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METROLOGIA Y PROCESOS DE VERIFICACIN

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METROLOGA
La metrologa est conformada por una serie de operaciones de mediciones destinadas a obtener las dimensiones
y realizar el trazado para la elaboracin de piezas o elementos empleando el trabajo manual o mecnico y efectuar
la verificacin y control de sus medidas segn exigencias del proyecto.
Para ello se utiliza una serie de instrumentos o herramientas de medicin y una metodologa adecuada a las
necesidades.
Medicin: consiste en obtener la cantidad de veces que una cierta magnitud unidad se encuentra contenida entre
lmites fijados. Estos lmites no siempre son visibles o perfectamente determinados, como ser en el caso de
medicin de dimetros, profundidades, espesores, etc. en los cuales se deben tomar distancia entre dos planos
paralelos o entre superficies cilndricas o esfricas.
Exactitud de las medidas obtenidas: las medidas obtenidas nunca son exactas, es decir, no se obtienen los valores
reales, ya que la medida obtenida depender de la apreciacin del instrumento o herramienta empleada (menor
divisin del instrumento: m, dm, cm, mm, , etc.), de su precisin (desgaste, divisiones inexactas o irregulares), de
las condiciones ambientales (influencia de la temperatura, etc.) y de la habilidad del operador que la efecta (error
de paralaje).
La menor divisin del instrumento empleado dar el grado de apreciacin de la medicin efectuada cuando se mide
directamente. Por ejemplo, con una cinta graduada con divisiones de 1 milmetro se obtendrn lecturas directas
milimtricas.
La precisin de la medida obtenida depender tanto de la calidad del instrumento, de la menor divisin del mismo,
como de la habilidad del operador. Este ltimo podr apreciar a ojo si el tamao de la menor divisin lo
permitiera, cual es la medida ms aproximada a la real. Por ejemplo, en el caso de que la menor divisin fuera el
milmetro, podr apreciar con las dcimas de milmetros (Fig.1.1).
Error de medicin (e): cuando se mide se introducen errores en la medicin, siendo
este error (e) igual a la diferencia entre el verdadero valor (m) y la medida realizada
(mi) :
e = m mi

(1.1)

Existen dos tipos de errores, errores sistemticos y errores accidentales. Los errores sistemticos son causados por
defecto del instrumento, del mtodo empleado o por fallas del observador. Son difciles de detectar, y por ms
mediciones que se hagan siempre estarn todas ellas afectadas del mismo error. Son difciles de eliminar. Los
errores accidentales son producidos por causas fortuitas y accidentales. Varan al azar, pudiendo producirse en un
sentido o en otro (en ms o en menos) y no tienen siempre el mismo valor absoluto. Son muy frecuentes y se
presentan por ejemplo debido a la coincidencia entre ndice y escala, a descuidos por parte del observador, etc. Por
producirse al azar es posible disminuirlos, segn la teora de errores de Gauss, mediante la aplicacin de la teora
de las probabilidades. Para ello se hacen n mediciones, m1, m2, m3, ...mn resultando el valor ms probable:

m
siendo:

(1.2)

xi = m - m i

(1.3)

donde xi es el error cometido de la medicin efectuada respecto del valor ms probable, que es igual en ambas
direcciones, es decir +xi o -xi. Por lo tanto, por ser los errores cometidos en ambas direcciones de igual valor
absoluto pero de signos diferentes, se anularan mutuamente, resultando:
n

x
x 1

0
(1.4)

Para evitar esta situacin se toma la sumatoria de los cuadrados de los xi, se los divide por el nmero de mediciones
n y se le extrae la raz cuadrada, obtenindose el error medio cuadrtico:

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mc

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2
i

(1.5)

Gauss da una funcin (x) llamada funcin error de Gauss que da la probabilidad de obtener un cierto error xi
dentro de un cierto intervalo cuando se hace un nmero grande de medidas independientes; la grfica de esta
funcin (Fig.1.2), es la llamada campana de Gauss.
La probabilidad de cometer errores pequeos es grande en tanto que la de cometer errores grandes es pequea.
Si la verdadera medida es m, el error verdadero de la media estar dado por la expresin:
m = m - m

(1.6)

El cual, en funcin del error medio cuadrtico se puede demostrar que es:

mc2

n 1

2
i

n n 1

(1.7)

Por lo tanto, para obtener la magnitud m, luego de efectuar n mediciones, de la (1.6) se obtiene, teniendo en cuenta
el doble signo de la raz cuadrada:
m = m m

m - m m m + m

O sea:

(1.8)
(1.9)

Es decir que el valor verdadero de la medicin estar comprendido entre ambos extremos del intervalo, siendo este
ltimo menor, cuanto ms mediciones se realicen. Para aplicar la teora de Gauss es necesario que sea xi = 0, lo
que se cumple en la prctica cuando es xi xi .
Unidades: las unidades empleadas son las adoptadas actualmente por el S.I. en todo el mundo y en la Argentina por
el SIMELA. La unidad de longitud es el metro (m); en mecnica se emplea el milmetro (mm) a fin de
abarcar pequeas y grandes medidas, utilizndose una nica unidad. Los submltiplos del milmetro son:
dcimas de milmetro (0,1mm), centsimas de milmetro (0,01mm) y milsimas de milmetro (0,001mm).
An se utiliza por su gran difusin, la pulgada como unidad de medida (1"), siendo: 1"= 25,4mm. Los
submltiplos de la pulgada se toman como fracciones de la misma: 1/2" 1/4", 1/8", 1/16", 1/32", 1/64", etc.
Tambin se usa un sistema mixto dividiendo la pulgada en decimos, centsimos, milsimos y diezmilsimos
de pulgada: 2".215 (dos pulgadas doscientos quince milsimas); .32" (treinta y dos centsimas de pulgada).
Cuando se necesita mxima precisin y exactitud se utiliza el micrn () como unidad, siendo el micrn la
millonsima parte del metro: 1 = 10-6m = 10-3mm.
Para las medidas angulares se utiliza el grado sexagesimal y como submltiplos de ste el minuto () y el segundo
(). Otra unidad empleada en medidas angulares es el radin atendiendo a que el ngulo central del circulo
en un giro completo mide 2 radianes.
Influencia de la temperatura en la medicin: debido a la dilatacin que sufren los metales con la temperatura,
cuando se necesita obtener medidas de gran precisin, hay que tener en cuenta la variacin que sufren tanto
los elementos a medir como los propios instrumentos de medicin. Por tal motivo se corrigen los valores
obtenidos a una temperatura base, utilizndose la conocida frmula:
l = l0 l0 t = l0 ( 1 t )

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(1.10)

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En la (1.10) se utiliza el signo ms (+) para las temperaturas mayores a la tomada como base y el signo menos (-)
para las menores a ella. En la frmula anterior es l0 la medida registrada a la temperatura base, l es la medida
obtenida a la temperatura ambiente y t la diferencia entre la temperatura ambiente y la de base, siendo el
coeficiente de dilatacin del material (1/C).
En nuestro pas se toma 20C como temperatura base, en Francia 0C, en Estados Unidos de Norteamrica 62F
(16,67C). La influencia de la temperatura es importante cuando se mide con precisiones del centsimo de
milmetro.

1
Si el coeficiente de dilatacin del acero es = 0,000011. C , y si la medicin a 20C de una varilla de este metal
es de 1.000 mm y la temperatura ambiente es de 35C, la longitud real a esta ltima temperatura ser:

1
l = 1000mm 1+0,000011 C (35-20) = 1000,165mm
y afecta a la medida a 20C en 165 milsimas de milmetro.
Ajustes y tolerancias
Cuando se desea fabricar una pieza cualquiera, se tiene el conocimiento del tamao de la misma. Esta podr ser un
poco ms grande o ms chica, pero si cumple su finalidad y guarda ciertas caractersticas que la hacen aceptable,
est resuelto el problema. Es decir que se tolera que dicha pieza no guarde medidas exactas a las previstas.
Cuando se fabrican piezas en forma aisladas para un conjunto, se trata de darle a stas las medidas convenientes a
fin de que el conjunto pueda funcionar. Pero cuando se fabrican piezas en serie, donde por ejemplo se deben
fabricar una gran cantidad de ejes de una vez por razones de economa y rapidez, y por otro lado deben fabricarse
los bujes o cojinetes para esos ejes, tanto stos como los bujes debern cumplir ciertos requisitos a fin de que al
asentar o ajustar unos con otros, puedan funcionar y prestar el servicio requerido, indistintamente del eje y buje que
encajen.
Estos requisitos se refieren muy especialmente a las medidas que deben tener o guardar cada pieza a fin de que
cualquier eje pueda funcionar con cualquier buje indistintamente, es decir, que exista intercambiabilidad.
Para que ello ocurra, como es imposible prcticamente lograr la medida nominal especificada o deseada prevista
de antemano, se admiten pequeas diferencias, estableciendo lmites, dentro de los cuales se toleran dimensiones
mayores o menores que las nominales, es decir, se adoptan medidas mximas y mnimas a stas, debiendo la pieza
construida encontrarse comprendida entre estos valores.
Por lo tanto podemos establecer algunos conceptos para la fabricacin de piezas en serie.
Medida nominal (N) : es la medida bsica o de partida en la ejecucin de una pieza. Es decir la cota o lnea de
cero del dibujo, la que se deseara obtener.
Medidas lmites: son las medidas mayor y menor que la nominal toleradas o permitidas.
Medida mxima (Max): es la medida lmite mayor que la nominal.
Medida mnima (Min): es la medida lmite menor que la nominal.
Tolerancia (T): es la diferencia entre la medida mxima y la medida mnima:
T = Max-Min.
(1.18)
La tcnica mecnica de precisin est basada justamente en la tolerancia, clasificndolas para cada clase de trabajo,
a fin de poder asignar en cada caso la que corresponde segn las condiciones de funcionamiento o la finalidad del
trabajo.
Supongamos un buje o cojinete al que llamamos agujero, y un perno o eje, los cuales se muestran en la figura
(Fig.1.32), en la cual se indican las distintas medidas en las que se pueden observar los distintos conceptos
enunciados anteriormente:
Diferencia superior (DS): es la diferencia entre la medida mxima (Max) y la nominal (N):
DS = Max - N
(1.19)
Diferencia inferior (DI): es la diferencia entre la medida mnima (Min) y la nominal (N):
DI = Min - N
(1.20)
Dimensin o medida real (MR): es la medida que tiene la pieza una vez terminada, debiendo ser:
Min MR Max
(1.21)

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A fin de facilitar la intercambiabilidad de piezas, los pases han establecido tablas de tolerancias, preparndose
Sistemas de Lmites y Ajustes, cuya aplicacin se hizo internacional a partir de 1926 cuando I.S.A. (International
Standard Association) dict normas que fueron aceptadas paulatinamente en todo el mundo. En Argentina, IRAM
estableci sobre la base de estas normas las que se utilizan actualmente en el pas. En Alemania, las normas se
denominan DIN.
La unidad de medida utilizada para construir las piezas es el milmetro, en tanto que las tolerancias se expresan en
fracciones de milmetros, o sea en dcimas de milmetros, centsimas de milmetros y milsimas de milmetros o
micrones, utilizada en los pases que adoptaron el Sistema Internacional (SI). En los pases de habla inglesa se
utiliza an la pulgada y la milsima de pulgada.
Distintas formas de acotar medidas
En la figura (Fig.1.33) pueden observarse
las distintas formas de acotar las medidas de
agujeros y ejes. Antiguamente se colocaba
nicamente
la
medida
nominal.
Actualmente se indican la nominal con los
lmites admisibles, anteponindose los
signos ms (+) o menos (-) segn
corresponda. Tambin se colocan las
dimensiones mxima y mnima o tambin
utilizando la notacin de los sistemas de
ajustes.
Ajustes: cuando se deben ejecutar un par de
piezas que actuarn en relacin de
dependencia entre ambas, se dice que se
deben ajustar entre s. Generalmente el
ajuste se realiza entre una pieza que debe
penetrar en otra (macho) y una pieza que
debe ser penetrada por la primera (hembra).
Estas piezas reciben el nombre de eje
(macho) y de agujero (hembra). Si estas
piezas, que ajustan entre s, entran
fcilmente, sin interferencia entre ambas, o entran en forma apretada, con interferencia, se dice que presentan juego
o aprieto respectivamente, ya sea tengan movimiento una respecto de otra o estn fijas.
Existe una posicin intermedia que se la denomina Deslizamiento que es cuando no posee interferencia ni juego
(tericamente) o posee juego mnimo. De la forma en que encajan las piezas unas con otras surgen las distintas
formas de ajustes que reciben las siguientes denominaciones:
Juego (J): es la diferencia entre los dimetros de agujero y eje. Existe juego cuando el dimetro del agujero es
mayor que el dimetro del eje.
Deslizamiento (Dz): cuando prcticamente no existe diferencia entre los dimetros del agujero y del eje. En estos
casos siempre existe un pequeo juego.
Aprieto (A): es la diferencia entre los dimetros del eje y agujero. Existe aprieto cuando el dimetro del eje es
mayor que el del agujero.
Juego mximo (Jmax): es la diferencia entre la medida mxima del dimetro del agujero y la mnima del dimetro
del eje.

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Juego mnimo (Jmin): es la diferencia entre la medida mnima del dimetro del agujero y la mxima del dimetro
del eje.
Aprieto mximo (Amax): es la diferencia entre la medida mxima del dimetro del eje y la mnima del dimetro
del agujero.
Aprieto mnimo (Amin): es la diferencia entre la medida mnima del dimetro del eje y la mxima del dimetro
del agujero.
En la figura (Fig.1.34) se observan los distintos tipos de ajustes mencionados. La unin puede por lo tanto ser
realizada de dos modos fundamentales: holgados (con juego) o apretado (sin juego), existiendo una posicin
intermedia llamada deslizamiento. Adems existen grados intermedios de ajustes, que dependen del valor relativo
de las tolerancias con respecto a las cotas reales de la pieza (mrgenes de ajuste).
Se pueden, por lo tanto, clasificar los ajustes en tres grupos principales:
1- Libre u holgado (con juego, de giro, libre, etc.)
2- De sujecin o apretado (calado, bloqueado, forzado, prensado)
3- De deslizamiento (entrada suave, de centrado, etc.).
Grados de ajustes: han sido normalizados por ISA distintos grados de ajustes, siendo stos los siguientes:
- Juego fuerte; juego ligero; juego libre; juego justo.
- Deslizamiento: sin juego o con juego.
- Aprieto; entrada suave: adherencia; arrastre; forzado; a presin.
Precisin: es el grado de exactitud, respecto de una medida,
con la cual se fabrica u obtiene una pieza o elemento.
Grado de precisin: es la divergencia permitida entre la
medida nominal y la medida real obtenida.
Tolerancias fundamentales o calidades: en el sistema ISA
se denomina calidad al grado de precisin con que se desea
trabajar una pieza. La calidad se refiere a la tolerancia de las
dimensiones de cada pieza en s, y no al conjunto de piezas
que deben encastrar entre s. ISA distingue cuatro calidades
de ajustes, segn el grado de precisin con que debe
ejecutarse el mismo, siendo stos los siguientes:
1- Calidad extra precisa: de alta precisin, est destinada a la fabricacin de instrumentos de medicin, de
laboratorio o para piezas que necesitan un elevado grado de precisin.
2- Calidad precisa o final: es la ms frecuentemente usada en la construccin de mquinas-herramientas, motores
de combustin interna, bombas, compresores, etc.
3- Calidad ordinaria, mediana o corriente: se adopta para mecanismos accionados a mano, rboles de
transmisin, anillo de seguros, vstagos de llaves, etc.
4- Calidad basta o gruesa: se adopta para mecanismos de funcionamiento ms rudos y con el objeto de lograr
intercambiabilidad, como pasadores, palancas de bombas manuales, algunas piezas de mquinas agrcolas, etc.
Sistemas de ajustes
Cuando se trata de la fabricacin de ejes y agujeros, los cuales deben girar con mayor o menor facilidad, o bien
permanecer fijos respondiendo a un mayor o menor aprieto, se resuelve el problema con arreglo a dos sistemas de
ajustes. Estos sistemas nacen del hecho de considerar cual de los dos elementos del par de piezas a fabricar puede
asumir la caracterstica de normal o bsico, y cual de ellos deber permanecer como elemento variable o no normal.
Estos sistemas se denominan de AGUJERO NICO y de EJE NICO, y tienen la caracterstica de que el que se
tome como base se construye de una medida uniforme (medida nominal contemplando la tolerancia
correspondiente), siendo comn para todos los asientos o ajustes de igual calidad. En tanto el otro se construye con
dimensiones mayores o menores permitiendo la variacin de la tolerancia de ajuste de modo de obtener el juego "J"
o aprieto "A" correcto.
En ambos sistemas la medida nominal "N" es el punto de origen para las diferencias (tolerancias), siendo la lnea de
cero. ISA hace corresponder una letra para cada zona de ajuste. Se estudiarn ambos sistemas y sus caractersticas.
Sistema de agujero nico (agujero base)
Toma como elemento base el agujero, siendo comn para todos los ejes que se fabriquen. El punto de origen o lnea
de cero en este sistema es la medida mnima del agujero, que coincide con la nominal (N) o sea que la diferencia
inferior es 0:
DI = Min - N = 0 Min = N

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(1.22)

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En las normas ISA la lnea de cero corresponde a la letra H para agujero nico. En la figura (Fig.1.35) se puede
observar en este sistema las tolerancias que se toman para las distintas calidades, con juego, deslizante y con
aprieto.

Se puede notar por lo tanto, que para el sistema de agujero nico, la tolerancia del mismo se toma con signo
positivo, es decir que puede la medida real ser mayor que la nominal N, pero nunca menor:

MR = N 0

(1.23)

Sistema de eje nico (eje base)


Toma como elemento base el eje siendo comn para todos los agujeros de los bujes o cojinetes que se fabriquen. El
punto de origen o lnea de cero en este sistema es la medida mxima del eje, que coincide con la nominal, o sea que
la diferencia superior es 0:
DS = Max - N = 0 Max = N

(1.24)

En las normas ISA la lnea de cero corresponde a la letra h para el sistema de eje nico. En la figura (Fig.1.36) se
puede observar en este sistema las tolerancias que se toman para las distintas calidades, con juego, deslizante y con
aprieto.
Se puede notar que para el eje nico las tolerancias del mismo se toman con signo negativo, es decir que la medida
real puede ser menor que la nominal pero nunca mayor:
0

MR = N

(1.25)

En ambos sistemas, de agujero nico y de eje nico, la tolerancia de la pieza se ha determinado en el sentido de
poder quitarle material.
Las piezas construidas por cualquier fabricante cumpliendo con las condiciones exigidas en los sistemas de ajustes,
son intercambiables entre s.
Actualmente en los planos, la medida de una pieza de mquina o
elemento, suele indicarse por sus cotas lmites (Fig.1.37).
Se ha visto que el sistema de agujero nico tiene una sola tolerancia en el
agujero y el sistema de eje nico tiene una sola tolerancia en el eje. Se
dice que cuando la zona de tolerancia referida a la nominal es en una sola direccin de la lnea de cero, la
tolerancia est distribuida en forma unilateral, y cuando ella es repartida hacia uno y otro lado de la lnea de cero,
es bilateral.

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Para establecer los lmites (tolerancias) que corresponden a cada calidad, existe un procedimiento dado por las
normas ISO, basado en el valor de la unidad de precisin i, de acuerdo a la expresin:

i 0,45 3 N 0,001N

(1.26)

estando i en micrones () y N en milmetros. El trmino 0,001N se introduce por la influencia trmica, tomando la
temperatura base igual a 20C.
Con esta unidad de precisin se pueden obtener las tolerancias fundamentales.
En el sistema de ajustes ISA, la amplitud del campo de tolerancia es definida por un nmero que determina la
calidad de elaboracin. Este nmero est comprendido entre 1 y 16, utilizndose los nmeros 1 a 4 para ajustes
extraprecisos (aparatos de medicin); 5 a 11 para ajustes precisos, cubriendo los casos normales de acoplamientos
mecnicos, comprendidos desde los ms precisos a los ms bastos; de 12 a 16 contemplan piezas que no son
acoplables directamente luego de elaboradas mediante fresado, laminado, fusin y estampado.
Adems en el sistema ISA, la posicin de la zona de ajuste respecto a la lnea de cero, que da la caracterstica del
ajuste con relacin al juego, aprieto o deslizamiento, queda definida por una letra, que es mayscula para los
agujeros y minscula para los ejes. La letra H mayscula corresponde a los casos de "agujeros nicos", con

tolerancia de cero a ms (N 0 ). La letra h minscula corresponde a los casos de "ejes nicos", con tolerancia de
0

cero a menos (N ). Por lo tanto con H se indica la zona de tolerancia de agujeros cuyas medidas mnimas son
iguales a la nominal (DI = 0), y con h se indica la zona de tolerancia de ejes cuyas medidas mximas son iguales a
la medida nominal (DS = 0).
Suponiendo que se acoplen todos los ejes con el agujero bsico H, admitiendo una misma calidad en ambas piezas,
las zonas de ajustes dadas por las letras correspondientes a los ejes darn los siguientes tipos de asiento: agujero H
con ejes a, b, c, d, e, f, g, acoplamiento mvil o giratorio, con juego decreciente segn el orden alfabtico; agujero
H con rbol h, acoplamiento deslizante; agujero H con eje j, acoplamiento forzado ligero; agujero H con eje k
acoplamiento forzado medio; agujero H con ejes m,n, acoplamiento forzado duro; agujero H con ejes p, r, s, t , u, v,
x, y, z, acoplamientos prensados con interferencia creciente segn el orden alfabtico.

Lo mismo se tiene al acoplar el eje bsico h con todos los agujeros, obtenindose los ajustes: eje h con agujeros A,
B, C, D, F, G, acoplamiento mvil o giratorio con juego decreciente segn el orden alfabtico; eje h con agujero H,
acoplamiento deslizante; eje h con agujero J, acoplamiento forzado ligero; eje h con agujero K, acoplamiento
forzado medio; eje h con agujeros M, N, acoplamiento forzado duro; eje h con agujeros P, R, S, T, U, V, X, Y, Z,
acoplamientos prensados con interferencia creciente segn el orden alfabtico. En la figura (Fig.1.38) se puede
observar ambos sistemas graficados, lo que permite visualizar los tipos de ajustes que se pueden realizar, tanto de
agujero nico como de eje nico.
Para determinar las tolerancias correspondientes a las calidades dadas por la numeracin 1 a 16, ISA fija el valor
10i como tolerancia fundamental de la calidad 6 (IT6), obtenindose las tolerancias sucesivas de la serie de
5

nmeros normales de razn 10 . As las tolerancias fundamentales a partir de la calidad IT5 son las siguientes:
IT5: 7i; IT6:10i; IT7: 16i; IT8: 25i; IT9: 40i; IT10: 64i; IT11: 100i; IT12: 160i; IT13: 250i; IT14: 400i; IT15: 630i;
IT16: 1000i. El valor de i es el dado por la expresin (1.25).
ISA establece en una tabla de calidades y dimetros nominales las tolerancias fundamentales para cada medida
(Fig.1.39) de agujero nico y eje nico.

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Por lo tanto el sistema ISA establece para cada ajuste la zona de tolerancia mediante el dimetro nominal, la letra
que da la clase de asiento o ajuste y el nmero que indica la calidad: 50H7; 40m6.
ISA ha establecido adems tablas de ajustes ISA, separadas en dos grupos: agujero nico y eje nico, donde figuran
medidas nominales de 1mm hasta 315mm en los grupos de calidades Perfecta (alta precisin), Precisa, Ordinaria y
Basta, subdivididas a su vez en ajustes de calidades intermedias.
Cuando se adopta un sistema, ya sea agujero nico o eje nico, corresponde un tipo de calidad ya sea del agujero o
del eje respectivamente, determinando el tipo o clase de ajuste o asiento que se obtiene entre el agujero y el eje.
Este ajuste puede indicarse combinando las notaciones de ambas tablas, quedando as perfectamente definido el
tipo de ajuste. Por ejemplo, para designar un asiento se escribe primero el valor nominal seguido de la expresin

H6
que da el agujero y luego el eje: 150 m5 , 150 H6-m5, 150 H6/m5 que es un acoplamiento forzado duro en el
25

33

sistema de agujero nico con dimetro nominal 150mm con las cotas siguientes: agujero: 150 0 ; eje 150 15 . Si

M6
fuera 225 h5 , 225 M6-h5, 225 M6/h5, corresponde a un acoplamiento forzado duro en el sistema de eje nico
0

siendo las cotas para el eje 225 20 y agujero 225 37 .

Cuando no se dispone de tablas de tolerancias se puede llegar a determinar las mismas mediante la ley a que
obedecen las diferencias ms cercanas a la lnea de cero de agujeros y ejes. Esta ley se expresa mediante:
D = Constante. N

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(1.27)

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Para agujero nico, se obtiene la diferencia superior DS de acuerdo a las expresiones siguientes para asientos
mviles (Fig.1.40):
Para eje a: DS = 64 N0,5
Para eje b: DS = 40 N0,48
Para eje c: DS = 25 N0,40
Para eje d: DS = 16 N0,44

(1.28)
(1.29)
(1.30)
(1.31)

Para eje e: DS = 11 N0,41


Para eje f : DS = 5,5 N0,41
Para eje g: DS = 2,5 N0,34

(1.32)
(1.33)
(1.34)

En estas expresiones N est en milmetros, resultando DS en micrones.


Para ejes nicos se calcula la diferencia inferior de los asientos mviles de la misma manera y con las mismas
relaciones, tomando la lnea de cero ahora sobre el eje y calculando DI, segn la figura (Fig.1.41):
Para agujero A: DI = 64 N0,5
Para agujero B: DI = 40 N0,48
Para agujero C: DI = 25 N0,40
Para agujero D: DI = 16 N0,44

(1.35)
(1.36)
(1.37)
(1.38)

Para agujero E: DI = 11 N0,41


Para agujero F: DI = 5,5 N0,41
Para agujero G: DI = 2,5 N0,34

(1.39)
(1.40)
(1.41)

Para los casos de asientos fijos (Fig.1.42) y (Fig.1.43), de las calidades 5, 6 y 7 se determinan, para el sistema
agujero nico la diferencia inferior DI, y para eje nico se determina la diferencia superior DS.

3
Para eje k (agujero K): DI (DS) = 0,6 N
3

Para eje m (agujero M): DI (DS) = 2,8 N


Para eje n (agujero N): DI (DS) = 5 N0,34
Para eje p (agujero P): DI (DS) = 5,6 N0,41

(1.42)
(1.43)
(1.44)
(1.45)

Tolerancia

La tolerancia es un concepto propio de la metrologa industrial, que se aplica a la fabricacin de piezas


en serie. Dada una magnitud significativa y cuantificable propia de un producto industrial (sea alguna de
sus dimensiones, resistencia, peso o cualquier otra), el margen de tolerancia es el intervalo de valores en
el que debe encontrarse dicha magnitud para que se acepte como vlida, lo que determina la aceptacin
o el rechazo de los componentes fabricados, segn sus valores queden dentro o fuera de ese intervalo.
El propsito de los intervalos de tolerancia es el de admitir un margen para las imperfecciones en la
manufactura de componente, ya que se considera imposible la precisin absoluta desde el punto de vista
tcnico, o bien no se recomienda por motivos de eficiencia: es una buena prctica de ingeniera el
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especificar el mayor valor posible de tolerancia mientras el componente en cuestin mantenga su
funcionalidad, dado que cuanto menor sea el margen de tolerancia, la pieza ser ms difcil de producir y
por lo tanto ms costosa.
La tolerancia puede ser especificada por un rango explcito de valores permitidos, una mxima desviacin
de un valor nominal, o por un factor o porcentaje de un valor nominal. Por ejemplo, si la longitud
aceptable de un barra de acero est en el intervalo 1m0.01m, la tolerancia es de 0.01m (longitud
absoluta) o 1% (porcentaje). La tolerancia puede ser simtrica, como en 4001, o asimtrica como
40+0.2/-0.1.
La tolerancia es diferente del factor de seguridad, pero un adecuado factor de seguridad tendr en cuenta
tolerancias relevantes adems de otras posibles variaciones.
Tolerancia de un componente elctrico
Una especificacin elctrica podra necesitar una resistencia con un valor nominal de 100o (ohms), pero
tambin tener una tolerancia de 1%. Esto significa que cualquier resistor que se encuentre dentro del
rango de 99 a 101 es aceptable. Podra no ser razonable especificar una resistencia con un valor
exacto de 100 en algunos casos, porque la resistencia exacta puede variar con la temperatura, corriente y
otros factores ms all del control del diseador.
Tolerancia mecnica de un componente
La tolerancia es similar de una manera opuesta al ajuste en ingeniera mecnica, el cual es la holgura o la
interferencia entre dos partes. Por ejemplo, para un eje con un dimetro nominal de 10 milmetros se
ensamblara en un agujero se tendr que especificar el eje con un rango de tolerancia entre los 10.04 y
10.076 milmetros. Esto dara una holgura que se encontrara entre los 0.04 milmetros (eje mayor con
agujero menor)y los 0.112 milmetros (eje menor con agujero mayor). En este caso el rango de tolerancia
tanto para el eje y el hoyo se escoge que sea el mismo (0.036 milmetros), pero esto no es necesariamente
el caso general.
En mecnica, la tolerancia de fabricacin se puede definir como los valores mximo y mnimo que debe
medir un eje u orificio para que en el momento de su encaje el eje y el orificio puedan ajustarse sin
problemas. Si se supera el valor mximo o el mnimo, entonces resultar imposible encajar el eje dentro
del orificio, por lo que se dir que el mecnico se ha pasado del valor de tolerancia.
Unidades y precisin
Las unidades de medida empleadas son determinantes a la prctica; por lo general, entre mayor cantidad
de lugares decimales mayor la precisin, pero las unidades deben preferiblemente ser escogidas siguiendo
los protocolos y estndares de industria. Por ejemplo, la medida angular puede ser indicada en forma
decimal o en precisin de grado, minuto y segundo; mas estas dos formas no son las nicas formas de
definir un ngulo. No se debe combinar unidades de medida en los valores delimitantes.
Ajuste
Se denomina Ajuste a la relacin mecnica existente entre dos piezas que pertenecen a una mquina o
equipo industrial, cuando una de ellas encaja o se acopla en la otra.
Las tareas relacionadas con esta actividad pertenecen al campo de la mecnica de precisin, tambin
conocido con el nombre de mecatrnica. En mecnica, el ajuste mecnico tiene que ver con la tolerancia
de fabricacin en las dimensiones de dos piezas que se han de ajustar la una a la otra. El ajuste mecnico
se realiza entre un eje y un orificio. Si uno de ellos tiene una medida nominal por encima de esa
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tolerancia, ambas piezas sencillamente no ajustarn y ser imposible encajarlas. Es por eso que existen las
normas ISO que regulan las tolerancias aplicables en funcin de los dimetros del eje y del orificio. Para
identificar cundo el valor de una tolerancia responde a la de un eje o a la de un orificio, las letras
iniciales son maysculas para el primer caso y minsculas para el segundo caso.
Tipos de ajuste
Hay varios tipos de ajuste de componentes, segn cmo funcione una pieza respecto de otra. Los tipos de
ajuste ms comunes son los siguientes:

Forzado muy duro


Forzado duro
Forzado medio
Forzado ligero
Deslizante
Giratorio
Holgado medio
Muy holgado
Se entiende por ajuste forzado en los diferentes grados que existen cuando una pieza se inserta en la otra
mediante presin y que durante el funcionamiento futuro en la mquina, donde est montada, no tiene que
sufrir ninguna movilidad o giro.
Por ajuste deslizante o giratorio se entiende que una pieza se va a mover cuando est insertada en la otra
de forma suave, sin apenas holgura.
Ajuste holgado es que una pieza se va a mover con respecto a la otra de forma totalmente libre.
En el ajuste forzado muy duro el acoplamiento de las piezas se produce por dilatacin o contraccin y las
piezas no necesitan ningn seguro contra la rotacin de una con respecto a la otra.

En el ajuste forzado duro las piezas son montadas o desmontadas a presin pero necesitan un
seguro contra giro, chaveta por ejemplo, que no permita el giro de una con respecto a la otra.
En el ajuste forzado medio, las piezas se montan y desmontan con gran esfuerzo y necesitan un
seguro contra giro y deslizamiento.
En el ajuste forzado ligero las piezas se montan y desmontan sin gran esfuerzo, con mazos de
madera, por ejemplo y necesitan seguro contra giro y deslizamiento.
Los ajustes de piezas deslizantes tienen que tener una buena lubricacin y su deslizamiento o giro
tiene que ser con presin o fuerza manual.
Las piezas con ajuste giratorio necesitan estar bien lubricadas y pueden girar con cierta holgura.
Las piezas con ajuste holgado son piezas mviles que giran libremente y pueden estar o no
lubricadas.
Las piezas con ajustes muy holgados son piezas mviles con mucha tolerancia que tienen mucho
juego y giran libremente
Pieza macho y piezas hembra
Cuando se produce el acoplamiento o ajuste de una pieza con otra, una de ellas recibe el nombre de
macho y la otra recibe el nombre de hembra. Las piezas macho corresponden a las que tienen
dimensiones externas tales como ejes, rbol de transmisin, chavetas, estras, etc. Las piezas hembra son
las que tienen las dimensiones donde se alojan las piezas macho, tales como agujeros, ranuras, etc.
Tambin guardan una estrecha relacin de ajuste los elementos roscados y los engranajes.
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La relacin de holgura que se establece entre troqueles y matrices est sujeta a tolerancias muy pequeas
de fabricacin. Tambin son objetos de tolerancia muy precisa las distancias que hay entre los centros de
agujeros que tienen las cajas de velocidades y reductoras y aquellas que alojan en su seno engranajes u
otros mecanismos. Igualmente requieren a veces tolerancias muy precisas las posiciones angulares de
determinados elementos de las mquinas.
METROLOGA OPTICA.
INTRODUCCION A LA OPTICA: Parte de la fsica que estudia las leyes y fenmenos de la luz. El
estudio de la ptica se divide en 2 partes, la ptica geomtrica y la ptica fsica.
La primera se ocupa de los fenmenos de radiacin luminosa en medios homogneos sin considerar su
naturaleza u origen; la segunda estudia la velocidad, la naturaleza y caractersticas de la luz.
Gran parte de los conocimientos que poseemos sobre estas materias se hayan sintetizados en unos cuantos
principios conocidos por las leyes de ptica geomtrica, que son:
OPTICA GEOMETRICA: Se ocupa de los fenmenos de radiacin luminosa en los medios homogneos,
sin considerar su naturaleza u origen.
1.- Propagacin de la luz. En un medio homogneo la luz se propaga en lnea recta, cumpliendo as su
principio de fernat , que dice que el camino mas corto entre 2 puntos es una lnea recta.
2.- Independencia reciproca. Dado un haz de rayos luminosos, si se intercepta una parte con un cuerpo
opaco los rayos restantes no interceptados no sufren variacin.
3.- Ley de reflexin.- a) el rayo incidente el reflejo y la normal al punto de incidencia estn en un mismo
plano. B)El ngulo de incidencia es igual al ngulo de reflexin
4.- Leyes de refraccin: a) El rayo incidente la normal y el rayo refractado estn en un mismo plano. B) la
relacin entre el seno del rayo de incidencia y el seno del rayo de refraccin es una constante llamada
constante de refraccin , que depende de cada medio.
Aunque la ptica geomtrica da una adecuada explicacin terica los hechos relativos a la explicacin de
la imagen, es sin embargo incompleta a l explicar algunos resultados del experimento en ciencia ptica.
Los fenmenos de interferencia , difraccin, pulverizacin y aun dispersin cromtica rebasan
completamente este objetivo.
Con una simple afirmacin de interferencia podremos decir que es posible, para dos fuentes de luz,
producir obscuridad a lo largo de ciertas trayectorias comenzndose esto con la iluminacin reforzada a lo
largo de otras.
OPTICA FISICA: Estudia la velocidad , la naturaleza y las caractersticas de la luz.
Los espejos esfricos cncavos permiten obtener imgenes mayores, menores o de mismo tamao que el
objeto. Estas imgenes pueden ser tambin virtuales ( aparentes ) o reales ( formada por la interseccin de
los verdaderos rayos reflejados ).
Los espejos esfricos convexos producen siempre imgenes virtuales, y mas pequeas que el objeto,
independientemente de la distancia a la que esta se encuentra .
FOTOMETRO: Instrumento para medir la intensidad de 2 fuentes luminosas de la cual una se toma como
tipo midiendo la distancia a que ambas tiene igual brillo sobre la superficie pulimentada.
Los mtodos por comparacin permiten una exactitud del 1 % . Pueden disminuirse los errores de
apreciacin utilizando fotmetros fotoelctricos, que miden directamente la iluminacin.
El flujo luminoso total emitido en todos sentidos por un manantial pueden medirse con un fotmetro
esfrico. Tiene una esfera recubierta en su interior con pintura blanca, para reflexin difusa y una puerta
con bisagras que pueden abrirse para introducir primero la lampara patrn y luego la sometida a ensayo.
FOTOMETRIA: Medicin de la intensidad y densidad de la luz; la intensidad es la cantidad de luz
emitida por segundo en una direccin dada, y su unidad de medida es la buja; la densidad es la cantidad
de luz que atraviesa una superficie dada por segundo, y su unidad es la lumen.
En los ltimos aos la fotometra ha adquirido una importancia especial en la astrofsica, pues la medicin
de la luz proveniente de las estrellas ha permitido establecer una escala precisa de magnitudes de estas; ha
llevado al descubrimiento de las estrellas dobles y las variables, entre estas las cefopides, y, por
consiguiente a calcular las distancias interestelares inaccesibles al mtodo del paralaje.
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Otra definicin seria la siguiente: es una medida de la intensidad luminosa de una fuente de luz, o de la
cantidad de flujo luminoso que incide sobre una superficie. La fotometra es importante en fotografa,
astronoma e ingeniera de iluminacin . Los instrumentos empleados para la fotometra se denominan
fotmetros. Las ondas de luz estimulan el ojo humano en diferentes grados segn su longitud de onda.
Como es difcil fabricar un instrumento con la misma sensibilidad que el ojo humano para las distintas
longitudes de onda, muchos fotmetros requieren un observador humano. Los fotmetros fotoelctricos
necesitan filtros coloreados especiales para responder igual que el ojo humano . Los instrumentos que
miden toda la energa radiante, no slo la radiacin visible, se llaman radimetros y deben construirse de
forma que sean igual de sensibles a todas las longitudes de onda.
La intensidad de una fuente de luz se mide en candelas, generalmente comparndola con una fuente
patrn. Se iluminan zonas adyacentes de una ventana con las fuentes conocida y desconocida y se ajusta
la distancia de las fuentes hasta que la iluminacin de ambas zonas sea la misma. La intensidad relativa se
calcula entonces sabiendo que la iluminacin decrece con el cuadrado de la distancia.
CALORIMETRIA: Tcnica para medir las constantes trmicas como el calor especifico, el latente o la
potencia calorfica.
CALORIMETRO: Instrumento para medir la cantidad de calor absorbido por un cuerpo o desprendida de
el en un fenmeno fsico o qumico; se usa para determinar la energa de los combustibles ( gas, carbn) ,
el valor energtico de los alimentos, etc.
INTERFEROMETRO: Instrumento para medir longitudes de ondas de luz, radio, sonido, etc., y para
efectuar otras observaciones de precisin aprovechando el fenmeno de la interferencia de las ondas; el
instrumento divide un haz de ondas homogneas en dos o mas rayos por medio de dispositivos adecuados
como espejos semitransparentes y los dirige por trayectorias distintas.
Por ejemplo uno a travs a de la sustancia que se desea examinar y otro por el aire. En el detector del
instrumento se vuelven a combinar estos rayos: la intensidad de las ondas superpuestas es mayor donde
estn en fase, y viceversa. Esta comparacin de fases permite medir desde las longitudes pequeisimas de
ciertas ondas hasta el dimetro de una estrella o la separacin entre 2 estrellas dobles. El interferometro
tiene muchas aplicaciones en cristalografa, acstica, astronoma, etc.
PIROMETRIA OPTICA: Parte de la fsica que se ocupa de la medicin de las temperaturas por medio de
los instrumentos pticos.
RADIOMETRO: El radimetro infrarrojo es un instrumento tpico que sirve para medir la radiacin
terrestre de onda larga en la regin infrarroja de 4 a 50 mm.
RADIOMETRO ULTRAVIOLETA: La cantidad de energa solar absorbida o reflejada en una especifica
de la superficie terrestre se mide con la energa total de las contribuciones, por lo que se refiere a la
longitud de onda, que se van desde el ultravioleta hasta el infrarrojo.
REFLEXION DE LA LUZ: Toda superficie donde los rayos de luz se reflejan al incidir, constituyen un
espejo: tales como las aguas tranquilas, laminas de metal pulidas, vidrio pulido, etc., estos cuerpos al
reflejar la luz producen una sensibilizacin en nuestros ojos al percibir la imagen que se forma siendo
estas de mayor o menor intensidad, dependiendo de las diferentes clases de superficies reflectantes, as
como de su capacidad para reflejar la luz que perciben del sol o de cualquier otra fuente luminosa natural
o artificial. A continuacin damos algunas de las caractersticas de las superficies reflectantes:
Cuando los rayos de luz inciden sobre superficies blancas y rugosas se reflejan en todas direcciones, esto
se debe a que la luz incidente llega a la superficie con diferentes ngulos. Sin embargo si la superficie es
blanca y sin rugosidad, los rayos de luz se reflejan regularmente, siendo su ngulo de incidencia igual al
ngulo de reflexin.
Si la superficie es negra no reflejan la luz solo la absorben.
Las superficies bien pulidas reflejan la luz uniformemente debido a que los rayos inciden con un mismo
ngulo, dando como resultado rayos reflejados paralelos entre si.
Se llama reflexin difusa o de difusin al fenmeno que se produce cuando un haz de rayos paralelos
incide sobre una superficie ordinaria y se desvan en todas direcciones al grado que es difcil percibir una
imagen virtual.
LA METROLOGA ptica es la rama de la ptica que tiene como propsito efectuar medidas de muy alta
precisin usando las ondas de la luz como escala. Esto se hace por medio de unos instrumentos llamados
interfermetros, basados en el fenmeno de la interferencia, que se describir ms adelante. Ya que dicha
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aplicacin est fundamentada en la naturaleza ondulatoria de la luz, se comenzar por describir
brevemente la historia del desarrollo de los conceptos sobre la naturaleza de la luz. Posteriormente, se
tratarn las principales aplicaciones de la metrologa ptica.
III.1. LA NATURALEZA
DE LA LUZ
La naturaleza de la luz ha sido un enigma muy atractivo e interesante para los hombres, desde la ms
remota antigedad. Los griegos pitagricos, alrededor de 530 a.C., al igual que Aristteles doscientos
aos ms tarde, crean que la visin era causada por partculas que emita el cuerpo luminoso, que
llegaban despus al ojo. Sin embargo, los filsofos Platn, Euclides y Claudio Tolomeo, crean que era
justo lo contrario, es decir, que las partculas salan del ojo para llegar despus al objeto observado.
Alhazen, en Arabia, estaba convencido de que el punto de vista de Aristteles era el correcto, es decir, que
la luz sala de los objetos y que al penetrar en el ojo produca la sensacin visual. Sin embargo, no se
haca todava ninguna conjetura sobre la naturaleza de estas emanaciones de las fuentes luminosas.
La primera suposicin ms o menos razonada se hizo durante la Edad Media, en el sentido de que la luz
era un flujo de partculas de naturaleza desconocida. Newton pens con muy buenos argumentos
cientficos, adecuados a su tiempo, que la luz estaba formada por corpsculos de diferentes tamaos y
velocidades, los que inducan vibraciones en el medio en el cual se propagaba la luz, al que se llamaba
ter, de acuerdo con su tamao y velocidad. Sin embargo, siempre le qued la duda de si la luz era en
realidad una partcula o una onda, pues conoca los fenmenos de la difraccin y de la doble refraccin,
que no poda explicar. Estas ideas fueron mal interpretadas en su tiempo, pues se crey que Newton
postulaba sin sombra de duda una teora completamente corpuscular. La gran autoridad que Newton
ejerci tanto sobre sus colegas como sobre sus sucesores, unida a la influencia de esta mala
interpretacin, fue tan grande que aun cientficos tan importantes como sir David Brewster se opusieron
rotundamente a la teora ondulatoria. Paradjicamente, como veremos ms adelante, Brewster realiz
estudios muy importantes sobre la polarizacin de la luz.
Francesco Maria Grimaldi (1618-1663) ingres a la Compaa de Jess a la edad de catorce aos. En
1648, siendo ya jesuita, se le ofreci la ctedra de matemticas en Bolonia. En un experimento que realizo
ah, dej que penetrara la luz del Sol a un cuarto obscuro a travs de un pequeo agujero en una cartulina
(Figura 11). Hizo despus pasar esta luz a travs de otra cartulina perforada, con dimensiones que midi
muy cuidadosamente. Descubri que la luz proyectaba una mancha mayor que la esperada si la
propagacin de la luz fuera rectilnea. En algunos otros experimentos observ que la orilla de la sombra
en lugar de estar bien definida, mostraba algunas franjas claras y oscuras, como se muestra en la figura
12. Estos fenmenos los atribuy Grimaldi a la presencia de la difraccin, debida a la naturaleza
ondulatoria de la luz.

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Figura 11. Experimento que muestra el fenmeno de la difraccin.


Erasmo Bartholinus (1625-1692), un naturalista dans, descubri en 1670 el fenmeno de la doble
refraccin en la calcita, llamada tambin espato de Islandia, observando que un rayo incidente se refracta
en dos, a los que llam rayo ordinario y rayo extraordinario, como se muestra en la figura 18. Sin
embargo, no pudo encontrar una explicacin razonable de este fenmeno.

Figura 12. Imgenes de difraccin de algunos objetos. (a) ojo de una llave de cerradura y (b) clip
para papel.
Christian Huygens (1629-1695) naci en La Haya, Holanda. Con la ayuda de su hermano y su amigo, el
filsofo Baruch Spinoza, hizo estudios pticos y astronmicos muy importantes. Fue el primero en
identificar la aureola que vio Galileo alrededor de Saturno, como un anillo. En 1678, Huygens postul
que la luz era de naturaleza ondulatoria, es decir, que era como una onda. A fin de explicar la
birrefringencia, supuso que el rayo ordinario corresponda a una onda esfrica, mientras que el
extraordinario corresponda a una onda esferoidal oblata, es decir, con la forma de una esfera achatada.
Esta es la explicacin correcta; sin embargo, no convenci a nadie debido a que cometi el error de
suponer que la luz era una onda longitudinal como el sonido, es decir, que la vibracin ocurra en la
misma direccin de la propagacin de la onda. Con ayuda de su teora, Huygens explic la reflexin, la
refraccin, la interferencia y la difraccin, aunque slo en forma cualitativa.

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Figura 13. Fenmeno de la birrefringencia en calcita.


Robert Hooke (1635-1703) era ayudante de Robert Boyle cuando en 1665 descubri el fenmeno de la
interferencia, al observar los brillantes colores de las pompas de jabn y las pelculas de aceite en agua.
Hooke interpret correctamente slo en forma parcial sus observaciones, las que relacion indirectamente
con movimientos ondulatorios longitudinales.
Hooke propuso que la luz se propagaba en ondas transversales, introduciendo as el concepto de
polarizacin de la luz. Ya con el concepto de polarizacin se poda explicar la doble refraccin, pero no se
vea en este tiempo cmo era posible esto. Fue Etienne-Louis Malus quien en Pars en 1775 resolvi el
enigma, con sus mltiples observaciones de fenmenos relacionados con la luz polarizada.
Thomas Young (1773-1829), mdico de profesin y arquelogo de gran xito, describi en 1801 en
Inglaterra algunos experimentos, entre los cuales el ms importantes era el de la doble rendija. Con este
experimento Young trataba de hacer resurgir la teora ondulatoria, que ya casi se haba olvidado por
entonces. La vida de Young es tan interesante, que vale la pena relatarla aunque sea muy brevemente.
Naci en Milverton, Inglaterra, el 13 de junio de 1773. Thomas era un nio tan precoz que a la edad de
dos aos ya lea con cierta fluidez. Antes de cumplir los cuatro aos ya haba ledo dos veces el Antiguo
Testamento de la Biblia. Durante su infancia aprendi latn, italiano, francs, cirlico, hebreo y algunos
otros idiomas asiticos. Sus habilidades manuales tambin eran considerables, pues a los catorce aos ya
manejaba el torno, haca telescopios pequeos y encuadernaba libros. A los 17 aos ya haba ledo los
Principia y el Optics de Isaac Newton. Lo convencieron de que deba estudiar medicina, y termin su
carrera con xito en 1799. Adems de practicar su profesin, decidi hacer investigaciones sobre el ojo
humano, lo que lo llev a descubrir el astigmatismo y a inventar un optmetro para medir los defectos de
refraccin del ojo.
Poco ms tarde comenz a realizar investigaciones sobre la visin en color, postulando que la visin de
los colores es debida a que en el ojo existen tres tipos diferentes de receptores, cada uno de ellos sensible
a un color diferente: rojo, amarillo o azul, a los que llam colores primarios. Como sabemos, esta teora
ha permanecido vigente con pocas modificaciones hasta nuestros das.
En 1801 Young hizo su famoso experimento de la doble rendija, con lo que demostr la existencia de la
interferencia de la luz. Con ello, Young se inici como uno de los principales defensores de la teora
ondulatoria de la luz.
Por aquellos aos, las tropas francesas descubrieron durante el transcurso de unas excavaciones en un
pueblo llamado Rosetta, en el delta del Nilo, en Egipto, una piedra con textos en tres lenguajes
desconocidos. La utilidad de descifrar estos textos era obvia, pues abra las puertas a la posibilidad de
interpretar los jeroglficos egipcios. La piedra cay despus en manos de los ingleses, quienes la llevaron
al Museo Britnico, donde an se encuentra. Muchos intentaron descifrar la piedra sin xito alguno, hasta
que en 1814 Young se interes en ella y logr descifrarla. En 1821, dos aos despus de que Young
public sus resultados, Jean Franois Champollion, un egiptlogo profesional, hizo una mejor y ms
completa interpretacin, pero sin reconocer los esfuerzos de Young.
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En 1808, Etienne-Louis Malus (1775-1812) descubri la polarizacin de la luz por medio de la reflexin
al observar que la luz, al reflejarse en vidrio o agua, presentaba el mismo fenmeno que cada una de las
dos imgenes que aparecan por birrefringencia al pasar a travs del espato de Islandia. Este fenmeno
consiste en que, al ser observadas las imgenes a travs de un segundo trozo de espato de Islandia, la
imagen aparece o desaparece segn su orientacin. A este fenmeno se le llam polarizacin.
Poco despus, en 1815, sir David Brewster (1781-1868) hizo un estudio bastante completo del fenmeno
de la polarizacin. Es interesante saber un poco sobre la vida de Brewster, quien naci en 1781 en
Jedburgh, Roxburghire, Escocia. Comenz sus actividades en ptica a la temprana edad de diez aos,
construyendo un telescopio. A los doce aos ingres a la Universidad de Edimburgo. En 1812 Brewster se
enter del descubrimiento de Malus sobre la polarizacin. Al hacer experimentos sobre este fenmeno,
pronto encontr que la luz reflejada queda polarizada completamente cuando la tangente del ngulo de
incidencia es igual al ndice de refraccin. A este ngulo se le conoce ahora como ngulo de Brewster.
Una ancdota interesante de este investigador es que invent el famossimo caleidoscopio, que tuvo un
xito y popularidad grandsimos. Trat sin xito de patentarlo, y ese fracaso lo defraud profundamente.
El establecimiento definitivo de una teora ondulatoria transversal de la luz ms formal se obtuvo
alrededor de 1823 en Normanda, gracias a los trabajos tanto tericos como experimentales de Augustin
Fresnel, quien naci en Broglie, Francia, el 10 de mayo de 1788 y muri en el ao de 1827. Con su teora
se explicaban todos los fenmenos luminosos hasta entonces conocidos.
Es curioso que, a pesar de que cada da se entenda mejor la naturaleza de la luz, no se haba todava
medido, a finales del siglo XVII, su velocidad de propagacin. La primera medicin fue efectuada en
forma indirecta mediante medios astronmicos por Ole Romer (1644-1710) en 1673. Su mtodo consisti
en medir los periodos de traslacin de los satlites de Jpiter alrededor del planeta. No fue sino hasta
1849 cuando H. L. Fizeau (1819-1896) midi por primera vez en forma directa la velocidad de
propagacin de la luz. Len Foucault prob experimentalmente en 1850 que la velocidad de la luz es
menor en un medio denso que en el vaco, obteniendo que el factor en el que se reduce esta velocidad al
entrar a un cuerpo transparente es justamente el valor del ndice de refraccin. As, se puede escribir:

c/ v = n
donde v es la velocidad de la luz en el medio y c es la velocidad de la luz en el vaco.
En 1864 ya estaba aceptada la teora ondulatoria; sin embargo, era completamente desconocido el tipo de
onda que era la luz. En este ao el fsico escocs James Clerk Maxwell (1831-1879) plante su teora
electromagntica de la luz, con la que prob que la luz es una onda electromagntica transversal de la
misma naturaleza que las ondas de radio, que an no se haban descubierto, diferencindose de stas slo
en que su frecuencia es mucho mayor, como se muestra en la figura 14. Maxwell tuvo tanto xito con su
teora que pudo explicar cualitativa y cuantitativamente todos los fenmenos luminosos conocidos
entonces y aun predecir otros ms. Lo ms interesante fue que obtuvo el valor de la velocidad en el vaco
calculndola tericamente a partir de constantes elctricas conocidas del vaco.
En 1883, Gustav Kirchhoff (1824-1887) deriv en Berln su teora escalar de la difraccin. Esta teora se
puede considerar como una aproximacin a la de Maxwell o como una mejora de la de Fresnel. Heinrich
Rudolph Hertz (1857-1894) en 1886 en Alemania demostr experimentalmente la existencia de las ondas
de radio, confirmando as sin lugar a dudas la teora electromagntica de Maxwell.
Al calentarse un cuerpo cualquiera emite luz, generalmente no monocromtica, con una distribucin de
longitudes de onda (colores) a la que llamamos "espectro", que depende tanto de la temperatura como del
tipo de material del que est hecho el cuerpo.

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Figura 14. Una onda luminosa, con el campo elctrico vertical y el campo magntico horizontal.

Figura 15. Espectro de emisin del cuerpo negro.

Si un cuerpo, bien sea por su color o por su forma, absorbe toda la energa luminosa que le llega, se llama
en fsica "cuerpo negro". Este cuerpo negro puede hacerse con una esfera hueca y cerrada, con un
agujerito muy pequeo para observar la radiacin luminosa proveniente del interior cuando se le calienta.
Ahora bien, el espectro de la radiacin luminosa emitida por un cuerpo negro, depende solamente de su
temperatura y no del material del que est hecho el cuerpo. Esta distribucin o espectro tiene la forma
representada en la figura 15. Hasta el ao 1895 el espectro observado era muy difcil de explicar por
medio de una teora fsica adecuada. La teora buscada tuvo que romper algunos de los principales
conceptos de la fsica de entonces, lo que qued a cargo de Max Carl Ernst Ludwig Planck, nacido en
Kiel, Alemania, el 23 de abril de 1858. En diciembre 14 de 1900, Planck envi un reporte a la Physical
Society de Berln, en el que daba una explicacin exacta de la forma del espectro de la radiacin del
cuerpo negro. Esta teora inclua un concepto revolucionario: el "cuanto" de energa luminosa, llamado
tambin ms tarde "fotn". Segn este concepto, la cantidad ms pequea en la que podemos fragmentar
o dividir la energa luminosa tiene un valor que depende de la frecuencia V, segn la relacin E = h v
donde la h denota una constante universal, la llamada de Planck.
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Planck introdujo el concepto de cuanto de energa como una mera necesidad matemtica, para poder
obtener el resultado correcto en su teora, pero no pudo darle la interpretacin fsica correcta. Planck
recibi el premio Nobel de fsica en 1918. Vivi hasta los 89 aos, conservando siempre una gran
actividad intelectual.
H. R. Hertz, descubridor de las ondas de radio, encontr tambin el efecto fotoelctrico, que consiste en la
expulsin de electrones de un metal cuando incide un haz luminoso sobre l (Figura 16). La energa
cintica de los electrones expulsados era tanto mayor cuanto mayor era la frecuencia de la luz que
iluminaba el metal. Ninguna teora fsica de la poca poda explicar este fenmeno. La explicacin
satisfactoria tanto cualitativa como cuantitativa de este efecto la dio Albert Einstein, quien postul que la
luz est formada por unas partculas a las que G. N. Lewis llam fotones en 1923. Los fotones tienen una
energa que depende de la frecuencia, de la misma manera que los cuantos de Planck. Esta teora
completaba muy bien la teora de la radiacin del cuerpo negro de Planck. Con esto quedaba bien
cimentado por primera vez el concepto de fotn. Esta teora, y no la de la relatividad, fue la que le dio el
premio Nobel de fsica a Einstein en 1905.

Figura 16. Efecto fotoelctrico.

Se presentaba entonces una dualidad de la luz muy difcil de concebir, pues no poda ser una onda, y al
mismo tiempo una partcula. El francs Louis Victor de Broglie (1892-1987) trata de resolver el enigma
afirmando que onda y corpsculo son solamente dos manifestaciones diferentes del mismo ente, que se
presentan segn las circunstancias del experimento. Con ello predice entonces que lo que suponemos que
son solamente partculas, como los electrones, bajo ciertas circunstancias deben manifestarse como ondas.
Debido a esta prediccin que se confirm ms tarde, recibi el premio Nobel de fsica en 1919. De
Broglie afirm que la longitud de onda de la onda asociada a una partcula est dada por:

donde p es el momento lineal de la partcula. Tratando de demostrar lo anterior, Davidson y Germer hacen
pasar un haz de electrones a travs de la red de un cristal. Se observ que los electrones producen, al
chocar sobre una pantalla despus de atravesar el cristal, un patrn similar al producido por una onda que
atraviesa una rejilla de difraccin.
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Ahora sabemos que todas las ondas electromagnticas son de la misma naturaleza y que slo difieren
entre s por su longitud de onda. El cuadro 1 muestra el espectro electromagntico completo, con sus
longitudes de onda aproximadas. La dualidad onda-fotn persiste hasta la fecha, as que podemos hablar
de la radiacin electromagntica tanto en trminos de una onda como de un flujo de fotones. El fotn
contiene la cantidad ms pequea de energa E que podemos aislar de esta radiacin, de frecuencia v
relacionadas por E = h v. Mientras ms grande sea la longitud de onda, ms pequea es la frecuencia y
por lo tanto ms pequea la energa E del fotn. Debido a ello, mientras ms grande sea la longitud de
onda, ms difcil ser detectar el fotn individualmente. Como consecuencia, las ondas de radio y
televisin tambin estn formadas por fotones, pero son de energa tan pequea que jams se han podido
detectar individualmente.
III.2. LAS ONDAS
LUMINOSAS
Como conclusin de toda la historia anterior se desprende que, en ciertos experimentos, se puede
considerar a la luz como una onda transversal, mientras que en otros es necesario considerarla como un
flujo de partculas llamadas fotones, cuya energa individual depende de la frecuencia de la onda. Sin
embargo, en la gran mayora de los casos, sobre todo en aquellos en los que interviene la metrologa, es
suficiente utilizar el concepto de onda transversal.

Figura 17. Parmetros importantes en una onda.


Conviene recordar varios conceptos y definiciones relacionados con las ondas. Uno de ellos es la longitud
de onda , que es la distancia entre dos crestas o dos valles consecutivos, como se muestra en la figura
17. La frecuencia V, es el nmero de oscilaciones en un segundo, es decir, el nmero de crestas que pasan
por un lugar en un segundo. Estas dos cantidades no son independientes, sino que estn relacionadas entre
s por la velocidad v, con la que se propaga la luz. Si el medio en el que viaja la luz es el vaco, esta
velocidad se representa por c, y tiene un valor de 299 792 kilmetros por segundo. La distancia de la
Tierra a la Luna es aproximadamente de 384 500 kilmetros, por lo que la luz atraviesa esa distancia en
poco ms de un segundo. Otra manera de imaginar la magnitud de la velocidad de la luz es pensar que
esta distancia corresponde aproximadamente a ocho vueltas alrededor de la Tierra. La frmula que
relaciona estos tres conceptos bsicos de una onda es:

v= c
Podemos darnos cuenta fcilmente de que mientras ms grande sea la longitud de onda, menor es la
frecuencia, y viceversa. La longitud de onda tiene diferentes valores segn el color de la luz, como se ve
en el cuadro 1, pero va desde aproximadamente 350 nm para el violeta hasta 650 nm para el rojo.
Recordando ahora que un nm (nanmetro) es 10-9 metros, podemos ver que estas longitudes de onda son
de 3.5 y 6.5 diezmilsimos de milmetro, las cuales son obviamente longitudes muy pequeas.
III.3. LA INTERFEROMETRA
Y SU HISTORIA
La interferometra se basa en el fenmeno de la interferencia, que podemos producir cuando dos ondas
luminosas de exactamente la misma frecuencia se superponen sobre una pantalla. Adems de tener la
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misma frecuencia, estas ondas deben ser sincrnicas, es decir que sus diferencias de fase, y por lo tanto
las distancias entre las crestas de ambas ondas, deben permanecer constantes con el tiempo. Esto es
prcticamente posible slo si la luz de ambas ondas que se interfieren proviene de la misma fuente
luminosa. Pero si es solamente una fuente luminosa la que produce la luz, los dos haces luminosos que se
interfieren deben generarse de alguna manera del mismo haz. Existen dos procedimientos para lograr
esto: denominamos al primero divisin de amplitud y al segundo divisin de frente de onda. Usando estos
dos mtodos bsicos se han diseado una gran cantidad de interfermetros, con los que se pueden efectuar
medidas sumamente precisas. La figura 18 muestra dos interfermetros muy comunes, el primero es el
sistema de dos rendijas de Young, que produce interferencia por frente de onda y el segundo es el de
Michelson, que produce interferencia por divisin de amplitud.

Figura 18. (a) Interfermetro de Young, que funciona por divisin de frente de onda y (b)
interfermetro de Michelson, que funciona por divisin de amplitud.
Sin duda el personaje ms importante en el terreno de la interferometra es Albert Abraham Michelson
(1852-1931), que naci un 19 de diciembre en Strzelno, Polonia. A los tres aos de edad emigr con sus
padres, primero a Europa occidental y despus a Nueva York, posiblemente para huir del antisemitismo.
Despus de viajar por todo el continente americano, se establecieron finalmente en San Francisco.
Cuando tena 16 aos, su padre se enter de que exista la posibilidad de que su hijo ingresara a la
Academia Naval de los Estados Unidos. Los problemas para lograr el ingreso fueron tan grandes que
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tuvieron que solicitar la ayuda personal del presidente Grant. Finalmente Michelson logr ingresar, y se
gradu en 1873. En el curso de su carrera demostr una gran vocacin para la ptica, ms que para las
actividades navales.
Despus de graduarse, Michelson empez a trabajar en el Departamento Naval de Annapolis, donde su
primer trabajo fue medir la velocidad de la luz con el mismo mtodo que Len Foucault haba empleado
aos antes. Su resultado super notablemente al de Foucault. Despus de esto le fue otorgado permiso
para estudiar un ao en Europa. A su regreso ingres a la recin fundada Case School of Applied Science
en la ciudad de Cleveland, donde conoci al profesor de qumica Edwin Williams Morley (1838-1923).
Juntos se propusieron llevar a cabo un experimento interferomtrico que haba comenzado Michelson
durante su estancia en Europa, para determinar si la Tierra estaba en reposo o en movimiento con respecto
al ter, es decir, al medio en el que se propagaba la luz. Despus de repetir el experimento varias veces y
de atravesar mltiples calamidades y accidentes, en 1888 llegaron a la conclusin de que la franja de
interferencia no se mova de posicin cuando ellos lo esperaban, y por lo tanto se requera una
explicacin que no podan encontrar, para resolver satisfactoriamente el resultado del experimento.
Uno de los intentos de explicacin era suponer que el ter estaba en reposo en relacin con la Tierra. Sin
embargo, esta conclusin no era aceptable, porque otros experimentos de varios investigadores
demostraban que esto era imposible. Fueron muy numerosos los intentos de explicar el resultado
inesperado del experimento, pero todos fracasaron porque ninguno poda dar una explicacin satisfactoria
para todas las observaciones relacionadas con la teora.
Mientras tanto, con motivaciones muy diferentes e independientes, Albert Einstein (1879-1955), nacido
en Ulm, Alemania, elabor su teora de la relatividad especial, que postulaba que la velocidad de la luz
era siempre exactamente la misma en el vaco, independientemente de las velocidades relativas de la
fuente luminosa y del observador. Esta teora haca completamente innecesaria la hiptesis de la
existencia del ter. De esta manera quedaba explicado el resultado del experimento de Michelson y
Morley. No se hablar especialmente en este libro sobre la vida y personalidad de Einstein, por ser
sumamente conocidas. Baste con decir que Einstein y Newton son los dos cientficos ms grandes que ha
tenido la humanidad.
Albert Michelson hizo una gran multitud de experimentos meterolgicos, que sin lugar a dudas lo hacen
merecedor del nombre de padre de la interferometra. Otro de sus trabajos importantes fue la medicin de
longitudes por medio de interfermetros, superando la precisin de cualquier medida efectuada hasta
entonces. Michelson recibi el premio Nobel de fsica por sus trabajos interferomtricos de precisin, en
1901.
III.4. APLICACIONES DE
LA INTERFEROMETRA
La interferometra es ahora una herramienta indispensable en muchas actividades en las que sea necesario
realizar mediciones. A partir de 1947 se han extendido estas tcnicas a las ondas de radio, inicindose as
la radiointerferometra astronmica. Hoy en da, por medio de tcnicas interferomtricas se pueden
realizar una gran variedad de medidas sumamente precisas, entre las que podemos mencionar las
siguientes:
a) Medida y definicin del metro patrn. El primero que tom la longitud de onda de la luz como
referencia para especificar longitudes de objetos fue Michelson. Esto se hace por medio del
interfermetro que se muestra en la figura 19, donde el primer objetivo es medir la separacin entre dos
espejos, los que forman un sistema llamado etaln. La separacin entre los espejos del etaln es un
mltiplo entero de medias longitudes de onda de la luz empleada, a fin de que los haces reflejados en
ambos espejos del etaln estn en fase. El proceso es bastante laborioso, pues hay necesidad de usar un
gran nmero de etalones, donde cada uno tiene aproximadamente el doble de longitud que el anterior. La
razn de este largo proceso es que no es posible contar las franjas de interferencia que aparecen al ir
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moviendo uno de los espejos hasta llegar a la distancia de un metro. La limitacin es la coherencia del haz
luminoso, que se describir ms tarde en la seccin de lseres. Actualmente, con el lser, es mucho ms
simple la medicin del metro patrn por interferometra.
En 1960 el metro fue definido como igual a 1650 763.73 longitudes de onda en el vaco, de la luz emitida
en una cierta lnea espectral del kriptn-86. Sin embargo, en lugar de definir el metro y luego medir la
velocidad c de la luz usando esta definicin, es posible hacer lo contrario.
Es decir, se define primero la velocidad c de la luz como una cierta cantidad de metros recorridos en un
segundo, de donde podemos escribir:

c = d/t
El siguiente paso es definir el metro como la distancia recorrida por la luz en un tiempo igual a 1 /c. Esto
es lo que actualmente se ha hecho para definir el metro.

Figura 19. Interfermetro de Michelson con etaln, para medir longitudes


b) Medida de las deformaciones de una superficie. Frecuentemente, debido a causas muy variadas, una
superficie puede tener deformaciones pequesimas que no son detectables a simple vista. A pesar de su
reducida magnitud, estas deformaciones pueden ser el sntoma de problemas graves presentes o futuros.
Como ejemplo, podemos mencionar una fractura de un elemento mecnico de un avin o de una mquina.
Otro ejemplo es un calentamiento local anormal en un circuito impreso o en una pieza mecnica sujeta a
friccin. Finalmente, Otro ejemplo es una deformacin producida por esfuerzos mecnicos que ponen en
peligro la estabilidad del cuerpo que los sufre. Es aqu donde la interferometra tiene un papel muy
importante, detectando y midiendo estas pequesimas deformaciones de la superficie. Esta aplicacin de
las tcnicas interferomtricas es especialmente til y poderosa si se le combina con tcnicas hologrficas,
como se ver ms adelante, en un proceso llamado interferometra hologrfica. La figura 20 muestra un
ejemplo de deformacin local de la superficie de una cubeta de plstico, medida con interferometra
hologrfica.

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Figura 20. Deteccin interferomtrica de deformaciones.

Figura 21. Interferograma del espejo de un telescopio.


c) Determinacin de la forma exacta de una superficie. Las superficies pticas de los instrumentos
modernos de alta precisin tienen que tallarse de tal manera que no tengan desviaciones de la forma ideal,
mayores de una fraccin de la longitud de onda de la luz. Para hacer el problema todava ms difcil, la
superficie muy frecuentemente no es esfrica sino de cualquier otra forma, a la que de modo general se le
denomina asfrica. Esta superficie asfrica puede ser, por ejemplo, un paraboloide o un hiperboloide de
revolucin, como ocurre en los telescopios astronmicos, donde adems la superficie a tallar puede ser de
varios metros de dimetro. Es fcil comprender lo difcil que resulta tallar una superficie tan grande. Sin
embargo, el problema principal es medir las deformaciones de la superficie respecto a su forma ideal.
Esto se hace mediante la interferometra, con tcnicas muy diversas y complicadas que no es posible
describir aqu. La figura 21 muestra el interferograma del espejo principal o primario de un telescopio. Si
la superficie fuera perfectamente esfrica, las franjas de interferencia seran rectas. La pequea curvatura
de las franjas se debe a que la superficie es ligeramente elipsoidal en lugar de esfrica, aunque la
desviacin es apenas alrededor de media longitud de onda, lo que es aproximadamente tres diezmilsimas
de milmetro.
d) Alineacin de objetos sobre una lnea recta perfecta. Es frecuente que aparezca la necesidad de tener
una lnea recta de referencia muy precisa en una gran cantidad de actividades ingenieriles de tipo muy
diverso. Por ejemplo, la bancada o base de un torno de alta precisin debe ser tanto ms recta cuanto ms
fino sea el torno. En este problema y muchos otros en los que se requiera alinear algo con muy alta
precisin, la interferometra es un auxiliar muy til.
e) Determinacin muy precisa de cambios del ndice de refraccin en materiales transparentes. Los
vidrios pticos, plsticos o cristales que se usan en las lentes, prismas y dems elementos pticos tienen
que ser de una alta homogeneidad tanto en su transparencia como en su ndice de refraccin. Esto es
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especialmente necesario si el instrumento ptico que los usa es de alta precisin. Esta homogeneidad de
los materiales transparentes se mide con la tolerancia que sea necesaria por medio de interferometra.
f) Determinacin muy precisa de velocidades o de variaciones en su magnitud. Cuando una fuente
luminosa se mueve respecto al observador, es bien sabido que la longitud de onda de la luz tiene un
cambio aparente, alargndose o acortndose, segn que el objeto luminoso se aleje del observador o se
acerque a l, respectivamente. Este es el llamado efecto Doppler, que se descubri primero para las ondas
sonoras y posteriormente para la luz. Por medio de interferometra se pueden detectar y medir variaciones
sumamente pequeas en la longitud de onda, lo que permite detectar movimientos o cambios tambin
muy pequeos en la velocidad de un objeto. Esta propiedad se ha usado en muy diversas aplicaciones,
entre otras, la medida de la velocidad del flujo de lquidos o de gases.
g) Medicin de ngulos. Los ngulos, al igual que las distancias, tambin se pueden medir con muy alta
precisin por medio de tcnicas interferomtricas. Por ejemplo, el paralelismo entre las dos caras de una
placa de vidrio de caras planas y paralelas, o el ngulo recto entre las dos caras de un prisma se pueden
medir con una incertidumbre mucho menor de un segundo de arco, lo que es totalmente imposible de
lograr por otros mtodos.
La lista podra continuarse, pero con estos ejemplos es suficiente para darnos cuenta de la enorme utilidad
de la interferometra, o sea del uso de las ondas de luz como unidad de medida.

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