UEA Catlisis Ambiental II.

Principios y aplicaciones de tcnicas de caracterizacin de

catalizadores
I.Introduccin general a las tcnicas de caracterizacin de catalizadores (Dr. Jos
Antonio de los Reyes, 1 semana)
II. Bases de Cristalografa (Dr. Armando Vzquez Zavala, 4 semanas)
1.- Estructuras cristalinas
i)
ii)
iii)
iv)
v)

Concepto de slido
Celdas unitarias y redes de Bravais
Planos cristalinos e ndices de Miller
Espaciados de planos en redes cristalinas
Clasificacin general de clases de cristales

2.- Fuerzas primarias de atraccin

i) Ligaduras inicas
ii) Ligadura covalente
iii) Ligadura metlica
3.- Difraccin
i)
ii)
iii)

Dispersin por un cristal

La ley de Bragg
Determinacin de una estructura desconocida utilizando difraccin de
electrones.
Las condiciones de Laue
La red recproca.
Indexacin de patrones de anillos de una estructura policristalina para su
identificacin.

iv)
v)
vi)

4.- Distancias interplanares

i)

Identificacin de una fase qumica por medio de sus distancias

interplanares.

III. Caracterizacin qumica de superficies por XPS, espectroscopia fotoelectrnica de

rayos-X (Dr. Juan Carlos Ruz Bucio, 3 semanas)
1- Conceptos bsicos de fsica de radiaciones e interaccin de la radiacin con la
materia.
2- XPS: equipo y preparacin de muestras.
3- Cuantificacin elemental (survey) de materiales por XPS
4- Cuantificacin de grupos funcionales (qumica del C, N, O, S, F, Cl, Au, Pt y Fe)
por alta resolucin de XPS.

5- Uso del programa CASA-XPS para el anlisis de espectros de baja y alta

resolucin.
IV. Introduccin a otras tcnicas de caracterizacin (Dr. Jos Antonio de los Reyes, 2
semanas)
1- Espectroscopa IR
2- Espectrosocopa UV-Visibles
V. Aplicaciones de las tcnicas de caracterizacin e Integracin (Dr. Jos Antonio de los
Reyes, 1 semana)

Bibliografa: Transmission Electrn Microscopy By David. D. Williams and C. Barry

Carter. Plenum Press. New York and London. 1996.
High Resolution XPS of Organic Polymers - The Scienta ESCA300 Database. G.
Beamson and D. Briggs, Wiley Interscience, New York 1992.
Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy 2nd ed. J. F. Moulder, W. F. Stickle, P.
E. Sobol, and K. Bomben (J. Chastain, editor), Perkin-Elmer Corporation (Physical
Electronics), New York 1992.