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Capacidad Desemp Proceso
Capacidad Desemp Proceso
Capacidad Desemp Proceso
CAPACIDAD Y DESEMPEO
DEL PROCESO
H. Hernndez / P. Reyes
Sept. 2007
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CONTENIDO
1. Introduccin
a. Definiciones bsicas
b. Objetivos
c. Partes fuera de especificaciones
d. Variacin a corto y a largo plazo
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1 a. Definiciones bsicas.
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1b. Objetivos1
1. Predecir en que grado el proceso cumple especificaciones.
2. Apoyar a diseadores de producto o proceso en sus modificaciones.
3. Especificar requerimientos de desempeo para el equipo nuevo.
4. Seleccionar proveedores.
5. Reducir la variabilidad en el proceso de manufactura.
6. Planear la secuencia de produccin cuando hay un efecto interactivo
de los procesos en las tolerancias.
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de
tiempo
suficientemente
largo
colectados durante un
y
en
condiciones
suficientemente diversas para que sea probable que incluya todos los
cambios de proceso y otras causas especiales. Aqu todas las familias
de variacin
general.
Z st
Z LT
desv.std ST
dnde:
Zst = variacin a corto plazo.
nom = Valor nominal u objetivo
Zlt = variacin a largo plazo.
Z shift.- A largo plazo los procesos tienen un desplazamiento natural de
1.5 desviaciones estndar, de acuerdo a lo observado por Motorota Inc.
Zlt = Zst-1.5shift
J.M. Juran, Anlisis y planeacin de la Calidad, Tercera Edicin Mc. Graw Hill, Pp.404
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Cp
R
d2
LSE LIE
6 ST
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donde:
Cp
= capacidad potencial
El ndice Cp debe
ser 1.33 para tener el potencial de cumplir con especificaciones (LIE,
LSE)
Los valores Z se determinan como sigue:
ZI
LIE X
ST
ZS
LSE X
ST
Para calcular la ha
bilidad o capacidad real utilizamos la siguiente frmula:
C pk
menor Z I , Z S
3
Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Cpk= debe de ser
1.33 .
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Ejemplo 1:
Tenemos la siguiente serie de datos:
265
197
346
280
265
200
221
265
261
278
215
205
286
317
242
254
235
176
262
248
250
318
263
274
242
260
281
246
248
271
260
265
271
307
243
258
321
294
328
263
245
274
270
293
220
231
276
228
223
296
231
301
337
298
277
268
267
300
250
260
276
334
280
250
257
290
260
281
208
299
308
264
280
274
278
210
283
234
265
187
258
235
269
265
253
254
280
258
Marca de
Frecuencia
clase
199.5
6
219.5
7
239.5
13
259.5
32
279.5
24
299.5
11
319.5
4
339.5
3
Frecuencia
relativa
0.06
0.07
0.13
0.32
0.24
0.11
0.04
0.03
Frecuencia
acumulada
0.06
0.13
0.26
0.58
0.82
0.93
0.97
1
Pgina 10 de 32
299
214
264
267
283
235
272
287
274
269
275
El histograma es el siguiente:
Histogram of Datos
40
Frequency
30
20
10
160
190
210
230
260
Datos
290
310
330
360
N
99
N*
0
Mean
264.19
SE Mean
3.23
StDev
32.15
Minimum
176.00
Q1
248.00
Median
265.00
X 264.19
S = 32.15
La variabilidad del proceso se encuentra en 6 s = 192.90
Si las especificaciones fueran LIE = 200 y LSE = 330
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Q3
280.00
Cp
Zi
Zs
LSE LIE
6S
330 264.19
32.15
200 264.19
C pk
32.15
menor Z I , Z S
3
330 200
192.90
2.046
1.996
2
0.66
3
Ventajas
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Xj
197
200
215
221
231
242
245
Pj
0.025
0.075
0.125
0.175
0.225
0.275
0.325
Pgina 13 de 32
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
258
265
265
271
275
277
278
280
283
290
301
318
346
0.375
0.425
0.475
0.525
0.575
0.625
0.675
0.725
0.775
0.825
0.875
0.925
0.975
como modelo.
Por
ejemplo, slo ms del 20% de los datos del proceso seran valores de
225 o inferiores.
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Probability Plot of Xj
Normal - 95% CI
99
Mean
StDev
N
AD
P-Value
95
90
262.9
38.13
20
0.262
0.667
Percent
80
70
60
50
40
30
20
10
5
150
200
250
300
350
400
Xj
Pj
0.84
0.5
Desv. Estndar
Fraccin
Defectiva
LIE
Xj
X Media
?
impredecible.
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Prediccin
Tiempo
R
S
(Para cartas de control X-R y X-S respectivamente)
d2
C4
Donde,
S = Desviacin estndar de la poblacin
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Ejemplo 3 (carta X - R)
De una carta de control X - R (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo
siguiente, despus de que el proceso se estabiliz quedando slo con
causas comunes: x = 64.06 , R = 77.3
Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:
x media de medias
R
77.3
33.23
d 2 2.326
El C pk
200 264.06
3 33.23
especificaciones.
Ejemplo 4 (carta X - S)
De una carta de control X - S (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo
siguiente, despus de que el proceso se estabiliz quedando slo con
causas comunes: x 100, s 1.05
Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:
x 100
s
1.05
1.117
=
C4
.094
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El C pk
El C p
105 100
3 1.117
105 85
6 1.117
1.492
2.984
Rmedio = 77.3
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C pm
X T
Cp
1V
Cpk
T
1
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(X
i 1
X )2
n 1
C4
4( n 1)
4n 3
LT
S
C4
Pp
LSE LIE
6 LT
donde:
Pp
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El ndice Pp debe
ser 1.33 para tener el potencial de cumplir con especificaciones (LIE,
LSE)
Las variables transformadas Zs son las siguientes:
Zs
LSE X
LT
ZI
LIE X
LT
Ppk
menor Z I , Z S
3
Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Ppk= debe de ser
1 .33.
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Ejercicio 6
De una carta de control X - R (con tamao de subgrupo n = 5), despus
de que el proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes (LIE
= 36, LSE = 46) se obtuvo lo siguiente:
Xmedia de medias = 40
Rmedio = 5
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Mean 264.06
El P value debe ser mayor a 0.05 para que los datos se distribuyan
normalmente
Probability Plot of Datos
Normal
99.9
Mean
StDev
N
RJ
P-Value
99
Percent
95
90
269.3
30.72
100
0.994
>0.100
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
0.1
150
200
250
Datos
300
350
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Mean
StDev
N
AD
P-Value
99
Percent
95
90
269.3
30.72
100
0.317
0.533
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
0.1
150
200
250
300
350
400
Datos
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USL
Within
Overall
Process Data
LSL
200.00000
Target
*
USL
330.00000
Sample Mean
269.25354
SampleN
100
StDev(Within)
30.83472
StDev(O verall)
30.80011
210
Observed Performance
PPM<LSL 10000.00
PPM>USL 30000.00
PPMTotal
40000.00
240
270
300
330
0.70
0.75
0.66
0.66
*
360
Interpretacin:
La desviacin estndar Within se determina en base al Rango medio y
d2 (1.128 para n = 2), con esta se determinan los ndices de capacidad
potencial Cp y Cpk, as como el desempeo Within, lo cual es adecuado
para un proceso en control o normal.
La desviacin estndar Overall se determina con la desviacin estndar
de los datos ajustado por el factor C4.
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I Chart
Capability Histogram
UCL=361.8
320
_
X=269.3
240
160
LCL=176.7
1
10
20
30
40
50
60
70
80
100
210
100
50
270
300
330
360
UCL=113.6
__
MR=34.8
LCL=0
1
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
200
Last 25 Observations
300
400
Capability Plot
Within
StDev 30.83472
Cp
0.70
Cpk
0.66
CCpk
0.70
300
Values
240
Moving Range
90
250
200
Within
Overall
O verall
StDev 30.80011
Pp
0.70
Ppk
0.66
Cpm
*
Specs
80
85
90
Observation
95
100
Pgina 27 de 32
O verall Capability
Pp
*
PPL
*
PPU
0.85
Ppk
0.85
*
*
3.50000
0.82279
100
1.24929
0.88470
O bserved Performance
PPM<LSL
*
PPM>USL 10000
PPMTotal
10000
0.0
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
3,795
PPM
estarn
fuera
de
los
lmites
especificaciones.
3
Los ndices Pp y Ppk son similares a los ndices Cp y Cpk , se refieren a la capacidad del proceso a largo
plazo.
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de
Pgina 30 de 32
b. Nmero de defectos
En este caso se requiere verificar y en todo caso mantener el proceso en
control por medio de una carta C o U con muestra constante por al
menos 25 puntos.
La referencia son el nmero de defectos X que el cliente acepte. Con la
lnea media indicando el promedio de defectos o C media, entramos a la
tabal binomial o de Poisson tomando como Lamda la C media y como X
los defectos aceptables por el cliente.
La probabilidad de aceptacin mnima debe ser de 99.73% equivalente a
un Cp de 1 o de 99.9936% para un Cp de 1.33, cualquier valor inferior
indicar falta de capacidad del proceso.
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A2
1.88
1.023
0.729
0.577
0.483
0.419
0.373
0.337
0.308
D3
D4
3.267
2.574
2.282
2.115
2.004
1.924
1.864
1.816
1.777
0
0
0
0
0
0.076
0.136
0.184
0.223
d2
1.128
1.693
2.059
2.326
2.534
2.704
2.847
2.97
3.078
c4
0.940
0.952
0.959
0.965
0.969
0.973
0.975
0.978
0.979
0.981
0.982
0.984
0.985
0.985
0.986
0.987
0.988
0.988
0.989
0.989
0.990
A
1.342
1.225
1..134
1.061
1.000
0.949
0.905
0.866
0.832
0.802
0.775
0.750
0.728
0.707
0.688
0.671
0.655
0.640
0.626
0.612
0.600
A3
1.427
1.287
1.182
1.099
1.032
0.975
0.927
0.886
0.850
0.817
0.789
0.763
0.739
0.718
0.698
0.680
0.663
0.647
0.633
0.619
0.606
B3
0.000
0.030
0.118
0.185
0.239
0.284
0.321
0.354
0.382
0.406
0.428
0.448
0.466
0.482
0.497
0.510
0.523
0.534
0.545
0.555
0.565
B4
2.089
1.970
1.882
1.815
1.761
1.716
1.679
1.646
1.618
1.594
1.572
1.552
1.534
1.518
1.503
1.490
1.477
1.466
1.455
1.445
1.435
Pgina 32 de 32
B5
B6 .
0.000 1.964
0.029 1.874
0.113 1.806
0.179 1.751
0.232 1.707
0.276 1.669
0.313 1.637
0.346 1.610
0.374 1.585
0.399 1.563
0.421 1.544
0.440 1.526
0.458 1.511
0.475 1.496
0.490 1.483
0.504 1.470
0.516 1.459
0.528 1.448
0.539 1.438
0.549 1.429
0.559 1.420