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EXPERIENCIA N 03

CARACTERIZACIN DE PUERTAS LGICAS:


PUERTA NAND-TTL
I.- OBJETIVO:
El objetivo de esta caracterizar una puerta lgica de uso universal tanto su
entrada como su salida en corriente y voltaje.

II.- INTRODUCCION TEORICA:


El circuito integrado 7400
El circuito integrado (IC, integrated circuit) 7400 es un circuito que consta de
cuatro puertas NAND de tecnologa bipolar TTL. Esta es la primitiva serie
bipolar 74 de alto consumo, a la que luego siguieron series mejoradas que
utilizan transistores Schottky (74LS00), que seran utilizadas en sucesivas
prcticas. La numeracin de pines es la habitual en cualquier IC, se comienza
desde la muesca u se va contando desde ella en sentido contrario a las agujas de
reloj. En concreto para esta serie los pines 7 y 14 corresponden a la masa (GND)
y a la tensin de alimentacin VCC respectivamente. Las entradas y salidas e las
puertas NAND se pueden comprobar en la hoja de especificaciones del integrado.
En los esquemas de puertas lgicas que se emplean para representar los circuitos,
no aparecen las conexiones de alimentacin (GND y VCC), pero se debe recordar
que siempre hay que alimentar al circuito integrado para que sea operativo. Al
alimentar al circuito integrado se alimentan todas las puertas que contienen. Otra
cosa que hay que tener en cuenta es que si utilizamos ms de un IC todos deben
tener una masa comn.

ALUMNO: Kevin Diego Cuayla Crdova

Es muy conveniente, para familiarizarse con el manejo de circuitos integrados,


realizar un esquema de conexiones fsicas (cableado) entre los diferentes pines
del IC.
1.- Construir la tabla de verdad de la funcin NAND previa verificacin en una
de las cuatro puertas NAND del IC. Para esto, se utilizar la fuente de
alimentacin que utilizaremos para alimentar al IC con una tensin VCC = 5V. Las
seales altas y bajas la obtendremos mediante cables auxiliares que conectaremos
a la entrada de las puertas y a GND para obtener una entrada a la puerta en baja,
y a VCC para obtener una entrada a alta. La salida la mediremos con el polmetro
en su funcin voltmetro.
2.- Configurar la puerta NAND para que acte como un inversor de las dos
formas que se muestra en la Figura 1. Una vez configurada comprobar el
comportamiento inversor de cada una de las configuraciones introduciendo una
seal cuadrada TTL (X es una seal oscilante cuadrada entre 0 y 5V) y
visualizando tanto la entrada X como la salida F en el osciloscopio.
Dibujar las formas de ondas de entrada y salida de ambas configuraciones.

Figura 1: NAND actuando como inversor


3.- Conectar en serie dos inversores configurados del primer modo y comprobar
con el osciloscopio alternativamente la salida del primer inversor y del segundo
inversor. Sobre la salida del primer inversor medir los retardos de propagacin
tpHL y tpLH para calcular su promedio tp. Luego medir lo mismo retardos en la
salida del segundo inversor y compararlos con el del primero. Comentar los
resultados.
4.- Utilizar dos puertas NAND del 7400 para construir el circuito equivalente de
una puerta AND, como se muestra en la Figura 2 y comprobar su tabla de verdad.

Figura 2: AND equivalente con puertas NAND


5.- Utilizar tres puertas NAND del 7400 para construir el circuito equivalente de
una puerta OR, como se muestra en la Figura 3 y comprobar su tabla de verdad.

ALUMNO: Kevin Diego Cuayla Crdova

Figura 3: OR equivalente con puertas NAND


6.- Demostrar mediante el lgebra de Boole las equivalencias de los anteriores
circuitos (puntos 2, 4 y 5).
Las equivalencias mostradas en los circuitos equivalentes o propiedad universal
de las puertas NAND nos demuestra que cualquier funcin booleana puede
realizarse mediante exclusivamente puertas NAND. Una vez que disponemos de
las funciones NOT, OR y AND realizadas mediante puertas NAND, cualquier
funcin por compleja que sea puede ser realizada mediante puertas NAND. Esto
es demostrable mediante el lgebra de Boole y las funciones estndar suma de
productos y productos de sumas.
III.- ELEMENTOS A UTILIZAR:
- 01 Circuito Integrado 7400.
- 01 Potencimetro lineal de 5 K.
- 01 Resistencia de 100 - W.
- 01 Voltmetro digital.
- 01 Miliampermetro digital.
IV.- PROCECIMIENTO
4 .1. Medida de las caractersticas I-V de entrada y salida.
Junto a la caracterstica de transferencia de voltaje (VTC, voltage transfer
characteristic) dada por Vout = f (Vin), que ya medimos para el caso de un inversor
discreto en la Experiencia 02, la otra curva de caracterizacin de las puertas
lgicas es la caracterstica I-V de entrada y salida, que nos indica la dependencia
entre la intensidad de corriente y el voltaje para la entrada y salida de la puerta
lgica.
1.- Medir, mediante el circuito que se muestra en la Figura 4, la intensidad de
corriente en la entrada de la puerta NAND. Medir Iin conforme se va
disminuyendo la tensin de entrada Vin desde +5V hasta +1V. Construir la grfica
correspondiente y extrapolar el valor de Iin para el voltaje umbral de la puerta
para la salida baja (VinL = 0,4V). Este valor se denomina IIL.
Los valores obtenidos de intensidad estarn en los rangos de los miliamperios,
por lo que hay que tener extremo cuidado en poner el rango del ampermetro
correctamente. Otro enorme cuidado hay que poner al utilizar el multmetro
como ampermetro ya que debe estar en serie y no en paralelo para realizar la
medida.

ALUMNO: Kevin Diego Cuayla Crdova

Figura 4: Caracterstica de entrada Iin = f (Vin)


2.- Comprobar que no es posible llevar la fuente de tensin para Vin a ese valor.
Razonar por qu sucede esto teniendo en cuenta que estamos efectuando una
medida esttica.
Es conveniente aadir una resistencia R=100 en paralelo a la entrada de la
puerta para facilitar la medida de intensidad.
3.- Mediante el circuito de la Figura 5, medir la caracterstica de salida para una
salida baja.
Los valores se van obteniendo al modificar el valor de la resistencia variable.
La medida de la intensidad de corriente debe efectuarse con el multmetro o bien
indirectamente mediante la ley de Ohm y; la del voltaje de salida bien utilizado el
multmetro o bien mediante el osciloscopio. En cualquier caso, hay que poner
gran cuidado en intercambiar para cada medida las conexiones y la funcin del
multmetro.
Una vez tomadas las medidas, representar grficamente los valores obtenidos
para la funcin Iout = f (Vout).
4.- Extrapolar el valor de Iout para el voltaje V = 0,4V, que corresponde al voltaje
umbral de la entrada de una supuesta puerta que se conectar en serie. Este valor
de Iout se denomina IOL.

ALUMNO: Kevin Diego Cuayla Crdova

Figura 5: Caracterstica de salida Iout = f (Vout) para salida baja


4.2. Clculo de los parmetros de funcionamiento de la puerta NAND
A partir de magnitudes que se han medido en apartados anteriores, calcular las
siguientes figuras de mrito que describen las prestaciones de las puertas NANDTTL-LS.
1.- El fan-out, FO, es el nmero mximo de puertas de carga que pueden
conectarse a la salida de una puerta dada sin impedir su correcto funcionamiento.
Depende en una primera aproximacin de la cantidad de corriente que puede
aportar a las puertas que ataca y de la cantidad de corriente que stas consumen,
es decir:

En apartados anteriores se ha calculado IOL e IIL, a partir de esos valores calcular


el fan-out.
2.- El consumo de potencia de una puerta lgica viene dada por la expresin:

Donde las corrientes IOH e IOL que aparecen son las corrientes de salida para una
salida alta y baja respectivamente. En apartados anteriores se ha calculado IOL,
por lo que es necesario efectuar una medida para una salida alta, como se muestra
en la Figura 6 y obtener IOH midiendo sobre el siguiente circuito, en este caso es
necesario fijar la resistencia variable de forma que Vout = VIL = +0,4V y tomar
solamente el valor de Iout para este voltaje, es decir IOH.

ALUMNO: Kevin Diego Cuayla Crdova

3.- A partir de los datos medidos en los anteriores puntos se puede calcular
fcilmente el producto velocidad-potencia, que viene dado por:

Figura 6: Caracterstica de salida Iout = f (Vout) para salida alta


V.- OBSERVACIONES Y CONCLUSIONES
Dar sus observaciones y conclusiones de forma personal, en forma clara y
empleando el menor nmero de palabras.

ALUMNO: Kevin Diego Cuayla Crdova