Introduccin a la Fsica Experimental

Gua de la experiencia
Introduccin a la interferometra de las ondas luminosas:
I-Determinacin de la longitud de onda de una luz,
II-Anlisis cualitativo de fenmenos de polarizacin,
III-Determinacin del ndice de refraccin de un gas y
IV-Determinacin del ndice de refraccin de un slido
utilizando un interfermetro de Michelson.
Departamento de Fsica Aplicada.
Universidad de Cantabria
Junio 1, 2005
Tenga en cuenta que la lectura previa de esta gua y la comprobacin de
las ecuaciones le llevar del orden de tres horas, incluyendo la consulta
de las palabras clave, y que la lectura de la bibliografa especfica en
ingls le llevar entre una y dos horas.
Resumen
Se describe el funcionamiento del interfermetro de Michelson. Se utiliza
este dispositivo para determinar la longitud de onda de una luz lser HeNe. Se observan experimentalmente algunos fenmenos asociados con la
polarizacin de la luz. Finalmente, se determina el ndice de refraccin
del aire a diferentes presiones en torno al valor de la presin atmosfrica y
de un vidrio.

Introduccin terica (I): Interferencias de las ondas de luz.

Las ecuaciones de Maxwell describen matemticamente las ondas electromagnticas. Estas
ondas resultan ser campos ondulatorios1 elctricos E y magnticos B mutuamente perpendiculares que se propagan en el espacio con la misma velocidad, longitud de onda, frecuencia
y fase (Fig. 1).
El espectro electromagntico corresponde al rango de longitudes de onda (k=2/ ) y
frecuencia (=/2) que nos resultan de mayor inters. El rango de frecuencias que pueden
detectarse con el ojo humano se denomina espectro visible. Una onda electromagntica
armnica caracterizada por una determinada frecuencia contenida en el espectro visible
constituye una luz monocromtica. Un haz de luz designa una onda (o conjunto de ondas) de
campos elctricos y magnticos oscilantes que viajan en una direccin del espacio. Cuando
dos o ms haces de luz se encuentran en un punto del espacio, estos campos se suman de
acuerdo con el principio de superposicin 2. As, en ese punto, se producen interferencias.
1

Consulte y escriba la definicin de todos los conceptos que aparecen en letra cursiva en este texto.
Defina este principio despus de consultar las pgs. 549 y 550 del libro: Eisberg-Lerner, Physics, ed.
MCGrawHill (1981).
2

Si cada haz de luz se origina a partir de una

fuente separada, generalmente, no hay una
relacin constante entre las oscilaciones
electromagnticas de los haces. En cualquier
instante de tiempo, habr puntos del espacio
donde los campos se suman para producir un
mximo de intensidad de luz. Sin embargo, las
Figura 1: Representacin esquemtica de una
oscilaciones de la luz visible son ms rpidas de
onda electromagntica en un instante t. La
lo que el ojo humano puede apreciar. Puesto que
onda se propaga hacia la derecha con
no hay relacin entre las oscilaciones, un punto
velocidad c. Ey=E0 sen(kx-2t), Bz=B0
en el cual hay un mximo en un instante dado
sen(kx-2t), en donde k es el nmero de
ondas y la frecuencia. (Tomada de la Ref.
puede tener un mnimo en el siguiente instante.
[2]).
El ojo humano promedia estos resultados y
percibe una intensidad uniforme de luz.
Si dos haces de luz se originan a partir de la misma fuente, generalmente, hay algn grado
de correlacin entre la frecuencia y la fase de ambas oscilaciones. En un punto del espacio,
las luces de los dos haces pueden estar continuamente en fase. En este caso, el campo
resultante siempre tendr un mximo en ese punto y se ver como un punto brillante estable.
La interferencia que se produce es permanente ( y, por tanto, el ojo humano puede observarla).
Thomas Young 3 fue uno de los primeros que dise un mtodo para producir tal patrn de
interferencia. Hizo incidir un haz de luz estrecho sobre dos rendijas estrechas y prximas y
coloc enfrente de ellas una pantalla. Cuando la luz procedente de las dos rendijas incide en la
pantalla, se observa un patrn regular de bandas de luz y oscuridad ( esto supone una
evidencia de la naturaleza ondulatoria de la luz). Las rendijas de Young pueden ser utilizadas
como un interfermetro sencillo. Si el espaciado entre las rendijas es conocido, el espaciado
de mximos y mnimos puede ser utilizado para determinar la longitud de onda de la luz y
viceversa.
Interfermetro de Michelson
En 1881, 78 aos despus de que Young introdujese su experimento de doble rendija, A.
Michelson dise y construy un interfermetro utilizando un principio similar. Aunque,
originalmente, Michelson dise su interfermetro4 como un medio para probar la existencia
del ter5, con posterioridad, fue ampliamente utilizado como instrumento para medir la
longitud de onda de una luz, para medir distancias extremadamente pequeas y para investigar propiedades de medios pticos.
La Fig. 2 muestra un diagrama de un interfermetro de Michelson. El haz de luz lser6
atraviesa el separador de haz, el cual refleja el 50% de la luz incidente y transmite el otro
3

Encontrar una breve resea biogrfica de este cientfico en la pg. 965 del libro: Gettys-Keller-Skove, Fsica
clsica y moderna, ed. MCGrawHill (1991).
4
Consulte una breve descripcin de este dispositivo en la pg. 964 del libro: Gettys-Keller-Skove, Fsica clsica
y moderna, ed. MCGrawHill (1991).
5
El ter era un hipottico medio, de propiedades muy peculiares, en el que la luz se propagaba. Debido, en parte,
a los esfuerzos de Michelson, se desech tal idea.
6
La palabra lser proviene de las siglas de su nombre en ingls light amplification by stimulated emisin of
radiation (amplificacin de luz mediante la emisin estimulada de radiacin). La luz lser tiene tres
caractersticas que la diferencian de la luz ordinaria: es monocromtica, es muy coherente y est bien colimada.
Consulte una breve descripcin de la luz lser en la pg. 1112 del libro: Gettys-Keller-Skove, Fsica clsica y

50%. As, el haz incidente se divide en dos haces. Un haz se transmite hacia el espejo mvil
M1 y el otro se refleja hacia el espejo fijo M2. Ambos espejos reflejan la luz hacia atrs, hacia
el separador del haz. La mitad de la luz procedente de M1 se refleja desde el separador hacia
la pantalla y la mitad de la luz procedente de M2 se transmite a travs del separador del haz
hacia la pantalla. De esta forma, el haz original de luz se separa y parte de los haces
resultantes se vuelven a reunir. Puesto que los haces proceden de la misma fuente, sus fases
estn altamente correlacionadas. Cuando se coloca una lente entre la fuente de luz y el
separador, el haz se dispersa y en la pantalla se observa un patrn de interferencias de anillos
brillantes (haces en fase) alternados con anillos oscuros (haces en oposicin de fase).
Puesto que los dos haces de luz que interfieren proceden del mismo haz inicial, estaban
inicialmente en fase. Su fase relativa, cuando se encuentran en cualquier punto de la pantalla,
depende, por tanto, de la diferencia en la longitud de sus caminos pticos cuando alcanzan ese
punto:
l
= .
(1)
2
La diferencia de fase y la diferencia de camino son directamente proporcionales.
Moviendo M1, la longitud del camino de uno de los haces puede ser modificada. Puesto
que el haz atraviesa el camino entre M1 y el separador dos veces, moviendo M1 hacia el
separador de longitud de onda, el separador reducir el camino ptico de ese haz en de
longitud de onda. El patrn de interferencia cambiar. Los radios de los mximos se reducirn
de manera que ahora ocuparn la posicin de los mnimos. Si M1 se mueve otro de longitud
de onda hacia el separador, los radios de los mximos se volvern a reducir, de manera que
mximos y mnimos intercambian sus posiciones, pero esta nueva disposicin de los anillos
ser indistinguible del patrn original.

Divisor
de haz

lente

Pantalla
Placa compensadora

Espejo fijo
Espejo
mvil

Figura 2: Esquema del dispositivo interferomtrico de Michelson. (Tomada del manual

Ref. 012-05187B de PASCO).

Moviendo lentamente el espejo M1 una distancia dm (de manera que la diferencia de

camino sea 2dm) y contando m, el nmero de veces que el patrn de anillos recupera su forma
original (para que la diferencia de fase sea un nmero entero de veces 2), segn la eq. (1), la
longitud de onda de la luz, , puede ser calculada como = 2dm/m, o bien, conocida , se
puede calcular dm.
moderna, ed. MCGrawHill(1991). Ah mismo, encontrar una descripcin del lser helio-nen que utilizar en
este experimento.

Introduccin terica (II): Polarizacin de la luz.

Las ondas transversales tienen una propiedad que no poseen las ondas longitudinales y
que se denomina polarizacin. Se puede conseguir una onda polarizada a partir de una que no
lo est mediante un polarizador. La amplitud de la onda despus de haber pasado una
estructura polarizadora queda reducida ya que slo pasa, a travs del polarizador, la
componente de la onda que es paralela a la direccin de polarizacin. Las ondas electromagnticas son transversales. Se toma la direccin del campo elctrico como direccin de
polarizacin (ver Fig. 3). Si el vector campo elctrico se orienta siempre a lo largo de una
cierta direccin, se dice que la onda est linealmente polarizada. El efecto que producen las
gafas de sol, de reducir el brillo
deslumbrante de la luz solar, se
basa en el hecho de que la luz
es una onda transversal susceptible de ser polarizada. La
luz que se refleja en las superficies lisas tiende a estar polarizada. La radiacin de un
solo tomo est polarizada pero
la emisin de muchos tomos,
Figura 3: Onda de luz plano-polarizada. La onda se propaga hacia +x
y el plano de polarizacin es el plano xy. (Tomada de la Ref. [2].
como se realiza al azar, produce
un haz que no est polarizado.

Introduccin terica (III): En un gas, la longitud de onda de una luz que lo atraviesa
vara con el ndice de refraccin (n) y ste, a su vez, depende de la presin. Esto permite
disear una tcnica para medir n en un gas (aire).

En general, un interfermetro puede ser utilizado de dos formas. Introduciendo cambios

especficos en el camino del haz, puede obtenerse informacin acerca de la fuente de luz que
es utilizada. Es lo que ha aplicado en la primera parte de este experimento. Por otra parte, si
las caractersticas de la fuente de luz son conocidas con precisin, se pueden producir cambios
en el recorrido del haz y estudiar sus efectos en el patrn de interferencia. Esto ltimo se
aplica en el siguiente experimento.
En el interfermetro de Michelson, las caractersticas del patrn de interferencias dependen
de la relacin de fase entre los dos haces que interfieren. Hay dos formas de cambiar la
relacin de fase. Una forma es modificar la distancia que viaja uno de los haces, moviendo el
espejo mvil, por ejemplo (tal como se hizo en la Parte I). Otra forma consiste en cambiar el
medio a travs del cual pasa uno de los haces. Cualquiera de los dos mtodos modifica el
patrn de interferencias. En el siguiente experimento, utilizar el segundo mtodo para
determinar el ndice de refraccin del aire.
Para la luz de una frecuencia especfica, la longitud de onda vara de acuerdo con la
frmula = 0/ n, donde 0 es la longitud de onda de esa luz en el vaco y n es el ndice de
refraccin del material en el cual se propaga la luz. Para razonables bajas presiones, el ndice
de refraccin de un gas vara linealmente con la presin. Cuando la presin es cero, el ndice
de refraccin es 1. Determinando experimentalmente la pendiente de la recta ndice de
refraccin vs presin, puede determinarse el ndice de refraccin a diferentes presiones.
Cuando el haz de luz lser viaja hacia adelante y hacia atrs, entre el separador de haz y el
espejo mvil, pasa dos veces a travs de la celda de aire (ver Fig.4). Fuera de la celda, las
longitudes de los caminos pticos de los dos haces que interfieren no cambian a lo largo del
4

experimento. Dentro de la celda, sin embargo, la longitud de onda de la luz se hace mayor a
medida que se reduce la presin.
Supngase que, inicialmente,
el espesor de la celda d fuera
equivalente a 10 veces . Al
evacuar la celda, aumenta de
manera que ahora la longitud d
es 9.5 veces . Puesto que el haz
de luz pasa dos veces a travs de
Figura 4: En uno de los brazos del interfermetro de Michelson se
la celda, la luz viaja dentro de la
ha interpuesto una celda de aire de espesor d. (Tomada del manual
celda realizando una oscilacin
Ref. 012-05187B de PASCO).
menos. Esto tiene el mismo
efecto en el patrn de
interferencias que mover el espejo mvil hacia el separador del haz 0.5. En ambos casos,
transcurre un anillo en el patrn.
Inicialmente, hay Ni=2d/i longitudes de onda dentro de la celda (contando ida y vuelta). A
la presin final, hay Nf=2d/f longitudes de onda dentro de la celda. La diferencia entre los
valores Ni - Nf es justamente N, el nmero de anillos que usted contar al evacuar la celda.
Por tanto, N= 2d/i -2d/f.
Sin embargo, i =0/ni y f =0/nf, donde ni y nf representan, respectivamente, los valores
inicial y final del ndice de refraccin del aire que est dentro de la celda. Entonces,
N = 2d (ni nf)/0 ; as, ni nf = N0/2d.
ni n f
N0
=
,
La pendiente de la recta n vs P es:
Pi Pf
2d(Pi Pf )
donde Pi y Pf representan, respectivamente, los valores inicial y final de la presin, 0 , la
longitud de onda de la luz en el vaco y d, el espesor de la celda de aire (d= 3.0 cm).
Introduccin terica (IV): Descripcin de otra tcnica, aplicable a slidos transparentes
(vidrio), para determinar el ndice de refraccin.

La tcnica descrita anteriormente para determinar el ndice de refraccin de un gas, que

conlleva modificar lentamente la densidad de la sustancia en estudio, obviamente, no es
adecuada cuando se trata de un slido. En su lugar, aplicaremos otra tcnica basada en
modificar el camino ptico recorrido por uno de los haces de luz, variando el espesor de
sustancia atravesado.
Si una placa
plano-paralela de
ndice de refraccin n se inserta
en posicin normal al camino de
uno de los haces
que atraviesan
los brazos de un
interfermetro de
Figura 5: En uno de los brazos del interfermetro de Michelson se ha interpuesto una
Michelson (ver
placa de vidrio de espesor t. (Tomada del manual Ref. 012-05187B de PASCO).
Fig. 5), se pro5

duce un incremento del camino ptico que

es funcin del espesor de material
atravesado. Si se gira la placa un pequeo
ngulo, el camino de la luz cambiar y el
nmero de anillos N que se desplazan
debido a este cambio se puede conocer. El
cambio producido en el camino ptico
depende del espesor de la placa de vidrio,
del ngulo que se ha girado y del ndice de
refraccin. Sea OP (ver Fig. 6) la
direccin original de la luz, normal a la
placa de espesor t. El camino ptico entre
a y c es nt+ bc. Cuando la placa se gira un
Figura 6: Consideraciones geomtricas de rayos
de luz atravesando un vidrio de espesor t.
ngulo , el camino ptico es ahora ad . n
(Tomada de la referencia [3]).
+ de. Por tanto, el incremento de camino
ptico es 2(ad . n + de nt- bc), ya que la
luz atraviesa la placa dos veces. Para la
luz monocromtica de longitud de onda 0, ese incremento es N0, donde N es el n de anillos
desplazados al girar la placa el ngulo. Es decir, 2(ad . n + de nt- bc) = N. A partir de
esta expresin se puede obtener n = f( t, N, 0, cos ) 7, es decir,

Obtngala consultando el libro de Georges S. Monk, Principles and experiments, Dover publ. (1963),
pg. 376 y ss.

Descripcin del material

Para llevar a cabo este tipo de experiencias se utiliza el siguiente material:

Interfermetro de precisin (modo Michelson ):
Lente de 18 mm de focal,
Plataforma base (5 kg) con tornillo
Difusor,
micromtrico,
Celda de vaco,
Espejo ajustable,
Dos polarizadores,
Espejo mvil,
Puntero giratorio,
Separador de haz,
Bomba de vaco con manmetro,
Placa compesadora,
Lser He-Ne (OS-9171) con soporte
Dos soportes magnticos,
(OS-9172).
Pantalla con escala,
Primera parte: Determinacin de la longitud de onda de una luz lser.
Modo operativo

Una vez alineado el lser y dispuesto el interfermetro en el modo Michelson (labor

que realiza el profesor), de manera que se observe claramente el patrn de interferencias
en la pantalla, ajuste el micrmetro en la posicin aproximada de 50 m (1m =10-6 m).
En esta posicin, la relacin entre la lectura del tornillo y el movimiento del espejo es
lineal.
Gire el micrmetro una vuelta completa en sentido antihorario. Contine girando el
tornillo hasta que el cero del tornillo est alineado con la marca ndice.
Ajuste la posicin de la pantalla de manera que las marcas de la escala milimtrica
estn alineadas con uno de los anillos del patrn de interferencia. Ser ms fcil contar
los anillos si la marca de referencia est uno o dos anillos alejada del centro del patrn.
Anote la lectura inicial del micrmetro.
Gire el micrmetro lentamente en sentido antihorario. Cuente los anillos cuando
pasen por la marca de referencia. Contine hasta que un predeterminado nmero de
anillos hayan pasado la marca ( al menos cuente 20). Al terminar de contar, el patrn
debe ser el mismo que al principio, cuando empez a contar. Anote la lectura final del
micrmetro.
Anote dm, la distancia que el espejo se ha movido hacia el separador del haz, de acuerdo
con las lecturas del tornillo micromtrico. Recuerde que cada divisin del tornillo
corresponde a 1m 8 del movimiento del espejo.
Anote el nmero N de anillos que han pasado.
Repita este procedimiento tres veces.
Calcule la longitud de onda de acuerdo con la teora estudiada.
Presente los datos tabulados y calcule los errores segn las normas.
Consulte en el espectro electromagntico qu color corresponde a la longitud de
onda obtenida.
Elabore el informe correspondiente a este experimento segn las normas.

Consulte con el profesor.

Tenga presente las siguientes tcnicas que ayudan a realizar las medidas en las
mejores condiciones:
1. No es necesario que el patrn de interferencias sea perfectamente simtrico. Tanto
mejor se puedan distinguir los mximos de los mnimos, tanto ms precisas
sern las medidas.
2. Es fcil perder la cuenta del nmero de anillos. Se sugiere la siguiente tcnica
para facilitarla:

centre el patrn de interferencia en la pantalla, utilizando los

tornillos que hay en la parte trasera del espejo fijo,

seleccione una lnea de referencia en la escala milimtrica y

superpngala con el contorno entre un mximo y un mnimo,

mueva el tornillo micromtrico hasta que el contorno entre el

siguiente mximo y mnimo alcance la misma posicin que el
primer contorno ( el patrn de interferencia debe tener el mismo
aspecto que el inicial),

as contar el paso de 1 anillo.

3. Cuando gire el tornillo micromtrico para contar anillos, hgalo siempre (muy
suavemente) una vuelta completa, antes de empezar a contar, y contine
girndolo en el mismo sentido mientras cuenta. Proceder de esta manera
elimina, casi enteramente, los errores debidos a la holgura del cambio de
sentido en el movimiento del tornillo. Girando el tornillo en sentido horario, el
espejo se mueve hacia la derecha.
Un tornillo en la base del micrmetro permite ajustar la tensin del mismo para tener
el control ptimo sobre el movimiento del espejo.
Segunda parte: Anlisis cualitativo de fenmenos de polarizacin.
Reflexiones previas a la realizacin del experimento

1. Consulte en bibliografa diferentes formas de producir luz polarizada9 y

resmalas por escrito.
2. Qu es un analizador?
3. Qu dice la ley de Malus?

Modo operativo

1. Coloque un polarizador entre el lser y el separador del haz. Proponga algunos

ngulos de polarizacin. Cmo afecta al brillo y claridad del patrn de
interferencias?
2. Quite ese polarizador y colquelo enfrente del espejo fijo o del mvil. Intente
varios ngulos de polarizacin. Cmo afecta al patrn?
3. Ahora coloque dos polarizadores, uno enfrente del espejo fijo y otro, enfrente
del mvil. Primero gire un polarizador y, luego, el otro. Anote los efectos que
observa.
4. Haga una interpretacin fsica, por escrito, de lo que ha observado.

Pg. 534 y ss. del libro: Kane-Sternheim, Fsica, ed. Revert, (1989).

Preguntas adicionales relacionadas con la experiencia

1. Basndose en las observaciones realizadas, explique qu papel juega la

polarizacin en la produccin de un patrn de interferencias.
2. Cierta luz sin polarizar de intensidad I0 atraviesa tres filtros Polaroid sucesivos.
El eje del segundo forma con el del primero un ngulo de 45 y el del tercero
forma con el del segundo otros 45, de modo que es perpendicular al del
primero. Cul es la intensidad final despus del ltimo filtro? Si se quita el
segundo filtro, sin modificar los otros, cul es la intensidad final?
Tercera parte: Determinacin del ndice de refraccin del aire.
Modo operativo

Una vez alineado el lser y dispuesto el interfermetro en el modo Michelson (labor que
realiza el profesor),
Coloque el puntero giratorio entre el espejo mvil y el separador del haz (en el alojamiento
reservado rotational pointer).
Coloque la celda de vaco en su sitio (ver figura 5).
Ajuste el alineamiento del espejo fijo de manera que el centro del patrn de interferencia
sea claramente visible sobre la pantalla. (El patrn puede estar deformado en cierta medida
debido a irregularidades en las superficies de vidrio que limitan la celda de aire, pero eso no
es un impedimento para tomar las medidas correctamente).
Para obtener medidas precisas, las caras que delimitan la celda de aire deben ser
perpendiculares al haz de luz. Cmo se asegura usted de ello?
Asegrese tambin de que la presin en el interior de la celda es la presin atmosfrica, lo
cual ocurre cuando el indicador del manmetro marca cero (recuerde que la lectura del
manmetro representa la diferencia entre la presin atmosfrica y la presin en el interior de
la celda).
Anote la lectura inicial del manmetro, Pi.
Evacue lentamente el aire de la celda y cuente los anillos N que transcurren.
Anote N y la presin final Pf que marca el manmetro.
Repita el procedimiento varias veces.
Presente los datos tabulados y calcule los errores segn las normas.
Calcule la pendiente de la curva n vs P y represntela grficamente.
Elabore el informe correspondiente a este experimento segn las normas.
Preguntas adicionales relacionadas con la experiencia

1. Cunto vale, segn su experimento, el ndice de refraccin del aire a una

atmsfera de presin?
2. Ha supuesto un comportamiento lineal de n con P. Cmo puede evaluar esta
hiptesis?
3. El ndice de refraccin de un gas depende de la presin y tambin de la
temperatura. Describa un posible experimento en el que pudiera estudiar la
dependencia del ndice de refraccin del aire con la temperatura.

Cuarta parte: Determinacin del ndice de refraccin de un vidrio.

Modo operativo

Una vez alineado el lser y dispuesto el interfermetro en el modo Michelson (labor

que realiza el profesor),
Coloque el puntero giratorio entre el espejo mvil y el separador del haz (en el
alojamiento reservado rotational pointer).
Determine el espesor de la placa de vidrio y colquela en su sitio (ver figura 5).
Alinee el cero del nonius con el de la escala principal sobre la base del
interfermetro.
Asegrese de que la placa se ha colocado normal al haz. Para ello, retire la lente y
coloque la pantalla de visualizacin entre la placa y el espejo mvil y ajuste el ngulo de
manera que slo vea un punto brillante en la pantalla. Haga entonces la lectura del cero.
Vuelva a colocar la lente y la pantalla en su sitio y compruebe que ve en esta ltima
los anillos de difraccin con claridad .
Gire lentamente la placa con ayuda del puntero. Cuente el n de anillos que se han
desplazado cuando ha girado un ngulo ( al menos 10 grados). Repita esta medida
varias veces y para varios ngulos.
Utilizando la expresin que ha obtenido en el apartado de teora n = f( t, N, , cos),
calcule el ndice de refraccin. Utilice el valor de obtenido en la primera parte.
Presente los datos tabulados y calcule los errores segn las normas.
Elabore el informe correspondiente a este experimento segn las normas.
Preguntas adicionales relacionadas con la experiencia

1. Qu porcentaje de error se introduce en la medida de n, si el error del ngulo

es de 10 minutos, si el error del espesor de la placa t es 0.005 mm si el n de
anillos N lleva un error de 5?
Referencias

Eisberg-Lerner, Physics. Ed. MCGrawHills (1981)

Gettys-Keller-Skove, Fsica clsica y moderna. Ed. MCGrawHills (1991)
Georges S. Monk, Principles and experiments. Dover publ. (1963)
Kane-Sternheim, Fsica. Ed. Revert, (1989)
Yu Hao, Q Cheng, L Zhen-di, A ripple tank demonstration of the conditions for the
interference of waves, Am, J. Phys. 56, 745-746 (1989)
[6] W. A. Hilton, Index of refraction of air, The Physics Teacher 6, 176 (1968)
[7] D. Cheetham and T W Eaton, An interferometric method of measuring some
physical properties of solids, Phys. Education 8, 350-355 (1973)
[8] TPT(38)142n(2000) B S Perkalskis, J. R. Freeman, Herschels interference
demonstration, The Physics Teacher 38, 142 (2000)

[1]
[2]
[3]
[4]
[5]

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