I.

II.
III.
IV.
V.
VI.

Introduccin
Fundamentos tericos de la tcnica
Descripcin de la aplicacin de la
tcnica
Estudio de aplicacin a un material
encontrado en bibliografa
Conclusiones
Bibliografa

INTRODUCCIN
Espectroscopia: rama de la ciencia que estudia los espectros de
las radiaciones emitidas, absorbidas o difundidas por una sustancia.
Cada elemento qumico posee un espectro
propio caracterstico

Segn la frmula
de Planck:

RAYOS X

Son radiaciones electromagnticas muy energticas y

penetrantes, cuya longitud de onda () vara entre 10nm y
0,001nm
Segn la magnitud de la de los rayos X existen:
Rayos X duros: rayos de menor y mayor energa (prximos a la
zona de rayos gamma del espectro electromagntico)

Rayos X blandos: rayos de mayor y menor energa (cercanos a la

banda ultravioleta)

Tambin podemos diferenciar entre:

Rayos X blancos: mezcla de muchas longitudes de onda diferentes
Rayos X monocromticos: poseen una nica longitud de onda

APLICACIONES RAYOS X EN
ANLISIS QUMICO
Espectroscopia de
fluorescencia de
rayos X (XFS)
Absorcin de rayos X

Espectroscopia de
emisin de Rayos X
(XES)

Procesos en los
que intervienen
rayos X
Espectroscopia de
Fotoemisin de
rayos X (XPS o
ESCA)

Difraccin de rayos X
Espectroscopia
de emisin
Auger (AES)

ESPECTROSCOPIA DE FOTOEMISIN
DE
(XPS)
RAYOS
Tambin esXconocida
como espectroscopia electrnica para
el anlisis qumico (ESCA)
Est basada en el efecto fotoelctrico, de modo que el origen
de la tcnica XPS se debe fundamentalmente a:

Descubrimiento del efecto fotoelctrico: Hertz, 1887

Interpretacin cuntica del efecto fotoelctrico : Einstein, 1905
Experimentacin: Siegbahn, 1967

ESPECTROSCOPIA DE FOTOEMISIN
DE
RAYOS
X (XPS)en:
Consiste bsicamente
Excitacin mediante rayos X

Emisin de fotoelectrones

Proporcionan informacin
sobre la energa de cada nivel
y, por tanto, sobre la
naturaleza del tomo emisor

ESPECTROSCOPIA DE FOTOEMISIN
DE
RAYOS
X (XPS)
La incidencia
de rayos X (fotn de energa h) sobre la
muestra, provoca por efecto fotoelctrico, la emisin de
fotoelectrones con una energa de ligadura, EB:
EB = h EK - W
siendo
h: energa de los fotones
EK: energa cintica del fotoelectrn producido
W: funcin de trabajo del espectrmetro
EB: energa de ligadura (parmetro que identifica al
electrn de forma especfica, en trminos del elemento y
nivel atmico).

PRODUCCIN DE RAYOS X

Existen dos formas de producir radiacin X

Colisiones electrnicas

Fuente radiactiva

PRODUCCIN DE RAYOS X
Se produce mediante un
bombardeo de electrones
La transicin entre capas
electrnicas genera radiacin
X.

Se
puede
electrones Auger

generar

PRODUCCIN DE RAYOS X

Existen dos formas de producir radiacin X

Colisiones electrnicas

Fuente radiactiva

FUENTE RADIACTIVA

Podemos seleccionar un istopo radiactivo que

durante su desintegracin sea capaz de emitir rayos
X

Mtodo menos utilizado que el anterior, puesto que

no se puede controlar de forma tan precisa y adems
la peligrosidad es elevada

El comportamiento est regido por las series de

desintegracin radiactiva de cada istopo y podemos
determinar la emisin en funcin del tiempo de vida
media del mismo.

RAYOS X

Con el fin de obtener una radiacin

uniforme, utilizamos:
Selector de longitud de onda
Selector de velocidades
Detectores

SELECTOR DE LONGITUD
DE ONDA

El fundamento de este aparato est basado en la diferencia de

energas (a mayor menor energa)

Se trata de un filtro que nicamente deja pasar la apropiada para la

experiencia

Se utilizan monocromadores, un tipo de filtros en los que la dispersin

de los rayos X no es por prisma o redes, se debe a un cristal

La seleccin de est dada por la siguiente expresin:

sen()=n/(2d)

Donde n es el orden de reflexin y es el ngulo de incidencia, que

debe encontrarse entre 10 y 110

SELECTOR DE VELOCIDADES
Consiste en aplicar un
campo magntico y elctrico
perpendiculares entre s de
forma que solo puedan pasar
las partculas que cumplan la
relacin:
V=E/B

DETECTORES

Existen diferentes detectores de radiacin:

Detector de recuento de Fotones
Detector de gas
Detector de recuento de centelleo

Una vez detectados los electrones, se

procesan los resultados con ayuda de un
programa informtico.

XPS O ESCA
Se trata de:
Mtodo de caracterizacin de superficies.
Ampliamente utilizado.
Suministra gran informacin cualitativa y semicuantitativa de la muestra.
Se obtiene informacin de: enlaces qumicos y de elementos.

PROPIEDADES
Identificacin de todos los elementos presentes (excepto H, He) en
concentraciones mayores al 0.1%.
Determinacin semicuantitativa de la composicin elemental de la superficie
(error < 10 %).
Informacin acerca del entorno molecular: estado de oxidacin, tomos
enlazantes, orbitales moleculares, etc.
Informacin sobre estructuras aromticas o insaturadas a partir de las
transiciones * y .
Perfiles de profundidad de 10 nm no-destructivos y destructivos de
profundidades de varios cientos de nanmetros.
Variaciones laterales en la composicin de la superficie.
Estudio sobre superficies hidratadas (congeladas).

CARACTERSTICAS
Se trata de una tcnica superficial (mx 10 nm):
Interaccin de los electrones con la materia es muy fuerte. Energa de los
electrones emitidos es baja (<1,5 kV). Poca penetracin.
Solo electrones emitidos en la superficie puede alcanzar el detector. Hablamos
de 3 o 4 capas de tomos.
Se utiliza rayos X:
Mg K 1253.6 eV
Al K 1486.6 eV

PREPARACIN DE LA MUESTRA
Se trata de un proceso fundamental. Las superficies se pueden contaminar
o modificar. Puede originar confusin.
Para evitar fallos:
Ultravacio. Utilizacin de una presin de 10-6 torr en la cmara de anlisis.
Los fotoelectrones han de viajar desde la muestra hasta el detector sin
colisionar con ninguna partcula de fase gaseosa.
Algunos componentes tales como la fuente de rayos X requieren
condiciones de vaco para mantener la operatividad.
La composicin superficial de la muestra ha de permanecer invariable
durante el experimento.
Ar+: Eliminacin de impurezas de la superficie de la muestra. Alto poder
oxidante. Elimina elementos ligeros (C, O, H). Tambin se puede utilizar
plasma de oxigeno.

FUNCIONAMIENTO DEL XPS

Analizador de energa

Detector de
electrones

ptica
electrnica

Ordenador
Muestra (en
cmara de
anlisis)

Fuente Rayos X
Con o sin
monocromador
Mg - 1253.6 eV
Al - 1486.6 eV

APLICACIONES DE LA TCNICA XPS

En general la tcnica XPS se puede emplear en los
siguientes campos:
Polmeros y adhesivos
Catlisis heterognea
Metalurgia
Microelectrnica
Fenmenos de corrosin
Caracterizacin de superficies de slidos en general
Actualmente es una de las tcnicas de anlisis de superficies
y lminas delgadas ms utilizada en la caracterizacin qumica
de materiales tecnolgicos

APLICACIONES DE LA TCNICA XPS

Se detecta la presencia Espectro general XPS obtenido en la superficie
externa de un acero laminado en fro.
de Fe, C y O
A temperatura
ambiente, la superficie de
cualquier metal, en
contacto con la atmsfera
se recubre de una
delgada pelcula de
grupos C-C/C-H, OH- y
H2O (espesor inferior a
3nm)
A partir de la intensidad
(altura) de cada pico se
puede conocer el
porcentaje atmico de C,
O y Fe presentes en la
superficie del material

APLICACIONES DE LA TCNICA XPS

Los tomos que se diferencian en el estado de oxidacin, en las
molculas que lo rodean o en la posicin en la red, provocan un cambio
apreciable (tpicamente entre 1-3 eV) en la energa de ligadura que
permite identificar el estado de oxidacin de cationes y aniones.
As podemos asociar una
determinada energa de
ligadura a la diferentes
formas en las que se
presenta el oxgeno:
Grupo

EB (eV)

xido de
hierro

530.0

OH-

531.8

H2O

533.5


Comparacin
de
los
espectros de alta resolucin
Al2p
correspondientes
a
distintas aleaciones de aluminio
y espesores de la capa de xido
de aluminio pasivante
EB= 71.7 eV asociada a

Al0

EB= 74.4 eV asociada a

Al2O3

A partir de relacin
Ixido/Imetal (proporcional a la
altura de las componentes) se
obtiene el espesor de la capa
de xidos de aluminio sobre la
superficie

CONCLUSIONES

Hemos estudiado la forma de llevar a cabo un

anlisis superficial de una muestra utilizando la
tcnica XPS, as como el tratamiento de los datos
obtenidos.

La tcnica permite conocer la evolucin del

porcentaje atmico en la superficie de cualquier
material como resultado de su tratamiento y obtener
correlaciones entre el contenido de un elemento y el
comportamiento del material.

Conociendo esta informacin y utilizando las teoras

de enlace podemos deducir el tipo de superficie y
sus propiedades.

BIBLIOGRAFA

Mtodos instrumentales de anlisis, Willard, Hobart H.

Introduccin a la ciencia de materiales: tcnicas de preparacin y
caracterizacin, Albella, J.M.
Fsica para la ciencia y la tecnologa. Tipler, Mosca. Vol. 2. Edicin
5. Editorial Revert.
Espectroscopia, Requena Rodrguez, Alberto. Edicin 2004.
Editorial Pearson Educacin
Enlaces de Internet, entre otros:

http://en.wikipedia.org/wiki/X-ray_photoelectron_spectroscopy
http://www.uma.es/scai/servicios/xps/xps.html
http://www.eaglabs.com/techniques/analytical_techniques/xps_esca.ph
p
http://www.nuance.northwestern.edu/keckii/xps1.asp
http://www.chem.qmul.ac.uk/surfaces/scc/scat5_3.htm
http://www.ua.es/es/investigacion/sti/servicios/analisis_instrumental/ray
osx/xps.html