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Leccin9 0304 PDF
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9.
ANALIZADORES LGICOS
ANALIZADORES LGICOS
9.1. Introduccin
Las funciones especficas que poseen los analizadores lgicos confieren a stos una
serie de posibilidades que no poseen otros equipos electrnicos de medida. En este tema se
describen los distintos tipos de analizadores utilizados en el dominio digital. Se realiza una
comparacin previa con los osciloscopios indicando sus similitudes y diferencias y su
utilizacin ms idnea en funcin de la aplicacin de medida. Posteriormente se inicia la
descripcin exhaustiva de los analizadores lgicos destinados al anlisis del funcionamiento
de sistemas digitales complejos en los que se requiere la observacin simultnea de multitud
de canales y una gran potencia en sus sistemas de adquisicin, disparo y presentacin.
Tras mostrar el diagrama de bloques bsico de un analizador lgico, se describen los
diferentes modos de presentacin con los cuales se pueden obtener cronogramas, tablas de
estados o visualizacin de los mnemotcnicos correspondientes a las instrucciones de un
determinado microprocesador. Seguidamente se estudian los diferentes modos de adquisicin
y disparo, y los mtodos de muestreo con los que poder analizar seales digitales con un
consumo ptimo de memoria sin perder resolucin horizontal. Tambin se tratan los aspectos
concernientes a los sistemas de sondas y puntas de prueba que hacen posible el acceso a las
seales de inters en sistemas digitales complejos.
9.1.1.
Clasificacin inicial
Sondas lgicas. Son equipos muy simples destinados a detectar estados lgicos de
uno o varios nodos del circuito bajo ensayo de modo esttico, es decir, sin tener
registro de la evolucin temporal de los estados detectados.
Lgica TTL. Est caracterizada por utilizar circuitos alimentados a +5 V. El nivel alto
(H) corresponde a tensiones superiores a 2V (40% de VCC) mientras que el nivel bajo
(L) a tensiones inferiores a 0,8 V (16% de VCC). Los valores de tensin intermedios
definen un estado indeterminado.
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acstica. Otras sondas lgicas podran indicar esta circunstancia mediante una indicacin
especial.
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9.3.2.
Captura y muestreo. Las seales del DBE se capturan mediante sondas o puntas de
prueba especficas. El gran nmero de estas puntas de prueba hace que usualmente se
presenten agrupadas en canales denominados pods que permiten conectar 8, 16
ms seales cada uno. Suele existir un pod especfico (de menor efecto de carga y
mejor ancho de banda) para las seales especiales externas (seales de reloj,
interrupciones, etc.). Las seales analgicas recogidas por las puntas de prueba se
convierten en datos tras pasar por los ADC (comparadores) y el registro de muestreo.
P. prueba
del reloj
externo
ADC
Registros de
muestreo
Memoria de
adquisicin
Anlisis y
visualizacin
Lgica de
disparo
Selector de
reloj
Control
memoria
Reloj
interno
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Seal de
entrada
Reloj de
muestreo
Forma de onda
mostrada
Datos
Muestreo sncrono (state anlyzer mode). Una de las seales de entrada se toma
como reloj de muestreo, por lo tanto, los datos introducidos en la memoria de
adquisicin estn determinados por las transiciones del reloj externo. Grupos
predeterminados de estas entradas pueden representar variables estados del DBE.
El analizador lgico muestra la evolucin de estos estados con formatos
preestablecidos componiendo tablas de estados en diversos formatos (decimal,
hexadecimal, mnemotcnicos (lenguaje ensamblador), etc. Este modo es utilizado para
analizar el funcionamiento de microprocesadores o dispositivos digitales especficos.
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Sistema de disparo.
Una vez muestreadas las seales de entrada se ha de decidir cuales son de inters para
el anlisis y determinar as su registro en la memoria de adquisicin. Esto se realiza gracias al
sistema de disparo. En este apartado se realizar un estudio de los mtodos de disparo
usualmente utilizados en modo asncrono (timing analyzer).
T
T
a)
T
b)
c)
T1
d)
T2
T
e)
f)
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Disparo por defecto de amplitud (runt pulse triggering). Una vez definido un
determinado nivel umbral de amplitud mnima se puede disparar el sistema tras la
deteccin de pulsos defectuosos de escasa amplitud (figura 9.7. f).
Adquisicin de datos.
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seal con transiciones. Si la memoria es de 4096 posiciones slo se podra adquirir la primera
rfaga de seal y la memoria estara llena en su mayora con datos nulos.
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9.3.6.
ANALIZADORES LGICOS
En cada uno de los pods del analizador se conecta un cable plano o cilndrico
multiconductor en cuyo extremo se sitan las sondas o puntas de prueba a conectar a los
nodos de inters del DBE. En un sistema estndar para analizadores lgicos se realiza la
conexin al DBE mediante micro-pinzas que se conectan normalmente a los pines de los
circuitos integrados como se muestra en la figura 9.12.
DBE
6-8 pF
100k
LA
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9.4. Bibliografa
[1] Electronic Instrumentation Hanbook, Clyde F. Coombs (Mc Graw Hill).
[2] Feeling Confortable with Logic Analyzers, Nota de aplicacin 1337. Agilent
Technologies.
[3] The XYZs of Logic Analyzers, Nota de aplicacin de Tektronix. 2001.
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