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Interferometra Electrnica de moteado y

desplazamiento de fase en eventos dinmicos


para el anlisis de la deformacin uniaxial en
probetas metlicas soldadas

Presenta:
Ing. Jorge Ramn Parra Michel
Como requisito para obtener el grado de
Maestro en Ciencias
Con la asesora de la
Dra. Amalia Martnez Garca
Len, Guanajuato Diciembre 2006

Len Gto., a 1de Noviembre de 2006


Dr. Francisco J. Cuevas de la Rosa
Director de Formacin Acadmica
Presente
La presente es para solicitarle iniciar los trmites correspondientes para la obtencin del
grado Maestro en Ciencias (ptica) del alumno Jorge Ramn Parra Michel, de este
postgrado, bajo las siguientes consideraciones:
1.

Que he ledo, revisado y autorizado el trabajo de tesis:

Interferometra Electrnica de moteado y desplazamiento de fase en eventos


dinmicos para el anlisis de la deformacin uniaxial en probetas metlicas
soldadas
2.
De acuerdo al rea de Investigacin, la mesa de Sinodales que propongo a usted para
el examen de grado, la integramos:

Dr. Abundio Dvila lvarez, Sinodal Interno.

Dr. Hctor Jos Puga Soberanes, Sinodal Externo.

Dra. Amalia Martnez Garca, Asesor de Tesis y Presidente del Jurado

3.
Propongo como fecha el da 8 de Diciembre de 2006, a las 11:00 horas, en el
Auditorio Dr. Daniel Malacara Hernndez, para efectuar el examen recepcional.
4.
As mismo, adjunto Curriculum Vitae del Dr. J. H. Puga, Sinodal Externo quien
fungir como Secretario en el examen de Grado. Lo anterior, para ser analizado y
autorizado por el Comit Acadmico.
Agradeciendo su atencin a la presente y en espera de su favorable respuesta al respecto,
quedo de usted muy

Atentamente,

Dra. Amalia Martnez Garca


Investigador Titular

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Resumen

RESUMEN

El estudio de la mecnica ha existido desde la antigedad y a acompaado al hombre


a travs de su evolucin. Una de las preocupaciones de los primeros constructores era
el utilizar las herramientas y los materiales adecuados para los fines que buscaban.
Los ingenieros se vieron obligados a caracterizar los materiales, entre ellos los
metales para la construccin adecuada y eficiente de sus mquinas y herramientas; as
surgi la necesidad de crear mtodos y sistemas que revelaran estas caractersticas y
propiedades.

La interferometra electrnica de patrones de moteado, ESPI (acrnimo de Electronic


Speckle Pattern Interferometry) nos sirve como herramienta para el estudio de las
propiedades mecnicas de los metales y otros materiales. La utilizacin de la luz con
alta coherencia espacial y temporal (propiedades de la luz lser) nos permite crear
interfermetros que aprovechan el fenmeno de destruccin y amplificacin de las
ondas electromagnticas cuando se sobreponen, creando franjas obscuras y brillantes
que son utilizadas como un patrn de referencia para las mediciones cuando se
observan en el medio que se quiere caracterizar.

El objetivo de este trabajo es mostrar una tcnica basada en ESPI para evaluar a
travs del tiempo la deformacin uniaxial en probetas soldadas y mostrar la
importancia de considerar las soldaduras cuando el diseador mecnico evala los
esfuerzos en elementos mecnicos.

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Agradecimientos

Quiero agradecer el apoyo me han brindado tanto personal y profesionalmente a mi


familia, amigos y profesores.
La lista es muy larga pero tengo que pensar primero en mi madre a quien le aprend
que no hay peor bancarrota que el desnimo, que el mejor da de mi vida es hoy, que
la mejor distraccin es el trabajo y que el regalo ms precioso es el perdn. Siempre
la recordar como la persona que fue: Disciplinada, Integra y con un firme carcter.
A mi esposa, que sin su amor, no seria la persona que soy; Ella me mostr el
significado de que dos somos uno. A mi maCony que siempre nos ha apoyado sin
condicin en las ms locas aventuras y en los momentos difciles.
A mi padre, porque hemos hecho un buen equipo y que ahora lo disfruto en los
momentos en que platicamos y estamos juntos; realmente le doy gracias a la vida por
permitirme estos momentos con l.
A mis compaeros y profesores del CIO, La Dra. Amalia Martnez y al Ing. Juan
Antonio Rayas a quienes considero personas de una enorme calidad humana y
quienes me han apoyado en mi formacin profesional; Muchas gracias.
Y por ltimo, al Consejo Nacional de Ciencia y Tecnologa por el apoyo econmico y
todas las facilidades que me prestaron a travs de nuestra casa el Centro de
Investigaciones en ptica AC.

II

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ndice:

i.

Inicio de tramites

ii. Resumen / I
iii. Agradecimientos / II
iv. ndice / III
v. Introduccin general y objetivo de la tesis /1
1. Conceptos de desplazamiento, deformacin y vector de sensibilidad
1.1. Propsito del estudio de las uniones soldadas /4
1.2. Anlisis mecnico de la deformacin /5
1.3. Utilizacin de la luz en la metrologa: interferencia ptica /9
1.4. El vector de sensibilidad /12
1.4.1. Vector de sensibilidad para un interfermetro fuera de plano con un
haz de iluminacin /12
1.4.2. Vector de sensibilidad para un interfermetro en plano para dos haces
de iluminacin /14
1.5. Referencias /17

2. El fenmeno del Speckle


2.1. Introduccin /18
2.2. Explicacin del fenmeno de Speckle /19
2.3. La interferencia del speckle /26
2.4. Obtencin de la fase ptica /28
2.4.1. El mtodo de phase stepping /29
2.4.2. El mtodo de Fourier /30
2.4.3. El mtodo directo /33
2.5. Conclusiones /35
2.6. Referencias /36

III

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3. Simulacin numrica por tcnicas de elemento finito. (FEA)
3.1. Introduccin bsica al anlisis por elemento finito /38
3.1.1.

Pasos bsicos en el mtodo de los elementos finitos /41

3.1.1.1. Fase de preprocesado /41


3.1.1.2. Fase de solucin /41
3.1.1.3. Fase de postprocesado /41
3.2. La programacin por el software Mechanical Desktop de una probeta para
el anlisis de deformacin /42
3.2.1.

Modelacin de una probeta mecnica /42

3.3. Resultados y predicciones de la simulacin numrica /44


3.4. Referencias /46

4. Medicin de la deformacin uniaxial para uniones soldadas mediante la


tcnica ESPI en plano
4.1. Medicin del desplazamiento en plano /47
4.1.1. Sistema ptico propuesto /48
4.1.1.1.

Sensibilidad del sistema /49

4.1.2. Control de parmetros /51


4.1.2.1.

Velocidad de desplazamiento para la deformacin /52

4.1.2.2.

Ajuste de extensmetro /52

4.1.2.3.

Control y optimizacin de desplazamiento de piezoelctrico /52

4.1.2.4.

Razn de captura de imgenes y ajustes de la cmara CCD /53

4.1.2.5.

Estimacin del error causados por la dinmica de la deformacin

durante el proceso del phase stepping y el posicionamiento del


piezoelctrico /55
4.1.3. Puesta en marcha de la medicin /58
4.1.4. Obtencin de imgenes /59
4.1.5. Discusin acerca de la tcnica utilizada /60
4.2. Proceso matemtico para la obtencin de la deformacin /61
4.2.1.

Descripcin de la programacin del sistema para la tcnica phase


stepping de tres pasos para la obtencin de la fase envuelta /63

IV

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4.2.2.

Clculo de la deformacin /64

4.3. Comparacin de mediciones vs. Simulacin por elemento finito (FEA) /71
4.4. Referencias /73

5. Conclusiones Generales
5.1. Acerca de la tcnica basada en ESPI en plano para la obtencin de la
deformacin en un evento dinmico /74
5.2. Conclusiones acerca de los resultados obtenidos /75
5.3. Aplicacin de la ptica para el anlisis de la mecnica de materiales /76
5.4. Propuesta para proyectos futuros /77

Apndices
A.

Procesamiento Digital de Imgenes


A.1

Programacin para obtencin de la fase envuelta y fase desenvuelta /78

A.2

Programas utilizados para los clculos de la deformacin y filtrado /79

A.3

Los kernel de suavizacin de superficies /80

Programas utilizados en LabVIEW


B1

Programa para la adquisicin de las imgenes /81

Trabajos derivados del proyecto de maestra


C.1

Participacin en congresos /85

C.2

Memorias en extenso /85

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Introduccin general

Introduccin general y objetivos de la tesis

El estudio de la mecnica ha existido desde la antigedad y a acompaado al hombre


a travs de su evolucin. Una de las preocupaciones de los primeros constructores era
el utilizar las herramientas y los materiales adecuados para los fines que buscaban.
Posteriormente, en la industria de la guerra, el transporte y la urbanizacin, los
ingenieros se vieron obligados a caracterizar los materiales, entre ellos los metales
para la construccin adecuada y eficiente de sus mquinas y herramientas; as surgi
la necesidad de crear mtodos y sistemas que revelaran estas caractersticas y
propiedades.

Como introduccin, podemos decir que la interferometra electrnica de patrones de


moteado, ESPI (acrnimo de Electronic Speckle Pattern Interferometry) nos sirve
como herramienta para el estudio de las propiedades mecnicas de los metales y otros
materiales como las cermicas o los plsticos. La utilizacin de la luz con alta
coherencia espacial y temporal ( propiedades de la luz lser) nos permite crear
interfermetros que aprovechan el fenmeno de destruccin y amplificacin de las
ondas electromagnticas cuando se sobreponen, creando franjas con zonas obscuras
y brillantes que son utilizados como un patrn de referencia para las mediciones
cuando son observadas en el medio que se quiere caracterizar.

La luz es dividida, moldeada en su frente de onda, polarizada, transmitida y registrada


por sistemas pticos que son un sistema de lentes, espejos, filtros y placas
fotogrficas o cmaras de video; en la manera en que creamos un sistema ptico,
podemos obtener mediciones de distintas caractersticas y direcciones. Para la
medicin de la deformacin se utiliza dos tipos bsicos de interferencia: los que
registran la deformacin en plano, y los que registran la deformacin fuera de plano.
La combinacin de estos dos sistemas nos permite registrar las deformaciones en las
tres direcciones. As pues, para el estudio de las uniones soldadas nos apoyaremos en
estas herramientas pticas y en otras electromecnicas para describir los fenmenos
de deformacin que ocurren alrededor de la zona trabajada, tambin probaremos la

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Introduccin general

importancia que tiene en la industria la correcta utilizacin de tcnicas para soldar


desde el punto de vista del diseo mecnico; y por ltimo, tambin se mostrarn
como funcionan las distintas tcnicas basados en ESPI.

Como resumen, podemos decir que el objetivo de esta tesis es mostrar una tcnica
basada en ESPI para evaluar la deformacin uniaxial en probetas soldadas y mostrar
la importancia de considerar las soldaduras cuando el diseador mecnico evala los
esfuerzos en elementos mecnicos.

En el captulo primero se establece la relacin entre desplazamiento, deformacin y


esfuerzo, as como el concepto de vector de sensibilidad.

En el captulo segundo se mostrar como ocurre el fenmeno de reflexin de la luz


lser cuando incide sobre superficies rugosas, pues es de esas reflexiones donde se
obtienen la informacin de deformacin. Este fenmeno se caracteriza por la
formacin de motas (o de speckle, en ingls) que cambian constantemente con
respecto a la posicin del observador, de la fuente de la iluminacin o de la superficie
iluminada; por lo tanto se hace un estudio matemtico y se muestra un procedimiento
para la medicin de estas motas.

En el captulo tercero, se describe la utilizacin de la tcnica FEA, (acrnimo en


ingls de Finite Element Analisis), para la simulacin de la deformacin de una
probeta soldada y otra no soldada; se muestra los resultados obtenidos de la
simulacin.

El captulo cuarto describe la tcnica utilizada y el procedimiento para la obtencin y


medicin de las deformaciones dinmicas con la tcnica ESPI, se presenta un arreglo
ptico para este objetivo; y por ltimo se reportan resultados de algunas mediciones.

El captulo quinto da a conocer las conclusiones generales acerca de este trabajo de


tesis y se sugiere algunos nuevos proyectos que pueden dar continuidad a este trabajo.

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Introduccin general

Y por ltimo, se anexan algunos apndices con informacin adicional que sirven de
apoyo terico y complemento para las tcnicas mostradas. Espero que durante la
lectura a travs de esta tesis, el lector la encuentre interesante y sirva como referencia
para el estudio de la mecnica a travs de la ptica.

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 1: Introduccin

1. Conceptos de desplazamiento, deformacin y vector de sensibilidad

1.1. Propsito del estudio de las uniones soldadas

El proceso industrial ms utilizado para la formacin de elementos y estructuras


metlicas es la soldadura. La soldadura es aplicada con diferentes mtodos pero
bsicamente trata de la unin de dos o ms metales mediante fusin de sus estructuras
moleculares mediante la aplicacin de calor o presin intensos en la regin y
alrededor de las partes a unir. La estructura isotrpica de los materiales originales se
ve alterada en esa regin y en muchos casos son necesarios utilizar tratamientos
adicionales como los trmicos para tratar de recuperar esa estructura isotrpica, cosa
que nunca ocurre en su totalidad. Las uniones soldadas pierden en gran medida la
homogeneidad y continuidad molecular de la estructura mecnica, por lo tanto las
lneas de esfuerzo se ven afectados en sus trayectorias ocasionando concentraciones
de esfuerzo indeseados en la zona soldada. Un ejemplo de lo anterior se muestra en la
figura 1.1.

El ingeniero de diseo tiene que calcular los esfuerzos mximos que puede soportar
dichas uniones. Existen 2 mtodos bsicos para el procedimiento del calculo( 1 T): el
primero se basa en la utilizacin de un factor de seguridad que es un factor de
proporcin entre el esfuerzo ltimo o de fluencia con respecto al esfuerzo admisible o
de trabajo de la pieza mecnica; y el segundo, el ms reciente, utiliza un control
estadstico de factores involucrados durante el proceso de manufactura (fundicin,
tipo de maquinado, tipo de acabado superficial, tratamiento trmico, etc.) que van
modificando el esfuerzo ltimo o de fluencia hasta que se obtiene el esfuerzo
admisible o de trabajo; tambin considera el ambiente de trabajo la cual la pieza
estar sujeta y a las cargas dinmicas a lo largo de su vida til.

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Captulo 1: Introduccin

a)

b)

Figura 1.1
Trayectoria de las lneas de esfuerzo entre a) una pieza completa y homognea y b) una pieza con una
unin soldada.

Por lo tanto, el estudio de la deformacin de las uniones soldadas nos permite


calcular estos factores de concentracin de esfuerzos sobre la superficie alrededor de
la soldadura que van a modificar el esfuerzo admisible o de trabajo de los elementos
mecnicos para que sean utilizados por el ingeniero de diseo.

1.2. Anlisis mecnico de la deformacin.

La mecnica de materiales considera a los cuerpos mecnicos como deformables, de


esta consideracin, se establecern algunos conceptos los cuales son tiles en la
discusin que ocupa la presente tesis; se tienen conceptos como los siguientes que a
continuacin se mencionan.

Las fuerzas externas que actan sobre los cuerpos mecnicos se les denomina como
cargas, y las fuerzas que los mantiene en equilibrio se llaman reacciones. Las fuerzas
que se transfieren y distribuyen dentro del elemento mecnico se les denomina
esfuerzos y son de dos tipos: el esfuerzo total y el esfuerzo unitario. El primero es un
promedio del total de las fuerzas internas en una seccin de la muestra mecnica; y el
segundo y ms importante para el anlisis mecnico de la deformacin en soldaduras,
es un valor intensivo local sobre una seccin transversal de la muestra mecnica
independiente del tamao o masa del sistema. Para casos prcticos se define el

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Captulo 1: Introduccin

esfuerzo como la cantidad de fuerza perpendicular sobre unidad de rea en la que


acta, Ec. [1]:

dF
.
dA

[1]

La deformacin se define como el cambio de forma y dimensin de la pieza mecnica


que est sometida a las fuerzas externas. La deformacin se pueden clasificar en:

deformacin total y deformacin unitaria ; la primera considera el cambio de


dimensin directamente en la pieza mecnica, esto es cunto a aumentado o
disminuido la dimensin lineal; y el segundo, con respecto a su dimensin original y
direccin de la deformacin( 2 ). As que es fcil darse cuenta que no puede haber
deformacin de un punto dado dentro o en la superficie de un cuerpo sin que este se
halla desplazado.

Haciendo un anlisis ms profundo, supongamos un pequeo volumen diferencial

dxdydz que est sometido a varias fuerzas externas de tal manera que este equilibrado
estticamente; un punto P dentro del volumen diferencial se est desplazando hasta la
posicin P, sean u, v y w los desplazamientos de este punto en direccin paralela al
sistema de coordenadas x, y y z respectivamente; segn la figura 1.2, el
desplazamiento de los puntos adyacentes a P, A y B a lo largo de los ejes coordenados
en el plano xy son:

Para A a lo largo de x, u +

u
dx
x

Para A a lo largo de y, v +

v
dx
x
[2]

Para B a lo largo de x, u +

u
dy
y

Para B a lo largo de y, v +

v
dy
y

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Captulo 1: Introduccin

Se observa que en el segmento PA de la figura 1.2 el incremento de longitud despus


de la deformacin a lo largo del eje x es

u
u
dx , donde la deformacin unitaria es
;
x
x

entonces la deformacin unitaria del punto P a lo largo de x, y y z, se puede calcular


respectivamente a partir del conjunto de ecuaciones no. [3]:
u
x
v
y =
y
w
z =
z

x =

[3]

Figura 1.2
Desplazamientos de los puntos P, A y B

Por otro lado, podemos observar a partir de la figura 1.2, que el ngulo APB ha
disminuido hasta APB. De manera similar podemos obtener la deformacin
unitaria angular( 3 ) con el conjunto de ecuaciones no. [4]:

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Captulo 1: Introduccin

v u
+
x y
v w
=
+
z x
v w
=
+
z y

xy =
xz
yz

[4]

La ecuacin de Hook relaciona el esfuerzo con la deformacin unitaria y el modulo


de Young E, en la zona elstica del material mediante la relacin:

= E ,

[5]

de esta manera podemos relacionar el esfuerzo al que est sometido una pieza
mecnica a tensin uniaxial con solo observar sus desplazamientos en el eje y de
nuestro sistema ptico:

y =

y
E

; y =

v
.
y

[6]

Para el anlisis de la deformacin en uniones soldadas, las soldaduras se han hecho a


tope como lo muestra la figura 1.3, se llama garganta, al espesor de la soldadura y se
definir como junta la unin soldada cuyas dimensiones son de 12.7 mm por 1 mm de
separacin entre placas. El material base es el material que se esta uniendo, en este
caso, de acero comercial tipo A36 cuyo mdulo de elasticidad est definido por

E=206.8 GPa. El aporte es el material de la soldadura que se utiliza en la unin, las


probetas estn soldadas con electrodos comerciales tipo E7010 de 1/8 de dimetro.
La figura 1.4 muestra las dimensiones de las probetas utilizadas.

Por lo tanto, para determinar el esfuerzo presente en una junta se debe medir la
deformacin unitaria uniaxial. Un interfermetro es la herramienta que se utilizar
para este propsito.

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Captulo 1: Introduccin

Figura 1.3
Junta tpica a tope. h es el espesor de la garganta, A es el rea transversal, F es la fuerza aplicada

acot: mm

Figura 1.4
Dimensiones de las probetas utilizadas.

1.3. Utilizacin de la luz en la metrologa: interferencia ptica

A partir de la ecuacin de onda (ec. [7]) para un campo electromagntico A, una


solucin a la ec. [8], es la de una onda plana viajando a travs del espacio
r
r
representado por la ec. [8]; k se define como el vector de onda y d es el vector de su
desplazamiento, w est relacionado con la frecuencia (frecuencia angular del haz de
luz), ec [9] y [10]; t es el tiempo y es una constante que adelanta o retrasa la fase.

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2 A =

Captulo 1: Introduccin

1
A
c 2 t 2
r r

A(r , t ) = a0ei ( wt + k d + )

[7]
[8]

r 2
k=

[9]

w = 2

[10]

Cuando dos o ms ondas electromagnticas se sobreponen, se presenta el fenmeno


de interferencia ptica la cual puede ser observada y medida a travs de la irradiancia.

La irradiancia o intensidad de una onda est dado por el promedio del producto entre
la amplitud de la onda y su conjugado, ec. [11].

I (t ) = A(t )A* (t )

[11]

Un sensor de irradiancia, como puede ser una cmara CCD, le es prcticamente


imposible poder medir la irradiancia instantneamente; las lecturas que obtiene el
sensor las calcula integrando en un lapso de tiempo regular Tm a A(t) de la siguiente
manera:

1
Tm T
m

I = lim

Tm

2
T
m
2

A(t) A* (t)dt .

[12]

Haciendo simplificaciones y considerando que los tiempos de integracin Tm son


peridicos y constantes podemos simplificar la ec. [12] para un solo haz de luz como:

I= A .
2

[13]

En el caso de la interferencia de dos haces, la ec. [13] se convierte en:

10

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Captulo 1: Introduccin

I = ( A1 + A2 )( A*1 + A*2 )
= a12 + a22 + 2a12 a22 cos(1 2 )

[14]

donde:
r r

= [ wt + (k d ) + ]

[15]

Los dos primeros trminos de la ecuacin [14], a12 y a22 representan ruido de fondo y
dependen exclusivamente de la intensidad de las fuentes de iluminacin, la tercera
parte de la ecuacin, 2a12 a22 cos(1 2 ) , depende exclusivamente de las fases
relativas de la iluminacin y lleva consigo la informacin que tratamos de analizar.

La ec. [14] se puede rescribir de la forma:


I = I1 + I 2 + 2 I1I 2 cos( ) .

[16]

El contraste de las franjas de interferencia detectada por el sensor, puede evaluarse


por medio de la visibilidad:

V=

I max I min
I max + I min

[17]

11

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Captulo 1: Introduccin

1.4. Vector de Sensibilidad

1.4.1. Vector de sensibilidad para un interfermetro fuera de plano con


un haz de iluminacin

Si un punto p de una superficie se desplaza cierta cantidad debido a una deformacin,


entonces la nueva distancia entre ese punto y la referencia cambia con respecto a la
distancia original. Por otro lado, la distancia que recorre un haz de luz desde la fuente
hacia el punto p tambin cambia. Aqu podemos definir un concepto muy importante
en la metrologa ptica: a la diferencia en numero de ondas medida en radianes de las
dos distancias del punto sobre la superficie con respecto a la fuente de iluminacin se
le conoce como la diferencia de camino ptico (DCO) representado por el smbolo .
La fase ptica est relacionada con y est dado por ( 4 ):

( p) =

( p) .

[18]

Si una superficie iluminada se deforma, cada punto tendr un diferente con respecto
a la fuente de iluminacin y tambin, con respecto a un observador situado en otro
punto distinto a la fuente. Consideremos la figura 1.5, cuando un objeto se deforma,
cada punto de la superficie se desplaza y tiene un distinto dado por la ec. [18]. La
fase est relacionada tambin por la intensidad en la ec. [16]. Sean la fuente de
iluminacin S(xs,ys,zs) y el punto de observacin B(xb,yb,zb). Considerando un punto
sobre la superficie de un objeto el cual se desplaza desde P1(xp1,yp1,zp1) hasta
r
P2(xp2,yp2,zp2); entonces, el vector de desplazamiento d se calcula por una simple
substraccin vectorial entre P2 y P1:

v
v r
d P1P2 = P2 P1

[19]

12

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Captulo 1: Introduccin

y
P2

s2

S
s1

P1

b2
b1

z
Figura 1.5
Esquema para la obtencin del vector de sensibilidad.

Como es la diferencia entre la distancia que recorre la luz desde la fuente hasta el
punto de observacin pasando primero por P1 y despus por P2, la se puede
expresar como( 5 ):

( P1 ) = (SP1 + P1 B ) (SP2 + P2 B )

] [

= s1 SP1 + b1 P1 B s2 SP2 + b2 P2 B

[20]

por otro lado, consideremos los bisectores para los vectores unitarios como:
1
s) (P1 , P2 ) = [s1 ( P1 ) + s2 ( P2 )]
2
1
b(P1 , P2 ) = b1 ( P1 ) + b2 ( P2 )
2

[21]

y adems tambin consideremos la mitad de la diferencia de los vectores unitarios


como:

13

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Captulo 1: Introduccin

1
[s1 ( P1 ) s2 ( P2 )]
2
1
b(P1 , P2 ) = b1 ( P1 ) b2 ( P2 )
2
s(P1 , P2 ) =

[22]

Aplicando las ecuaciones [21], [22] en [20] encontramos:

( P1 ) = (s) + s) ) SP1 + (b + b ) P1 B (s) s) ) SP2 (b b ) P2 B


r
r
= b d s d + b (P1 B + P2 B ) + s (SP1 + SP2 )

[23]

Puesto que el producto punto de dos vectores perpendiculares es cero, la ec. [23] se
puede simplificar de tal modo que:

( P) == d ( P) [b( P) s( P )].
r

[24]

Introduciendo en la ec. [18] encontramos que la fase ptica est en funcin del
desplazamiento del punto P y de los vectores unitarios de la fuente de iluminacin y
de observacin:

( x, y, z ) =

r
2
b( P) s( P) d ( P )

[25]

de la ec. [25] podemos definir matemticamente el vector de sensibilidad( 6 ).


2
r
e ( P) =
b( P) s( P)

[26]

1.4.2. Para dos haces de luz

La figura 1.6 considera una superficie iluminada simtricamente con respecto al eje
ptico por dos fuentes S1 y S2, el observador B se encuentra en el eje ptico:

14

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Captulo 1: Introduccin

y
x
S2

s1

s2

S1
Figura 1.6
Esquema para el vector de sensibilidad para iluminacin dual.

El vector de sensibilidad respectivamente para cada haz de iluminacin de las fuentes


S1 y S2 es(5):
2
r
e1 ( P) =
b( P) s1 ( P)

2
r
[b( P) s2 ( P)]
e2 ( P) =

[27]

por superposicin, tomando la diferencia entre los vectores de sensibilidad e1 y e2


r
r
r
e ( P ) = e2 ( P) e1 ( P)
=

[s1 ( P) s2 ( P)]

[28]

En este caso, el vector de sensibilidad no depende del vector de observacin, pero si


depende de la forma del objeto y de la posicin de las fuentes.

15

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 1: Introduccin

Denotando como (xs1, ys1, zs1) y (xs2, ys2, zs2) las coordenadas de las fuentes de
iluminacin S1 y S2 respectivamente y por (xp, yp, zp) las coordenadas de un punto
sobre el plano iluminado de un objeto, entonces, Los vectores unitarios de
iluminacin de cada fuente estn dados por:
x p xs1

1
s1 (P ) =
y
y

p
s
1
(x p xs1 )2 + (y p ys1 )2 + (z p zs1 )2 z z
s1
p
x p xs 2

1
s2 (P ) =
y
y

p
s
2
(x p xs 2 )2 + (y p ys 2 )2 + (z p zs 2 )2 z z
s2
p

[29]

Substituyendo la ec. [29] en la ec. [28] se obtiene las componentes del vector de
sensibilidad ( 7 ):

e x (P ) =

(x

x p xs1

xs1 ) + ( y p y s1 ) + (z p z s1 )
2

2
e y (P ) =

2
e z (P ) =

(x
(x

y p y s1

xs1 ) + ( y p y s1 ) + (z p z s1 )
2

z p z s1

xs1 ) + ( y p y s1 ) + (z p z s1 )
2

(x p xs 2 )2 + (y p ys 2 )2 + (z p z s 2 )2

xs 2 )

2
2
(
)
(
)
+ y p y s 2 + z p z s 2

xs 2 )

2
2
+ ( y p y s 2 ) + (z p z s 2 )

x p xs 2

(x
(x

y p ys 2

z p zs2

[30]

Donde la magnitud del vector de sensibilidad es la raz cuadrada de la suma al


cuadrado de los componentes del vector de sensibilidad:
r
e (P ) =

(e

2
x

+ e y2 + ez2

[31]

16

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 1: Introduccin

Por ltimo, la relacin que existe entre la fase obtenida en los interferogramas (x, y)
r
y el vector de desplazamiento d ( x, y, z ) en un punto P = P(xp, yp, zp) est dado por:

r
r
( P) = [e (P ) d ( P)]

[32]

1.5. Referencias

(1)

Robert L. Norton, Diseo de mquinas, Ed. Prentice Hall, 1998. pag. 310

(2) Jos de Jess Mayagoitia Barragn, Tecnologa e ingeniera de materiales,


Ed. Mc Graw Hill, primera edicin, pg.66.
(3)

Stephen Timoshenko, Theory of elasticity, Ed. McGraw-Hill College, 1970

(4) Amalia Martnez, Tesis Doctoral, Centro de Investigaciones en ptica AC,


Diciembre 2001, Len Guanajuato.
(5) Thomas Kreis, Holographic Interferometry, Principles and methods, Ed.
Akademie Verlang, Berlin, 1996; pg 72.
(6) Thomas Kreis, Holographic Interferometry, Principles and methods, Ed.
Akademie Verlang, Berlin, 1996; pg 73.
(7) Amalia Martnez, R. Rodrguez-Vera, J.A. Rayas, H.J. Puga. Error in the
measurement due to the divergence of the object illumination wave front for in-plane
interferometers Optics Comm. 223 (2003), 239-246.

17

Centro de Investigaciones en ptica A.C.


2.

Capitulo 2: El Speckle

El fenmeno del speckle

2.1. Introduccin

La coherencia espacial de la luz lser nos ofrece un interesante fenmeno: cuando la


luz lser incide en una superficie rugosa, su reflexin o transmisin da una apariencia
granular; es decir, con un efecto de moteado, (Speckle en ingls). Estas motas varan
de tamao y posicin dependiendo la posicin del observador.

Antes de la invencin del lser, este fenmeno se consideraba como simple ruido
observado en fotografas y superficies rugosas debido a la coherencia temporal y
espacial de algunas fuentes de iluminacin monocromticas. Alrededor de los aos de
1970, ya con luz lser, se empez a reportar la utilizacin de este ruido con fines de
medicin; as se empez a crear las tcnicas de la interferencia de speckle o
moteado( 1 ).

El efecto de moteado ocurre cuando luz monocromtica altamente coherente


espacialmente, con longitud de onda constante, es esparcida por una superficie cuya
rugosidad produce interferencia entre unos trenes de ondas con otras. La figura 2.1
muestra dos fotografas de este fenmeno con dos diferentes fuentes de iluminacin
lser.

a)

b)
Figura 2.1

Patrones de moteado con iluminacin lser, a) lser He-Ne de 632.8 nm sobre un vidrio esmerilado y
b) lser de 532.2 nm sobre una placa de aluminio con un terminado semipulido.

18

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Capitulo 2: El Speckle

2.2. Explicacin del fenmeno de speckle

Como se mencion anteriormente, el efecto de moteado se produce por la dispersin


de un haz de luz coherente sobre la rugosidad de la superficie, figura 2.2, creando
puntos brillantes y obscuros que son fcilmente visibles. Solo se puede ver en
superficies cuya rugosidad e imperfecciones sean mayores a la longitud de onda de
la luz empleada.
coherencia (luz Lser)

Figura 2.2
Reflexin de la luz lser por una superficie rugosa.

De acuerdo al principio de Huygens, cada punto en un frente de onda en propagacin,


emite un tren de ondas esfricas de tal modo que despus de cierto tiempo, el frente
de onda estar formado por la envolvente del tren de estas ondas esfricas. Cuando la
envolvente del frente de onda incide sobre una superficie, cada punto de la superficie
iluminada emite una onda secundaria de forma( 2 ):

En (rn ) =

1 ' i (k rn + n' )
E0 n e
rn

[1]

y para el punto B de la superficie S de la figura 2.3, la suma de todas las ondas esta
definido como:

19

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

E (B ) =
n

Capitulo 2: El Speckle

1 ' i (k rn + n' )
E0 n e
rn

[2]

Aplicando la teora del lmite central de probabilidad y considerando que la amplitud


y la fase de cada tren de onda es independiente una de otra, y adems que la fase esta
comprendida entre los valores de [- y ] se encuentra que:

En (rn ) =

1
E0 n e i (n )
N

[3]

rn

r4
r3
r2
r1

S
z

Figura 2.3
Formacin de una mota sobre un plano

Donde N representa el total de trenes de onda incidentes en la superficie S. Adems,


supondremos ms adelante que la amplitud

1
E0 n
N

y la fase n son

estadsticamente independientes debido a que la rugosidad de la superficie tiene un


patrn no uniforme y la fase esta distribuida entre los valores de [-, ].

La parte real e imaginaria de la ec. [3] son:

20

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Capitulo 2: El Speckle

1 N
E0n cos(n )
N n=1
1 N
Im{En } = Eim =
E0n sin(n )
N n=1
Re{En } = Er =

[4]

Observemos que el promedio de las amplitudes Er y Eim es igual a cero porque la fase
varia de - hasta . Calculando ahora la varianza y la correlacin, y recordando las
propiedades de ortogonalidad de las funciones trigonomtricas:
1
:a =b
cos a cos b = sin a sin b = 2
0 : a b

[5]

cos a sin b = sin a cos b = 0

podemos calcular la amplitud del Speckle:

Er

Eim

2
1 N N
1 N 1
E0' n E0' n cos( n ) cos( m ) = E0' n

N n =1 m =1
N n =1 2

1 N N
1 N 1 ' 2
'
'
E
E
=

sin(
)
sin(
)
0n 0n
E0n
n
m
N n =1 m =1
N n =1 2

[6]

Er Eim = 0

Ahora, aplicando el teorema de la varianza considerando que N y que Er y Eim


tienen un perfil gaussiano, encontramos que la densidad poblacional es( 3 ):

Pr ,im ( Er , Eim ) =

1
2

E r 2 + E im 2
2 2

[7]

y la varianza queda expresada como:

1 N 1
2
E0 n

N N
n =1 2

2 = lim

[8]

21

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Capitulo 2: El Speckle

Puesto que la intensidad I y la fase son independientes una de otra debido a la


naturaleza rugosa de la superficie iluminada, el campo resultante esta compuesto por
la parte real y la imaginaria, esto es:
Er = I cos

[9]

Eim = I sin

Considerando lo anterior, entonces introduciendo la ec. [9] en la ec. [7] y tomando en


consideracin la ec. [5], obtenemos:

Pr , im ( Er , Eim ) =

( I cos ) 2 + ( I sin ) 2

2
= Pr , im ( I , )
2

2 2

[10]

I
1

2
2

para [I 0] y [ ]
e
= 4 2
0
para cualquier otro valor

Para conocer qu parte corresponde a la intensidad del speckle y qu parte a la fase,


consideramos que la ec. [10] puede considerarse estar compuesta por dos funciones
independientes puesto que I y son tambin independientes:
PI , ( I , ) = pI ( I ) p ( )

[11]

e integrando cada funcin en sus limites:

pI ( I ) =

1 2I 2

para I 0
e
p I , ( I , )d = 2 2
0
para todo lo dems.

p ( ) = p I , ( I , )dI = 2
0
0

[12]

para - 0
para todo lo dems.

22

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Capitulo 2: El Speckle

De los resultados de la ec. [12] podemos observar que la fase del patrn de speckle es
constante y que la intensidad en el patrn disminuye exponencialmente.
El promedio de la intensidad es I = 2 2 y a partir de la varianza de podemos
determinar la visibilidad o contraste V del patrn de speckle mediante:

V=

I
I

[13]

Para determinar el tamao de una mota, supongamos que el punto B en la superficie S


de nuestro sensor llega dos haces de luz de diferentes regiones de nuestro objeto
cuando es iluminado por luz lser en un dimetro D. La figura 2.3 nos muestra este
arreglo.

Puesto que en B se interceptan los dos haces (y que pudieran ser muchos ms de la
superficie en D) podemos suponer que un haz llega primero que otro. Por lo tanto la
diferencia de fase ser( 4 ):

= 2fx =

2 D
x
z

[14]

Donde f es la frecuencia espacial del patrn de interferencia. La frecuencia mxima


ser:

f max =

D
z

[15]

por lo tanto el periodo de la mota de la figura 2.3 ser el tamao mnimo de la mota
observada:

0 =

z
D

[16]

23

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Capitulo 2: El Speckle

Para un sistema ptico se debe considerar la difraccin; segn Goodman J.W. en su


articulo4 Statical propieties of laser speckle patterns, el tamao se puede considerar
como la separacin que existe entre los dos primeros mnimos de la funcin Bessel de
primer orden J1 esto es cuando J1(x)=0 y cuando x=1.22, esto quiere decir que el
tamao depende del lmite de difraccin del sistema ptico. A partir de la relacin de
autocorrelacin para un sistema ptico compuesto con lentes:
2

Dr
2 J1

2
z

R (r ) = I 1 +

Dr

[17]

donde D es el dimetro de la iluminacin, r = x 2 + y 2 y R(r) es la intensidad de la


mota observable, la separacin esta dada por:

0' =

2.44z
D

[18]

La figura 2.4 muestra grficamente lo dicho por la ec. [17] y [18]:

0'

Figura 2.4
Tamao de una mota
D=2 mm, z=1000 mm, =442 nm, I=127

24

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Capitulo 2: El Speckle

La amplificacin tambin modifica el tamao de la mota registrada. Para la figura 2.5


podemos escribir el tamao de la mota proyectada sobre una superficie debido a una
lente.

El tamao de la mota ser:

s =

1.22b
D

[19]

Introduciendo la definicin de apertura numrica para el lente: F

fL
, donde f L es
D

la distancia focal de la lente, obtenemos:

s = 1.22F (1 + m)

[20]

Figura 2.5
Formacin de una imagen de patrn de motas sobre un plano

Donde m es la amplificacin dado por( 5 ):

m=

(b f L )
fL

[21]

25

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Capitulo 2: El Speckle

Como comentarios a la formacin de speckle, podemos decir que este fenmeno no


puede ser explicados por la ptica geomtrica puesto que para ella, cada punto del
objeto le corresponde un punto en la imagen. Paradjicamente, el tamao de la mota
observada en un sistema ptico, no depende de la rugosidad de la superficie
iluminada sino del sistema ptico. El efecto de moteado est formado por la
interferencia espacial y existe en cualquier punto entre la lente y su distancia focal.
Por lo tanto, mientras que un objeto tiene su imagen en un sistema de lentes, un
patrn de speckle no.

2.3.

La Interferometra del speckle

La interferometra ocurre cuando dos haces de luz se interfieren entre ellos; en el caso
de speckle, dos patrones tambin pueden interferir. Con las nuevas tecnologas de
cmaras

digitales

es

posible

realizar

operaciones

entre

imgenes

casi

instantneamente y evitar as los largos tiempos que se toman los procesos de


revelado fotogrfico y hologrfico. La interferometra de speckle obtenida por
superposicin de dos imgenes antes y despus de un cambio dimensional en el
objeto no contienen las clsicas franjas de interferencia ptica puesto que la fase de
cada mota es estadsticamente independiente, sin embargo, cada mota en una imagen
puede interferir con su correspondiente en la otra imagen. Por lo tanto la
interferometra del speckle se puede tratar muy similar como si se tratara de la
interferencia ptica clsica. La fase del patrn de speckle se considera como un
promedio variablemente distribuida en la imagen en el rango de [0,2] ( 6 ).

Para entender esto, el procedimiento para esta tcnica es como sigue: supongamos
que dos haces iluminan un objeto, entonces la intensidad luminosa en el objeto ser la
suma de ambas:
I AB ( x, y ) = I A ( x, y )e i ( x , y ) + I B ( x, y )e i ( x , y ) .

[22]

26

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Capitulo 2: El Speckle

Aplicado la identidad de Euler, podemos simplificar la ecuacin anterior, sea ahora


I1(x,y) la intensidad luminosa de la primera imagen que usaremos de referencia. As
que simplificando la ecuacin [22] tenemos:
I1 ( x, y ) = I A + I B + 2 I A I B cos ( x, y ) ,

[23]

donde (x,y) es la fase promediada del patrn de speckle de la primera imagen y que,
como mencionamos, nos servir de referencia. Una segunda imagen es tomada
cuando un desplazamiento ocurre en el objeto, representada por I2(x,y). Por lo tanto,
existe una variacin en el promedio de la fase asociada con el desplazamiento y
no as, en la intensidad porque sta es independiente de la fase. La intensidad del
segundo patrn de speckle ser:
I 2 ( x, y ) = I A + I B + 2 I A I B cos[ ( x, y ) + ]

[24]

Al substraer de la imagen de referencia, la imagen con la variacin de fase y


obteniendo su cuadrado, obtenemos un patrn de franjas relacionadas con el
desplazamiento de la siguiente manera:

1
2

I ( x, y ) = I1 ( x, y ) I 2 ( x, y ) = 4 I A I B sin + sin
2

[25]

Amplitud o intensidad
total.
Patrn de franjas de alta frecuencia
asociados al speckle.
Puesto que el tamao de las motas es
mayor al periodo de las franjas, este
termino se considera solo ruido o speckle.
Este en un patrn de franjas de baja frecuencia que modula los
trminos anteriores. Este trmino representa las franjas
observables y contienen la informacin asociada al
desplazamiento.
27

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Normalmente

las

franjas

pueden

representar

Capitulo 2: El Speckle

aparte

de

la

deformacin,

desplazamientos o topografa de objetos, pero eso depende del tipo de arreglo ptico
que se utilice para obtener los patrones de speckle. La figura 2.8 muestra dos patrones
de speckle y su interferencia.

a)

b)

c)

Figura 2.8
a) Imagen de referencia, b) Imagen con una variacin en la fase, c) substraccin

2.4

Obtencin de la fase ptica

Representando de manera general el patrn de franjas la ec. [25] y despreciando el


termino asociado con el ruido, El patrn de interferencia de speckle pede tener la
forma( 7 ):
I ( x, y ) = I1 + I 2 + 2 I1 I 2 cos[ ( x, y ) + ] .

[26]

Ahora, la informacin de la deformacin est implcitamente contenida en la fase .


Extraer la informacin de la fase de la ecuacin [26] requiere de un procedimiento
matemtico no muy complicado. Existen varios mtodos con sus ventajas y
desventajas de los cuales es preferible utilizar el que mejor se adapte a las
condiciones fsicas al y tipo de medicin. Bsicamente trataremos de tres tcnicas
para encontrar la fase que contiene la informacin que necesitamos: los mtodos de
phase stepping, el mtodo de fourier y por ltimo, el mtodo directo.

28

Centro de Investigaciones en ptica A.C.


2.4.1.

Capitulo 2: El Speckle

El mtodo de phase stepping.

Es posible conocer la fase relacionada a un desplazamiento evaluando la variacin de


la fase en un periodo de 2, por lo tanto lo ms fcil de hacer es evaluar la fase ms
unos incrementos conocido hasta que se completa el periodo de 2. Se pueden hacer
pasos de 3, 4 o ms pasos de fase, de ah el nombre de la tcnica phase stepping en el
idioma ingls.
A partir de la ec. [26], sea los incrementos de /2, se requerirn 4 pasos para
completar un periodo completo:
I1 ( x, y ) = I A + I B + 2 I A I B cos[ ( x, y ) + 0].

I 2 ( x, y ) = I A + I B + 2 I A I B cos ( x, y ) + .
2

I 3 ( x, y ) = I A + I B + 2 I A I B cos[ ( x, y ) + ].

[27]

I 4 ( x, y ) = I A + I B + 2 I A I B cos ( x, y ) +
.
2

Grficamente, la fase se puede representar como se muestra en la figura 2.9a donde la


circunferencia representa el periodo de la fase con el mdulo 2:

a)

b)
Figura 2.9

Grficas de fase para phase stepping para a) 4 pasos donde = /2 , y b) 3 pasos donde = 2/3

29

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Capitulo 2: El Speckle

Para obtener la fase, recordemos que la interfase esta modulado por 2 entonces se
puede poner la fase como una funcin trigonomtrica( 8 ), segn la figura 2.9:

(i, j ) = arctan

nj
.

ni

n = nmero de paso

[28]

Entonces simplificando la ec. [28] y substituyendo en la ec. [27] obtenemos la fase


para un phase stepping de cuatro pasos a 90:
I4 I2

I1 I 3

= arctan

[29]

y para el phase stepping de 3 pasos a 120:


3 (I 3 I 2 )

2 I1 I 2 I 3

= arctan

[30]

Thomas Kreis, trata con ms detalle distintos tipos de phase stepping con distintos
pasos en fase .( 9 )

2.4.2.

El mtodo de Fourier

Las propiedades de la transformada de Fourier detectan la fase de un patrn de


franjas en funcin del campo de las frecuencias espaciales. Estas frecuencias son las
relacionadas con el patrn de franjas propias de la interferencia (frecuencia portadora)
y por otro lado, las frecuencias asociadas con la deformacin. Esencialmente, la
evaluacin de la transformada de Fourier de un interferograma es una serie de
combinaciones lineales entre funciones espaciales armnicas dada por la ecuacin
[26]; esta ecuacin se puede expresar en el campo complejo aplicando la identidad de
Euler para el coseno, de tal manera que:

30

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Capitulo 2: El Speckle

I1 ( x , y ) = I A ( x , y ) +

1
I B ( x, y ) ei 2fx ei ( x , y ) + e i 2fx e i ( x , y )
2
1
1
= I A ( x, y ) + I B ( x, y )ei ( x , y ) ei 2fx + I B* ( x, y )ei ( x , y ) e i 2fx
2
2

Donde * denota el conjugado de IB(x,y), haciendo B ( x, y ) =


B

[31]

1
I B ( x, y )e i ( x , y ) ,
2

A( x, y ) = I A ( x, y ) y aplicando la transformada de Fourier con respecto a x, a la ec.

[31] encontramos:

{I1 ( x, y )} = A( f , y ) + B( f f 0 , y ) + B* ( f + f 0 , y )

[32]

eliminando A(f,y) y B(f-f0,y) y haciendo que f0=0 (centrando a B*(f-f0,y)), aplicando la


transformada inversa de Fourier a B*(f,y) con respecto a f se obtiene la parte de B(x,y),
tal que despejando (x,y) nos da:
Im(B( x, y ) )

Re( B( x, y ))

( x, y ) = arctan

[33]

as obtenemos la fase (x,y) completamente separada de las variaciones de la


amplitud de la intensidad IB(x,y). La fase obtenida por este mtodo es indeterminada
B

por un factor de 2. Un ejemplo de este mtodo se observa en la figura 2.10 donde a)


es un patrn de franjas simuladas de un interferograma con variaciones que simulan
una deformacin lineal en direccin horizontal hacia la derecha, b) es una grfica de
la intensidad I(i,j) versus el nmero de pxel, c) muestra la transformada de Fourier
para I(i,j), d) muestra I*(i,j) centrada en la imagen, y por ltimo e) grfica de la fase
obtenida mediante la transformada inversa de Fourier de la grfica eliminando la
frecuencia portadora y la del interferograma inicial (con la portadora) para
comparacin.

31

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Capitulo 2: El Speckle

Interferograma

a)
Intensidades

I(x, y)

b)

50

100

150

200

Transformada de Fourier de la grfica de intensidades


B(f-f0, y)

B*(f-f0, y)

c)
Filtrado de la transformada de Fourier y centrado de B*(f-f0, y)

B*(f, y)

d)

50

100

150

200

La fase despus de aplicar la ec. [32] con la transformada inversa de Fourier de B*(f, y)
5

-----
----- portadora

200
7
100

e)

50

100

150

200

Figura 2.10
Mtodo de obtencin de la fase mediante el mtodo de Fourier.

32

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Capitulo 2: El Speckle

El mtodo de Fourier tiene dos desventajas importantes: los filtros utilizados deben
ser lo mas precisos para no filtrar de ms ni de menos a B*(f-f0,y) ya que la fase
recuperada podra acarrear errores en la medicin y la ambigedad de signo, puesto
que la fase es indeterminada en un rango de 0 a 2 lo que es lo mismo de - a ,
por lo tanto no est determinado en que cuadrante empieza la fase.

2.4.3.

El mtodo Directo

Este mtodo solo necesita una imagen para encontrar la fase, sea I(t) una imagen
obtenida en una secuencia de deformacin de un material de la forma:
I (t ) = I A (t ) + I B (t ) cos[wt + (t )]

[34]

para encontrar la fase, basta con multiplicar por cos(wt) y por sin(wt) a I(t):
I B (t )
I (t )
cos[ (t )] + B cos[2 wt (t )]
2
2
I (t )
I (t )
I (t ) sin( wt ) = I A (t ) sin( wt ) + B sin[ (t )] + B sin [2 wt (t )]
2
2

I (t ) cos( wt ) = I A (t ) cos( wt ) +

[35]

filtrando las altas frecuencias (wt), se obtiene:

I B (t )
cos (t )
2
I (t )
S (t ) = B sin (t )
2

C (t ) =

[36]

Aplicando el arco-tangente a la ec. [36] se obtiene la fase directamente.


S (t )

C (t )

(t ) = arctan

[37]

33

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Capitulo 2: El Speckle

La fase obtenida por este mtodo es de baja calidad puesto que es muy difcil filtrar
adecuadamente las altas frecuencias sobre todo si wt y la fase estn muy prximas. La
figura 2.11 muestra un ejemplo de este mtodo.

interferograma

intensidades
255

a0 , j

0
0

20

40

60

80

100

120

140

160

180

200

multiplicacin de las intensidades por cos(wt), sin(wt)


255

---

acos0 , j
asin0 , j
255
0

20

40

60

80

100

120

140

160

180

I(t)cos(wt)
I(t)sin(wt)

200

filtrado de las altas frecuencias (wt)


255

---

C0 , j
S0 , j
255
0

20

40

60

80

100

120

140

160

180

C(t)
S(t)

200

Aplicacin de la ec. [37] para encontrar la fase


------ (t)
------ portadora

200

100

50

100

150

200

Figura 2.11
Mtodo de obtencin de la fase mediante el mtodo directo.

34

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

2.5

Capitulo 2: El Speckle

Conclusiones

Lo ms importante del fenmeno de speckle es que se puede registrar con cualquier


dispositivo de captura de imgenes y esa imagen capturada nos revela una firma
caracterstica de la superficie iluminada. Con solo observar los cambios en el patrn
de speckle y compararlos con las mismas imgenes capturadas de referencia,
podemos hacer mediciones de los desplazamientos y obtener topografas en
superficies iluminadas. La nica restriccin que ponen estos mtodos, es que tanto la
fuente de iluminacin y la de captura deben permanecer invariantes en posicin o con
movimientos controlados mientras se ilumina el objeto. Otra limitante es que los
desplazamientos no pueden ser excesivos porque entonces el periodo de las franjas
observables superara a la frecuencia mxima del speckle y se perdera la
informacin.

A la prdida de franjas por desplazamientos excesivos se le llama decorrelacin del


patrn de speckle, de ah la importancia de obtener un tamao de mota adecuado para
poder detectar desplazamientos en los rangos de medicin deseados sin que ocurra la
decorrelacin.

Entre los distintos mtodos para encontrar la fase de un patrn de speckle podemos
mencionar que el mtodo preferido ser el que mejor se adapte a las condiciones de
medicin; para objetos dinmicos o en movimiento constante, es preferible los
mtodos de Fourier o el mtodo directo, la nica limitante es la adecuada seleccin de
los filtros. Para objetos estticos o con muy poco movimiento, es preferible el mtodo
de phase stepping ya que ofrece una mejor precisin en las mediciones; adems, es
importante obtener los pasos en los intervalos correctos.

35

Centro de Investigaciones en ptica A.C.


2.6

Capitulo 2: El Speckle

Referencias

Eugene HECHT, ptica, Addisson Wesley iberoamericana, Madrid, 2000.


(1)
pg. 609.
Thomas Kreis, Holographic interferometry, principles and methods,
(2)
Akademie Verlag, Berlin, 1996, pg. 31.
Goodman J.W. Statical propieties of laser speckle patterns, in Dainty, J.C.
(3)
(ed) Topics in applied physics 9: laser Speckle and Related Phenomena, Springer
Verlag, Berlin. Applied Optics, 9, 9-75, 1975.
(4)

Kjell j. Gasvik, Optical Metrology third edition, WILEY, pg.193. N.Y.

(5)

Kjell J. Gasvik, Optical Mtrology, ed. John Wiley & Sons, 1987, pg.149.

(6)
C.R. Coggrave, Wholefield optical metrology: Surface Displacement
measurement, a internal and institutional document from Phase Vision Ltd.
Hhttp://www.phasevision.com/H
(7)

Kjell J. Gasvik, Optical Mtrology, ed. John Wiley & Sons, 1987, pg.159.

(8)
Thomas Kreis, Holographic interferometry, principles and methods,
Akademie Verlag, Berlin, 1996, pg. 126.
(9)
Thomas Kreis, Holographic interferometry, principles and methods,
Akademie Verlag, Berlin, 1996, pg. 128.

36

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 3: Simulacin numrica

3. Simulacin numrica por tcnicas de elemento finito (FEA)

Una de las tareas fundamentales del ingeniero de diseo consiste en la prediccin


cuantitativa del comportamiento de un sistema o elemento mecnico para proceder a
su diseo eficiente.

Para ello debe hacer uso de conceptos de fsica y matemtica para formular un
modelo matemtico del sistema en consideracin. Dicho modelo no es ms que un
sistema de ecuaciones cuyas incgnitas representan magnitudes de inters como
podran ser las deformaciones o la distribucin de temperatura, lo cual describe el
comportamiento del objeto bajo anlisis. Consecuentemente, para llevar a cabo la
prediccin en s misma, el ingeniero debe resolver cuantitativamente un sistema de
ecuaciones para dedicarse, a continuacin, a la interpretacin tcnica y al anlisis de
los resultados.

En muchas situaciones, los modelos pertinentes involucran problemas de contorno


gobernados por ecuaciones diferenciales y derivadas parciales( 1 ). Por mencionar
algunos de dichos casos pueden citarse el estudio estructural de automviles, aviones,
puentes, o el anlisis de campo de flujo de calor en componentes de mquinas, flujo
de fluidos, filtracin en presas de tierra, etc.

Debido a la gran dificultad para obtener soluciones analticas a las ecuaciones


diferenciales y derivadas parciales, la ingeniera ha recurrido, histricamente, al uso
de modelos simplificados basados en resultados experimentales, experiencia y en el
mejor de los casos en unas pocas soluciones matemticas particulares relativas a un
modelo ms preciso. Estos modelos simplificados constituyen la denominada
"ingeniera prctica" y se encuentran reunidos en manuales y cdigos de
recomendaciones prcticas o reglamentos.

37

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 3: Simulacin numrica

Esta metodologa general de la ingeniera ha dado muy buenos resultados y an lo


sigue haciendo. No obstante, es importante notar que se trata de una metodologa que
presenta fuertes limitaciones en cuanto a las posibilidades de anlisis, hecho que se
hace ms grave si se consideran las crecientes necesidades de la tecnologa moderna.

La manera de trabajar del ingeniero de diseo ha ido cambiando con el advenimiento


de la computacin electrnica y con el desarrollo asociado de mtodos
computacionales. En este contexto han aparecido importantes tcnicas numricas
entre las cuales se destacan los mtodos de diferencias finitas, elementos de contorno
y elementos finitos.

En particular, el anlisis por elemento finito, FEA (Finite Element Anlisis, por sus
siglas en ingls) es el ms poderoso y, en consecuencia, el ms utilizado.

A continuacin se realiza una somera descripcin del mismo para luego comentar
algunas de sus muchsimas aplicaciones en la ingeniera prctica.

3.1.

Introduccin bsica al anlisis por elemento finito

Se trata de un mtodo general para la solucin de problemas de contorno gobernados


por ecuaciones diferenciales ordinarias o parciales. En esencia se trata de una tcnica
que sustituye el problema diferencial por otro algebraico, aproximadamente
equivalente, para el cual se conocen tcnicas generales de resolucin. Para ello hace
uso de la "discretizacin" o subdivisin de una regin sobre la cual estn definidas las
ecuaciones en formas geomtricas simples denominadas elementos finitos 2 . Las
propiedades materiales y relaciones gobernantes en estos elementos se expresan en
funcin de los valores desconocidos en los nodos un sistema de figuras geomtricas
bsicas que lo componen, Figura 3.1.

38

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 3: Simulacin numrica

Una de las ventajas de este mtodo es su facilidad de implementacin en un programa


computacional, que a su vez es una condicin bsica para su utilizacin ya que para el
tratamiento de un problema en particular debe efectuarse un nmero muy elevado de
operaciones para resolver sistemas algebraicos del orden de cientos o miles de
ecuaciones. No obstante, esta cantidad no es una limitacin con las computadoras
estndar de hoy.

a)

b)

c)

Figura 3.1
Aproximacin por anlisis de elemento finito de un sistema, a) contorno de una probeta mecnica, b)
enmallado para una probeta sin soldadura y c) para una probeta soldada.

Las ideas bsicas de este mtodo se originaron en avances en el anlisis estructural de


la industria aeronutica en la dcada del '50. En la dcada del '60 el mtodo fue
generalizado para la solucin aproximada de problemas de anlisis de tensin, flujo
de fluidos y transferencia de calor. El primer libro sobre elementos finitos fue
publicado en 1967 por Zienkiewicz y Cheung. En la dcada del '70 el mtodo fue
extendido al anlisis de problemas no lineales de la mecnica del continuo. Hoy el
mtodo permite resolver prcticamente cualquier situacin fsica que pueda
formularse mediante un sistema de ecuaciones diferenciales.

39

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 3: Simulacin numrica

En sus principios el mtodo de los elementos finitos no lleg masivamente a la


prctica de la ingeniera debido a la falta de disponibilidad de computadoras en los
estudios de ingeniera y por el otro al requisito de conocimientos profundos no
solamente de la tcnica y de los modelos matemticos pertinentes sino tambin de
programacin computacional. Actualmente, la situacin es completamente diferente,
ya que las modernas computadoras personales soportan sin inconvenientes poderosos
programas de propsito general de fcil utilizacin.

Para tratar este tipo de problemas usamos las aproximaciones numricas. En contraste
a la solucin analtica, que muestra el comportamiento exacto de un sistema en
cualquier punto del mismo, las soluciones numricas aproximan la solucin exacta
solo en puntos discretos o nodos.

El primer paso en cualquier procedimiento numrico es la discretizacin, este proceso


divide el medio de inters en un numero de pequeas subregiones y nodos, figura 3.1
b) y c).

Hay dos clases de mtodos numricos: primero, el mtodo de las diferencias finitas y
segundo, el mtodo de los elementos finitos.

Con el mtodo de las diferencias finitas, la ecuacin diferencial es escrita para cada
nodo y las derivadas son reemplazadas por ecuaciones diferenciales, con ello se logra
un conjunto de ecuaciones lineales simultneas, aunque este mtodo es fcil de
entender y utilizar en problemas simples, se presentan dificultades al aplicarlo a
geometras complejas o condiciones de contorno complejas, esta situacin es real
para problemas con materiales con propiedades no isotpicos (que no tienen iguales
propiedades en todas las direcciones).

En contraste, el mtodo de los elementos finitos usa unas formulaciones integrales


ms que ecuaciones diferencias para crear un sistema de ecuaciones algebraicas, por
otra parte una funcin continua aproximada se asume para representar la solucin

40

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 3: Simulacin numrica

para cada elemento, la solucin completa se genera conectando o armando las


soluciones individuales, permitiendo la continuidad de los limites nterelementales.

3.1.1 Pasos bsicos en el mtodo de los elementos finitos

Se presenta los pasos bsicos para el desarrollo del anlisis por elementos finitos.

3.1.1.1 Fase de preprocesado

Crear y discretizar la solucin dominio en elementos finitos, esto es,


subdividir el problema en nodos y elementos.

Asumir una funcin que va a representar el comportamiento fsico de un


elemento, que es, una funcin continua aproximada que se asume para la
solucin del elemento.

Desarrollar las ecuaciones para el elemento.

Armar los elementos a representar en el problema completo, construir la


matriz global de rigidez.

Aplicar condiciones de contorno, condiciones iniciales y cargas.

3.1.1.2 Fase de solucin

Resolver un conjunto de ecuaciones algebraicas lineales o no lineales


simultneas para obtener resultados nodales, tal como valores de
desplazamientos en diferentes nodos o valores de temperaturas en diferentes
nodos en un problema de transferencia de calor.

3.1.1.3 Fase de post-procesado

La obtencin de ms informacin en los puntos de inters se puede realizar


modificado las condiciones iniciales, por ejemplo, los valores de tensiones o flujos de
calor, mediante condiciones especiales y suposiciones.

41

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 3: Simulacin numrica

En general hay diversos modos de enfocar el problema con los elementos finitos:
primero, formulacin directa; segundo, formulacin usando la mnima energa
potencial y por ltimo, ponderado de las formulaciones residuales. Es importante
notar que en los pasos bsicos que se usan en el anlisis por elementos finitos no se
considera de importancia cmo se genera el modelo de figuras geomtricas de los
elementos finitos aunque siempre se busca la figura ms simple.

3.2. La programacin por el Mechanical Desktop de una probeta para el


anlisis de deformacin

El Autodesk Mechanical Desktop es un software dedicado al diseo mecnico, es


un poderoso modelador paramtrico geomtrico de slidos, ensambles y superficies
para el diseo de partes complejas completamente integrado dentro de un procesador
de grficos del AutoCAD.

En el modelado de piezas slidas en 3D se pueden incluir propiedades fsicas


virtuales a los elementos diseados para que sean aplicados a un anlisis por
elemento finito, puede realizar clculos de deformacin en 2D y 3D entre otras.

3.2.1. Modelacin de una probeta mecnica

La modelacin de la pieza mecnica para ensayarse empieza definiendo sus


dimensiones en 3D. La figura 3.2 muestra una probeta modelada y sus dimensiones.
Posteriormente, a la probeta slida se aplica una operacin de particin para formar
un enmallado para el anlisis por elemento finito.

La programacin de parmetros se hizo considerando carga esttica, los parmetros


introducidos se muestra en la tabla 3.1.

42

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Parmetro

Material

Captulo 3: Simulacin numrica

Valor

Unidades

Carga en el extremo 1

0 (fijo)

[ kN ]

Carga en el extremo 2

3.35; 5.15 y 7.3

[ kN ]

Material base

Acero A36

206.00

[ GPa ]

Material soldadura

Acero E6010

215.00

[ GPa]

Temperatura de ensayo

20

[ C ]

Tratamiento Trmico

ninguno
Tabla 3.1
Parmetros introducidos para la prueba por FEA

Figura 3.2
Modelacin de la probeta mecnica para el anlisis por FEA en 2D y 3D.

43

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 3: Simulacin numrica

3.3. Resultados y predicciones de la simulacin numrica

La simulacin de la deformacin se obtuvieron para una carga de 6.5 kN para la


probeta soldada y la probeta no soldada. En las grficas que se mostrarn, se observan
el enmallado inicial, el enmallado deformado por la carga virtual y una escala en falso
color indicando las deformaciones, la figura 3.3 muestra la deformacin total de la
probeta y la figura 3.4, las deformaciones para el elemento que capturar la cmara
CCD.

Los resultados que se observan en la simulacin predicen que se observar


deformaciones de 0.16 mm a una carga de 7.3 kN y se producirn esfuerzos de 524
/mm2 esto corresponde a una deformacin de entre 0.071 y 0.077

mm

/mm en la parte

central de la probeta, las deformaciones mximas, a 672 N/mm2, se esperarn de


0.0035

mm

/mm. Desde ahora podemos decir que se espera que, en la probeta soldada,

se observe una mayor deformacin

en los extremos y en la parte central las

deformaciones sern muy parecidas.


Probeta Soldada

Figura 3.3 a

44

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Captulo 3: Simulacin numrica

Probeta no soldada

Figura 3.3 b
Deformacin total de la probeta a una carga a la tensin de 7.3 kN

Probeta Soldada

figura 3.4 a

45

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Captulo 3: Simulacin numrica

Probeta no soldada

Figura 3.4 b
Simulacin por FEA de las probetas sobre el rea observada a una carga de 7.3 kN

3.4. Referencias
(1) Eduardo Ghershman, Introduccin al anlisis de elementos finitos.
http://www.geocities.com/lioraghershman/trapecio.htm, octubre 2005.
(2) Bertoline, Wieber, Miller y Moler, Dibujo en ingeniera y comunicacin
Grfica, segunda edicin, ed. Mc Graw Hill. Pag. 346, 974.

46

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

4. Medicin de la deformacin uniaxial para uniones soldadas mediante la


tcnica ESPI en plano

Para enfatizar la importancia que tiene el estudio de la deformacin en las uniones


soldadas, recordemos que los cambios en la estructura molecular producida por la
adicin de material con propiedades mecnicas distintas al material base a
temperaturas de fusin modifican la resistencia de la unin. En este captulo se
describe la tcnica ptica utilizada para la medicin de estas deformaciones en la
unin soldada a travs de un intervalo de tiempo.

4.1. Medicin del desplazamiento en plano

En la seccin 2.4 se muestro la tcnica para la interferometra del moteado. Se


utilizar esta tcnica para determinar los desplazamientos en plano que sufre una
unin soldada de una probeta mecnica.

La ec. [26] del captulo 2 describe un interferograma que tiene el registro del
desplazamiento en el argumento (x,y). La probeta es sometida a una fuerza la cual es
aplicada de manera continua mediante una mquina universal. Se toma una serie de
interferogramas, cada uno asociado a una deformacin observada en funcin del
tiempo. Estos interferogramas son capturados por una cmara CCD instalada en el
eje ptico del sistema.

Utilizando la ec. [30] de la seccin 2.5.1, se obtiene la fase asociada a los


desplazamientos en direccin de v mediante la tcnica de desplazamiento de fase, de
tal manera que al utilizar la ec. [32] de la seccin 1.4.2 en su forma aproximada( 1 ),
esto es considerando que ex y ez son igual a cero y considerando que ahora los
desplazamientos esta asociado con podemos determinar el desplazamiento como:

( x, y )
v ( x, y ) = r
e y ( x, y )

[1]

47

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

r
Donde ey(x,y) es la componente del vector de sensibilidad e ( x, y ) en la direccin del

eje y dada por la ec. [30] de la seccin 1.4.2.

De acuerdo a la ec. [3] para y de la seccin 1.2,

y =

v( x, y )
y

[2]

se calcula numricamente la derivada parcial del campo de desplazamiento v(x,y) el


cual fue obtenido por ESPI; posteriormente, utilizando La ley de Hook que relaciona
los esfuerzos y las deformaciones en cierta direccin mediante la ec. [5] de la seccin
1.2:

y =

y
E

[3]

donde E es el modulo de Young que para los aceros tiene el valor de 207 GPa, es
posible obtener los esfuerzos.

La medicin de la deformacin se obtuvo a intervalos de tiempo relativamente cortos


en un ensayo continuo a la tensin en una mquina universal para las probetas
soldadas y no soldadas, estas ltimas utilizadas como de referencia y control. A
continuacin se describe el sistema ptico utilizado durante las mediciones.

4.1.1. Sistema ptico propuesto

El sistema ptico propuesto consta de una fuente de iluminacin correspondiente a un


lser de 100 mW de He-Cd con una longitud de onda de 442 nm. El haz es dividido
en dos haces mediante un divisor (BS) con pelcula reflectora al 50%. Estos rayos son
redirigidos mediante espejos (M3 y M4) hacia la probeta. Ambos haces son
expandidos por objetivos de microscopios de 10X. El espejo M4 esta montado sobre

48

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

un piezoelctrico el cual es utilizado para realizar el phase stepping. La figura 4.1


muestra un esquema del sistema ptico utilizado y sus dimensiones, no muestra el
piezoelctrico. Una cmara CCD de 8 bits captura las imgenes a una razn de 30
cuadros por segundo a escala de 255 niveles de gris. La mquina universal y el
sistema ptico estn montados en una mesa neumtica para evitar vibraciones. La
figura 4.1 muestra el arreglo ptico utilizado.

v
u

Figura 4.1
Arreglo ptico utilizado en la medicin de la deformacin para una unin metlica soldada.

4.1.1.1.

Sensibilidad del sistema

La configuracin del sistema adquiere parmetros propios que se deben calcular para
determinar las correcciones o simplemente para obtener la resolucin mxima que se
puede esperar. De acuerdo a las dimensiones y equipo utilizado en el arreglo ptico
utilizado se calcula los siguientes parmetros.

El vector de sensibilidad. Sus componentes fueron calculados utilizando la


ecuacin [30] de la seccin 1.4.2. En la figura 4.1 se tiene que las coordenadas

49

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

de las fuentes de iluminacin con el sistema de referencia ubicada al centro de


la probeta mecnica: Xs1 = 0 mm, Ys1 = -365 mm, Zs1 = -950 mm, Xs2 = 0
mm, Ys2 = 365 mm, Zs2 = -950 mm; el rea de la superficie de la probeta
iluminada es de 55x13 mm2. Los resultados se observan en las siguientes
grficas, Figura 4.2.

Sensibilidad en el eje x

ex

ex

mm

/rad

Sensibilidad en el eje y

ey
x

ey mm/rad

Sensibilidad en el eje z

ez

ez mm/rad

Figura 4.2
Componentes del vector de sensibilidad del sistema ptico mostrado en la figura 4.1. Puesto que solo
la componente en y es mucho mayor, las componentes en el eje x y z se igualan a cero.

50

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Captulo 4: Experimentacin

El tamao de la mota en las imgenes. Segn la ec. [19] de la seccin 2.2, el


tamao de la mota esperado ser de 0.215 m tomando en cuenta que es de
442 nm, b = 0.022 m y D = 0.055 m.

4.1.2.

Control de parmetros

El sistema ESPI es controlado por dos computadoras, una dedicada al sistema ptico,
captura y procesamiento de imgenes y otra para el control mecnico de la mquina
universal. Los ajustes de los parmetros de control se realizaron tomando en cuenta
los valores lmites de trabajo normal de los equipos para evitar daarlos y obtener un
intervalo de trabajo lo ms amplio posible. Suponemos que los equipos utilizados
estn calibrados y que las mediciones obtenidas tambin estn dentro de los lmites
de precisin que segn los certificados de los fabricantes estiman. Los parmetros
que se controlaron fueron: la velocidad de la cruceta de desplazamiento para la
deformacin de muestras mecnicas y las cargas aplicadas, la taza de captura de
imgenes por la cmara CCD y por ltimo, el desplazamiento y posicionamiento del
piezoelctrico montado en M4.

Puesto que el ensayo es dinmico, y la tcnica de desplazamiento de fase supone que


la muestra ensayada esta en condiciones estticas, la velocidad de deformacin de la
probeta versus la taza de captura de imgenes para el desplazamiento de fase debe ser
mucho menor de tal manera que la velocidad de deformacin se pueda considerar casi
cero con respecto a la taza de captura de imgenes; por lo tanto, se debe de estimar el
error producido por esta condicin.

51

Centro de Investigaciones en ptica A.C.


4.1.2.1.

Captulo 4: Experimentacin

Velocidad de desplazamiento para la deformacin.

La velocidad de la deformacin de la probeta es seleccionada a 0.125 mm/min, es decir


2.083x10-6 m/s este parmetro se registra en el programa de control Instrom que
acompaa a la mquina universal. La muestra se fija firmemente por la parte inferior
mientras que por la parte superior se sujeta por unas mordazas que la sometern a la
tensin.

4.1.2.2.

Ajuste de extensmetro.

El extensmetro registra la deformacin entre dos marcas hechas sobre las probetas,
cuya separacin es de 2 pulgadas es decir, 50.8 mm. Estas marcas sealan el rea bajo
estudio la cual es registrada por la cmara CCD. El extensmetro tiene una resolucin
mnima de 0.0005 mm de acuerdo a las especificaciones del fabricante y es montado
por la parte posterior de la probeta mediante dos navajas fijadoras firmemente
presionadas sobre la muestra.

4.1.2.3.

Control y optimizacin de desplazamiento de piezoelctrico.

Para llevar a cabo la obtencin de la fase, se utiliza un piezoelctrico ubicado en M4


(figura 4.3), el cual es controlado por un generador de voltaje que a su vez es
controlado por un programa creado en LabVIEW (ver el apndice B). El
piezoelctrico nos permite ajustar el corrimiento de la fase para que sea de 2/3 entre
imagen e imagen. En la calibracin del piezoelctrico, los desplazamientos se
ajustaron de 0 a 4.8V, es decir de 0 a 4.8 m, para la cual se observa un cambio de
fase completo sobre la muestra con pasos de 1.6 m correspondientes a los 2/3 entre
imgenes. Los valores de los desplazamientos del piezoelctrico se obtuvieron en un
principio al graficar, mediante un programa creado en LabVIEW, el nivel de
iluminacin de un grupo de pxeles centrales de la imagen del interferograma
correspondiente a la muestra cargada estticamente cuando el piezoelctrico realiza el
corrimiento de fase; para este caso, no existe aumento en la frecuencia espacial de la

52

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

fase. Posteriormente se hizo un ajuste considerando que la prueba est en condiciones


dinmicas, este ajuste se menciona con ms detalle en la seccin 4.1.2.5.

Montura
M4
4.8 m
Piezoelctrico
Base

Figura 4.3
Montura del piezoelctrico en el espejo M4

4.1.2.4.

Razn de captura de imgenes y ajustes de la cmara CCD

La velocidad de captura de las imgenes corresponde a 30 imgenes por segundo, lo


que corresponde a una imagen a cada 138.9 nm de deformacin aproximadamente en
la parte central de la muestra. La figura 4.4 muestra la grfica de velocidades de
deformacin locales sobre la probeta.

Puesto que una imagen en video en el sistema NTSC (National Television Standards
Committee) la captura se hace por renglones pares e impares, existe una diferencia de
tiempo entre la captura de imgenes pares e impares; por lo tanto, para disminuir
errores que ocasiona esta diferencia solo se trabaj con las lneas pares de la cmara
CCD, por lo tanto los nmeros de pxeles registrados en las imgenes se ven
reducidos a la mitad a lo largo del eje x. Un programa elaborado en LabVIEW

(ver

apndice B) controla la adquisicin de imgenes para su procesamiento digital


posterior. La imagen capturada de la escala de un vernier nos sirve para establecer la
relacin pxel por milmetros. La figura 4.5a muestra la imagen obtenida para
establecer esta relacin y la figura 4.5b muestra los resultados de la corrida de un
programa elaborado en MathCAD para este fin. Este programa evala la intensidad

53

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

de la imagen en una sola lnea. Posteriormente cuenta el total el total de pxeles y los
mnimos (las lneas de la escala) de la imagen, as establece la relacin entre las
lneas de la escala (esto es cada 0.5 mm) y el total de pxeles de la imgen.
Velocidad de deformacin vs. La dimensin
velocidad de deformacin Vs. la dimencion
de la probeta

250

200

150

parte central de la probeta


100

velocidad esperada

Y Longitud de la probeta [mm]

de la probeta

50

0.0

0.5

1.0

1.5

2.0

2.5

X velocidad de la cruceta [m/s]

Figura 4.4
Grfica de la velocidad de deformacin local, la probeta est firmemente sujeta por la parte inferior
(velocidad nula) y solo la parte superior es la que se desplaza a una velocidad constate (2.083 m/s)

a)
PATRON

50

100

150

200

250

300

350

400

450

500

550

600

b)
Total pxeles: 636, Total de franjas = 112.83

Relacin [mm] por [pxel] = 0.089 [ mm/Px ]


Figura 4.5

Clculos para estimar la relacin pxel por milmetro, a) imagen para calibracin y b)
resultados de un programa que cuenta franjas y da como resultado la cantidad de pxeles
por milmetro y viceversa.

54

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4.1.2.5.

Captulo 4: Experimentacin

Estimacin del error causados por la dinmica de la


deformacin durante el proceso del phase stepping y el
posicionamiento del piezoelctrico

Como se mencion en la seccin 4.1.2, que la tcnica de phase stepping supone


condiciones estticas. La deformacin continua conlleva a un incremento en la
frecuencia espacial del interferograma, empieza con la formacin de una franja y
conforme se deforma la probeta, la aparicin de franjas continua hasta que ocurre la
decorrelacin. La figura 4.6 muestra un ejemplo del desarrollo temporal de la
frecuencia asociada a la deformacin en los interferogramas.

30

PATRON

7
25

20

15

10
5
5

50

100

150

200

250

300

350

400

450

500

550

600

640

80

PATRON

)
i

60

40

20
5
0

50

100

150

200

250

300

100

150

200

250

300

350

400

450

500

550

600

350

400

450

500

550

600

80

PATRON

65

60

ai

40

20
5
0

50

640

00

PATRON
80

60

40

20

50

100

150

200

250

300

350

400

450

500

550

600

640

00

PATRON
80

60

40

20

50

100

150

200

250

300

350

400

450

500

550

600

640

Figura 4.6
Evolucin temporal de la interferencia para cada 12 cuadros a una velocidad de deformacin de
0.125

mm

/s y conteo de franjas.

55

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Captulo 4: Experimentacin

El tiempo transcurrido en la realizacin del phase stepping de tres pasos fue de 100
ms. En ese tiempo la fase temporal va de 0.150 hasta 0.652 rad. Considerando lo
anterior, se ajust lo mejor posible el piezoelctrico como se menciona en la seccin
4.1.2.3 para establecer el paso correcto para la tcnica de phase stepping. En la figura
4.7 se muestra la grfica que representa la fase para cada imagen obtenida de los tres
pasos del phase stepping para una muestra de 84 series.

En las 84 series de imgenes capturadas de tres pasos se ha repetido este proceso, la


figura 4.8 muestra el aumento de la frecuencia espacial en la fase para cada imagen
durante la evolucin temporal de la medicin de la deformacin de la probeta, el error
que se presenta considera el error de posicionamiento del piezoelctrico durante el
phase stepping y el aumento de la fase, esto es tomando en cuenta la separacin en
pxeles de la fase de la primera imagen del phase stepping (igual a 2) y
comparndola con las otras dos, el error corresponde a la diferencia en pxeles
expresadas en radianes entre el periodo de la fase de la primera imagen y la segunda,
y posteriormente con la tercera.
30

PATRON

25.601
25

( p i)

20

mai
mii 15
10
5
5

50

100

150

200

250

300

Phase stepping paso No. 1

350

400

450

500

118

550

600
640

249

Primera cresta: pxel No. 2


Segunda cresta: pxel No. 337
Diferencia en pxeles a 2= 335
25

PATRON

23.539

20

( p i)
mai 15
mii
10

5
5

50

100

150

200

250

300

Phase stepping paso No. 2

350

400

450

500

118

550

600
640

249

Primera cresta: pxel No. 133


Segunda cresta: pxel No. 412
Diferencia en pxeles equivalente a 2=279
30

PATRON

25.203
25

( p i)

20

mai
mii 15
10
5
5

50

100

Phase stepping paso No. 3

150

200

250

300

350
i

400

450

500

118

550

600

249

640

Primera cresta: pxel No. 237


Segunda cresta: pxel No. 490
Diferencia en pxeles equivalente a 2=253
Figura 4.7 (continua)

56

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

Paso No. 2
Imagen 2

11

125

p
2

Paso No. 1

3p
2

Imagen 1

0
12

Paso No. 3
Imagen 3

Figura 4.7 (continuacin)


Muestra imgenes obtenidas del mtodo phase stepping durante la medicin para evaluar el aumento
de la fase y encontrar el error para el ajuste del piezoelctrico.

Error de cada imagen en


radianes en la posicion
de la fase ( series pares )
Aproximacin polinomial

0.8

Lmite superior
0.6

Error [rad]

0.4

0.2

Lmite inferior
0.0

-0.2

20

40

60

80

100

120

140

Imgenes obtenidas
Figura 4.8
Aumento de la frecuencia espacial en la fase para las imgenes de las series pares, el error que se
presenta considera el aumento de la fase y el error de posicionamiento del piezoelctrico durante el
phase stepping.

57

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

4.1.3.

Captulo 4: Experimentacin

Puesta en marcha de la medicin

Una vez corregido y ajustado lo mejor posible los instrumentos y de realizar


mediciones previas para el ajuste del phase stepping, se monta la probeta que va a ser
analizada en la mquina universal, se introduce una precarga para estabilizar el
mdulo de Young en una zona donde la pendiente en el diagrama carga-deformacin
permanezca constante. Encontramos que es suficiente una precarga a partir de 1.5 kN.
(figura 4.9)

Una de las ventajas de la precarga es el ajuste de las mordazas sobre la probeta y la


correccin de la inclinacin que pudiera tener ocasionado por el montaje, tambin se
asegura que las lneas de esfuerzo corran paralelamente con respecto a la sensibilidad
del sistema ptico. La figura 4.9 muestra los diagramas de carga deformacin para
ambos tipos de probetas obtenidos en pruebas previas a la medicin mediante la
instrumentacin y software que acompaa la mquina universal.

Figura 4.9
Diagrama Carga Deformacin para las probetas utilizadas.

58

Centro de Investigaciones en ptica A.C.


4.1.4.

Captulo 4: Experimentacin

Obtencin de imgenes.

La obtencin de las imgenes y el phase stepping, se realiza a intervalos de tiempo


constantes, a cada 4 segundos; Durante ese tiempo, la formacin de franjas tiene un
aumento en la frecuencia espacial constante mientras permanezcamos dentro de la
zona elstica del material sin llegar a la zona de fluencia. La figura 4.10 muestra un
esquema sobre la obtencin de las imgenes durante la prueba. Las imgenes se
fueron almacenando en la memoria de la computadora, ah, simultneamente un
programa en LabVIEW realiza los clculos para la obtencin de la fase envuelta. En
la seccin 4.2. se analizan estos resultados

y
tn
tn+Dt
tn+2Dt

t1

t
t2
t3
t4

tn >>Dt

t5
...

tn
a)

Figura 4.10 (continua)

59

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

y
tn
tn+Dt
tn+2Dt

t1

t
t2
t3
t4

tn >>Dt

t5
...

tn
b)

Figura 4.10 (continuacin)


Obtencin de las imgenes para la medicin de la deformacin para a) una probeta no soldada y para
b) una probeta soldada; t= 4,8,12,16,...336 [s], t= 50 [ms], n= 1,2,...84 imgenes.

4.1.5.

Discusin acerca de la tcnica utilizada

Hasta este momento se ha podido comprobar que la tcnica de la medicin de la


deformacin en las condiciones descritas anteriormente se puede hacer en tiempo real
o almacenar la informacin para un post-proceso, como en este caso. Esta tcnica no
pretende compararse con la tcnica de TSPI (temporal electronic speckel pattern
interferometry) puesto que utiliza un algoritmo distinto para evaluar la fase en un
intervalo de tiempo continuo( 2 ),( 3 ). La desventaja de la tcnica TSPI en comparacin
a la tcnica presentada es que existe una rpida decorrelacin que limita el rango de
medicin de la deformacin del elemento mecnico. La tcnica propuesta extiende su
rango de medicin de la deformacin de manera indefinida.

60

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

El error introducido por el aumento en la frecuencia espacial de la fase, es pequeo


comparado con el aumento de la deformacin dentro del intervalo de la aplicacin de
la tcnica de phase stepping. Se debe establecer un lmite para determinar hasta dnde
se puede tolerar ese error. Por ahora, este lmite queda fuera de los alcances que
pretende esta tesis.

Se ha intentado utilizar el mtodo de Fourier para obtener la fase envuelta por cada
interferograma, pero las bajas frecuencias espaciales y su aumento durante el ensayo
mostradas en los interferogramas complica el filtrado en tiempo real de la frecuencia
de la parte conjugada y la fase obtenida no es de buena calidad.

Proponer un mtodo para la optimizacin y el control del piezoelctrico establece un


gran reto, establecer dnde posicionar el piezoelctrico en una prueba dinmica
result bastante complicado; la nica informacin tangible hasta el momento sobre el
posicionamiento se obtiene con la ubicacin de la fase en los interferogramas
obtenidos y posteriormente volver a repetir la medicin. En este caso, el ajuste del
piezoelctrico se estableci a prueba y error.

4.2.

Proceso matemtico para la obtencin de la deformacin

La figura 4.11 muestra las fases envueltas para la probeta soldada y no soldada.
Aplicando la tcnica de corrimiento de fase implementada en un programa de
LabVIEW (ec. [27], para tres pasos de la seccin 2.5.1). Los ejemplos seleccionados
fueron tomados de 84 imgenes correspondientes a las cargas de 3.3 kN, 5.2 kN y
7.3 kN. Estas cargas estn situadas al principio, a la mitad y fin de la prueba para
establecer grficamente una comparacin entre ellas de la evolucin de la
deformacin. Una vez obtenida la fase envuelta para cada serie, se aplico otro
algoritmo en un post proceso para la obtencin de la fase desenvuelta.

61

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

Utilizando la fase desenvuelta y la componente del vector de sensibilidad ey, se


obtiene la componente del vector desplazamiento a travs de la ecuacin [1] y
finalmente la deformacin a partir de la ec. [2] de la seccin 4.1.

Las deformaciones obtenidas a partir de cada serie se suman para observar la


evolucin temporal de la deformacin de las probetas. Ah se observa cmo la
soldadura modifica los patrones de deformacin de una probeta soldada. Tambin se
obtiene la evolucin temporal de la deformacin de la probeta no soldada para
utilizarla como referencia y comparacin.

Probeta soldada

carga: 3.3 KN

Probeta no soldada

a)

carga: 3.4 KN

5.2 KN

b)

5.1 KN

7.3 KN

c)

7.3 KN

Figura 4.11
Ejemplos de los resultados obtenidos para tres series, imgenes de los tres pasos del phase stepping y
la fase envuelta obtenida. a) a principios de la medicin, b) a mediados y c) a finales.

62

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

4.2.1.

Captulo 4: Experimentacin

Descripcin de la programacin del sistema para la tcnica


phase stepping de tres pasos para la obtencin de la fase
envuelta.

La captura de las imgenes se realiz con la programacin del control de


instrumentos reales y virtuales de tal manera que las imgenes sean corregidas en su
contraste, brillo y tiempo entre cada phase stepping; una vez capturadas, se
almacenaron directamente a la memoria RAM de la computadora previamente
filtradas mediante un kernel de suavizacin. Una vez guardadas, ah se hizo los
clculos necesarios del phase stepping y el resultado se almacena directamente en el
disco duro. Los resultados se muestran en una grfica en el monitor, figura 4.12.

Figura 4.12
Display del programa para la captura de imgenes.

63

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

La componente ey del vector de sensibilidad para el sistema se calcul con la ec. [30]
de la seccin 1.4.3. (figura 4.2). Una vez obtenida la fase y la componente ey, es
posible la obtencin de la componente v(x,y) del vector de desplazamiento a travs de
la ecuacin [1] de este captulo. La grfica es mostrada en la figura 4.15. El interfaz
del programa que calcul la componente v(x,y) se muestra en la figura 4.13

a)

v(x,y)

b)
Figura 4.13
Interfaz del programa en LabVIEW que calcula, a partir de las imgenes capturadas: a) el
desenvolvimiento de la fase, y b) los desplazamientos sufridos por la probeta aplicando la ec.[1]
del presente captulo.

4.2.2.

Clculo de la deformacin.

Para calcular la deformacin unitaria a partir de los desplazamientos obtenidos, se


implement otro programa en MathCAD que calcula la derivada de los
desplazamientos con respecto a y. El algoritmo del programa( 4 ) esta basado en la ec.
[2] del presente captulo con y = 0.089 mm/px (ver figura 4.5) de tal modo que:

64

Centro de Investigaciones en ptica A.C.


f ' ( yi , j ) =

Captulo 4: Experimentacin

f ( yi , j + 2 ) + 4 f ( yi , j +1 ) 3 f ( yi , j )
2y

i = 1,2,3,...63
,
j = 1,2,3,...560

[4]

Donde i es el nmero de la fila y j el nmero de columna de la imagen en pxeles. La


figura 4.14 muestra la fase envuelta y el desenvolvimiento de fase, los mapas de
desplazamientos v(x,y) segn la ec.[1] de este captulo se muestran en la figura 4.15
para las mismas tres cargas que tuvieron lugar en tiempos diferentes durante la
medicin para los casos de una probeta soldada y otra no soldada.

Probeta Soldada

Probeta no soldada

a) carga: 3.35 kN

b) carga: 5.15 kN

c) carga: 7.3 kN

Figura 4.14
Fase envuelta y fase desenvuelta para probetas soldadas y no soldadas para las cargas de a) 3.35kN,
b) 5.15 kN, c) 7.3 kN

65

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Captulo 4: Experimentacin

Probeta Soldada

v(x,y)
mm

Probeta no soldada

v(x,y)
mm

a) carga: 3.35 kN

v(x,y)
mm

v(x,y)
mm

b) carga: 5.15 kN

v(x,y)
mm

v(x,y)
mm

c) carga: 7.3 kN
Figura 4.15
Grfica de desplazamientos v(x,y) para probetas soldadas y no soldadas para las cargas de a) 3.35kN,
b) 5.15 kN, c) 7.3 kN

66

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

Finalmente, la deformacin segn la ec. [2] de este captulo en la figuras 4.16a, 4.16b
y 4.16c para las mismas tres cargas que tuvieron lugar en tiempos diferentes durante
la medicin para los casos de una probeta soldada y otra no soldada.

a) carga: 3.35 kN
Probeta soldada (Escalas en mm)
3.31

6.62

9.92

13.23

16.54

19.85

23.16

26.46

29.77

33.08

36.39

39.7

11.75

8.81

5.87

2.93

0.008
0.006

)0.004
0.002
0

50

Probeta No soldada

100

4.45

150

8.90

13.35

200

17.80

250

22.25

300

350

26.70

400

31.15

450

35.60

40.01

(Escalas en mm)
3.31

6.62

9.92

13.23

16.54

19.85

23.16

26.46

29.77

33.08

36.39

39.7

11.75

8.81

5.87

2.93

0.008
0.006

)0.004
0.002
0

01

51
4.54

101
8.99

151
13.44

201
17.90

251
22.34

301
26.79

351
31.24

401
35.69

40.14

Figura 4.16a
Grfica de deformacin para probetas soldadas y no soldadas, para las cargas de 3.35kN, la figura en
falso color representa la deformacin sobre la superficie, la grfica es el promedio de la misma
deformacin de la superficie

67

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

b) carga: 5.15 kN

Probeta soldada

(Escalas en mm)
3.31

6.62

9.92

13.23

16.54

19.85

23.16

26.46

29.77

33.08

36.39

39.7

11.75

8.81

5.87

2.93

0.008
0.006

)0.004
0.002
0

50

100

4.45

Probeta No soldada

150

8.90

13.35

200

17.80

250

22.25

300

350

26.70

31.15

400

450

35.60

40.01

(Escalas en mm)

3.31

6.62

9.92

13.23

16.54

19.85

23.16

26.46

29.77

33.08

36.39

39.7

11.75

8.81

5.87

2.93

0.008
0.006

)0.004
0.002
0

01

51
4.54

101

8.99

151
13.44

201
17.90

251

22.34

301

26.79

351

31.24

401

35.69

40.14

Figura 4.16b
Grfica de deformacin para probetas soldadas y no soldadas, para las cargas de 5.15 kN, la figura en
falso color representa la deformacin sobre la superficie, la grfica es el promedio de la misma
deformacin de la superficie

68

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

c) carga: 7.3 kN
Probeta soldada (Escalas en mm)
3.31

6.62

9.92

13.23

16.54

19.85

23.16

26.46

29.77

33.08

36.39

39.7

11.75

8.81

5.87

2.93

0.008
0.006

)0.004
0.002
0

00

50
4.54

Probeta No soldada

100
8.99

150
13.44

200
17.90

250
22.34

300
26.79

350
31.24

400
35.69

450
40.14

(Escalas en mm)
3.31

6.62

9.92

13.23

16.54

19.85

23.16

26.46

29.77

33.08

36.39

39.7

11.75

8.81

5.87

2.93

0.008
0.006

)0.004
0.002
0

01

51
4.54

101
8.99

151
13.44

201
17.90

251
22.34

301
26.79

351
31.24

401
35.69

40.14

Figura 4.16 c
Grfica de deformacin para probetas soldadas y no soldadas, para las cargas de 7.3 kN, la figura en
falso color representa la deformacin sobre la superficie, la grfica es el promedio de la misma
deformacin de la superficie

69

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

Los resultados mostrados en las figuras 4.16a 4.16b y 4.16c, representan la


deformacin de las probetas soldada y no soldada de cada imagen de la figura 4.14.
Observamos que en la probeta soldada, la deformacin en la soldadura es menor
comparada con el material base que est a su alrededor. Esta a su vez, muestra que la
deformacin aumenta a mayor ritmo desde la soldadura hacia los extremos. Para la
probeta no soldada, la deformacin es uniforme.

Sumando la deformacin de cada imagen a la anterior, se puede observar la evolucin


temporal de la deformacin, La figura 4.17 nos muestra el promedio de la
deformacin total acumulada, para la probeta soldada de 0 hasta 7.3 kN y la figura
4.18 para la probeta no soldada, tambin desde 0 hasta 7.3 kN

0.20
0.18

Deformacin acumulada
Aproximacin polinomial

Deformacin total yy en mm

0.16
0.14
0.12
0.10
0.08
0.06

Zona de soldadura

0.04
0.02
0.00
0

10

15

20

25

30

35

40

longitud de la muestra observada en mm

Figura 4.17
Promedio de la deformacin total acumulada para una probeta soldada hasta 7.3 kN

70

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

0.20
0.18

Deformacin totalyy en mm

0.16

Deformacin Acumulada
Aproximacin polinomial

0.14
0.12
0.10
0.08
0.06
0.04
0.02
0.00
0

10

15

20

25

30

35

40

Longitud de la muestra observada en mm

Figura 4.18
Promedio de la deformacin total acumulada para una probeta no soldada hasta 7.5 kN

4.3.

Comparacin de mediciones obtenidas de ESPI vs. FEA

La figura 4.13 muestra una comparacin de los datos obtenidos por la tcnica ESPI y
la tcnica FEA. Refirase tambin a las figuras 3.3 en el captulo 3 para la probeta
soldada. La grfica de deformacin para el sistema FEA se obtuvo promediando la
suma por rengln de los resultados obtenidos de la simulacin de la probeta virtual.
En la comparacin entre los dos mtodos se observa que concuerdan en aproximacin
los resultados; Aunque existen variaciones en los resultados, estos los podemos
atribuir a la poca flexibilidad del mtodo FEA al definir las caractersticas de tipo de
material para cada nodo. En la probeta soldada, existe una zona de transicin entre el
material base y el material de la soldadura, el elemento simulado por FEA no existe
esta zona de transicin debido a limitaciones del software empleado. En la frontera de
la soldadura existe un cambio repentino en las propiedades de los nodos; es decir,
existe un cambio en el tipo de materiales virtual de un nodo a otro. An as, la
aproximacin obtenida por FEA se apega a las mediciones obtenidas por ESPI. Por
otro lado, el ruido inherente y poco filtrado por kernel de suavizacin del patrn de

71

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 4: Experimentacin

motas observado en las probetas, nos obliga a realizar aproximaciones polinomiales


de buena calidad que se ajustan de manera muy aceptable al promedio de la
deformacin total de las probetas utilizadas.

a)

FEA

ESPI

b)
Figura 4.13
Comparacin entre las tcnicas ESPI y FEA para la deformacin de a) una probeta soldada y b) no
soldada. La simulacin por FEA se hizo a una carga de 7.3 kN

72

Centro de Investigaciones en ptica A.C.


4.4.

Captulo 4: Experimentacin

Referencias

(1) Amalia Martinez, J.A. Rayas, Evaluation of error in the measurement of


displacement vector components by using electronic speckle pattern interferometry,
Opt. Comm. (2006), accepted.
(2) Xide Li, Yizhang Yang, Gang Tao, Rongxian Li, Deformation analysis with
temporal speckle pattern interferometry Tsinghua University, Opt. Eng. 40(2) 310
317 (February 2001)
(3) Manuel Servin, Abundio Davila, and Juan Antonio Quiroga, Extended-range
temporal electronic speckle pattern interferometry, applied optics Vol. 41, No. 22
(August 2002)
(4) Steven C. Chappra, Raymond P. Canale, Mtodos numricos para ingenieros
Ed. Mc. Graw Hill. 1987, pg 87-93.

73

Centro de Investigaciones en ptica A.C.


5.

Captulo 5: Conclusiones

Conclusiones Generales

Los resultados mostrados revelan la necesidad de considerar las soldaduras cuando el


diseador mecnico evala tericamente su trabajo. El objetivo de esta tesis fue
mostrar esta importancia y se ha cumplido. La tcnica mostrada puede utilizarse para
evaluar la evolucin de la deformacin en elementos mecnicos y as revelar sus
comportamientos frente a la deformacin.

En lo particular, la tcnica ESPI utilizada en un evento dinmico ofrece una


alternativa ms para evaluar la evolucin de las deformaciones en tiempos discretos
casi en tiempo real y prolongados.

La tcnica propuesta funciona satisfactoriamente y cumple con los objetivos


propuestos de medir la deformacin local de elementos mecnicos, auque todava
falta hacer ms estudios tericos del efecto del aumento de la frecuencia espacial en
la tcnica de phase stepping.

El control de los instrumentos tambin juega un papel importante en la obtencin de


una medida precisa, y lo ms exacta posible.

5.1.

Acerca de la tcnica basada en ESPI en plano para la obtencin de la


deformacin en un evento dinmico

La tcnica ESPI tiene la ventaja que ofrece buenas aproximaciones en las mediciones
en el orden que va de unos cuantos nanmetro hasta cientos de micrmetros. En la
utilizacin de pruebas estticas de la deformacin, se debe tener mucho cuidado con
la decorrelacin, que ciertamente pone un limite en el rango de la medicin. La
utilizacin de esta tcnica de la manera propuesta en esta tesis, amplia los rangos de
medicin ms all de lo que la tcnica simplemente no puede hacer en estados
estticos; as el rango de medicin se puede extender a varios milmetros segn la
capacidad de memoria de almacenamiento de imgenes y la velocidad de

74

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 5: Conclusiones

deformacin de la muestra. Esta tcnica difiere en esencia de una tcnica similar,


basada tambin en ESPI conocido como TSPI, temporal Speckle pattern
interferometry, en que esta ltima observa la evolucin y el aumento de la frecuencia
espacial de las franjas hasta que no se pueda distinguir una de otra u ocurra la
decorrelacin; en dado caso, esta tcnica tambin esta limitada a deformaciones en el
orden de unos cuantos micrmetros.

Entre los parmetros ms importantes a cuidar de esta tcnica es el control del


piezoelctrico y su posicionamiento. La calidad con que se haga estos pasos influir
en los resultados. Como se mencion anteriormente, hace falta hacer un estudi
terico ms completo acerca del efecto de la frecuencia espacial de la fase en el
proceso del phase stepping controlado por el piezoelctrico.

La conclusin ms importante del sistema propuesto, es que se ha empezado a


desarrollar un mtodo ptico de buena calidad para ser implementado en ensayos no
destructivos y ensayos dinmicos de materiales para ingeniera. Los resultados
obtenidos con este mtodo pueden ser bien aprovechados para la caracterizacin de
materiales y posteriormente, ser considerados en los clculos del diseo mecnico.

5.2.

Conclusiones acerca de los resultados obtenidos

Se observ que la evolucin de la deformacin en las probetas soldadas difiere


bastante con respecto a la deformacin en las probetas no soldadas. Es comn en la
prctica de la ingeniera no considerar las soldaduras como elementos separados que
pudieran ocasionar deformaciones diferentes a la que podra ocasionar un elemento
idntico sin soldadura. Se ha demostrado que existen variaciones hasta del 40%
(figura 5.17 y 5.18) en la deformacin lo que obviamente incrementa el esfuerzo a la
tensin presente en las inmediaciones de la soldadura aplicada. La zona de transicin
entre el material base y la soldadura es la parte donde se recibe el incremento de
esfuerzo. Esta zona equilibra la relacin de deformacin entre una soldadura que se

75

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 5: Conclusiones

deforma poco en comparacin al material base; esta observacin nos lleva a concluir
que en el caso de existir una falla en la unin soldada de la probeta justamente se
producira entre 10 y 20 mm de la seccin observada. (Refirase nuevamente a la
figura 5.17)

Los resultados ponen en evidencia que es necesario considerar las soldaduras en el


diseo de elementos de mquinas y en elementos que han sido reparados con
soldadura. Es importante considerar estos efectos en la deformacin para el clculo de
factores que limiten el esfuerzo admisible de diseo.

Es interesante observar la pendiente que se observa de la deformacin en la probeta


no soldada, figura 5.18. Se puede concluir que la parte que menos se deforma es la
que se encuentra fijada firmemente en la base de la mquina universal mientras que el
otro extremo, la que ms se ha deformado, corresponde a la direccin en la que sujeta
la mordaza mvil. En las figuras 5.17 y 5.18 se observa el mismo fenmeno. Esto se
debe a la isotropa en la composicin molecular de la probeta y que el extremo que se
desplaza absorbe ms energa que aquella que se encuentra inmvil firmemente
sujeta. (por lo general en cualquier sistema fsico, la parte del cuerpo que esta en
contacto con alguna fuente de energa o trabajo como es el caso , absorbe ms de
energa que la que no lo est)

5.3.

Aplicacin de la ptica para el anlisis de la mecnica de materiales

La ptica ha mostrado ser una herramienta poderosa en la metrologa. En las pruebas


mecnicas no destructivas donde est involucrados algn tipo de cambio fsico del
elemento mecnico, se le puede asociar algn cambio en la intensidad luminosa,
cambio en la fase ptica o simplemente la manera en cmo refleja la luz para efectuar
mediciones. La tcnica mostrada en esta tesis puede servir para la medicin y
caracterizacin de varias propiedades fsicas de los materiales como:

76

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Captulo 5: Conclusiones

Modulo de Young

Relacin de Poison

factores de concentracin de

Coeficientes trmicos

esfuerzos

Fatiga de elementos mecnicos

Transferencia de calor

5.4.

Deformaciones. Clculos de

Evolucin y localizacin de
microfracturas

Propuesta para proyectos futuros

Para trabajos futuros, se propone:

La investigacin terica de los efectos del aumento de la frecuencia espacial


en la tcnica de phase stepping.

La utilizacin de una tcnica alterna al phase stepping para la evaluacin de la


deformacin es estados dinmicos que puedan simplificar el mtodo
propuesto y minimizar los errores producidos por el aumento de la frecuencia
espacial que surge durante el proceso esta tcnica.

Implementacin de un prototipo miniaturizado para la medicin de


deformacin en elementos mecnicos en sitio.

Y como el trabajo ms inmediato, ajustar la tcnica mostrada para la medicin


tridimensional de la deformacin en eventos dinmicos.

77

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Apndice A

A. Procesamiento digital de imgenes


A.1. Programacin para la obtencin de la fase envuelta y fase desenvuelta.
Programacin en MathCAD para la obtencin de la fase envuelta con n pasos
fase_npasos ( p , vv , vh , it , ns ) :=

for i 0 .. p
P concat ( ns , num2str ( i) )
i

for i 0 .. vv 1
for j 0 .. vh 1
h

i, j

vv vh

d0
n0
for k 0 .. p

( k)
Im completa( Im )
k
k
Im Convolution ( Im , h , it)
k
k

Im READBMP P
k

if 0 < k < p

2 k

p
2 k
d d + Im cos

k
p
( Im0 Imp ) ( 2 )
cot
na

p
( Im0 + Imp )

da
2

n n + Im sin
k

n na n
d da + d

atan2 ( n , d + 0.000001)

pasos := 6

ventana_filtro_v := 9

ventana_filtro_h := 9

p := pasos

vv := ventana_filtro_v

vh := ventana_filtro_h

ns := "PS_"

i := 0 .. vv 1

iteraciones_filtro := 10
it := iteraciones_filtro

j := 0 .. vh 1

t := READBMP( "PS_0" )
h

i, j

:=

1
vv vh

78

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Apndice A

Programacin en MathCAD para la obtencin de la fase desenvuelta.

Dtan ( Dc , Ds ) :=

for i 0 .. rows ( Dc) 1


for j 0 .. cols ( Ds ) 1
Dtan

i, j

Ds i , j

+ 0.0001
Dci , j

atan 2

Dtan
Dtan := Dtan ( Dc , Ds )
Dtan := normal( Dtan )
Dtan := Unwrapp ( Dtan , m, 1)
Dtan := submatrix( Dtan , 225, 405, 0 , 631)
ima_desnvuelta := Dtan

A.2. Programa utilizado para el calculo de la deformacin y filtrado

filtro( a , n ) :=

for s 1 .. n
for i 2 .. rows ( a) 2
for j 2 .. cols ( a) 2
a

i, j

( i1 , j1 , ai, j1 , ai+ 1 , j1 , ai1 , j, ai, j, ai+ 1 , j, ai1 , j+ 1 , ai, j+ 1 , ai+ 1 , j+ 1)

median a

for i 2 .. rows ( a) 2
for j 2 .. cols ( a) 2
a
b

i, j

i , j+ 2

+ 4a

i , j+ 1

i, j

0.089 2

b b + min( b )
b

79

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Apndice A

A.3. Kernel para la suavizacin de superficies.

Filtro de la media
Filtro( M ) :=

Mp M M
for m 1 .. rows ( M ) 2
for n 1 .. cols ( M ) 2
1

Mp

m, n

m+ k , n+ l

k =1 l=1

Mp

Filtro de la mediana
filtro1( a , n ) :=

for s 1 .. n
for i 2 .. rows ( a) 2
for j 2 .. cols ( a) 2
a

i, j

( i1 , j1 , ai, j1 , ai+ 1 , j1 , ai1 , j, ai, j, ai+ 1 , j, ai1 , j+ 1 , ai, j+ 1 , ai+ 1 , j+ 1)

mean a

80

Centro de Investigaciones en ptica A.C.


B.
B.1.

Apndice B

Programas utilizados en LabVIEW

Programas para para la adquisicin de imgenes

Programa que calcula el periodo de la fase para utilizar la tcnica de


corrimiento de fase.

Programa que calcula el vector de sensibilidad para el sistema ptico propuesto

81

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Apndice B

Programa que captura las imgenes

82

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Apndice B

83

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Apndice B

Programa que procesa matemticamente las imgenes capturadas.

84

Centro de Investigaciones en ptica A.C.


C.

C.1.

Apndice C

Trabajos derivados delo proyecto de maestra

Participacin en Congresos

2do. Taller de Procesamiento de Imgenes y ptica, 21 y 22 de Noviembre


2005, CIMAT, Guanajuato, Guanajuato.

3er Encuentro, participacin de la Mujer en la Ciencia, 18 y 19 de Mayo


2006, Len Guanajuato.

3er. Taller de Procesamiento de Imgenes y ptica, 10 y 11 de Agosto


2006, CIMAT, Guanajuato, Guanajuato.

XLIX Congreso Nacional de Fsica, 16 al 20 de Octubre 2006, Universidad


Autnoma de San Luis Potos, San Luis Potos.

C.2.

Memorias in Extenso

Jorge Parra-Michel, Amalia Martnez, J. A. Rayas. Anlisis por


Interferometra electrnica de moteado de la deformacin uniaxial en
uniones soldadas, 3er Encuentro, participacin de la Mujer en la Ciencia,
18 y 19 de Mayo 2006, Len Guanajuato.

Jorge Parra-Michel, Amalia Martnez, J. A. Rayas. Utilizacin de la


tcnica ESPI con sensibilidad en plano en la obtencin de la deformacin
uniaxial en uniones metlicas soldadas, 3er. Taller de Procesamiento de
Imgenes y ptica, 10 y 11 de Agosto 2006, CIMAT, Guanajuato,
Guanajuato.

85

Centro de Investigaciones en ptica A.C.

Apndice C

Jorge Parra-Michel, Amalia Martnez, J. A. Rayas. " Utilizacin de la


tcnica ESPI con sensibilidad en plano en la obtencin de la deformacin
uniaxial en uniones metlicas soldadas, XLIX Congreso Nacional de
Fsica, 16 al 20 de Octubre 2006, Universidad Autnoma de San Luis
Potos, San Luis Potos.

86