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Informe No 1 Mediciones de ´

optica y ac´
ustica
Presentado a: Prof. Ricardo Amezquita Orozco.

Determinaci´
on de la longitud de Onda de un l´
aser de
He-Ne utilizando el interfer´
ometro de Michelson
Jorge E. Garc´ıa Farieta, Jhon E. Ram´ırez Mu˜
noz, Juli´an A. Jaimes Carrillo
a Universidad

Nacional de Colombia
de F´ısica

b Departamento

Resumen
En el presente informe se plantea una alternativa para determinar la longitud de onda de un l´aser
He-Ne utilizando el interfer´
ometro de Michelson-Morley, y por ende el trasfondo te´orico de la interferometr´ıa e interferencia de ondas. A partir de un patr´on de interferencia, formado por la superposici´
on de dos ondas electromagn´eticas producidas por una misma fuente (el l´aser), y mediante un
arreglo de dos espejos y un divisor de haz, se midi´o la variaci´on de las franjas para diferentes caminos ´
opticos de cada haz de luz; del an´alisis del principio de superposici´on se determin´o la longitud
de onda de la del l´
aser, resultando λ = 646,89 nm con un error porcentual del 2,2 % respecto al
valor del fabricante.
Palabras Clave: Interfer´
ometro, ondas electromagn´etica, superposici´
on, patr´
on de interferencia.
1. Introducci´
on
El patr´on de interferencia se explica debido a que
cuando dos o m´as haces de luz se encuentran en el
espacio, de acuerdo al principio de superposici´
on, en
cada punto del espacio el campo el´ectrico y magn´etico de la onda resultante se determina mediante la
suma vectorial de los campos que componen las respectivas ondas [3]. Cuando cada haz proviene de
una fuente distinta, generalmente no habr´a ninguna relaci´on entre las oscilaciones del campo electromagn´etico de los haces, de tal manera que si en
un punto del espacio, en un instante determinado,
la suma de los campos resulta en un m´aximo, en
un instante posterior podr´ıa resultar en un m´ınimo. Estas variaciones son tan r´apidas que el ojo
humano observa un patr´on uniforme de intensidad.
Si los haces provienen de la misma fuente, existe un
grado de correlaci´on entre la frecuencia y fase de
las oscilaciones, con ello en un punto del espacio los
haces pueden permanecer con una diferencia constante de fase. Esta diferencia de fase puede ser tal
que la superposici´on de los campos de lugar a un
m´aximo, en este caso se observar´a una regi´on brillante. Por el contrario, si la diferencia de fase es tal
que la superposici´on da lugar a un m´ınimo, lo que se

De la gran variedad de interfer´
ometros por divisi´on
de amplitud, el de Michelson es uno de los m´as conocidos e hist´
oricamente m´
as importante [1], dado
que originalmente se empleo para la comprobaci´on
del movimiento de la tierra en relaci´
on con el ´eter
´
lumin´ıfero. Este
interfer´
ometro tiene un significado
esencial en puesto que se puede emplear para mediciones interferom´etricas, como de variaciones de
longitud, espesores de capas o ´ındices de refracci´on;
siendo de inter´es en el presente informe la determinaci´
on de la longitud de onda de un l´
aser He-Ne.
El funcionamiento f´ısico de ´este instrumento consiste en la divisi´
on de un haz de luz divergente, por
medio de un espejo semipermeable, en dos haces
que se desplazan por diferentes trayectorias. Ambos
haces se reflejan en s´ı mismos y, finalmente, se conducen hasta su superposici´
on sobre una pantalla de
observaci´
on (ver Fig. 1 [2]). All´ı se origina una imagen de interferencia que reacciona sensiblemente a
las modificaciones de la longitud ´
optica del recorrido de uno de los haces divididos.

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. de la cual se puede deducir. muestra el interfer´ometro de Michelson donde se observa una serie de implementos que lo conforman.. las franjas de interferencia cambiar´ an de modo que el radio de los m´ aximos aumentar´ a y ocupar´ a la posici´ on de los m´ınimos iniciales. resultados y an´ alisis Para realizar el experimento se utilizaron los siguientes materiales: Interfer´ometro de Michelson. en relaci´on con estos datos se elabor´ o la gr´afica 3.8 ± 4. siendo m la pendiente de dicha gr´afica. (6) δ = α1 − α2 (3) 2π 2d cos θ (4) λ δ I ∼ A2 = 4a2 cos2 con: a = a1 = a2 (5) 2 el m´ aximo ocurre si δ es m´ ultiplo de 2π. Uno de los haces se transmite hacia el espejo m´ ovil M1 y el otro se refleja hacia el espejo fijo M2 . el camino optico de ese haz aumentar´ ´ a en λ/2. 09)d + (4. 9) de donde se obtuvo un ajuste lineal con un valor de λ = 646. y obtenido el patr´ on de interferencia en una pantalla. no necesariamente en un factor de 50/50. La figura 3 presenta los datos medidos y su respectivo ajuste lineal (Ec. . Por lo tanto. 2). Una vez realizado el montaje de la Fig. 1. PASCO L´aser He-Ne (dato fabricante: λ = 633nm) Juego de lentes Soporte y fuente de l´aser La Fig. una lente. un l´aser. 1. que la longitud de onda del l´aser en estudio tiene un valor igual a 2/m. esto es: δ= n = (3.3 %. 1. la diferencia de fase se mantiene constante y depende s´ olo de la diferencia de camino optico recorrido por cada uno. el haz luminoso emitido por el l´ aser de He-Ne incide sobre el divisor de haces. un espejo fijo M2 . de forma que los haces transmitido y reflejado por este u ´ltimo se recombinan sobre la pantalla de observaci´ on. se vari´o la diferencia de camino ´optico. 6) 1 (9) Un divisor de haz o beam splitter es un instrumento ´ optico que divide un rayo de luz en dos. 1. ambos espejos reflejan la luz hacia el divisor de haces. 2d cos θ = nλ n = 1. las fran´ jas generadas por el interfer´ ometro se pueden visualizar sobre una pantalla.89 nm y un coeficiente de correlaci´on R2 = 99. como se ilustra en la Fig. seg´ un la ecuaci´on 8. desplazando lentamente el espejo en una distancia d y contando el n´ umero n de franjas que van pasando por un punto fijo de la pantalla. para (1) y = A sin(ωt − α) (2) con: A 2 = a21 + a22 + 2a1 a2 cos δ . una placa compensadora y un divisor de haz. el cual refleja el 50 % de la onda incidente y transmite el otro 50 % [2] 1 . Montaje experimental. La tabla 1 muestra las distancias en las que el espejo m´ovil se desplazo y el correspondiente valor de n. Si el espejo M1 se desplaza en una distancia adicional de λ/4. 2d n (7) ⇒ d= nλ 2 (8) 2. tales como un espejo m´ovil (M1 ). El camino ´ optico de uno de los haces se puede variar desplazando el espejo M1 . en particular de un l´ aser. Si dicho espejo se desplaza en λ/4 alej´ andose del divisor de haces. 2 . 2. 09 ± 0. Por lo tanto. Dado que los dos haces que interfieren sobre la pantalla provienen de la misma fuente luminosa. Justamente ´este argumento es el que se ha utilizado para determinar la longitud de onda de la fuente de luz. desplazando el espejo m´ ovil M1 mediante un tornillo microm´etrico (ver Fig. la longitud de onda λ de la luz se puede calcular mediante el siguiente razonamiento: y = a1 sin(ωt − α1 ) + a2 sin(ωt − α2 ) θ≈0: λ= Respecto a la Fig.observar´ a ser´ a una regi´ on oscura. contando a su vez el el n´ umero n de franjas que se desplazaron para un punto fijo en la pantalla de observaci´on. el nuevo sistema de franjas producido ser´ a indistinguible del original.

con un error porcentual del 2.Figura 1. De esta manera se obtiene un valor de 646. 89nm para la longitud de onda del l´aser He-Ne empleado. Diagrama del interfer´ ometro de Michelson. Registro de datos. b) Patr´ on de interferencia esperado y patr´ on obtenido. Figura 2.2 % respecto al valor proporcionado por el fabricante. ∆d(µm) ∆n 19 52 25 80 25 65 50 140 25 77 50 155 75 228 100 305 Tabla 1. a) Montaje Experimental. Distancia recorrida por el tornillo microm´ etrico y el numero de franjas respectivas para un punto fijo en la pantalla. lo cual da un alto 3 .

Addison-Wesley. es decir. [3] F. 4 . sin embargo los m´ aximos y m´ınimos s´ı fueron claramente visibles. Jenkins. 4th. Es relativamente f´acil “perder” el punto de referencia cuando se miden los anillos. la calibraci´on del l´aser con los espejos. Ajuste lineal de los datos de la tabla 1. estables y distinguibles. Fundamentals of Optics. ed.A. los patrones no fueron perfectamente sim´etricos. Zajac.E. McGraw Hill. [2] PASCO. grado de confiabilidad como tambi´en se corrobora con el coeficiente de correlaci´ on correspondiente. que por cada micr´ ometro de recorrido del tornillo. Hetch. Optics. Addison-Wesley. del cual se obtuvo un valor de λ = 646. Optics. se desplazar´ a un micr´ ometro el espejo m´ ovil. Referencias [1] E. PASCO Scientific (1989). si utiliza un pedazo de papel u otro elemento milimetrado es m´as f´acil mantener el mismo punto de referencia (hecho que se consider´o en la realizaci´on de la pr´actica). A. Instruction Manual and Experiment Guide for the PASCO scientific Model AP-9368 and AP-9369. que aunque es muy preciso tiene su margen de error al ser manejado con la mano.Figura 3. Born. Para la realizaci´ on de las medidas. el control y uso del tornillo microm´etrico. 1979. E. El experimento tiene aspectos de aberraciones experimentales. Cambridge University Press. Principles of Optics. [4] F. Wolf. Comentarios y conclusiones El m´etodo propuesto para determinar la longitud de onda de un l´ aser He-Ne utilizando el interfer´ ometro de Michelson resulta altamente confiable seg´ un el an´ alisis realizado. 1958. White. es decir que existe una calibraci´on entre el desplazamiento del tornillo microm´etrico y el desplazamiento del espejo m´ ovil. H. [5] M. 1997. 1976. Se ha asumido que el equipo viene calibrado de f´ abrica.89 nm con un error porcentual respecto al valor de fabrica del 2 %. como la vibraci´on de los instrumentos.W. Sears. Para el interfer´ ometro utilizado en el laboratorio esta relaci´on es 1:1.