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TEST UNIVERSE

PQ Signal Generator

OMICRON Test Universe

Nmero de artculo VESD4007 - Versin del manual: PQSigGen.SP.4


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Contenido

Contenido
PQ Signal Generator . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .5
Acerca de los estados de prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .6
1

Pruebas de medidores de calidad de la potencia con una unidad


de prueba CMC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .8
1.1 Situacin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .8
1.2 Normas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .9
1.3 Caractersticas de la calidad de la potencia (calidad de la tensin) . . . . .9
1.3.1 Frecuencia de alimentacin (IEC 61000-4-30; 5.1) . . . . . . . . . . .9
1.3.2 Magnitud de tensin (IEC 61000-4-30; 5.2) . . . . . . . . . . . . . . . .10
1.3.3 Parpadeo (IEC 61000-4-30; 5.3 IEC 61000-4-15) . . . . . . . . .10
1.3.4 Bajadas y subidas de tensin (IEC 61000-4-30; 5.4) . . . . . . . . .11
1.3.5 Interrupcin de tensin (IEC 61000-4-30; 5.5) . . . . . . . . . . . . . .11
1.3.6 Transitorios de tensin (IEC 61000-4-30; 5.6) . . . . . . . . . . . . . .11
1.3.7 Desequilibrio de la tensin (IEC 61000-4-30; 5.7) . . . . . . . . . . .12
1.3.8 Armnicos de tensin
(IEC 61000-4-30; 5.9 IEC 61000-4-7) . . . . . . . . . . . . . . . . . .12
1.3.9 Interarmnicos de tensin
(IEC 61000-4-30; 5.9 IEC 61000-4-7) . . . . . . . . . . . . . . . . . .12
1.3.10 Seales de AF de control remoto (IEC 61000-4-30; 5.10) . . . . .13
1.3.11 Cambio rpido de tensin (IEC 61000-4-30; 5.11) . . . . . . . . . . .13
1.3.12 Desviacin positiva o negativa de la tensin
(IEC 61000-4-30; 5.12) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .13
1.4 Pruebas y calibracin de medidores de calidad de la potencia
con una sola fuente de seal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .14
1.5 El mdulo de prueba Generador de seales PQ. . . . . . . . . . . . . . . . . . .19
1.5.1 Prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .20
1.5.2 Vista Detalle de los tipos de estado individuales . . . . . . . . . . . .21

OMICRON Test Universe

Pruebas del Dranetz BMI POWER XPLORER . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .29


2.1 Definicin de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .31
2.2 Prueba de frecuencia de alimentacin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .32
2.3 Bajada de tensin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .33
2.4 Cortes de tensin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .34
2.5 Elevacin de tensin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .35
2.6 Parpadeo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .36
2.7 Armnicos de tensin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .37
2.8 Evaluacin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .38
Informacin de contacto / asistencia tcnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .39
ndice. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .41

PQ Signal Generator

PQ Signal Generator
El mdulo de prueba PQ Signal Generator (Generador de seales PQ) permite
generar seales para simular fenmenos de calidad de la potencia mediante
una unidad de prueba CMC. Ofrece todas las funciones necesarias para probar
medidores de calidad de la potencia (Power Quality - PQ) segn la norma DIEC
61000.
A tal efecto, el mdulo de prueba permite definir pruebas complejas
(simulaciones), que consisten habitualmente en una secuencia de estados de
prueba individuales. Cada estado de prueba representa la salida de una
determinada seal durante un tiempo establecido, para simular un determinado
fenmeno de calidad de la potencia. Tambin es posible ejecutar
consecutivamente diversos estados de prueba individuales o grupos de estados
de prueba dentro de una secuencia o una prueba.
El mdulo de prueba PQ Signal Generator dispone de los siguientes tipos de
seal predefinidos (fenmenos de calidad de la potencia segn IEC 61000):

Frecuencia de alimentacin

Magnitud de tensin

Parpadeo

Bajadas y subidas de tensin

Interrupciones de tensin

Cortes de tensin

Desequilibrio de la tensin

Armnicos de tensin

Interarmnicos de tensin

Cambio rpido de tensin

La evaluacin de la reaccin del equipo en prueba a la seal aplicada (p. ej., si


el equipo en prueba es capaz de detectar o no estos fenmenos especficos
simulados por esta seal) se puede hacer manualmente o, si el equipo en
prueba suministra la correspondiente salida binaria, automticamente. Los
resultados de la prueba se registran automticamente en el informe de la
prueba.

OMICRON Test Universe

Acerca de los estados de prueba


El PQ Signal Generator puede controlar todas las salidas de tensin indicadas
en la Configuracin del hardware, por ejemplo, VL1-E, VL2-E y VL3-E de la
unidad de prueba CMC1.
En cada estado de prueba, el usuario puede especificar individualmente a qu
canal(es) de salida de tensin desea aplicar la seal definida. En los dems
canales a los que no afecta el estado de prueba, en este momento se emiten
los valores nominales.
Normalmente un estado de prueba consta de:

un tiempo pre-incidente

el tiempo incidente y, si corresponde, los tiempos de rampa, y

un tiempo post-incidente.

Durante el tiempo pre-incidente, se emiten valores nominales. Posteriormente,


transcurrido el tiempo pre-incidente, la magnitud en cuestin (p. ej., la
frecuencia en el caso del tipo "frecuencia de alimentacin") se cambia del valor
nominal al valor especificado para la prueba (= "valor incidente"; el tiempo
necesario para cambiar el valor es el "tiempo de rampa") y luego se mantiene
en este valor durante el "tiempo incidente" establecido.
Una vez que termina el tiempo incidente, la magnitud cambia otra vez y vuelve
a su valor nominal, y comienza el tiempo post-incidente. Durante el tiempo postincidente, se emiten otra vez los valores nominales. En la figura que sigue se
ofrece un diagrama de muestra de un estado de prueba:
Magnitud, por ejemplo,
frecuencia o tensin

Tiempopre-incidente

Tiempo post-incidente

Valor nominal

Tiempo
Valor incidente
Tiempo de
rampa

Tiempo de
rampa
Tiempo

1. En este manual se utilizan como nombres de fase L1, L2, L3, y N para el neutro.
Dependiendo de los ajustes realizados en Ajustes del sistema (consulte Start Page de Test
Universe) dichos nombres de fase pueden variar (por ejemplo, A-B-C, R-S-T o designaciones
personalizadas).

PQ Signal Generator

Nota:

El tiempo mximo posible para un estado de prueba es 9999 segundos. El


tiempo mnimo posible es 100 s.

La salida de tensin de un estado de prueba siempre empieza por el paso


por cero de la primera fase afectada.

Entre la salida de dos estados de prueba, existe un breve perodo indefinido


durante el cual se emiten las tensiones nominales. La unidad de prueba
precisa este tiempo para preparar la salida del siguiente estado.

OMICRON Test Universe

1 Pruebas de medidores de calidad de


la potencia con una unidad de
prueba CMC
1.1 Situacin
Los sistemas elctricos cada vez se utilizan ms al lmite de su capacidad, lo
que provoca un aumento de cargas no lineales que inciden negativamente en
la calidad de la tensin de alimentacin. La consecuencia es que los sistemas
elctricos europeos sufren ms cortes en las lneas y de mayor duracin. El
aumento del nivel de interferencias de los sistemas elctricos, combinado con
la mayor sensibilidad de los sistemas elctricos de los consumidores a las
interferencias, puede convertir la calidad de la tensin en una cuestin
importante para los servicios pblicos y los consumidores. Por este motivo, el
European Regulators' Group for Electricity and Gas (ERGEG) ha elaborado un
documento que contiene propuestas para CENELEC relativas a la norma EN
50160 sobre calidad de la potencia (PQ). En este documento se seala la
creciente demanda de evaluacin de la calidad de la potencia por medio de
equipos de medicin adecuados.
Otro aspecto que se menciona muy pocas veces en este debate son las
pruebas de referencia de los dispositivos de calidad de la potencia. La
verificacin del cmputo de energa (cantidad de energa) est garantizada por
procedimientos establecidos en diversas especificaciones de calibracin. Sin
embargo, actualmente no hay normas vinculantes relativas a mediciones que
permitan disponer de resultados fiables en lo tocante a la calidad del suministro
energtico. Con todo, existe una creciente demanda de verificacin de la
capacidad y fiabilidad de los medidores de calidad de la potencia a la hora de
detectar armnicos, fenmenos de parpadeo, desequilibrios de tensin y cadas
de tensin. Los consumidores exigen a sus proveedores una medicin exacta
tanto de la cantidad como de la calidad de la energa que suministran. En este
artculo se presenta un mtodo rpido y sencillo de probar dispositivos de
supervisin de la calidad de la potencia por medio de una unidad de prueba
OMICRON CMC 256 con el nuevo mdulo de software PQ Signal Generator.

PQ Signal Generator

1.2 Normas
Al considerar la calidad de la potencia, primeramente se aplican las normas IEC
61000-4-30 (2003) y EN 50160 (1994).
La norma IEC 61000-4-30 define los mtodos de medicin y la interpretacin de
resultados correspondientes a parmetros de calidad de la potencia en
sistemas de suministro elctrico de 50/60 Hz. Esto comprende tensin y
corriente, aunque se hace hincapi en la tensin; las mediciones de corriente
complementarias se consideran tiles, especialmente para averiguar las
causas de las perturbaciones de la red. En la norma se especifican las
funciones de los dispositivos de medicin, si bien no se indican las conexiones
necesarias. Se describen los mtodos de medicin, pero no se definen valores
lmite.
La norma IEC 61000-4-30 forma parte de una norma de compatibilidad
electromagntica (EMC) y describe dos clases de dispositivos. La clase A se
debe utilizar si se requiere una medicin exacta, p. ej. en aplicaciones que
guardan relacin con contratos, certificaciones de conformidad normativa en
caso de litigio, etc. Los dispositivos de la clase B se pueden utilizar, por ejemplo,
para investigaciones estadsticas, resolucin de problemas y otras aplicaciones
que no requieren una precisin extrema.
La norma EN 50160 describe las caractersticas de la tensin de alimentacin
de los sistemas elctricos pblicos. La EN 50160 no es una norma de
compatibilidad electromagntica, pero describe la calidad de la tensin que se
espera en Europa.

1.3 Caractersticas de la calidad de la potencia


(calidad de la tensin)
1.3.1

Frecuencia de alimentacin (IEC 61000-4-30; 5.1)


Los medidores de calidad de la potencia deben indicar la frecuencia cada
10 segundos. La frecuencia se determina dividiendo el nmero de ciclos
enteros por la duracin acumulada de estos ciclos. El nmero de ciclos y la
duracin de los ciclos se determinan a partir de los pasos por cero.
Ejemplo: 499 ciclos completos dentro de un perodo de tiempo de
499 cycles
9,996 segundos dan como resultado una frecuencia de -------------------------= 49.92Hz
9.996s

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1.3.2

Magnitud de tensin (IEC 61000-4-30; 5.2)


Este parmetro se determina midiendo el valor eficaz real (trms - true root mean
square; comprende armnicos, componentes de CC, etc.) durante un perodo
de 10 ciclos (50 Hz) o 12 ciclos (60 Hz).

1.3.3

Parpadeo (IEC 61000-4-30; 5.3 IEC 61000-4-15)


Las variaciones peridicas de tensin que se producen con una frecuencia
comprendida entre 0,005 Hz y 35 Hz provocan cambios en el brillo de los
equipos de iluminacin que, segn su intensidad y alcance, pueden influir en la
percepcin subjetiva del bienestar y por tanto influir indirectamente en la salud
y en la capacidad del ser humano. El valor instantneo del parpadeo se
representa mediante la "unidad de perceptibilidad" P. La media ponderada de
este valor a lo largo de distintos perodos de tiempo da lugar al tpico valor de
perceptibilidad Pst (perceptiblidad a corto plazo) de 10 minutos. El valor Pst 1
es el umbral de percepcin. El valor de percepcin a largo plazo Plt
(normalmente 2 horas) consiste en la media ponderada de 12 valores Pst.

Figura 1-1:
Modulacin sinusoidal
con 8,8 Hz y
V/V = 0%

Figura 1-2:
Modulacin rectangular
con 2 Hz y
V/V = 10%

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PQ Signal Generator

1.3.4

Bajadas y subidas de tensin (IEC 61000-4-30; 5.4)


Una bajada de tensin se caracteriza por medio de dos parmetros: un
subimpulso de un determinado valor lmite (normalmente entre el 70 y el 90 %
del valor nominal) y la duracin de este subimpulso. La bajada de tensin
termina en cuanto el valor de tensin se vuelve a situar por encima del valor
lmite ms la histresis (habitualmente 2 % del valor nominal). Esto tambin
rige, como corresponde, para las subidas de tensin.

1.3.5

Interrupcin de tensin (IEC 61000-4-30; 5.5)


La interrupcin de tensin se caracteriza por medio de dos parmetros: un
subimpulso de un determinado valor lmite (p. ej. el 5 % del valor nominal) y la
duracin de este subimpulso. El evento de interrupcin de tensin termina en
cuanto el valor de tensin se sita por encima del valor lmite ms la histresis
(habitualmente 2 % del valor nominal).

1.3.6

Transitorios de tensin (IEC 61000-4-30; 5.6)


Esto corresponde a transitorios (cortes) de tensin en sistemas de baja tensin.
Los transitorios de corriente tambin revisten inters, ya que frecuentemente
son la causa de variaciones transitorias de la tensin. Comparada con la
duracin de los ciclos, la duracin de los procesos transitorios es pequea o
muy pequea. Definir formas de seal concretas en funcin de la norma es
difcil, pero los transitorios de tensin se pueden caracterizar por lo siguiente:
frecuencias hasta de 10 MHz con magnitudes pequeas y duraciones hasta de
200 s, o hasta de 1 MHz con magnitudes ms grandes y duraciones hasta de
2 ms. Los picos de tensin y corriente pueden llegar a 6 kV o 5 kA. Los
transitorios tpicos son pequeos cortes peridicos con una duracin de 1 - 2
ms, provocados por circuitos de tiristor.

Figura 1-3:
Tensiones transitorias
peridicas (cortes)

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1.3.7

Desequilibrio de la tensin (IEC 61000-4-30; 5.7)


En un caso de desequilibrio de la tensin, adems de la secuencia positiva se
da una componente de secuencia negativa y/o una componente homopolar. El
desequilibrio de la tensin se define como la relacin porcentual entre
secuencia negativa y secuencia positiva o entre homopolar y secuencia
positiva.

1.3.8

Armnicos de tensin (IEC 61000-4-30;


5.9 IEC 61000-4-7)
La norma hace referencia a dispositivos para medir componentes espectrales
hasta de 9 kHz, pero exige explcitamente un rango que llegue hasta el
armnico n 50. Los armnicos son enteros mltiplos de la frecuencia
fundamental.

Figura 1-4:
5 armnico al 10 %
superpuesto a una onda
sinusoidal de 50 Hz

1.3.9

Interarmnicos de tensin (IEC 61000-4-30;


5.9 IEC 61000-4-7)
Los interarmnicos son componentes espectrales de una frecuencia
comprendidos entre dos armnicos consecutivos. La distancia de 5 Hz de las
lneas espectrales destinada a anlisis y representacin de interarmnicos es el
valor inverso de la duracin de 200 ms que se utiliza en los intervalos de tiempo
de la transformada rpida de Fourier (Fast-Fourier Transform - FFT).

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PQ Signal Generator

1.3.10

Seales de AF de control remoto (IEC 61000-4-30;


5.10)
Aqu, una portadora de audiofrecuencia se superpone a la onda sinusoidal de
50/60 Hz (un interarmnico de, p. ej., 316,67 Hz). En contraste con la funcin
interarmnicos, el medidor de calidad de la potencia no debera escanear todo
el espectro en busca de interarmnicos, sino buscar especficamente la seal
de una audiofrecuencia conocida y determinar su magnitud.

Figura 1-5:
473,75 Hz al 7 %
superpuestos a una
onda sinusoidal de
50 Hz

1.3.11

Cambio rpido de tensin (IEC 61000-4-30; 5.11)


Un cambio rpido de tensin es una transicin rpida del valor eficaz (rms) de
un nivel estacionario de tensin a otro. Se tienen que definir umbrales
adecuados: ndice mnimo de cambio, duracin mnima de estado estacionario,
diferencia mnima entre los dos estados estacionarios y constancia de los
estados estacionarios. Los umbrales de los valores eficaces siempre estn
dentro de los lmites de una bajada o subida de la tensin.

1.3.12

Desviacin positiva o negativa de la tensin


(IEC 61000-4-30; 5.12)
En Europa se presta muy poca atencin a este criterio. Define desviaciones
positivas o negativas de la tensin de la red con respecto a los valores
nominales definidos. Una desviacin principalmente positiva de la tensin de la
red puede influir en la duracin de los componentes operativos y provocar un
elevado e indeseable consumo energtico.

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1.4 Pruebas y calibracin de medidores de


calidad de la potencia con una sola fuente de
seal

Utilizar una fuente de seal suficientemente precisa, por ejemplo una unidad de
prueba CMC 256, es la nica manera factible de probar las funciones de
medicin de un medidor de calidad de la potencia. Una sencilla verificacin de
las funciones, en aras de una comprobacin de plausibilidad, no impone
grandes exigencias en relacin con la exactitud de la fuente de seal. Sin
embargo, a efectos de calibracin, el equipo de prueba tiene que aportar una
exactitud cinco veces superior. En la tabla que sigue se muestra una
comparativa entre los requisitos de exactitud que establece la IEC 61000 y las
especificaciones de la unidad de prueba CMC 256plus. Se hace referencia a los
medidores de calidad de la potencia de la clase A.
Tenga en cuenta lo siguiente:
Aparte de la CMC 256plus, el mdulo de prueba PQ Signal Generator admite
tambin las unidades de prueba CMC 256 EP, CMC 156 y CMC 56. Sin
embargo, con CMC 156 y CMC 56, el rango de frecuencia tiene como lmite
1000 Hz. Esto rige tambin para las unidades de prueba CMC 256 desprovistas
de la "PQ 3 kHz calibration". Para evitar esta limitacin, las unidades de prueba
CMC 256 se pueden actualizar. Si precisa ms informacin, pngase en
contacto con OMICRON. Encontrar los datos de contacto en la
seccin Informacin de contacto / asistencia tcnica en la pgina 39.
Al comparar la exactitud que se requiere para la "magnitud de tensin" con los
valores garantizados de una CMC 256plus resulta una relacin 2:1. La
comparacin con los valores habituales de la CMC da como resultado una
relacin 5:1. Se debe prestar atencin al hecho de que, en la prctica, las
unidades de prueba CMC 256plus recin calibradas ofrecen una exactitud muy
superior al error mnimo garantizado del 0,05 %, especialmente con tensiones
elevadas (100 V, 230 V). Tras la calibracin, el error de medicin normalmente
se enmarca en el rango comprendido entre el 0,002 y el 0,005 %, que es
claramente inferior al 0,01 % (en determinadas condiciones de temperatura).
En ltima instancia, corresponde al usuario evaluar la idoneidad de la
CMC 256plus a efectos de calibracin y, en caso necesario, establecer medidas
adecuadas y aplicarlas a la unidad de prueba, por ejemplo trazabilidad de la
calibracin e intervalos de calibracin ms cortos. La CMC 256plus no es
idnea para la calibracin de canales de medicin de corriente en caso de
armnicos de orden superior, sin medicin comparativa simultnea ni la
correspondiente correccin del valor de ajuste.

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PQ Signal Generator

Tabla 1-1:
Requisitos establecidos
por las normas que
demuestran la
idoneidad de la
CMC 256

Normas correspondientes / especificaciones del


equipo en prueba

Especificaciones de la
fuente de seal

Caracterstica EN 50160

IEC 61000-4-30

CMC 256plus

Frecuencia

Valor med. en un
perodo de 10 s

Rango 10 - 3 kHz

Rango
Sincronizado con la
red de transm.:
49,5 - 50,5 Hz
(99,5 %)
47 - 52 Hz (100 %)

Exactitud
Exactitud 0,01 Hz 1,5 ppm
(10 - 100 Hz)

Idoneidad

No sincronizado:
49 - 51 Hz (95 %)
42,5 - 57,5 Hz
(100 %)
Tensin

Rango
Sistemas de cuatro
hilos 230 VL-N
Sistemas de tres
hilos 230 VL-L

Parpadeo

Rango
Plt 1 durante el
95 % de un perodo
de una semana
12

P lt =

P sti----------12

i=1

Cadas y
subidas de
tensin

N de bajadas por
ao "aprox. entre 10
y 1000". La mayora
de ellas inferiores a
1 s, intensidad de la
bajada < 60 %.

Magnitud medida
Rango
Valor eficaz durante 0 - 300 V
10 ciclos
Exactitud
0,05 %,
Exactitud
0,02 %
0,1 %
normalmente

Rango
Pst = 0 - 20

Exactitud
5 % con Pst = 1
(Pst = intensidad del
parpadeo durante un
perodo de 10
minutos)

Rango
Pst = 0 - 20+
(Pst > 100)
Exactitud
no aplicable

Magnitud medida
Rango
Valor eficaz durante 0 - 300 V
1/2 ciclo
Exactitud
0,05 %,
Exactitud
0,02 %
0,2 %
normalmente

Elevacin: VL-N
puede llegar al valor
de VL-L (hasta
440 V). En sistemas
MS 1,7 2 veces la
tensin de
alimentacin.

15

OMICRON Test Universe

Normas correspondientes / especificaciones del


equipo en prueba

Especificaciones de la
fuente de seal

Caracterstica EN 50160

IEC 61000-4-30

CMC 256plus

Interrupciones
de tensin

Magnitud medida
Rango
Valor eficaz durante 0 300 V
1/2 ciclo
Exactitud
0,05 %,
Exactitud
Duracin < 2 ciclos 0,02 %
normalmente
duracin
< 300 - 500 s

Interrupciones
breves:
aprox. entre 10 y
100 por ao, t < 1 s
en el 70 % de los
casos.
Interrupciones
largas:
< 10 a 50 con una
duracin de
t > 3 minutos

Tensiones
transitorias

Hasta 6 kV y tiempo Hasta 10 MHz y


de elevacin 1 s
6 kV
Exactitud
no declarada

8
9 (corte
cclico)

Desequilibrio de 0 2 % (en casos


la tensin
infrecuentes hasta
3 %) componente de
secuencia negativa
en el 95 % de los
valores medidos de
un perodo de
1 semana

Rango
1 - 5 % U0 o U1 de
Unom

Exactitud
0,05 %,
0,02 %
normalmente
Exactitud
(la exactitud de las
0,15 % para
componentes
sistema de
simtricas se
secuencia negativa y corresponde con la
homopolar con
exactitud del sistema
respecto al sistema natural)
de secuencia
positiva

Armnicos e
interarmnicos
de tensin

Rango
2 - 50 armnico

Contenido mx. de
armnico permitido
segn tabla 1 de EN
50160 (definido
hasta el armnico
25):
Los interarmnicos
de tensin se estn
tratando en este
momento. Para MS,
se aplica la tabla 2 y
lo siguiente:
DAT < 8%, calculada
entre el armnico 2
y 40.

16

Rango
0 3,1 kHz
0 300 V

Idoneidad

Exactitud
Umed 1% Unom
5 % Umed
o
Umed < 1% Unom
0,05 % Unom

Rango
2 - 60 armnico
(50 Hz)
2 - 50 armnico
(60 Hz)
Exactitud
norm. < 1 % hasta el
60 armnico

PQ Signal Generator

Normas correspondientes / especificaciones del


equipo en prueba

Especificaciones de la
fuente de seal

Caracterstica EN 50160

IEC 61000-4-30

CMC 256plus

Armnicos e
interarmnicos
de corriente

Rango
2 - 50 armnico

Seales de AF
de control
remoto

No tratado

Se hace referencia
al rango de
frecuencia
comprendido entre
95 kHz y 148,5 kHz
con tensiones de
seal hasta de 1,4 V.

Rango
2 - 60 armnico
(50 Hz)
Exactitud
Imed 3 % Inom 5% 2 - 50 armnico
(60 Hz)
Imed
Exactitud
o
Depende en gran
Imed < 3 % Inom
medida de la carga.
0,05 % Inom
Inexacto por tanto,
especialmente en el
caso de los
armnicos de orden
superior (sin
correccin de error).

Rango
hasta 3 kHz

Rango
hasta 3 kHz

5 % Unom
normalmente
( 10 % en
determinadas
circunstancias).
Si < 90 % Unom, se
considera una
bajada de la tensin
de alimentacin.

(21 - 50
armnico)

9
(2 - 20
armnico)

Exactitud
Exactitud
7 % del valor med.
< 1 % hasta 3 kHz
valor de umbral mn. normalmente
0,1 % Unom hasta
una duracin del
registro de 120 s

Cambio lento de 10 % Unom (95 % No tratado


tensin
de todos los
perodos de
10 minutos de una
semana)
+ 10 %/- 15 % Unom
(100 % de todos los
perodos de 10
minutos de una
semana)
Cambio rpido
de tensin
(dentro de los
lmites definidos
de una bajada o
elevacin)

Idoneidad

Definicin
Transicin rpida
entre dos estados
estacionarios.
Parmetros
ndice de cambio y
diferencia entre los
dos estados
estacionarios.

Software CMC
La funcin rampa
posibilita un ajuste
muy preciso del
ndice de cambio.

Exactitud (V)
0,05 %,
0,02 %
normalmente

(Corresponde a baja Exactitud


no declarada
tensin, para MS
4 - 6 %)

17

OMICRON Test Universe

Normas correspondientes / especificaciones del


equipo en prueba

Especificaciones de la
fuente de seal

Caracterstica EN 50160

IEC 61000-4-30

CMC 256plus

N de
No tratado
desviaciones de
la tensin
(positivas y
negativas)

Definicin
Nmero de
desviaciones
positivas y negativas
por intervalo.

Software CMC
La estructura
secuencial permite
definir un
comportamiento en
cuestin de tensin
con cualquier
nmero de
desviaciones
positivas o
negativas.

Exactitud
no declarada

Exactitud (V)
0,05 %,
0,02 %
normalmente

18

Idoneidad

PQ Signal Generator

1.5 El mdulo de prueba Generador de


seales PQ
El mdulo de prueba PQ Signal Generator se ofrece como opcin del software
Test Universe a partir de la versin TU 2.20. Al igual que el anterior mdulo de
software State Sequencer, el PQ Signal Generator permite definir secuencias
de prueba. La diferencia es que el PQ Signal Generator permite repetir en lazos
partes individuales de la secuencia de prueba tantas veces como se desee. Si
el equipo en prueba ofrece una salida binaria, el mdulo permite la evaluacin
automtica de los resultados de las pruebas. De no ser as, se puede efectuar
una evaluacin manual. Para la evaluacin manual, se puede hacer una breve
pausa en la prueba mediante estados de Evaluacin especiales. Durante estos
estados de Evaluacin, las tensiones nominales se emiten continuamente hacia
el equipo en prueba. Actualmente el mdulo admite salida trifsica de
tensiones, pero no de corrientes.
El mdulo de prueba PQ Signal Generator proporciona 4 vistas diferentes:
Prueba, Detalle, Oscilografa e Informe.
Nota: los volcados de pantalla que aparecen en este manual muestran un
sistema operativo en ingls. Agradeceremos su comprensin.
Figura 1-6:
Mdulo de prueba
PQ Signal Generator
con sus cuatro vistas:
Prueba, Detalle,
Informe y Oscilografa
(de la parte superior
izquierda a la parte
inferior derecha)

19

OMICRON Test Universe

1.5.1

Prueba
La vista Prueba se usa para combinar los estados de prueba individuales en
una secuencia de prueba. Se dispone de un estado individual para cada
parmetro definido en IEC 61000-4-30. Se pueden combinar varios estados en
grupos que se pueden ejecutar varias veces. La secuencia de prueba se puede
completar por medio de estados de Espera y Evaluacin. Durante los dos
estados, los valores nominales se emiten continuamente hacia el equipo en
prueba. Los estados de Espera se pueden usar, p. ej., para efectuar ajustes en
el medidor de calidad de la potencia o para definir los siguientes pasos de
prueba. Esta es una funcin nica en todo el software Test Universe. Los
estados de Evaluacin se usan para efectuar una evaluacin manual despus
de ejecutar uno o varios estados de prueba. Tambin es posible ejecutar varias
veces toda la secuencia de prueba.

Figura 1-7:
Vista Prueba con una
lista de los diversos
estados de prueba

20

PQ Signal Generator

1.5.2

Vista Detalle de los tipos de estado individuales

Frecuencia: A partir de la frecuencia nominal, el valor de frecuencia se


cambia con un ndice de cambio ajustable y luego se vuelve al valor original.

Magnitud de tensin: La medicin del valor eficaz de la magnitud de tensin


normalmente se efecta durante un perodo de 10 ciclos (200 ms). Se puede
definir una variacin para probar la funcin integrador. El tiempo de salida
siempre es 200 ms o mltiplos de l.

Figura 1-8:
Variacin de frecuencia

Figura 1-9:
Seal de tensin con
magnitud variable

21

OMICRON Test Universe

Parpadeo: El mdulo admite modulacin rectangular y sinusoidal. Los


parmetros a definir son la variacin de tensin (en % de la tensin nominal)
y la frecuencia de parpadeo.
A tal efecto, los valores de las tablas 1 y 2 de IEC 61000-4-15 (indicada cada
una para una unidad de perceptibilidad de la intensidad instantnea del
parpadeo) se pueden transformar fcilmente en valores Pst y Plt, si la
variacin de tensin permanece constante durante el perodo promediado.
Los valores de Pst y Plt se obtienen mediante media ponderada (10 minutos
o 2 horas). Los valores Pst calculados para los correspondientes pares de
valores f/V se indican en la ayuda en lnea del mdulo.
La desviacin se calcula mediante una comparacin con el valor que figura
en el contador de parpadeo. La funcin promedio del valor Plt se puede
probar combinando una columna de 12 valores Pst posteriores (bloques de
10 minutos).
12

P lt =
Figura 1-10:
Parpadeo, modulacin
sinusoidal

22

i=1

P
sti----------12

PQ Signal Generator

Cada y subida de tensin: A partir de la tensin nominal, se simula el


subimpulso y el sobreimpulso de un valor lmite. Se pueden ajustar la
duracin y el ndice de cambio.

Figura 1-11:
Bajada de tensin por
debajo de un umbral de
trigger

Figura 1-12:
Subida de tensin por
encima de un umbral de
trigger

23

OMICRON Test Universe

Interrupcin de tensin: Simula un subimpulso de un valor mnimo utilizando


los mismos parmetros que para una bajada de tensin.

Transitorios de tensin: Por medio de este estado, es posible simular cortes


transitorios de tensin (en la prctica, los provocan las corrientes de
conmutacin). Se puede ajustar la intensidad, duracin y punto de
inicializacin.

Figura 1-13:
Interrupcin de tensin,
subimpulso de un valor
lmite

Figura 1-14:
Cortes de tensin
(transitorios)

24

PQ Signal Generator

Desequilibrio de la tensin: El desequilibrio de la tensin se puede ajustar en


el sistema natural o definiendo las componentes simtricas, bien como
valores absolutos, bien como valores relativos a la componente de
secuencia positiva.

Armnicos de tensin: Se pueden ajustar armnicos entre los rdenes 2 y


50 (a 50 Hz) con valores absolutos o como porcentaje de la tensin nominal
con un desfase con respecto a la fundamental.

Figura 1-15:
Desequilibrio de la
tensin

Figura 1-16:
Armnicos de tensin

25

OMICRON Test Universe

Interarmnicos de tensin (y seales de AF de control remoto): Es posible


emitir valores de hasta 3 kHz.

Cambio rpido de tensin: Se trata de una transicin de un nivel de tensin


estacionario a otro con un determinado ndice de cambio. Ambos valores se
deben enmarcar en la tolerancia preestablecida; de lo contrario, se puede
producir una bajada o subida de la tensin.

Figura 1-17:
Interarmnicos de
tensin

Figura 1-18:
Cambio rpido de
tensin

26

PQ Signal Generator

Estado de espera: Este estado se puede usar para hacer una pausa en la
prueba (por ejemplo, para mostrar una instruccin). Durante este estado se
emite la tensin nominal.

Estado de evaluacin:

Figura 1-19:
Estado de espera con
instruccin en pantalla

Figura 1-20:
Evaluacin de un grupo
de estados de prueba

27

OMICRON Test Universe

Progreso de la prueba: Durante la ejecucin de la secuencia de prueba,


aparece una ventana que ofrece informacin sobre el desarrollo general de
la prueba, el tiempo que queda para la siguiente evaluacin y para el fin de
la prueba.

Oscilografa: La vista Oscilografa muestra la seal analgica resultante


junto con los trazos binarios que podran, si los hubiera, representar un
contacto de alarma.

Figura 1-21:
Ventana que indica el
progreso de la prueba

Figura 1-22:
Vista Oscilografa con
subida de tensin

28

PQ Signal Generator

2 Pruebas del Dranetz BMI POWER


XPLORER
POWER XPlorer es un medidor/registrador de calidad de la potencia con una
pantalla tctil que, aparte de las funciones estndar de medicin, detecta
eventos de calidad de la potencia. En el siguiente ejemplo se usan una unidad
CMC 256 y el mdulo de software PQ Signal Generator para verificar el
correcto funcionamiento del dispositivo.
Figura 2-1:
Dranetz BMI POWER
XPLORER, vista de
estado

POWER XPLORER se configura para registrar los siguientes eventos de


calidad de la potencia:

Frecuencia

Cada

Elevacin

Transitoria

Pst (parpadeo)

DAT de la tensin

Inicialmente, POWER XPLORER presenta todos los campos de estado en


verde para indicar que no se ha detectado ningn evento de calidad de la
potencia. Tenga presente que con el botn Clear de la pantalla tctil se pueden
inicializar todas las alarmas (los campos vuelven a aparecer en verde). Sin
embargo, los contadores de los eventos y los valores indicados no se inicializan.

29

OMICRON Test Universe

Para partir de cero, es necesario conectar el dispositivo a una seal sinusoidal


de tensin ntida y, a continuacin, se inicia una nueva sesin de medicin. Es
importante inyectar previamente seales ntidas; de lo contrario, el medidor de
calidad de la potencia registrara la tensin que falta como si fuera el primer
evento.
Tenga presente que POWER XPLORER indica eventos de calidad de la
potencia con un determinado retardo en funcin del tipo de evento. Por ejemplo,
indicar correctamente el valor Pst de un parpadeo podra llevar 12 - 18 minutos,
ya que (normalmente) el valor Pst va asociado a un tiempo de anlisis de
10 minutos. Dado que se desconoce la hora de inicio de este perodo de anlisis
de 10 minutos del dispositivo de calidad de la potencia, podra ser necesario
inyectar la seal de parpadeo para el doble de este perodo. Antes de que
transcurra todo el perodo de anlisis de 10 minutos, el medidor indicar un
valor de parpadeo incorrecto, ya que se trata de una media estadstica que
incluye elementos de seal inyectados antes del comienzo del estado de
parpadeo.
POWER XPLORER no tiene contacto de salida de rel para alarma, por lo que
la evaluacin de la prueba se tiene que hacer manualmente durante el perodo
del estado de evaluacin, situado al final de la secuencia de prueba.

30

PQ Signal Generator

2.1 Definicin de la prueba


La prueba de este medidor de calidad de la potencia se efectuar en 6 pasos.
El mdulo de prueba PQ Signal Generator ofrece determinados tipos de estado
para cada uno de los eventos de calidad de la potencia que se va a simular.
Para el estado Frecuencia de alimentacin inicial, se ha establecido un tiempo
pre-incidente suficiente para hacer varios ajustes necesarios a la tensin
nominal.
Figura 2-2:
Vista general de
Generador de
seales PQ que incluye
la ventana de progreso
con informacin
detallada

31

OMICRON Test Universe

2.2 Prueba de frecuencia de alimentacin


Unidad de prueba CMC:
La frecuencia descender hasta 49,5 Hz en 5 segundos (tiempo de rampa)
y volver a recuperarse.
POWER XPLORER:
Despus del evento y con un retardo de 1 - 2 minutos, el campo de la
frecuencia parpadear en rojo, indicando que se ha detectado un evento de
frecuencia de alimentacin.
Figura 2-3:
Cada de frecuencia por
debajo de un valor
umbral establecido

32

PQ Signal Generator

2.3 Bajada de tensin


Unidad de prueba CMC:
La tensin descender por debajo del valor umbral 10 veces en 10 segundos
(N de bucles: 10).
POWER XPLORER:
Despus del evento y con un breve retardo se indican 10 cadas y el campo
correspondiente parpadea en rojo.
Figura 2-4:
Bajada de tensin de
200 ms de duracin por
debajo del valor umbral

33

OMICRON Test Universe

2.4 Cortes de tensin


Unidad de prueba CMC:
La tensin tiene dos cadas de tensin por perodo. En total, se ajustan
50 perodos y por tanto se generan 100 bajadas transitorias.
POWER XPLORER:
Despus del evento y con un breve retardo se indican 100 bajadas
transitorias y el campo correspondiente parpadea en rojo. En realidad, el
nmero total de transitorios se puede desviar ligeramente de 100 porque
otros eventos con transiciones bruscas tambin provocan la deteccin de
eventos transitorios.
Figura 2-5:
Dos distorsiones
transitorias de tensin
por perodo

34

PQ Signal Generator

2.5 Elevacin de tensin


Unidad de prueba CMC:
La tensin ascender por encima del valor umbral 10 veces en 10 segundos
(N de bucles: 10).
POWER XPLORER:
Despus del evento y con un breve retardo se indican 10 elevaciones y el
campo correspondiente parpadea en rojo.
Figura 2-6:
Elevacin de tensin
de 200 ms de duracin
por encima del valor
umbral

35

OMICRON Test Universe

2.6 Parpadeo
Unidad de prueba CMC:
La variacin de tensin de 2,3 V (1 %) y la frecuencia de parpadeo de 8,8 Hz
establecidas dan como resultado un valor Pst calculado (terico) de 2,855.
La ayuda en lnea incluye una tabla con valores Pst tericos
correspondientes a frecuencias comprendidas entre 1 Hz y 25 Hz y
variaciones de tensin correspondientes a modulacin sinusoidal y
rectangular.
POWER XPLORER:
El tiempo de evaluacin Pst del dispositivo se
ajusta en 1 minuto para acelerar el
procedimiento de verificacin. Normalmente,
el Pst hace referencia a 10 minutos, de modo
que, si se establecen 10 minutos, al
dispositivo le pueda llevar aproximadamente
de 15 a 18 minutos de inyeccin continua
indicar el valor Pst correcto. Antes de que se indique el valor correcto, el
dispositivo calcula un valor medio estadstico que consta de partes de la
seal antes y despus de la inyeccin de la seal de parpadeo.
Normalmente este valor se desva muchsimo del previsto. Los campos de
visualizacin en cuestin cambian a color amarillo, indicando que el
parpadeo medido sobrepasa moderadamente los lmites del umbral.
Figura 2-7:
Parpadeo con variacin
de tensin del 1 % y
frecuencia de
modulacin de 8,8 Hz

36

PQ Signal Generator

2.7 Armnicos de tensin


Unidad de prueba CMC:
La tensin incluye 10 % del 11 armnico que, a falta de otro componente
armnico, es igual a la DAT (Distorsin Armnica Total) de la tensin. La
onda distorsionada se aplica durante 1 minuto.
POWER XPLORER:
Indica la DAT a los pocos segundos y, despus del retardo, el campo
correspondiente parpadea en rojo.
Figura 2-8:
10 % del 11 armnico
de tensin

37

OMICRON Test Universe

2.8 Evaluacin
El estado de evaluacin permite la evaluacin manual de las pruebas realizadas
al final de la secuencia de prueba (recuerde que el dispositivo carece de
contacto de salida de rel; de no ser as, tambin sera posible la evaluacin
automtica). Aqu la evaluacin se hace de todo el bloque de pruebas. Si
hubiera que hacer evaluaciones individuales, sera necesario insertar un estado
de evaluacin despus de cada estado de prueba. Adems, el usuario puede
aadir un comentario que se puede incluir en el informe de la prueba.
Figura 2-9:
Evaluacin manual en
el estado de evaluacin

38

Informacin de contacto / asistencia tcnica

Informacin de contacto / asistencia


tcnica
Europa, frica, Oriente Medio
OMICRON electronics GmbH
Telfono:

+43 5523 507-333

Correo electrnico:

support@omicron.at

Sitio Web:

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Asia, Pacfico
OMICRON electronics Asia Ltd, Hong-Kong
Telfono:

+852 2634 0377

Correo electrnico:

support@asia.omicron.at

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39

OMICRON Test Universe

40

ndice

ndice
A
armnicos de tensin . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
fenmenos de calidad de la potencia . . . . 5
asistencia tcnica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39

B
bajadas y subidas de tensin . . . . . . . . . . . . 11
fenmenos de calidad de la potencia . . . . 5

C
calibracin
medidores de calidad de la potencia . . . . 14
cambio rpido de tensin . . . . . . . . . . . . . . . 13
fenmenos de calidad de la potencia . . . . 5
caractersticas de la calidad de la potencia . . 9
CMC
unidades de prueba admitidas . . . . . . . . . 14
Configuracin del hardware . . . . . . . . . . . . . . 6
Copyright de este manual . . . . . . . . . . . . . . . . 2
correo electrnico
direccin de OMICRON . . . . . . . . . . . . . . 39
cortes de tensin
fenmenos de calidad de la potencia . . . . 5

D
DAT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16, 29
desequilibrio de la tensin . . . . . . . . . . . . . . 12
fenmenos de calidad de la potencia . . . . 5
desviacin positiva o negativa de la tensin . 13
direccin
direccin de OMICRON . . . . . . . . . . . . . . 39

E
Estado de espera . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
evaluacin de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . 5

F
fenmenos de calidad de la potencia . . . . . . . 5
frecuencia de alimentacin . . . . . . . . . . . . . . 9
fenmenos de calidad de la potencia . . . . 5

I
IEC 61000
norma para probar medidores de calidad
de la potencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
informacin de contacto
direccin de OMICRON . . . . . . . . . . . . . 39
informe de prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
interarmnicos de tensin . . . . . . . . . . . . . . 12
fenmenos de calidad de la potencia . . . . 5
interrupciones de tensin . . . . . . . . . . . . . . . 11
fenmenos de calidad de la potencia . . . . 5

L
lnea directa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39

M
magnitud de tensin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
fenmenos de calidad de la potencia . . . . 5
medidores de calidad de la potencia de
clase A
como referencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
mdulo de prueba PQ Signal Generator . . . 14

41

OMICRON Test Universe

N
nombres de la fase . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
Norma EN 50160 (1994) . . . . . . . . . . . . . . . . . 9

P
parpadeo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
prueba, evaluacin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
Pst (parpadeo) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29

S
seales de AF de control remoto . . . . . . . . . 13

T
Test Universe
mdulo de prueba PQ Signal Generator . 14
tiempo incidente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
tiempo post-incidente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
tiempo pre-incidente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
traducciones de este manual . . . . . . . . . . . . . 2
transitorios de tensin . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11

U
unidad de prueba
unidades de prueba admitidas . . . . . . . . . 14
unidades de prueba admitidas . . . . . . . . . . . 14

42