Norma IRAM 15 Planes de muestreo pat especiales de su aplicacion inspeccién por atributos aspectos Introduccién El presente trabajo persue el bjetive de abordsr slgunos aspectes de los planes. para fa fundamentales para la obtencién de un mayer pleo,dandose por entendio que el lector conoce los principios tric de os panes estadisticos de muestreo y el uso de la norma IRAM 15 para 1g ecepcion por aribuos, Significado del AQL Nivel de Calidad Aceptable ds cada plan, que pueden eer consuitadas en la Norma lel mis. 1, vemos que, trabsjando con ese plan de muesto en ls [No obstants, el usuario del plan debe tener en cuenta que loles 5% detectuoses, serén ‘sceptados 50 veces de cada 100 y que lotes 10.5% defectuoses serén aceptados 10 veces co ‘cada 100. Por elo, debe prestarse atoncién especial 2 estos riesgos eno! uso aislado de los sNorma IRAM 15 nos muesir que. para el mismo AQL, pueden ser apcados distntes planes de ruestreo, Valores preferidos del AQL ‘crrespondon a una serie normal cuya razén ee la vale quinia de Los AGL comprendios enre 0,010 y 10 pueden ser usados en base al porcentaje defectuoso 0 ‘como defecios en 100 unidades. Los AGL mayores se usarén sélo como cafecies en 100 unidades, Si para un dado producto se establece un AQL aferente a os Indicados, os planes de muesteo no pueden ser usados. ‘aparece como muy justfeable, dado que ‘decuade, Los valores muy altos, 100 y superiores, no son usados muy frecuentements. Ellos implican Considerar salisfacoro a un produto en el que cada unidad puede tener uno o mas derectos, Por supustto, esos defectos serdn de menor importancia y se ralard de unidades compleias, ‘como sar un vehioulo completo, Como elegir el AGL fen cuenta el uso que fen a! producto y las consecuencias que puode ser tolerable en productos de gran sere, respuesta calsfaciona aia fjacion del AQL.ue debe usarse siempre lal especial $1, se produce la educcia del tama de la muestra para el mismo lePor ejemplo, para un lote de 10.000 unidades, los tamatios de muestra para un plan simple son los siguientes: ebie Nivel denspeceion ESPECIALES —GENERALES 5 jibe para T0000 nidados. 160 en cuenta que la relacién normal esté dada por el Nivel Il, vemos que para el Nivel Iy eles especiales, la recuceién de! lamano de la muestra es coneiderabe, Esta recuosion ‘un aumento considerable de los reages de aceparlotes con porcentsjes defectuosos mas elevades que el AQL. uso de ls niveles especiales requiare del conocimiento y aceptacién de los mayores resgos ue allo involura Er nivel de inspeccién debe fYarse teniendo en cuenta cules el poroentale detectuoso para el ‘ual se desea toner una elevada chance de rechazo, en el caso que lles con esa calidad sean ue establocen las curva caractersicas pare cada letra clave nos: 5 letras Aa J no curplen esta condcion.La letra K esta muy 194% dafectunso tiene una Pa, = 25% (Tabla X-2.). ESO ef Inspeccién Normal, Estricta y Simplificada El ulo 4:3 de la Norma establoce fos crteros para el cambio del sistema de inepeceiin, en funcién de los resuitados de los sucestios loles el mismo producto, reckidos de un la proteccién del clenie y estableoe un incentive ecandimioa para el fabricante, que se ve forzado a mejorar su proceso 81 no desea que cael todos Ins lates le sean rechazades, con el peuico que elo sigaies,tran pate de la proteccion de estos planes Defectos y Defectuosos Es posible usar los planes en base al nimero de unidades defectuosae (AOL fado como un Portentaje defectueeo, o en base al ndmara de defectas (AOL establecido como defectes por {i ingpeceidn en base al porcenaje defectuoso aeume que si una unidad es defectuosa, et humero de defects no bane mportancl, {La unidad @s mala con un defecto, con dos @ con mas detectos y no coresponde hacer lstncén alguna, G paricién de uno no trae aparejada la aparcén de oo. Silos defecios no son indopensientes, es deci, existe correlacin entre ellos, el asunto debe ser {enido en cuenta en la inspeccién por defects, dado que una causa proveca los dos defectos correlacionados Dresencia de un defecto que no reduce a Ulidag al producto y sbi le quia valor comercial.La Norma define tres caracterisicas de defects. Pe ‘rabslar con doe de ellos: defectos mayores y ‘erteos, el problema requiore su coneideracan por separado, Cuando es necesario, las dos categorias mencionadas en primer lugar oueden abrise en sub- ayoria de fos c3s08 68 suriente fenores. Respecio a los defectos Cconsecuercia mayor rigurosided de la nocesarla y las conseouentes difeulades on la produccion, Pr supuoso, a cada categoria de detectos se le asgnard un AQL diferente: el mas esto para los defecios mis importantes y Ja recepeien del producto Defectos criticos ‘Se trata de una categoria especial da defactes. No olidemos que los defecios ertices son luelv0s, la solucion que debe adoptarse os la inspeccién 100%, ws decir, de todas las unidades dal lote. Pero atencion, en este caso la inspeccién 100% fo es la selection de buenos y melos, sino aue un solo defecto que aparezca provocaré detencién de la produccién hasta soluconar el problema Eni précice es un plan de muestieo donde el tamano de Donde: defoctuoso que se desea delectar,s ests presente. El factor F depende del riesgo de no encontrar un defectuoso en la muestra, segin Ia tabla siguiants:Riesgo Factor resto 230.28 en 100 46052 ‘ven 1000 coors ten t0000 92.08 ‘en 300000 0 + en 1000000 6 Ejemplo: Para cierto producto es necesara la inspeccién de defectos critcos mediante ensayos estrucvos. Se resueive que tel ate contiene, como maximo el 2% defectuose, el rieego do no ‘encontrar un dafectuosa en la muestra no dabe eer mayor ce 1 n 10,000, Luegor n= 921,04 /2 = 460,52 Elplan de muestreo a apicar ser n=461 70 dele muss) A= 0 (nimero de aceptacién) R= 1 (numero de rechazo) La inspeccién inaiza cuando aparece un defectuoso en la muestra, ‘Cémo especificar el uso do los planes de la Norma RAM 15 El uso de fos planes de ls Norma IRAM 15 en ‘ser establonio en forma adecuada, para preci ‘de inspeccién, para todo el producto o para cada grupo de defects, ct de os planes deseados. © especticard el uso de inspeccién esticia@ partiry UE (ED g inawtis Dieiembre de 1979 * cou saat INSPECCION POR ATRIBUTOS Planes de muestra unica, doble y multiple, con rechazo on su mismo titulo y INSTITUTO ARGENTINO coPaNT szv-tora. memeneane DE RACIONALIZACION DE MATERIALES de las ediciones de abil deNorma Panamericana COPANT 227 Abel ge 1972 perme Panamericene COPANT 27 Atri ge 1972 | ‘son rechazo DICE GENERA 1 Letra clave del Planes de mu Planes de Curvas del tamato medio de las mucsiras ETRAS CLAVE Curvas y planes de misstras : EID 80 wapuzErxcrammooa>Norma Panamericana COPANT. 27, Abell de 1972 fy pratabilidad de ace, yimenor para muestras menores, 2. 3 Los planes establecidos on horma panamericana son Indicados, prin cipatmente para la recapelin co jade de later de mere: 2,4 Cuando se los emples en | Blan que beinde Ia peotecci6n dewesdr (ver ‘de-emplear el 2.5 Los niveles ce cana corresponden 9 hdmeros normals, Por AGL distintos, fstos planes no pueden ser usadas, tania de 3 DEFINICIONES 1a poreién de poso a volumen especificado, que fl enso de mat Unidades pueden ser cambiod Ses ffaices de sen considerada una unided a tamafo de | para el materiNorma panamesieana COPANT. 327 Abeii ge 1972 3.2. Muestra, E's un grupo de unidades extrafdas de un lote, que sirve pe Fa obtener fa Informacion neces: imiento de Inspeccién que con 2 que se recite, para determi fasificar simp on nimero de defectos de cada peceian de los lates cuando se rec! be desconoce ono a litne un conve! teria! 3.9 Inspecclén simplificada, Es el procedimiento de inspecein que puede auopinree para un proveedon 3. 10 Inspeccién estricte, Es el procedimiento de inspacclén que debe adop, tarse para un peoveedor determi 3.11 Plan de muestreo Ge recepeién que consiste serecibe y, sobre ia base clén'o rechazo,cH Norma panamenicana COPANT 227 Abeil de 1972 3, 13 Plan de , "sobre Ia base de los datos acumuladas de inspec Yodefectuonss, proceder a a) acenlaclin o rechacon ‘segunas Gefecto que puede ‘el narmal desempeso Se uns funelbn importante de un products ‘depende la seguridad jertinaaa 9 que produce w "5, con pequetio efecto reductor sobre #! fUn~ lent de fa Unidad, 3:18 Unidad detectuosa, Es ta unidad que thene una @ mas defectos. 3.19 Unidas def ibe erfitcos, Pu sa crftlea, Es 1a unidad que contieneuno 9 mas defece ‘contener defectos mayores y menores, 3,20 Unidad datectuosa mayor. Es ta unidad que contlane une o mis defec- mayores, Puede contonor defector menores pera no contiene dafectos 3.21 Unidad defectuosa menor, Es la unidad que contiene uno o més defes, tos menores, No contiene efectos eriticos ni mayores. fades insnecofona— dos, ol rest lear por 100 a) Is cantigac de uni, dades detectuosas y dicna cantidad de unidades inspeccionadas.— a7 Alsi de 1972 |AQL). Eel miximo porcentje ct ‘eteetes en TOO unidades, que debe uestreo dé por estado la 3.28 Nivel do inspeccidn, Es et nimera que identlics la rlacibn entre ie la muestra 329 ra lave de tmatio de a muestra, Es, lox efector de esta norma panemeicans ae tama de as muestra en func Ge los tamatos de lates para los Deccion, Ung otra clave identifies un tarato de muss 3.30 Numero de aeeptacon. €s, a los electos de ests norma penarericana el nimara que expresa fa ‘mayor canted de unidades defetuossso de defects, admitida ene pon de muesteo adoptado, par la aoeptacién de ote; para un ive aesptable de calidad dete 4 INSPECCION v RECEPCION 41 PLAN DE IMUESTRED. EI plon de muesteo roqverido srt earacterizado por el nivel de ealided ceptable (AGL) estabircia y la ata elave dl tamaha dela mesa Iver 5) © par subgrunor dentio de dicho grupo. 44.11 Los ADL manors 0 igusles a 10 26 expresirin en parcensie defectuoso o en del 100 undoces,segin corespanda. Los AOL mayors do 10 se expretarin en cfactos en 100, 4.12 Nive de inepecsin,oe Norms pansraicans COPANT 221 Abi $e 1072 4.1.2.2 La raacion normal ante otto de fa muestra y va lf que serdergleado en todos os cates condo no 44.2. Elnivel 1 cuando sa exe una mencr disc se fqulera una mayor dierimincion bn 6 nv se used cuando Los niveles especies 5:1, $2, §-3 y 84 s ompleardn dnicamente cuando san neceatos tam: fos de muestra rolativarnent pequers y pueden cabon NOTA: Cuando se emploan los ivele de ingpeccin Sta leo denivels de calidad acetabla (AQ! que no sson contra 4414 Obtencién dt plan de muestre, 43.4.1 En funcign del tomato del Inia eta clave del tamaio ¥ dl nivel de inspecciénestbleido, se determina, en fa tabla 4.1.4.2 En funcién del AGL expecitcado y det» ve del tamafo do Ia muestra, se determina tablae -Tespectivarante el plan de muerte ae 4.1.43 Cuando pare una combinacidn determinada de AQL y clave no exits un pan de mes: {10 8 obtendrd de a abt fe munsteo a rar con un amas de muesteciterente,€ ue 4.1.44 5%, debido a ete proce amas de muestra pars ditintos bert empiears alta clave carespondient al mayor tamaso Ipod efecto one! mismo i Baa todos os grunos de wafctos 4.14.5 Como alternative para los planes de muestra simple con nimaro de aceptacién 0, pode em: lear al plan inmediato para el mismo AL, con niimara de acoptacion | y waves tame oe ec, 42 muesta€o, 4.2.1 Lote El producto sa presentart»inspecsin on ote ident stablecido en 33, dos qu tatistagan el concepto 4.2.2 Obrencién dels musta.Norma panamericana COPANT 327 Abell de 1972 rrr ito 1972 4, 2.2.1 Las muestras se obtendeén emaleande sistemas adecuados de ox Waccién ce mugsiras al azar, quo aegunen la repeesentativldad del love on consideracl 4, 2. 2,2 Las muesiras so podrin extraer del total del lote 0, durante el proceso de fabricacién, de laa unidaces que lo forman, 4. 2. 2,3 Cuando se empleen sistemas dobles o mi Cha! de ing moesinas ae obtendea 4, 3 INSPECCIGN NORMAL, Inspecciéa normal, Al comenzar Ia inspeccién para un material de miniade #6 Us NSpeccién normal, 1a que proseguiracon los suce= inspeceién normal sepodra paser » Inspeccién sagan las siguientes condiciones: fos presentados a Inepacclén han sido sceptados; se rechaza ) 50 acepta un lote como consecuencia de la aplicacién de los pérra fost. 8.1 y 44,8 2 €) la preduecién se 4, 3,3 Inspeceién estricta a inspecelén normal se proceda al recha vos, se imalantara la inepecclén estrie: = lotes de cineo conser Indo cinco lotes consecutivesy . 3 Si 10 lotes consecutivos permanecen en inspeccién es ‘ramping la inspeccién del producto, haste tanto se 3 mejorar su ealldac, selp modNowa panamericane COPANT 327 Abi do 1972 5,4 PRESENTAGION AEITERADA DE LOTES dss as deectuosas a corigéndose lor defector, inspsceibn ea or sobre todas is eaetore 55 ELECCION DEL SISTEMA DE MUESTREO, 5.6.2 Las euros para nivel de clad ace Poisson y son apie 5.3 Las curves para Oo inferires a BO estén Je delectuoso Flor 0 estin Bada ribsen de 100 unidades o cel porcentajeaetectoro, 54.1 Los lotesrechazadospodén sr presntados nuevaments a inepeccién,debidamente identifcados como tals, despues de que tods as uric Rayan sido nuevamantsinseccionedos, 54.2 En este caso, el compradorcetarminaré el vio de una inapesciin normal o estita y planes de muestra nea com nimero de septation 1 5.64 Lascurvs pra niveles de calidd aceptable i 380 Unicamente sobre ls que originaronNorma porameviana COPANT 2 Abril de 1972 55 Para cade cura, a can los valores de ls probabil ‘ion con Inspecion normaly ertrct, vd de aceptacién Pa (Of) on corel: 57 CURVAS DE TAMARO MEDIO DE LAS MUESTRAS. Ls curva dl tame mado les, indian los tumafios promedias lat muestas dads en fa tabla are ls tomes dob nuestra que se pueden presenta en funcin dela ida de 151.2 Estas curves estin basaas an a cistibucin da Poisson yen que los traos del muesres on fos Hntomae proporcione una proteecion adecusda conta la cantided de deeetucron, ion de lots con ‘98.2 Estos planes puedan solecionarse en baz a a calidad coneumidor. (LO) y el eoerspondientecesgo del 10/0 y 5 0/020 estalecen 5.8.4 Pars ovos valores de riesgo dol consumidor, pueden empleara as curvasy ss valores tabulados ara determiner ia eorespondiants calidad 5.8. La calidad limite puode ser empleada también para el establecimiento del AQL y e nivel de ine peesisn, cuando se etableo un maxima de fects 0 defectuosos pare Gl ‘lon en cusiguier lots de una serie a inspecciona. 6. aPeNDICE 8.1, Esta Recomendacin tine como base la norma militar MIL: SIT - 105 D Sampling Procedures and Tables for Inspaction by Atributes, publicada por el Departamento de Defensa de los Estados Unidos de ‘América, Los tables y ais, como as también el procedimientoy concepto generals reproduce sin iaciones, no as as. deinciones ye texto que han sido maifcados,aa ‘TABLA | ~ LETRA CLAVE DEL TAMANO DE LA MUESTRA 2 0 280 1200‘waon TABLA V ~ A FACTO! INSPECCISN NORMAL (MUESTREO SIMPLE) PARA EL LiMITE DEL PROMEDIO DE LA CALIDAD DE SALIDA PARA 5 fre [aefoorlacasfaoaooay one on] ars] oaefoms] so [re] asf] ~| w] = ]@ Ju Jw]mo]m al woes e] 2 pe se] | os] 20] a fo foe |ri0| ro] a0 r |» By s2foo}or| se] 2] afar [oo s| = a sslorfos]ul ala [ow n |e a wafer] ae | ea] oo] ra] ia] a u| = oe Jss|oar [xa | 22] aa] a [a w | ae a oar] ova oge| 00 4 | 22 | a0 | ar © | ae ns Jas|atr)oae| geo] ea] ae | 2 | 0 | 120 loa foer]o11|o1s} 225] oe] ona on | a | 2potspon|ays|oz2|e2afowfar| |a oxoiuusa Soov TAGLA V-8 ~ FACTO’ PARA EL LIMITE DEL PROMEDIO DE LA INSPECCION ESTRICTA IMUESTRED SIMPLE) CALIDAD DE SALIDA PARA Ca Fe Tiara ata wie 4 om Jone souhorfisshooon[aro]oo[es[an]om [ale] |e] [= [=] =] Tw] mlos]a]aopad = 3 a ga fin fas f 20) ao] or | as | 0 | 200 | oa ua fro] na] aa [oe foe fre «| om a jon fur foe] ae] on [oa lan cm ose 92|ge fos | tw | ne | ao [or | ae 2 om] satfase le |e] 30 a0 + | oe Jom fa |e oan oe | vw a | zo] pen! | faoufan for) ozs arson oseoo Isosonso3430101 TABLA VI ~ A - CALIDAD LIMITE (EN *S DE ELEMENTOS DEFECTUOSOS PARA LA QUE Pg © 10 POR CIENTO [PARA INSPECCIGN NORMAL, MUESTREO SIMPLE we Torte Nie aia septate =| nae | oom | once] com [oom Paom Jan] av] os|.a fam] wo [= [a] | a |» o| 2 se a fw [mo fm a} Lo | ae ashe fafa fw] oo |» «| ns ws ar faa | sa foe | oe fe | ow | 0 2 ar faa | as se | or fo | oe | ae on 2 ar [as] ar [ae | oe | oe «| ow ove a la ae] ar | ao | 50 + | ow on ow op | na we] oas [as | 0 | ow eat | a one | ae wl os am | or | om | oes | ase | or10 PPR CIENTO (PARA INSPECCION NORMAL 'UESTREO SIMPLE) oo ens [acrefomrooer ou] oass]a,o] ove] oas aro] ons] ve] vs] a5] sola To [@ [= [>] [om] wo] 0] mx] wo] om ° 2a sa [ar] cafe fe | w fo | va . 31] a3] sa] aa] anf | ve 20 200 2 ae | 22) a3] 4s] 50] 22/0 | a ans ta {sr [an] 2a | a7] 49] @) 90 mo nel oral vs [aa [oa] a4] ar] 9] ae om | | azs| 48 foer] ose] 12 | ss] 12 | 25] 36| rao | os | 043 Joss} 974] op4| 2] 10 | 2a] 2000 ‘20 o21| 933) 040] 00] 077 | 10] 4 5 (so1n2a3a) 01wos TABLA VIIA — CALIDAD LIMITE (EN % DE ELEMENTOS DEFECTUOSOS! PARA LA QUE Py =5 POR GIENTO [PARA INSPECCIGN NORMAL MUESTREO SIMPLE) Isosonsoaa3a) 04 vo] aes | one [acm [aces | aw [ow [om] oo] os] [um [a] us as[ so] oz fae fn | 1s ra | a2] a9 | sa | oe | ae | ons s [mw |as] aa] ae [se | ro} 96 oso ow [oa [oe [ar] ae [oe ot %2 os | om | of va | ve ar | ar one axe fos | om fom oy || ue | ae axe | ose fom | oss | one | om] oy | asee (souaasaai 07 TABLA VII — Py =5 POR CIENTO (PARA INSPECCIGN NORMAL, MUESTAEG SIMPLE) — CALIDAD LIMITE [EN OEFECTOS POR CIEN UNIDADES PARA LA QUE ‘| monan | aaron oneeooeaaee ol on Lele] fee] = [x [=] =] om [9] m0 [oo] a] om w]e oa os) va [oe | as| oe fae] ae] ot «| 2 ae] aal | | | s zal az] asl sal oe] wa) | wf ow oa rs |20] 8] a9] aa] sal 20] 9 a | se os0| asf ra |r| ar] asl aa aa] | ao] fay e4| 070] 097] sa | se] 24} 2a} al | 0 | oz om |oso| ora] oat] sa | 1a sal 2 5 | a0 24] 032] 20] 033] 66] 085) 11 | uaaun -3uaKON TABLA Vill ~ NUMEROS LIMITE PARA INSPECCION SIMPLIFICADA ae eee: eoafonea]are fos] ozs Joao] acs] so ]as]as [soles |] ]™ [© [a |] wo]a0] a [aolioo | wore] - [od] a of of 2{ «| 2] mf af an | ors foes | Sa nae eco snr hs apr ns # Ig aae TABLA IX ~ CURVAS DEL TAMANO MEDIO OE LAS MUESTAAS DOBLE Y MULTIPLE INSPECCION NORMAL Y ESTAICTA) Mo} LF > “>CASE A LE SAS mae TABLA XA — LETRA CLAVE A EEESEGET crArico a — CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES OF MUESTREO SIMPLE Eat Acero (Las cones para maestreo doble y mille con equivalents 3s) 00 TABLA X/A1 VALORES TAGULADOS OF LAS CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES De wuestaeo Simms " s See |= S< @ [<[ a oy mcecorst cnn FT mT sone [a [as [ os [mee [ace [0 [eto [vo [see [oe [as [as [ae [ore [on see [ee [ese] me gee [aay [ota nein [ease [pee Doe [ane [a se [as won [ee [aie [ae [ae [ee [te Da [er To [aes Jao oes wa [ea tae os [ane | me [os fre | ee Ine oe [es [oe [ar sao oy foe [a [oe [oe Pe a [0 cee [ee | wei [0 3 ara | os te [Pa [a vat [ee | er rose [i a rae [ot [es [ota a0 [a wer fee [er [ee [asf [am ele le tele ve mo [>< [= aaaa TABLA X.C-2 ~ PLANES DE MUESTREO PARA LA LETRA CLAVE ¢ 4 petra et ll “ala P<] [ol [= fo [= [xX] [Xm DX] = Dx [om DX] ee PX] 190 Niel eid sept Uap ecteare TABLA X.0 ~ LETRA CLAVE 0 GRAFICO 0 ~ CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES DE MUESTREO SIMPLE {Las curas para mussteo doble y maitiple son aquivalentes) wo ot an lowshetanas erpondon saa edn pais ROL oars ma TABLA X-D:1 ~ VALORES TABULADOS DE LAS CURVAS CATACTERISTICAS PARA PLANES DE MUESTREO SIMPLE fn = Lele e Tey sys Le i (= S= 2 sean [me wa as aes | as as ea eee 260 vi [ome [sae wat er { eal ear] ma eel ae fs | oe | a | er | ae | ae re wer at | a Rape wer oe] ee [ ew [ep ae ae ap a wif aa Dee Beer toas} wep ear car sor} oo aa | oe [i waa | ee epee era frp ae pe] oo aa papa oa pee paar aa 5. ae a ae we SW 1 mz [ss | ae wae vee [200 [are _[ ase | ae [ee [eon | oea | eee | aa [|ae TABLA X-0.2. LANES OE MUESTREO PARA LA LETRA LAVE 9 Tea a Gee co J dee Xe EEE EXD X X= BS [EES] acme acre acne| aca acrelsete al ace erence act lace|se nacre nena cme acne ace Pets Xo [=f l= [=] = le d= bd = De P= Pq in ci a me id PreeTABLA X-E ~ LETRA CLAVE E ; GRAFICO £ — CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES OE MUESTREO SIMPLE u as curs para mueszco dobie y multiple son aquivaentes) aes ae i * is | > * i 7 3 i * > one oN See a tc eS et” TABLA XE1 ~ VALORES TABULADOS OE LAS CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES DE NUESTRED SIMPLE . [a [eles >a Pelaye | *] = Del « Sle vor Bm svo| eof v9] ang vo aos] a aa] wa[ oa] al mol a [xe] cs [me] mo] e[ won| oe | ‘won| o.07| “ai6] sao] vez | apne) «00| aa] tae | m62[ sal aus] saa] ons | a2 | os | we | ves] wo] 2 i soo] a9 [as Pron [S| 9 [ea [row [ee [asl ol wr wet fs fia Poe var or sof ei fons Poon [oer [oar [ay Dag Pa | or esl fee fom foe Pe Por ae von[ ma [ace [ane [oar [ans [oon sie [ val os ior [on [rr [efron Pa [a [ a so[ ma [ote [wo os [ap [es feet oie [wap berber fo po fa wa ifaw [ais fos [oar |e faur fear ma [or [nfo fae eta ae a Lele Leste Te f= blo D< fw Dea TABLA, 2 ~ PLANES DE MUESTREO PARA LA TRA CLAVE H ie cad aeeple Ginspeon orm ox] oo [ [om [oe [> Do [> Do Bs ran rae ca te ace [face ea eae lac [cw Blew Xo [o foe [oe [om |e XP DX» Selo BF} Nivel de edn acptbie tgs eticTADLA XA — LETRA CLAVE N ramoero. SAAFICO N— CU, 5 CARACTERISTICAS PARA PLANES 0. «UESTREO SIMPLE see aesrenn {Ls curvas para muestreo doble y miltiple son equivalentes) Trac Ap as EE ee eas TABLA X-N-1 ~ VALORES TABULADOS DE LAS CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES. DE MUESTREO SIMPLE a ae [ae oe ee [oo | ae a = a me | amas [ame [ar [one [ase | as | ay | ome = fea [aster | apr | ae [azn [ase [ ape [ass | is en 2a wee [ ame | over | one | ono | ome | vio [iar [ a as aaa ae ae ae] sp ea at ea [ om | ose [ar | "ae 7 ae wae [ asst pare | ee [ ae 7 a a 3a] as ose [pe | ssa a3 a ie [ ase | aan | wae aa | ase [aon Pow [om oss 8 ia TABLA XA-2 — PLANES DE MUESTAEO PARA LA LETRA CLAVE N 4 | PEE epee pga sero Ta fom S< Teas [ooo] aoe] a0] a] eas] SC] avo ah 00 | sors |X] onze] goto] aoc] 930] a6 | 92s ayo] a we “S An eid oe ein omaerrs Az TABLA X.A ~ LETRA CLAVE 8 GRAFICO A ~ CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES DE MUESTREO SIMPLE sorceye ne co (Las curs para muesteo doble y miliple son equivalents) onas POPE a aS aR eB aa ae TABLA X:A-1 ~ VALORES TABULADOS DE LAS CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES DE MUESTAEO wos [ome [ae [oe [ee = ao | omme [eaae| aan | oona | ove | ore | osm =, a | can [apes apa | erat [ara [a aT sa | cana [ase] aon | aaa [| ot oe Seana oo a aoe aa a | am [aya [one | ae [aa [oop Sa} Cae [ame ose [canoer ser eo ae | eae [ease [eat [na [naa So] a9 | este eam [ome | eer | era | ao eve [tao] oar | oss [eam [ ane |p= TABLA %R.2 — PLANES DE MUESTREO PARA LA LETRA CLAVE A Nl de ee nara . 280% [SC [909]900 [Ts] SC] = SC] om B act acs [ans |ene ac nu acm [ane [ana acnelane| cel none em fom [omens a oe DX] om [fe] foe LE Av de ale ee gesteoe TABLA XS ~ LETRA CLAVL ‘espe ‘romato | deeeeion arma ie ie sino a0 | 1 2 roo | 0 2 sooo | a oo |e a reo | # 2 20 | 0 2 owe | 200 | o a wooo | 2 sooo | 2 a Niclas clan amped