (4d)2
s d (d s0 )2 (d s0 )2