Está en la página 1de 216

Advanced Protection

Manual del usuario

OMICRON Test Universe

Nmero de artculo VESD4003 - Versin del manual: APROT.AE.9


OMICRON electronics 2007. Reservados todos los derechos.
Este manual es una publicacin de OMICRON electronics GmbH.
Reservados todos los derechos incluidos los de traduccin. Para la reproduccin de todo tipo, por
ejemplo, fotocopia, microfilmacin o almacenamiento en sistemas informticos, es necesario el
consentimiento explcito de OMICRON electronics. No est permitida la reimpresin total o parcial.
Este manual representa el estado tcnico existente en el momento de su redaccin. La informacin
acerca del producto, las especificaciones y todos los datos tcnicos contenidos en este manual no son
vinculantes a nivel contractual. OMICRON electronics se reserva el derecho de realizar cambios en
todo momento en la tecnologa y/o en la configuracin sin previo aviso.
Hemos hecho todo lo posible para que la informacin que figura en esta publicacin sea a la vez til y
exacta. No obstante, tenga en cuenta de que esta publicacin puede contener errores, y que ni sus
autores ni OMICRON electronics asumen ulteriores responsabilidades por las afirmaciones y
declaraciones formuladas en este manual ni por el uso que se pueda hacer de las mismas. El usuario
es responsable de cada aplicacin descrita en este manual y de sus resultados. OMICRON se exonera
explcitamente de toda responsabilidad ante errores en este manual.
OMICRON electronics traduce este manual de su idioma original ingls a otros idiomas. Cada
traduccin de este manual se realiza de acuerdo con los requisitos locales, y en el caso de
discrepancia entre la versin inglesa y versiones no inglesas, prevalecer la versin inglesa del
manual.

Contenido

Contenido
1

Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .9
1.1 Prlogo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .10
1.2 Objetivo del mdulo Advanced Protection. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .11

Advanced TransPlay . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .13


2.1 Vistas del mdulo de prueba Advanced TransPlay. . . . . . . . . . . . . . . . .14
2.1.1 Detalle. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .15
2.1.2 Oscilografa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .17
2.1.3 Vista Medidas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .19
2.1.4 Informe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .20
2.2 Ejemplo: Rel de distancia con una reproduccin de transitorios. . . . . .21
2.2.1 Cableado entre el rel de proteccin y la unidad CMC . . . . . . .22
2.2.2 Inicio de Advanced TransPlay desde el OCC. . . . . . . . . . . . . . .22
2.2.3 Configuracin del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .22
2.2.4 Configuracin del hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .23
2.2.5 Definicin de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .23
2.2.6 Ejecucin de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .27
2.2.7 Definicin del formato del informe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .27

Advanced Distance . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .29


3.1 Caractersticas del mdulo Advanced Distance . . . . . . . . . . . . . . . . . . .29
3.1.1 Modos de prueba de Disparo, Bsqueda y Verificacin. . . . . . .30
3.1.2 Definiciones de prueba relativas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .33
3.1.3 Modelo de impedancia de fuente constante . . . . . . . . . . . . . . . .33
3.1.4 Corriente de carga . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .33
3.1.5 Prueba de mltiples bucles de falta en un nico mdulo
de prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .33
3.1.6 Interfaz de usuario . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .34

OMICRON Test Universe

3.2 Ejemplo de uso de Advanced Distance:


Prueba de alcances y tiempos de disparo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .35
3.2.1 Cableado entre el rel de proteccin y la unidad CMC . . . . . . .37
3.2.2 Inicio de Advanced Distance desde el OCC. . . . . . . . . . . . . . . .37
3.2.3 Configuracin del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .38
3.2.4 Configuracin del hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .44
3.2.5
3.2.6
3.2.7
3.2.8

Definicin de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .45


Ejecucin de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .52
Definicin del formato del informe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .52
Ver | Opciones . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .53

3.3 Ejemplo de uso de CB Configuration con el mdulo Advanced


Distance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .57
3.3.1 Cableado entre el rel y la unidad CMC. . . . . . . . . . . . . . . . . . .58
3.3.2 Inicio del OMICRON Control Center. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .58
3.3.3 Configuracin del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .58
3.3.4 Configuracin del hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .58
3.3.5 Insercin del mdulo CB Configuration . . . . . . . . . . . . . . . . . . .59
3.3.6 Insercin del mdulo Advanced Distance. . . . . . . . . . . . . . . . . .61
3.3.7 Visualizacin de los resultados. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .62
4

Advanced Differential . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .63


4.1 Descripcin general. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .64
4.1.1 El mdulo Diff Configuration . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .65
4.1.2 El mdulo Diff Operating Characteristic . . . . . . . . . . . . . . . . . . .65
4.1.3 El mdulo Diff Trip Time . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .66
4.1.4 El mdulo Diff Harmonic Restraint . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .66
4.2 Ejemplo de uso de Advanced Differential . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .67
4.2.1 Qu se debe probar? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .68
4.2.2 Cableado entre el rel y la unidad CMC/CMA . . . . . . . . . . . . . .70
4.2.3 Inicio de Diff Harmonic Restraint desde el OCC. . . . . . . . . . . . .71
4.2.4 Configuracin del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .71

Contenido

4.2.5
4.2.6
4.2.7
4.2.8
4.2.9
5

Configuracin del hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .85


Prueba de la configuracin del rel o del sistema de proteccin85
Prueba de la caracterstica de operacin . . . . . . . . . . . . . . . . . .90
Prueba de la caracterstica del tiempo de disparo . . . . . . . . . .106
Prueba del frenado por armnicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .110

Synchronizer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .119
5.1 Aplicacin: Conexin de un generador a la cuadrcula . . . . . . . . . . . . .120
5.2 Ejemplo:
Rel de sincronizacin digital ELIN SYN3000120
5.2.1 Emulacin con unidad de prueba CMC . . . . . . . . . . . . . . . . . .122
5.2.2 Inicio de Synchronizer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .123
5.2.3 Configuracin del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .123
5.2.4 Configuracin del hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .126
5.2.5 Verificacin del cableado entre el rel y la unidad CMC . . . . .128
5.2.6 Definicin de los ajustes de tiempo de Synchronizer . . . . . . . .128
5.2.7 La prueba de funcin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .130
5.2.8 La prueba de ajuste . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .137
5.2.9 Creacin de un documento de prueba OCC . . . . . . . . . . . . . .143

Annunciation Checker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .145


6.1 Ejemplo: Annunciation Checker con un rel de proteccin de
distancia digital 7SA631 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .150
6.1.1 Objetivo de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .150
6.1.2 Preparacin de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .151
6.1.3 Definicin del equipo en prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .152
6.1.4 Especificacin de la configuracin del hardware . . . . . . . . . . .158
6.1.5 Definicin de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .158
6.1.6 Ejecucin de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .167
6.1.7 mbito funcional . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .170

OMICRON Test Universe

Transient Ground Fault . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .177


7.1 Ejemplo: Rel de faltas a tierra . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .177
7.1.1 Emulacin con unidad de prueba CMC . . . . . . . . . . . . . . . . . .179
7.1.2 Inicio de Transient Ground Fault . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .179
7.1.3 Configuracin del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .180
7.1.4 Configuracin del hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .180
7.1.5 Verificacin del cableado entre el rel y la unidad CMC . . . . .181
7.1.6 Definicin de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .182
7.1.7 Ejecucin de la prueba y visualizacin de la oscilografa. . . . .186
7.1.8 Definicin de los ajustes de medida . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .187
7.1.9 Definicin del informe de la prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .188

VI-Starting. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .189
8.1 Acerca de la Caracterstica VI . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .190
8.2 Mtodo de prueba de VI Starting. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .190
8.3 Ejemplo: Uso de VI Starting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .192
8.3.1 Configuracin del equipo en prueba. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .192
8.3.2 Preparacin del hardware. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .194
8.3.3 Pruebas automticas de la caracterstica. . . . . . . . . . . . . . . . .194
8.3.4 Una Prueba de bsqueda. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .196

Pruebas monofsicas y salida de magnitudes de falta . . . . . . . . . . . . . .197


9.1 Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .197
9.2 Rels electromecnicos y el Modelo de faltas monofsicas . . . . . . . . .197
9.3 Salida de las magnitudes de falta para pruebas de proteccin de
distancia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .198
9.4 Ajustes de la configuracin del hardware para el uso del Modelo
de faltas monofsicas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .201
9.5 Salida de las magnitudes de falta para pruebas de Proteccin
de sobrecorriente. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .203

9.6 Fuente de corriente monofsica y fuente de tensin trifsica . . . . . . . .204


9.7 Fuente de corriente monofsica y fuente de tensin monofsica . . . . .205

Extensiones de nombres de archivo en OMICRON Test Universe . . . . .207


Centros de informacin / Lnea directa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .211
ndice. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .213

OMICRON Test Universe

Introduccin

1 Introduccin
El manual OMICRON Test Universe Advanced Protection es un manual que
se aade al manual OMICRON Test Universe Protection. Describe todos los
componentes del grupo de programas denominado Advanced Protection
Package que no estaba an documentados por el manual Protection Package.
Incluye informacin general acerca de los mdulos de prueba adicionales, as
como uno o varios ejemplos especficos de prueba donde se utilizan estos
mdulos.

Objetivo total
del mdulo
Advanced
Protection

+
Protection
P

Advanced Protection
G

TEST UNIVERSE
Versin 2.2

Manual
Protection

TEST UNIVERSE
Versin 2.2

Manual
Advanced Protection

Junto con el programa Protection Package , el grupo de programas Advanced


Protection Package proporciona un rango completo de funcionalidad para
definir y realizar pruebas exhaustivas de cualquier rel de proteccin de
acuerdo con las indicaciones del fabricante o los ajustes y uso actuales del rel.
Adems, proporciona mdulos de prueba ms avanzados para probar rels de
proteccin ms complejos y difciles.
En los sistemas de ayuda en lnea especficos de cada mdulo se encuentra
informacin detallada acerca de los mdulos de prueba. Se le invita a usar esta
referencia primero, siempre que tenga una pregunta o necesite una explicacin
adicional acerca de un tema especfico. Para iniciar la ayuda en lnea, haga clic
en el comando T E M A S D E A Y U D A . . . del men desplegable A Y U D A del
mdulo de prueba o herramienta en cuestin.
Si sta no satisface sus necesidades, envenos su(s) pregunta(s) por fax o
correo electrnico o pngase en contacto con nosotros directamente por
telfono (consulte la seccin Centros de informacin / Lnea directa).
Para obtener informacin detallada acerca del OMICRON Control Center
(OCC), consulte el manual El concepto. El archivo PDF se encuentra en la ruta
de instalacin de OMICRON Test Universe\Doc.

OMICRON Test Universe

Hay un hipervnculo directo a este manual en el tema "Manuales de usuario de


OMICRON Test Universe" de la ayuda en lnea. Adems, la ayuda en lnea
tambin ofrece informacin detallada sobre el Control Center en la entrada --OMICRON Control Center --- del ndice.

1.1 Prlogo
Damos por hecho que conoce y se encuentra cmodo con el sistema operativo
Windows 1. Antes de usar OMICRON Test Universe, tmese el tiempo
necesario para familiarizarse con el sistema operativo de su ordenador.
En este manual se siguen los siguientes convenios:

Ratn
Hacer clic

Pulsar y soltar el botn principal del ratn. El botn


principal del ratn es el botn que ms se usa. Para
la mayora de la gente, es el botn izquierdo del ratn.

Hacer clic con el botn


derecho del ratn

Pulsar y soltar el botn secundario del ratn. El botn


secundario del ratn es el botn que menos se usa.
Para la mayora de la gente, es el botn derecho del
ratn.

Hacer doble clic

Pulsar y soltar dos veces el botn principal del ratn.

Arrastrar

Mover el ratn mientras se mantiene pulsado el botn


principal del ratn.

Soltar

Retirar el dedo de uno de los botones del ratn.

Desplazar

Las barras de desplazamiento situadas a lo largo de


los lados derecho e inferior de una ventana se pueden
usar para desplazar arriba y abajo, a la derecha y a la
izquierda, el contenido de la ventana. Para usar una
barra de desplazamiento, haga clic y pulse uno de los
botones de flecha situados en los extremos de la
barra, o arrastre el regulador de la barra de
desplazamiento.

1. Windows es una marca comercial de Microsoft Corporation registrada en EE.UU.

10

Introduccin

1.2 Objetivo del mdulo Advanced Protection


Adems de los mdulos de prueba y las herramientas descritas en el programa
Protection Package , el grupo de programas Advanced Protection Package
consta de los siguientes mdulos de prueba:
Mdulos de prueba
Advanced TransPlay Herramienta universal para importar, editar y emitir
datos transitorios a un equipo en prueba.
Los archivos de datos transitorios han sido creados a
partir de eventos de faltas reales o simuladas
anticipadamente y se encuentran disponibles como
archivos de datos en formato COMTRADE, PL4 o TRF.
El rea de aplicacin principal es la reproduccin de las
apariciones de una falta real. Las ocurrencias de faltas
grabadas con el registrador de falta integrado del
dispositivo de proteccin se transmiten al PC y se
guardan en el formato de archivo correspondiente.
Advanced Distance

Advanced Distance se usa para definir eficientemente


los documentos de prueba, ejecutarlos, automatizarlos
e informar acerca de los resultados.
Ofrece las mismas funciones que el mdulo Distance
adems de otras ms avanzadas:

Synchronizer

Modos de prueba adicionales: Prueba de bsqueda


y verificacin

Ajuste de la impedancia como un porcentaje de los


alcances de la zona (impedancia "relativa")

Prueba eficiente y flexible en varios bucles de falta.

Prueba rels de sincronizacin.


Prueba operaciones de un sistema trifsico a uno
trifsico, de un sistema trifsico a uno monofsico, y de
un sistema monofsico a uno monofsico para conectar
dos sistemas de potencia como, por ejemplo, un
generador a una cuadrcula de transporte.

VI Starting

Prueba la funcin de arranque de sobrecorriente


dependiente de la tensin (funcin VI Starting).

11

OMICRON Test Universe

Advanced
Differential

El software Advanced Differential es un grupo de 4


mdulos de prueba que proporcionan una solucin de
prueba completa para esquemas diferenciales con
transformadores hasta de 3 devanados y hasta 9
corrientes inyectadas. El clculo automtico de las
corrientes de prueba evita el consumo del tiempo y los
clculos manuales propensos a error.
Estos mdulos de prueba tambin son adecuados para
probar otras funciones de los rels diferenciales, como
una funcin de apoyo y proteccin de sobrecorriente o
una funcin de sobrecarga integradas en el rel.
Este mdulo se describe con ms detalle en la seccin
4 Advanced Differential en la pgina 63.

Diff Configuration

Diff Operating Characteristic

Diff Trip Time

Diff Harmonic Restraint

Transient Ground
Fault

Prueba rels de proteccin de faltas a tierra.

Annunciation
Checker

Comprueba el cableado y la asignacin de los


mensajes de estado al poner en servicio una
subestacin.

CB Configuration

La unidad de prueba CMC 256 ofrece una simulacin


del IP que emula la accin de los contactos auxiliares
(52a / 52b) de un interruptor de potencia durante los
procesos de disparo y cierre.

Ground Fault proporciona la configuracin en red


adecuada para efectuar una simulacin de una falta a
tierra. La simulacin se puede enviar directamente
desde un sistema de prueba CMC como corrientes,
tensiones y seales binarias. El comportamiento del
equipo en prueba se puede medir y mostrar, y se puede
elaborar un informe en un documento de prueba.

CB Configuration configura la mquina de estado de


simulacin del interruptor de potencia (IP) en el
firmware de la unidad CMC. Este mdulo asigna
automticamente las seales encaminadas de entrada
y salida binarias a las entradas y salidas de simulacin
de la mquina de estado.

12

Advanced TransPlay

2 Advanced TransPlay
Advanced TransPlay se usa para importar, editar y emitir datos transitorios a un
equipo en prueba. Estos datos transitorios se han creado a partir de eventos de
falta reales o simuladas anticipadamente y estn disponibles en un archivo de
datos.
El campo de aplicacin principal se observa en la reproduccin de la aparicin
de una falta real. Las ocurrencias de faltas grabadas con el registrador de falta
integrado del dispositivo de proteccin se transmiten al PC y se guardan en el
formato de archivo correspondiente.
Por supuesto, estos datos se pueden generar desde otra fuente, tal como un
registro de la falta, en tanto que est disponible en un formato de archivo
compatible.
Se admiten los siguientes formatos de archivo usados para importar seales
transitorias:

Formato Comtrade con los siguientes archivos:


-

CFG: archivo de configuracin COMTRADE para la descripcin de los


canales del informe de errores (nombres de las seales, frecuencia de
muestreo, etc.)

DAT: archivo COMTRADE con los valores de muestreo de los canales


de informe por defecto.

HDR: archivo encabezado, que contiene todos los textos


relacionados con los datos que no son utilizados por el programa.

Formato L4 con un archivo PL4

Formato TRF con un archivo TRF

Encontrar una descripcin detallada de los formatos de archivos compatibles


en la ayuda en lnea, en la entrada "Formatos y tamao de archivo" del ndice.
Usando estos datos se puede probar y ajustar un dispositivo de proteccin
ptimamente bajo condiciones de funcionamiento real.
El mdulo de prueba Advanced TransPlay es tambin una herramienta
apropiada para probar dispositivos de proteccin (p. ej., con datos simulados)
durante el proceso de desarrollo.
La salida de datos se inicia por medio de un trigger externo (p. ej. GPS), por
medio de entradas binarias, pulsando una tecla o inmediatamente despus de
pulsar el botn C O M E N Z A R / C O N T I N U A R .
Despus se compara la reaccin del equipo en prueba con los valores
nominales o las seales binarias (reaccin guardada en el registro de datos, o
a definir por el usuario) y se evala en el informe de prueba.

13

OMICRON Test Universe

2.1 Vistas del mdulo de prueba Advanced


TransPlay
El mdulo de prueba Advanced TransPlay proporciona cuatro vistas diferentes:
Detalle
Oscilografa
Medidas
Informe
Todos los ajustes necesarios para la prueba se hacen en la vista de Detalle. En
la vista de Detalle se indican las seales analgicas transitorias individualmente
a los canales analgicos de salida de la unidad CMC, se interconectan las
seales binarias y se definen las condiciones del trigger.
La Oscilografa se activa despus de cargar (importar) el registro de datos. La
vista presenta las corrientes transitorias, las seales de tensin y las seales
binarias, si estn disponibles.
Ahora es posible usar el mdulo de prueba Advanced TransPlay para editar
este registro de datos y adaptarlo segn la prueba planeada. En cualquier
momento, se pueden repetir secciones de tiempo (por ejemplo, para ampliar el
tiempo de pre-falta), se pueden marcar las transiciones de estado y se pueden
insertar seales binarias nuevas.
Los valores nominales para las medidas de tiempo se definen en la vista
Medidas. Durante la prueba, cada condicin de medida se analiza en cuanto a
la observancia de las tolerancias y se evala como "Correcta" o "Incorrecta".
Los resultados de la prueba se representan en la vista Informe. El contenido de
la vista Informe puede ser definido por el usuario o se pueden usar los ajustes
estndar por defecto (predefinidos).

14

Advanced TransPlay

2.1.1

Detalle
Detalle consta de las fichas Salidas analgicas, Salida binaria, Trigger y
General. Con estas fichas, es posible ver y editar los parmetros que son
necesarios para la prueba.
Los campos que estn activos en la ficha y los nombres asignados a estos
campos dependen de los ajustes realizados previamente en la configuracin del
hardware. Si, por ejemplo, se asigna slo un grupo generador en la
configuracin del hardware, nicamente este grupo estar disponible. La
designacin es el nombre que se asigna a este grupo en la configuracin del
hardware.

Salidas analgicas
La ficha Salidas analgicas contiene una tabla para el ajuste de las
magnitudes de salida de los generadores disponibles.
Esta tabla tiene cinco columnas: Seal, Canal, Escala, Mnimo y Mximo. Cada
lnea corresponde a una salida analgica usada.
Despus de cargar un archivo de datos, se llena la tabla con la informacin
almacenada en el registro de datos. Las seales se emiten a las salidas
analgicas de la unidad CMC en funcin de los nombres de la seal. Esta
asignacin se puede cambiar en cualquier momento. La columna Escala se
puede usar para aumentar o disminuir los valores de la tensin y de la corriente
que se emitirn. Los resultados de la aplicacin de la escala se presentan en
los campos Mnimo y Mximo.

Salidas binarias
La ficha Salidas binarias muestra las salidas binarias disponibles (segn se
han definido en la Configuracin del hardware) y qu est interconectado con
las seales binarias.

Trigger
La ficha Trigger define las condiciones de arranque para la emisin de las
seales transitorias.

15

OMICRON Test Universe

Hay disponibles cuatro condiciones del trigger:


Sin trigger:

La salida de datos se inicia inmediatamente despus


de pulsar el botn C O M E N Z A R / C O N T I N U A R (o de
seleccionar la opcin correspondiente en el men
P R U E B A ).

Trigger binario:

La salida se mantiene constante hasta que las


entradas binarias del hardware cumplen las
condiciones lgicas definidas en la mitad inferior de la
ficha.

Tecla pulsada:

Con esta opcin, se espera hasta que el usuario pulse


una tecla.

Trigger externo:

Se espera un evento del trigger externo a travs del


conector en el panel CMExif de la unidad CMC (p.ej.,
desde una unidad de sincronizacin CMGPS).

Si se realizan repeticiones de la prueba, la condicin del trigger es vlida


solamente para la primera prueba.
La emisin de los datos transitorios se inicia para las repeticiones una vez que
ha transcurrido el tiempo de pausa entre las repeticiones. (Estos ajustes se
realizan en V E R | D E T A L L E en la fichaGeneral).
Figura 2-1:
Validez de las
condiciones del trigger

Comienzo de la prueba
Prueba 1
Tiempo del trigger
= 0 para "Sin trigger"

Prueba 2

Tiempo entre
repeticiones

Prueba 3

Tiempo entre
repeticiones

> 0 para todas las


dems condiciones
del trigger

Ficha General
La fichaGeneral contiene especificaciones para la prueba completa, tales como
el nmero de repeticiones de la prueba y el tiempo entre las repeticiones
individuales de la prueba. Adems, se puede especificar la velocidad de
muestreo con que se emiten las seales transitorias.

16

Advanced TransPlay

2.1.2

Oscilografa
Las seales transitorias se muestran en la oscilografa. Hay tres diferentes
modos de representacin en pantalla disponibles:
Original:

Representa slo el registro de los datos reproducidos. Aqu se


pueden definir o editar los marcadores de los datos para la
emisin repetida de los rangos de tiempo o para la restriccin
del rango de tiempo de emisin (inicio y fin).

Expandido:

Representa las seales transitorias tal como se emiten,


tomando en consideracin las repeticiones y las restricciones
definidas en el modo original. Adems es posible definir las
seales binarias (para la salida del equipo en prueba, o como
una seal nominal con propsitos de comparacin) y los
marcadores de estado.

Resultados de
la prueba:
Representa la salida de las seales analgicas y binarias
durante la prueba y las entradas binarias registradas. Este
modo est disponible solamente una vez realizada la prueba.
Se dispone de dos reguladores en todas las vistas para determinar los valores
en ciertas posiciones en el tiempo y para determinar las diferencias de tiempo.
Los valores medidos se representan en la ventana de los datos del cursor.
Los mens de contexto permiten

aplicar el zoom a los rangos de tiempo individuales y la representacin en


pantalla optimizada de las seales en el diagrama (comprende los ejes
X e Y)

ampliar la visualizacin de los diagramas (de 100% a 400%)

editar las propiedades de las seales y los marcadores de los datos; eliminar
las seales binarias autodefinidas, los marcadores de estado y los
marcadores de los datos.

Regulador
Los reguladores actan como puntos de anclaje para los cursores de medida.
Adems, se usan para mover el cursor horizontalmente, a lo largo del eje del
tiempo. Esto se hace usando las teclas de flecha del cursor del teclado del PC,
o haciendo clic y arrastrando con el ratn hasta la posicin deseada.
Si prefiere usar las teclas de flecha del cursor del teclado de su PC, use la tecla
<Tabulador> o <Mays> + <Tabulador> para cambiar entre los reguladores.

17

OMICRON Test Universe

Tabla de datos del cursor


La tabla Datos del cursor se encuentra ahora en el cuadro de dilogo
Oscilografa. La tabla muestra la posicin de los dos cursores en la columna
Tiempo de la Oscilografa. Se puede cambiar la posicin del cursor
introduciendo un tiempo. En la columna Seal, se puede asignar una seal
analgica a cada cursor. El valor temporal de la seal seleccionada se muestra
en la columna Valor. Si las seales asignadas a los dos cursores son de la
misma magnitud fsica (p. ej., dos tensiones), se mostrar la diferencia en la
tercera lnea.
Figura 2-2:
Tabla de datos del
cursor

Seal de salida de tensin/corriente


Se presenta en pantalla un diagrama para cada una de las tensiones y
corrientes disponibles del grupo generador para representar las seales de
salida de tensin /corriente como una funcin del tiempo. Se usa un formato
diferente de lnea para cada seal de un grupo generador. Las asignaciones
entre el tipo de lnea y la salida del generador se muestran en la parte inferior
de los diagramas. El usuario puede modificar la representacin de las seales
(tipo de lnea, ancho y marcas).

Salida binaria y seales de entrada


Las seales binarias se representan con las designaciones asignadas en la
configuracin del hardware, o con las designaciones que se hacen al definir las
seales. El estado binario 0 se representa por una lnea delgada y el estado
binario 1 se representa por un rectngulo estilizado.

Marcadores de datos
En el tipo de repeticin del modo Original se pueden definir y representar los
marcadores de datos. Los marcadores de datos se representan por medio de
lneas verticales con sus nombres en el diagrama de estado. El usuario puede
definir individualmente la representacin de las lneas.

Marcadores de estado
Los marcadores de estado se definen en el modo Expandido. Al igual que los
marcadores de datos, se representan por medio de lneas verticales y sus
nombres.

18

Advanced TransPlay

2.1.3

Vista Medidas
Se puede definir cualquier nmero de condiciones de medida del tiempo en la
vista Medidas. Para ello, se ofrecen dos tablas. En la tabla superior, se pueden
especificar los momentos individuales (marcadores de estado y cambios de
lmite) como criterio de evaluacin (tabla 2-1).

Tabla 2-1:
Trminos en la tabla
de medida

Trminos en la tabla de medida


Nombre

Nombre definido por el usuario para la identificacin de la


condicin de la medida del tiempo.

Ignorar antes Un evento que tiene que ocurrir antes de los eventos de
"Comenzar" y "Parar". Con esto, se limita el rango de la
medida de tiempo. Todos los eventos hasta el fin de este
estado especificado se ignorarn para la medida. Si el campo
se deja vaco, la medida de tiempo se inicia inmediatamente
en el momento en que se cumple la condicin de arranque.
Comenzar

Evento que comienza la medida del tiempo. Se selecciona la


condicin Comenzar desde una lista desplegable de opciones.

Parar

Evento que detiene la medida del tiempo. Se selecciona la


condicin Parar desde una lista desplegable de opciones.

Tnom

Intervalo de tiempo nominal para la condicin de medida


definida (en segundos).

Tdesv-

Desviacin negativa permitida con respecto al tiempo nominal


(en segundos).

Tdesv+

Desviacin positiva permitida con respecto al tiempo nominal


(en segundos).

Treal

Intervalo de tiempo medido entre la condicin de arranque y de


parada. Si la celda est vaca, la condicin de arranque o de
parada no se ha producido.
Las condiciones de arranque y de parada se leen
simultneamente. Esto significa que es posible que la
condicin de parada ocurra antes de la condicin de inicio. En
este caso, el valor de medida de tiempo es negativo.

Tdesv

Desviacin medida de Treal en relacin a Tnom (este valor


puede ser positivo o negativo).

Evaluacin

"Correcta" (+ verde), "Incorrecta" (x roja), o "No evaluada" (o


gris). La evaluacin se basa en la comparacin entre la
desviacin real y la desviacin permitida.

19

OMICRON Test Universe

En la segunda tabla se utilizan las seales binarias para la comparacin de


tiempo (Tabla 2-2).
Si la condicin de inicio y de parada son iguales, se registra una medida de 0s.
Si no se busca una segunda aparicin de una condicin, es decir, el tiempo
entre la primera y la segunda transicin 0 -> 1 de una seal binaria no es
cuantificable; la primera transicin 0 -> 1 cumple ambas condiciones de
medida. Para medir tal condicin, se puede usar la funcin de medida del cursor
en la oscilografa.
Tabla 2-2:
Trminos adicionales
en la tabla de medida 2

Trminos adicionales en la tabla de medida 2


Seal

Seal binaria que se reproducir con la finalidad de


compararse con la seal de referencia. Aqu estn disponibles
todas las seales binarias que se ajustan en el cuadro de
dilogo Configuracin del hardware.

Seal de
referencia

Seal binaria del registro de los datos, o seal autodefinida,


que sirve como referencia para la comparacin con la seal
que se reproducir.

Treal

Aqu se introduce el tiempo medido para el cambio de lmite de


la seal reproducida. Se introduce el tiempo de cambio del
lmite con la desviacin mxima, en relacin con la seal de
referencia para las seales binarias con algunos cambios de
lmite.

Tdesv

Desviacin medida (mayor) de Treal en relacin con Tnom


(este valor puede ser positivo o negativo).

Las tablas se expanden de acuerdo con el nmero de repeticiones de medida;


es decir, se representan todos los resultados de las medidas. La primera
columna de la tabla, en la que se enumeran las condiciones de medida, obtiene
un nmero adicional puesto entre parntesis. ste especifica el nmero de la
medida para detectar qu resultado pertenece a cada medida.

2.1.4

Informe
La vista Informe describe los resultados de la prueba en forma de informe para
su posterior impresin. Se pueden representar todos los ajustes realizados en
el equipo en prueba, en la configuracin del hardware y en el mdulo de prueba,
as como todos los resultados de la prueba. La seleccin del contenido se
efecta en el men P A R M E T R O S | I N F O R M E .

20

Advanced TransPlay

2.2 Ejemplo:
Rel de distancia con una reproduccin de
transitorios
Archivos de muestra:
AdvTransPlay-Transient_Playback.tra
AdvTransPlay-Transient_Playback.occ
Comtrade Example.cfg
Comtrade Example.dat
Guardados en: ...Ruta de instalacin de OMICRON Test Universe\
Test Library\Samples\SW Manual Examples\Advanced Protection

)
9

Tarea
Se desea probar un rel de distancia con una prueba de "reproduccin" de
transitorios. El archivo de prueba est en formato COMTRADE (Comtrade
Example.cfg) y se ha creado a partir de un registro de faltas. El tiempo de prefalta tiene que ampliarse al menos a un segundo. Tambin se tiene que definir
una condicin de medida para la seal de disparo del rel.
El formato de archivo COMTRADE es un formato estandarizado aceptado
internacionalmente para el intercambio de datos transitorios (COMTRADE =
COMmon TRAnsient Data Exchange). Esta norma fue formulada por IEEE.
Ref.: IEEE C37.111-1999: "Formato comn estndar para el intercambio de
datos transitorios (Comtrade) de IEEE para redes de energa elctrica".

Solucin
OMICRON Test Universe ofrece el mdulo de prueba Advanced TransPlay
dedicado a la "reproduccin" de cualquier registro o simulacin de faltas
transitorias. ste es el nico mdulo de prueba que puede realizar totalmente la
tarea descrita anteriormente.
Suponiendo que esta prueba de "reproduccin" de transitorios formar parte de
una prueba automtica completa de un rel de distancia, este mdulo de prueba
se incrustar en un documento de prueba para el OMICRON Control Center.
Si esta prueba es nica en su serie, el mdulo de prueba Advanced TransPlay
podr usarse tambin en una configuracin autnoma, es decir, sin el Control
Center.

21

OMICRON Test Universe

2.2.1

Cableado entre el rel de proteccin y la unidad CMC

1. Conexin de la unidad CMC con el puerto paralelo del PC para


intercambio de datos: Salida de datos para simulacin, carga de las
seales binarias.
2. Conexin de las salidas analgicas de la unidad CMC a las entradas del
convertidor del equipo en prueba para leer la salida de las corrientes y
tensiones simuladas.
3. Conexin de las salidas binarias y salidas del transistor de la unidad CMC
para las entradas binarias del equipo en prueba para leer las seales
binarias para el equipo en prueba.
4. Conexin de las entradas binarias de la unidad CMC para las salidas
binarias del equipo en prueba para cargar las seales binarias del equipo
en prueba (por lo tanto, las reacciones para los datos de salida).

2.2.2

Inicio de Advanced TransPlay desde el OCC


Inicie el OMICRON Control Center desde la Start Page haciendo clic en A B R I R
U N D O C U M E N T O V A C O . Inserte Advanced TransPlay en el documento del
OCC seleccionando la opcin de men I N S E R T A R | M D U L O D E
PRUEBA... | OMICRON ADVANCED TRANSPLAY.

2.2.3

Configuracin del equipo en prueba


Para la configuracin del rel en prueba, se utiliza la funcin de software
correspondiente de Equipo en prueba. Abra Equipo en prueba utilizando la
opcin del men desplegable P A R M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A o
haciendo clic en el botn "Equipo en prueba" de la barra de herramientas. En el
cuadro de dilogo Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar los
parmetros del equipo en prueba.

22

Advanced TransPlay

Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Equipo en prueba


y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la seccin
3 Configuracin del equipo en prueba del manual "El concepto" o en la ayuda
en lnea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del ndice.

2.2.4

Configuracin del hardware


Configure el hardware de acuerdo con el cableado descrito en la seccin
2.2.1 Cableado entre el rel de proteccin y la unidad CMC.
Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Configuracin del
hardware en la seccin 4 Configuracin del hardware de prueba del manual
"El concepto" o en la ayuda en lnea, en la entrada --- Configuracin
del hardware --- del ndice.

2.2.5

Definicin de la prueba
Paso 1: Importacin del archivo COMTRADE
1. Seleccione A R C H I V O | I M P O R T A R .
2. Seleccione el archivo COMTRADE para importar,
Comtrade Example.cfg en este caso.
Maximice la ventana "Oscilografa" para obtener una vista completa de la
seal que se desea reproducir.

Figura 2-3:
Oscilografa

23

OMICRON Test Universe

Paso 2: Ampliacin del tiempo de pre-falta


1. Aplique el zoom a la parte de pre-falta de la seal para mostrar los tres
ciclos de datos.
Para aplicar el zoom a la seal, active primero la funcin zoom (haga clic con
el botn derecho del ratn en cualquier parte de la oscilografa y seleccione
Z O O M ). El cursor adopta la forma de una lupa, para indicar que la funcin
zoom est activa. Se puede definir una ventana de zoom haciendo clic con
botn derecho del ratn y arrastrando una ventana abierta. El ancho de la
ventana define los lmites para los cuales se aplica el zoom al grfico.
Para "reducir" y volver a la seal original, haga clic con el botn derecho del
ratn y seleccione O P T I M I Z A R .
2. Marque exactamente un ciclo de datos.
Hay dos marcadores disponibles. Se pueden colocar arrastrando la marca
amarilla o la azul en la barra horizontal de marcadores (1).
Coloque los marcadores en el cruce por cero de una tensin de fase, p.ej.,
V A-N.
Coloque el segundo marcador una muestra antes del cruce por cero. Esto
evita que se presenten dos muestras consecutivas con valor cero cuando se
repita este ciclo de datos. Tenga en cuenta que "Delta t" muestra en la
ventana del cursor 19,9 ms y no 20 ms.
Figura 2-4:
Seal sobre la cual se
ha aplicado el zoom con
un ciclo de datos
marcados

24

Advanced TransPlay

3. Seleccione E D I C I N | I N S E R T A R
parte de la seal.

LA REPETICIN

para repetir esta

4. En el cuadro de dilogo Marcadores de datos, ajuste como nombre


"Pre-falta ampliada".
5. Especifique 50 repeticiones.
Tenga en cuenta que el valor para "Tiempo" y "Duracin" se introduce
automticamente desde la posicin actual de los marcadores.
Figura 2-5:
Definicin de la seal
que se desea repetir

6. Haga clic en A C E P T A R .
7. Seleccione "expandido" como modo de visualizacin (1).
Figura 2-6:
Seal completa con
pre-falta ampliada

8. Vuelva a la dimensin original de la imagen (Optimizar) para ver la seal


completa.

25

OMICRON Test Universe

Paso 3: Definicin de una condicin de medida


Para cronometrar exactamente la seal de disparo, es importante definir el
momento exacto de la inicializacin de la falta. Esto se realiza manualmente
definiendo un marcador de estado en el momento de la inicializacin de la falta.
1. Aplique el zoom sobre el instante de tiempo de la inicializacin de la falta.
2. Coloque uno de los marcadores directamente en el momento de la
inicializacin de la falta.
3. Seleccione E D I C I N | I N S E R T A R

UN MARCADOR DE ESTADO.

4. Defina el nombre Inicializacin de la falta


5. Haga clic en A C E P T A R .
Figura 2-7:
Definicin de un
marcador de estado

6. Active la vista M E D I D A S haciendo clic en su icono.


7. Defina los parmetros de la seal de disparo que se desea medir:
Nombre = Disparo; Arranque en "Inicializacin de la falta"; Parada en
"Disparo 0>1"

26

Tnom = 60 ms; Tdesv- = 20 ms; Tdesv+=50 ms.


Esta funcin activa la definicin de cualquier seal que se va a medir: Desde,
Hasta, el tiempo nominal de disparo y la desviacin en las direcciones negativa
y positiva. Una vez realizada la prueba, se presentarn el tiempo real medido
de "disparo", la desviacin real y la evaluacin respectiva.

Advanced TransPlay

2.2.6

Ejecucin de la prueba
Es posible realizar una prueba slo si no hay resultados presentes. En caso
necesario, borre los resultados haciendo clic en el icono B O R R A R de la barra
de herramientas o seleccionando P R U E B A | B O R R A R .
Para iniciar la prueba, haga clic en el icono C O M E N Z A R / C O N T I N U A R
de la barra de herramientas o seleccione P R U E B A | C O M E N Z A R /
CONTINUAR.

PRUEBA

)
2.2.7

Con esta operacin se descarga el archivo transitorio en la unidad CMC y se


reproducen las seales de tensin y de corriente exactamente como se
muestra.
En la vista Medidas se mostrar la medida de la seal de disparo junto con una
evaluacin.

Definicin del formato del informe


Seleccione P A R M E T R O S | I N F O R M E . Se abrir un cuadro de dilogo en el
que puede definir el rango de aplicacin del informe.
Encontrar una descripcin detallada sobre la definicin de los informes de las
pruebas en la seccin 5.2 Informes de prueba del manual "El concepto" o en
la ayuda en lnea, en la entrada --- Informes de prueba --- del ndice.

Seleccione V E R | I N F O R M E para mostrar el informe de la prueba.


Tenga en cuenta que si ha agrandado la seal con el zoom, tambin se
presentar ampliada en la vista Informe.

27

OMICRON Test Universe

28

Advanced Distance

3 Advanced Distance
Advanced Distance se usa para evaluaciones completas del elemento usando
diferentes modos de prueba automticos (Disparo, Bsqueda, Verificacin) en
el plano de impedancias Z con representacin grfica de la caracterstica.
Permite el uso de plantillas de prueba estndar con puntos de prueba relativos
para probar cualquier ajuste del rel de distancia.

3.1 Caractersticas del mdulo Advanced


Distance
Advanced Distance ofrece funciones avanzadas adems de las funciones
bsicas de Distance:

Pruebas de bsqueda y verificacin

Ajustes de la prueba en relacin con los alcances de la zona y el ngulo de


la lnea ("disparos relativos")

Prueba de varios bucles de falta

29

OMICRON Test Universe

3.1.1

Modos de prueba de Disparo, Bsqueda y


Verificacin
Prueba de disparo
En una prueba de disparo, los puntos de prueba de la tabla de puntos de prueba
se procesan automticamente.

Figura 3-1:
Advanced Distance Prueba de disparo

30

Advanced Distance

Prueba de bsqueda
En una prueba de bsqueda, los alcances de zona se determinan
automticamente. Las transiciones de zona se buscan a lo largo de las lneas
de bsqueda especificadas en el plano de impedancia, utilizando un algoritmo
optimizado. Es posible definir una serie de lneas de bsqueda en un solo paso.
Todas las lneas de bsqueda definidas se guardan en una tabla para
procesarse automticamente.
Figura 3-2:
Advanced Distance Prueba de bsqueda

31

OMICRON Test Universe

Prueba de verificacin
En una prueba de verificacin, los puntos de prueba se establecen
automticamente en los lmites de tolerancia de las zonas. La configuracin se
hace con lneas de prueba (lneas de verificacin), de manera parecida a una
prueba de bsqueda, pero los puntos de prueba se ajustan nicamente en las
intersecciones de las lneas de verificacin con las tolerancias de zona. La
prueba de verificacin es una eficaz prueba general del rel que requiere un
mnimo tiempo de prueba. Esto permite verificar rpidamente si se cumplen las
especificaciones, especialmente en caso de pruebas de rutina.
Figura 3-3:
Advanced Distance Prueba de verificacin

Hay distintas formas de aadir puntos y lneas de prueba a las tablas. Los
parmetros se pueden definir de forma precisa mediante entradas numricas o
sealando determinadas posiciones en el diagrama de la caracterstica. Un
cursor magntico permite seleccionar valores tiles. Los comandos del ratn,
los mens contextuales y los mtodos abreviados del teclado facilitan la
introduccin de datos.
Una prueba de Advanced Distance puede adoptar cualquier combinacin de
pruebas de Disparo, Bsqueda y Verificacin. Durante la ejecucin de la
prueba, todos los ajustes de la prueba se procesan secuencialmente.
Este verstil sistema ofrece una amplia gama de posibilidades de prueba.
Usndolo, es fcil ceirse a las filosofas y normativas de pruebas.

32

Advanced Distance

3.1.2

Definiciones de prueba relativas


Una caracterstica revolucionaria es que los ajustes de la prueba se pueden
establecer en funcin de la caracterstica del rel de distancia. Los puntos de
prueba no se introducen en valores R, X, Z absolutos ni en valores de ngulo,
sino que hacen referencia a los alcances de la zona y al ngulo de la lnea. Los
ajustes relativos se pueden aplicar a los alcances y ngulos, de manera
conjunta o individual.
Los puntos de prueba definidos en relacin con alcances de zona (p. ej. 90 %
de la zona 1, 110 % de la zona 1, 90 % de la zona 2, ...) tienen la magnitud de
la impedancia ajustada automticamente a los valores reales definidos en los
datos del equipo en prueba.
Los puntos y las lneas de prueba (bsqueda/verificacin) definidos respecto al
ngulo de la lnea se entrelazan en funcin del ajuste del ngulo de la lnea en
el archivo XRIO del equipo en prueba.
Con esta funcin, se pueden crear plantillas de prueba reutilizables que se
adaptan a los ajustes reales del rel.

3.1.3

Modelo de impedancia de fuente constante


Adems de los modelos de corriente de prueba constante y de tensin de
prueba constante de Distance, Advanced Distance ofrece el modelo de prueba
de impedancia de fuente constante, que resulta til en casos especiales en los
que parmetros como SIR (Source Impedance Ratio Relacin de impedancia
de fuente) son importantes.

3.1.4

Corriente de carga
Para verificar el comportamiento especial de ciertos rels, que slo se produce
cuando hay una corriente (de carga) de pre-falta presente (p. ej., rendimiento de
disparo acelerado), se puede superponer una corriente de carga.

3.1.5

Prueba de mltiples bucles de falta en un nico


mdulo de prueba
Advanced Distance ofrece asistencia especial al efectuar pruebas
correspondientes a mltiples bucles de falta en un nico mdulo de prueba. Se
incluyen varias fichas para todos los modos de prueba (disparo, bsqueda,
verificacin) con una tabla de puntos de prueba independiente para cada tipo
de falta. Es posible realizar ajustes individuales en la prueba de cada tipo de
falta, pero en el caso habitual de que se utilicen los mismos ajustes para tipos
de falta relacionados, hay funciones que permiten utilizar los mismos ajustes
simultneamente en varios tipos de falta.

33

OMICRON Test Universe

3.1.6

Interfaz de usuario
El interfaz de usuario se puede configurar individualmente usando los
siguientes elementos:

Prueba
Esta vista contiene las tablas de puntos de prueba para las pruebas de Disparo,
Bsqueda y Verificacin, y el plano de impedancia. En esta vista se realizan las
definiciones de las pruebas. Durante y despus de la ejecucin de las pruebas,
esta vista presenta los resultados numricamente en las tablas y grficamente
en el plano de impedancia.

Diagrama Z/t
Esta vista muestra la curva de tiempo escalonado de disparo con respecto a la
impedancia a lo largo de una determinada lnea. La lnea real se determina
apuntando en el plano de impedancia o efectuando una seleccin en una de las
tablas de prueba. Tambin es posible definir puntos de prueba y ver las
evaluaciones en el diagrama.

Diagrama vectorial
El diagrama vectorial muestra los fasores de las tensiones y corrientes, tanto
para las magnitudes de fase como para los componentes de secuencia. Los
valores numricos correspondientes se muestran en la tabla adjunta.

Oscilografa
En esta vista se muestran las tensiones, corrientes y seales binarias cuando
finaliza un disparo. Resulta til para realizar investigaciones ms detalladas
(p. ej., medidas de tiempo usando cursores).

34

Advanced Distance

Para ver un ejemplo de trabajo actualizado, por favor vea


"Example_Distance_Distance_ESP.pdf"

3.2 Ejemplo de uso de Advanced Distance:


Prueba de alcances y tiempos de disparo
Archivos de muestra:
AdvDist-7SA511.occ
Siemens 7SA511 Distance Relay.rio

Guardados en: ...Ruta de instalacin de OMICRON Test Universe\


Test Library\Samples\SW Manual Examples\Advanced Protection

Tarea
Se desea probar un rel de distancia Siemens 7SA511. La prueba automtica
debera:

Realizar una prueba de disparo al 50% en la Zona 1, as como en la Zona


2 y 3 en el ngulo de la lnea para todos los bucles de falta.

Verificar que los alcances en el ngulo de la lnea estn dentro de los


lmites de la tolerancia para todas las zonas y para todos los bucles de
falta.

Determinar el alcance exacto del rel segn los ejes reactivo y resistivo
para todas las zonas para una falta A-N y B-C.

El rel de distancia Siemens 7SA511 tiene diferentes ajustes que se dan a


conocer a continuacin.

Ajustes generales:
Inom:

1A

Vnom:

110 V (L-L)

fnom:

0 Hz

ngulo de lnea:

60

Re/Rl:

0,9

Xe/Xl:

0,9

Los transformadores de potencia estn conectados a la barra


El transformador de corriente del centro estrella est en el lado de la
lnea.

35

OMICRON Test Universe

Ajustes de la zona de disparo:


Ajuste

Zona 1

Zona 2

Zona 3

2,50

5,00

10,00

1,25

2,50

5,00

Re

2,50

5,00

10,00

tiempo de disparo

inst.

400 ms

1,0 s

Ajustes de la zona de arranque:


X+A:

12

X - A:

2,5

RA1= RA2:

RAe:

12

t4 = t5:

3,0s

Solucin
OMICRON Test Universe ofrece el mdulo de prueba dedicado - Advanced
Distance - para probar la funcin de medida de la impedancia de los rels de
distancia. Este mdulo modela la lnea de transmisin protegida por un rel de
distancia. Se recomienda utilizar este mdulo para probar la funcin de
distancia. Es posible realizar una prueba manual de esta funcin, pero puede
resultar una tarea muy laboriosa y que lleva mucho tiempo.
Se pueden colocar disparos individuales de falta en cualquier lugar en el plano
de impedancia con un disparo individual. La prueba de verificacin coloca
disparos en los lmites de tolerancia de la impedancia de cada zona, para
verificar que el alcance est dentro de estos lmites de tolerancia. Se puede
determinar el alcance exacto con la prueba de bsqueda.
Dado que se tiene que llevar a cabo una prueba automtica, use el OMICRON
Control Center, de forma que la prueba se pueda integrar despus con las
pruebas para todas las funciones auxiliares de un rel de distancia (p. ej., falta
en el fusible [o LOP], Cierre manual [o SOTF], Autorecierre, Deteccin de la
variacin de la potencia, etc.).
El mdulo Advanced Distance se puede tambin usar de modo autnomo.

36

Advanced Distance

3.2.1

Cableado entre el rel de proteccin y la unidad CMC


1. Conecte las entradas de tensin del rel a las correspondientes salidas
de tensin de la unidad CMC.
2. Conecte las entradas de corriente del rel a las correspondientes salidas
de corriente de la unidad CMC. Asegrese de que las "salidas" de
corriente del rel (es decir, el lado de salida de los transformadores de
corriente) estn conectadas juntas en el punto de estrella.
3. Conecte la seal de disparo del rel a la entrada binaria 1 de la unidad
CMC.
4. Debido a que el rel Siemens tiene una zona de arranque, conecte la
seal de arranque a la entrada binaria 2 de la unidad CMC.

Figura 3-4:
Unidad de prueba
CMC 256, vista frontal

Conectar a entradas
de tensin del rel
de proteccin

Conectar a entradas
de corriente del
rel de proteccin

3.2.2

Conecte el contacto de disparo del rel


a la entrada binaria 1 y la seal de
arranque a la entrada binaria 2.

Inicio de Advanced Distance desde el OCC


Inicie el OMICRON Control Center desde la Start Page haciendo clic en A B R I R
U N D O C U M E N T O V A C O . Inserte Advanced Distance en el documento del
OCC seleccionando la opcin del men desplegable I N S E R T A R | M D U L O
DE PRUEBA... | OMICRON ADVANCED DISTANCE.

37

OMICRON Test Universe

3.2.3

Configuracin del equipo en prueba


Para la configuracin del rel en prueba, se utiliza la funcin de software
correspondiente de Equipo en prueba. Abra Equipo en prueba con la opcin
del men desplegable P A R M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A . Tambin se
puede hacer clic en el icono Equipo en prueba de la barra de herramientas. En
el cuadro de dilogo Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar
los parmetros del equipo en prueba.
Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la seccin
3 Configuracin del equipo en prueba del manual "El concepto" o en la ayuda
en lnea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del ndice.

Paso 1: Definicin de los parmetros de la proteccin de


distancia
La figura 3-5 muestra la ficha Parmetros de la proteccin de distancia que
se activa haciendo doble clic en "Distance", en el rbol de Equipo en prueba.
Los siguientes pasos 2 - 4 le servirn para orientarse en cada pgina.

Paso 2: Definicin de los ajustes del sistema


Figura 3-5:
Pgina Ajustes del
sistema del cuadro de
dilogo Parmetros de
la proteccin de
distancia

7
2
3
4

38

Advanced Distance

1. Introduzca el ngulo de lnea (figura 3-5, n 1).


2. Seleccione los TP que se conectarn a la barra (2).
3. Seleccione el punto de estrella del TC que se conectar en el lado de la
lnea (3).
4. Introduzca tolerancias compatibles tanto de tiempo como de impedancia
(4).
Para la evaluacin se usa el valor ms grande de los valores
introducidos, absoluto o relativo.
Los valores tpicos de la tolerancia de tiempo y de la impedancia para un
rel numrico son: 5% para la tolerancia de la impedancia relativa y 10%
para la tolerancia relativa del tiempo. La tolerancia absoluta de la
impedancia se tiene que ajustar en 50 m y la tolerancia absoluta del
tiempo se tiene que ajustar en 2,5 ciclos o bien, 50 ms.
5. Ajuste el modo de factor de puesta a tierra en "RN/RL y XN/XL" e
introduzca los valores de RN/RL y XN/XL (5).
Los rels de distancia numricos de Siemens usan este modo de
entrada. Los rels de distancia de General Electric (GE) usan X0/X1. Los
dems rels usan el factor comn k, que es la relacin del alcance de la
falta a tierra / alcance de la falta monofsica.
La opcin Separar la resistencia del arco (6) es de gran importancia
para los rels que miden la componente de la impedancia de lnea
separadamente de la componente de resistencia del arco, que es una
resistencia pura a colocar en el diagrama vectorial hacia la izquierda o
derecha del ngulo de la lnea. La componente de la resistencia del arco
se trata como una resistencia pura. No se la compensa por medio del
factor k de falta a tierra. Actualmente la caracterstica cuadriltera de la
falta a tierra del rel Schweitzer SEL 321 y todas las caractersticas del
rel Alstom EPAC usan este tipo de algoritmo. Consulte la ayuda en lnea
para obtener ms informacin sobre este tema.
6. La opcin "Correccin de la impedancia 1A/Inom" (7) es importante
nicamente cuando se prueban rels con capacidad para 5 A. Algunos
fabricantes compensan la impedancia medida para la corriente nominal
del TC. En este caso, se debe seleccionar la opcin y se calcula la
impedancia a partir de Z = V / I / Inom. En la mayora de los casos, se
calcula la impedancia a partir de Z = V / I, en tal caso no se selecciona
esta opcin.
7. "Impedancias en valores primarios" (8): Los valores introducidos se
convierten internamente a valores secundarios usando las relaciones del
TP y del TC introducidas en los ajustes del dispositivo.

39

OMICRON Test Universe

Paso 3: Definicin de los ajustes de zona


Figura 3-6:
Pgina Ajustes de zona
del cuadro de dilogo
Parmetros de la
proteccin de
distancia

1. Haga clic en N U E V O para definir la primera zona.


2. Haga clic en E D I C I N para abrir el cuadro de dilogo Editor de
caracterstica (figura 3-7).

40

Advanced Distance

Figura 3-7:
Editor de caracterstica
para los parmetros del
equipo en prueba

3. Haga clic en la curva predefinida para la caracterstica cuadriltero


(fig. 3-7, 1).
4. Introduzca los ajustes para el primer elemento de la lnea. La lnea
direccional en el cuarto cuadrante: R = X = 0; ngulo = -45.
El elemento de lnea seleccionada queda resaltado en el grfico.
Los elementos de lnea estn definidos por un ngulo desde la horizontal
ms algn punto en el plano R/X a travs del cual pasa la lnea. Este punto
puede introducirse en coordenadas cartesianas o polares.
5. Introduzca el segundo elemento de lnea, que es el blinder o impedancia
resistivo:
R = 1,25; X = 0; ngulo = 90.
Nota: Introduzca siempre los elementos de lnea en el sentido de las agujas
del reloj alrededor de la caracterstica. Consejo: dibuje la caracterstica
esperada en un papel antes de introducirla en el programa.
6. Introduzca el tercer elemento de lnea, que es el blinder o impedancia
reactivo:
R = 0; X = 2,5; ngulo = 0.
7. Introduzca el cuarto elemento de lnea, que es el blinder o impedancia
resistivo en el tercer cuadrante: R = -1,25; X = 0; ngulo = 90.

41

OMICRON Test Universe

8. Haga clic en A C E P T A R .
Figura 3-8:
Pgina Ajustes de zona
del cuadro de dilogo
Parmetros de la
proteccin de
distancia.
Se introducen los
ajustes de zona
correspondientes a la
primera zona y las
zonas de disparo

9. Copie esta zona cinco veces:


-

Seleccione la zona haciendo clic en el botn de seleccin de fila (primera


columna por la izquierda, figura 3-8, 1).

Haga clic con el botn derecho del ratn en cualquier lugar de la tabla y
seleccione C O P I A R .

Haga de nuevo clic con el botn derecho del ratn y seleccione A A D I R


ZONAS COPIADAS.

10.Defina la zona y el bucle de la falta para la zona 1 L-L:


-

Defina el "Bucle de falta" de la primera zona como "L-L" (2).


Al hacer clic en el campo, aparece un men desplegable en el que se
puede seleccionar "L-L".

Defina, como nombre de la primera "Zona", "Z1" (3), haciendo clic en el


campo y utilizando el men desplegable.

11.Repita para Z1 L-N, Z2 L-L, Z2 L-N, Z3 L-L, y Z3 L-N.

42

Advanced Distance

12.Para cada zona:


-

Edite los ajustes de R y X para el segundo, tercer y cuarto elemento de


lnea (Repita los pasos 5 a 7).

Especifique el correspondiente tiempo de disparo de cada zona (4).

13.Introduzca la zona de arranque aadiendo una "Nueva" zona:


-

Seleccione el "Tipo" como "Arranque".

Defina el "Bucle de falta" como "L-L".

Defina la "Zona" como "ZS1".

Defina un tiempo de disparo de 3 s.

14.Edite la caracterstica:
-

Lnea 1: R = 0; X = -2,5; ngulo = 0.

Lnea 2: R = 6; X = 0; ngulo = 90.

Lnea 3: R = 0; X = 12; ngulo = 0.

Lnea 4: R = -6; X = 0; ngulo = 90.

15.Copie esta zona y los ajustes corregidos para el elemento L-N:


-

Bucle de falta = "L-N".

Zona = "ZS1"

Lnea 2: R = 12; X = 0; ngulo = 90.

Lnea 4: R = -12; X = 0; ngulo = 90.

43

OMICRON Test Universe

Figura 3-9:
Pgina estndar de los
ajustes de zona.
Introducidos todos los
ajustes de zona

3.2.4

Configuracin del hardware


Especifique la configuracin del hardware de acuerdo con el cableado descrito
en la seccin 3.2.1 Cableado entre el rel de proteccin y la unidad CMC.
Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Configuracin del
hardware en la seccin 4 Configuracin del hardware de prueba del manual
"El concepto" o en la ayuda en lnea, en la entrada --- Configuracin
del hardware --- del ndice.

44

Advanced Distance

3.2.5

Definicin de la prueba
Paso 1: Insercin de un mdulo de prueba Advanced Distance
en el documento de prueba
Coloque el cursor en el documento de prueba donde se tiene que insertar el
mdulo Advanced Distance (p. ej., entre la configuracin del hardware y la
conclusin de la prueba).
1. Haga clic en el icono A D V A N C E D D I S T A N C E de la barra de herramientas
de los mdulos de prueba, o bien
2. seleccione I N S E R T A R | M D U L O
Advanced Distance".

DE PRUEBA

y despus "OMICRON

Paso 2: Definicin de las condiciones del trigger


1. Haga clic en la ficha Trigger de la vista Prueba de Advanced Distance.
2. Compruebe que la condicin del trigger para la seal de "Disparo" est
ajustada en "1".
Tenga en cuenta que estn activas slo las entradas binarias, tal como se
ha seleccionado en la configuracin del hardware.
Nota: Si se prueba el rel con un esquema de disparo monopolar, se deben
registrar las seales de disparo selectivas de la fase, en cada una de ellas
(es decir, Disparo A, Disparo B y Disparo C). En este caso, asegrese de
que la condicin del trigger para cada seal de disparo este ajustada en "1"
y que la lgica del trigger est ajustada en "OR".
Figura 3-10:
Definicin de las
condiciones del trigger

45

OMICRON Test Universe

Paso 3: Definicin de los ajustes de la prueba


Figura 3-11:
Pgina de ajustes de
la prueba

1. Especifique el modelo de prueba "Corriente de prueba constante" con una


corriente de prueba de 2A. Consulte la ayuda en lnea para obtener
informacin ms detallada sobre los modelos de prueba disponibles.
2. Especifique el modo de inicializacin de la falta como "aleatorio",
desactivando "Componente CC". Consulte una vez ms la ayuda en lnea
para obtener informacin ms detallada sobre esta funcin.
3. Especifique los tiempos de prueba:

46

Pre-falta = 0,5 s

Tiempo de falta mx. = 4 s


Asegrese de que el tiempo de falta mximo est ajustado a un valor
mayor que el elemento de disparo ms lento del rel.

Post-falta = 0,1 s
Este ajuste podra tener que aumentarse en caso de rel
electromecnico, para permitir al rel una reposicin y enfriamiento
apropiados.

Advanced Distance

Paso 4: Definicin de una prueba de disparo


1. Haga clic en la ficha Prueba de disparo de la vista Prueba de Advanced
Distance.
Se pueden introducir disparos de falta individuales de uno de los
siguientes modos:
-

Numricamente como impedancia absoluta.


a) Introduzca la impedancia, ya sea en formato polar (|Z| y phi) o en
formato rectangular (R y X).
b) Haga clic en A A D I R para agregar un disparo a la lista de los
puntos de prueba del tipo de falta seleccionado o en A A D I R A . . .
para aadir el disparo en la seleccin de los tipos de falta.

(o) Numricamente y relativo al alcance de la zona.


a) Desactive la casilla de seleccin "Absoluta".
b) Seleccione la zona relativa para la cual debe especificarse la
impedancia, p. ej., Z1
c) Introduzca el porcentaje del alcance de zona requerido, p. ej., 90%.
d) Haga clic en A A D I R o en A A D I R

A....

(o) Grficamente en el plano de impedancia.


a) Seale con el ratn la impedancia requerida.
b) Pulse <Ctrl> y haga clic con el botn izquierdo del ratn (o con el
botn derecho y seleccione A A D I R D I S P A R O ) para aadir este
disparo a la lista de los puntos de prueba.
c) Pulse <Mays> y haga clic con el botn izquierdo del ratn (o con
el botn derecho y seleccione E J E C U T A R D I S P A R O ) para
ejecutar inmediatamente un disparo individual.

2. Especifique el ngulo de lnea (60) para Phi.


3. Desactive "Absoluta".
4. Seleccione Z 1 en el men desplegable "Zona".
5. Especifique la impedancia relativa requerida (50%).
6. Haga clic en A A D I R

A....

7. Seleccione "Todo".
8. Haga clic en A C E P T A R .
Nota: El color de las fichas de la falta, en la parte inferior de la tabla de
puntos de prueba, indica que los puntos de prueba se han aadido a cada
bucle de falta, por eso todas estn sombreadas en gris.

47

OMICRON Test Universe

9. Repita para el 75% de zona 2 y 3.


El ancho de la columna de la tabla del punto de prueba se puede ajustar
arrastrando la barra divisoria en el encabezado de la columna.
Figura 3-12:
Vista de la prueba de
disparo

48

Advanced Distance

Paso 5: Definicin de una prueba de verificacin


1. Haga clic en la ficha Prueba de verificacin de la vista Prueba de Advanced
Distance. Una lnea de verificacin consiste en el punto de origen, un ngulo
de prueba y en la longitud de una lnea de prueba. Esto puede definirse de
una de las siguientes formas:
Numricamente como impedancia absoluta.
a) Introduzca la impedancia del punto de origen , ya sea en formato polar
(|Z| y phi) o en formato rectangular (R y X).
b) Introduzca el ngulo de prueba.
c) Introduzca la longitud de la lnea de prueba en . La longitud de la
lnea de prueba se puede especificar tambin relativamente a un
alcance de zona desactivando la opcin "Absoluta", p. ej. 120% de la
zona de arranque.
d) Haga clic en A A D I R o en A A D I R

A....

(o) Grficamente en el plano de impedancia.


a) Seale con el ratn la impedancia para el punto de origen.
b) Para aadir una lnea de prueba a la lista de prueba, pulse <Ctrl>,
pulse el botn izquierdo del ratn, y arrastre una lnea de prueba con
el ngulo y la longitud correspondientes.
c) Para ejecutar una prueba de verificacin individual, pulse <Mays>,
haga clic con el botn izquierdo del ratn y arrastre una lnea de
prueba con el ngulo y la longitud correspondientes. La prueba
comienza tan pronto como se suelta el botn izquierdo del ratn.
2. Introduzca 0 para el punto de origen.
3. Introduzca 90 para el ngulo de la lnea de verificacin.
4. Desactive "Absoluta".
5. Seleccione 120% de la zona ZS1.
6. Haga clic en A A D I R

A....

7. Seleccione "Todo".
8. Haga clic en A C E P T A R .
9. Repita para un ngulo de la lnea de verificacin de 0.
Nota: El programa coloca automticamente los disparos en ambos lmites
de la tolerancia del alcance, el inferior y el superior. Si estos dos disparos
son correctos, la prueba de verificacin es correcta, porque se puede dar por
hecho que el alcance est en algn lugar dentro de los lmites de la
tolerancia.

49

OMICRON Test Universe

Se puede especificar una secuencia de lneas de prueba en pasos de ngulo


de prueba uniformes, p. ej., desde 0 hasta 90 en pasos de 30, haciendo
clic en el botn S E C U E N C I A . . . .
Figura 3-13:
Vista de la prueba de
verificacin

Paso 6: Definicin de una prueba de bsqueda


1. Haga clic en la ficha Prueba de bsqueda de la vista Prueba de Advanced
Distance.
La definicin de las lneas de prueba para una prueba de bsqueda se
realiza exactamente de la misma forma que para una prueba de verificacin.
La nica diferencia est en el modo en que se realiza la prueba real y se
presentan los resultados. En una prueba de bsqueda, el programa busca el
borde exacto entre dos zonas aplicando un algoritmo de biseccin
modificado que arranca desde el alcance terico y se mueve hacia el
exterior.
2. Introduzca 0 para el punto de origen.
3. Introduzca el ngulo de la lnea (60) como un ngulo de la lnea de
bsqueda.
4. Desactive la opcin "Absoluta".

50

Advanced Distance

5. Seleccione 120% de la zona ZS1.


6. Haga clic en A A D I R

A....

7. Seleccione "A-N" y "B-C".


8. Haga clic en A C E P T A R .
9. Haga clic en la ficha Ajustes.
10.Verifique los ajustes para la "Resolucin de bsqueda".
La resolucin de bsqueda es la exactitud con la cual se determina un
alcance. Se puede introducir como valor relativo o como valor absoluto. La
prueba finaliza tan pronto como dos puntos de prueba vecinos, en diferentes
zonas, se separen a menos que cualquiera de estos dos ajustes.
Nota: Esta prueba ejecuta un nmero significativo de disparos de prueba en
el rel. Esto puede esforzar el rel innecesariamente, especialmente en el
caso de rels electromecnicos. Tenga cuidado de no especificar
demasiadas lneas de bsqueda.
Figura 3-14:
Vista de la prueba de
bsqueda

51

OMICRON Test Universe

3.2.6

Ejecucin de la prueba
Es posible realizar una prueba slo si no hay resultados presentes. En caso
necesario, borre los resultados haciendo clic en el icono de la barra de
herramientas o seleccionando P R U E B A | B O R R A R .
Seleccione P R U E B A | C O M E N Z A R / C O N T I N U A R o haga clic en el icono de

la barra de herramientas correspondiente.


La prueba se puede ejecutar tambin desde el Control Center haciendo clic en
el icono de inicio en el OCC o seleccionando P R U E B A | C O M E N Z A R .
De este modo se ejecutan todas las pruebas de disparo, verificacin y
bsqueda especificadas consecutivamente.
Los resultados de la prueba se muestran en trminos del tiempo de disparo real
(columna "treal") y una evaluacin. La evaluacin establece si la prueba se
ajust a los lmites especificados de la tolerancia (columna "Estado").

3.2.7

Definicin del formato del informe


Seleccione P A R M E T R O S | I N F O R M E . Se abrir un cuadro de dilogo en el
que puede definir el rango de aplicacin del informe.
Encontrar una descripcin detallada sobre la definicin de los informes de las
pruebas en la seccin 5.2 Informes de prueba del manual "El concepto" o en
la ayuda en lnea en la entrada --- Informes de prueba --- del ndice.
Seleccione V E R | I N F O R M E para ver el informe de la prueba.

52

Advanced Distance

3.2.8

Ver | Opciones
Adems del plano de impedancia (o vista R/X) de la vista Prueba, en Advanced
Distance estn disponibles las vistas siguientes:

Diagrama Z/t
En esta vista, se traza el tiempo de disparo vs. la impedancia por medio de
cualquier lnea de prueba especificada. Se puede ver claramente la
caracterstica graduada y escalonada del tiempo del rel. Se pueden identificar
tambin la impedancia y las bandas de la tolerancia de tiempo.
Las pruebas se pueden ejecutar desde esta vista grficamente de la misma
forma que para una prueba de disparo.
Figura 3-15:
Diagrama Z/t

53

OMICRON Test Universe

Monitor VI (magnitudes de fase naturales)


Esta vista representa las tensiones y las corrientes calculadas e inyectadas
para un punto de prueba especfico. Esta vista es de "slo lectura". Los valores
visualizados no pueden editarse.
Figura 3-16:
Monitor V/I (natural)

Monitor VI (Componentes simtricas)


Esta vista representa las componentes simtricas para la tensin y la corriente
de la fase A para los puntos de prueba especificados. Esta vista tambin es de
"slo lectura".
Figura 3-17:
Monitor V/I
(Componentes
simtricas)

54

Advanced Distance

Oscilografa
Esta vista representa el trazado de las magnitudes de tensin y corriente vs. el
tiempo.
Esta opcin est disponible slo despus de que se ha ejecutado una prueba.
La representacin de la oscilografa se puede ampliar/reducir con zoom y las
seales / diagramas mostrados se pueden desactivar mediante la hoja de
propiedades (haga clic con el botn derecho del ratn en cualquier parte de la
ventana de Oscilografa). Para obtener ms informacin sobre estas opciones,
consulte el ejemplo del mdulo Advanced TransPlay.
Figura 3-18:
Oscilografa

55

OMICRON Test Universe

56

Advanced Distance

3.3 Ejemplo de uso de CB Configuration con el


mdulo Advanced Distance

Tarea

Solucin

Un rel de distancia precisa el estado del interruptor de potencia para funcionar


correctamente.

La unidad de prueba CMC 256 ofrece una simulacin del IP que emula la accin
de los contactos auxiliares (52a / 52b) de un interruptor de potencia durante los
procesos de disparo y cierre.
El mdulo de prueba CB Configuration se usa para configurar los parmetros y
el modo de operacin para esta simulacin del IP. Est destinado para pruebas
de proteccin en las que determinados rels necesitan retroalimentacin desde
un interruptor de potencia para que la funcin de proteccin acte debidamente.
El mdulo de prueba Advanced Distance sirve para probar la funcin de medida
de la impedancia de los rels de distancia. Este mdulo modela la lnea de
transmisin protegida por un rel de distancia. Se recomienda utilizar este
mdulo para probar la funcin de distancia. Es posible realizar una prueba
manual de esta funcin, pero puede resultar una tarea muy laboriosa y que lleva
mucho tiempo.
Se pueden colocar disparos individuales de falta en cualquier lugar en el plano
de impedancia con un disparo individual. La prueba de verificacin coloca
disparos en los lmites de tolerancia de la impedancia de cada zona, para
verificar que el alcance est dentro de estos lmites de tolerancia. Se puede
determinar el alcance exacto con la prueba de bsqueda.
Dado que se tiene que llevar a cabo una prueba automtica, use el OMICRON
Control Center, de manera tal que la prueba se pueda integrar despus con las
pruebas para todas las funciones auxiliares de un rel de distancia (p. ej., falta
en el fusible [o LOP], Cierre manual [o SOTF], Recierre automtico, Deteccin
de la variacin de la potencia, etc.).
El mdulo Advanced Distance se puede tambin usar de modo autnomo.

57

OMICRON Test Universe

3.3.1

Cableado entre el rel y la unidad CMC


1. Conecte las entradas de tensin del rel a las correspondientes salidas de
tensin de la unidad CMC.
2. Conecte las entradas de corriente del rel a las correspondientes salidas de
corriente de la unidad CMC. Asegrese de que las "salidas" de corriente del
rel (es decir, el lado de salida de los transformadores de corriente) estn
conectadas juntas en el punto de estrella.
3. Conecte la seal de disparo del rel a la entrada binaria 1 y la seal de cierre
del Close Control Switch (Interruptor de control de cierre) del panel de
proteccin a la entrada binaria 2 de la unidad CMC.

3.3.2

Inicio del OMICRON Control Center


Inicie el OMICRON Control Center desde la Start Page haciendo clic en A B R I R
UN DOCUMENTO VACO.

3.3.3

Configuracin del equipo en prueba


Para la configuracin del rel en prueba, se utiliza la funcin de software
correspondiente de Equipo en prueba. Abra Equipo en prueba con la opcin
del men desplegable I N S E R T A R | E Q U I P O E N P R U E B A . Tambin se
puede hacer clic en el icono Equipo en prueba de la barra de herramientas. En
el cuadro de dilogo Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar
los parmetros del equipo en prueba.
Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la seccin
3 Configuracin del equipo en prueba del manual "El concepto" o en la ayuda
en lnea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del ndice.
Importe un archivo RIO o XRIO ya existente seleccionando A R C H I V O |
I M P O R T A R , o aada la funcin "Distance" del equipo en prueba y defina los
parmetros especficos de la proteccin de distancia como se explica
detalladamente en Paso 1: Definicin de los parmetros de la proteccin de
distancia en la pgina 38 de este manual.

3.3.4

Configuracin del hardware


Especifique la configuracin del hardware de acuerdo con el cableado descrito
en la seccin 3.3.1 Cableado entre el rel y la unidad CMC.
Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Configuracin del
hardware en la seccin 4 Configuracin del hardware de prueba del manual
"El concepto" o en la ayuda en lnea, en la entrada --- Configuracin
del hardware --- del ndice.

58

Advanced Distance

3.3.5

Insercin del mdulo CB Configuration


1. Haga clic en el icono C B C O N F I G U R A T I O N de la barra de herramientas
de los mdulos de prueba, o bien
2. seleccione I N S E R T A R | M D U L O
CB Configuration".

DE PRUEBA

y despus "OMICRON

Definicin de las entradas y salidas binarias para la


simulacin del IP
1. Seleccione P A R M E T R O S | C O N F I G U R A C I N
mdulo CB Configuration.

DEL HARDWARE

en el

2. Para la configuracin del IP, deben asignarse un 'disparo' y 'CMD cerrar' a


las entradas binarias. Para este ejemplo, el 'Disparo' se conectar a la salida
de disparo del rel de distancia y 'CMD cerrar' al interruptor de control de
cierre del panel de proteccin - Figura 3-19.
3. Asimismo, las salidas binarias deben estar vinculadas para suministrar al
rel de distancia del estado del IP - Figura 3-20.
Figura 3-19:
Entradas binarias

Figura 3-20:
Salidas binarias

59

OMICRON Test Universe

Definicin del estado del IP


1. Haga clic en la vista "Prueba".
2. Seleccione el "Estado inicial" del interruptor de potencia (IP). Si se ha
seleccionado "Cerrado" se simular el IP como cerrado por medio de las
salidas binarias configuradas en cuando se ejecute el mdulo y lo mismo si
se selecciona "Abierto".
3. Seleccione "Simulacin activa".
4. El IP se puede ajustar para que vuelva al "Estado inicial" tras un perodo
establecido; esto resulta til cuando no se dispone de "CMD cerrar".
5. Para editar el retardo de "Disparo" y "Cerrar", seleccione
P A R M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A , haga clic en "Simulacin del
interruptor" y edite los tiempos en los campos que aparecen. Para obtener
ms informacin, consulte la ayuda en lnea.
6. El mdulo ya se puede cerrar, seleccionando A R C H I V O | E X I T &
R E T U R N T O * . O C C (Salir y volver a *.occ).
Figura 3-21:
Vista Prueba de
CB Configuration

60

Advanced Distance

3.3.6

Insercin del mdulo Advanced Distance


1. Haga clic en el icono A D V A N C E D D I S T A N C E de la barra de herramientas
de los mdulos de prueba
o
2. seleccione I N S E R T A R | M D U L O
Advanced Distance.

DE PRUEBA

y despus OMICRON

3. Aada un disparo como se explica en la seccin Paso 4: Definicin de una


prueba de disparo en la pgina 47 de este manual.
4. Cierre el mdulo y vuelva al documento del Control Center.
5. Ejecute el procedimiento de prueba completo seleccionando el botn
"Prueba total". El mdulo de prueba CB Configuration ajustar la simulacin
del IP.
6. Efecte a continuacin la prueba de disparo definida en el mdulo Advance
Distance.
Figura 3-22:
Documento del OCC

61

OMICRON Test Universe

3.3.7

Visualizacin de los resultados


1. Seleccione la Oscilografa en el mdulo Advance Distance.
2. Se puede determinar el cambio de estado del IP por medio de los cursores.
El interruptor se abri despus de que se recibi el disparo del rel de
distancia, Figura 3-23 (1), y se cerr otra vez despus de que se recibi el
CMD cerrar, Figura 3-23 (2).

Figura 3-23:
Oscilografa

62

Advanced Differential

4 Advanced Differential
El software Advanced Differential es un conjunto de mdulos de prueba para
probar rels de proteccin diferencial. Se han creado mdulos de prueba
especficos para probar caractersticas de un rel diferencial: Diff Configuration,
Diff Operating Characteristic, Diff Trip Time y Diff Harmonic Restraint.
Los mdulos del grupo de programas de Advanced Differential se usan
normalmente en el OMICRON Control Center (OCC). Los mdulos de prueba
estn incrustados como objetos en el documento de prueba del OCC.

Rel

El documento de prueba del OCC permite controlar mltiples mdulos de


prueba juntos probando secuencialmente las funciones de proteccin elegidas.
Por ejemplo, se pueden controlar globalmente todos los ajustes comunes para
un dispositivo especfico y no es necesario introducirlos para cada mdulo de
prueba sucesivo.
El documento de prueba del OCC proporciona los resultados de prueba y el
formato de los datos que se incluirn en el informe de prueba. Esto permite la
creacin de un informe personalizado que incluye los datos de prueba, los
grficos, los campos de texto y el texto editable por el usuario.
Una vez finalizado el documento de prueba, el OCC procesar las pruebas
incrustadas y se incluirn los resultados en el informe automticamente.
El documento de prueba proporciona dos funciones:

Las especificaciones de la prueba o protocolo, y

el formato del informe.

63

OMICRON Test Universe

Todos los datos de prueba se capturan y se conservan de manera tal que se


pueda cambiar el formato del informe fcilmente, guardarlo y reutilizarlo en
cualquier momento, con lo que se consigue que queden disponibles a partir del
mismo documento informes detallados y resumidos.

4.1 Descripcin general


Todos los mdulos diferenciales tienen un interfaz del usuario similar; se
pueden aprender a manejar fcilmente, una vez que se haya estudiado uno de
los mdulos. Todos los mdulos diferenciales usan el mismo cuadro de dilogo
para el ajuste de los parmetros del dispositivo de proteccin, el equipo
protegido y otros ajustes relevantes del sistema. Los datos de los ajustes se
administran globalmente y estn disponibles en cada uno de los mdulos de
prueba.
Los mdulos de prueba difieren unos de otros en los tipos de caractersticas que
se prueban con cada uno de los mdulos.

Configuracin

Caracterstica de operacin

Caracterstica del Tiempo de disparo

Frenado por armnicos

Los mdulos de prueba de Advanced Differential con rels


multifuncionales
Es posible utilizar los mdulos de prueba de Advanced Differential tambin con
rels multifuncionales que, adems de una funcin de proteccin diferencial,
proporcionan proteccin en sobretensin, baja tensin o baja frecuencia, por
ejemplo.
Con el fin de evitar que dicha funcin de proteccin detecte una falta y dispare,
los mdulos de prueba de Advanced Protection son capaces no slo de emitir
corrientes al rel, sino tambin una serie de tensiones sanas. Para ello, estn
disponibles salidas analgicas opcionales. Las tensiones se aplican a estas
salidas analgicas durante el tiempo de pre-falta y de falta y despus se
desactivan. Durante el tiempo de post-falta, no se emiten tensiones.
El hecho de que se vayan a emitir tensiones o no y, en caso afirmativo, qu
parmetro de la fase se aplicar a las tensiones puede seleccionarse en el
mdulo de prueba respectivo. El mdulo de prueba aplica una serie equilibrada
de tensiones nominales con frecuencia nominal a las salidas analgicas.

64

Advanced Differential

4.1.1

El mdulo Diff Configuration


Los otros mdulos diferenciales prueban principalmente casos de faltas dentro
de la zona protegida. El mdulo de prueba Diff Configuration prueba el
comportamiento normal ideal. Los ajustes del equipo protegido y la eliminacin
del homopolar se prueban con faltas fuera de la zona protegida. El proyecto
completo de la proteccin diferencial se puede probar para sistemas
diferenciales convencionales.
El mdulo Diff Configuration sirve principalmente para poner en servicio
sistemas diferenciales de proteccin, o para encontrar una falta de la
configuracin, o del cableado. Con este mdulo se pueden detectar todos los
problemas de cableado que estn ubicados en el bastidor de proteccin
(incluyendo los transformadores interpuestos). Esto tambin es de aplicacin
para la configuracin de rels digitales o sus conexiones diferenciales.
El mdulo Diff Configuration prueba:

4.1.2

El cableado secundario y los transformadores interpuestos (rels


electromecnicos y de diseo electrnico)

El ajuste correcto de los parmetros de los rels digitales (especificacin del


equipo protegido)

La eliminacin del homopolar en la falta a tierra "fuera" de la zona protegida.

El mdulo Diff Operating Characteristic


El mdulo de prueba Diff Operating Characteristic verifica la curva o
caracterstica de operacin del rel diferencial y prueba la capacidad del rel
para diferenciar entre faltas que ocurren dentro y fuera de la zona protegida.
Este mdulo de prueba ofrece dos posibilidades de prueba:
Prueba de disparo

prueba con disparos especficos en el plano Idiff / Ipol


para verificar las tolerancias definidas por el
fabricante.

Prueba de bsqueda

una prueba para la determinacin exacta de la forma


de la caracterstica y sus tolerancias.

Las corrientes que se van a inyectar en el rel se calculan en funcin de unpar


ldiff / Ipol del plano ldiff / lpol, en el que los ajustes del rel o el fabricante del rel
especifican la curva de caracterstica de operacin.
Despus se inyectan las corrientes correspondientes a distintas condiciones de
operacin, por ejemplo saturacin del TC, corrientes magnetizantes, relacin de
devanado desequilibrada debido a la posicin del cambiador de tomas, etc., y
se prueba si la reaccin del rel es la correcta, si se dispara o no se dispara.

65

OMICRON Test Universe

4.1.3

El mdulo Diff Trip Time


El mdulo de prueba Diff Trip Time Characteristic verifica si los tiempos de
disparo (velocidad) de la proteccin diferencial estn dentro de las bandas de
tolerancia.
Este mdulo de prueba mide el tiempo de disparo a lo largo de las lneas de
prueba en el plano de la curva de operacin. Se puede ejecutar la prueba para
todos los bucles de falta posibles. Para algunos rels, existe una corriente de
pre-falta que requiere la aplicacin de una corriente de pre-falta durante un
tiempo especificado.
Este mdulo de prueba ofrece la posibilidad de determinar automticamente el
tiempo de disparo de cualquier par de valores Idiff / Ipol definido, usando las
tolerancias del dispositivo de proteccin (para cada valor Idiff, el programa
averigua automticamente el valor correspondiente de Ipol utilizando la lnea de
prueba).

4.1.4

El mdulo Diff Harmonic Restraint


El mdulo de prueba Diff Harmonic Restraint verifica la correcta operacin de la
funcin de frenado por armnicos en el rel de proteccin. Se puede
seleccionar la armnica especificada con su magnitud en porcentaje, relativa a
la magnitud de la corriente nominal. Estos se pueden aplicar por fase o de
manera trifsica al devanado primario o de AT. Son posibles pruebas de
bsqueda y de disparo.
Se realiza la prueba como si fuese una prueba de disparo en los puntos
especificados o como las pruebas de bsqueda para determinar la
caracterstica real del frenado por armnicos.
El comportamiento del rel (disparo o estabilizacin) da la base para la
evaluacin.
Dado que se puede superponer una amplia variedad de armnicos a la corriente
fundamental, este mdulo es perfectamente compatible para verificar la funcin
de bloqueo por avalancha, as como el bloqueo por saturacin. El
desplazamiento de la fase inicial entre la onda fundamental y los armnicos se
puede variar para simular los distintos procesos de avalancha.

66

Advanced Differential

4.2 Ejemplo de uso de Advanced Differential


Archivo de muestra:
AdvDiff_SEL587.occ
Guardado en: ...Ruta de instalacin de OMICRON Test Universe\
Test Library\Samples\SW Manual Examples\Advanced Protection

Tarea
Un operador de pruebas tiene la tarea de realizar una prueba secundaria
durante la puesta en servicio de una proteccin diferencial de transformador
SEL 587 en la subestacin Centro de suministro de potencia de la corporacin
XYZ. Se trata de la proteccin principal del transformador que trabaja en el
compartimiento =T01, tal como se muestra en la figura siguiente .
Como equipamiento de prueba se dispone de la unidad de prueba CMC 156 y
del amplificador de corriente de 6 fases CMA 156 .
La puesta a tierra del transformador de corriente est en la direccin del equipo
protegido.

Rel
El punto de estrella del transformador del lado 13,8 kV est puesto a tierra con
una bobina de compensacin.

67

OMICRON Test Universe

Para nuestro ejemplo, se considerar un transformador de potencia tringuloestrella tpico. Este equipo protegido define la tarea de prueba cuando se
aplican el rel de proteccin y sus ajustes. Preste atencin durante la puesta a
punto de la prueba a los parmetros de ajuste individuales del fabricante del
rel. Estos detalles aseguran una prueba exitosa.
En el ejemplo se describe la prueba completa del secundario de la proteccin
diferencial del transformador, que usa todos los mdulos de prueba
diferenciales disponibles y un documento de prueba creado recientemente para
el OMICRON Control Center. Para realizar esta prueba en la realidad, se
requieren pequeas modificaciones a este procedimiento, pero las tcnicas
principales siguen siendo vlidas.

4.2.1

Qu se debe probar?
Cuando se hacen las pruebas de la puesta en servicio del secundario, es
necesario probar las siguientes funciones de la proteccin diferencial del
transformador.

Rel especfico de la subestacin o configuracin del sistema


de proteccin
El ajuste correcto del dispositivo de proteccin con respecto al equipo protegido,
as como el correcto diseo del circuito de proteccin diferencial (conexin del
transformador interpuesto, las relaciones de transformacin y el cableado) son
esenciales para el funcionamiento correcto de la proteccin diferencial del
transformador.
De igual importancia es el comportamiento del sistema de proteccin para faltas
a tierra fuera de la zona protegida. El manejo correcto de la corriente homopolar
tiene que ser verificado por el rel basndose en la puesta a tierra real del
equipo protegido.
Use el mdulo de prueba Diff Configuration.

Parmetros de la caracterstica de operacin


La caracterstica de operacin del rel es una funcin de la corriente diferencial
y de la corriente de frenado. Usar nicamente corriente diferencial es
insuficiente para asegurar un correcto funcionamiento, considerando las
corrientes diferenciales inherentes que estn presentes en las condiciones
normales de funcionamiento (figura 4-1).

68

Advanced Differential

Figura 4-1:
Fondo de la curva de la
caracterstica de
operacin.
La caracterstica de
operacin que se ajusta
en el rel diferencial
debe quedar por arriba
de la caracterstica de la
sumatoria de la
diferencial operacional.

I_Diff / I_N
3
M agnet izat ion
Load t ap changer
Int erposing transf ormer
Dif f _sum
charact eristic
2

Tripping range
Blocking range
1

0
0

I_Bias / I_N

El rango medido de interrupcin tiene que tomarse en cuenta para la prueba de


manera apropiada.
Use el mdulo de prueba Diff Operating Characteristic.

Tiempos de disparo
Es necesario contar en todos los casos con la documentacin y las pruebas de
los tiempos de disparo de la proteccin diferencial, que est operando, as como
de la proteccin principal del transformador.
Use el mdulo de prueba Diff Trip Time Characteristic.

69

OMICRON Test Universe

Frenado por avalancha y estabilizacin contra


sobreexcitacin
La avalancha del transformador puede producir una corriente de hasta 10 veces
la corriente nominal del transformador dependiendo de la clase de potencia, del
tipo de construccin del transformador (forma del ncleo y laminado del
ncleo), as como de la amplitud del par de arranque y del flujo permanente.
Dado que esta corriente de avalancha est presente slo en un lado del
transformador, el valor Idiff/Ipol del punto en proceso est dentro del rea de
disparo. Es necesario bloquear el disparo de la proteccin diferencial para esta
condicin de operacin. Un anlisis de la corriente de avalancha mostrar las
corrientes armnicas, donde el segundo armnico es el dominante (consulte la
figura 4-2).
Figura 4-2:
Evento de avalancha
registrado desde un rel
de proteccin numrico

7UT512

A/L1

Seminario 2
Proteccin transf.

Persona de la
prueba
110KV
2devanados Y

B/L2

Nyn0 25MVA
12,2

Valores finales
1.000 V
3.200 A

C/L3
0

50

200

350

500

Use el mdulo de prueba Diff Harmonic Restraint.

4.2.2

Cableado entre el rel y la unidad CMC/CMA


1. Las salidas de corriente de la unidad CMC 156 (3 x 12,5 A) que se usan para
las corrientes primarias estn adscritas a los terminales 101, 103 y 106.
2. Las salidas de corriente del CMA 156 (3 x 25 A) que se usan para las
corrientes secundarias estn adscritas a los terminales 107, 109 y 111.
3. El comando de desconexin del rel est adscrito a la entrada binaria 1 de
la unidad CMC 156.

70

Advanced Differential

4.2.3

Inicio de Diff Harmonic Restraint desde el OCC


Inicie el OMICRON Control Center desde la Start Page haciendo clic en A B R I R
U N D O C U M E N T O V A C O . Inserte Diff Harmonic Restraint en el documento
del OCC seleccionando la opcin de men I N S E R T A R | M D U L O D E
PRUEBA... | OMICRON DIFF HARMONIC RESTRAINT.

4.2.4

Configuracin del equipo en prueba


Para la configuracin del rel en prueba, se utiliza la funcin de software
correspondiente de Equipo en prueba. Abra Equipo en prueba con la opcin
del men desplegable P A R M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A . Tambin se
puede hacer clic en el icono Equipo en prueba de la barra de herramientas. En
el cuadro de dilogo Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar
los parmetros del equipo en prueba.
Encontrar una descripcin detallada de Equipo en prueba y del tema
estrechamente relacionado "XRIO" en la seccin
3 Configuracin del equipo en prueba del manual "El concepto".
En este ejemplo queremos importar de un archivo los parmetros del equipo en
prueba.

Paso 1: Insercin del equipo en prueba y definicin de los


ajustes del dispositivo
1. En el OCC, seleccione I N S E R T A R | E Q U I P O E N P R U E B A para abrir el
cuadro de dilogo de datos especficos del equipo en prueba.
2. En Equipo en prueba, seleccione A R C H I V O | I M P O R T A R e importe el
archivo Schweitzer SEL 587_Getting Results Example.rio. De
este modo se cargan los parmetros del dispositivo de proteccin.
Este archivo .rio est guardado en ...ruta de instalacin de OMICRON Test
Universe\Test Library\Test Objects_XRIO\Schweitzer.
3. Verifique/especifique los ajustes del dispositivo.
4. Verifique/defina los parmetros de proteccin diferencial como se indica en
los siguientes pasos 2 a 6.

71

OMICRON Test Universe

Paso 2: Definicin de los ajustes para el equipo protegido


La figura 4-3 muestra la pgina estndar del equipo protegido presente en el
cuadro de dilogo Parmetros de la proteccin diferencial.
En este ejemplo, el equipo protegido es un transformador.
Asegrese de que los parmetros para los devanados primario y secundario se
hayan introducido correctamente. En este caso, la puesta a tierra del punto de
estrella del primario es "no", mientras que para el secundario es "si", tal como
se muestra en la figura 4-3.
Figura 4-3:
Pgina Equipo
protegido del cuadro
de dilogo Parmetros
de la proteccin
diferencial.

Se puede cambiar el nombre de los devanados para proporcionar una


designacin ms significativa.
El punto de estrella a tierra es importante para la distribucin de la corriente para
un error de puesta a tierra monopolar (figura 4-4).
El ajuste Grupo vectorial se usa para la correccin de la fase de las corrientes
de la lnea a travs del equipo protegido. Estos datos se obtienen usualmente a
partir de la informacin de la placa de datos nominales de la cuba. Sin embargo,
puede ser que se use una terminologa diferente a la utilizada aqu.

72

Advanced Differential

Tabla 4-1:
Terminologa del Grupo
vectorial

Tipo de equipo

Ajuste

Referencia del fasor

AT

BT

AT

BT

AT

BT

D 0

Y 0

Y0

D 0

Y 30

Y1

Retardo
de 30

D 0

Y330

Y 11

Adelanto
de 30

La seleccin del tipo de falta monofsica en un mdulo de prueba no significa


que se haya simulado correctamente una corriente a tierra (corriente
homopolar). En efecto, aqu el parmetro de la puesta a tierra del punto de
estrella es crtico. Esto significa, que la corriente homopolar puede fluir en un
devanado solamente si el punto de estrella est efectivamente puesto a tierra
en:

lado de falta seleccionado para el mdulo Diff Configuration

lado de referencia de Diff Operating Characteristic, o del mdulo Diff Trip


Time.

Figura 4-4:
Error de polo individual
y distribucin de
corriente con un punto
de estrella puesto a
tierra.
Prueba con corriente
homopolar.

Figura 4-5:
Error de polo individual
y distribucin de
corriente con un punto
de estrella no puesto a
tierra (aislado).
Prueba sin corriente
homopolar.

En el segundo caso, se supone que la corriente homopolar viene desde el otro


lado, lo que significa que el circuito est puesto a tierra en el otro punto.

73

OMICRON Test Universe

Paso 3: Definicin de los ajustes para los transformadores de


corriente
La figura 4-6 muestra la pgina estndar del TC presente en el cuadro de
dilogo Parmetros de la proteccin diferencial.
En este ejemplo, los transformadores de corriente (TC) reducen la corriente de
transformador hasta un nivel admisible para el rel.
Figura 4-6:
Pgina TC
(transformador de
corriente) del cuadro de
dilogo Parmetros de
la proteccin
diferencial

Si se selecciona la opcin para Utilizar entradas de medida de corriente de


tierra, se simula la corriente homopolar de cada devanado en la salida de
corriente configurada.
Introduzca los valores nominales del transformador de corriente a tierra; si este
est conectado al rel, la corriente homopolar se mide desde el rel diferencial
y se usa para el clculo.
Nota: Un punto estrella del transformador tiene que ponerse a tierra, con objeto
de activar la casilla para la entrada de la medida de la corriente de puesta a
tierra.

74

Advanced Differential

Paso 4: Definicin de los ajustes para el dispositivo de


proteccin
La figura 4-7 muestra la pgina Dispositivo de proteccin del cuadro de dilogo
Parmetros de la proteccin diferencial. Introduzca los ajustes apropiados
basndose en la figura 4-7.
La tabla siguiente contiene los ajustes requeridos para el dispositivo de
proteccin diferencial.
Tabla 4-2:
Parmetros para el
dispositivo de
proteccin

Parmetro

Valor

Descripcin

Idiff>

0,30 IN

Idiff valor mnimo de


arranque

Idiff>>

3,0 IN

Idiff valor instantneo de


arranque

Primer segmento del


elemento de la
caracterstica

Idiff = Idiff>

Caracterstica de
operacin

Segundo segmento
del elemento de la
caracterstica

Idiff / Ipol = 25%

Caracterstica de
operacin

Punto de
inflexin = 2,0 Ipol

Tercer segmento del


elemento de la
caracterstica

Idiff / Ipol = 50%

Caracterstica de
operacin

Devanado de ref.

Devanado 1 del
dispositivo de
proteccin (aqu lado
de AT)

Devanado de referencia
paraclculo de
Idiff / Ipol

Normalizar usando

Corriente nominal del


equipo protegido

Valor de referencia para


las magnitudes de prueba
calculadas

Eliminacin de
homopolar

IL - I0

Mtodo de eliminacin del


homopolar

75

OMICRON Test Universe

Figura 4-7:
Pgina Dispositivo de
proteccin del cuadro
de dilogo Parmetros
de la proteccin
diferencial

Lista para el clculo de Ipol del


dispositivo de proteccin

Devanado de referencia es el devanado usado para el


clculo de la corriente de prueba del par Idiff e Ipol. Se usa
para probar la caracterstica de operacin y la caracterstica
del tiempo de disparo; la falta se encontrar siempre en
este lado.

Duracin mxima de las corrientes de prueba que se emiten, si el rel diferencial no


dispara. El Tiempo de disparo es el tiempo entre dos pasos automticos o disparos.

Devanado de ref.:
Las corrientes medidas por los rels diferenciales difieren en su valor absoluto
y en fase en el funcionamiento normal y no se pueden usar directamente para
el clculo de los valores de Idiff y de Ipol.
Por lo tanto, el rel de proteccin tiene que definir un devanado de referencia
para normalizar las corrientes al mismo desfase y eliminar la corriente
homopolar. Para que sea posible probar la caracterstica de operacin se tiene
que definir esta referencia en el mdulo de prueba.

76

Advanced Differential

En principio, el lado del transformador que se elige como lado de referencia no


ocasionara diferencias, pero la distribucin de la corriente en las fases
singulares, sus valores absolutos y los desplazamientos de fase son diferentes
para cada devanado de referencia para las faltas mono y bifsicas dependiendo
del grupo vectorial.
Figura 4-8:
Corrientes medidas con
la operacin nominal

Clculo de Ipol:
La magnitud de Ipol - denominada en ocasiones magnitud de estabilizacin o de
frenado se usa para compararla con la magnitud de Idiff y decidir los disparos.
El mtodo de clculo usado para esta magnitud Ipol debe determinarse en
funcin del fabricante del rel y no se puede ajustar arbitrariamente. Conocer
este ajuste es de importancia crtica para la prueba de la caracterstica de
operacin.
Nota:Actualmente se pueden probar slo rels que calculen los valores de Ipol
e Idiff a partir de las corrientes que estn compensadas por la corriente
homopolar y por el grupo vectorial.

77

OMICRON Test Universe

Tabla 4-3:
Mtodos de clculo
para las magnitudes
de frenado

Mtodo

Fabricante
Siemens K1 = 1,

( Ip + Is )
--------------------------K1

GEC, SEL K1 = 2
AEG K1 = 2

( Ip + Is )
--------------------K1

AEG tres devanados K1 = 3


rels convencionales K1 = 1

( Ip + Is K2 )
----------------------------------------K1

GE Multilin SR 745 K2 = 1
K1 = 2, tres devanados K1 = 3

Normalizar usando:
El valor absoluto (estandarizacin)) de las corrientes por comparar tiene lugar a
la corriente nominal del equipo protegido o a la corriente nominal del
transformador de corriente del devanado de mayor potencia (depende del
fabricante del rel).
InomInterposingTransformer
------------------------------------------------------------------------------InomTransformer

Nota: Estos parmetros son esenciales y tienen que determinarse a partir de


los datos del fabricante del rel, si no son conocidos. La especificacin arbitraria
de los mismos conduce a resultados indefinidos.
Figura 4-9:
Corrientes medidas
para la operacin
nominal de un
transformador con
devanado en tringulo

Los rels numricos miden directamente las corrientes de fase; la eliminacin


del homopolar, el valor absoluto y la compensacin del grupo vectorial son
realizados en el rel por medio de clculos.

78

Advanced Differential

Modelo de transformador:
El modelo de transformador representa la simulacin de la respuesta ideal del
transformador. Esto significa que se toman en consideracin el grupo vectorial,
los datos del transformador de corriente y su relacin de transformacin para el
clculo de las magnitudes de prueba. Por el momento la prueba slo se puede
realizar con rels que operan selectivamente por fase y con devanados de
frenado simtrico.
"Sin modelo de transformador" significa que no se usan estos parmetros. La
prueba corresponde entonces a la prueba tradicional de los rels
convencionales despus de los transformadores interpuestos.
Figura 4-10:
Conexin del
dispositivo de prueba al
rel diferencial
convencional con
devanado de frenado
simtrico y prueba con
modelo de
transformador
desactivado

Eliminacin de homopolar
Para transformadores con una configuracin tringulo-estrella puesta a tierra
(ya sea el devanado en tringulo el de potencia o de compensacin), una
corriente homopolar fluir en el devanado puesto a tierra en el caso de una falta
monofsica. Dado que esta corriente homopolar no circula en el devanado en
tringulo, las corrientes en el rel de proteccin tienen que ser compensadas o
corregidas por el desequilibrio causado por el desplazamiento del ngulo a
travs del transformador. La correccin del ngulo de fase se puede efectuar
por la interposicin de transformadores de corriente auxiliares (mtodo
tradicional) o con conexiones volantes fsicas dentro del rel, (algunos E/M y
rels estticos), o por clculos computacionales del rel. El mtodo utilizado
para la eliminacin de homopolar es crtico para la prueba. Por ello, es
necesario seleccionar el tipo de mtodo de Eliminacin de homopolar usado.
A continuacin se describen los aspectos esenciales de este ajuste:

79

OMICRON Test Universe

IL-I0 (Eliminacin por clculo computacional del homopolar)


Figura 4-11:
Eliminacin del
homopolar IL-I0, lado de
referencia = lado
primario (AT)
En el devanado primario
fluye una corriente
homopolar.
El lado secundario, que
se alimenta aqu, est
libre de la corriente
homopolar, porque la ha
eliminado el devanado
en tringulo.

Rel
Mtodo de clculo en el rel
Corriente de fase

I' L = I L I 0

Corriente homopolar:

( I L1 + I L2 + I L3 )
I 0 = ------------------------------------------3

De aqu, se obtienen las siguientes corrientes de fase calculadas I L para los


valores diferenciales:
primario (AT):

secundario (BT):

3
I LP = 0
0

I LS =

2
1
1

31
2
--> I' LP = 0 1 = 1
01
1

--> I' LS =

20
2
10 = 1
10
1

0
Id iff = I' LP + I' LS = 0
0

4
I sta b = I' LP + I' L S = 2
2

80

Advanced Differential

Nota: Como consecuencia del tipo de eliminacin del homopolar seleccionado,


el rel detecta ahora una magnitud de frenado en las 3 fases y es menos
sensitivo segn el factor 3/2 para la prueba de la caracterstica de operacin.
Transformador interpuesto YD:
(Eliminacin de homopolar por medio de un devanado en tringulo). Un
devanado en tringulo representa un cortocircuito para la corriente homopolar.
Esto significa, que si un devanado de este tipo est presente, ninguna corriente
homopolar fluir en el lado de alimentacin para una falta monofsica en el lado
puesto a tierra. La figura siguiente muestra, que el circuito del transformador
interpuesto con el devanado en tringulo realiza la eliminacin del homopolar.
Para los rels convencionales estos transformadores interpuestos estn
presentes como hardware; para los diferentes rels numricos, se simulan
mediante el software. Esta informacin tiene que tomarse de la documentacin
del rel o la determina el fabricante.
Figura 4-12:
Eliminacin de
homopolar por medio de
transformadores
interpuestos YD, lado
de referencia = lado
secundario (BT)
Los rels
convencionales se
conectan en el lado libre
del sistema homopolar,
varios rels numricos
calculan tambin las
corrientes diferencial y
de frenado con
referencia a este lado.
(Consulte el rectngulo
con lnea de puntos en
la figura.)

La caracterstica se introduce con lneas que tienen que derivarse de los


parmetros del rel.

81

OMICRON Test Universe

Paso 5: Definicin de las lneas caractersticas


La figura 4-13 muestra la pgina estndar de definicin de la caracterstica
presente en el cuadro de dilogo Parmetros de la proteccin diferencial.
Figura 4-13:
Pgina Definicin de la
caracterstica del
cuadro de dilogo
Parmetros de la
proteccin diferencial.
Los datos iniciales se
toman de los
parmetros generales
del rel.

1. Comience por la segunda lnea, porque las lneas Idiff = Idiff> = 0,30 (primera
lnea) e Idiff = Idiff>> 3,00 (ltima lnea) se aaden automticamente.
La segunda lnea tiene Idiff / Ipol = pendiente1 = 25% hasta la interseccin
con la tercera lnea. El punto de inflexin es Ipol = 2,0 (donde Ipol es la
corriente de frenado o estabilizacin).
Tabla 4-4:
Clculo del punto final
de la segunda lnea
(interseccin con la
tercera lnea):
Idiff2 = 0,25Ipol2
Idiff2 = 0,25 x 2,0
-> Idiff2 = 0,50

82

Punto inicial

Punto final

Idiff = 0

Idiff2 = 0,5

Ipol = 0

Ipol2 = 2,0

2. Haga clic en el botn A A D I R para colocar estos datos en la tabla de las


lneas definidas.

Advanced Differential

Tabla 4-5:
Clculo del punto final
de la tercera lnea
(la interseccin con
Idiff >>)

3. Introduzca la tercera lnea Idiff / Ipol = pendiente 2 = 50%. Es necesario


definir esta lnea en la interseccin de la lnea Idiff>> = 3,0.
Punto inicial

Punto final

Idiff2 = 0,50

Idiff3 =3,0

Ipol2 = 2,0

Ipol3 = 7,0

Idiff3 - Idiff2 / Ipol3 - Ipol2 = 0,5


3,0 - 0,5 / Ipol3 - 2,0 = 0,5
2,5 = 0,5 Ipol3 - 1,0
3,5 = 0,5 Ipol3
Ipol3 = 7,0
4. Haga clic en el botn A A D I R para colocar estos datos en la tabla de las
lneas definidas.
La definicin de la caracterstica tiene que verse de forma similar a la que se
presenta en la figura 4-14.
Figura 4-14:
Pgina Definicin de la
caracterstica del
cuadro de dilogo
Parmetros de la
proteccin diferencial
con dos lneas
definidas

83

OMICRON Test Universe

Paso 6: Definicin de los parmetros para el frenado por


armnicos
La figura 4-15 muestra la pgina estndar de los ajustes de armnicos presente
en el cuadro de dilogo Parmetros de la proteccin diferencial.
La introduccin de los ajustes del frenado por armnicos se hace directamente
como un porcentaje del armnico seleccionado u objetivo. Se pueden
seleccionar armnicos mltiples y configurar con sus ajustes y tolerancias
individuales.
Figura 4-15:
Ajustes de armnicos
del cuadro de dilogo
Parmetros de la
proteccin diferencial.

Seleccin y ajuste de
los armnicos.
Tolerancias admisibles

Los datos de Idiff se


proporcionan
automticamente
Ixf / Idiff = f(Idiff)
El grfico se actualiza
cuando se pulsa el
botn "Aadir".

1. Introduzca los ajustes de armnicos que figuran en la tabla 4-6.


Tabla 4-6:
Parmetros de frenado
por armnicos

84

Parmetro

Ajuste#1

Ajuste#2

Armnico

Segundo

Quinto

Frenado

15%

25%

Tol relativa

5%

5%

Tol absoluta

1%

1%

Retardo de tiempo

0,00s

0,00s

Advanced Differential

2. Haga clic en el botn A A D I R para colocar estos datos en la imagen para


los ajustes de los armnicos. Los datos de Idiff se proporcionan
automticamente a partir de los ajustes del Dispositivo de proteccin.

4.2.5

Configuracin del hardware


Configure el hardware de acuerdo con el cableado descrito en la seccin
4.2.2 Cableado entre el rel y la unidad CMC/CMA.
Puede consultarse una descripcin detallada de la Configuracin del
hardware en la seccin 4 Configuracin del hardware de prueba del manual
"El concepto".

4.2.6

Prueba de la configuracin del rel o del sistema de


proteccin
Esta prueba tiene como objetivo verificar los ajustes correctos del rel digital, o
del esquema de cableado de la proteccin diferencial, incluyendo los
transformadores interpuestos para los sistemas convencionales, tal como ellos
se relacionan con el equipo protegido real y con la eliminacin de la secuencia
cero o componente homopolar.

El mdulo de prueba Diff Configuration permite la simulacin de la respuesta


ideal del equipo protegido (transformador), con el objeto de verificar los ajustes
y la eliminacin de homopolar con las faltas fuera de la zona protegida. El
proyecto completo de proteccin diferencial se puede probar de esta manera
para los sistemas diferenciales convencionales. La prueba tiene que efectuarse
con faltas monofsicas en el(los) devanado(s) puesto(s) a tierra para un
transformador con un(os) punto(s) de estrella puesto(s) a tierra para probar el
manejo correcto de las corrientes homopolares.
Prueba de los ajustes correctos de la proteccin diferencial con una falta
externa A-N en el lado de baja tensin con una corriente de prueba de 1,0 In y
1,5 In (equipo protegido). En este caso especial, verifique la corriente diferencial
que tiene que ser cero. Introduzca el ttulo de la prueba "Prueba Diff
Configuration", los resultados de la prueba con ttulo y los valores medidos
Idiff e Ipol en forma tabular para la documentacin de las pruebas realizadas en
el documento de prueba.

85

OMICRON Test Universe

Paso 1: Incrustacin del mdulo de prueba en el documento


de prueba
1. Coloque el cursor en el documento de prueba despus del equipo de la
configuracin del hardware.
2. Seleccione I N S E R T A R | M D U L O
de la barra de herramientas.

DE PRUEBA

o haga clic en el icono

3. En el cuadro de dilogo que aparece, seleccione "OMICRON Diff


Configuration" y haga clic en A C E P T A R para iniciar el mdulo de prueba
(consulte la figura 4-16).
Figura 4-16:
Vista Prueba de Diff
Configuration

Paso 2: Definicin del informe de la prueba


Seleccione P A R M E T R O S | I N F O R M E . Se abrir un cuadro de dilogo en el
que puede definir el rango de aplicacin del informe.
En la seccin 5.2 Informes de prueba del manual "El concepto" encontrar una
descripcin detallada de la definicin de los informes de prueba.
Seleccione V E R | I N F O R M E para ver el informe de la prueba.

86

Advanced Differential

Paso 3: Introduccin de los datos de la prueba


1. En el mdulo de prueba Diff Configuration, seleccione la ficha General de la
vista Prueba de OMICRON Diff Configuration (consulte la figura 4-17).
2. Ubique la falta en el lado BT del transformador e introduzca 60 s como
tiempo de prueba. El tiempo de prueba no debiera ser demasiado corto, para
poder capturar las corrientes medidas de la pantalla del dispositivo de
proteccin o medirlas directamente, en el caso de los rels convencionales.
Figura 4-17:
Especificacin de la
ubicacin de la falta y el
tiempo de la prueba en
la ficha General.
Para transformadores
de tres devanados, el
tercer devanado puede
tener una corriente de
carga adems de la
falta externa deseada,
suministrando
corrientes a los tres
devanados al mismo
tiempo.

3. Seleccione la ficha Datos de prueba de la vista Prueba de OMICRON Diff


Configuration.
4. Verifique el tipo de falta A-N (L1-E) e introduzca la corriente de prueba,
Ipru = 1,0I/In.
5. La corriente de prueba Ipru se refiere a la corriente de la fase con falta del
lado de BT con su referencia calculada desde el devanado de AT. En este
ejemplo, corresponde a una corriente de lnea de la fase A en el lado de BT
con Ipru = 1048 A.
6. Haga clic en A A D I R para introducir Ipru en la lista de los puntos de prueba
y repita despus este paso para introducir la Ipru = 1,5 I/In, tal como se
muestra en la figura 4-18.

87

OMICRON Test Universe

Figura 4-18:
Introduccin de los
datos de prueba en el
mdulo Diff
Configuration

Paso 4: Ejecutar la prueba


1. Seleccione la ficha Prueba en la vista Prueba de Diff Configuration.
2. Comience la prueba seleccionado P R U E B A | I N I C I A R / C O N T I N U A R .
Figura 4-19:
Introduccin de los
valores medidos de
Idiff / Ipol para la
documentacin de la
prueba de configuracin

3. Verifique Idiff e Ipol e introduzca los valores medidos de Idiff / Ipol en los
campos correspondientes. Estos se toman del programa de comunicacin
del rel o de la pantalla.

88

Advanced Differential

4. Si las cantidades medidas se corresponden con las previstas, se puede


terminar la prueba haciendo clic en C O R R E C T A .
Debido a la presencia del devanado en tringulo, no pasa corriente
homopolar a travs del transformador. El lado de alta tensin de la
distribucin de corriente A-C (L1-L3) corresponde a la falta A-N (L1-E) en el
lado de BT, de manera que en las fases B (L2) y C (L3) del lado de BT no
medimos corriente de frenado.
5. Adems de la vista Prueba, puede conmutar a la vista Informe o al Diagrama
vectorial, usando el men o haciendo clic en sus botones respectivos.
Figura 4-20:
Diagrama vectorial de
las corrientes de prueba

6. De esta manera, se finaliza la primera prueba. Cierre la aplicacin y retorne


al OCC.

89

OMICRON Test Universe

4.2.7

Prueba de la caracterstica de operacin


Esta prueba verifica la funcin de la caracterstica de operacin y los ajustes de
la proteccin diferencial. Esto se hace calculando correctamente lospares
Idiff / Ipol, lo que da como resultado corrientes de prueba adecuadas para todos
los bucles de falta.
El mdulo de prueba Diff Operating Characteristic tiene tres mtodos de prueba:

Prueba de disparo:

Una prueba con disparos especficos en el plano


Idiff / Ipol, para verificar las tolerancias definidas por el
fabricante.

Prueba de bsqueda:

Una prueba para la determinacin exacta de la forma


de la caracterstica y sus tolerancias.

Salida esttica:

Una prueba para los pares Idiff / Ipol en trminos de las


corrientes de prueba reales para una falta interna, con
entrada numrica o entrada en el diagrama vectorial
de la magnitud y el ngulo del vector.

Prueba de la curva de operacin de la proteccin diferencial usando la prueba


de disparo con los tipos de falta B-C (L2-L3) y A-N (L1-E) la prueba de la salida
esttica y la prueba de bsqueda con el tipo de falta ABC (L1-L2-L3).
Inserte los mdulos de prueba en el documento de prueba del OCC y defina los
puntos de prueba y el formato del informe. Esto tiene que verificar y documentar
efectivamente la caracterstica de operacin diferencial para cada bucle de falta
dentro de las tolerancias previamente especificadas para el dispositivo de
proteccin.

90

Advanced Differential

Paso 1: Incrustacin del mdulo de prueba en el documento


de prueba
1. Coloque el cursor en el documento de prueba despus del objeto Diff
Configuration.
2. Seleccione I N S E R T A R | M D U L O D E P R U E B A y despus "OMICRON
Operating Characteristic", o haga clic en el icono de la barra de herramientas
correspondiente.
Figura 4-21:
Vista Prueba de
Diff Operating
Characteristic, ficha
General

Paso 2: Definicin del informe de la prueba


Seleccione P A R M E T R O S | I N F O R M E . Se abrir un cuadro de dilogo en el
que puede definir el rango de aplicacin del informe.
En la seccin 5.2 Informes de prueba del manual "El concepto" encontrar una
descripcin detallada de la definicin de los informes de prueba.
Seleccione V E R | I N F O R M E para ver el informe de la prueba.

91

OMICRON Test Universe

Paso 3: Introduccin de los parmetros generales de la


prueba
1. Seleccione la ficha General del mdulo de prueba Diff Operating
Characteristic.
2. Seleccione o verifique que las opciones "Ignorar carac. nom. para prueba de
bsqueda" y "Pre-falta / Aplicar" NO estn seleccionadas en ese momento.
3. Introduzca el valor 0,5 s como tiempo de pre-falta y 0,5 In como corriente de
pre-falta.
Mtodo de prueba
Si no se conoce la caracterstica exacta de algunos rels, se la puede
determinar por medio de la funcin de bsqueda. Si se ha introducido una
caracterstica nominal, se podra ignorar con este propsito.
Pre-falta
La inclusin de un estado de pre-falta puede ser necesario bajo ciertas
condiciones (tales como, por ejemplo, cuando la funcin de proteccin
diferencial est activada slo despus de energizar el transformador, o para
verificar la operacin correcta en condiciones de corriente de avalancha de
magnetizacin por un corto tiempo). Se debe prestar atencin al aplicar
estos ajustes.
Figura 4-22:
Ficha General del
mdulo Diff Operating
Characteristic

92

Advanced Differential

Se simula una falta para la prueba de la curva de operacin en la zona protegida


basada en el devanado de referencia con los pares Idiff / Ipol. A partir de esto, se
aplican las corrientes de prueba a los pares de devanados seleccionados: una
alimentacin es la red en el mismo devanado de referencia; la otra alimentacin
es la red en el segundo devanado, u otra seleccionable para un transformador
de tres devanados. Por eso, para un transformador de tres devanados, un
devanado tiene corriente cero. Las diferentes corrientes Idiff / Ipol calculadas se
generan cambiando los parmetros en la red de alimentacin.

Paso 4: Uso de la prueba de disparo


La prueba de disparo se usa para verificar que la caracterstica de operacin se
ajusta a una determinada tolerancia. El nmero de puntos de prueba puede ser
determinado por el ingeniero de prueba y se puede limitar, por lo tanto, a un
mnimo. En los puntos de las pruebas marcados en el plano Idiff / Ipol se prueba
si el rel dispara o no. Sera lgico probar cada punto de la curva con dos
disparos, uno en la tolerancia positiva y el otro en la negativa.
La banda de tolerancia se crea a partir de los ngulos correctos de los puntos
en las esquinas de la tolerancia positiva y negativa de la corriente diferencial y
la corriente estabilizante de frenado. Se muestra la lnea definida de la
caracterstica esperada con la banda de tolerancia.
Prueba de la falta B-C (L2-L3) con la prueba de disparo
Use la prueba de disparo para el tipo de falta B-C (L2-L3).
1. Haga clic en la fichaDisparo del mdulo Diff Operating Characteristic.
2. Seleccione el tipo de falta B-C (L2-L3) e introduzca los puntos de prueba
para la prueba de disparo B-C.
El primer punto es: Idiff = 0,25; Ipol = 0,5. Introduzca estos valores y haga clic
en A A D I R . De manera similar, introduzca todos los puntos de los datos
que se facilitan en la tabla 4-7.
Tabla 4-7:
Puntos de los datos de
la prueba de disparo
para B-C (L2-L3).

Idiff

Ipol

0,25

0,50

0,40

1,00

0,40

2,00

0,75

2,25

1,00

3,25

2,00

4,75

2,50

6,25

3,00

6,75

93

OMICRON Test Universe

3. Comience la prueba seleccionado P R U E B A | I N I C I A R / C O N T I N U A R .


4. Cambie a la vista Informe.
Pruebe los tipos de error B-N (L2-E) y C-N (L3-E) de manera similar.
Nota:Se debe copiar la prueba en el documento de prueba del OCC antes
de cambiar los ajustes de las copias en los nuevos tipos de faltas. Antes de
poder procesar una prueba nueva, hay que borrar los resultados de la
prueba anterior.
Figura 4-23:
Ficha Prueba de
disparo del mdulo Diff
Operating
Characteristic

94

Advanced Differential

Figura 4-24:
Resultados de la prueba
de la falta B-C (L2-L3)
para el documento de
prueba

Si se cambia el tipo de error, el tipo de eliminacin de la corriente homopolar


puede conducir algunas veces a cambios en la lnea de la caracterstica. Esto
es a causa de las diferentes distribuciones de corriente de las lneas
individuales (consulte la seccin Paso 4: Definicin de los ajustes para el
dispositivo de proteccin en la pgina 75").
Operacin de la lnea selectiva para los dispositivos de proteccin: el rel se
dispara cada vez que los pares Idiff e Ipol de las tres fases estn en el rango de
disparo. La figura 4-25 muestra cmo la lnea de la caracterstica desfasa si las
fases individuales tienen diferentes magnitudes de corriente.
Figura 4-25:
Desfase de la lnea de
la caracterstica de
disparo (prueba
simultnea en dos
puntos diferentes en el
plano Diff-Pol, en
particular, por faltas
monofsicas a tierra)

7
Ipol = 12
Idiff = 3,5

Idiff

6
5
4

Ipol = 6
Idiff = 1,75

3
2
1
0
0

10

15

Ibias

20

95

OMICRON Test Universe

Por ejemplo, marque un punto de prueba en los mrgenes de la caracterstica


en el segundo segmento de la lnea en la regin de estabilizacin o frenado
(pol). Tome como referencia los puntos de prueba definidos para el tamao de
la corriente de fase. Los otros pares de valores estarn en la regin del trigger.
Este efecto se compensa automticamente y se representa la forma de la lnea
modificada de la caracterstica.
Prueba de una falta A-N (L1-E) con la prueba de disparo
Use la prueba de disparo para el tipo de falta A-N (L1-E); para ello copie la
ltima instancia del mdulo de prueba. De esta manera, los parmetros
generales permanecen iguales.
1. Haga clic en el ltimo mdulo de prueba incrustado (mdulo Diff Operating
Characteristic) en el documento de prueba.
2. (Opcional) Seleccione E D I C I N | O B J E T O > A B R I R /
P R O P I E D A D E S . . . y la ficha Ver.
3. (Opcional) Cambie los ajustes para representarlo en pantalla como un icono
y pulse A C E P T A R .
4. Seleccione E D I C I N | C O P I A R para copiar el mdulo de prueba.
5. En una nueva lnea del documento de prueba seleccione
E D I C I N | P E G A R para insertar esta copia del mdulo de prueba.
6. Inicie el mdulo de prueba OMICRON Diff Operating Characteristic.
7. Borre los resultados de la ltima prueba usando P R U E B A | B O R R A R .
8. Seleccione la fichaDisparo del mdulo Diff Operating Characteristic.
9. De manera similar, introduzca todos los puntos de los datos que se facilitan
en la tabla 4-8. El asterisco (*) en la tabla indica que se ha modificado el
valor de la tabla 4-7.
Tabla 4-8:
Puntos de los datos de
la prueba de disparo
para A-N (L1-E).

96

Idiff

Ipol

0,25

0,50

0,40

1,00

0,40

2,00

0,75

*2,75

1,00

*4,25

2,00

*5,75

2,50

*7,25

3,00

*7,75

Advanced Differential

10.Ejecute la prueba usando P R U E B A | C O M E N Z A R / C O N T I N U A R .


11.Cambie a la vista Informe.
Figura 4-26:
Resultados de la prueba
de la falta A-N (L1-E)
para el documento de
prueba

bc

Paso 5: Uso de la prueba de salida esttica


En ciertas circunstancias puede ser de utilidad conocer qu significado tiene el
par Idiff / Ipol en trminos de las corrientes de prueba reales para una falta
interna. Podra ser necesario emitir corrientes por largos periodos de tiempo.
Las corrientes no corresponden a los errores que quedan fuera del rango de
proteccin, sino a la corriente diferencial que no es cero. El mdulo OMICRON
Diff Configurationno es adecuado para esta prueba. Adems, la salida de la
magnitud de prueba est limitada en el tiempo en el campo de la caracterstica
Diff/Pol por el ajuste del tiempo mximo de prueba.
Para esta prueba particular, se dispone de la caracterstica de salida esttica
con la entrada de la magnitud y ngulo del vector, as como de un diagrama
vectorial. Se usa el punto de la corriente de prueba del plano Diff/Pol. El punto
de prueba y el tipo de falta seleccionado en la ficha Disparo de prueba se
usarn automticamente, si se activa la vista Prueba de Salida esttica.
Nota:El equipo de prueba no es restablecido por la seal de disparo del
dispositivo de proteccin. Es posible que se produzcan grandes
sobrecargas de corriente del dispositivo de proteccin.

97

OMICRON Test Universe

Copia del mdulo de prueba en el documento de prueba


La prueba de salida esttica del mdulo de prueba Diff Operating Characteristic
se puede insertar rpidamente en el documento de prueba copiando la ltima
instancia del mdulo de prueba. De esta manera, los parmetros generales
permanecen iguales.
1. Haga clic en el ltimo mdulo de prueba incrustado (mdulo Diff Operating
Characteristic) en el documento de prueba.
2. (Opcional) Seleccione E D I C I N | O B J E T O > A B R I R /
P R O P I E D A D E S . . . y la ficha Ver.
3. (Opcional) Cambie los ajustes para representarlo en pantalla como un icono
y pulse A C E P T A R .
4. Seleccione E D I C I N | C O P I A R para copiar el mdulo de prueba.
5. En una nueva lnea del documento de prueba seleccione
E D I C I N | P E G A R para insertar esta copia del mdulo de prueba.
6. Inicie el mdulo de prueba OMICRON Diff Operating Characteristic.
7. Borre los resultados de la ltima prueba usando P R U E B A | B O R R A R .
Prueba de la salida esttica
Pruebe el rel con error tripolar A-B-C (L1-L2-L3).
1. Seleccione P R U E B A | S A L I D A
dilogo Salida esttica.

ESTTICA...

para abrir el cuadro de

2. Ajuste Idiff en 0,5 I/In y ajuste Ipol en 2,0 I/In.


3. Seleccione el tipo de falta A-B-C y se presentarn en pantalla las corrientes
de prueba reales para el ajuste del punto de inflexin
4. Haga clic en E N C E N D E R / A P A G A R para activar / desactivar las salidas
hacia el dispositivo de proteccin.
5. Haga clic en C E R R A R para salir. Cierre el mdulo Diff Operating
Characteristic y vuelva al documento del OCC.

98

Advanced Differential

Figura 4-27:
Cuadro de dilogo
Salida esttica del
mdulo Diff Operating
Characteristic

Las corrientes
de prueba
calculadas que se
emitirn, de
acuerdo con los
valores de Idiff / Ipol
que se han
ajustado y el tipo
de falta
seleccionado.

Diagrama vectorial de las corrientes

99

OMICRON Test Universe

Figura 4-28:
Mdulo de prueba
OMICRON Diff
Operating
Characteristic insertado
en un documento de
prueba

100

Advanced Differential

Paso 6: Uso de la prueba de bsqueda


La prueba de bsqueda se usa para la determinacin exacta de la forma de la
caracterstica y sus tolerancias. Cuando se prueban rels convencionales o
analgicos electrnicos con formas de caracterstica no lineal, resulta til el uso
de este mtodo para la determinacin de la caracterstica de operacin.
El nmero de puntos de prueba se determina automticamente mediante el
algoritmo a partir de la resolucin y de la tolerancia especificadas. La banda de
tolerancia se construye mediante rectngulos que resultan de la tolerancia
positiva/negativa de las corrientes diferencial y de frenado. Se representa la
banda de tolerancia para una caracterstica configurada nominal.
Copia del mdulo de prueba en el documento de prueba
La prueba de bsqueda del mdulo de prueba Diff Operating Characteristic se
puede insertar rpidamente en el documento de prueba copiando la ltima
instancia del mdulo de prueba. De esta manera, los parmetros generales
permanecen iguales.
1. Haga clic en el ltimo mdulo de prueba incrustado (mdulo Diff Operating
Characteristic) en el documento de prueba.
2. (Opcional) Seleccione E D I C I N | O B J E T O > A B R I R /
P R O P I E D A D E S . . . y la ficha Ver.
3. (Opcional) Cambie los ajustes para representarlo en pantalla como un icono
y pulse A C E P T A R .
4. Seleccione E D I C I N | C O P I A R para copiar el mdulo de prueba.
5. En una nueva lnea del documento de prueba seleccione
E D I C I N | P E G A R para insertar esta copia del mdulo de prueba.
6. Inicie el mdulo de prueba OMICRON Diff Operating Characteristic.
7. Borre los resultados de la ltima prueba usando P R U E B A | B O R R A R .

101

OMICRON Test Universe

Configuracin de la prueba de bsqueda


1. Seleccione la ficha Bsqueda en el mdulo de prueba OMICRON Diff
Operating Characteristic.
2. Puede introducir cada lnea de bsqueda manualmente introduciendo un
valor para Ipol y luego haciendo clic en el botn A A D I R . El punto de prueba
se representa mediante una lnea vertical. El algoritmo busca a lo largo de
esta lnea vertical el valor del disparo activo.
Si elige este mtodo de introduccin de datos, aada los puntos de prueba
desde 0,5 hasta 7,5 con un tamao del paso de 1,0. Esto tiene que producir
ocho lneas de prueba.
Nota:Si el botn A A D I R est desactivado, es necesario eliminar primero
los puntos de prueba de la prueba de disparo.
3. Un mtodo ms rpido de introduccin de los datos es hacer clic en el botn
AADIR BARRIDO.
Introduzca 0,5 como valor inicial y 7,5 como valor final.
Luego introduzca 1,0 como tamao del paso y haga clic en A A D I R A
T A B L A . Las ocho lneas de prueba se han introducido ahora en la tabla de
prueba.
4. Ahora, asegrese de que se ha seleccionado el Tipo de falta como ABC
(L1-L2-L3).

102

Advanced Differential

Figura 4-29:
Introduccin de los
puntos de prueba de
bsqueda para la
prueba de Diff
Operating
Characteristic

Introduccin
numrica
de la lnea de
prueba

Adicin o eliminacin Lneas de prueba marcadas en el control del grfico


de puntos de prueba
a/de la lista

103

OMICRON Test Universe

Ejecucin de la prueba de bsqueda


1. Ejecute la prueba de bsqueda seleccionando P R U E B A | C O M E N Z A R /
C O N T I N U A R en el men desplegable.
Figura 4-30:
Resultados de la
Prueba de bsqueda
de la prueba de Diff
Operating
Characteristic

Idiff valores nominal y real

Evaluacin de los resultados de la prueba:


+ = Correcta
x = Incorrecta

2. Seleccione V E R | I N F O R M E en el men desplegable.


3. Pruebe los tipos de error B-N (L2-E) y C-N (L3-E) de manera similar.
Nota:Se debe copiar la prueba en el documento de prueba del OCC antes
de cambiar los ajustes de las copias en los nuevos tipos de faltas. Antes de
poder procesar una prueba nueva, hay que borrar los resultados de la
prueba anterior.

104

Advanced Differential

Figura 4-31:
Documento de prueba
que contiene tres
pruebas distintas de
OMICRON Diff
Operating
Characteristic

105

OMICRON Test Universe

4.2.8

Prueba de la caracterstica del tiempo de disparo


El mdulo de prueba Diff Trip Time est diseado para medir el tiempo de
disparo de un rel diferencial. Muestra nicamente, y en especial para los rels
convencionales, la relacin t = f(Idiff). Los resultados principales de la prueba
son los tiempos de disparo de la proteccin diferencial.

El mdulo de prueba OMICRON Diff Trip Time Characteristic realiza esta


prueba con inyeccin de corriente en los valores calculados de Idiff / Ipol en la
regin de operacin correspondiente a la pendiente de 1.
Medicin de los tiempos de disparo de la proteccin diferencial para una falta
trifsica A-B-C en Idiff = 0,5 I/In hasta Idiff = 3,0 I/In en 6 escalones, bajo la
condicin Idiff = Ifrenado (pendiente de la lnea de prueba = 1).

Paso 1: Incrustacin del mdulo de prueba en el documento


de prueba
1. Coloque el cursor en el documento de prueba despus del objeto Diff
Operating Characteristic.
2. Seleccione I N S E R T A R | M D U L O D E P R U E B A y despus "OMICRON
Diff Trip Time", o haga clic en el icono de la barra de herramientas
correspondiente.

Paso 2: Definicin del informe de la prueba


Seleccione P A R M E T R O S | I N F O R M E . Se abrir un cuadro de dilogo en el
que puede definir el rango de aplicacin del informe.
En la seccin 5.2 Informes de prueba del manual "El concepto" encontrar una
descripcin detallada de la definicin de los informes de prueba.
Seleccione V E R | I N F O R M E para ver el informe de la prueba.

106

Advanced Differential

Paso 3: Introduccin de los datos de la prueba


1. Abra el mdulo de prueba Diff Trip Time y seleccione la ficha General.
Figura 4-32:
Ficha General de
parmetros de la
prueba de tiempo de
disparo, indicando en el
diagrama las lneas de
prueba conforme a la
pendiente ajustada
(Idiff/Ipol)

Para esta prueba se emiten slo dos magnitudes de prueba seleccionables del devanado: Para
transformadores de tres devanados se puede seleccionar la prueba PRIMARIO-SECUNDARIO
o PRIMARIO-TERCIARIO.

2. Introduzca una corriente de pre-falta de 0,5 I/IN para 500 ms.


3. Seleccione la ficha Prueba e introduzca los puntos de prueba de la tarea.
Figura 4-33:
Puntos de prueba
introducidos en la ficha
Prueba de Diff Trip
Time

107

OMICRON Test Universe

Paso 4: Ejecucin de la prueba


1. Haga clic en el botn C O M E N Z A R para iniciar la prueba.
Figura 4-34:
Resultados de la prueba
de caracterstica de
Diff Trip Time

Evaluacin de los resultados de la prueba:


+ = Correcta
x = Incorrecta

2. Salga del mdulo de prueba Diff Trip Time y vuelva al OCC y al documento
de prueba.

108

Advanced Differential

Figura 4-35:
Vista Informe de la
prueba de caracterstica
especificada de
Diff Trip Time

109

OMICRON Test Universe

4.2.9

Prueba del frenado por armnicos


Esta prueba est diseada para determinar la capacidad de la proteccin
diferencial para bloquear el disparo bajo condiciones de energizacin de
avalancha del transformador u otras posibles condiciones del sistema. Las
corrientes de prueba se inyectan solamente en el devanado primario (AT).
El mdulo de prueba OMICRON Diff Harmonic Restraint tiene dos mtodos de
prueba:

Prueba de disparo

Una prueba que admite disparos especficos en el


plano Ixf/Idiff para verificar las tolerancias definidas
por el fabricante.

Prueba de bsqueda:

Una prueba para la determinacin exacta de la forma


de la caracterstica y sus tolerancias.

Determine el valor de umbral del frenado por armnicos de la proteccin


diferencial SEL 587, ajustes del segundo y quinto armnico para la falta trifsica
A-B-C (L1-L2-L3). Las pruebas de barrido se tienen que realizar desde
Idiff = 0,4 I/In hasta Idiff = 2,9 I/Ini en 6 pasos. Personalice un formato de informe
"Diff_Rest" para mostrar el mdulo de prueba, los ajustes de prueba y los
dems resultados de la prueba en el documento de prueba.

Paso 1: Incrustacin del mdulo de prueba en el documento


de prueba
1. Coloque el cursor en el documento de prueba despus del objeto Diff Trip
Time.
2. Seleccione I N S E R T A R | M D U L O D E P R U E B A y despus "OMICRON
Diff Harmonic Restraint", o haga clic en el icono de la barra de herramientas
correspondiente.

Paso 2: Definicin del informe de la prueba


Seleccione P A R M E T R O S | I N F O R M E . Se abrir un cuadro de dilogo en el
que puede definir el rango de aplicacin del informe.
En la seccin 5.2 Informes de prueba del manual "El concepto" encontrar una
descripcin detallada de la definicin de los informes de prueba.
Seleccione V E R | I N F O R M E para ver el informe de la prueba.

110

Advanced Differential

Paso 3: Introduccin de los parmetros generales de la


prueba
1. Seleccione la ficha General del mdulo de prueba OMICRON Diff Harmonic
Restraint.
2. Es posible definir un tiempo de post-falta para la verificacin del bloqueo del
disparo durante la prueba por medio del cual se eliminan los armnicos
superpuesto y el rel tiene que disparar. Compruebe que el tiempo de postfalta sobrepasa el tiempo de retardo de restablecimiento del bloque.
Figura 4-36:
Ficha General del
mdulo Diff Harmonic
Restraint

El ajuste del tiempo de post-falta se usa para


controlar el trigger despus de la desaparicin del
componente armnico.
Para usar esta funcin, seleccione "Aplicar" e
introduzca un valor de tiempo de post-falta.

111

OMICRON Test Universe

Paso 4: Introduccin de los parmetros de la prueba de


bsqueda
Se puede usar la funcin de bsqueda para obtener el valor exacto de armnico
de las corrientes diferenciales con diferentes tamaos. La bsqueda es posible
solamente cuando existe un punto de interseccin vertical.
1. Seleccione la ficha Bsqueda del mdulo de prueba OMICRON Diff
Harmonic Restraint.
2. Defina una lnea de prueba en Idff = 0,4 In para buscar el valor umbral exacto
para el bloqueo por avalancha (2 armnico). El desfase del armnico con
respecto a la onda fundamental tiene que ajustarse en 120.
3. Seleccione el tipo de falta como A-B-C (L1-L2-L3) y, como armnico,
seleccione el segundo armnico.
Figura 4-37:
Entrada de datos de
Prueba de bsqueda,
mdulo Diff Harmonic
Restraint.
Defina las lneas de
bsqueda haciendo clic
en "Aadir barrido..."

4. Inicie la prueba de bsqueda de armnico.


5. Cierre el mdulo de prueba para volver al OCC.
6. Seleccione el mdulo de prueba y, a continuacin, elija
E D I C I N | C O P I A R para copiar el mdulo de prueba para el quinto
armnico.
7. En una nueva lnea del documento de prueba seleccione
E D I C I N | P E G A R para insertar esta copia del mdulo de prueba.
8. Haga doble clic en esta copia para iniciar el mdulo de prueba Diff Harmonic
Restraint.
9. Borre los resultados de la ltima prueba usando P R U E B A | B O R R A R .

112

Advanced Differential

10.Seleccione el tipo de falta como A-B-C (L1-L2-L3) y, como armnico,


seleccione el quinto armnico.
11.Inicie la prueba de bsqueda de armnico.
12.Cierre el mdulo de prueba para volver al OCC.
Figura 4-38:
Modo Prueba de
bsqueda del mdulo
de prueba Diff Harmonic
Restraint.
La lnea de prueba
marcada es Idiff = 1 In a
lo largo de la cual se
busca el valor umbral.
El valor de umbral
esperado es 15%.
Resultados del modo de
bsqueda.

13.Seleccione el mdulo de prueba y, a continuacin, elija


E D I C I N | C O P I A R para copiar el mdulo de prueba para una prueba de
disparo.
14.En una nueva lnea del documento de prueba seleccione
E D I C I N | P E G A R para insertar esta copia del mdulo de prueba.
15.Haga doble clic en esta copia para iniciar el mdulo de prueba Harmonic
Restraint.
16.Borre los resultados de la ltima prueba usando P R U E B A | B O R R A R para
realizar la prueba de disparo.

113

OMICRON Test Universe

Paso 5: Introduccin de los parmetros de la prueba de


disparo
1. Seleccione la ficha Disparo del mdulo de prueba OMICRON Diff Harmonic
Restraint.
2. Defina el primer punto de prueba en Idiff = 1,0 In e Ixf-Idiff = 14,25%. El
desfase del armnico con respecto a la onda fundamental tiene que
ajustarse en -120 (negativo).
3. Introduzca el resto de los puntos de prueba en cualquier lado de la lnea
vertical.
Figura 4-39:
Modo Prueba de
disparo del mdulo de
prueba Diff Harmonic
Restraint

La banda de tolerancia para el valor umbral para la estabilizacin de


avalancha (2 armnico) y para la prueba de los puntos marcados

4. Inicie la prueba de disparo de armnicos.

114

Advanced Differential

Figura 4-40:
Los resultados de la
prueba de bsqueda de
Harmonic Restraint se
representan al lado de
los puntos de prueba

5. Cierre el mdulo de prueba OMICRON Diff Harmonic Restraint. De este


modo, regresar al OCC y al documento de prueba.

115

OMICRON Test Universe

Figura 4-41:
Informe de la prueba
especificada del mdulo
Diff Harmonic Restraint

116

Advanced Differential

Paso 6: Prueba automtica


El documento de prueba contiene todos los mdulos de prueba y sus
parmetros asociados para realizar una prueba en el rel diferencial. El
procedimiento de prueba completo se puede repetir total o parcialmente usando
las caractersticas de prueba del OMICRON Control Center.
1. Seleccione V E R | L I S T A para ver todos los mdulos que estn incrustados
en el documento de prueba.
Figura 4-42:
Vista Lista de los
mdulos de prueba que
estn incrustados en el
documento de prueba

Esta lista muestra una vista general de las pruebas especificadas. No se


muestran todas las pruebas que se han definido para el ejemplo de
Advanced Differential.
Se da a conocer el estado de cada prueba, as como los nombres de los
informes usados.
2. Antes de que se pueda ejecutar el plan de prueba completo desde el
documento de prueba, es necesario borrar todos los resultados de prueba
existentes en los informes de prueba individuales. Para hacerlo, utilice la
opcin P R U E B A | B O R R A R T O D O del men desplegable. Adems se
puede verificar el equipo de prueba antes de procesar la prueba general.

117

OMICRON Test Universe

118

Synchronizer

5 Synchronizer
Los rels de sincronizacin se emplean para facilitar:

la conexin de un generador a la red o a la cuadrcula de potencia

el restablecimiento de la conexin entre dos partes de la red

el cierre manual de los interruptores y

la realizacin de una verificacin de sincronizacin.

Los rels de sincronizacin estn diseados para medir dos tensiones con
respecto a ngulo de fase, frecuencia y magnitud, a modo de salvaguarda
contra la interconexin de dos sistemas desincronizados.
Figura 5-1:
Pruebas tpicas de un
rel de sincronizacin

CERRAR
HABILITAR

Los rels de sincronizacin se emplean tambin en operaciones de


conmutacin para enlazar dos partes de un sistema que ya estn conectadas
de manera sncrona a travs de otras rutas del sistema.

119

OMICRON Test Universe

5.1 Aplicacin:
Conexin de un generador a la cuadrcula
Al conectar un generador a la red, el rel de sincronizacin tiene que controlar
la puesta en marcha del generador y su conexin a la red en el momento
preciso.
El rel que normalmente se emplea en esta tarea efecta una triple verificacin:
1. diferencia de ngulo de fase,
2. diferencia de tensin y
3. diferencia de frecuencia.
El rel enva al interruptor una seal de cierre cuando todos los valores se
encuentran dentro de los lmites establecidos y mantiene estos valores durante
un perodo de tiempo definido por el usuario. Si no se cumplen todas las
condiciones, algunos rels emplean comandos de ajuste dirigidos a las
servovlvulas de los generadores, en un intento de cumplir las condiciones
correspondientes. En otros casos en los que no se cumplen las condiciones, el
rel suministra una seal de falta.

5.2 Ejemplo:
Rel de sincronizacin digital ELIN SYN3000
Archivos de muestra:
SYN3000_function.snc
SYN3000_adjustment.snc
SYN3000-CMC256.ohc
SYN3000.rio
Guardados en: ...Ruta de instalacin de OMICRON Test Universe\
Test Library\Samples\SW Manual Examples\Advanced Protection
En la figura 5-2 se muestra un diagrama de cableado simple de cmo puede
emplearse el rel de sincronizacin digital ELIN SYN3000 para conectar un
generador a la cuadrcula de potencia. En este ejemplo concreto, se emplea
como referencia slo una fase de la cuadrcula de red. La fase de referencia se
compara con una fase del generador.

120

Synchronizer

Figura 5-2:
Ejemplo de conexin de
un generador a la
cuadrcula de potencia

El rel SYN3000 de este ejemplo opera en modo de Generador a Barra o Lnea


de energa.
Tabla 5-1:
Ajustes del rel
SYN3000

Ajustes del rel


SYS1: Sincronizacin mxima

V1mx = 110 V

SYS1: Sincronizacin mnima

V1mn = 90 V

Dif. mx. tensin inductiva

+dVmx = 6 V

Dif. mx. tensin capacitiva

-dVmx = 5 V

Dif. mx. frecuencia alta

+dfmx = 0,25 Hz

Dif. mx. frecuencia baja

-dfmx = 0,25 Hz

ngulo mx. de fase permitido

PHImx = 3

Compensacin de tiempo muerto de IP

tcomp. IP = 100 ms

Adaptacin de tensin

kv2 = 200 ms

121

OMICRON Test Universe

5.2.1

Emulacin con unidad de prueba CMC


Para probar el rel SYN3000, el equipo de prueba CMC debe emular el entorno
en el que se utiliza el rel. Utilizaremos una CMC 256, si bien bastara con una
CMC 156.

Figura 5-3:
Simulacin de conexin
de un generador a la
cuadrcula de potencia
utilizando la unidad
CMC 256

Una de las tres salidas de tensin de la unidad CMC 256 representa la


fase de tensin de la cuadrcula de potencia de la red y otra la fase de
tensin del generador.

La Salida binaria 1 se usa para la seal de control SEL1 (Inicio y Fin) del
rel, indicndole cundo debe intentar la sincronizacin y cundo parar.

Cuatro de las entradas binarias (1-4) de la unidad CMC 256 supervisan


las seales de control de ajuste procedentes del rel y dirigidas al
generador para aumentar/reducir la tensin o frecuencia del generador.

Una quinta entrada binaria (5) de la CMC 256 supervisa el comando de


cierre del interruptor de potencia (IP) procedente del rel.

La unidad CMC 256 proporciona tambin una tensin CC auxiliar que


puede emplearse para alimentar el rel.

Nota: La figura 5-3 no muestra el ordenador o PC porttil que se conecta a la


unidad CMC 256 y hace funcionar el mdulo de prueba Synchronizer.
Compruebe que ste se encuentra tambin conectado a la unidad CMC 256 al
cablear el rel.

122

Synchronizer

5.2.2

Inicio de Synchronizer
Inicie Synchronizer en modo autnomo desde la OMICRON Start Page
haciendo clic en S Y N C H R O N I Z E R .

5.2.3

Configuracin del equipo en prueba


Para la configuracin del rel en prueba, se utiliza la funcin de software
correspondiente de Equipo en prueba. Abra Equipo en prueba con la opcin
del men desplegable P A R M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A . Tambin se
puede hacer clic en el icono Equipo en prueba de la barra de herramientas. En
el cuadro de dilogo Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar
los parmetros del equipo en prueba.
Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la seccin
3 Configuracin del equipo en prueba del manual "El concepto" o en la ayuda
en lnea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del ndice.
1. Introduzca los ajustes del dispositivo correspondientes al rel ELIN
SYN3000 como se muestra en la tabla 5-2.

Tabla 5-2:
Ajustes del dispositivo
del equipo en prueba
correspondientes al
SYN3000

Ajustes del equipo


Nombre

SYN3000

Fabricante

VA TECH ELIN

Tipo de dispositivo

Sincronizador digital

Nmero de serie/modelo

920212

Nmero de fases:

f nom

50 Hz

V nom

100 V (L-L)

2. Introduzca los parmetros del sistema correspondientes al rel ELIN


SYN3000 que se muestran en la figura 5-4 y en la tabla 5-3. La figura 5-4
representa la pgina estndar de parmetros del sistema.

123

OMICRON Test Universe

Figura 5-4:
Pgina estndar de
parmetros del sistema
del cuadro de dilogo
Parmetros del equipo
en prueba

Tabla 5-3:
Datos de los
parmetros del sistema
del equipo en prueba

Parmetros de sincronizacin
Sistema 1
Rotacin

A-B-C

Tensiones conectadas

A-B

Sistema 2
Rotacin

A-B-C

Tensiones conectadas

A-B

Ajustes
Tiempo de cierre IP
(desde el bloque "CB Configuration" del Equipo en
prueba)

100,0 ms

Desfase por grupo de transformador:

0,00

Seal Inicio/Fin

Continuo

3. Introduzca los parmetros correspondientes a la ventana de sincronizacin


del rel ELIN SYN3000 que se muestran en la figura 5-5 y en la tabla 5-4. La
figura 5-5 representa la pgina estndar de la ventana de sincronizacin.

124

Synchronizer

Figura 5-5:
Pgina estndar de la
ventana de
sincronizacin del
cuadro de dilogo
Parmetros del equipo
en prueba

Tabla 5-4:
Datos de la ventana de
sincronizacin del
equipo en prueba

Ventana de sincronizacin
| f mx |

30 mHz

V>

6V

Phi ()

f<

-250 mHz

f>

250 mHz

| f mn|

30 mHz

V<

-5 V

Tolerancias Phi: Relativo

3%

Absoluta

0,6

Tolerancias f: Relativo

3%

Absoluta

3 mHz

Tolerancias V: Relativo

3%

Absoluta

60 mV

Tiempo de sincr. mn.: Tiempo

1,25 s

Tiempo de sincr. mn.: Tolerancia

5%

125

OMICRON Test Universe

5.2.4

Configuracin del hardware


Configure el hardware de acuerdo con el cableado descrito en la seccin
5.2.1 Emulacin con unidad de prueba CMC.
Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Configuracin del
hardware en la seccin 4 Configuracin del hardware de prueba del manual
"El concepto" o en la ayuda en lnea, en la entrada --- Configuracin
del hardware --- del ndice.
1. Haga clic en el icono C O N F I G U R A C I N D E L H A R D W A R E o seleccione
PARMETROS | CONFIGURACIN DEL HARDWARE.
2. En la ficha General seleccione la unidad de prueba CMC conectada y ajuste
las tensiones en "3 x 300 Vef". Las salidas de corriente son "no usadas".
3. En la ficha Salidas analgicas (figura 5-6):

Asigne "S1 V L1-L2" para la tensin de fase A-B del sistema 1 y


"S2 V L1-L2" para la correspondiente tensin de fase A-B del sistema 2.

El terminal de conexin del rel puede especificarse en la tercera


columna.

Asigne las cruces en la columna correspondiente a "S1 V L1-L2" y


"S2 V L1-L2" para especificar qu salidas de la unidad CMC 256 se
conectan a cada terminal del rel.

Figura 5-6:
Ficha Salidas
analgicas de
configuracin del
hardware

4. En la ficha Entradas binarias / analgicas (figura 5-7):

126

Asocie los nombres que aparecen en pantalla a las seales de tensin.


Asigne "V<", "V>", "f<", "f>" y "Cmd. cerrar" a las seales procedentes del
rel.

El terminal de conexin del rel puede especificarse en la tercera


columna.

Asigne las cruces en la columna correspondiente a "V<", "V>", "f<", "f>" y


"Cmd. cerrar" para especificar qu salidas de la unidad CMC 256 se
conectan a cada terminal del rel.

Synchronizer

Figura 5-7:
Ficha Entradas
Binarias / Analgicas
de la configuracin del
hardware

5. En la ficha Salidas binarias (figura 5-8) configure la salida 1 para la seal


de control SEL1 del rel.
Figura 5-8:
Ficha Salidas binarias
de la configuracin del
hardware

127

OMICRON Test Universe

5.2.5

Verificacin del cableado entre el rel y la unidad


CMC
En este momento, es prudente revisar una vez ms el cableado fsico para
comprobar que se corresponde con la seccin 5.2.1 Emulacin con unidad de
prueba CMC en la pgina 122. En todo caso, el cableado fsico debe concordar
con la configuracin del hardware.
1. Verifique que las entradas de tensin del rel estn conectadas a las
correspondientes salidas de tensin de la unidad CMC conforme a la
configuracin que se muestra en 5-6. Compruebe que las "entradas" de
tensin del rel estn debidamente puestas a tierra conforme a su
configuracin.
2. Verifique que las seales binarias de control del rel estn conectadas a las
correspondientes entradas binarias de la unidad CMC conforme a la
configuracin que se muestra en 5-7.
3. Verifique que la seal de arranque del rel est conectada a la
correspondiente salida binaria de la unidad CMC conforme a la
configuracin que se muestra en 5-8.

5.2.6

Definicin de los ajustes de tiempo de Synchronizer


1. Seleccione la ficha Ajustes de la vista Prueba de Synchronizer.

Figura 5-9:
Ficha Ajustes de
Synchronizer

2. Introduzca los valores correspondientes al rel SYN3000 en relacin con el


tiempo de pre-sincronizacin, el tiempo de post-sincronizacin, el tiempo
mximo de sincronizacin y el tiempo de retardo entre puntos de prueba.
Como tiempo mnimo de post-sincronizacin se toma por defecto el tiempo
de cierre del interruptor de potencia, que se configur como parte del equipo
en prueba.

128

Synchronizer

Tabla 5-5:
Ajustes de tiempo

Parmetros de tiempo
Pre-Sincro:

1,000 s

Post-Sincro:

100,0 ms

Max-Sincro

60,00 s

Retardo

200,0 ms

Los valores introducidos en la ficha Ajustes determinan el tiempo que llevar


probar un punto de prueba individual. Si se logra la sincronizacin entre los dos
sistemas, el tiempo total de prueba de un punto de prueba es:
Sincronizado:

Tiempo de retardo (si no es el primer punto de prueba)


+ el tiempo de pre-sincronizacin
+ el tiempo de sincronizacin
+ el tiempo de post-sincronizacin
= tiempo total de prueba

En el transcurso de una prueba, cuando se logra la sincronizacin, el tiempo de


sincronizacin ser menor que el tiempo mximo de sincronizacin. El tiempo
de post-sincronizacin mnimo ser igual o mayor que el tiempo de cierre del IP.
Durante el tiempo de retardo, la unidad CMC no transmite tensiones.
Si no se logra la sincronizacin, el tiempo total de prueba de un punto de prueba
es:
No sincronizado:

Tiempo de retardo (si no es el primer punto de prueba)


+ el tiempo de pre-sincronizacin
+ el tiempo mximo de sincronizacin
= tiempo total de prueba

129

OMICRON Test Universe

5.2.7

La prueba de funcin
La finalidad de la ficha Funcin es utilizar las funciones de cierre del interruptor
del potencia (IP) de los rels de sincronizacin. Puede utilizar puntos de prueba
individuales o una tabla de puntos de prueba.
Segn las condiciones de sincronizacin definidas en el equipo en prueba y los
valores de un punto de prueba, el mdulo de prueba Synchronizer calcula el
comportamiento esperado (respuesta nominal) del rel de sincronizacin en
ese punto de prueba concreto. Si el comportamiento medido del rel coincide
con la respuesta nominal esperada, el punto de prueba se evala como
correcto. Si no coincide con esta respuesta nominal, el punto de prueba se
evala como incorrecto.
La unidad de prueba CMC emite los puntos de prueba durante determinados
perodos de tiempo. Los tiempos de salida se especifican en la ficha Ajustes.
Las condiciones de sincronizacin se definen en la ficha Ventana de
sincronizacin del equipo en prueba (P A R M E T R O S | E Q U I P O E N
P R U E B A , bloque "Synchronizer") como rea de prueba de tensin en funcin
de frecuencia, la denominada "ventana de sincronizacin". Cuando un punto de
prueba se encuentra dentro de esta ventana, Synchronizer espera que el
comando de cierre del IP del rel tenga lugar dentro del tiempo mximo de
sincronizacin. Cuando un punto de prueba se encuentra fuera de esta ventana,
Synchronizer espera que el comando de cierre del IP no tenga lugar dentro del
tiempo mximo de sincronizacin. Si desea una descripcin detallada, consulte
"Clculo de la respuesta nominal en la ficha Funcin" en la ayuda en lnea de
Test Universe correspondiente a Synchronizer.
Algunos rels de sincronizacin nicamente emiten el comando de cierre de IP
si se cumplen las condiciones de sincronizacin durante determinado tiempo.
Este tiempo de sincronizacin mnimo se puede definir en la ficha Ventana de
sincronizacin del equipo en prueba. Si se ha definido un tiempo de
sincronizacin mnimo, se tiene en cuenta tambin al calcular la respuesta
nominal esperada del rel. Si desea una descripcin detallada, consulte
"Clculo de la respuesta nominal en la ficha Funcin" en la ayuda en lnea de
Test Universe correspondiente a Synchronizer.

Si el tiempo para alcanzar la sincronizacin es muy largo:


Si f de un punto de prueba es 0 y Phi es 180, el tiempo necesario para
alcanzar la sincronizacin (es decir, para reducir Phi) es infinito. Por tanto, es
imposible alcanzar la sincronizacin durante el tiempo de sincronizacin
mximo. Si el valor de f es muy pequeo y Phi es muy grande (alrededor de
180), el tiempo necesario para alcanzar la sincronizacin depende de los
valores reales de f y Phi. En este caso, tambin es necesario tener en cuenta
las tolerancias de f y Phi ajustadas en el equipo en prueba.

130

Synchronizer

Si desea una descripcin detallada, consulte "Clculo de la respuesta nominal


en la ficha Funcin" en la ayuda en lnea de Test Universe correspondiente a
Synchronizer.
Hay tres modos principales de introducir puntos de prueba en la tabla.
1. Introducir la informacin en los respectivos cuadros de texto de V, f,
Phi (), o V, f, Phi (), o una combinacin de ambos.

V, f, Phi ():

Representan la diferencia entre el valor de


referencia del Sistema 1 y el punto de prueba
del Sistema 2.

V, f, Phi ():

Representan valores reales que se emitirn


para el Sistema 2.

Relativo:

Significa que los puntos de prueba se guardan


en el documento de prueba como porcentaje
relativo a la ventana de sincronizacin.

Una vez admitida la informacin correspondiente a un punto de prueba,


haga clic en el botn A A D I R .
2. Situar el puntero del ratn en el grfico de sincronizacin (a la derecha).
Haga clic con el botn derecho del ratn en un punto para obtener un
men de contexto. Una de las opciones permite aadir ese punto de
prueba a la tabla de prueba.
3. <Ctrl> + clic con el botn izquierdo del ratn aade inmediatamente un
punto a la tabla.
La tabla de prueba tiene un men de contexto al que se puede acceder
haciendo clic con el botn derecho del ratn. Una funcin importante es poder
mostrar u ocultar columnas para poder controlar mejor la informacin que ve la
persona que realiza las pruebas.
El grfico de sincronizacin tambin tiene un men de contexto al que se puede
acceder haciendo clic con el botn derecho del ratn. Permite seleccionar
puntos para la tabla de prueba, probar puntos directamente o aplicar zoom a las
diversas reas. Puede emplearse tambin para mostrar lneas de cuadrcula y
facilitar la seleccin de puntos de prueba.
PRUEBA
AADIR

EN

Muestra los parmetros de tensin y frecuencia de los


puntos de prueba seleccionados.

PUNTO

DE PRUEBA

El punto especificado se aade a la tabla de prueba.

AMPLIAR

Permite ampliar una zona determinada del plano de dV /


df para seleccionar con mayor precisin puntos de
prueba.

131

OMICRON Test Universe

REDUCIR

Permite ver una determina zona en el contexto de las


zonas prximas del plano de dV / df. Se utiliza
principalmente para disponer de una visin general del
plano de dV / df.

MODO

Cambia el modo de zoom.

ZOOM

ZOOM TODO

Permite ver todo el plano de dV / df. Reduce el tamao


del grfico e incluye todos los puntos de prueba
definidos.

MOSTRAR
CUADRCULAS

Muestra las marcas correspondientes a los ejes dV y df


del plano de dV / df.

Paso 1: Definicin de la prueba de funcin


1. Seleccione la ficha Funcin de la vista Prueba de Synchronizer.
2. Aada puntos de prueba a la tabla de prueba utilizando el botn P R U E B A
RPIDA.
El botn P R U E B A R P I D A sita puntos de prueba en los valores positivos
y negativos de tolerancia de las posiciones superior e inferior de V y f ,
ocho en total.
3. Elimine los cuatro puntos de prueba de la posicin superior e inferior de V
(siendo f = 0), dado que el rel SYN3000 requiere, para funcionar
correctamente, una desviacin de frecuencia.
Los puntos de prueba pueden borrarse individualmente o como grupo,
resaltndolos y haciendo clic en el botn A N U L A R . Pulse <Ctrl> + clic con
el botn izquierdo del ratn para seleccionar varios puntos de prueba.
Pueden borrarse todos los puntos de prueba de una prueba con el botn
ANULAR TODO.
4. Aada otros ocho puntos de prueba en cualquier lado del lmite f = 0. Site
unos dentro de la ventana de sincronizacin y otros fuera, como se muestra
en las figuras 5-10 y 5-11.
Casilla de verificacin "Relativo":
Si se selecciona esta opcin, los puntos de prueba se guardan como
porcentaje relativo a la ventana de sincronizacin. La alternancia entre
relativo y absoluto en la casilla de verificacin corresponde a cada punto de
prueba individual y no a toda la tabla.

132

Synchronizer

Figura 5-10:
Puntos de prueba de
la ficha Funcin en
Synchronizer

Figura 5-11:
Grfico de
sincronizacin de la
prueba de funcin en
Synchronizer

133

OMICRON Test Universe

Paso 2: Ejecucin de la prueba de funcin


1. Una vez definido un nmero suficiente de puntos de prueba, puede
ejecutarlos consecutivamente. Seleccione el botn R E P R O D U C I R .
2. El equipo de prueba CMC emite los puntos de prueba para determinados
perodos de tiempo segn se ha especificado en la ficha Ajustes (consulte
la seccin 5.2.6).
Figura 5-12:
Puntos de prueba y su
evaluacin en la ficha
Funcin tras ejecutar la
prueba

Tras emitir las tensiones correspondientes a un punto de prueba, ste se


evala como correcto ("+" verde) o incorrecto ("x" roja). La evaluacin se
basa en las previsiones del punto de prueba. Se espera que algunos puntos
de prueba logren la sincronizacin (Respuesta nominal: Sincronizacin)
mientras que otros no (Respuesta nominal: No sincronizacin).
Por ejemplo, los puntos de prueba situados dentro de la ventana de
sincronizacin debieran lograr la sincronizacin en el perodo de tiempo
especificado si el rel funciona correctamente. Del mismo modo, se espera
que los puntos de prueba situados fuera de la ventana de sincronizacin
sobrepasen el tiempo mximo de sincronizacin sin lograr la sincronizacin.
Si estas previsiones responden a la realidad tras emitir al rel la tensin
correspondiente, el resultado del punto de prueba es correcto.
Adems de la evaluacin en la tabla de prueba, los puntos de prueba se
evalan como correctos ("+" verde) o incorrectos ("x" roja) en el grfico. Una
vez ms, la evaluacin se basa en la previsin.

134

Synchronizer

Figura 5-13:
Puntos de prueba
evaluados como
correctos en el grfico
de la ficha Funcin

3. Compruebe que se muestra el Sincronoscopio seleccionando


VER | SYNCHRONOSCOPE.
4. Al resaltar puntos de prueba individuales de la tabla de prueba, el
sincronoscopio muestra el Phi () en dos momentos distintos: cuando se
emiti el comando de cierre del IP y cuando el IP se cerr efectivamente.
El Phi () hace referencia a la diferencia de ngulo de fase entre el
sistema de referencia y el sistema de prueba.
De esta manera, se obtiene una imagen de la diferencia de fase existente
entre los sistemas 1 y 2 cuando se emite (flecha azul) y finalmente ejecuta
(flecha roja) el comando de cierre del IP.
Figura 5-14:
Sincronoscopio para un
punto de prueba
individual

135

OMICRON Test Universe

La frecuencia de referencia puede fijarse en el sistema 1 o 2, tomndose por


defecto el sistema 1. Para cambiar el sistema de referencia, use el men de
contexto del sincronoscopio (que aparece al pulsar el botn derecho del
ratn).
Cuando la referencia es el sistema 1 y f1>f2 en funcionamiento subsncrono,
la flecha de diferencia de fase gira en sentido horario. Cuando la referencia
es el sistema 1 y f1<f2 en funcionamiento sobresncrono, la flecha de la
diferencia de fase gira a derechas.
El sincronoscopio puede separarse de la barra de estado y colocarse como
barra de herramientas en cualquier parte del escritorio. Para hacerlo,
mantenga pulsado el botn izquierdo del ratn sobre la pequea flecha
situada en la equina superior izquierda del sincronoscopio. Sin soltar el
botn del ratn, arrastre el sincronoscopio hasta separarlo de los bordes de
Synchronizer y convertirlo en su propia barra de herramientas. Si pulsa una
sola vez el botn del ratn sobre la pequea flecha situada en la esquina
superior izquierda, el sincronoscopio puede ampliarse hasta abarcar toda la
barra de estado, o contraerse adoptando un tamao menor.

Paso 3: Definicin del informe de la prueba


Seleccione P A R M E T R O S | I N F O R M E . Se abrir un cuadro de dilogo en el
que puede definir el rango de aplicacin del informe.
En la seccin 5.2 Informes de prueba del manual "El concepto" encontrar una
descripcin detallada de la definicin de los informes de prueba.
Seleccione V E R | I N F O R M E para ver el informe de la prueba.

136

Synchronizer

5.2.8

La prueba de ajuste
La finalidad de la ficha Ajuste es ejecutar los comandos de accionador que el
rel de sincronizacin emite al generador que controla el nivel de tensin y la
frecuencia. Puede utilizar puntos de prueba individuales o una tabla de puntos
de prueba.
La ficha Ventana de sincronizacin del equipo en prueba (P A R M E T R O S |
E Q U I P O E N P R U E B A , bloque "Synchronizer") define el rea de prueba de
tensin en funcin de frecuencia y sus tolerancias respectivas, la denominada
"ventana de sincronizacin".
Cuando un punto de prueba se encuentra fuera del borde exterior de tolerancia
de esta ventana y se indica al rel que se active:
1. El rel emite los comandos correspondientes (V>, V<, f>, f<) para poner el
generador (sistema 2) en sincronizacin con la red de referencia (sistema 1).
2. El mdulo de prueba Synchronizer detecta estas seales binarias y cambia
las salidas de tensin para el sistema 2 en funcin del modelo de generador
que se ha definido.
Los valores de V/t y f/t del modelo del generador definen de qu manera
modifica la unidad CMC las salidas del sistema 2.
3. El rel de sincronizacin debe emitir sus seales de control hasta que la
salida del sistema 2 se haya incluido en la ventana de sincronizacin.
4 a) En tal caso, el rel puede emitir el comando de cierre del IP y el software
de Synchronizer entra en modo de post-sincronizacin.
b) Si el comando de cierre del IP no se recibe dentro del tiempo mximo de
sincronizacin, el software de Synchronizer emite el comando Fin.
5. El mdulo de prueba Synchronizer evala el tiempo (t sinc.) transcurrido
entre el comando de inicio y el comando de cierre del IP. Para la evaluacin
de un punto de prueba como correcto o incorrecto, es importante conocer la
tensin, la frecuencia y el ngulo de fase:
-

cuando se emite al rel el comando Inicio,

cuando el rel emite el comando de cierre del IP,

cuando el IP se cierra realmente.

137

OMICRON Test Universe

Cuando un punto de prueba se encuentra dentro de la ventana de


sincronizacin y se indica al rel que se active:
1. El mdulo de prueba Synchronizer verifica que se emiten los comandos
extrnsecos (V>, V<, f>, f<).
2 a) Dado que el punto de prueba se encuentra en la ventana de
sincronizacin, el rel puede emitir el comando de cierre del IP y el
mdulo de prueba Synchronizer entra en modo de post-sincronizacin.
b) Si el comando del IP no se recibe dentro del tiempo mximo de
sincronizacin, el mdulo de prueba Synchronizer emite el comando Fin.
3. El mdulo de prueba Synchronizer evala el tiempo (t sinc.) transcurrido
entre el comando de inicio y el comando de cierre del IP. Para la evaluacin
de un punto de prueba como correcto o incorrecto, es importante conocer la
tensin, la frecuencia y el ngulo de fase:
-

cuando se emite al rel el comando Inicio

cuando el rel emite el comando de cierre del IP

cuando el IP se cierra realmente.

El equipo de prueba CMC emite los puntos de prueba para determinados


perodos de tiempo. Los tiempos de salida se especifican en la ficha Ajustes
(consulte la seccin 5.2.6).
En la Oscilografa se puede ver el comportamiento exacto de las seales
binarias en un determinado punto de prueba.

138

Synchronizer

Paso 1: Definicin de la prueba de ajuste


Nota: Si ha definido anteriormente una prueba de funcin (consulte la seccin
5.2.7) y desea habilitar una prueba de ajuste, debe

eliminar los puntos de prueba definidos en la ficha Funcin (y los


resultados de la prueba, si se dispone de ellos)

o abrir una prueba nueva (A R C H I V O | N U E V O ) y definir otra vez los


parmetros del equipo en prueba y la configuracin del hardware
(consulte las secciones 5.2.3 y 5.2.4).

1. Seleccione la ficha Ajuste de la vista Prueba de Synchronizer.


2. Aada puntos de prueba a la tabla de prueba. Aqu slo se van a definir
cuatro puntos, para ensear cmo funciona.
Site dos dentro de la ventana de sincronizacin, cerca de los bordes de la
ventana, y dos fuera, como se muestra en las figuras 5-15 y 5-16.
Los tres modos principales de introducir puntos de prueba en la tabla.

Introducir la informacin en los respectivos cuadros de texto de V, f,


Phi (), o V, f, Phi (), o una combinacin de ambos. Una vez admitida
la informacin correspondiente a un punto de prueba, haga clic en el
botn A A D I R .

Situar el ratn en el grfico de sincronizacin (a la derecha). Haga clic


con el botn derecho del ratn en un punto para obtener un men de
contexto. Una de las opciones permite aadir ese punto de prueba a la
tabla de prueba.

<Ctrl> + clic con el botn izquierdo del ratn aade inmediatamente un


punto a la tabla.

Figura 5-15:
Ficha Ajuste con puntos
de prueba

139

OMICRON Test Universe

Figura 5-16:
Grfico de
sincronizacin de los
puntos de prueba

Paso 2: Ejecucin de la prueba de ajuste


1. Una vez definido un nmero suficiente de puntos de prueba, puede
ejecutarlos consecutivamente. Seleccione el botn R E P R O D U C I R .
2. El equipo de prueba CMC emite los puntos de prueba para determinados
perodos de tiempo. Los tiempos de salida se especifican en la ficha
Ajustes; consulte la seccin 5.2.6.
Figura 5-17:
Puntos de prueba
evaluados en la ficha
Ajuste

Adems de la evaluacin en la tabla de prueba, los puntos de prueba se


evalan como correctos ("+" verde) o incorrectos ("x" roja) en el grfico. Una
vez ms, la evaluacin se basa en la previsin.

140

Synchronizer

Figura 5-18:
Grfico de
sincronizacin que
muestra el movimiento
de los puntos de prueba
hacia el interior de la
ventana de
sincronizacin

El grfico de sincronizacin contiene informacin grfica til sobre lo que ha


sucedido a los puntos de prueba. Concretamente, indica el movimiento de
los puntos de prueba antes de lograr la sincronizacin.
Los puntos de prueba que estaban fuera de la ventana de sincronizacin
provocaron que el rel emitiese los comandos pertinentes para subir o bajar
la tensin y para aumentar o reducir la frecuencia. El modo Generador de
Synchronizer interpret estos comandos para controlar las magnitudes
fsicas de salida del sistema 2.
Cuando el rel de sincronizacin funciona correctamente, los puntos de
prueba se desplazan hacia el interior de la ventana de sincronizacin hasta
que tiene lugar la sincronizacin.
Si la sincronizacin tiene lugar dentro del tiempo mximo de sincronizacin,
el resultado del punto de prueba es correcto. En caso contrario, el resultado
es incorrecto.
Cuando en la tabla de prueba hay un punto de prueba individual resaltado,
sus correspondientes puntos inicial y final se resaltan en el grfico de
sincronizacin a lo largo de la ruta de migracin del control de ajuste.
3. Compruebe que se muestra el Sincronoscopio seleccionando
V E R | S Y N C H R O N O S C O P E . Resalte puntos de prueba individuales de la
tabla de prueba para que el sincronoscopio muestre el Phi () en dos
momentos distintos: cuando se emiti el comando de cierre del IP y cuando
el IP se cerr efectivamente.

141

OMICRON Test Universe

Figura 5-19:
Sincronoscopio para un
punto de prueba
individual

Paso 3: Definicin del informe de la prueba


Seleccione P A R M E T R O S | I N F O R M E . Se abrir un cuadro de dilogo en el
que puede definir el rango de aplicacin del informe.
Encontrar una descripcin detallada sobre la definicin de los informes de las
pruebas en la seccin 5.2 Informes de prueba del manual "El concepto" o en
la ayuda en lnea en la entrada --- Informes de prueba --- del ndice.
Seleccione V E R | I N F O R M E para ver el informe de la prueba.

142

Synchronizer

5.2.9

Creacin de un documento de prueba OCC


Si se guardaron anteriormente, los dos archivos de prueba del rel SYN3000
(p. ej. SYN3000_function.snc y SYN3000_adjustment.snc) se pueden
incrustar en un documento del Control Center (OCC) para crear un documento
de prueba automatizado que ejecute tanto la prueba de funcin como la prueba
de ajuste.
Para crear un documento OCC:
1. Inicie el Control Center con un documento vaco o una plantilla.
2. Haga clic en el icono E Q U I P O E N P R U E B A de la barra de herramientas o
seleccione I N S E R T A R | E Q U I P O E N P R U E B A para abrir el cuadro de
dilogo de los datos especficos del equipo en prueba y especificar los
parmetros del rel sometido a prueba.
3. Haga clic en el icono de C O N F I G U R A C I N D E L H A R D W A R E de la barra
de herramientas o seleccione I N S E R T A R | C O N F I G U R A C I N
D E L H A R D W A R E para abrir el cuadro de dilogo correspondiente a la
configuracin del hardware y especificar la configuracin del hardware como
se explica en la seccin 5.2.4.
4. Seleccione I N S E R T A R | M D U L O D E P R U E B A . . . para abrir el cuadro
de dilogo de los equipos en prueba de Synchronizer.
IMPORTANTE: Seleccione "Crear desde archivo" en este cuadro de
dilogo.
Examine el directorio donde se guardan los archivos de prueba (p. ej.
SYN3000_function.snc y SYN3000_adjustment.snc) y seleccione
uno.
5. Seleccione otra vez I N S E R T A R | M D U L O D E P R U E B A . . . . Seleccione
"Crear desde archivo" en este cuadro de dilogo. Examine el directorio
donde se guardan los archivos de prueba (p. ej. SYN3000_function.snc
y SYN3000_adjustment.snc) y seleccione el otro archivo.
6. En este momento, tiene un documento de prueba del OCC, bsico, sin
adornos, que puede ejecutar tanto la prueba de funcin como la prueba de
ajuste. Este documento de prueba OCC puede personalizarse ms.

143

OMICRON Test Universe

144

Annunciation Checker

6 Annunciation Checker
Los rels de proteccin actuales pueden emitir cientos de seales y valores
medidos. Especialmente durante la puesta en servicio de las estaciones hay
que verificar la correcta la asignacin de seales y valores medidos a las
distintas ubicaciones. Annunciation Checker permite al usuario generar las
seales y verificar que se representan correctamente en las ubicaciones
correspondientes. Es posible preparar las seales en un documento de prueba
y adaptarlas al equipo real de la subestacin incluso durante las pruebas.
Figura 6-1:
Annunciation Checker,
vista general
4

Annunciation Checker ofrece 5 vistas:

Protocol View (Protocolo)

no se muestra en la figura 6-1

Prueba

Detalle

Diagrama vectorial

Vista del plano de impedancia

145

OMICRON Test Universe

Informe
La vista Informe muestra los resultados de la prueba. Mediante los ajustes del
informe se puede personalizar el aspecto de los elementos que figuran en el
informe para satisfacer las necesidades del usuario.

Prueba
Este cuadro de dilogo se usa para introducir las seales y las ubicaciones,
ajustar los LED y los estados esperados y mostrar los resultados de la
evaluacin.
El mdulo de prueba puede generar hasta 9 ubicaciones y 200 seales.
Adems, el desarrollo de la prueba se puede ver en la indicacin de estado.
Figura 6-2:
Prueba
1

146

Aadir seales

Aadir ubicaciones

Indicacin de estado

Annunciation Checker

Detalle
Esta vista se usa para lo siguiente:

Predeterminar el tipo de seal a emitir en las salidas analgicas de la unidad


CMC.
Se dispone de las tres opciones siguientes:
Disparo

La salida de seales se limita mediante el tiempo o se


interrumpe mediante la condicin del trigger. Se
puede ajustar la duracin y la corriente de pre-falta.

Estado estacionario Salida continua de seales.


Sin salida

No se produce salida de seales. Slo es posible


definir instrucciones y mensajes contextuales.

Ajustar la magnitud, ngulo de fase y frecuencia de las salidas analgicas de


la unidad CMC necesarias para generar el mensaje.
A tal efecto, se puede optar entre 9 modos de ajuste:
1. Directo (Fase-Neutro)
Entrada de tensiones, corrientes y frecuencias fase-neutro.
2. Fase - Fase
Entrada de tensiones, corrientes y frecuencias fase-fase.
3. Componentes simtricas
Entrada de tensiones y corrientes positivas, negativas y homopolares.
4. Potencias
Entrada de potencias reales y reactivas y tensiones fase-neutro.
5. Valores de falta
Entrada de tensin de falta y corriente de falta.
6. Z-I const.
Entrada del tipo de falta y de las impedancias de falta con corriente de
prueba constante.
7. Z-V const.
Entrada del tipo de falta y de las impedancias de falta con tensin de
prueba constante.
8. Z%-I const.
Entrada del tipo de falta y de las impedancias de falta en porcentaje de
las zonas de disparo con corriente de prueba constante.
9. Z%-V const.
Entrada del tipo de falta y de las impedancias de falta en porcentaje de
las zonas de disparo con tensin de prueba constante.

147

OMICRON Test Universe

Definicin de instrucciones a seguir al verificar el mensaje.

Definicin de mensajes contextuales que se emplean para indicar pasos


concretos.

Salida adicional de informacin sobre las salidas binarias.

Figura 6-3:
Detalle
1

148

Seleccin del tipo de seal

Entrada de los parmetros de disparo

Seleccin del modo de falta

Definicin de instruccin

Definicin de mensaje contextual

Seleccin de las salidas binarias

Annunciation Checker

Vista del diagrama vectorial


El comportamiento de la corriente y tensin ajustadas se muestra como
diagrama vectorial.

Vista del plano de impedancia


Los valores de impedancia para generar los modos de falta de impedancia se
pueden tomar directamente de esta vista. Para hacerlo, seleccione un valor de
impedancia con el botn izquierdo del ratn. La impedancia seleccionada se
introducir automticamente en la tabla de faltas.
Figura 6-4:
Vista del plano de
impedancia

149

OMICRON Test Universe

6.1 Ejemplo: Annunciation Checker con un rel de


proteccin de distancia digital 7SA631
Archivo de muestra: Distance7SA631.annuch
Guardado en: ...Ruta de instalacin de OMICRON Test Universe\
Test Library\Samples\SW Manual Examples\Advanced Protection

6.1.1

Objetivo de la prueba
En la subestacin Centro dirigida por Suministro de energa XX S.A., el rel de
proteccin de distancia 7SA631 de SIEMENS se usa como proteccin principal
del cable conectado al alimentador =E01. Como parte de la puesta en servicio,
se van a verificar todas las seales y valores medidos en las distintas
ubicaciones de anuncio. Se dispone, como instrumento de prueba, de la unidad
de prueba CMC 156.

Figura 6-5:
Equipo protegido

Centro
=E01

-Q1

-Q2

-T1
-Q8

150

Proteccin de distancia
rel 7SA631

100 / 1A

-T05

Annunciation Checker

Figura 6-6:
Ubicaciones de anuncio

Ubicaciones de anuncio
Rel de
proteccin

Regleta de
conexiones 20

Control
local

Sala de control
del sistema

En la explicacin que sigue se describe la prueba de puesta en servicio del


alimentador =E01 de un rel multifuncional usando el mdulo de prueba
Annunciation Checker con un documento de prueba creado en el OMICRON
Control Center. Si bien su aplicacin especfica requerir ciertas
modificaciones, el procedimiento general sigue siendo el mismo.
Probar un rel de proteccin para la puesta en servicio requiere lo siguiente:

6.1.2

Todos los mensajes y valores medidos transmitidos del dispositivo de


proteccin a las diversas ubicaciones de anuncio.

Todas las ubicaciones donde se muestran los mensajes y valores medidos.

Los ajustes de prueba necesarios para generar los mensajes y valores


medidos correspondientes.

Preparacin de la prueba
A continuacin se describe la creacin de un documento de prueba completo en
el OMICRON Control Center. Se explica la funcionalidad tanto del mdulo de
prueba Annunciation Checker que se utiliza como del sistema completo. Para
obtener informacin especfica, consulte la ayuda en lnea.
Antes de la prueba en s, es necesario seguir estos pasos:
1. Ajuste de la disposicin del documento (fuera), consulte el captulo
"OMICRON Control Center" del manual de software "El Concepto".
2. Introduccin de los parmetros del rel y del equipo en prueba, consulte el
captulo 6.1.3.
3. Configuracin del hardware de la unidad de prueba, consulte el captulo
6.1.4.
4. Configuracin del mdulo de prueba, consulte el captulo 6.1.5.

151

OMICRON Test Universe

6.1.3

Definicin del equipo en prueba


La definicin del rel sometido a prueba se realiza por medio de la funcin de
software Equipo en prueba. Abra Equipo en prueba seleccionando la opcin
de men P A R M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A o haciendo clic con el
botn izquierdo del ratn en la opcin Equipo en prueba de la barra de
herramientas. En el cuadro de dilogo Equipo en prueba se puede acceder a
los parmetros del equipo en prueba y editarlos.
Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la seccin
3 Configuracin del equipo en prueba del manual "El concepto" o en la ayuda
en lnea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del ndice.
Existen dos mtodos generales para poner los parmetros del rel a disposicin
del sistema de prueba:
1. Definicin de los datos del equipo en prueba en el documento de prueba
(declaracin global).
2. Definicin de los datos del equipo en prueba en cada mdulo de prueba
individual mediante P A R M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A .
El primer mtodo se debe usar si se realizan varias pruebas a un equipo en
prueba utilizando mdulos de prueba distintos. El equipo en prueba se pone
automticamente a disposicin de todos los mdulos de prueba posteriores.
Inserte un equipo en prueba y especifique los parmetros de proteccin de
distancia. Valores nominales del rel: In= 1A, Vn = 100V.
-

Coloque el cursor al principio del documento de prueba.

Seleccione la opcin de men I N S E R T A R | E Q U I P O

EN PRUEBA.

Paso 1: Definicin de los datos generales


1. En el rbol de estructura del cuadro de dilogo Equipo en prueba,
seleccione la rama R I O | D I S P O S I T I V O .
2. Haga clic en el botn E D I C I N para introducir los datos generales del rel
de proteccin.
3. En el cuadro de dilogo Ajustes del dispositivo que se abre a continuacin,
introduzca los datos generales como se muestra en la figura 6-7.

152

Annunciation Checker

Figura 6-7:
Ajustes generales del
equipo en prueba

= Deteccin de sobrecarga ajustable

4. Haga clic en Aceptar para cerrar el cuadro de dilogo Ajustes del


dispositivo.

153

OMICRON Test Universe

Paso 2: Definicin de los parmetros del dispositivo de


proteccin
1. En el cuadro de dilogo Equipo en prueba, haga clic en el botn E D I C I N
para abrir los ajustes del equipo en prueba. Defina los parmetros globales
de proteccin en la ficha Ajustes del sistema.
Figura 6-8:
Fichas Ajustes del
sistema y Ajustes de
zona

154

Longitud de la lnea y ngulo de la lnea. Los ajustes de la conexin del


transformador afectan a la direccin de la tensin o corriente post-falta.

Lmites de tolerancia, necesarios para comparar valores nominales y


reales.

El factor de puesta a tierra se usa para simular faltas monopolares. Su


definicin vara en funcin del fabricante del rel.

Se usa con rels que tienen en cuenta la resistencia de arco en el


modelado.

Indicacin de impedancias como valores primarios.

Correccin de tensin si las impedancias estn relacionadas con la


corriente nominal de 5A del rel.

Annunciation Checker

2. Edite las caractersticas de arranque y reposicin del dispositivo de


proteccin en la ficha Ajustes de zona.
Figura 6-9:
Ajustes de zona

155

OMICRON Test Universe

Paso 3: Creacin de parmetros definidos por el usuario


Cree un parmetro de sobrecarga definido por usuario con I> = 1,8 I/In y un
factor de seguridad del 10 %.
En los ajustes que siguen tiene que cambiar al modo avanzado de Equipo en
prueba. Para hacerlo, seleccione V E R | A V A N Z A D O .
1. Seleccione la rama Personalizar del rbol de estructura.
2. Inserte un bloque nuevo seleccionando B L O Q U E | A A D I R .
Figura 6-10:
Adicin de un bloque en
Equipo en prueba

3. El bloque nuevo aparece ahora como opcin de Personalizar en el rbol de


estructura.
4. Resalte el bloque nuevo en el rbol de estructura y abra los detalles del
bloque seleccionando B L O Q U E | D E T A L L E .
Figura 6-11:
Detalles del bloque: ID
y nombre

5. Asigne al bloque una ID exclusiva y un nombre para poder distinguirlo


claramente.

156

Annunciation Checker

En el bloque nuevo ahora puede crear parmetros a los que se puede acceder
por medio de un vnculo.
6. Cree un parmetro nuevo en el bloque seleccionado eligiendo
PARMETRO | AADIR.
7. Seleccione el tipo de datos del parmetro y asigne una ID exclusiva.
Se puede optar entre los tipos de datos Cadena, Enumeracin, Booleano,
Entero y Real. El tipo de datos del parmetro tiene que seleccionarse por
anticipado. No obstante, tambin se puede cambiar posteriormente.
8. Seleccione P A R M E T R O | D E T A L L E para abrir el cuadro de dilogo de
los detalles de parmetros e introduzca el nombre y una descripcin, y defina
la disponibilidad y las propiedades del valor.
Figura 6-12:
Detalles de parmetros
2
1

Nombre y descripcin del parmetro.

Disponibilidad del parmetro creado.

Propiedades del valor como tipo de datos, valor, definicin mnima y


mxima y clculo por frmula.

Consulte la ayuda en lnea si desea una descripcin detallada de los detalles


de los parmetros.

157

OMICRON Test Universe

6.1.4

Especificacin de la configuracin del hardware


Seleccione P A R M E T R O S | C O N F I G U R A C I N
abrir la Configuracin del hardware.

DEL HARDWARE

para

Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Configuracin del


hardware en la seccin 4 Configuracin del hardware de prueba del manual
"El concepto" o en la ayuda en lnea, en la entrada --- Configuracin
del hardware --- del ndice.
Las entradas necesarias son: Inicio y Disparo.

6.1.5

Definicin de la prueba
Especificacin de los mensajes y ubicaciones
Los mensajes (seales) y las correspondientes ubicaciones de anuncios se
especifican en la vista de prueba de Annunciation Checker. Se definen en
formato tabular, con los mensajes dispuestos en lneas y las ubicaciones de
indicacin en columnas.
Especifique las seales y ubicaciones que desea probar en el transcurso de la
puesta en servicio del rel de proteccin en Annunciation Checker.

Figura 6-13:
Vista Prueba de
Annunciation Checker

1. Use el botn Aadir ubicacin para crear nuevas ubicaciones de anuncio.


Es posible un mximo de 9 ubicaciones.
2. Introduzca los nombres de las ubicaciones en los encabezados de
columna correspondientes (consulte la figura 6-14).

158

Annunciation Checker

Figura 6-14:
Tabla de los pasos de la
prueba

3. Use el botn Aadir seal para crear mensajes nuevos e introduzca sus
nombres en la columna Paso de prueba.
4. En la columna LED introduzca el nmero del LED que se usa para indicar el
mensaje.
Comentario: Un mdulo de prueba permite 200 mensajes como mximo.
En la tabla puede prefijar los estados de seal esperados para las ubicaciones
correspondientes.
Figura 6-15:
Tabla con mensajes y
ubicaciones

5. Localice el mensaje y ubicacin correspondientes. En su cruceta puede


seleccionar o anular la seleccin del mensaje por medio de la casilla de
verificacin situada en el extremo izquierdo de la columna. En la celda
situada inmediatamente a la derecha de la casilla de verificacin puede
introducir el estado nominal del mensaje esperado en la ubicacin
correspondiente.

159

OMICRON Test Universe

Definicin de los tipos de seal


Hasta ahora hemos definido nicamente los estados de seal de los mensajes
correspondientes. Para hacer que se generen, resalte la lnea del mensaje
correspondiente y abra la vista Detalle. Consulte en la tabla Ajustes de prueba
para los mensajes individuales en la pgina175 los valores de ajuste exactos
para la generacin de los mensajes.
Seleccione V E R | D E T A L L E para abrir la vista Detalle.
Figura 6-16:
Vista Detalle del
mensaje

Definicin de parmetros de disparo.

Campos de entrada de los valores de las salidas analgicas para modo


de disparo y modo de estado estacionario.

Campos de entrada de instrucciones.

Mensajes contextuales que se muestran al usuario antes del paso de


prueba.

Seleccin de salidas binarias adicionales.

El mensaje se puede generar utilizando tres tipos de seal:

160

Disparo:

Salida de seal de tiempo corto, los tiempos son


ajustables.

Estado estacionario:

Salida continua de seales.

sin salida:

No se produce salida de seales. Se pueden


definir instrucciones.

Annunciation Checker

Definicin del tipo de seal "Disparo"


Modo Directo
1. Seleccione el tipo de seal Disparo para el mensaje "DIST Pick-up L1"
(DIST Arranque L1).
2. Ajuste el trigger para "Inicio" en el valor 1 y deje en los dems parmetros
de disparo los ajustes por defecto.
En el rea "Modo de ajuste" puede ajustar los valores de corriente y tensin de
las salidas analgicas de los triples del generador.
Figura 6-17:
Seleccin de modo

1
2

Ajuste de los parmetros de disparo:


Corriente de pre-falta
Tiempo de pre-falta
Tiempo de falta mx.
Tiempo de post-falta

Modos distintos para especificar los valores de corriente y tensin (en


los modos de impedancia es posible especificar valores directamente
seleccionndolos en la vista de plano de impedancia).

3. Seleccione el modo "Directo" para el mensaje Dist Pick-up L1 e introduzca


las magnitudes y ngulos de la corriente y la tensin.

161

OMICRON Test Universe

Figura 6-18:
Campos de entrada de
tensiones y corrientes

6
7

Modos distintos para especificar las corrientes y tensiones.

Campos de entrada de magnitudes y ngulos de tensiones y corrientes.


Cada campo se puede vincular con valores por defecto o definidos por
el usuario.

4. Haga clic con el botn derecho del ratn en la tensin VL1E y seleccione
"Cero".
5. Haga clic con el botn derecho del ratn en la corriente IL1 y seleccione
V I N C U L A R A X R I O ( L I N K T O X R I O ) para abrir el cuadro de dilogo
Vincular a XRIO (LinkToXRIO). En el rbol de estructura de este cuadro de
dilogo abra la rama "Personalizar | Special parameters" (Parmetros
especiales) y seleccione luego el parmetro de sobrecorriente definido I>.
6. Introduzca un factor (p. ej. 1,100) para ese valor y salga del cuadro de
dilogo haciendo clic en A C E P T A R .
Figura 6-19:
Cuadro de dilogo
Vincular a XRIO
(LinkToXRIO)

Si los valores se muestran como valores absolutos, el vnculo creado con la


sobrecorriente I> se mostrar con fondo gris.

162

Annunciation Checker

Modo Impedancia Z%-I const.


1. Seleccione el tipo de seal Disparo para el mensaje "DIST trip cmd".
2. Ajuste el trigger para "Inicio" en el valor 1 y deje en los dems parmetros
de disparo los ajustes por defecto.
En el rea "Modo de ajuste" puede ajustar los valores de corriente y tensin
de las salidas analgicas de los triples del generador.
Figura 6-20:
Seleccin de modo

1
2

Tipo de seal "Disparo"

Definicin de parmetros de disparo

Modo de ajuste Z%-I const.

3. Seleccione el modo "Z%-I const." para el mensaje Dist trip cmd e introduzca
el tipo de falta, el porcentaje relacionado con la zona y el ngulo de
impedancia.
Figura 6-21:
Campo de entrada de
valores de impedancia

4
5
6
7

Modo para especificar las impedancias

Tipo de falta

Porcentaje de impedancia relacionado con una zona

ngulo de impedancia; entrada directa o mediante vnculo con valores


definidos.

163

OMICRON Test Universe

4. Haga clic con el botn derecho del ratn en el valor de Phi Z y seleccione un
ngulo predefinido.
El campo de entrada de Ipru se puede vincular con valores definidos por el
usuario.
5. Haga clic con el botn derecho del ratn en la corriente Ipru y abra el cuadro
de dilogo Vincular a XRIO (LinkToXRIO). En el rbol de estructura de este
cuadro de dilogo abra la rama "Personalizar | Special parameters"
(Parmetros especiales) y seleccione luego el parmetro de sobrecorriente
definido I>.
6. Introduzca un factor (p. ej. 1,100) para ese valor y salga del cuadro de
dilogo haciendo clic en A C E P T A R .
Figura 6-22:
Cuadro de dilogo
Vincular a XRIO
(LinkToXRIO)

Si los valores se muestran como valores absolutos, el vnculo creado con la


sobrecorriente I> se mostrar con fondo gris.

164

Annunciation Checker

Definicin del tipo de seal "Estado estacionario"


Utilizando el tipo de seal estado estacionario la salida de seales permanece
activa hasta que se efecta la evaluacin de la prueba. Este mtodo resulta
especialmente adecuado para estados de seal que necesariamente han de
aplicarse durante ms tiempo, p. ej. valores medidos.
1. Seleccione el tipo de seal estado estacionario para "Meas value VL1-E"
(Valor medido VL1-E).
2. En el modo de ajuste "Directo" introduzca el valor nominal de VL1-E y el
texto de las instrucciones.
Figura 6-23:
Vista del tipo de seal
estado estacionario

165

OMICRON Test Universe

Definicin del tipo de seal "sin salida"


El tipo de seal sin salida desactiva todas las salidas de la unidad CMC. Slo
es posible generar instrucciones y mensajes contextuales.
1. Seleccione el tipo de seal sin salida para el mensaje "DIST
dev.t.emerg.OVC".
2. Introduzca el texto de la instruccin y de la ventana contextual de este
mensaje.
Figura 6-24:
Vista del tipo de seal
sin salida

166

Annunciation Checker

6.1.6

Ejecucin de la prueba
Una vez creados y especificados todos los mensajes y ubicaciones de anuncio,
se puede comenzar la prueba desde Prueba.
1. En la vista Prueba seleccione la lnea del mensaje a verificar o la columna
de la ubicacin a verificar.
2. Comience la prueba seleccionando P R U E B A | C O M E N Z A R / C O N T I N U A R .
Se muestra el cuadro de dilogo Navegador de la prueba, donde puede
seleccionar individualmente los mensajes y ubicaciones que figuran en la
tabla de entrada por medio de los botones de flecha. La verificacin se tiene
que ejecutar manualmente con cada punto de prueba pulsando el botn
Disparo. Si la verificacin de un punto de prueba se pudo terminar de la
manera debida, se efecta la evaluacin manual con los botones "Correcta"
o "Incorrecta".

Figura 6-25:
Cuadro de dilogo
Navegador de la
prueba

1
2

4
5

Flechas de navegacin

Zona de instrucciones

Visualizacin del mensaje (seal sometida a prueba)

Visualizacin de la ubicacin de anuncio

Visualizacin del estado esperado

Visualizacin del estado real (valor medido)

Si se selecciona, el programa pasa automticamente al siguiente


mensaje o ubicacin

Botones de evaluacin de prueba manual

3. Comience la prueba de los mensajes pulsando el botn Disparo.


Durante la prueba, la etiqueta del botn "Disparo" cambia a "Disparo en
ejecucin" para indicar que la prueba se est ejecutando en ese momento.
Los botones de evaluacin se activan una vez que concluye el paso de
prueba.

167

OMICRON Test Universe

4. Evale el paso de prueba con Correcta o Incorrecta.


Si el paso de prueba se evala con Correcta, el valor (nominal) esperado se
introduce automticamente en el campo "Medido". Si lo desea, en este
momento puede modificar el valor manualmente. La utilidad de esta
posibilidad se evidencia especficamente en el caso de tensiones y
corrientes medidas, al efecto de introducir el valor medido real.
Si el paso de prueba se evala con Incorrecta, el valor (nominal) esperado
no se introduce automticamente en el campo "Medido". En este caso el
mensaje recibe evaluacin incorrecta en la tabla de entrada.
5. Use los botones de flecha de navegacin para seleccionar el siguiente
mensaje a verificar.
La verificacin se puede interrumpir en cualquier momento con el botn
"Parar la prueba" e iniciarse de nuevo con el icono Comenzar de la barra de
herramientas.
El desarrollo real de la prueba se puede supervisar en la indicacin de
estado de la vista Prueba.
Figura 6-26:
Prueba

168

Paso de prueba correcto

Paso de prueba incorrecto

Indicacin de estado

Annunciation Checker

Figura 6-27:
Extracto de un informe
de prueba

169

OMICRON Test Universe

6.1.7

mbito funcional
Datos de entrada:
Sistema de 110kV, compensado.

Lnea:
1
Z Line
= 0.408 km

0
= 1.12 km
Z Line
1
= 72.9
Line

0
Line
= 78.7

Longitud: 50 km

600A
K nI = ------------1A
110kV
K nV = ---------------100V

Parmetros generales
Ajustes
I nom (sec.) ngulo de
la lnea

RE /RL

XE /XL

Ubicacin del
TP

Puesta a tierra
del TC

1A

0,277

0,605

en lnea

hacia la lnea

72,9

Tolerancias

170

Tiempo

Impedancia

Corriente

Tensin

relativa

1%

5%

5%

5%

absoluta

70ms

50m

50 mA

5V

Annunciation Checker

Arranque
Arranque por sobrecorriente controlado por tensin
Valor de arranque

Tensin [V/Vn]

Relacin arranque/
reposicin

[I/ 1,8

0,8

0,95

[I/In] 0,5

0,8

0,95

I>>
In]
I>

V
Vn

0.8

0.5

2.2

I
In

Proteccin de distancia
Alcance:
Z1 = 85% ZLnea
Z2 = 120% ZLnea
Z3 = 200% ZLnea
Z1B = 120% ZLnea
RLB = 6 (primario)
X/R=1,5

171

OMICRON Test Universe

Caracterstica poligonal / esquema de disparo:


Z1

Z2

Z3

Z 1B

12,76

21,27

12,76

t4

t5

[]

9,04

R-LL

[]

6,03

8,51

14,18

8,51

R-LE

[]

6,03

8,51

14,18

8,51

[s]

0,4

0,8

1,2

1,6

hacia
delante

hacia
delante

hacia
delante

hacia
delante

hacia
delante

nodireccional

Direccin

Caracterstica direccional
Caracterstica direccional (polarizacin cruzada)
ngulo

172

[]

2 cuadrante

4 cuadrante

120

-22

Annunciation Checker

Recierre automtico

Parmetro

Secuencia de prueba

Tiempo muerto

Alcance

tripolar, 1 ciclo

0,35 s

Z 1B

Funcin cierre manual, encender despus de la falta


Parmetro

Lmite de tiempo

Alcance

1s

Z 1B

Z2

Z1

Z1B
Interruptor de
puesta a tierra

Cierre
manual

173

OMICRON Test Universe

Proteccin de emergencia de tiempo definido


Caracterstica de tiempo definido
Etapa
I>
I>>
Ie>
Ie>>

[I/In]
[I/In]
[I/In]
[I/In]

Valor de arranque

Retardo de disparo

1,4

0,5 s

0,15 s

0,5

0,5 s

0,1 s

Ie> I>

174

Ie>> I>>

Annunciation Checker

Estados de prueba para las ubicaciones de anuncio


Paso de prueba

LED

Rel de
proteccin

Regleta de Control
conexiones local
X20

Sala de
control del
sistema

DIST Pick-up L1

Activado

X20:11; 60V

DIST Pickup L1

DIST Pickup L1

DIST Pick-up L2

Activado

X20:12; 60V DIST Pickup L2

DIST Pickup L2

DIST Pick-up L3

Activado

X20:13; 60V DIST Pickup L3

DIST Pickup L3

DIST trip cmd

Activado

DIST reverse dir.

Activado

DIST
def.t.emerg.OVC

10

Activado

Meas. value VL1E

VL1-E =
63,51kV

DIST trip
cmd

DIST trip
cmd

VL1-E =
63,51kV

VL1-E =
63,51kV

X20:24; 60V

X20:1
V = 57,73V

individuales
Ajustes de prueba para los mensajes individuales
Paso de prueba

Tipo de
seal

Modo

Ajustes

DIST Pick-up L1

Disparo

Fase Neutro

VL1 = 0V, IL1 = I>

DIST Pick-up L2

Disparo

Fase Neutro

VL2 = 0V, IL2 = I>

DIST Pick-up L3

Disparo

Fase Neutro

VL3 = 0V, IL3 = I>

DIST trip cmd

Disparo

Z%-I const.

Z% = 50%; PhiZ = 72,9;


I=I>; L1-E

DIST reverse dir.

Disparo

Z%-I const.

Z% = 50%; PhiZ = 72,9;


I=I>; L1-L2-L3

DIST def.t.emerg.OVC

Sin salida

Meas. value VL1E

Estado
estacionario

Fase Neutro

VL1-E = 57,73V

175

OMICRON Test Universe

Texto de las instrucciones de los mensajes individuales

176

Paso de prueba

Instruccin

DIST Pick-up L1

Arranque de L1 provocado por falta monofsica.

DIST Pick-up L2

Arranque de L2 provocado por falta monofsica.

DIST Pick-up L3

Arranque de L3 provocado por falta monofsica.

DIST trip cmd

Disparo provocado por falta monofsica local en direccin


hacia delante.

DIST reverse dir.

Disparo provocado por falta trifsica en direccin hacia


atrs.

DIST def.t.emerg.OVC

Apague el transformador de tensin y vuelva a encenderlo


despus de la prueba.

Meas. value VL1E

Verifique los valores de la tensin VL1-E en las distintas


ubicaciones.

Transient Ground Fault

7 Transient Ground Fault


Los rels de faltas a tierra se emplean como proteccin contra:

faltas a tierra en estado estacionario

faltas a tierra transitorias.

El mdulo de prueba Transient Ground Fault contiene un modelo de red para


simular faltas a tierra en redes que emplean un dispositivo resonante de puesta
a tierra (p. ej., una bobina Peterson) para conectar eficazmente a tierra el
sistema o en redes no conectadas a tierra en absoluto.
Las tensiones y corrientes simuladas en la ubicacin del rel se aproximan a las
de un sistema real.
Las formas de las ondas simuladas se descargan entonces en la unidad CMC
y se transmiten al equipo en prueba, normalmente un rel de faltas a tierra
transitorias o vatimtricas. Este mdulo puede servir de ayuda tambin al
configurar los citados rels.
Durante la puesta en servicio, puede probarse tambin si la conexin de los
transformadores de corriente es correcta. Pueden simularse tambin los
sistemas tradicionales tanto trifsicos como bifsicos que emplean algunos
sistemas ferroviarios.

7.1 Ejemplo: Rel de faltas a tierra


Archivos de muestra:
ESAG_II_Ground_Fault.grf
ESAG_II_ground_fault-256.ohc
ESAG_II_ground_fault.rio
Guardados en: ...Ruta de instalacin de OMICRON Test Universe\
Test Library\Samples\SW Manual Examples\Advanced Protection
En la figura 7-1 se muestra una aplicacin tpica del rel de faltas a tierra. Un
generador enva energa a travs de un transformador a la cuadrcula de
potencia.
Un rel de faltas a tierra supervisa las tensiones y corrientes de la lnea de
transmisin.

177

OMICRON Test Universe

Figura 7-1:
Ejemplo de rel de
faltas a tierra conectado
a uno de los
alimentadores de la
cuadrcula de potencia
de la red

Todas las corrientes visualizadas estn conectadas en paralelo, envindose su


suma al rel. Del mismo modo, todas las tensiones estn conectadas en serie,
envindose su suma al rel.
En un sistema trifsico equilibrado, la suma de las corrientes de cada fase es
cero. Del mismo modo, la suma de las tensiones de cada fase tambin es cero.
Sin embargo, cuando una de las fases est puesta a tierra o de alguna manera
desequilibrada con respecto a las dems fases, la suma de las corrientes y
tensiones deja de ser cero. Habr corriente dirigida al neutro o a tierra. Esto es
lo que detecta el rel de faltas a tierra.
Cuando se detecta una falta a tierra, el rel puede utilizarse para aislar partes
de la red y as evitar que el equipo, por ejemplo el transformador o el generador,
sufra desperfectos.

178

Transient Ground Fault

7.1.1

Emulacin con unidad de prueba CMC


Para probar el rel de faltas a tierra, el equipo de prueba CMC debe emular el
entorno en el que se utiliza el rel. Utilizaremos una CMC 256, si bien bastara
con una CMC 156.

Figura 7-2:
Simulacin de los
valores de corriente y
tensin visualizados de
la cuadrcula de
potencia que el rel de
faltas a tierra detectara,
por medio de la unidad
CMC 256

En la figura 7-2 se muestra el entorno de OMICRON Test Universe para


verificar el rel de faltas a tierra.

La cuarta salida de tensin de la unidad CMC 256 puede emplearse para


representar la tensin homopolar.
VA + VB + VC
-------------------------------3

Tres salidas de corriente de la CMC 256 representan las corrientes


visualizadas de las tres fases de la cuadrcula de potencia de la red.

La figura 7-2 no muestra el ordenador o PC porttil que se conecta a la unidad


CMC 256 y hace funcionar el mdulo de prueba Transient Ground Fault.
Compruebe que ste se encuentra tambin conectado a la unidad CMC 256 al
cablear el rel.

7.1.2

Inicio de Transient Ground Fault


Inicie Transient Ground Fault en modo autnomo desde la OMICRON
Start Page haciendo clic en S I M U L A C I N D E R E D . . . y luego en
TRANSIENT GROUND FAULT.

179

OMICRON Test Universe

7.1.3

Configuracin del equipo en prueba


Para la configuracin del rel en prueba se utiliza la funcin de software
correspondiente de Equipo en prueba. Abra Equipo en prueba con la opcin
del men desplegable P A R M E T R O S | E Q U I P O E N P R U E B A . Tambin se
puede hacer clic en el icono Equipo en prueba de la barra de herramientas. En
el cuadro de dilogo Equipo en prueba se pueden examinar, acceder y editar
los parmetros del equipo en prueba.
Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la seccin
3 Configuracin del equipo en prueba del manual "El concepto" o en la ayuda
en lnea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del ndice.
Introduzca los ajustes de dispositivo del rel ESAG II que figuran en la tabla 7-1.

Tabla 7-1:
Ajustes del dispositivo
del equipo en prueba
correspondientes al rel
de falta a tierra ESAG II

7.1.4

Ajustes del equipo


Nombre

Rel de faltas a tierra transitorias

Tipo de dispositivo

ESAG II

Nmero de fases:

f nom

50 Hz

V nom

120 V (L-L)

Configuracin del hardware


Configure el hardware de acuerdo con el cableado descrito en la seccin
7.1.1 Emulacin con unidad de prueba CMC.
Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Configuracin del
hardware en la seccin 4 Configuracin del hardware de prueba del manual
"El concepto" o en la ayuda en lnea, en la entrada --- Configuracin
del hardware --- del ndice.
1. Haga clic en el icono de C O N F I G U R A C I N
de herramientas.

DEL HARDWARE

de la barra

2. En la ficha General seleccione la unidad de prueba CMC conectada y ajuste


las tensiones en "1x300V" y las corrientes es "1x75 A".

180

Transient Ground Fault

3. En la ficha Salidas analgicas:

Asocie los nombres que aparecen en pantalla a las seales de tensin y


corriente. En este caso, utilizamos los valores por defecto, que son "VE"
e "IE".

El terminal de conexin del rel puede especificarse en la tercera


columna. En este ejemplo, es "3:4" para la tensin y "1:2" para la
corriente.

Asigne las cruces en la columna de "VE" e "IE" para especificar qu


salidas de la unidad CMC 256 se conectan a cada terminal del rel. Una
vez ms, utilizamos las asignaciones por defecto.

4. En la ficha Entradas binarias / analgicas:

7.1.5

Asocie los nombres que aparecen en pantalla a cada entrada binaria. En


este ejemplo, utilizamos las asignaciones por defecto. Especficamente,
asigne "Inicio" y "Disparo" a las seales procedentes del rel.

El terminal de conexin del rel puede especificarse en la tercera


columna.

Verificacin del cableado entre el rel y la unidad


CMC
En este momento, es prudente revisar una vez el cableado fsico para
comprobar que se corresponde con la seccin 7.1.1 Emulacin con unidad de
prueba CMC en la pgina 179 y con los ajustes especificados en la
configuracin del hardware.
1. Verifique que las entradas de tensin del rel estn conectadas a las
correspondientes salidas de tensin de la unidad CMC. Compruebe que las
"entradas" de tensin del rel estn debidamente puestas a tierra conforme
a su configuracin.
2. Verifique que las seales binarias de control del rel estn conectadas a las
correspondientes entradas binarias de la unidad CMC.

181

OMICRON Test Universe

7.1.6

Definicin de la prueba
Paso 1: Definicin de los ajustes de la prueba
En este paso, tiene que definirse informacin ms especfica referente a la
prueba que va a realizarse. Esto incluye la definicin del tipo de falta a tierra y
su ubicacin.
1. Seleccione V E R | P R U E B A para asegurarse de que la vista Prueba est
visible.
2. Seleccione la ficha Prueba.

Figura 7-3:
Ficha Prueba

3. Active la casilla de verificacin para usar los ajustes del equipo en prueba
para la frecuencia nominal.
4. La prueba que vamos a realizar es:

Tipo de red

Lnea abierta

Fase con falta de red

Funcin de falta a tierra

Transitoria

Ubicacin del rel

Alimentador A

Pto. de estrella a tierra

Hacia la lnea

Resistencia de falta a tierra

100 m

Observe que cuando cambia la ubicacin del rel se modifica tambin el


esquema de la derecha para indicar dnde est situado el rel. Por este
motivo tambin en la documentacin se indica que las faltas del alimentador
A representan faltas hacia delante, y las faltas del alimentador B representan
faltas hacia atrs.

182

Transient Ground Fault

Figura 7-4:
Esquema de la
ubicacin de la falta a
tierra

Origen
de red

Transformador

Sistema restante

Alimentador B

Alimentador A

Paso 2: Definicin de los ajustes del transformador


1. Seleccione la ficha Transformador.
2. Introduzca datos adecuados para el transformador (consulte la figura 7-5).
Aqu pueden utilizarse los datos que se indicaron como parte de la definicin
del equipo en prueba.
3. En este caso, los ajustes son:

AT

110 kV

BT

20 kV

Puesta a tierra

Compensada

Resistencia de puesta a tierra del neutro

400

Desintonizacin

-0,1

Relacin del transformador

40 MVA

Impedancia del transformador

14%

Nivel de falta a AT

6000 MVA

183

OMICRON Test Universe

Figura 7-5:
Ficha Transformador

Paso 3: Definicin de los ajustes de la red


1. Seleccione la ficha Red.
2. Introduzca informacin sobre la red en relacin con el Alimentador A y la
capacitancia primaria (consulte la figura 7-6).
En este caso, los ajustes son:
Alimentador A

R1

200 m

X1

360 m

R0

1,4

X0

600 m

I0 Capacitiva primaria

Red

60 A

Alimentador A

2A

Alimentador B

20 A

Corriente nominal del TC

184

Primario

1 kA

Secundario

5A

Transient Ground Fault

Figura 7-6:
Ficha Red

Paso 4: Definicin de los ajustes generales


En esta seccin el usuario indica informacin relacionada con la manera de
dispararse del rel de faltas a tierra.
1. Seleccione la ficha General.
2. En este ejemplo, seleccione el botn de radio correspondiente a "Sin
trigger".
3. Introduzca un tiempo de falta de 1 s.
Figura 7-7:
Ficha General

185

OMICRON Test Universe

7.1.7

Ejecucin de la prueba y visualizacin de la


oscilografa
Una vez finalizada la configuracin de Transient Ground Fault, puede
ejecutarse la prueba.
1. Seleccione P R U E B A | C O M E N Z A R / C O N T I N U A R .
El mdulo de prueba Transient Ground Fault crea las formas de onda
correspondientes a las salidas de tensin y corriente que la unidad CMC
posteriormente genera y suministra al rel conectado.
2. Seleccione V E R | O S C I L O G R A F A para ver las formas de onda de
tensin y corriente que se suministran al rel, adems de las entradas
binarias configuradas.

Figura 7-8:
Oscilografa

Cuando la unidad CMC genera las formas de onda y las aplica al rel de
faltas a tierra, puede ver rpidamente si el rel dispara o no. Puede averiguar
de inmediato si el rel funciona o no de la manera prevista.

186

Transient Ground Fault

7.1.8

Definicin de los ajustes de medida


La verificacin de un rel de faltas a tierra puede efectuarse en cuanto se hayan
establecido todos sus ajustes. Sin embargo, se trata de una prueba manual.
Para automatizar la verificacin y disponer de algn tipo de evaluacin, es
necesario establecer ciertos criterios de medicin.
Una condicin define cundo debe empezar la medicin, cundo debe parar,
cunto debe durar y qu esperar. Si se cumplen las expectativas, la prueba
arroja resultado positivo; en caso contrario, negativo.
1. Seleccione V E R | M E D I D A .

Figura 7-9:
Medidas

2. Introduzca informacin correspondiente a la evaluacin. La medida se inicia


una vez introducida la falta. La medida se para efectivamente cuando salta
el rel de faltas a tierra (Disparo 0>1). Cuando se da la condicin de la falta,
se espera que el rel se dispare con un perodo de tiempo especificado
(Tnom).
En este caso, los ajustes son:

Nombre

Disparo

Ignorar antes

Falta

Comenzar

Falta

Parar

Disparo 0>1

Tnom

0,1 s

Tdesv-

0,01 s

Tdesv+

0,01 s

3. Una vez ejecutada la prueba, el mdulo de prueba Transient Ground Fault


ofrece informacin sobre la medida y evala los resultados.

Treal

El tiempo real necesario para que se dispare el


rel de faltas a tierra.

Tdesv

El tiempo real de desviacin con respecto al


tiempo previsto de disparo (Tnom).

Evaluacin

Si se cumple o no esta condicin.

187

OMICRON Test Universe

7.1.9

Definicin del informe de la prueba


Seleccione P A R M E T R O S | I N F O R M E . Se abrir un cuadro de dilogo en el
que puede definir el rango de aplicacin del informe.
Encontrar una descripcin detallada sobre la definicin de los informes de las
pruebas en la seccin 5.2 Informes de prueba del manual "El concepto" o en
la ayuda en lnea, en la entrada --- Informes de prueba --- del ndice.
Seleccione V E R | I N F O R M E para ver el informe de la prueba.

188

VI-Starting

8 VI-Starting
El mdulo de prueba VI Starting comprueba la funcin de arranque de
sobrecorriente dependiente de la tensin (funcin VI Starting).
VI Starting puede utilizarse con todas las unidades de prueba trifsicas de
OMICRON. Ofrece las pruebas siguientes:

Pruebas de una caracterstica VI especificada (modo de prueba Verificar


caracterstica).
-

Pruebas automticas de mltiples puntos.

Pruebas manuales de puntos de prueba individuales

El diagrama de la caracterstica muestra la caracterstica VI y los puntos de


prueba. Los resultados (valores de arranque y reposicin) se muestran en la
tabla de puntos de prueba y en el diagrama de la caracterstica, y se
documentan en el informe. Adems, las seales que se emiten hacia el
equipo en prueba pueden observarse en un diagrama vectorial y la
oscilografa.

Bsqueda automtica de la caracterstica VI (modo de prueba Buscar


caracterstica).
La prueba de bsqueda determina automticamente la caracterstica de
arranque y reposicin sin especificar parmetros especficos del equipo en
prueba. A tal efecto, el software busca automticamente valores esenciales
de arranque y reposicin, y calcula la caracterstica completa para estos
resultados.

Salida de valores estticos.


Este modo resulta til para efectuar la depuracin.

189

OMICRON Test Universe

8.1 Acerca de la Caracterstica VI


Esta figura muestra la forma bsica de una caracterstica de arranque por
sobrecorriente dependiente de la tensin:
Figura 8-1:
Caracterstica de
arranque por
sobrecorriente
dependiente de la
tensin

6
4
2

La caracterstica se determina por medio de los siguientes valores:


1. Umbral de corriente de bajo nivel I>
2. Umbral de tensin V(I>)
3. Umbral de corriente de alto nivel I>>
4. Umbral de tensin V(I>>)
5. Tensin mxima (especificada en los ajustes del dispositivo)
La caracterstica divide el diagrama VI en dos zonas:
6. Zona normal de operacin, no est previsto ningn arranque.
7. Zona de arranque, arranque previsto.

8.2 Mtodo de prueba de VI Starting


Cada punto de prueba se especifica por medio de un par tensin / corriente.
Para averiguar los valores reales de arranque y reposicin, el software VI
Starting altera una de estas magnitudes mientras la otra se mantiene constante.
La magnitud que se altera para un punto de prueba determinado depende de la
ubicacin del punto de prueba en la caracterstica (consulte la descripcin que
sigue a la figura situada ms abajo).

190

VI-Starting

Se efecta una aproximacin al arranque con disparos, dando tiempo al rel


para rearmarse entre ellos. Una vez encontrado el arranque, la reposicin se
determina alterando la magnitud a lo largo de una rampa.
El tamao del paso con el que se altera la magnitud lo establece el software
automticamente.
Durante una prueba, el proceso de alterar la magnitud de prueba puede
observarse en el diagrama de la caracterstica y en el diagrama vectorial.
La figura situada abajo ilustra el mtodo. Muestra cmo se prueba el punto a.
Figura 8-2:
El proceso de alterar la
magnitud de prueba

Caracterstica VI

Tensin aplicada al equipo en prueba


(el valor de corriente es constante)

tensin
1
3

a
2

corriente

disparos

tiempo

La lnea discontinua vertical es la lnea de prueba. A lo largo de esta lnea, se


altera la magnitud de la prueba. Esta lnea figura en color azul claro en el
diagrama de la caracterstica de Prueba, y una vieta representa las
magnitudes de prueba reales. La lnea discontinua horizontal representa la
tensin de arranque. La tensin de prueba empieza al mximo y primero se
reduce despus de cada disparo segn un paso de tamao aproximado (1).
Despus del primer arranque (2), la tensin se hace retroceder un paso. Para
hallar el valor de arranque exacto, se vuelve a hacer descender la tensin en
pasos precisos hasta hallar el valor de arranque (4). Para determinar el valor de
reposicin, ahora la tensin se hace retroceder en rampa (5) hasta que se
produce la reposicin (6).
El procedimiento con corriente alterada a tensin constante es anlogo.

191

OMICRON Test Universe

8.3 Ejemplo: Uso de VI Starting

Tarea
Un operador de pruebas tiene la tarea de efectuar tanto una prueba automtica
de caracterstica como una prueba de bsqueda de una funcin de arranque por
sobrecorriente controlado por tensin con el mdulo de prueba VI Starting.
El rel sometido a prueba es un dispositivo tipo 7SA5 de SIEMENS y la unidad
de prueba que se usa es la CMC 156.

8.3.1

Configuracin del equipo en prueba


Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Equipo en prueba
y del tema estrechamente relacionado "XRIO" en la seccin
3 Configuracin del equipo en prueba del manual "El concepto" o en la ayuda
en lnea, en la entrada --- Equipo en prueba --- del ndice.
El programa de ajuste del rel se usa para buscar los parmetros de la
caracterstica a probar. Dado que el 7SA5 es de la serie SPIROTEC 3, se usa
el programa DIGSI 3. El elemento a buscar es el Fault Detection Program
(Programa de deteccin de faltas) de la proteccin de distancia. En este
ejemplo, la deteccin de faltas se ajusta para usar tensiones L-N para las faltas
L-N y tensiones L-L para las faltas L-L. Luego se deben buscar los parmetros
de deteccin de faltas. Estos son los parmetros que se transferirn a los
ajustes del equipo en prueba del mdulo de prueba VI Starting.

Figura 8-3:
Ajustes de la funcin VI
Starting en el programa
de ajuste del rel
DIGSI 3

192

VI-Starting

La correspondencia entre los parmetros del programa de ajuste del rel y los
parmetros de los ajustes del equipo en prueba de VI Starting est clara. Otros
rels que ofrecen esta funcin emplean nombres parecidos para los
parmetros, por lo que la nica dificultad estribara en buscar los valores para
los ajustes del equipo en prueba. En este ejemplo, los valores se pueden tomar
directamente del programa de ajuste del rel, sin ms clculos.
Figura 8-4:
Parmetros de VI
Starting en el equipo en
prueba

193

OMICRON Test Universe

8.3.2

Preparacin del hardware


Encontrar una descripcin detallada del cuadro de dilogo Configuracin del
hardware en la seccin 4 Configuracin del hardware de prueba del manual
"El concepto" o en la ayuda en lnea, en la entrada --- Configuracin
del hardware --- del ndice.
El mdulo de prueba VI Starting precisa tres tensiones analgicas y tres
corrientes analgicas para generar las magnitudes de prueba y una entrada
binaria para la retroalimentacin de la seal de arranque.
Dado que los ajustes de hardware por defecto de la unidad CMC 156 son
correctos, no es necesario hacer otros ajustes relativos a los grupos de
generador que se usan o a las asignaciones de salidas analgicas en la
configuracin del hardware (HCC).
El contacto de arranque se conecta a la entrada binaria n 1, que tambin es la
entrada binaria por defecto, por lo que no se precisan ajustes en las entradas
binarias.
Para obtener ms informacin sobre los ajustes de la HCC, p. ej. para usar otras
unidades de prueba como la unidad CMC 156 o para hacer conexiones que
difieren de las prefijadas, consulte los ajustes de la HCC que figuran en los
ejemplos correspondientes a otros mdulos, p. ej., State Sequencer.

8.3.3

Pruebas automticas de la caracterstica


Una prueba de caracterstica verifica la caracterstica en cuestin tal como se
halla especificada en los ajustes del equipo en prueba. Esto se hace en el modo
de prueba Verificar caracterstica. Las pruebas se hacen con el tipo de falta AN, por lo que las caractersticas L-N se toman como referencia y en el diagrama
de la caracterstica se muestra el tipo de falta correspondiente. Utilizando la
funcin Prueba rpida, se aaden automticamente cuatro puntos de prueba
fundamentales a la tabla de puntos de prueba. En la mayora de los casos, estos
cuatro puntos de prueba bastan para evaluar la funcin VI Starting. En caso
necesario, se pueden aadir fcilmente ms puntos de prueba utilizando otros
mtodos de aadir puntos de prueba. Si desea ms informacin sobre aadir y
anular puntos de prueba, consulte la ayuda en lnea.
Una vez terminados estos ajustes, se puede iniciar la prueba automtica.

194

VI-Starting

Figura 8-5:
Vista Prueba despus
de una prueba de
caracterstica.

El desarrollo de la prueba se muestra en el diagrama de la caracterstica


mediante la lnea de prueba azul con la vieta encima, que representa las
magnitudes reales de V-I emitidas durante las pruebas. El diagrama vectorial
indica la relacin mutua de las tensiones y las corrientes y la tabla de valores
del diagrama vectorial presenta los valores numricos exactos de las
magnitudes de prueba.
La evaluacin se refiere a los valores de arranque nicamente, ya que
normalmente slo hay especificaciones para la caracterstica de arranque.

195

OMICRON Test Universe

8.3.4

Una Prueba de bsqueda


La prueba de bsqueda permite buscar una caracterstica desconocida de VI
Starting. De hecho, busca tanto la caracterstica de arranque como la
caracterstica de reposicin. Esto se hace en el modo de prueba Buscar
caracterstica. Para usar este modo no es necesario hacer ajustes de
caracterstica en el equipo en prueba. No existe opcin alguna para especificar
puntos de prueba en este modo, ya que el mdulo de prueba mide
automticamente cuatro puntos fundamentales, que bastan para determinar las
caractersticas. Se trata de los mismos puntos de prueba que se utilizaron en la
Prueba rpida. En esta prueba, se usa el tipo de falta B-C para buscar las
caractersticas L-L.

Figura 8-6:
Vista Prueba despus
de una prueba de
bsqueda.

El desarrollo de la prueba se representa mediante la lnea de prueba y la vieta


mvil. En cuanto se dispone de los valores, se actualizan las caractersticas
calculadas, con arreglo a los datos existentes en ese momento. En la tabla, se
muestran los parmetros de las caractersticas de arranque y reposicin. Si
desea ms informacin sobre el procedimiento de bsqueda, consulte la ayuda
en lnea.

196

Pruebas monofsicas y salida de magnitudes de falta

9 Pruebas monofsicas y salida de


magnitudes de falta
9.1 Introduccin
Con el fin de alcanzar una potencia de salida (o corriente, o tensin) ms
elevada, los grupos de prueba y amplificadores de OMICRON permiten la
conexin en serie o en paralelo de salidas analgicas. De este modo, se puede
probar la mayora de los rels electromecnicos con el CMC 256. Para casos
de prueba en los que la potencia de una prueba trifsica no sea suficiente,
OMICRON ha desarrollado el Modo monofsico, que se encuentra disponible
en los mdulos de prueba Distance, Advanced Distance y Overcurrent. En las
siguientes explicaciones se describe cmo trabajar con el modo monofsico as
como con el Modelo de faltas monofsicas, que constituye la base para las
pruebas de todos los bucles de falta con fuentes monofsicas.

9.2 Rels electromecnicos y el Modelo de faltas


monofsicas
Los rels electromecnicos tienen requisitos especiales en cuanto a las
unidades de prueba electrnicas, dado que la demanda de potencia de las
entradas de corriente y de tensin puede ser considerablemente ms elevada
que con los rels numricos modernos. En el pasado, los amplificadores de
potencia se solan utilizar junto con unidades de prueba electrnicas para
excitar las cargas altas de los rels electromecnicos. En comparacin con sus
predecesores, el CMC 256proporciona una potencia de salida
considerablemente mayor, que ampla en gran medida el rango de aplicacin
para aplicaciones trifsicas. Muchos rels electromecnicos pueden probarse
sin amplificadores de potencia adicionales. Los rels que sigan necesitando
potencia ms elevada pueden probarse con los amplificadores OMICRON
CMS 251 o CMS 252.
Generalmente, en modo de funcionamiento monofsico, las unidades de
prueba pueden obtener por fase mucha ms potencia que en modo trifsico.
Para obtener esta potencia adicional, pueden conectarse varias fases juntas.
Habitualmente, las salidas de tensin estn conectadas en paralelo, para
incrementar la corriente de salida. Adems, las fuentes de corriente se conectan
en paralelo para incrementar la corriente de salida o se conectan en serie para
lograr una tensin de fuente ms alta.

197

OMICRON Test Universe

Los mdulos de prueba OMICRON Distance, Advanced Distance y Overcurrent


pueden configurarse para que obtengan lo que se denomina comnmente
"magnitudes de falta". Las magnitudes de falta denotan corrientes y tensiones
que tipifican la falta. Estas magnitudes de falta estn asignadas a fuentes
monofsicas de corriente y tensin. Consecuentemente, se elige una
configuracin de unidad de prueba que proporcione la potencia (o corriente, o
tensin) de salida ptima.

9.3 Salida de las magnitudes de falta para pruebas


de proteccin de distancia
Los rels electromecnicos de distancia tienen una propiedad que puede ser
esencial para las pruebas: se suelen utilizar como circuitos de un solo rel, es
decir, el circuito de medicin y el circuito para deteccin direccional slo est
presente una vez, no por fase. Cuando se detecta una condicin de arranque,
empieza a funcionar un circuito de seleccin de fase, el cual conecta las
magnitudes de falta con los circuitos para determinar la impedancia y la
direccin.
Este circuito de un solo rel puede usarse para pruebas. De este modo, es
posible probar los rels de este tipo en modo monofsico, lo que significa hacer
la prueba con una sola corriente y una sola tensin cada uno. El circuito de
seleccin de fase se ocupa de que se suministre a los circuitos de medicin esta
corriente y tensin exactas. El rel ignorar las magnitudes de las fases que no
tengan faltas, de modo que no es necesario generarlas.
Las magnitudes de falta son la corriente y la tensin, las cuales determinan la
impedancia de falta. El circuito de seleccin de fase suministra estas
magnitudes de falta al circuito de medicin de impedancia. Dependiendo del
tipo de falta, las magnitudes son diferentes. En las dos figuras que aparecen a
continuacin, se muestra la situacin para faltas de fase a tierra y faltas de fase
a fase.

198

Pruebas monofsicas y salida de magnitudes de falta

Figura 9-1:
Tensiones y corrientes
para faltas de fase a
tierra.

Figura 9-2:
Tensiones y corrientes
para faltas de fase a
fase.

En el caso del ejemplo de faltas de fase a tierra, las magnitudes de falta son la
tensin de fase a tierra y la corriente de fase de la fase con falta.
En el caso del ejemplo de faltas de fase a fase, las magnitudes de falta
comprenden la tensin de fase a fase y las corrientes de la fase con falta. Las
corrientes bifsicas aparecen en el diagrama fasorial como dos corrientes con
magnitudes idnticas y seales opuestas. De hecho, hay una corriente que
fluye hacia el rel en una sola fase y fuera del rel en la otra. Sin embargo,
tambin en este caso, es suficiente una fuente para producir esta corriente de
prueba.

199

OMICRON Test Universe

El software de prueba instalado de esta manera realiza la salida de las


magnitudes de falta a travs de las fuentes monofsicas sin la intervencin
adicional del usuario. El resto de las funciones del mdulo de prueba
permanecen inalterables, lo que significa que la especificacin de
caractersticas y el ajuste de los puntos de prueba se realiza como si los rels
estuvieran conectados en modo trifsico. El usuario slo tiene que comprobar
que las fuentes estn conectadas correctamente a los terminales del rel, de
acuerdo con el tipo de falta. El software de prueba (Advanced) Distance
recuerda al usuario mediante un mensaje que el cableado debe ser modificado
al inicio de la prueba y ante cualquier cambio del tipo de falta.

200

Pruebas monofsicas y salida de magnitudes de falta

9.4 Ajustes de la configuracin del hardware para


el uso del Modelo de faltas monofsicas
El uso de las fuentes presentes en la unidad de prueba se determina en la vista
de detalle de la configuracin del hardware. Las combinaciones de fuentes
disponibles figuran en una lista y el cableado necesario se indica en un grfico
situado al lado.
La figura 9-3 muestra una configuracin tpica de un CMC 256 para probar rels
electromecnicos de distancia con una corriente nominal de 1A.
Figura 9-3:
Vista de detalle de la
configuracin del
hardware: una sola
seleccin posible para
funcionamiento en
modo monofsico.

La corriente mxima de prueba de 12,5A es totalmente suficiente en este caso.


Por tanto es posible conectar cuatro fuentes de corriente en serie, lo que
proporciona una tensin de excitacin hasta de 60 V (valor pico). Con el
CMC 256, ya no se necesitan resistencias de compensacin para garantizar
una distribucin de tensin nivelada al conectar fuentes de corriente en serie.

201

OMICRON Test Universe

La tensin disponible procedente de las fuentes de tensin de esta unidad de


prueba, no viene determinada por la corriente nominal de los amplificadores,
sino por la fuente de alimentacin respectiva. La corriente mxima puede
obtenerse desde una fuente nica con el cableado que se indica.
La asignacin de las magnitudes de falta a las fuentes monofsicas se realiza
en el cuadro de dilogo para las salidas analgicas. Las seales I Falta y
V Falta se seleccionan para sus fuentes de corriente y tensin respectivas.
Figura 9-4:
Configuracin del
hardware, ficha Salidas
analgicas: asignacin
de las magnitudes de
falta en los mdulos de
prueba Advanced
Distance.

Figura 9-5:
Ejemplo de cableado
para una falta L-N
mostrado con un caso
especial de falta A-N.

Figura 9-6:
Ejemplo de cableado
para una falta L-L
mostrado con un caso
especial de falta C-A.

202

Equipo
en
prueba

Rel en
prueba

Equipo
en
prueba

Rel en
prueba

Pruebas monofsicas y salida de magnitudes de falta

9.5 Salida de las magnitudes de falta para pruebas


de Proteccin de sobrecorriente
Los rels de sobrecorriente requieren a menudo corrientes elevadas para
probar los >>elementos I. El CMC 256 puede generar 25 A en modo trifsico.
Para obtener esta potencia adicional, pueden conectarse varias fases juntas.
Habitualmente, las salidas de tensin estn conectadas en paralelo, para
incrementar la corriente de salida. Adems, las fuentes de corriente se conectan
en paralelo para incrementar la corriente de salida o se conectan en serie para
lograr una tensin de fuente ms alta. Si esta corriente sigue siendo
insuficiente, el paralaje de salidas permite la emisin de hasta 75 A en modo
monofsico. Adicionalmente, algunos rels electromecnicos de sobrecorriente
requieren una tensin de salida elevada del dispositivo de prueba, cuando es
necesaria una conexin en serie de las salidas de corriente, lo que implica de
nuevo el uso del modo monofsico.
En el mdulo de prueba Overcurrent, el ajuste de la configuracin del hardware
se realiza exactamente como se describe anteriormente, es decir, mediante
asignacin de I Falta y V Falta.
Las magnitudes de falta son la corriente de falta L-N o L-L y una tensin L-N.
Evidentemente, no pueden probarse las faltas trifsicas, las faltas homopolares
y las faltas de secuencia negativa.
Para rels no-direccionales, slo es necesaria una fuente de corriente. El ajuste
es muy sencillo puesto que se admiten todas las faltas L-N y L-L.
Para los rels direccionales, los tipos de faltas admitidos dependen de la
combinacin de las fuentes de tensin y corriente.

203

OMICRON Test Universe

9.6 Fuente de corriente monofsica y fuente de


tensin trifsica
Aunque, por razones de demanda de tensin en el trayecto de la corriente, se
elija una fuente de corriente monofsica, la alimentacin del rel mediante
tensiones trifsicas sigue siendo posible en la mayora de los casos.
El rel tiene todas las tensiones disponibles para decidir el direccionamiento. En
faltas L-N, el rel puede usar la tensin L-N de la fase en falta o la tensin L-L
de las fases sin falta. En faltas L-L, el rel puede usar la tensin L-N de la fase
sin falta, una de las tensiones L-N de las fases en falta o la tensin L-L de las
fases en falta.
En este caso, se admiten todos los tipos de falta L-N y L-L.
Tabla 9-1:
I Falta generada en
funcin del tipo de falta.

204

Tipo de falta

I Falta

A-N

IA

B-N

IB

C-N

IC

A-B

IA = -IB

B-C

IB = -IC

C-A

IC = -IA

Pruebas monofsicas y salida de magnitudes de falta

9.7 Fuente de corriente monofsica y fuente de


tensin monofsica
Si slo se dispone de tensin monofsica, las pruebas de faltas L-L pueden
resultar especialmente delicadas. Por este motivo, slo se admiten faltas L-N
cuando se usan fuentes monofsicas tanto para corriente como para tensin.
Las pruebas de faltas L-N se realizan presuponiendo que la tensin de la fase
en falta se usa para la decisin direccional.
Tabla 9-2:
I Falta y V Falta
generadas en funcin
del tipo de falta

Tipo de falta

I Falta

V Falta

A-N

IA

VA-N

B-N

IB

VB-N

C-N

IC

VC-N

205

OMICRON Test Universe

206

Extensiones de nombres de archivo en OMICRON Test Universe

Extensiones de nombres de archivo


en OMICRON Test Universe
Control Center OCC
nombre de archivo.OCC Documento de prueba del OMICRON Control Center

Mdulos de ayuda del OCC


nombre de archivo.PAU Pause Module
nombre de archivo.EXQ ExeCute
nombre de archivo.TXV TextView

Configuracin del hardware


nombre de archivo.OHC Configuracin del hardware de OMICRON
(importacin/exportacin desde la ficha General de la
Configuracin del hardware)

Equipo en prueba
nombre de archivo.RIO

El trmino RIO es el acrnimo de Relay Interface by


OMICRON (Interfaz de rel de OMICRON).
RIO se desarroll debido a la necesidad de un
formato de datos uniforme para los parmetros de
rels de proteccin producidos por diferentes
fabricantes. RIO proporciona una estructura comn
para que se puedan probar rels funcionalmente
similares de diferentes fabricantes con
procedimientos de prueba similares. Adems, RIO
permite importar caractersticas de rels desde
fuentes externas al software Test Universe.

nombre de archivo.XRIO XRIO representa la segunda generacin de la


tecnologa de archivos RIO. El trmino RIO es el
acrnimo de Relay Interface by OMICRON (Interfaz
de rel de Omicron), una tecnologa que ya estaba
disponible con versiones anteriores de Test Universe.
La X indica "extendido".

207

OMICRON Test Universe

Mdulos de prueba
nombre de archivo.ADT Advanced Distance
nombre de archivo ANNUCHAnnunciation Checker
nombre de archivo.BDF Differential
nombre de archivo.CBS Circuit Breaker Simulation
nombre de archivo.DST Distance
nombre de archivo.GRF Transient Ground Fault
nombre de archivo.HRT (Advanced Differential) Diff. Harmonic Restraint
nombre de archivo.MEA EnerLyzer
nombre de archivo.MET Meter
nombre de archivo.NSI

NetSim

nombre de archivo.OAR Autoreclosure


nombre de archivo.OTF (Advanced Differential) Diff. Operating Characteristic
nombre de archivo.OUC UCA-CMC Configuration
nombre de archivo.OVT Overcurrent
nombre de archivo.PQT Generador de seales PQ
nombre de archivo.PRA Pulse Ramping
nombre de archivo.QCM QuickCMC
nombre de archivo.RMP Ramping
nombre de archivo.SEQ State Sequencer
nombre de archivo.SNC Synchronizer
nombre de archivo.TRA Advanced TransPlay
nombre de archivo.TRD Transducer
nombre de archivo.TST (Advanced Differential) Diff. Trip Time
nombre de archivo.VGT (Advanced Differential) Diff Configuration
nombre de archivo.VSR VI-Starting

IEC 61850
nombre de archivo.OSV Configuracin de valores de muestra (Mdulo de
configuracin IEC 61850-9-2 LE ).
nombre de archivo.OGC Archivo de configuracin GOOSE
nombre de archivo.OUC Archivo de configuracin GSSE

208

Extensiones de nombres de archivo en OMICRON Test Universe

Herramientas de prueba
nombre de archivo.BIO

Binary I/O Monitor

nombre de archivo.HOU Harmonics


nombre de archivo.LST TransPlay
nombre de archivo.TYP TypConverter

Otras extensiones de nombres de archivo que conviene


conocer:
nombre de archivo.CFG Archivo de configuracin COMTRADE para la
descripcin de los canales del informes de errores
(nombres de seales, frecuencia de muestreo, etc.).
Se puede importar con el mdulo de prueba
Advanced TransPlay y cargar con la herramienta de
prueba TransView (opcional).
nombre de archivo.CML Archivo Comtrade. Puede cargarse con la
herramienta de prueba TransView (opcional).
nombre de archivo.CSV Formato Comma Separated Value (valores
separados por comas). Este formato de archivo se
puede leer desde cualquier base de datos de uso
comn. Los datos se escriben en un formato de tabla
sencillo. Un delimitador de campos (que puede
seleccionarse) separa los valores individuales.
Si un determinado valor es una cadena de texto, el
valor necesita tener un calificador del texto (el texto
puede contener el carcter que se usa como
delimitador de campos). Dado que la denominacin
de los valores booleanos no es coherente en los
diferentes programas de base de datos, los valores
Verdadero (True) y False (Falso) tambin han de
definirse.
nombre de archivo.DAT Archivo COMTRADE con los valores de muestreo de
los canales del informe de errores. Se puede importar
con el mdulo de prueba Advanced TransPlay y
cargar con la herramienta de prueba TransView
(opcional).
nombre de archivo.HDR "Archivo de encabezado", que contiene todo texto
relacionado con datos que no utiliza el programa.
Puede cargarse con el mdulo de prueba Advanced
TransPlay

209

OMICRON Test Universe

nombre de archivo.PDF Inventado por Adobe, el Portable Document Format


se ha convertido en el formato estndar de
distribucin e intercambio de documentos
electrnicos. Los archivos PDF tienen exactamente el
mismo aspecto que los documentos originales y
mantienen las fuentes, las imgenes, los grficos y el
diseo de cualquier archivo fuente,
independientemente de la aplicacin y plataforma
empleadas para crearlos.
Para ver un archivo PDF, se precisa Adobe Reader
o Foxit Reader (ambos programas son gratuitos). Si
todava no tiene un lector de PDF en el ordenador,
OMICRON Test Universe instalar Foxit Reader.
nombre de archivo.PL4 Archivo PL4. Se puede importar con el mdulo de
prueba Advanced TransPlay y cargar con la
herramienta de prueba TransView (opcional).
nombre de archivo.RTF Formato Rich Text Format. Formato de archivo
empleado por Microsoft Word u otra aplicacin de
procesamiento de texto.
nombre de archivo.TPL Archivo de plantilla para los informes de pruebas
(basados en RTF)
nombre de archivo.TRF Archivo TRF. Se puede importar con el mdulo de
prueba Advanced TransPlay y cargar con la
herramienta de prueba TransView (opcional).
nombre de archivo.XML XML (eXtensible Markup Language, Lenguaje de
marcas ampliable) ha sido aceptado como norma de
intercambio de datos, especialmente entre
plataformas distintas. XML y las tecnologas
relacionadas son recomendaciones del W3C (World
Wide Web Consortium).
Si desea ms informacin sobre XML, la pgina Web
de W3C http://www.w3.org/XML/ puede ser un buen
punto de partida.

210

Centros de informacin / Lnea directa

Centros de informacin / Lnea


directa
Europa, frica, Oriente Medio
OMICRON electronics GmbH
Telfono:

+43 5523 507-333

E-mail:

support@omicron.at

Sitio Web

www.omicron.at

Asia, Pacfico
OMICRON electronics Asia Ltd, Hong-Kong
Telfono:

+852 2634 0377

E-mail:

support@asia.omicron.at

Sitio Web

www.omicron.at

Norteamrica y Sudamrica
OMICRON electronics Corp. USA
Telfono:

+1 713 830-4660 o 1 800 OMICRON

E-mail:

techsupport@omicronusa.com

Sitio Web

www.omicronusa.com

Si desea saber direcciones de oficinas de OMICRON provistas de centros de


atencin al cliente, oficinas comerciales regionales y oficinas en general, a
efectos de formacin, consultas y puesta en servicio, visite nuestra pgina web.

211

Direcciones de los centros de contacto de OMICRON

212

ndice

ndice
A
Advanced Distance, mdulo de prueba . . . . 11
ajustes de zona (Advanced Distance) . . . . . 40
Annunciation Checker, mdulo de prueba . . 12
archivo
extensiones de nombres de archivos . . 207

C
cableado
rel de proteccin a unidad de prueba
CMC (Advanced Differential) . . . . . . . . . . 70
rel de proteccin a unidad de prueba
CMC (Advanced Distance y CB
Configuration) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
rel de proteccin a unidad de prueba
CMC (Advanced Distance) . . . . . . . . . . . 37
rel de proteccin a unidad de prueba
CMC (Advanced TransPlay) . . . . . . . . . . 22
rel de proteccin a unidad de prueba
CMC (Synchronizer) . . . . . . . . . . . . . . . 122
clculo de Ipol (Advanced Differential) . . . . . 77
caracterstica VI (VI Starting) . . . . . . . . . . . 190
CB Configuration
ejemplo con Advanced Distance . . . . . . . 57
CFG (formato de archivo de Advanced
TransPlay) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
componentes simtricas
Annunciation Checker . . . . . . . . . . . . . . 147
visualizacin en Monitor VI de Advanced
Distance . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
COMTRADE
extensin de nombre de archivos CML . 209
Comtrade
formatos de archivo utilizados en
Advanced TransPlay . . . . . . . . . . . . . . . . 13

conexin
rel de proteccin a unidad de prueba
CMC (Advanced Differential) . . . . . . . . . 70
rel de proteccin a unidad de prueba
CMC (Advanced Distance y CB
Configuration) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
rel de proteccin a unidad de prueba
CMC (Advanced Distance) . . . . . . . . . . . 37
rel de proteccin a unidad de prueba
CMC (Advanced TransPlay) . . . . . . . . . . 22
rel de proteccin a unidad de prueba
CMC (Synchronizer) . . . . . . . . . . . . . . . 122
corriente homopolar (Advanced Differential) 73
corrientes magnetizantes (Diff Operating
Characteristic) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65

D
DAT (formato de archivo de Advanced
TransPlay) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
datos transitorios
trabajar con d.t. (Advanced TransPlay) . . 11
devanado de referencia (Advanced
Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
devanados de frenado simtrico (Advanced
Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
Diagrama Z/t (Advanced Distance) . . . . 34, 53
diferencia
ngulo de fase, tensin o frecuencia
(Synchronizer) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120
Diff Configuration, mdulo de prueba . . 12, 65
Diff Harmonic Restraint, mdulo de
prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12, 66
Diff Operating Characteristic, mdulo
de prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12, 65
Diff Trip Time, mdulo de prueba . . . . . . 12, 66
direccin
de los representantes . . . . . . . . . . . . . . 211
del fabricante . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 211
direccin de OMICRON . . . . . . . . . . . . . . . 211
direccin del fabricante . . . . . . . . . . . . . . . 211
direcciones de los representantes . . . . . . . 211

213

OMICRON Test Universe

Editor de caracterstica (Advanced Distance) 41


El concepto
manual en formato PDF . . . . . . . . . . . . . . . 9
eliminacin de corriente homopolar (Diff
Operating Characteristic) . . . . . . . . . . . . . . . 95
eliminacin de homopolar (Advanced
Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
equipo en prueba
adicin de un bloque . . . . . . . . . . . . . . . 156
detalles del bloque . . . . . . . . . . . . . . . . . 156
esquemas diferenciales (mdulos
Advanced Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
estabilizacin contra sobreexcitacin
(Diff Trip Time) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70

HDR (formato de archivo de Advanced


TransPlay) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
hotline, servicio . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 211

F
falta a tierra (mdulo de prueba Ground
Fault) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 177
falta a tierra transitoria (Transient Ground
Fault) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 177
faltas a tierra en estado estacionario
(Ground Fault) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 177
Frenado por avalancha y estabilizacin
contra sobreexcitacin (Diff Trip Time) . . . . . 70
funcin de arranque de sobrecorriente
(dependiente de la tensin, VI Starting) . . . 189
funcin de arranque de sobrecorriente
dependiente de la tensin (VI Starting) . . . . 189

G
generador
conexin de un generador a la cuadrcula
(Synchronizer) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120
GPS
como trigger para iniciar la salida de
datos (Advanced TransPlay) . . . . . . . . . . 13

214

I
ID
ID del bloque (Equipo en prueba) . . . . . 156
Idiff / Ipol
par de valores (Diff Trip Time) . . . . . . . . 66
plano (Diff Operating Characteristic) . . . . 65
ignorar antes
en la vista Medidas de Advanced
TransPlay . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
impedancia
ajuste como porcentaje de los alcances
de zona (Advanced Distance) . . . . . . . . . 11
modelo de impedancia de fuente
constante (Advanced Distance) . . . . . . . 33
impedancia relativa (Advanced Distance) . . 11
interruptor de potencia
funciones de cierre del IP
(Synchronizer) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130

M
magnitudes de falta, salida . . . . . . . . . . . . 197
magnitudes de fase naturales (visualizacin
en Monitor VI de Advanced Distance) . . . . . 54
marcadores de datos (Advanced TransPlay) 18
marcadores de estado (Advanced
TransPlay) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
mensaje
verificacin (Annunciation Checker) . . . 145
mensajes de estado
verificacin (Annunciation Checker) . . . 145
modelo de impedancia de fuente
constante (Advanced Distance) . . . . . . . . . . 33

ndice

M (cont.)
modelo de transformador (Advanced
Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
Mdulos de prueba Advanced Differential . . 12
Monitor VI (Advanced Distance) . . . . . . . . . . 54

P
PDF
extensin de nombre de archivos . . . . . 210
personalizar
bloque personalizado en Equipo en
prueba . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 156
plano de impedancias Z
prueba en el plano de impedancias Z
(Advanced Distance) . . . . . . . . . . . . . . . . 29
proceso de avalancha (Diff Harmonic
Restraint) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
prueba
ejecucin de una prueba (Advanced
Distance y CB Configuration) . . . . . . . . . 61
ejecucin de una prueba (Advanced
Distance) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
ejecucin de una prueba (Advanced
TransPlay) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
ejecucin de una prueba (Annunciation
Checker) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167
ejecucin de una prueba (Diff Harmonic
Restraint) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88, 112
ejecucin de una prueba (Diff Operating
Characteristic) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94, 97
ejecucin de una prueba (Diff Trip Time) 108
ejecucin de una prueba (Ground Fault) 186
ejecucin de una prueba de ajuste
(Synchronizer) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 140
ejecucin de una prueba de funcin
(Synchronizer) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 134
prueba de alcances y tiempos de disparo
(Advanced Distance) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35

prueba de bsqueda
Advanced Distance . . . . . . . . . . . . . . 11, 31
Diff Harmonic Restraint . . . . . . . . . . 66, 110
Diff Operating Characteristic . . . . . . . 65, 90
VI Starting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 196
prueba de disparo
Advanced Distance . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
Diff Harmonic Restraint . . . . . . . . . . 66, 110
Diff Operating Characteristic . . . . . . . 65, 90
prueba de tiempos de disparo
(Advanced Distance) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
prueba de verificacin (Advanced
Distance) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11, 32
pruebas de distancia . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
pruebas monofsicas . . . . . . . . . . . . . . . . . 197
puesta a tierra del TC (Advanced
Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
punto de estrella a tierra (parmetro de
Advanced Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
punto de estrella del transformador
(Advanced Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . 67

R
regulador (Advanced TransPlay) . . . . . . . . . 17
relacin de devanado desequilibrada
debido a la posicin del cambiador de
tomas (Diff Operating Characteristic) . . . . . . 65
rel
verificacin de mensajes de rels
(Annunciation Checker) . . . . . . . . . . . . . 145
rel de distancia con reproduccin de
transitorios (ejemplo prctico Advanced
TransPlay) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
rels de proteccin diferencial . . . . . . . . . . . 63
rels de sincronizacin (Synchronizer) 11, 119
rels multifuncionales
probados con Advanced Differential . . . . 64
reproduccin de transitorios
rel de distancia con reproduccin de
transitorios (ejemplo prctico Advanced
TransPlay) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21

215

OMICRON Test Universe

R (cont.)

resistencia
resistencia de falta a tierra (Transient
Ground Fault) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 182
resistencia de puesta a tierra del
neutro (Transient Ground Fault) . . . . . . 183
RIO
extensin de nombre de archivos . . . . . 207
rotacin (Synchronizer) . . . . . . . . . . . . . . . . 124

tabla de datos del cursor (Advanced


TransPlay) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
TC
saturacin (Diff Op. Characteristic) . . . . . 65
verificacin de conexin (Ground
Fault) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 177
tiempo
tiempo max-sincro (Synchronizer) . . . . 129
tiempo post-sincro (Synchronizer) . . . . 129
tiempo pre-sincro (Synchronizer) . . . . . 129
tiempo de sincr. (Synchronizer) . . . . . . . . . 125
tiempo post-sincro (Synchronizer) . . . . . . . 129
tiempo pre-sincro (Synchronizer) . . . . . . . . 129
Transformador interpuesto YD
(Advanced Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . 81
trigger
opciones de trigger de Advanced
TransPlay . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15

S
salida de magnitudes de falta . . . . . . . . . . . 197
salida esttica (Diff OC) . . . . . . . . . . . . . 90, 98
Schweitzer SEL 587_Getting Results
Example.rio . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
selectivamente por fase (Advanced
Differential) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
Servicio
direccin de OMICRON . . . . . . . . . . . . . 211
sincronoscopio (Synchronizer) . . . . . . . . . . 135
sistema trifsico equilibrado (Ground Fault) 178
sistemas desincronizados (Synchronizer) . 119
sobreexcitacin
frenado por avalancha y estabilizacin
contra sobreexcitacin
(Advanced Differential) . . . . . . . . . . . . . . 69
Synchronizer, mdulo de prueba . . . . . . . . . 11

V
ventana de sincronizacin
prueba de ajuste (Synchronizer) . . . . . . 137
prueba de funcin (Synchronizer) . . . . . 130
VI Starting, mdulo de prueba . . . . . . . . . . . 11

X
XML
extensin de nombre de archivos . . . . . 210
XRIO
extensin de nombre de archivos . . . . . 207

Z
zonas muertas (Synchronizer) . . . . . . . . . . 125

216