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UNIVERSIDAD TECNOLGICA NACIONAL

FACULTAD REGIONAL TUCUMN

Ingeniera Electrnica Medidas Electrnicas II

Anlisis de Fallas en Circuitos Digitales

Mg.Ing. J.C. Colombo


FRT-UTN: Prof. Tit. Medidas Electrnicas II
21/05/15
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1.- Sonda Lgica


Introduccin
La sonda o punta lgica permite ver el estado digital de un nodo en el circuito bajo prueba
en modo esttico, sin considerar la evolucin temporal de los estados lgicos detectados.
Este instrumento determina si el estado lgico del nodo es alto o bajo encendiendo un led
indicador del mismo. Es habitual que el nivel alto sea indicado por un Led Rojo y el bajo
por un Led Verde, emitiendo el zumbador (buzzers) un sonido para cada caso. Cuando
se detecta un transicin de bajo a alto nivel o viceversa, se enciende un Led Amarillo
durante un tiempo suficiente y se emite un zumbido especial. Si se mide un estado
indefinido no luce ningn led ni se emite seal acstica.
Algunos modelos permiten adems determinar la existencia de trenes de pulsos, pulsos
de corta duracin (one shot), pulsos de ruido (glitch) y estados de alta impedancia.
Diagrama en Bloques

Buffer

Detector

Prolongador

Pulsos

Pulsos

Punta de
Prueba

Memoria
Comparador

Ventana
Alto

Bajo

Pulsos
Indefinido

En la figura se muestra un Diagrama en Bloques tpico de una punta lgica. Se observa


que la seal medida es enviada a dos bloques.
El componente bsico de estas sondas es el comparador lgico o comparador de
ventana compuesto por un par de comparadores Analgicos (Operacionales) con el cual
es posible realizar la definicin de estados lgicos pertinentes. La salida de los
comparadores esta conectada a elementos de visualizacin (leds) y sonoros (buzzers)
para realizar la indicacin del estado lgico detectado. Los circuitos comparadores se han
diseado con una pequea histresis con la cual se aumenta la inmunidad al ruido.
Dispone de un circuito detector de pulsos, tanto positivos como negativos. En la grafica
anterior se puede ver el aspecto externo y el esquema completo de la sonda lgica.
Los comparadores se encargan de determinar si la seal de entrada se encuentra dentro
del rango de tensiones correspondientes a los niveles alto o bajo especificados para la
familia lgica, TTL o CMOS ,del circuito bajo prueba. Para hacerlo se le entrega dos
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seales de referencia VH y VL donde se enciende el led de nivel bajo si la seal de


entrada Vin se encuentra entre 0V y VL y el led de nivel alto cuando se cumple la
condicin de que Vin sea mayor o igual que VH.
Dado que generalmente la alimentacin de la punta lgica es tomada del circuito bajo
prueba se utiliza la misma para determinar las tensiones de control. Se selecciona la
verificacin de lgica TTL o CMOS mediante el cambio de atenuador para manejar los
niveles de tensin especfico desde una misma alimentacin.
Estos niveles se derivan segn sea la familia lgica a analizar, TTL o CMOS. Se debe
recordar que para TTL el estado bajo se define entre 0V y 0.16 VCC y el estado alto entre
0.4 VCC y VCC donde VCC es la tensin de alimentacin obtenida del circuito bajo
prueba. Si la alimentacin es de +5 V. El nivel alto VH corresponde a tensiones superiores
a 2V mientras que el nivel bajo VL a tensiones inferiores a 0,8 V. Los valores de tensin
intermedios definen un estado indeterminado.
En el caso de CMOS se toma como estado bajo entre 0V y 0.3VCC, para el estado alto se
toma entre 0.7VCC y VCC. Si la alimentacin variable desde +0.5V hasta +18V aunque el
valor tpico es de +15V. El nivel alto (H) corresponde a tensiones superiores al 70% de la
tensin de alimentacin mientras que el nivel bajo (L) a tensiones inferiores a 30%. Los
valores de tensin intermedios definen un estado indeterminado.
El buffer asla el circuito del prolongador de pulsos del dispositivo bajo prueba de forma
tal de no modificar el funcionamiento de este. Dispone de un circuito detector de pulsos,
tanto positivos como negativos.
Cuando se detecta un pulso muy pequeo el circuito prolongador que es un monoestable
produce a su salida un pulso de longitud mucho mayor, lo que permite detectar pulsos
cortos que de otra manera serian invisibles para el operador (estos pulsos se conocen
como one shot), la memoria se utiliza para almacenar en forma permanente la deteccin
de un cambio de estado de alto a bajo de esa manera se pueden detectar glich en el
circuito una vez que se produce el indicador permanecer encendido hasta que se
desactive esta funcin.

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Sonda lgica Comercial

En esta grfica se puede ver el aspecto externo y el esquema completo de la sonda


lgica.

2.- Analizador de Firmas


Introduccin
Si bien una sonda lgica permite ver el estado de un nodo, no permite comprobar si la
secuencia de estados lgicos que presenta el mismo a lo largo del tiempo es
correcta o no.
El problema de la reparacin de equipos electrnicos digitales se ha hecho cada vez ms
complejo.
Se necesita una gran cantidad de tiempo para detectar una falla, gran conocimiento de
Hardware y Software por parte de los tcnicos y un alto costo administrativo. Se puede
llegar a tener un 5% del costo del activo dedicado a estas funciones.

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Otra forma tradicional del mantenimiento de los mismos se hacia a nivel de tarjetas o
mdulos. Estos se reemplazaban directamente si presentaban alguna anomala lo cual
era rpido y no exiga personal calificado.
En contrapartida este mtodo implica un costo elevado para su implementacin y
mantenimiento esto adems de la dificultad para detectar cierto tipos de errores esta
provocando el uso de otras metodologas de mantenimiento.
Para comprobar el funcionamiento de los dispositivos digitales desde simples
compuertas, a nivel de componentes, hasta placas con varios microprocesadores
se desarrollo el concepto del Anlisis de Firma el cual es ms econmico que el
anterior. El Anlisis de Firma se basa en las propiedades matemticas de las mquinas
secuenciales lineales que la hacen apta para la deteccin de errores en una secuencia de
datos.
El concepto del Anlisis de Firmas es simple y similar al utilizado en los circuitos
analgicos en lo referente a procedimiento, en los mismos se compara las formas de
ondas y tensiones obtenidas en el equipo bajo prueba con las esperadas determinando
as la avera.
En el anlisis de firmas, la Firma obtenida en el equipo bajo prueba se compara con la
esperada para determinar si la etapa funciona correctamente o no.
Este instrumento se basa en la compresin de datos el cual reduce grupos complejos de
varios bytes a una firma de solo 4 dgitos hexadecimales.
Supondremos inicialmente un dispositivo simple que funcione como inversor

N1

N2
INVERSOR

01010101

10101010

Se observa una secuencia de 0 y 1 en el nodo de entrada N1, a esta secuencia se la


denomina vector de excitacin, normalmente los analizadores de firmas no generan esta
secuencia por lo que se usa para ello o bien un analizador lgico con generador de datos
incorporados o la genera el propio equipo bajo prueba en un modo de test.
El nodo N2 es el nodo de salida, la firma consiste en la secuencia de 0 y 1 que se espera
observar en dicho nodo.
Un caso ms complejo se produce cuando n vectores de excitacin generan la secuencia
del nodo.
N1
Circuito
Bajo
Prueba

01010101

NS
10101010
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10101010
Nn

Las firmas actuales pueden tener cientos de bits por lo que para comprimir la informacin
que contienen se utiliza el cdigo de deteccin de errores CRC 16. Este cdigo permite
con solo dos bytes detectar ms del 99% de errores posibles en conjuntos de datos de
cientos de bytes.
Si en un sistema digital cualquiera que funcione correctamente, medimos en un punto
cualquiera su estado lgico (en un cierto tiempo) o se determina el mismo durante su
diseo se obtiene un numero binario caracterstico, el cual puede ser representado en
forma polinomial.
n

Ci X i

1.1
i 0

en donde Ci son coeficientes binarios (asumen el valor de 1 o 0), la variable X representa


el orden de los bits de la secuencia.
Por ejemplo si la secuencia de 1 y 0 (formato de 16 bits) es:
1.2

S(n) = 11101001 01110101

se puede representar como el polinomio de n grado


S(n) = C15X15+C14 X14+ C13X13 +C12X12 +C11X11 +C10X10 +C9X9 +C8X8+C7X7 +C6X6 +C5X5 +
C4 X4+ C3X3 +C2X2 +C1X1 +C0X0
S(n) = 1X15+1X14+1X13+0X12+1X11+0X10+0X9+1X8+0X7 +1X6+ 1X5 +1X4 +0X3 +1X2 +0X1 +
1X0
Este polinomio de grado n o de n bits que representa la cadena de 0 y 1 , datos que
deseamos analizar, es comparado con un polinomio de grado m o de m bits llamado
generador de firmas , el cual debe cumplir la condicin de que n>m.
Esta comparacin consiste en la divisin entre los dos polinomios.

S(n)

P(m)

X15+X14+X13+X11+X8+X6+X5+X4+X2+1

X3+X2+X+1

X15+X14+X13+X12

X12+X9+X7+X4

X12+X11+X8+X6+X5+X4+X2+1
X12+X11+X10+X9
X10+X9+X8+X6+X5+X4+X2+1
X10+X9+X8+X7
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X7+X6+X5+X4+X2+1
X7+X6+X5+X4
X2+1

Resto = Firma

El Resto de la divisin es la llamada FIRMA que se encuentra comprimida por otra


secuencia de 3 bits
1.5 R(n)

X 2 1 ( = 1 0 1)

Esta operacin matemtica puede realizarse mediante la utilizacin de registros de


desplazamiento realimentados.
00110011 00001000 01000110 00001000
la cual puede ordenarse en forma de tabla como 4 Bytes
00110011
00001000
01000110
00001000
El CRC 16 se basa en un polinomio generador existiendo varios polinomios estndar.
Los analizadores de firmas tienen en general seales de START, STOP y CLOCK la seal
de CLOCK sincroniza la toma de datos del analizador.
Mientras que las seales de START y STOP inician y terminan respectivamente el
muestreo del nodo.
START
STOP
CLOCK
NODO
X X X X X 0 0 1 1 1 1 1 1 0 1 0 0 0 X X X X
El diagrama de tiempos correspondiente se observa en la figura, en general una firma
distinta a la esperada no proporciona una informacin exacta acerca de cual es la falla
que se ha producido. Sin embargo hay dos firmas importantes que estn relacionadas con
la actividad especfica de un nodo.
Consideraremos la firma relacionada a un nodo que es mantenido a 0 la firma obtenida
del mismo es 0000 en el caso de que el nodo se mantenga a 1 siempre se ingresara un
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1 por lo que no habr transicin en los datos dependiendo el valor obtenido del numero
de veces que se introduce la misma.
Por lo tanto esta firma se puede utilizar para verificar el tiempo de medida las seales de
START y STOP y CLOCK.

Analizador de Firmas 5004A


Este analizador de firmas necesita que los estmulos externos sean generados por el
dispositivo bajo prueba o por un elemento externo.
Una forma de generar los estmulos en forma interna por el sistema es agregar al
firmware del mismo una seccin que se dedica a la generacin de las firmas.
O haciendo trabajar al sistema en formato libre, este formato obliga a trabajar al sistema
en un ciclo repetitivo usando para ello el menor numero de elementos posible y
estimulando el mximo numero de nodos del circuito.
El proceso de obtencin de la firma de un nodo es controlado por tres seales, la seal de
inicio (START) se emplea para comenzar el intervalo de tiempo de medida, la seal de
reloj (CLOCK) sincroniza la toma de datos del analizador con las seales que van a ser
observadas en cada nodo.
La seal de parada (STOP) se usa para terminar el intervalo de tiempo de la medida.
Las seales de inicio y parada definen el intervalo de toma de datos y pueden obtenerse
de las lneas de direccionamiento, puertas de entrada salida u otras seales que
identifiquen la presencia de un nico grupo de datos.
Luego de tomados los datos estos son procesados aplicndose el CRC 16 a los mismos y
luego se muestra el resto como cuatro dgitos hexadecimales.
Para evitar confusiones se utiliza una codificacin no estndar 0123456789ACFHPU.
Que permite una lectura ms fcil y segura, por ejemplo la letra B se podra confundir con
el 6.
Diseo con anlisis de Firmas
Las mximas ventajas de esta tcnica se obtienen cuando se encuentra implementada
desde la fase de diseo.
Durante esta se reserva una parte de la memoria de programa generalmente el 5% para
almacenar los vectores de excitacin del dispositivo. Se agrega al firmware del mismo una
rutina que tome dichos vectores de excitacin y los utiliza para activar las distintas etapas
del circuito.
Adems se agregan conmutadores o se establece dentro del firmware un rutina para
pasar el circuito al modo Anlisis de firmas para que se active el modo de anlisis.
Otro requerimiento consiste en romper los lazos de realimentacin usando conmutadores,
conectores o puentes.
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Esto es necesario para evitar posibles fallos producidos por la realimentacin del circuito.
Cuando el fallo es causado por el microprocesador o la zona de memoria necesaria para
generar el anlisis de firmas, no funcionaria el anlisis de firmas al no poder activarse el
programa de anlisis de firmas.

3.- Analizador Lgico


Diagrama en Bloques
Punta
Prueba 1

Punta
Prueba n

Reloj
Externo
Reloj
Interno

Disparo
Externo
Comparador
Palabras
Disparo
Interno

ADC 1

Registro
Muestreo
N Bits

MEMORIA
Bus
Datos

ADC n

Adquisicin

Teclado
Display

Sincronismo
Tiempos

Frecuencia
Muestreo

Selector
Reloj

CPU

Disparo
Visualizacin

Selector
Disparo
Bus
Control
Sincronismo
Disparo

Las funciones especficas que poseen los analizadores lgicos confieren a stos una serie
de caractersticas para el anlisis de los circuitos digitales que no poseen otros equipos
electrnicos de medida. A continuacin se describen los distintos tipos de analizadores
utilizados. Posteriormente se inicia la descripcin exhaustiva de los analizadores lgicos
destinados al anlisis del funcionamiento de sistemas digitales complejos en los que se
requiere la observacin simultnea de multitud de canales y una gran potencia en sus
sistemas de adquisicin, disparo y presentacin.

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Adquisicin
Est compuesta por n etapas idnticas una por cada canal de que disponga el analizador,
estas etapas tienen tres bloques y un registro de muestreo de n bits.
Cada etapa posee una sonda y un ADC realizado con comparadores con tensin de
umbral seleccionable que convierten la seal de entrada a un valor binario de 1 Bit. Este
bloque tiene como misin determinar si el nivel de tensin que hay en cada entrada se
corresponde con un "uno lgico" o con un "cero lgico". Para ello realiza una comparacin
entre la seal recibida y un determinado voltaje umbral. Si el nivel de la seal recibida es
superior al umbral, el analizador almacena un
"uno"; si es inferior, un "cero". El voltaje umbral depende de la familia lgica utilizada en el
sistema al que tenemos conectados los canales del analizador (TTL, HCMOS, ECL, etc.)

Canal 1

Este tipo de ADC es extremadamente rpido dado que el tiempo de conversin solo
depende del tiempo de establecimiento del comparador y del tiempo de propagacin de la
compuerta utilizada. Con velocidades de conversin tpicas de 1 nseg es decir que su
frecuencia de muestreo puede llegar a 100 Mhz. En la actualidad se han desarrollado
ADC Flash para este tipo de instrumentos con tiempos de conversin mximos de 1 Pseg
es decir que soportan frecuencias de muestreo de 1 Ghz.
La conversin de los n canales del analizador se realiza en forma simultanea y los datos
obtenidos son transferidos al registro de muestreo cuando lo indica el reloj de muestreo el
cual puede ser generado en forma externa o interna.
La grfica siguiente muestra el diagrama de tiempos de la etapa de adquisicin.
En donde Tm es el tiempo de muestreo del circuito. Obtenindose un conjunto de sondas
que se conectan al circuito digital que se quiere analizar. Cada entrada se llama canal.
Actualmente es habitual disponer de al menos 32 canales de entrada hasta mas de un
centenar. Cada canal se identifica por un nombre y un nmero, de forma similar a como
se nombran los buses de datos o direcciones en un sistema basado en microprocesador.

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RELOJ
Sirve para establecer el instante en que se los datos convertidos por los ADC son
transferidos al registro de muestreo. La seal de reloj puede provenir del exterior del
analizador reloj externo o puede venir dada por el propio analizador reloj interno. Cada
caso tiene sus particularidades.
RELOJ EXTERNO
El uso del reloj externo se realizar cuando empleemos el MUESTREO SINCRNICO ,en
este caso el instrumento esta sincronizado con el circuito digital que se est analizando.
En este modo, las muestran se toman en los instantes dados por una seal de reloj
externa.
Es por tanto el reloj del sistema externo el que marca el ritmo de captura de datos del
analizador permitiendo de este modo guardar en la memoria del analizador la mxima
informacin til del sistema.
Es importante hacer notar que en este tipo de muestreo no se tiene ninguna referencia
temporal de la seales puesto que la seal de muestreo es externa y no se dispone de
ningn mecanismo para conocer su temporizacin.
RELOJ INTERNO
El reloj interno se utiliza cuando realizamos un MUESTREO ASNCRONO dado de que el
instrumento no tiene ningn sincronismo con el circuito que se trata de medir.
En este caso es el propio analizador lgico quien genera los flancos en los que se
escriben datos en memoria.
El perodo de esta seal se puede elegir entre una serie de valores prefijados en el
analizador.
Se debe notar que en este caso s se dispone de una referencia temporal sobre las
seales que analizamos puesto que el analizador conoce el periodo de muestro con el
que se est trabajando.
La precisin de las medidas ser funcin del periodo de muestreo que seleccionamos,
cuando mayor sea el periodo menor ser la precisin y viceversa.
La exactitud de las medidas depende, por lo tanto, de la frecuencia de muestreo dado en
que en el intervalo entre dos muestras puede ocurrir una transicin que no seria detectada
por el mismo.
El peor caso ocurre cuando se producen dos transiciones consecutivas ambas en el
periodo de incertidumbre del instrumento.
Estas transiciones tambin denominadas glich son detectadas en los modernos
analizadores por detectores de cambios de nivel por flancos que se activan en el periodo
de incertidumbre del mismo.
Cuando se produce un glich se almacena en la unidad de control para posteriormente ser
mostrado en el display.
La figura muestra el diagrama de tiempos cuando se produce la mxima incertidumbre del
instrumento.

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MEMORIA
Es una memoria RAM encargada de almacenar los datos obtenidos del registro de
adquisicin. Estos datos son los que posteriormente podremos visualizar en el monitor del
analizador.
Esta memoria est organizada en palabras de n bits, siendo n el nmero de
canales del analizador, los analizadores lgicos del laboratorio disponen de unas pocas
Kbytes.
La cantidad de palabras que se pueden almacenar determina el intervalo de tiempo que
se puede analizar en cada toma de datos. Si se toman las muestras a una frecuencia
constante denominada Frecuencia de Muestreo, el tiempo que podremos almacenar en una
toma de datos vendr dado por:
Tiempo Almacenado (Seg.) = Tamao Memoria / Frecuencia Muestreo(Hz)
El control de los datos que se guardan en la memoria se realiza mediante dos Seales
Reloj: es la que fija los instantes en los que se graban datos en la memoria.
Disparo: es una seal que habilita o deshabilita la escritura de datos en la memoria.
Comprender y utilizar adecuadamente estas dos "seales" permite sacar el mximo
partido a la limitada memoria con que cuentan los analizadores lgicos.
SELECTOR DE DISPARO
Indica el instante a partir del cual se permite la escritura de los datos en la memoria. La
especificacin del disparo (TRIGGER) sirve para seleccionar los
datos que nos interesan de aquellos que no son tiles para el anlisis que se va a realizar.
Para programar este disparo se debe tener en cuenta los niveles lgicos de alguna
seal externa al analizador Entrada de Disparo Externa
Las palabras que se van produciendo en los canales de entrada Comparador de
Palabras
Una combinacin entre las dos anteriores.
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ENTRADA DE DISPARO EXTERNO


Permite programar el analizador para que la seal que marque el comienzo de la
adquisicin sea una seal externa al analizador.
Esta entrada permite por tanto sincronizar la toma de datos con el estado de alguna seal
de nuestro circuito bajo prueba.
Como ejemplo podramos pensar en la seal de interrupcin que se produce en
un sistema basado en microprocesador.
Tambien se puede definir de que forma se puede realizar el disparo algunos ejemplos se
muestran a continuacin.

Disparo por pendiente (edge triggering). La adquisicin del analizador se realiza


mediante la deteccin de la transicin positiva o negativa de una determinada seal de
entrada. (figura 9.7. a) - Disparo por tiempo de transicin (slew-rate triggering). Slo
se activa el disparo cuando se detectan flancos con tiempos de transicin mayores (o
menores) que una cierta cantidad de tiempo predefinida (figura 9.7. b).
Disparo por transitorio (glitch triggering). Se utiliza para detectar transitorios estrechos
(glitches) que suelen ser efecto o causa de un mal funcionamiento del sistema. Para su
deteccin se configura un tiempo T. Todo pulso de duracin inferior se considerar glitch y
activar el disparo del sistema (figura 9.7. c).
Disparo por anchura de pulso (pulse width triggering). Es similar al mtodo anterior.
Ahora, una vez definidos los tiempos T1 y T2, slo los pulsos de anchura mayor que T1 y
menor que T2 activarn el disparo (figura 9.7. d).
Disparo por exceso de duracin (timeout triggering). Cuando aparecen pulsos de
anchura mayor que un tiempo T predefinido el sistema se dispara (figura 9.7. e).
Disparo por defecto de amplitud (runt pulse triggering). Una vez definido un
determinado nivel umbral de amplitud mnima se puede disparar el sistema tras la
deteccin de pulsos defectuosos de escasa amplitud (figura 9.7. f).

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Disparo lgico (logic triggering). Se determina el disparo mediante combinacin lgica


de dos o mas seales de entrada. Se suele configurar este mtodo de disparo
introduciendo una ecuacin con operadores lgicos.
Disparo secuenciado (setup-and-hold triggering). Este mtodo de disparo evala la
posicin y duracin temporal relativa entre determinadas seales y la transicin de otra
seal de referencia. El disparo se efecta (o no) cuando cumple el cronograma
establecido por los tiempos setup y hold como se muestra en la figura 9.8.
SELECCIN DE PALABRAS DE DISPARO
Sirve para establecer todas las palabras de datos que son significativas para el anlisis
que se quiere hacer. Cada una de estas palabras se identifican mediante un nombre o
etiqueta. El objetivo es, por tanto, facilitar la programacin de la condicin de disparo.
COMPARADOR DE PALABRAS Y CIRCUITO DE DISPARO
Sirve para comparar las palabras de disparo con los canales de entrada y para establecer
la secuencia de condiciones que se deben dar para generar el disparo del analizador.
Cada analizador lgico tiene multitud de opciones para configurar su disparo.
Normalmente el disparo se especifica mediante una serie de sentencias condicionales
que en conjunto se suelen llamar PROGRAMA DE DISPARO. Cuando se cumplen todas
las condiciones impuestas en el programa se produce la CONDICIN DE DISPARO del
analizador.
A partir de este momento la memoria se llena y el analizador lgico deja de tomar
datos de los canales de entrada. En este sentido se hablar de POSICIN DE DISPARO
al instante en el que se produce la condicin de disparo.
Normalmente es importante guardar datos tanto previos como posteriores a que se
produzca la condicin de disparo. Esto es posible gracias a que el analizador va
guardando en su memoria cclica todos los datos previos a la condicin de disparo por lo
que cuando sta se produce es posible indicarle que conserve ciertos datos previos.
Esto se realiza mediante la programacin de la posicin del disparo dentro de la memoria.
Resaltar finalmente que la realizacin del programa de disparo es la tarea ms compleja
en el manejo del analizador, dado que debemos especificar con precisin la secuencia
que ha de producirse hasta llegar a los datos que queremos analizar.
CIRCUITO DE PRESENTACIN
Permite visualizar los datos almacenados en la memoria una vez que se finaliza la
adquisicin de los mismos; estos datos se pueden representar en el monitor de diversas
formas.
Diagramas de Tiempos muestran formas de onda que representan los estados
lgicos de cada canal de datos, o de un grupo de canales manejado como un bus.
En el eje vertical se representa una seleccin de los canales de entrada y el eje
horizontal se representa el tiempo.
Tablas de estados organizan los datos en forma de listado de posiciones de memoria
del analizador y contenido de cada posicin. Se pueden utilizar distintos sistemas
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de numeracin (binario, hexadecimal, etc.) o distintos cdigos (ASCII, BCD, etc.)


para visualizar los "unos" y "ceros" almacenados en la memoria.
Mnemnicos desensamblados es un listado de las instrucciones que se ejecutan en
un sistema basado en un microprocesador. A partir de la informacin en los buses
de direcciones, datos y control, el analizador lgico es capaz de traducir los
estados lgicos por los que pasa el sistema en instrucciones en lenguaje
ensamblador de un microprocesador concreto.
Para esta utilidad, normalmente, se requiere hardware y software adicional para
cada microprocesador o familia de microprocesadores.
MONITOR Y TECLADO
Forman la interfase con el usuario. En el monitor se presentan tanto los mens y las
opciones de configuracin del analizador como los datos almacenados en la memoria.
El teclado que incorporan los analizadores lgicos permite seleccionar los diferentes
mens del aparato e introducir todos los datos para configurar adecuadamente el
analizador.
CPU
Es la que se encarga de controlar todas las etapas del instrumento y ejecutar los
comandos ingresados por el usuario
Comparacin entre el analizador lgico y el osciloscopio
A la hora de realizar el estudio de funcionamiento de circuitos digitales se pueden elegir
como herramienta de anlisis osciloscopios digitales DSO (digital storage oscilloscopes) o
bien analizadores lgicos LA (logic analyzer). El osciloscopio es un equipo muy familiar
que suele ser muy til en determinadas aplicaciones donde existen pocas seales de
inters (2 o 4 como mximo) y donde es necesario obtener medidas con gran exactitud
tanto de tensiones analizndose amplitudes, pendientes de subida o bajada, oscilaciones,
calidad de las formas de onda, transitorios, glitches, ruido, etc.
Como de tiempos retrasos o solapes, tiempos de propagacin, periodos, estabilidad en
frecuencia jitter, etc.
Sin embargo, cuando se necesita realizar el anlisis simultneo de un gran nmero de
seales digitales, o cuando se requiere de un sistema complejo de disparo ligado a un
determinado patrn establecido a partir de mltiples seales digitales no siendo exigible
una gran exactitud en las medidas de amplitud y tiempo, parece ms recomendable el uso
de los LA.
La diferencia bsica desde el punto de vista de la arquitectura de estos dos equipos
estriba en el nmero y complejidad de sus convertidores analgicos / digitales ADC
(analog to digital converter). Mientras que un DSO dispone de como mximo 4 ADC tipo
Flash de 8 o 10 bits (2N-1 comparadores internos) los AL pueden disponer de un hasta un
centenar (o ms) de ADC de 1 bit (con 1 2 comparadores internos).
En la actualidad, los DSO ms avanzados estn provistos de sistemas de disparo y
adquisicin suficientemente potentes que permiten realizar medidas complejas en
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circuitos digitales mientras que los modernos AL disponen de uno o ms canales de


adquisicin tipo DSO que permiten mejorar la exactitud de algunas medidas.
En este punto es interesante dejar claras ciertas diferencias existentes entre el
osciloscopio y el analizador lgico. Segn lo visto las principales diferencias entre un
analizador lgico y un osciloscopio se dan en
El nmero de canales en un osciloscopio convencional pueden visualizarse
simultneamente 2 canales de datos, mientras en un analizador lgico puede
llegarse hasta ms de 128 canales.
La forma de onda visualizada el analizador presenta la informacin de los datos
"idealizada", esto es, convertida en valores lgicos (0 1). Sin embargo, el
osciloscopio, al presentar datos reales, permite la visualizacin de la forma de onda
concreta de una seal, de sus flancos de bajada y subida, as como un detalle
mayor y ms exacto a la hora de realizar medidas temporales o de tensin.
La presentacin de la informacin: en el osciloscopio la informacin puede
presentarse nicamente en forma de trazas. El analizador puede presentar la
informacin en los tres formatos comentados anteriormente: cronogramas, tablas
de estados y mnemotcnicos.
En el osciloscopio el disparo tiene lugar cada vez que se detecta el paso por un
determinado nivel de tensin en una de las seales de entrada; en el analizador el
usuario determina la condicin de disparo y la posicin de ste dentro del conjunto
de datos almacenados.
Descripcin del analizador Tektronix 1230
Los analizadores lgicos 1230 de Tektronix tienen 32 canales de datos, puede muestrear
a una frecuencia mxima de 100 MHz y dispone de 2Kb de memoria
RAM interna. Se maneja por medio de un teclado hexadecimal y unas teclas de cursor, y
se configura mediante una serie de mens y opciones que aparecen en pantalla.
Sondas de adquisicin de datos
El analizador 1230 permite la conexin de hasta cuatro sondas de 16 canales cada una.
En el laboratorio, los equipos estn preparados para la conexin de dos sondas como
mximo por analizador (32 canales).
A este analizador se le pueden conectar diferentes tipos de sondas de adquisicin.
Algunas permiten trabajar nicamente con un voltaje de referencia, otras admiten varios
voltajes diferentes para hacer la comparacin de umbral y algunas otras permiten adems
obtener el cdigo en ensamblador del microprocesador que se estudia.
Sonda P6444
Esta sonda permite trabajar con diferentes niveles de referencia TTL, HCMOS, ECL,... la
eleccin de uno de estos niveles se realizar mediante una de las opciones del men
Timebase.
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La figura muestra un dibujo de la sonda P6444. En l se aprecia que la sonda posee tres
conectores: A, B y C. El conector C corresponde a los 8 canales de menor peso, el B a los
8 de mayor peso y el A a una serie de entradas
EXT es la lnea de entrada de disparo externo.
CLK1 y CLK2 ambas son lneas de entrada de reloj externo.
QUAL sirve para realizar un filtrado selectivo de los datos que se adquieren cuando
se utiliza reloj sncrono (externo). Mientras esta lnea no est activa no se tienen en
cuenta los pulsos del reloj.

Adems de los tres conectores, la sonda P6444 posee 6 microinterruptores que sirven
para configurar el funcionamiento de las entradas del conector A de la misma. En ellos
debe especificarse si se utilizan las seales de disparo externo y validacin (QUAL) y en
qu flancos o niveles son activas estas seales y las de reloj.
Descripcin del panel frontal
En la figura se representa el panel frontal del 1230, que se describe a continuacin .

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Monitor
Teclado hexadecimal
Tecla DON'T CARE: permite introducir valores indiferentes en el men de condiciones
(aparecen como X) o valores en blanco en la edicin de algunos campos de otros mens.
Tecla START: al presionarla comienza el muestreo de datos.
Tecla STOP: permite finalizar manualmente la adquisicin de los datos (generalmente
sta termina cuando se da la condicin de disparo).
Cursores: se utilizan para desplazarse a travs de los mens o de los datos, adems
para seleccionar caracteres alfanumricos en modo editor.
Tecla ENTER: sirve para confirmar cambios cuando el analizador lo solicita y para
entrar y salir del modo editor.
Tecla MENU: permite acceder al men principal al encender el equipo y volver al
men anterior desde cualquier situacin.
Tecla NOTES: presionando esta tecla se obtiene ayuda sobre el men actual. Si se
presiona la tecla ENTER simultneamente con sta, se inicializa el analizador.
POWER: indica mediante un LED el encendido del equipo.
Conexiones de las sondas: el 1230 permite conectar hasta 4 sondas de 16 canales cada
una. Siempre que se vayan a adquirir datos una de las sondas debe ocupar la ranura con
el rtulo PROBE A.
Descripcin de los mens del analizador
La configuracin del analizador lgico antes de la toma de datos, as como las diversas
opciones de presentacin de datos una vez adquiridos stos, se realizan mediante el uso
de los mens disponibles en el equipo.
En esta seccin se dar una visin general de las posibilidades de cada uno de los
mens, sin entrar en detalles de su modo de funcionamiento.
El men principal del analizador se estructura en tres partes: Configuracin, Datos y
Utilidades. Cada una de ellas est formada por varios mens, cada uno de los cuales se
identifica mediante un dgito hexadecimal. El acceso a un men se puede realizar
Pulsando el dgito hexadecimal que lo identifica
Desplazando el cursor hasta seleccionar el men (aparecer en video inverso) y
entonces pulsando ENTER.
La mayor parte de las opciones dentro de cada men se deben seleccionar pulsando
algn dgito hexadecimal. En la parte inferior de la pantalla, la ltima lnea informa
continuamente de las opciones disponibles y las teclas que sirven para seleccionarlas.
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Mens de configuracin
0 Timebase (men de base de tiempos): permite seleccionar el tipo de reloj que se va a
utilizar en la adquisicin de los datos (sncrono o asncrono). En caso de que se
seleccione reloj asncrono (interno del analizador), puede elegirse la frecuencia del mismo
entre varios valores.
Cuando se utiliza ms de una sonda de entrada puede asignarse un reloj a cada una de
las sondas utilizadas o pueden agruparse varias de ellas bajo un mismo reloj.
Este men permite la agrupacin/desagrupacin de las sondas en las distintas bases de
tiempos.
El nivel de referencia o voltaje umbral (dependiente, como se indic anteriormente, de la
familia lgica del sistema bajo prueba) puede ser tambin seleccionado por este men.
Puede tambin habilitarse mediante este men la deteccin de espurios.
1 Channel Groups (men de agrupacin de canales): permite agrupar los canales de
entrada en conjuntos definidos por el propio usuario, de acuerdo al rupamiento lgico que
aquellos poseen en el sistema bajo prueba (bus de direcciones, bus de datos, etc.).
Pueden agruparse canales de distintas sondas siempre que aquellas estn referidas a la
misma base de tiempo.
2 Trigger Spec (men de disparo): este men se utiliza para definir la secuencia de
condiciones que deben darse para que se produzca el disparo del analizador, lo que
hemos llamado programa de disparo.
3 Conditions (men de condiciones): se entiende por condicin una combinacin de unos
y ceros perteneciente a un grupo de canales y que puede ser reconocida por el analizador
(generalmente, a esta combinacin se le denomina palabra de disparo).
Las condiciones que se definen en este men son las que utiliza el men anterior para
determinar el disparo.
4 Run Control (men de control de ejecucin): con este men se puede especificar la
memoria (de las cuatro que posee el analizador) en la que se desea almacenar los datos,
el formato en que stos sern presentados por defecto tras su adquisicin, la posicin que
ocupar el disparo en el conjunto de los datos almacenados y las condiciones para la
comparacin de memorias.
Mens de datos
6 Mem Select (men de seleccin de memoria): muestra los principales parmetros de
configuracin de cada una de las cuatro memorias. Permite elegir la memoria que se
desea utilizar.
7 State (listado de estados): presenta los datos adquiridos en el formato de tabla de
estados. Permite adems examinar las diferencias entre memorias tras una comparacin
de las mismas.
8 Disassembly (mnemnicos desensamblados): traduce los datos de la memoria a su
formato de lenguaje ensamblador del microprocesador del sistema bajo prueba.
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9 Timing (cronogramas): presenta los cronogramas correspondientes a los datos


almacenados. Permite hacer medidas temporales entre distintos puntos de los mismos,
variar la resolucin de presentacin, reordenar los canales, eliminarlos, etc.
Mens de utilidades
B Storage (men de almacenamiento): permite salvar / recuperar la configuracin del
analizador en / desde una memoria no voltil. Esto facilita el uso de la misma
configuracin del analizador en diferentes sesiones.
C Sys Settings (men de configuracin inicial): en este men se definen o cambian la
hora y fecha, la intensidad de la imagen del monitor y se activa o desactiva el protector de
pantalla y el autodiagnstico del equipo al conectarlo.

Bibliografa de referencia
Tektronix (2008): Manualtecnico.pdf
Tektronix (2003): XYZ Analizadores lgicos.pdf
Universidad de Antioqua (2005): 43003407.pdf
Agilent Technologies, Application Note 1337 (1999): an1337-logic-analyzers.pdf
Agilent Technologies, Application Note (2001): puntas de prueba de analizadores.pdf
Mg.Ing. Juan C. Colombo
Prof. Tit. Medidas Electrnicas II
FRT-UTN : 21/05/2015

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