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PRÁCTICAS DE TÉCNICAS INSTRUMENTALES EN MINERALOGÍA:

MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO CURSO 2008-2009

La práctica de Microscopía Electrónica de Barrido (SEM o MEB, en sus siglas inglesas o españolas, respectivamente) se realizará en el Laboratorio de Ciencia de Materiales de la Universidad de Zaragoza.

Es una de las pocas oportunidades que tendreis de ver en detalle cómo funciona un equipo SEM. ¡Aprovechadla!

La asistencia es totalmente voluntaria, pero se valorará con puntuación extra en la memoria global de prácticas la inclusión de un guión de la visita (1-2 p.).

LUGAR DE PRÁCTICAS

El microscopio está ubicado en el Edificio Torres Quevedo (Edificio Principal del Centro Politécnico Superior, c/María de Luna 1, Zaragoza), concretamente en la planta baja del edificio 2.

Parada Autobuses (Escuela Ingenieros). Línea 42, 20

PRÁCTICAS DE TÉCNICAS INST RUMENTALES EN MINERALOGÍA: MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO CURSO 2008-2009 • La práctica
Edif. Torres Quevedo
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PRÁCTICAS DE TÉCNICAS INST RUMENTALES EN MINERALOGÍA: MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO CURSO 2008-2009 • La práctica
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HORARIO DE PRÁCTICAS

Estaremos en el microscopio

de 16-18

h

el próximo

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de

Diciembre. Podeis ir

con nosotros

o

directamente al CPS (línea de autobus 20 es la más directa desde el Campus San Francisco).

OPCIONES: 1) quedamos en la puerta del edificio de Geológicas a las 15:15 y de allí vamos juntos al autobus, o 2) quedamos en la conserjería del Edificio Torres Quevedo a las 15:45 y de allí vamos juntos al laboratorio de microscopía electrónica.

Breve introducción a la microscopía electrónica

La potencia amplificadora de un microscopio óptico está limitada por la longitud de onda de la luz visible. El microscopio electrónico utiliza electrones para iluminar un objeto. Dado que los electrones tienen una longitud de onda mucho menor que la de la luz pueden mostrar estructuras mucho más pequeñas. La longitud de onda más corta de la luz visible es de alrededor de 4.000 ángstroms (1 ángstrom es 0,0000000001 metros). La longitud de onda de los electrones que se utilizan en los microscopios electrónicos es de alrededor de 0,5 angstroms.

Funcionamiento de Microscopio Electrónico de Barrido

Un microscopio electrónico de barrido (MEB o SEM) crea una imagen ampliada de la superficie de un objeto. Su funcionamiento se basa en recorrer la muestra con un haz muy concentrado de electrones, de

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forma parecida al barrido de un haz de electrones por la pantalla de una televisión. Los electrones del haz pueden dispersarse de la muestra o provocar la aparición de electrones secundarios. Los electrones perdidos y los secundarios son recogidos y contados por un dispositivo electrónico situado a los lados del portamuestras.

Cada punto leído de la muestra corresponde a un píxel en un monitor de televisión, de forma que, cuanto mayor sea el número de electrones contados por el dispositivo, mayor será el brillo del píxel en la pantalla.

A medida que el haz de electrones barre la muestra, se presenta toda la imagen de la misma en el monitor. Los microscopios electrónicos de barrido pueden ampliar los objetos 200.000 veces o más.

Partes de un Microscopio Electrónico de Barrido (Figura 1)

forma parecida al barrido de un haz de electrones por la pantalla de una televisión. Los

La parte principal de un microscopio electrónico de barrido es la denominada columna de electrones la cual lleva alojados en su interior los siguientes elementos:

Un cañón de electrones con un filamento que

actúa como emisor o fuente de iluminación, por analogía con un sistema óptico. Un sistema de lentes electromagnéticas

encargado de focalizar y reducir a un diámetro muy pequeño el haz de electrones producido por el filamento. Un sistema de barrido que hace recorrer el

haz de electrones ya focalizado por la superficie de la muestra. Uno o varios sistemas de detección que

permiten captar el resultado de la interacción del haz de electrones con la muestra y transformarlo en una señal eléctrica. Una salida conectada a una o varias bombas que producen el vacío necesario para que el conjunto funcione adecuadamente.

Figura 1: Partes principales de un MEB

Además, el microscopio posee diversos sistemas que permiten observar las señales eléctricas procedentes de los detectores, en forma de imágenes en un monitor de TV, fotografía, espectro de elementos, etc.

Por último, en el gráfico se han dibujado dos tipos de detectores: de electrones (arrancados a la propia muestra por la acción del haz incidente) y de rayos X.

Dentro de los tipos de electrones arrancados a la muestra se puede diferenciar entre eletrones secundarios y retrodispersados. Se considera un electrón secundario aquel que emerge de la superficie de la muestra con una energía inferior a 50 eV(electronvoltios), mientras que los electrones que emergen de la superficie de la muestra con una energía mayor a 50 eV(electronvoltios) se denominan electrones retrodispersados.

La señal de electrones secundarios es la que se emplea normalmente para obtener una imagen de la muestra. Es la señal que nos proporciona una imagen más real (tridimensional) de la superficie que estemos estudiando.

La señal de electrones retrodispersados (su intensidad) depende del numero atómico del material (a mayor numero atómico mayor intensidad). Este hecho permite distinguir fases de un material de diferente composición química. Las zonas con menor Z se verán más oscuras que las zonas que tienen mayor número atómico.

Por último, la señal de rayos X permite (una vez adquirido el espectro, con la ayuda de patrones o sin ellos y mediante el software adecuado) realizar de forma automática el análisis cualitativo (la identificación de picos) y el analisis cuantitativo o calculo de la concentración de los diferentes elementos.

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