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LABORATORIO #3

DIFRACCIN DE RAYOS X

ABSTRACT
During the practice took place the diffraction process x, is aimed to understand and
observe how it is used and for what it serves the x-ray diffractometer. initially is saw
a video in which is was telling all about the subject, since its discovery, as methods
and applications; later in the machine is demonstrated the key parts for its
operation and was placed a material for tested for use and determine the
characteristics of the sample, using radiation, all these results thrown, can be
analysed using the software HighScore Plus showing features and graphics of the
behaviour the worked material.

1. PALABRAS CLAVES

Rayos x
Difraccin
Estructuras
Radiacin
Cristalografa
Material
Onda
Fluorescencia
KEY WORKS

X-ray
Diffraction
Radiation
Structures
Crystallography
Material
Wave
Fluorescence

2. MATERIALES Y MTODOS

2.1.

Materiales:

Muestra fluorescente: Esta fue la que se us durante el laboratorio para la


explicacin acerca del funcionamiento del difractograma.

Difractmetro de rayos X: Es el instrumento que permite la identificacin de


las estructuras cristalinas, est fundamentado en la difraccin segn Bragg.
En esencia consta de una fuente de radiacin monocromtica, un
portaprobetas mvil con ngulo variable y un contador de radiacin X
asociado al portamuestras. [1].

Figura 1. Muestra usada en el difractmetro

Figura 2. Difractmetro de rayos x.

Software HighScore Plus: A travs de este se realizan la mayora de las


operaciones requeridas por el difractmetro. Mediante el uso de este
software se crean los difractogramas de elemento analizado.

Figura 3. Software High Score Plus.

2.2.

Metodologa:

Durante esta prctica de laboratorio se observ el funcionamiento del


difractmetro de rayos X para el cual era necesario el uso del software HighScore
Plus mediante el cual se realizaban la mayora de las operaciones necesarias para
obtener los difractogramas de la muestra usada, ya que la realizacin de un
anlisis completo de una muestra a travs del difractograma poda llevar
demasiado tiempo se realiz el anlisis solamente de una pequea parte de la
muestra para saber as como funcionaba el instrumento.
El difractmetro de rayos X tena varios filtros por los cuales la radiacin deba
pasar antes de llegar a la muestra, adems de rejillas de nquel que se usan
segn el tipo de anlisis y muestra que se vaya a realizar. Para poder comenzar a
realizar el anlisis primero se deban ubicar las rejillas que se usaran de manera
correcta y luego ubicar la muestra bien centrada y superficialmente recta, para
luego proceder a cerrar el instrumento para que la radiacin no se saliera y as
poder comenzar el anlisis a travs del software.
Con este software se poda cambiar el ngulo de la pieza que se quera analizar
creando as un espacio especfico en el cual los rayos X se concentraran y
crearan el difractograma de ese espacio especfico; el software tambin nos
permita ver el difractograma formado a partir de la muestra, adems de
permitirnos saber a qu elemento poda pertenecer con ayuda de la base de datos
de este que nos permita comparar difractogramas ya existentes de los elementos

con el de la muestra con el fin de encontrar el ms parecido. Tambin se poda


observar la composicin de la celda unitaria de la muestra analizada viendo as
como se distribuan los tomos en esta.

3. RESULTADOS Y ANLISIS
3.1.

RESULTADOS

De forma general se produce difraccin cuando una onda encuentra una serie de
obstculos igualmente espaciados (y esta separacin es semejante a la longitud
de onda de la radiacin), que son capaces de dispersar la onda, de modo que la
interferencia de las ondas difractadas da como resultado un patrn de difraccin
que conforma sobre el orden de esos obstculos que difractaron la onda.[2]

En esta prctica, se pudo observar cmo funcionaba el difractmetro de rayos x,


donde principalmente se determin y especfico la funcin que cumplan algunas
de sus diversas partes. De esta misma manera, se realiz un pequeo anlisis a
una muestra proporcionada, y de esta se obtuvo un difractograma, en donde se
visualiz una grfica que tena una serie de picos como se muestra en la figura 4.
De esta grfica, se especific que de dichos picos se determina el tamao y
geometra de la celda unitaria, y la disposicin de los tomos en esta celdilla est
dada por la intensidad de los picos. Posteriormente, se compar los datos
obtenidos con la base de datos del software utilizado y se determin un nmero de
materiales que podran corresponder a la muestra que se analiz en el equipo.[3]

Figura 4. Difractograma

3.2.

ANLISIS

En la prctica de laboratorio, se evidencio que los rayos x tienen variedad de usos


desde reas como la medicina, para realizar un tipo de scanner al cuerpo humano
con el fin de determinar algunas anomalas especialmente til en el anlisis de
enfermedades Oseas, hasta el campo de la ingeniera, ms especficamente en la
ciencia de los materiales, donde en este caso se usaron para determinar la
estructura cristalina de un material apoyados en el equipo de difraccin de rayos x.
Sin embargo, hay que enfatizar en que los rayos x tambin son perjudiciales para
la salud, dada la radiacin que provocan, es por esto que el difractmetro de rayos
x en sus compuertas posee componentes de plomo con el fin de que los rayos x
permanezcan adentro del equipo y no perjudiquen a las personas que estn en el
laboratorio. As mismo, el difractmetro tiene mtodos para asegurar la integridad
de las personas encargadas de su uso, dado que no comienza a operar si no se
ha cerrado completamente sus compuertas.
Por otro lado, a partir del funcionamiento del difractmetro se reflej que para
obtener una informacin lo ms cercana posible a la realidad es necesario
determinar un tiempo adecuado para realizar el proceso de difraccin de rayos x
desde una gran cantidad de ngulos, de esta manera se observa que si el material
analizado posee una estructura cristalina con ayuda del software se puede
garantizar en un porcentaje bastante alto (superior al 90%) que el material se
puede emparejar con la base datos del software. De esta misma manera, si un
material es analizado, y el difractograma arrojado en el software no posee picos
notorios como se evidencia en la figura 5, el material no posee estructura cristalina
y no se puede dar un material aproximado, dicho material podra ser cualquier tipo
de polmero.

Figura 5. Difractograma de material no cristalino

4. CONCLUSIONES

Se observ que la difraccin de rayos X es una tcnica que sirve para


determinar la estructura cristalina detallada de un material, es decir permite
conocer la posicin que ocupan los tomos, iones o molculas que los
forman. Debido a este ordenamiento es posible determinar propiedades
tanto fsicas como qumicas de los materiales.

Se determin que los rayos x tienen una gran variedad de usos que facilitan
el anlisis de ciertos problemas en varias reas de trabajo, como medicina,

ingeniera, o para determinar algunos defectos en tuberas, caeras, entre


otros.

Se ampliaron los conocimientos acerca de la importancia de la estructura


cristalina de los materiales y el principal mtodo para determinar dicha
estructura.

Se describi el proceso de difraccin con el fin de entender el


funcionamiento del difractmetro de rayos x y su posterior anlisis segn
las grficas obtenidas mediante el software High Score Plus.

Referencias:
[1] Askeland, D.R. & Phul, P.P., 2004. Ciencia e ingeniera de los materiales.
4 ed. International Thompson editores, S.A.
[2] Fundamentos de la ciencia e ingeniera de materiales. William F. Smith.
McGraw-Hill, 2006.
[3]Nuria Martin Piris, 2012. Ciencia de materiales para ingenieros, 1edicion,
Pearson. Madrid, Espaa. Pginas 68-73.