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D e p a rta m e n to d e In g e n ie ra E le c tr n ic a
PRCTICA 5
OSCILOSCOPIO Y ANLISIS DE
ESPECTRO MEDIANTE FFT
1 Introduccin
En la presente prctica de laboratorio se pretende un mayor acercamiento del alumno a unos instrumentos
bsicos de laboratorio como son el osciloscopio y el anlisis del espectro de una seal mediante la DFT gracias
a las prestaciones de los osciloscopios modernos de laboratorio. Aunque el primero ha sido ya usado en
prcticas anteriores, se pretende con el desarrollo de esta de que se afiancen los conocimientos sobre este
instrumento y se relaciones con las experiencias de prcticas anteriores.
2 El osciloscopio
2.1 Introduccin
El osciloscopio es bsicamente un dispositivo de visualizacin grfica que muestra seales elctricas
variables en el tiempo. El eje vertical, a partir de ahora denominado Y, representa el voltaje; mientras que el eje
horizontal, denominado X, representa el tiempo.
D IE
U n iv e rs id a d d e S e v illa
E s c u e la S u p e rio r d e In g e n ie ro s
h ttp ://w w w .d in e l.u s.e s
Los osciloscopios son de los instrumentos ms verstiles que existen y lo utilizan desde tcnicos de
reparacin de televisores a mdicos. Un osciloscopio puede medir un gran nmero de fenmenos, provisto del
transductor adecuado (un elemento que convierte una magnitud fsica en seal elctrica) ser capaz de darnos el
valor de una presin, ritmo cardiaco, potencia de sonido, nivel de vibraciones en un coche, etc.
Los Osciloscopios pueden ser analgicos o digitales. Los primeros trabajan directamente con la seal
aplicada, est una vez amplificada desva un haz de electrones en sentido vertical proporcionalmente a su valor.
En contraste los osciloscopios digitales utilizan previamente un conversor analgico-digital (A/D) para
almacenar digitalmente la seal de entrada, reconstruyendo posteriormente esta informacin en la pantalla.
Ambos tipos tienen sus ventajas e inconvenientes. Los analgicos son preferibles cuando es prioritario
visualizar variaciones rpidas de la seal de entrada en tiempo real. Los osciloscopios digitales se utilizan
cuando se desea visualizar y estudiar eventos no repetitivos (picos de tensin que se producen aleatoriamente).
Las prestaciones de los equipos digitales ha crecido tanto en los ltimos aos que ocupan cualquier rango de
prestaciones hoy da.
Los elementos principales de que disponen todos los osciloscopios son los siguientes:
Instrumentacin Electrnica
Es necesario familiarizarse con el panel frontal del osciloscopio. Todos los osciloscopios disponen de tres secciones
bsicas que llamaremos: Vertical, Horizontal, y Disparo. Dependiendo del tipo de osciloscopio empleado en
particular, podemos disponer de otras secciones.
Existen unos conectores BNC, donde se colocan las sondas de medida. La mayora de los osciloscopios actuales
disponen de, al menos, dos canales etiquetados normalmente como I y II (o A y B o 1 y 2). El disponer de dos canales
nos permite comparar seales directamente.
Ajustar los controles principales a unas posiciones adecuadas en funcin de las ondas que se pretenden medir segn el
siguiente orden:
o Seleccin del canal a usar.
o Ajustar la escala vertical a una posicin razonable en funcin de los niveles de tensin que se pretenden
medir, si no se conocen a priori, situar el mando en una posicin intermedia.
o Desactivar cualquier tipo de multiplicadores verticales (ms tarde se ajustar en funcin de la sonda de
prueba que se vaya a usar.
o Colocar el canal o canales que se vayan a usar en acoplamiento DC.
o Si existiese la posibilidad, colocar el modo de disparo en automtico, ya que a priori no se conoce
normalmente qu tcnica o modo de disparo ser el ms adecuado.
o Si existe, desactivar el disparo retardado o ajustarlo al valor mnimo posible.
o Ajustar el control de intensidad del haz luminoso al mnimo compatible con el ajuste de enfoque, de este
modo el enfoque se realizar del modo ms preciso posible. En osciloscopios los osciloscopios modernos la
visualizacin se realiza mediante paneles digitales (LCD, TFT, etc) de modo que este ajuste puede no
existir.
Una vez realizados los pasos anteriores, tan solo nos queda conectar las sondas de medida adecuadamente. En la medida
de lo posible, es conveniente usar sondas que han sido diseadas para funcionar con el osciloscopio que manejemos en
concreto. Esto es debido a que una sonda no es un cable con un par de conectores, sino que es un conector diseado para evitar
ruidos que puedan perturbar la medida.
Sobrecompensada
Desajustada
Ajustada
Desajustada
Ilustracin 2: Tipos de formas de onda que podemos ver en el proceso de compensacin de la sonda.
Otros tipos de sondas ya mencionadas anteriormente son:
Sondas activas: Proporcionan una amplificacin antes de aplicar la seal a la entrada del osciloscopio. Pueden ser
necesarias en circuitos con una capacidad de carga de salida muy baja. Este tipo de sondas necesitan para operar
una fuente de alimentacin.
Sondas de corriente: Posibilitan la medida directa de las corrientes en un circuito. Las hay para medida de
corriente alterna y continua. Poseen una pinza que abarca el cable a travs del cual se desea medir la corriente. Al
no situarse en serie con el circuito causan muy poca interferencia en l.
2.3 Controles
2.3.1 Sistema de visualizacin
En el caso, cada vez menos frecuente, en el que el sistema de visualizacin del osciloscopio est constituido por un tubo de
rayos catdicos (CRT), los controles fundamentales para ajustar la visualizacin por los mismos son:
Control de intensidad: Se trata de un potencimetro que ajusta el brillo de la seal en la pantalla. Este mando
acta sobre la rejilla ms cercana al ctodo del CRT, controlando el nmero de electrones emitidos por este. En
un osciloscopio analgico si se aumenta la velocidad de barrido es necesario aumentar el nivel de intensidad. Por
otra parte, si se desconecta el barrido horizontal es necesario reducir la intensidad del haz al mnimo (para evitar
que el bombardeo concentrado de electrones sobre la parte interior de la pantalla deteriore la capa fluorescente
que la recubre).
Control de enfoque: Se trata de un potencimetro que ajusta la nitidez del haz sobre la pantalla. Este mando acta
sobre las rejillas intermedias del CRT controlando la finura del haz de electrones. Se retocar dicho mando para
una visualizacin lo ms precisa posible.
Los osciloscopios modernos utilizan paneles digitales de visualizacin (LCD, TFT, LED, etc) de modo que los controles
anteriormente expuestos no tienen sentido en los mismos. Es posible que puedan ajustarse parmetros ms propios de este tipo
de pantalla como pueden ser el brillo o intensidad, contraste, etc
Control de posicin: Este control consta de un potencimetro que permite mover verticalmente la forma de onda
hasta el punto exacto que se desee. Cuando se est trabajando con una sola seal el punto normalmente elegido
suele ser el centro de la pantalla.
Conmutador de escala: Se trata de un conmutador con un gran nmero de posiciones, cada una de las cuales,
representa el factor de escala empleado por el sistema vertical. Por ejemplo si el mando esta en la posicin 2
voltios/div significa que cada una de las divisiones verticales de la pantalla (aproximadamente de un 1 cm.)
representan 2 voltios.
Mando variable: Se trata de un mando presente en algunos oscioscopios que nos permite realizar una
amplificacin de la escala del eje vertical para observar con ms detalle algunos aspectos de la onda visualizada.
Al deformar de forma continua la escala del eje vertical no nos sirve para tomar medidas cuantitativas, sino
cualitativas.
Acoplamiento: Existen tres tipos de acoplamiento para la onda medida en cada canal: El acoplamiento DC deja
pasar la seal tal como viene del circuito exterior (es la seal real).El acoplamiento AC bloquea mediante un
condensador la componente continua que posea la seal exterior. El acoplamiento GND desconecta la seal de
entrada del sistema vertical y lo conecta a tierra, permitindonos situar el punto de referencia en cualquier parte
de la pantalla (generalmente el centro de la pantalla cuando se trabaja con una sola seal).
Inversin: Es un control que nos permite invertir la seal de entrada respecto del eje vertical.
Control de canales: En un osciloscopio con ms de un canal, este control permite elegir qu canales queremos
visualizar e incluso si queremos visualizar alguna relacin matemtica de los mismos.
Mando variable: Se trata de un mando presente en algunos osciloscopios que nos permite realizar una
amplificacin de la escala del eje horizontal para observar con ms detalle algunos aspectos de la onda
visualizada segn dicho eje. Al deformar de forma continua la escala del eje horizontal no nos sirve para tomar
medidas cuantitativas, sino cualitativas.
Visualizacin XY: Este control permite desconectar el sistema de barrido interno del osciloscopio, haciendo estas
funciones uno de los canales verticales. Como veremos en el captulo dedicado a las medidas esto nos permite
visualizar curvas de respuesta o las famosas figuras de Lissajous, tiles para la medida relativa de fase y de
frecuencia entre las dos seales.
2.3.5 Otros
Debido al creciente nmero de prestaciones que van incorporando los osciloscopios modernos, segn el modelo que
estemos manejando podemos encontrar conjuntos de controles que sirven para ajustar el modo de operacin de dichas
funciones, como por ejemplo:
Cursores que facilita la toma de medidas sobre la pantalla del osciloscopio.
Funciones especiales de captura para congelar la imagen o tomar transitorios de las ondas medidas.
Funciones avanzadas como el clculo y representacin de la FFT.
Etc
Instrumentacin Electrnica
Instrumentacin Electrnica
Ilustracin 5: Medidas de tiempo y variables relacionadas con el mismo sobre la pantalla del osciloscopio.
Instrumentacin Electrnica
La DFT (Transformada Discreta de Fourier) es la versin discreta (digitalizada) de la transformada de Fourier. Gracias a
esta transformacin es posible trasladar los resultados matemticos de la transformada de frecuencia al mundo de las medidas
prcticas. Para calcular la DFT se utilizan distintos algoritmos de computacin que dan lugar a la FFT. La FFT y la DFT
producen el mismo resultado y normalmente nos referiremos a ambas como FFT.
La transformada rpida de Fourier no es un nuevo tipo de transformada diferente de la DFT, simplemente es un algoritmo
para computar la DFT, y su salida es precisamente el mismo conjunto de valores complejos anteriores. La FFT elimina los
productos complejos repetidos en la DFT, siendo su tiempo de ejecucin mucho ms corto. Concretamente, cuando N es igual
a alguna potencia de dos, el cociente entre los tiempos de computacin es aproximadamente:
Por otra parte, el algoritmo de la FFT es ms complicado que el de la DFT, y llega a ser ms largo cuando N deja de ser
igual a una potencia de dos. En algunas aplicaciones es ms sencillo y preferible usar la DFT en lugar de la FFT.
Instrumentacin Electrnica
Ilustracin 8: a) Seal muestreada en el dominio del tiempo. b) Seal en el dominio frecuencial usando la FFT.
La tasa efectiva de muestreo es el inverso del tiempo entre muestras y depende de la relacin tiempo/divisin del canal por
el que estamos midiendo y del nmero total de muestras que se tienen en la memoria.
Para un establecimiento del tiempo/divisin particular, la FFT produce una representacin en el dominio del tiempo que se
extiende entre 0 y feff/2 (Ilustracin 8b). Notar que la tasa de muestreo efectivo puede ser mucho mayor que la tasa de
frecuencia mxima de alcance del aparato. La tasa de muestreo mxima es de 20 MHz pero la tcnica de muestreo repetitivo en
frecuencia es capaz de muestrear seales por encima de los 20 GHz.
Los controles de Frecuencia Central y el Span pueden usarse para hacer un zoom a frecuencias ms estrechas dentro del
rango de 0 a feff/2 de la FFT. Estos controles no afectan al clculo de la FFT pero obligan a que algunos de los puntos se
redibujen de forma ms extendida.
3.3.1 Aliasing
Cuando se utilice la FFT, es importante tener en cuenta la frecuencia de muestreo. Esto requiere que el usuario tenga
algunos conocimientos como lo que debera contener el dominio de frecuencia y la velocidad de muestreo efectiva, un
fragmento de frecuencia y el ancho de banda vertical del osciloscopio cuando se realizan mediciones FFT. La velocidad de
muestreo FFT se muestra directamente sobre las teclas programables cuando se abre el men FFT.
El aliasing se produce cuando existen en la seal componentes de frecuencia superiores a la mitad de la velocidad de
muestreo efectiva. Puesto que el espectro FFT esta limitado por esta frecuencia, cualquier componente superior se muestra a
una frecuencia inferior (escalonada). Puesto que el fragmento de frecuencia va de 0 a la frecuencia de Nyquist, el mejor modo
Instrumentacin Electrnica
A menudo los efectos del aliasing son obvios pero a veces aparecen valores espectrales en lugares donde no existe
componente de frecuencia. Un efecto ms sutil aparece cuando aparecen frecuencias solapadas (alias) de bajo nivel cerca del
umbral de ruido de la medida. Los componentes de frecuencia solapados son indeseables en el proceso de medida. En las
seales limitadas en banda puede eliminarse la aparicin de aliasing, si la frecuencia de muestreo es muy grande. Esto se puede
conseguir eligiendo un parmetro de Tiempo/divisin rpido. El inconveniente es que una tasa efectiva de muestreo alta puede
degradar la resolucin en frecuencia de la FFT. Si la seal no est limitada en banda siempre podemos filtrarla con un filtro
paso de baja limitando as su contenido en frecuencia, prctica que por otro lado es muy habitual en los sistemas de adquisicin
de datos.
3.3.2 Leakage
Instrumentacin Electrnica
Ilustracin 11: a) La forma de onda ocupa exactamente un tiempo de grabacin (time record). b) Cuando se replica no
hay discontinuidad.
Sin embargo, la eleccin, por parte del instrumento, de la ventana de muestreo puede no ser la apropiada para la
representacin temporal de la seal. En este caso se introducen singularidades en la repeticin temporal de la onda muestreada,
como puede verse en la Ilustracin 12, por lo que la FFT no es una buena aproximacin de la transformada de Fourier. Puesto
que el usuario del instrumento no tiene el control sobre la forma en que este escoja el intervalo de muestreo, se debe asumir la
posibilidad de la existencia de una singularidad. Este efecto, conocido como leakage o prdidas, es fcilmente detectable en el
dominio de la frecuencia: en vez de aparecer un pico en el espectro de potencia, este se expande a lo largo de un amplio rango
de frecuencias (Ilustracin 13).
Ilustracin 12: a) La forma de onda no ocupa un tiempo exacto de grabacin (time record). b) Cuando se replica hay
discontinuidad.
Instrumentacin Electrnica
10
Ventana de Hanning: La ventana de Hanning es una de las ms comunes en el procesamiento de seales digitales.
Esta ventana proporciona una transicin suave, partiendo desde un valor y terminando en el mismo valor durante
el tiempo de muestreo. Por tanto, el enventanado no producir singularidades en la realizacin de la FFT.
Claramente, ha sido modificado el tiempo de muestreo y su efecto en el dominio de la frecuencia debe ser
considerado. La ventana de Hanning, comparada con otras ventanas, proporciona una buena respuesta en
frecuencia a expensas de empeorar la exactitud en amplitud.
2.
Ventana de Flat Top: Es considerada como una ventana de alta precisin en amplitud, teniendo como mximo un
error de 0,1 dB (1%). Por contra, sufre un empeoramiento respecto a la anterior, en la resolucin en frecuencia. El
pico en el espectro de potencia aparecer ms ancho, quedando limitada la representacin de dos frecuencias
cercanas.
3.
Ventana uniforme: Tambin conocida como ventana rectangular. El enventanado uniforme no es propiamente
dicho una ventana; las muestras no se alteran. Aunque este tipo de ventanas, potencialmente, pueden tener
severos problemas de leakage, en algunos casos la onda, durante el tiempo de muestreo, tiene el mismo valor
tanto al principio como al final, por lo que no se introducen transitorios en la FFT. Estas ondas reciben el nombre
de auto-enventanadas.
Hanning: se utiliza para realizar mediciones precisas de frecuencia o para resolver dos frecuencias muy cercanas.
Flat Top: se utiliza para realizar mediciones precisas de amplitud de picos de frecuencia.
Rectangular: buena resolucin de frecuencias y precisin de amplitud, pero solo donde no haya efectos de fuga.
Se utiliza en ondas de ventana automtica, como ruido pseudoaleatorio, impulsos, rfagas sinusoides y sinusoides
descendientes.
11
Observar la evolucin de la figura de Lissajous mientras se vara la frecuencia de la seal generada de 100Hz a 5kHz
en incrementos de 100Hz.
R=10k
C=10nF
Vg
R=100k
Vg
Mantener la tasa de muestreo efectivo de la FFT mayor que 2 veces el ancho de banda de la seal.
Para la mejor resolucin de frecuencia, usar la ventana HANNING.
Para el mejor comportamiento de amplitud, usar la ventana FLAT TOP.
Para mostrar el mejor comportamiento en el dominio de la frecuencia, apagar el canal (Dominio de tiempo) o presionar la
tecla STOP.
Asegurarse de que la forma de onda en el dominio de la frecuencia no se muestre cuando se este usando la funcin FFT.
Poner el establecimiento de Time/div. en 20 ms/div o menor para medidas sencillas.
Instrumentacin Electrnica
12
HP 54603B
Unidades/ Divisin
Tasa de
Muestreo
10 dBV
500 kSa/s
Span
Frecuencia
Central
0 kHz
20 kHz
0 kHz
Ventana
Offset
Ventana
Hanning
-30 dBV
400 kSa/s
Frecuencia
Central
Unidades/ Divisin
10dBV
Span
30.52 kHz
Ref Level
Hanning
5 dBV
Tabla 1
4.
5.
6.
Usando los cursores y la funcin de medida find peaks si es posible, medir la frecuencia fundamental de la sinusoide.
Cambiar a la ventana Rectangular con los mismos parmetros anteriores. Qu le ocurre a la seal?
Disminuir la tasa efectiva de muestreo (usando el control time/div) y configurar los parmetros del clculo de la FFT
segn la Tabla 2.
Agilent 54621A
Tasa de
Muestreo
HP 54603B
Unidades/ Divisin
Tasa de
Muestreo
10 dBV
50 kSa/s
Span
Frecuencia
Central
3.02 kHz
5 kHz
3.027 kHz
Ventana
Offset
Hanning
-30 dBV
40 kSa/s
Frecuencia
Central
Ventana
Hanning
Unidades/ Divisin
5dBV
Span
6.104 kHz
Ref Level
5 dBV
Tabla 2
7.
8.
Instrumentacin Electrnica
13
HP 54603B
Unidades/ Divisin
Tasa de
Muestreo
10 dBV
10 kSa/s
Frecuencia
Central
Span
Frecuencia
Central
Span
3.02kHz
5 kHz
3.027 kHz
4,88 kHz
Ventana
Offset
Hanning,
Rectangular
-30 dBV
10 kSa/s
Unidades/ Divisin
10dBV
Ventana
Ref Level
Hanning,
Rectangular
10 dBV
Tabla 3
2.
Conectar la salida del generador al canal 1 del osciloscopio. Seleccionar una seal de 3.5 Voltios pico-pico con una
frecuencia fundamental de 10 kHz. Recuerda que al ser la impedancia de entrada del osciloscopio mucho mayor que la del
generador de onda, habr que configurar este ltimo a un valor mitad del que se pretende obtener en el osciloscopio. Usa
la funcin de Autoscale del osciloscopio para visualizar correctamente la seal en el dominio del tiempo en el mismo.
Habilitar el clculo de la FFT sobre la seal del canal 1 de igual modo que en el apartado anterior y configurar la misma
segn los parmetros de la Tabla 4.
Agilent 54621A
Tasa de
Muestreo
HP 54603B
Unidades/ Divisin
Tasa de
Muestreo
10 dBV
50 kSa/s
Span
Frecuencia
Central
10 kHz
20 kHz
12.21 kHz
Ventana
Offset
Hanning
-30 dBV
40 kSa/s
Frecuencia
Central
Ventana
Hanning
Unidades/ Divisin
10dBV
Span
24.41 kHz
Ref Level
10 dBV
Tabla 4
3.
4.
5.
6.
7.
Usando el control de frecuencia del generador de seal, incrementar progresivamente la frecuencia de la sinusoide en
incrementos de 1kHz permitiendo a la FFT estabilizarse para mostrar los resultados. Llegar hasta los 19 kHz en el caso
del Agilent y a los 24 kHz en el HP.
Continuar incrementando lentamente la frecuencia fundamental de la sinusoide. Observa y anota lo que sucede.
Incrementar la frecuencia entre 20 y 40 kHz en el Agilent y entre 25 y 50 kHz en el HP. Qu le ocurre a la representacin
de la FFT?
Poner la frecuencia fundamental de la senoide en 30 kHz. Usando los cursores, y la funcin find peaks si est disponible,
medir la frecuencia del pico de la FFT mostrada. Por qu es errnea la medida?
Repetir el apartado anterior cambiando esta vez la tasa efectiva de muestreo a 100 kSa/s. Observa lo que sucede y
raznalo.
Instrumentacin Electrnica
14
HP 54603B
Unidades/ Divisin
Tasa de
Muestreo
10 dBV
100 MSa/s
10dBV
Span
Frecuencia
Central
Span
5 MHz
10 MHz
3.027 MHz
6.104 MHz
Ventana
Offset
Ventana
Ref Level
Flat Top
-30 dBV
100 MSa/s
Frecuencia
Central
Flat Top
Unidades/ Divisin
5 dBV
Tabla 5
3.
Usando los cursores medir la amplitud relativa entre picos. Comparar los resultados con los valores tericos de la
Tabla 6.
ONDA RECTANGULAR
Armnico
Magnitud(dB)
1
0
3
-9,54
5
-13,98
7
-16,90
9
-19,09
11
-20,83
13
-22,28
ONDA TRIANGULAR
Armnico
Magnitud(dB)
1
0
3
-19,08
5
-27,96
7
-33,81
9
-38,17
11
-41,66
13
-44,56
Tabla 6
4.
5.
Configurar los parmetros del clculo segn la tabla 7. Observa cuales son los armnicos principales. por qu
aparecen otros picos intermedios en lugares donde no debera haber armnicos?
Repetir los pasos anteriores con una seal triangular de 1 V RMS y 100 kHz. Configurar los parmetros de visualizacin
de la FFT que permitan ver correctamente los resultados.
Instrumentacin Electrnica
15
Agilent 54621A
Tasa de
Muestreo
HP 54603B
Unidades/ Divisin
Tasa de
Muestreo
10 dBV
5 MSa/s
Span
Frecuencia
Central
1 MHz
2 MHz
1.25 MHz
Ventana
Offset
Hanning
-30 dBV
4 MSa/s
Frecuencia
Central
Unidades/ Divisin
10dBV
Span
2.44 MHz
Ventana
Ref Level
Hanning
10 dBV
Tabla 7
2.
Conectar y mostrar en la pantalla del osciloscopio una senoide de 1 V (RMS) con frecuencia fundamental de 1 kHz.
Recordar que, dado que la impedancia de entrada del osciloscopio es muy elevada, en el generador habr que configurar la
mitad de la tensin solicitada, es decir, 500mVRMS. Para conseguir el mejor resultado en este apartado conviene ajustar la
tensin que proporciona el generador de onda de modo fino. Para ello, se configurar el osciloscopio en un modo de
adquisicin de promediado, ajustando la escala de tiempo de modo que se vean en el mismo varios periodos de la forma de
onda que se est generando. Habilitar la medida del valor de tensin RMS del canal 1 y ajustar del modo ms preciso
posible la tensin en el generador de modo que la medida proporcionada por el osciloscopio sea lo ms prxima a 1
posible.
Mostrar en pantalla la FFT y usar los parmetros de la Tabla 8 para aislar la frecuencia fundamental. Puesto que la escala
de la amplitud absoluta de la FFT es en dBV, es decir referenciada a 1 V(RMS), el pico terico aparecer a una amplitud
de 0 dBV para la sinusoide perfecta. Usar las tres ventanas posibles: Hanning, rectangular y Flat top para medir la
amplitud del pico. Cul de las 3 ventanas proporciona la mejor estimacin de amplitud?
Agilent 54621A
Tasa de
Muestreo
HP 54603B
Unidades/ Divisin
Tasa de
Muestreo
2 dBV
100 kSa/s
Frecuencia
Central
Span
Frecuencia
Central
1 kHz
5 kHz
1.040 kHz
Ventana
Offset
Hanning,
Rectangular,
Flat Top
0 dBV
100 kSa/s
Ventana
Hanning,
Rectangular,
Flat Top
Unidades/ Divisin
1dBV
Span
6.104 kHz
Ref Level
2.5 dBV
Tabla 8
Instrumentacin Electrnica
16
5 Cuestionario.
5.1 Cuestiones Actividad 3
1.
2.
Cul es el error relativo cometido en la medida por efecto carga con la sonda configurada en 1X?
Y con la sonda configurada en 10X?
Debera ser incrementada o decrementada la tasa efectiva de muestreo para mejorar la resolucin de frecuencia de la
FFT?
Existe un lmite para la resolucin espectral para una FFT de 1024 puntos?
Presenta la ventana Hanning mayor o menor leakage espectral comparada con la ventana rectangular?
Si una seal de 120 kHz es muestreada a 50 kSa/s, a que frecuencia aparecer una componente de frecuencia de 100 kHz
(aliasing) en la representacin de la FFT?
Est afectado el aliasing por la eleccin de la funcin de enventanado?
Es necesario tener una representacin en el dominio del tiempo estable para analizar el contenido de frecuencia de la
seal?
Es necesario un conocimiento a priori del ancho de banda de la seal?
Es posible obtener informacin til de la FFT cuando se produce aliasing en los componentes de frecuencia de la seal?
Ordena las ventanas usadas en este experimento en trminos de su efectividad en la medida de la amplitud espectral.
Instrumentacin Electrnica
17