Está en la página 1de 14

Asignacin N2

Nombre Mitchell Y . Ruiz

Cedula 8-835-1283

Ciencia de los Materiales

DIFRACCIN DE RAYOS X

La

difraccin

de

rayos

puede

proporcionar

informacin

detallada de la estructura tridimensional en estado slido de


muestras cristalinas de compuestos orgnicos, inorgnicos y
organo-metalicos, consistiendo en la descripcin geomtrica en
trminos de distancias y ngulos de enlace, ngulos de torsin,
etc.

Tambin

se

puede

obtener

informacin

empaquetamientos, interacciones intermoleculares, etc.

sobre

CLASIFICACION DEL ESTADO SLIDO


Dependiendo de la distribucin interna que sostienen los
tomos, los slidos pueden ser clasificados en amorfos,
policristalinos y cristalinos. Los slidos amorfos no poseen una
estructura atmica definida. Los policristalinos estn divididos
en regiones o grnulos que poseen estructuras propias definidas
pero de tamaos y orientaciones irregulares. Los slidos
cristalinos se diferencian porque sus tomos constituyentes se
encuentran distribuidos en forma regular a travs del cuerpo.

La ordenacin espacial y el tamao de los cristales puede


ponerse de manifiesto mediante la difraccin de rayos X.
Cuando un haz de rayos X incide sobre la superficie de un
slido

ordenado

regularmente

descrita por la Ley de Bragg.

se

produce

una

difraccin

ESTRUCTURAS CRISTALINAS

Diamante
Graficto

Un cristal es un material slido en el cual las molculas se


arreglan de forma ordenada siguiendo un mismo patrn de
acomodo para todo el material, los acomodos posibles de un
cristal o sistema cristalino han sido descritos en las llamadas
celdas o Redes de Bravais, y su estudio corresponde a la

cristalografa. Son ejemplos de cristales no polimricos la sal


comn y el diamnte.

Cloruro de sodio
Diamante

REDES DE BRAVAIS

Wilhelm
1895

Conrad
cuando

Rntgen

(18451923) en

experimentaba

con

la

produccin de rayos catdicos en tubos de


descarga
Descubri

cubiertos
que

el

con
haz

papel
de

negro.

electrones

producido en el ctodo incida en el vidrio


del tubo y produca una radiacin X de pequea intensidad.
Rntgen no lleg a determinar la longitud de onda de ese nuevo
tipo de radiacin electromagntica.

W. Roentgen, demostr que los nuevos rayos se propagaban en


lnea recta con una velocidad anloga a la de la luz y que eran
capaces de atravesar materiales opacos a la luz. A principios del
ao de 1912, Laue

se dio cuenta de que los Rayos X tenan

longitud de onda adecuada para poder ser difractados por los


tomos que componen los cristales.

En 1912, el fsico alemn Max Von Laue (1879-1960) y su


equipo,

sugirieron

que

los

tomos

de

un

cristal

estn

espaciados a una distancia tan pequea que les permite servir


como electos de una rejilla de difraccin tridimensional para los
rayos X.
Se llevaron a cabo ensayos con un cristal de sulfato de
cobre, al que se le someti a la accin de los rayos X haciendo
que el haz incidiera en una placa fotogrfica. El resultado fue la
impresin de la placa por una serie de manchas distribuidas
geomtricamente alrededor de una mancha central grande
producida por el haz directo de rayos X demostrndose as que
se produca difraccin. Este era el comienzo de la cristalografa
de rayos X. La disposicin de los puntos resultantes del modelo
de Laue depende de las disposiciones relativas de los tomos
del cristal.

Los rayos X son la radiacin electromagntica cuya longitud de


onda () varia de 0.1 a 100 .

La tcnica de Rayos-X puede ser aplicada tanto al anlisis


cualitativo como al cuantitativo.
Es posible identificar los compuestos qumicos cristalinos
que constituyen a un material.
Permite evaluar la proporcin de estos compuestos y si
es necesario, determinar si el compuesto de inters se
encuentra presente en la muestra

William Henry Bragg (1862-1942) y su hijo William Lawrence


Bragg (1890-1971) descubrieron que los rayos difractados en
una muestra empezaron a dar resultados con respecto a la
resolucin de las estructuras de los cristales. La porcin del
espectro electromagntico que est entre la luz ultravioleta y la
radiacin es llamada la regin de Rayos X.

Se dice que cuando la radiacin electromagntica incide sobre


un tomo, los electrones oscilan con la misma frecuencia que el
campo. Como los rayos X son una onda electromagntica que
viaja en el espacio, es de suponerse que gran parte de los
electrones que se encuentran en su trayectoria oscilen con la
misma frecuencia.

Cada uno de los electrones puede considerarse como un


oscilador separado, que emite una radiacin electromagntica,
cuya amplitud es muy dbil, si la comparamos con la de la onda
incidente, para dar una onda resultante correspondiente al
tomo.

LEY DE BRAGG
Difundida por W.L. Bragg para el anlisis de la estructura de
cristales. Donde n es el orden de una reflexin (n {1,2,3....}),
es la longitud de onda, d es la distancia entre planos paralelos
de la lattice y es el anglo entre el rayo incidente y el plano
del enrejado conocido tambin como el anglo de Bragg.

DIFRACCIN DE RAYOS X
La difraccin (de los rayos X) es el fenmeno fsico a travs del
cual se manifiesta la interaccin fundamental de los rayos X con
los cristales (materia ordenada).
La intensidad del haz difractado depende de:
a)
b)
en

La intensidad y la longitud de onda del haz incidente.


La estructura del cristal, es decir, del arreglo de los tomos

c)

la celda unitaria; arreglo caracterizado que se conoce como


factor de estructura.
El volumen de los cristales que difractan.

d)

El ngulo de difraccin.

e)

La absorcin de rayos X por el cristal.

f)

El arreglo experimental utilizado

La difraccin de rayos X es una tcnica muy verstil para el


anlisis cualitativo y cuantitativo de compuestos cristalinos. La
informacin obtenida incluye tipos de fases cristalinas,
estructura de las mismas, grado de cristalinidad, cantidad de
contenido amorfo, tamao y orientacin de cristales, etc.

APLICACIONES DE LA DIFRACCIN DE RAYOS X

Determinacin mineralgica y cristalogrfica de cualquier


tipo de material de tipo cristalino.
Estudios de transformacin de fases en funcin de la
temperatura desde 24C hasta 160C .
Anlisis cuantitativo de fases.
Determinacin de tamao de cristal
Determinacin cuantitativa de amorfos en polmeros
medianamente
cristalinos .
Determinacin cuantitativa de elementos en aceros al
carbn e
inoxidables.
Esta tcnica nos permite caracterizar la homogeneidad de la
fase cristalina as como y el dimetro promedio de los cristales a
lo largo de una direccin [ h k l].
Mtodo de polvos, es el
mas utilizado en el estudio
de
materiales cristalinos. Dicho mtodo consiste en hacer pasar un
haz de Rayos X a una muestra previamente depositada en un
portaobjetos con un espesor homogneo.
Capas orientadas, consiste en dispersar de la muestra en un
solvente (agua o acetona) y esparcirla en un portaobjetos, la
cual produce una capa delgada al evaporarse el solvente. Esta
tcnica permite acentuar ciertas familias de planos cristalinos,
ya que los cristalitos se acomodan en orientaciones
preferenciales a medida que se evapora el solvente.
DISPERSION DE UN AGREGADO DE ATOMOS
Los rayos X dispersados por varios tomos de un material,
originan

radiacin

en

todas

direcciones,

producindose

interferencias debido a los de fases coherentes inducidos por los


vectores interatmicos que fijan la posicin relativa de los
tomos. En una molcula o en un agregado de tomos, este
efecto se conoce como efecto de interferencia interna, mientras

que nos referiremos como efecto de interferencia externa al que


se produce entre molculas o entre agregados. Los diagramas
de dispersin reflejan la intensidad relativa de cada uno de
estos efectos:
Las figuras representan el efecto de interferencia externo.
El interno, que en este caso es debido a un slo tomo, viene
simplemente reflejado por la intensidad relativa de los
mximos.
Obsrvese cmo el movimiento trmico en el lquido suaviza y
disminuye el perfil de dispersin presente en el vidrio.
En el cristal el perfil de dispersin se convierte en picos
definidos donde los otros diagramas presentan picos anchos y
contnuos. En este caso, el efecto total se conoce como
difraccin.
Es de notar cmo el fenmeno de la dispersin refleja el "orden
interno de la
muestra", esto es las
correlaciones de
posicin entre los
tomos.
IDENTIFICACIN DE
FASES
Los
materiales
cristalinos producen
distintos perfiles de
difraccin de rayos-X
en donde se pueden
identificar fase (s)
presentes
en
el
material. El Centro
Internacional
para
Datos de Difraccin
(ICDD)
cuenta
con

una gran base datos para cerca de 63,000 materiales para su


identificacin.

TABLAS DE CRISTALOGRAFIA DE RAYOS-X


Las Tablas Internacionales de cristalografa de Rayos X
contienen informacin sobre los 230 grupos espaciales que
existen.

EQUIPO DE DIFRACCIN DE RAYOS X

El equipo de rayos-X consta de las siguientes partes:


a)
b)
c)
d)
e)

Fuente de rayos-x
Goniomtro de 2 crculos ( y 2)
Portamuestras
Detector
Computadora para control del instrumento y anlisis de datos.

También podría gustarte