Microelectrnica y Fotnica

Prctica 9. Interferometra II.

PRCTICA 9. INTERFEROMETRA II.

1. INTRODUCCIN.
En esta prctica construiremos un interfermetro de Michelson con un lser de He-Ne
(helio-nen) y lo utilizaremos para determinar el ndice de refraccin de un gas (CO2 ) y del
aire. Para la construccin del interfermetro de Michelson seguiremos los mismos pasos que
en la prctica anterior, pero con objeto de que ambas prcticas sean independientes
repetiremos a continuacin todas las instrucciones y explicaciones tericas. Si ya ha ledo y
entendido estas explicaciones, puede pasar directamente al contenido relacionado
especficamente con esta prctica.
En general, un interfermetro es un instrumento basado en hacer interferir dos haces
de luz coherente de modo que formen un patrn de interferencia (franjas o anillos que
corresponden a mximos y mnimos de intensidad segn si los dos haces interfieren en fase o
en contrafase en distintos puntos). La condicin de coherencia es muy importante para
obtener dicho patrn de interferencia, ya que ste slo se puede lograr si los fotones de ambos
haces guardan una relacin de fase constante. Un lser es una fuente de luz coherente, en el
sentido de que los fotones que constituyen el haz de luz tienen la misma fase a lo largo de una
cierta longitud del haz (denominada longitud de coherencia), o lo que es lo mismo, durante un
cierto tiempo llamado tiempo de coherencia. Para fotones separados por un intervalo temporal
mayor que el de coherencia (o por una distancia mayor que la de coherencia) la relacin de
fase se pierde. La mayora de las fuentes de luz, tales como lmparas incandescentes, son
incoherentes en el sentido de que los fotones emitidos tienen relaciones de fase aleatorias. Por
el contrario, un lser emite luz coherente (con una cierta longitud o tiempo de coherencia que
depende del tipo de lser) y por consiguiente puede ser empleado para experimentos de
interferometra.
El funcionamiento de un interfermetro se basa en dividir el haz de luz del lser en dos
mitades mediante un divisor de haz. Este divisor de haz puede ser por ejemplo una lmina
parcialmente reflectante que deje pasar la mitad del haz y refleje la otra mitad. Mediante
lentes y espejos se dirige a ambas mitades a lo largo de caminos diferentes hasta hacerlas
coincidir sobre la pantalla o sobre el dispositivo sobre el que queremos que se forme el patrn
de interferencia. La diferencia de distancias recorridas por ambas partes debe ser inferior a la
longitud de coherencia, pues de lo contrario se perder la relacin de fase constante necesaria
para que se formen mximos y mnimos de intensidad. La forma del patrn de interferencia
depender de las variaciones de la relacin de fase de ambos haces entre los distintos puntos
de la superficie sobre la que estn interfiriendo, y pueden ser franjas o anillos segn como
ambos haces hayan sido separados, expandidos, y dirigidos uno sobre otro.
Estas franjas o anillos de interferencia son muy sensibles a la ms mnima variacin de
camino ptico de cualquiera de los dos haces. Ello es debido a que el paso de un mximo a un
mnimo de interferencia ocurre para una variacin de fase de radianes de un haz respecto al
otro, lo cual se corresponde con una variacin de camino ptico de /2. Como es del orden
de dcimas de m (632.8 nm para el lser de He-Ne), quiere decirse que el patrn de
interferencia cambia con variaciones muy pequeas del camino ptico, incluso con pequeas
vibraciones del suelo. Por este motivo los interfermetros suelen requerir mesas
antivibratorias, sobre todo si se van a utilizar para hacer algn tipo de medida de precisin.
Ntese que hemos hablado de diferencias de camino ptico, en lugar de simplemente
distancias, porque el concepto de camino ptico incluye tambin al ndice de refraccin del
medio mediante la siguiente relacin: r=nd, donde d es la distancia, n el ndice de refraccin
y r el camino ptico. Esto es importante porque variaciones en el ndice de refraccin
implican variaciones en la velocidad del haz al atravesar dicho medio, y por consiguiente
1

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variaciones en la fase. Por ello el patrn de interferencia se modifica no slo a causa de

pequeas variaciones de la distancia recorrida por un haz respecto al otro, sino tambin si
vara el ndice de refraccin del medio atravesado por un haz en una parte de su recorrido.
Para tener en cuenta las variaciones de fase y camino ptico causadas por el ndice de
refraccin, nos fijaremos en que stas son debidas a que la longitud de onda y la velocidad de
propagacin de la luz dependen del ndice de refraccin del medio (n=c0 /c=0 /, donde c0 y
0 son los valores correspondientes al vaco y c y al medio en cuestin). Por consiguiente, el
cambio de fase de una onda al recorrer una distancia d por el medio ser:
2
2
= kd =
d =
n d
(1)

0
Normalmente todas las expresiones se dejan en funcin de la longitud de onda en el vaco,
para lo cual basta con sustituir las distancias por el concepto de camino ptico (nd) en todas
las ecuaciones en las que aparezca la distancia recorrida por el haz.
Mientras que en la prctica anterior utilizbamos el hecho de que una variacin de /2
en la distancia recorrida por uno de los haces supona un cambio de mximo a mnimo (o
viceversa) en las franjas o anillos de interferencia, en la presente prctica sacaremos provecho
de que un efecto similar tiene lugar por variaciones en el ndice de refraccin del medio
atravesado. Esto nos permitir calcular el ndice de refraccin del aire y de un gas tal como
CO2 . Como el ndice de refraccin y la densidad estn ntimamente relacionados, este
procedimiento puede utilizarse tambin para observar variaciones de densidad de un medio a
travs de las correspondientes alteraciones del patrn de interferencia. Un ejemplo es el aire al
calentarse. El aire caliente tiene menos densidad que el aire fro, y por tanto menor ndice de
refraccin. Las fluctuaciones de temperatura tendrn por tanto fiel reflejo en el patrn de
interferencia y de esta forma se pueden visualizar y fotografiar. Esta tcnica es conocida como
Schlieren y mediante ella se pueden obtener espectaculares fotografas. Vase por ejemplo
.- http://courses.ncssm.edu/hsi/ss/schlieren/
.- http://www.rit.edu/~andpph/text-schlieren.html
2. PRECAUCIONES.
En esta prctica vamos a utilizar material de ptica (lentes, espejos, divisores de haz,
etc...) que requiere un trato especialmente cuidadoso para evitar su deterioro. La superficie de
lentes, espejos y divisores de haz no se debe tocar con las manos porque se ensucian
fcilmente y son difciles de limpiar. Los espejos y los divisores de haz tienen recubrimientos
metlicos o dielctricos especiales para mantener una reflectancia dada en un margen de
longitudes de onda establecido, y estos recubrimientos pueden daarse si se tocan o sufren
roces o golpes.
Si es necesario coger alguno de estos componentes pticos (ya sea una lente, o un
espejo, o un divisor de haz) hay que hacerlo por los bordes y sin tocar las caras, y no se deben
dejar sobre una superficie que los pueda rayar. Para la manipulacin de los componentes
pticos disponemos de guantes de ltex para las manos y paos protectores especiales para las
superficies donde se hayan de apoyar. En general estos componentes irn ya montados sobre
sus soportes mecnicos, por lo que siempre los cogeremos a travs de estas piezas de sujecin
y no ser necesario tocarlos directamente.
El lser de He-Ne que vamos a utilizar tiene una potencia relativamente baja (5 mW),
pero al estar concentrada en un haz colimado muy estrecho podra causar un dao a la visin
si incide directamente en un ojo. Por ello hay que manejarlo con cuidado y evitar reflexiones
incontroladas del haz que pudieran alcanzar a alguien en la vista.

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3. REALIZACIN Y EVALUACIN DE LOS RESULTADOS.

Entre las diversas configuraciones posibles para construir un interfermetro, vamos a
utilizar el llamado interfermetro de Michelson, por ser el ms fcil de alinear y uno de los
ms comnmente empleados. El interfermetro de Michelson fue utilizado en un famoso
experimento conocido como el experimento de Michelson-Morley, mediante el cual se
demostr la inexistencia de un medio conocido como ter que durante el siglo XIX se crea
que deba existir para explicar la propagacin de la luz en el vaco. Michelson y Morley
utilizaron su interfermetro para intentar medir el desplazamiento de las franjas de
interferencia que deba resultar de la variacin en la velocidad de la luz por efecto Doppler
segn que uno de los brazos del interfermetro se orientara a favor o en contra de la velocidad
de desplazamiento de la Tierra respecto del ter. El resultado fue negativo: no lograron ver
nunca ni el ms pequeo desplazamiento de las franjas, es decir, no encontraron el esperado
viento del ter, lo que supuso el preludio para el nacimiento de la teora de la relatividad
especial.
Para la realizacin del interfermetro de Michelson procederemos segn el esquema
de la figura 1. El haz lser se refleja en el espejo 1, que lo dirige paralelo al lateral del tablero
hacia una lente de 20 mm de focal que acta como expansora del haz. Esta lente lo hace
converger hacia su foco y de all el haz sale abrindose (divergiendo). A continuacin el
espejo 2 dirige el haz hacia el divisor, en el cual la mitad de la luz se transmite hacia el espejo
3 y la mitad se refleja hacia el espejo 4. Estos espejos dirigen sus respectivos haces de nuevo
hacia el divisor, en el cual la mitad de cada uno de ellos se transmite y la otra mitad se refleja,
pero ahora slo nos interesan las mitades que se dirigen hacia la pantalla, donde forman un
patrn de interferencia consistente en anillos concntricos.
Obturador (shutter): no es necesario en esta prctica. En todo caso, si queremos
interceptar el haz del lser podemos poner simplemente una cartulina.
Lser de He-Ne

Espejo 1
Pantalla
Divisor de haz
(beam splitter)

Lente

Espejo 3
Celdilla para llenarla del gas
cuyo ndice de refraccin
queremos averiguar, o bien
para hacer vaco en ella y
calcular as el ndice de
refraccin del aire.

Espejo 2

Espejo 4
Botella de
gas
Figura 1. Esquema del interfermetro de Michelson.

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El montaje experimental se va a realizar sobre un tablero ptico en el que los distintos

elementos se fijan mediante tornillos, aunque emplearemos tambin algunos elementos con
soportes magnticos. Como ya hemos comentado, los experimentos de interferometra deben
realizarse sobre unas superficies llamadas mesas pticas que presenten buenas caractersticas
antivibratorias. Ello es debido a que las vibraciones del suelo (provocadas por pasos, trfico,
maquinaria, etc...) se transmiten a los componentes pticos, causando variaciones en la
relacin entre los caminos pticos de ambos haces y destruyendo el interferograma (bastan
para ello variaciones del orden de /4, y tngase en cuenta que la longitud de onda de la luz es
de solo unos centenares de nanmetros). El tablero que vamos a usar es del mismo tipo que
los utilizados en investigacin. La cuadrcula de la figura 1 no se corresponde exactamente
con la de este tablero, sino que cada fila o columna de dicha cuadrcula (separadas por 5 cm)
equivale a dos filas o columnas del tablero que utilizaremos (separadas por 2.5 cm). Teniendo
esto en cuenta podemos guiarnos aproximadamente por la figura 1 y las indicaciones
siguientes, pero teniendo presente que se trata simplemente de una gua orientativa y que
nuestro interfermetro puede diferir en algunas de las dimensiones si ello es conveniente
(siempre que est bien alineado no habr problema).
Comience por encender el lser y alinearlo a lo largo de la coordenada y=8 del tablero
a una altura de 13 cm respecto a la superficie del mismo. Aydese por ejemplo de una
cartulina blanca con una marca a esa altura. El lser de que disponemos es un lser de He-Ne
que emite 5 mW de potencia con una longitud de onda de 632.8 nm (rojo). Ajuste el espejo
M1 para que el haz incida en su centro y salga reflejado a lo largo de la coordenada x=1 del
tablero. Conviene que todo el proceso de alineamiento que vamos a describir a continuacin
lo realice con el mximo cuidado, ya que de l depende que obtengamos un buen patrn de
interferencia. La alineacin de los sistemas pticos puede resultar un poco tediosa, pero es el
paso decisivo que condiciona el buen resultado de los experimentos. Esto es debido a la
necesidad de mantener la trayectoria del haz de luz centrada respecto al eje ptico de los
componentes por los que pasa (lentes, espejos, aberturas, etc...), lo cual a veces puede resultar
crtico. En nuestro sistema la posicin, orientacin y altura de los componentes pticos las
podemos ajustar moviendo los soportes magnticos y los vstagos que sostienen los
componentes (salvo los espejos, que van a ir atornillados al tablero). Adems los espejos
cuentan con unos tornillos de ajuste fino que podemos utilizar para asegurarnos que la
trayectoria del haz es perfectamente horizontal y paralela a la coordenada que deseemos. Es
importante que compruebe continuamente ambos aspectos situando la cartulina antes
mencionada a distintas distancias y viendo que el haz se mantiene a la misma altura y segn la
trayectoria requerida.
La principal dificultad para obtener los anillos de interferencia es la correcta
alineacin del sistema, ya que es necesario que los dos haces lleguen a la pantalla
prcticamente paralelos. Con este fin alinearemos primero el sistema sin expandir el haz, y
solamente al final introduciremos la lente entre los espejos M1 y M2 . El siguiente paso, por
tanto, es ajustar el espejo M2 para que imprima al haz un nuevo giro de 90 a lo largo de la
coordenada y=4. Es importante que el haz vaya siempre a la misma altura y paralelo a la
correspondiente coordenada. Para lograrlo utilice una tarjeta con una marca a esa altura y
sitela a varias distancias del espejo, ajustando la posicin de ste hasta que el haz pase por
esa marca a cualquier distancia a la que se ponga del espejo. Tambin es importante que el
haz incida siempre en el centro de los componentes pticos, ya que de lo contrario parte de la
luz se perder por sus bordes cuando expandamos el haz.
A continuacin ajuste el espejo M3 , inicialmente sin el divisor de haz, de modo que el
haz reflejado incida sobre el espejo M2 en el mismo punto que lo hace el haz incidente. En ese

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momento tambin podremos ver el haz reflejado sobre la abertura de salida del lser, lo que
nos asegura que ambos haces son paralelos.
Ahora site el divisor de haz con su lado metalizado hacia el espejo M2 , de tal
manera que el haz transmitido siga llegando al espejo M3 igual que antes, mientras que el haz
reflejado debe salir paralelo a la coordenada x=7. El divisor de haz que vamos a utilizar
consiste en un vidrio con un recubrimiento metlico parcialmente reflectante en una de sus
caras. La relacin de luz transmitida a luz reflejada es de 1 a 1. Puede identificar el lado
metalizado intentando ver una imagen reflejada en l y fijndose en los bordes del vidrio. Si
la imagen parece provenir de la cara posterior del vidrio entonces se ser el lado metalizado.
Si parece provenir de la cara anterior entonces el lado metalizado ser ste. Como referencia
para identificar la cara que est formando la imagen pueden servir las caras laterales del vidrio
porque stas no estn metalizadas y por consiguiente no forman ninguna imagen.
Al manipular los divisores de haz es muy importante que no toque la superficie de
stos con los dedos, ya que las huellas dactilares daan el recubrimiento metlico y adems
son difciles de limpiar. Por ello es preferible que los manipule cogindolos por la varilla del
soporte sobre el que se les entregarn montados, y si tiene que coger el vidrio hgalo siempre
por los bordes y con guantes de ltex. El mismo comentario se aplica a los espejos y todos los
dems componentes: cjalos siempre por sus soportes y no toque sus superficies.
A continuacin site el espejo M4 para que el correspondiente haz sea de nuevo
reflejado y dirigido de vuelta hacia el divisor paralelo a la coordenada x=7 hasta llegar a la
pantalla. Utilizando el ajuste fino del espejo M4 debe conseguir que este haz incida sobre la
pantalla en el mismo punto que el reflejado por el espejo M3 . En ese momento deber verse
un ligero parpadeo del punto de luz, e incluso, si ste tiene dimetro suficiente, es posible que
se vea ya algn mnimo de intensidad correspondiente a una franja de interferencia. Al
colocar la lente en la posicin (1,7) los puntos de luz se expandirn y podremos ver el patrn
de interferencia sobre la pantalla. Mediante un ajuste cuidadoso de los espejos M3 y M4
podremos conseguir anillos concntricos.
Para la realizacin de las medidas introduciremos la celdilla en uno de los brazos del
espectrofotmetro. El experimento va a consistir en llenar esta celda del gas cuyo ndice de
refraccin queremos determinar y observar el nmero de cambios entre mximos y mnimos
en el patrn de interferencia. Si llamamos l a la longitud de la celdilla, al ser atravesada dos
veces por el haz en su recorrido de ida y vuelta, el trayecto del haz a travs de ella es s=2l. El
correspondiente camino ptico cuando est llena de aire es:
r1 = n1 s
(2)
mientras que cuando est llena del gas objeto de estudio ser:
r2 = n2 s
(3)
por lo que la variacin de camino ptico al sustituir el aire por el gas es:
r = r2 r1 = ( n2 n1 ) s = n s
(4)
Conforme la celda se vaya llenando de gas iremos contando el nmero (N) de mximos y
mnimos por los que pasa el punto central del patrn de interferencia. Como sabemos que el
paso de un mximo a mnimo o viceversa equivale a una variacin de fase de radianes, o lo
que es igual, a una variacin de camino ptico de 0 /2, de la ecuacin (1) obtenemos que para
N cambios entre mximos y mnimos la variacin de camino ptico introducida es:

2
=
r = N N 0 = r = n s ,
(5)
0
2
de donde conociendo s (s=2l con l=10 mm), el ndice de refraccin del aire (n1 =1.000269) y
la longitud de onda del lser (0 =632.8 nm) podremos calcular el ndice de refraccin del gas.

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Para llevar a cabo la medicin conecte una de las entradas de la celdilla a la vlvula de
salida de la botella de gas. Asegrese de que la otra abertura de la celdilla est abierta, con el
fin de que el gas entrante pueda ir desalojando al aire y saliendo por esta abertura (de lo
contrario la celdilla podra romperse si no aguanta la presin del gas). Abra la vlvula de la
botella muy lentamente con el fin de que la celda se vaya llenando despacio y le de tiempo a
contar los cambios de mximo a mnimo o viceversa en el punto central de los anillos (si abre
la vlvula demasiado la celda se llenar rpidamente de gas y no le dar tiempo a contar los
anillos que aparecen o desaparecen por el punto central). Cuando el patrn de interferencia se
haya estabilizado de nuevo y ya no haya ms cambios, cierre la vlvula del gas. Aplicando la
ecuacin (5) calcule el ndice de refraccin del gas empleado y verifique su resultado
comprobndolo con el que se da en tablas o manuales de referencia (n=1.000416 para el CO2
a presin normal y 20 C).
A continuacin vamos a medir el ndice de refraccin del propio aire. Con este fin
haremos vaco en la celdilla mediante una bomba de mano y observaremos los cambios entre
mximos y mnimos del patrn de interferencia en funcin de la presin. Sabemos que el
ndice de refraccin depende de la presin de una manera lineal, es decir:
n
n ( P) = n( P = 0) +
P
(6)
P
y que el camino ptico recorrido a travs de la celdilla depende del ndice de refraccin de la
forma:
r = n( P ) s
(7)
por lo que al variar n en funcin de la presin variar tambin el camino ptico:
r = n( P) s = (n( P + P) n ( P) ) s
(8)
Un cambio de mnimo a mnimo o de mximo a mximo en el patrn de interferencia
corresponde con una variacin de fase igual a 2 radianes, o lo que es igual, a una variacin
de camino ptico igual a 0 (vanse las ecuaciones 1 y 5). Por consiguiente, si llamamos N(P)
al nmero de dichos cambios en funcin de la presin, tendremos que en un intervalo de
presiones P la variacin de camino ptico ser (N(P+P)-N(P))0 , y por tanto se verificar
que:
r ( N ( P + P) N ( P) ) 0
n ( P + P) n( P ) =
=
(9)
s
s
Dividiendo ambos miembros de la ecuacin anterior por P nos queda:
n N 0
=
(10)

P P 2l
de donde podremos calcular el ndice de refraccin del aire a una presin dada (p. ej. a la
presin atmosfrica de 1013 mbar) conociendo que el ndice de refraccin del vaco (P=0) es
exactamente 1.
La forma de realizar el experimento ser la siguiente. Sustituya la botella de gas
empleada en la primera parte de la prctica por la bomba de mano equipada con manmetro.
Cierre con un tapn la abertura de la celdilla que habamos dejado abierta en la parte anterior,
para as poder hacer vaco en ella. Con la bomba de vaco iremos succionando el aire del
interior de la celda y anotaremos los valores de presin diferencial (respecto a la presin
atmosfrica) que marca el manmetro cada vez que en el centro del patrn de interferencia se
produzca un cambio de mximo a mximo o de mnimo a mnimo (segn que empecemos por
un mximo o un mnimo). A continuacin realizaremos una grfica del nmero de estos
cambios (N) frente a variacin de la presin (P). Deber obtenerse una grfica como la de
la figura 2.

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A partir de esta grfica calcularemos la pendiente N/P mediante un ajuste lineal de

los datos, tal como el que se muestra en la figura. El signo de la pendiente debemos ignorarlo,
ya que ste es arbitrario y depende de si tomamos como referencia para el nmero de cambios
N el punto de menor presin o el de mayor presin. Una vez conocida esta pendiente
podemos aplicar la ecuacin 10 para calcular el ndice de refraccin del aire a la presin
atmosfrica de 1013 mbar sabiendo que 0 =632.8 nm , l=10 mm y el ndice de refraccin del
vaco es 1. Compare su resultado con el valor de referencia para el ndice de refraccin del
aire a la presin de 1013 mbar, temperatura de 22 C y longitud de onda de 632.8 nm, que es
n=1.000269.

N (n de cambios de intensidad)

1
-700

-600

-500

-400

-300

-200

-100

P (variacin respecto a presin atmosfrica) mbar

Figura 2. Ejemplo de resultados para el nmero de cambios de mnimo a mnimo o de
mximo a mximo en el punto central del patrn de interferencia frente a la variacin de
la presin en la celdilla. La lnea recta es un ajuste lineal de los datos experimentales.

Finalmente, como ltimo ejercicio puede observar el fenmeno del Schlieren descrito
anteriormente situando una resistencia en uno de los brazos del interfermetro y haciendo
pasar una corriente por ella para que se caliente. De este modo se calentar tambin el aire en
torno a ella y podremos ver en el patrn de interferencia las fluctuaciones de densidad e ndice
de refraccin.
4. TEORA DEL INTERFERMETRO.
Si dos ondas Y1 = a1 sen( t 1 ) e Y2 = a 2 sen( t 2 ) que tienen la misma
frecuencia pero diferentes amplitudes y fases inciden sobre un punto, se superponen
sumndose, de forma que se obtiene la onda Y = a1 sen( t 1 ) + a 2 sen( t 2 ) . Esta onda
a su vez puede expresarse de la forma:
Y = A sen(t )
(11)
con una amplitud
A2 = a12 + a22 + 2 a1 a2 cos

(12)

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donde =1 -2 es la diferencia de fase entre las dos ondas. Como ejercicio, puede demostrar
las ecuaciones 11 y 12 mediante manipulaciones trigonomtricas (separando la fase y la
frecuencia en senos y cosenos).
En un interfermetro de Michelson el haz de luz es dividido en dos mitades mediante
un divisor de haz, que puede ser por ejemplo un vidrio semiplateado (con un recubrimiento
metlico de plata parcialmente reflectante). Ambos haces realizan un recorrido de ida y vuelta
entre el divisor y los espejos, y continan juntos hasta la pantalla.

Figura 3. Esquema del interfermetro de Michelson.

Para examinar la formacin de las franjas de interferencia fijmonos en dos rayos

reflejados por los espejos M3 y M4 que coinciden en un punto P de la pantalla. Con el fin de
poder comparar la trayectoria de los dos rayos, calcular el desfase entre ellos, y poder as
determinar la amplitud mediante la ecuacin 12, vamos a dibujar el diagrama ptico del
interfermetro de una manera equivalente, sustituyendo el espejo M4 por su imagen virtual
M4 ' formada por la reflexin en el divisor de haz BS (ntese que para el haz que pasa por M4
el divisor BS se comporta como un espejo). El diagrama que resulta es el siguiente:

Figura 4. Diagrama de rayos para calcular el desfase entre dos haces que interfieren
en el punto P. El espejo M 4 ha sido sustituido por su imagen virtual dada por BS.

En el diagrama de rayos de la figura 4 podemos ver la diferencia de caminos pticos

entre los dos rayos que provenientes de S interfieren en el punto P tras ser reflejados por cada
uno de los espejos. Esta diferencia es 2 d cos , donde es el ngulo de reflexin y se ha
supuesto que es aproximadamente el mismo para los dos rayos. Esta aproximacin es vlida
siempre que P est suficientemente lejos comparado con la distancia d entre los dos espejos,
lo que ocurre en cualquier caso prctico. La separacin d entre el espejo M3 y la imagen del

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espejo M4 proviene del hecho de que las distancias entre BS y M3 y M4 no son exactamente
iguales, y por pequea que sea la diferencia supondr una diferencia de fase significativa.
Recurdese que si la diferencia de camino ptico es 2dcos entones la diferencia de fase es:
2
2
=
2d cos =
2 d n cos
(13)

0
por lo que basta con que d sea del orden de para que implique una diferencia de fase
significativa.
Si tenemos en cuenta que la relacin de transmisin a reflexin en el divisor de haz es
de 1 a 1 (50% de la intensidad incidente para cada onda) entonces ambos haces tienen la
misma amplitud (a=a1 =a2 ), por lo que la ecuacin (12) se simplifica de la forma:

I A 2 = 4a 2 cos 2
(14)
2
donde se ha indicado que la intensidad de la luz es proporcional a la amplitud al cuadrado. De
aqu se deduce que los mximos de intensidad ocurrirn cuando sea igual a un mltiplo de
2, o lo que es lo mismo, segn la ecuacin (13), cuando se verifique que:
2 d n cos = m0 ; con m = 1,2,....
(15)
Esta condicin slo depende del valor de , lo que significa que la forma del patrn de
interferencia consistir en anillos concntricos: dado un valor de que verifique la condicin,
sta se cumple para toda la circunferencia que sustenta dicho ngulo vista desde la posicin de
los espejos.
Si el ndice de refraccin aumenta (por ejemplo al llenar la celda de un gas con un
ndice de refraccin mayor que el del aire) entonces el dimetro de los anillos aumenta (
aumenta y cos disminuye) para que el producto 2dncos se mantenga constante para cada
anillo definido por un valor de m segn la ecuacin 15. En esta situacin el centro del patrn
de interferencia se comporta como una fuente de anillos, pues stos parecen surgir de l y van
aumentando su dimetro. Por el contrario, si el ndice de refraccin disminuye (p. ej. al hacer
vaco en la celda) entonces el dimetro del anillo definido por un valor dado de m tambin
disminuir (para que cos aumente y el producto 2dncos se mantenga constante y siga
correspondiendo al mismo anillo definido por el valor de m y la ecuacin 15). En esta ocasin
el centro se comporta como un sumidero de anillos que van desapareciendo por l.
Ntese que los comentarios del prrafo anterior slo son vlidos en la situacin dada
por las figuras 4 y 1, en las que el espejo M4 est ligeramente ms lejos del divisor que el M3 ,
y la celdilla se encuentra entre el divisor y el M4 , por lo que un aumento (o disminucin) del
ndice de refraccin en la celdilla tiene el mismo efecto que un aumento (o disminucin) de la
diferencia de distancias d entre los espejos y el divisor. En caso de que el espejo M4 estuviera
ms cerca del divisor que el M3 los efectos descritos en el prrafo anterior seran justamente
los contrarios.
5. BIBLIOGRAFA.
Puede encontrar informacin adicional sobre interferometra en general y diversos
tipos de interfermetros en textos clsicos de ptica como p.ej:
.- "Optics", 4th Edition. E. Hecht. Addison Wesley, 2001.
.- Principles of Optics: Electromagnetic Theory of Propagation, Interference, and
Difraction of Light, 7th Edition, M. Born y E. Wolf, Cambridge University Press,
1999.
.- "ptica", Justiniano Casas, Universidad de Zaragoza.
As como en textos de fotnica tales como:
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.- Optics and Photonics: an Introduction, F. G. Smith y T. A. King, John Wiley &

Sons, 2000.
.- "Photonik", Jrgen Jahns, Editorial: Oldenbourg, 2001.
.- "Optics, Light and Lasers: The Practical Aproach to Modern Aspects of Photonics
and Laser Physics", Dieter Meshede, Editorial: Wiley-VCH, 2004.
y en el libro de divulgacin:
.- "ptica tradicional y moderna", Daniel Malacara, Serie: la ciencia para todos,
Editorial: Fondo de cultura econmica, 2002
Tablas de ndices de refraccin se pueden encontrar en:
.- "Handbook of chemistry and physics", CRC Press, 2002.

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