INSTITUTO POLITCNICO NACIONAL

ESCUELA SUPERIOR DE INGENIERA

MECNICA Y ELCTRICA
UNIDAD ZACATENCO

PROTOTIPO DE UN INTERFERMETRO DE MICHELSON

DR CARLOS TORRES TORRES

OBJETIVO

Realizar el diseo de un interfermetro de Michelson para de estudiar una de las

propiedades ondulatorias de la luz, la interferencia; y aplicar los conocimientos
para la medida (interferometra) de longitudes de onda o distancias.

METAS CUMPLIDAS

Se logr el objetivo de crear un interfermetro de Michelson en base a un sistema

de espejos sobre una palca de metal y un sistema de tornillos que ajusta la
distancia a la cual incide en haz de lser.

RESUMEN

En este reporte de prototipo se desarrolla el diseo y la implementacin de un

sistema que trabaja mediante interferometra de luz lser, para medir pequeos
desplazamientos, as como la medicin de longitudes de onda, que facilitarn el
anlisis de algunos elementos.
El sistema empleado es un interfermetro de Michelson, que trabaja mediante
interferometra de luz lser. El dispositivo genera patrones de franjas, ya que hace
interferir dos haces de la misma fuente de luz, mediante un arreglo de espejos
perpendicularmente ubicados, con un divisor de haz al centro.
Los patrones obtenidos varan respecto a la modificaciones que se realicen a los
caminos pticos (esto se refiere a las modificaciones en el ndice de refraccin,
variacin en la longitud del camino ptico, vibraciones, etctera), lo cual genera
una transicin de franjas directamente proporcionales a estos cambios. El
interfermetro se mantuvo en un ambiente estable, dejando nicamente que la
variacin en el patrn de franjas estuviera afectado por el cambio de la longitud del
camino ptico.

INTRODUCCIN

Un rayo de luz es una onda electromagntica, de campos E y B variables. Cuando

dos rayos de luz se encuentran, los campos se superponen, y en cada punto del
espacio el vector E o B ser la suma vectorial de los campos de los rayos
individuales. Si los dos haces de luz provienen de fuentes distintas, en general no
hay relacin constante entre los campos de cada haz, de manera que cuando
estos se superponen el campo resultante oscila con el tiempo, y el ojo humano
percibe una intensidad promedio uniforme.
Si los dos haces proceden de la misma fuente, estarn correlacionados en
frecuencia y fase. De esta forma, cuando los rayos se superponen (interfieren) se
producir una interferencia constructiva si el estado de fase es el mismo, y se
tendr un mximo en intensidad. Si, por el contrario, los campos se encuentran en
oposicin de fase, la superposicin supondr la anulacin del campo total, y se
produce un mnimo (cero) en la intensidad.
Thomas Young fue el primero en disear un mtodo para producir y visualizar los
mximos y mnimos de intensidad descritos anteriormente. La luz que, procedente
de una misma fuente, llega a una pantalla tras haber atravesado dos rendijas
estrechas y juntas,
Qu es un interfermetro?
Es un instrumento que emplea la interferencia de las ondas de luz para medir con
gran precisin longitudes de onda de la misma luz.
Hay muchos tipos de interfermetro, aplicados para la ciencia; esta rea de
aplicaciones es realmente amplia; y la cantidad de interfermetros realizados para
estas reas es muy importante. Tal es el caso del interfermetro Fabry-PErot, el
interfermetro Heterodino, interfermetro solar, etc.

Su principal caracterstica es que es un haz de lser que incide en un porta

objetos que lo separa el dos trayectorias pticas distintas, determinadas por un
sistema de espejos y placas que finalmente forman un patrn de interferencia 1.
Aunque inicialmente Michelson dise este interfermetro (1881) para detectar el
ter, una vez que fue imposible demostrar su existencia se utiliza su dispositivo
para medir longitudes de onda o para, conocida la longitud de onda de una fuente
emisora, medir distancias muy pequeas o ndices de refraccin de distintos
medios.
Un rayo procedente del lser es desdoblado mediante un espejo semitransparente
(espejo que refleja slo el 50% de la luz que incide sobre l, dejando pasar el otro
50%). Uno de los rayos se refleja en un espejo fijo, y el otro en un espejo mvil.
Ambos rayos vuelven a juntarse en una pantalla. Sobre la pantalla vemos la
superposicin o interferencia de los dos haces de luz, cuyas fases (estados de
oscilacin de los campos), estn altamente correlacionadas por proceder de la
misma fuente. Si con una lente abrimos el haz justo antes de ser desdoblado, se
podr observar en pantalla el modelo de interferencia formado por anillos
alternativamente claros y oscuros2.

MTODO

La figura 1 muestra un diagrama del interfermetro diseado originalmente por

Michelson para probar la existencia del ter, medio hipottico en el cual se
propagaba la luz.

Figura 1. Diagrama del interfermetro de Michelson

El haz luminoso emitido por el lser incide sobre el divisor de haz, el cual refleja el
50% de la onda incidente y transmite el otro 50%. Uno de los haces se transmite
hacia el espejo mvil M1 y el otro se refleja hacia M 2. Ambos espejos reflejan la luz
hacia el separador de haces, de forma que los haces transmitido y reflejado por
este ltimo se recombinan sobre la pantalla de observacin 3.
Como los haces que interfieren sobre la pantalla provienen de la misma fuente
luminosa, la diferencia de

fase se mantiene constante y depende solo de la

diferencia de camino ptico recorrido por cada uno. Por lo tanto, las franjas
generadas por el interfermetro se pueden visualizar sobre la pantalla mediante la
colocacin de un lente convergente de corta distancia focal entre el lser y el

divisor de haz. La Figura 2 muestra el patrn de interferencia del interfermetro de

Michelson4.

Figura 2. Franjas de Michelson

El camino ptico de uno de los haces se puede variar desplazando el espejo M1.
Si dicho espejo se desplaza /4 alejndose del divisor de haz, el camino ptico de
ese haz aumentar el /2. Las franjas de interferencia cambiar de modo que le
radio de los mximos aumentar y ocupar la posicin de los mnimos iniciales. Si
el espejo M1 se desplaza en una distancia adicional de /4, el nuevo sistema de
franjas producido ser indistinguible del original.
Por lo tanto, desplazando lentamente el espejo en una distancia d y contando el
nmero m de franjas que van pasando por un punto dijo de la pantalla, la longitud
de onda de la luz se puede calcular como
=

2d
(1)
m

Los espejos disponen de tornillos de ajuste para facilitar el alineamiento de los

haces. El movimiento del espejo mvil se controla y mide con un tornillo

micromtrico, del que cada divisin corresponde a una micra (10-6 m) de

desplazamiento del espejo mvil.

Figura 3. Distribucin de tornillos del interfermetro.

Alineacin de interfermetro

Posicionar el lser sobre el soporte respectivo, el cual se ubicar a la izquierda del

interfermetro.
Colocar el espejo Mvil M1 sobre la base del interfermetro y ajustar los tornillos.
Nivelar el soporte del lser mediante los tornillos respectivos de forma que el haz
generado sea paralelo a la base del interfermetro. El haz lser debe incidir en el
centro del espejo M1. Ajustar moviendo la posicin del lser de forma que el haz
reflejado por el espejo M1 llegue a la apertura del lser.

Montar le espejo ajustable M2 y los soportes para la lente y la pantalla en la base

del interfermetro. Colocar el divisor de haz a 45 con el haz lser incidente de tal
forma que el haz reflejado por el mismo incida en el centro del espejo fijo M2.
Sobre la pantalla se observarn dos conjuntos de puntos brillantes provenientes
de ambos espejos. Cada conjunto de puntos estar formado por uno ms brillante
y otros de menor intensidad generados por las reflexiones mltiples. El ngulo del
divisor de haz se deber ajustar de forma que uno de los conjuntos de puntos,
est lo

ms cerca posible del otro. Cuando esto suceda deben ajustarse los

tornillos del divisor de haz.

Usando los tornillos colocados en la parte trasera del espejo fijo M2, ste se girar
hasta que los dos conjuntos de puntos coincidan en la pantalla. Luego se colocar
la lente convergente de corta distancia focal sobre le soporte magntico y se
proporcionar el haz divergente de forma que incida en el centro del divisor de
haz. En la pantalla se deber observar un sistema de franjas de interferencia
cerrado.

Medicin de la longitud de onda.

Para medir la longitud de onda del lser, el micrmetro se posicionar en una

lectura de aproximadamente 50 m para asegurar que el movimiento se realizar
en una regin donde el desplazamiento es lineal. La fibra ptica se posicionar de
modo que su extremo coincida con la segunda o tercera franja brillante. Luego, se
seguir moviendo lentamente al micrmetro en el mismo sentido mientras el
contador cuenta los mximos. La distancia recorrida por el espejo mvil ser igual
a la diferencia entre la lectura inicial y final del micrmetro. La longitud de onda se
calcular mediante la ecuacin (1). Estas mediciones se repetirn entre 7 y 10
veces y se analizarn los errores de medicin.
Medida de ndice de refraccin

Para una luz de frecuencia dada, la longitud de onda vara segn la expresin:
=

0
(2)
n

Siendo 0 la longitud de onda en el vaco, la longitud en el medio donde se est

propagando la luz y n el ndice de refraccin de dicho medio.
Si la presin es baja, el ndice de refraccin de un gas vara linealmente con la
presin. Mediremos el ndice de refraccin del aire a varias presiones.
El fundamento de estas medidas es que variar el ndice de refraccin en parte del
camino ptico, equivale a variar la longitud de onda y por tanto produciremos un
cambio en la fase relativa de los rayos, cambiando las posiciones de mximos y
mnimos en el patrn de interferencia5.
- Alinear el lser y el interfermetro como se describe anteriormente.
- Insertar una cmara de vaco en el orificio dispuesto en la base del
interfermetro, en el camino del divisor de haz al espejo fijo. Rotarla de forma que
est perpendicular al rayo (nos podemos ayudar observando los anillos
interferenciales).
Evacuar el aire de la cmara de vaco, de manera que en el interior, P 0 atm.
- Marcar un punto de referencia sobre la pantalla.
- Hacer entrar lentamente el aire en la cmara hasta un presin P1, y mientras ir
contando el nmero de anillos que pasan por la referencia.
- Continuar aumentando la presin hasta sucesivos valores Pi y contando los mi
anillos (de forma acumulativa). NUNCA se debe sobrepasar la presin
atmosfrica.
Resultados
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1) Para cada Pi, calcular el ndice de refraccin segn

ni=

m i 0
+ n0 ( 3 )
2d

siendo n0 el ndice de refraccin del vaco (n 0 =1), y d la longitud de la cmara de

vaco (d = 3.0 cm).
2) Representar grficamente n frente a P. Realizar el ajuste de los datos.
3) Consultar en la bibliografa la dependencia del ndice de refraccin con la
presin y comentar los resultados. NOTA: se ha fijado un punto (P 0 , n0) = (0, 1),
siendo

n0 = 1 un valor terico y P0 = 0 mm Hg un valor experimental. Una

causa de error sistemtico importante es el hecho de que no se alcance un vaco

absoluto en la cmara. Si esto ocurre, comentar la posible influencia en los
resultados.
6) Opcional: si se dispone de algn gas, repetir la experiencia para ste, y
comparar la dependencia n-P obtenida en uno y otro caso.

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MATERIALES

Placa de metal
Tornillos
Divisores de haz
Lente convergente de corta distancia focal
Pantalla de visualizacin
Espejo mvil
Lser
Espejo ajustable
Micrmetro

Este equipo est conformado por una placa de metal (acero de pulgada)
para dar soporte a toda la estructura del interfermetro, y as evitar cualquier
tipo de perturvaciones que pudieran afectar las mediciones realisadas con el
dispositivo; adems de que facilit el uso de los tornillos empleados para el
ajuste de cada uno de los elemetos de dicho interfermetro. La rijidz del
soporte ayudo a disminuir en gran marera todo tipo de porturvaciones
ocasionadas por vibraciones. Se us un porta bjetos como divisor de haz el
cual nos ayud a cumplir la funcin de la separacin del haz del lser. As
mismo se us un lser rojo de 5 mW de potencia, con una longitud de onda de
670 nm como fuente de luz. Se utiliz un par de espejos de 5 x 5 cm, los
cuales estn posicionados en planos perpendicularen entre si. De ambos
espejos, uno de ellos es mvil y el otro fijo, y estn separados entre si una

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distancia I1=I2 con respecto al divisor de haz con la finalidad de tener una
direfencia de camino ptico en cero.
Tambin se emple un lente convergente para proyectarle haz expandido.
Para hacer posible la fijacin de todos lo elementos empleados, al a base se
usaron tornillos de tipo comercial de cm de dimetro.
Y finalmenter se emple una pantalla en la cual se mostrara el patrn de
interferencia deseado.
RESULTADOS

Un interfermetro de Michelson puede ser usado para medir la longitud de onda

de sustancias especficas, tales como sodio o helio. Su capacidad para detectar
gases y diversos otros elementos es til en el seguimiento del contenido de la
atmsfera. El dispositivo se utiliza a veces por los astrnomos para medir el
tamao y la composicin de otros planetas y estrellas a aos luz de distancia.
Para el uso en el espacio, los interfermetros pueden tambin detectar cmo
fluidos se ven afectados por corrientes de conveccin, con el fin de medir la fuerza
de la gravedad.
En el instituto Politcnico Nacional es empleado en el rea de investigacin, para
mediciones de longitud de onda de un haz de luz, esto con relacin a la naturaleza
ondulatoria de la luz.

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CONCLUSIONES
Se construy un interfermetro de Michelson para poder generar un patrn de
interferencia y as medir la longitud de onda de haz de lser.
Las caractersticas del dispositivo nos permiten identificar algunas caractersticas
favorables para el uso de ste como medio para medir deformaciones mecnicas
como son:

La principal caracterstica del interfermetro de Michelson es el uso de la

naturaleza ondulatoria de la luz, lo cual nos permite realizar mediciones que
son directamente proporcionales a la longitud de onda del haz de lser

empleado.
Las mediciones realizadas con este dispositivo son del orden de 244x10 -9
metros por cada transicin de franja, lo cual nos da la capacidad de analizar
ms detalladamente aquellos experimentos sobre elementos donde

las

deformaciones son muy pequeas, como es el caso de la determinacin de

deformaciones debidas a efector trmicos, o en casos donde se lleva a
cabo estudios sobre elementos con deformaciones en el rango elstico, con
aplicacin de cargas con el propsito de identificar dislocaciones en la
pieza.

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Estas caractersticas solo son por mencionar algunas, sin embargo este
dispositivo posee muchas ventajas en el uso de la ingeniera as como en el
campo de investigacin.

REFERENCIAS
1.
2.
3.
4.

E. Hecht, Optics, Third Edition, Addison-Wesleypp 393- 428, 1998.

R. D. Guenther, Modern Optics, Wiley, 1990.
Andrews, Optics of the Electromagnetic Spectrum, Prentice-Hall, 1960.
Carreo S. F. Anton R. M. Ezquerro R. J. y Gmez C. O., Experiencias de

ptica Fsica, Editorial Complutense, Madrid, pp, 143-147 2001.

5. Mendoza Basilio Carlos Alfonso Anlisis del interfermetro de Michelson
para la deformacin de elementos cargados axialmente, Tesis de Ttulo
profesional, ESIME ZAC., Instituto Politcnico Nacional, 2010.

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