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5 GRAFICASDE CONTROL
EJERCICIO.
Veremos un ejemplo de este tipo de grfico de control. En la siguiente figura
tenemos los datos de 24 muestras de producto producido por turno. En la columna
produccin tenemos el total de producto fabricado por turno. La columna Producto
Defectuoso nos indica el nmero de artculos defectuosos por turno; la
columna Nmero de Defectos nos indica el nmero de defectos encontrados en la
produccin de cada turno, ntese que por cada turno el nmero de defectos es
mayor o igual que el nmero de defectuosos, ya que un artculo defectuoso puede
tener uno o ms defectos. Finalmente tenemos la columna de Fraccin
Defectuosa, la fraccin defectuosa de un turno se calcula dividiendo el nmero de
Figura
2
Mientras
que
la
fraccin
defectuosa p barra, se calcula con
la siguiente frmula:
Figura 3
Ahora bien de las ecuaciones de la Figura 2, vemos que para calcular estos lmites
necesitamos el valor p barra, que es una estimacin de la fraccin defectuosa y ni,
que es el tamao de muestra de cada turno. Es decir, tendremos lmites de control
de diferentes tamaos, debido a que los tamaos de muestra son variables.
El valor de p barra es entonces:
Entonces tenemos ya el valor de p barra y los valores de ni, los cuales son los
artculos producidos en cada turno (tamao de muestra), cuyos valores se
muestran en la columna C de la Figura 1. Ya con esto, calculamos los lmites de
control con las frmulas de la Figura 2. Los valores se muestran en las columnas I,
J y K de la siguiente figura.
Figura 5
Por otra parte, en la columna H de la figura
anterior, tenemos la fraccin defectuosa de
cada muestra o turno, est se calcula para
cada turno, dividiendo el nmero de
defectuosos del turno por el total de
artculos producidos.
Con los valores de las cuatro columnas de
la Figura 5, podemos construir el grfico de
control. Reitero que en un post anterior que
se encuentra aqu, se muestra como se
puede hacer este grfico de control similar.
Con los datos de la Figura 5, el grfico de
control nos quedara as:
Figura 6
Podemos ver de la figura anterior, que en
virtud del tamao variable de la muestra,
cada valor de fraccin defectuosa tiene
lmites de control particulares acordes al
tamao de la muestra.
Glosario
Atributos
Data que se puede clasificar y contar
Tipos
-
Ventajas
-
Desventajas
Interpretacin errnea por errores de los datos o los clculos utilizados
Grfica p
-
Grfica np
-
Grfica c
-
Grfica u
-
EJERCICIO.
Grafica
n
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
np
900
1135
1005
1001
1020
1015
1035
1010
980
1115
10216
18
15
3
17
8
22
24
31
7
9
154
P=np/n
(1-p) =
0.020
0.013
raiz cuadrada de n =
0.003
0.017
p(1-p)=
0.008
0.022
raiz cuad p(1-p)=
0.023
0.031
raiz cuad p(1-p)*3=
0.007
0.008 raiz cuad p(1-p)*3/raiz cuad de n=
0.152
raiz cuad p(1-p)*3/raiz
ucl=cuad de n+p=
10216
0.015
0.985
101.0742301
0.014847156
0.121848906
0.365546717
0.003616616
0.018691009
-0.148181429
Grafica p
0.035
0.030
0.025
0.020
Grafica P
0.015
0.010
0.005
0.000
1
10
GRAFICA NP
n
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
np
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
10000
2
5
3
5
1
1
0
5
3
2
27
P=np/n
0.002
0.005
0.003
0.005
0.001
0.001
0.000
0.005
0.003
0.002
0.027
(1-p) =
0.973
p(1-p)=
2.6271
Grafica NP
0.006
0.005
0.004
0.003
0.002
0.001
0.000
1
10
Grafica u
Ejercicio: Grfica u
N
1
9
2
8
3
7
4
10
5
9
6
6
7
10
8
8
9
10
10
9
86
U=
C
25
13
28
35
27
25
20
32
16
20
241
U=C/N
2.8
1.6
4.0
3.5
3.0
4.2
2.0
4.0
1.6
2.2
28.9
raiz cuad u=
1.674014809
raiz cuad*3=
5.022044428
raiz cuad N=
9.273618495
0.541540978
3.343866559
-2.260784604
C/N
2.802325581
Grafica u
4.5
4.0
3.5
3.0
2.5
2.0
1.5
1.0
0.5
0.0
0
10
12
Hay dos maneras de obtener los subgrupos. Una de ellas es retirar varias piezas
juntas a intervalos regulares, por ejemplo cada hora:
La otra forma es
retirar
piezas
individuales a lo largo
del
intervalo
de tiempo correspond
iente al subgrupo:
La desviacin estndar del proceso se puede calcular a partir del rango promedio,
utilizando el coeficiente d2, que depende del nmero de mediciones en el
subgrupo:
a. Fraccin defectiva
Para productos defectivos calificados como pasa no pasa, se obtiene una carta de
control p de fraccin defectiva con tamao de muestra constante con al menos 25
puntos, y una vez que est en control, se determina su p media. La capacidad del
proceso es
1-P media.
b. Nmero de defectos
En este caso se requiere verificar y en todo caso mantener el proceso en control
por medio de una carta C o U con muestra constante por al menos 25 puntos.
A2
D3
D4
d2
1.88
3.267
1.128
1.023
2.574
1.693
0.729
2.282
2.059
0.577
2.115
2.326
0.483
2.004
2.534
0.419
0.076
1.924
2.704
0.373
0.136
1.864
2.847
0.337
0.184
1.816
2.97
10
0.308
0.223
1.777
3.078
c4
A3
B3
B4
B5
B6
0.940
1.342
1.427
0.000
2.089
0.000
1.964
0.952
1.225
1.287
0.030
1.970
0.029
1.874
0.959
1..134
1.182
0.118
1.882
0.113
1.806
0.965
1.061
1.099
0.185
1.815
0.179
1.751
0.969
1.000
1.032
0.239
1.761
0.232
1.707
10
0.973
0.949
0.975
0.284
1.716
0.276
1.669
11
0.975
0.905
0.927
0.321
1.679
0.313
1.637
12
0.978
0.866
0.886
0.354
1.646
0.346
1.610
13
0.979
0.832
0.850
0.382
1.618
0.374
1.585
14
0.981
0.802
0.817
0.406
1.594
0.399
1.563
15
0.982
0.775
0.789
0.428
1.572
0.421
1.544
16
0.984
0.750
0.763
0.448
1.552
0.440
1.526
17
0.985
0.728
0.739
0.466
1.534
0.458
1.511
18
0.985
0.707
0.718
0.482
1.518
0.475
1.496
19
0.986
0.688
0.698
0.497
1.503
0.490
1.483
20
0.987
0.671
0.680
0.510
1.490
0.504
1.470
21
0.988
0.655
0.663
0.523
1.477
0.516
1.459
22
0.988
0.640
0.647
0.534
1.466
0.528
1.448
23
0.989
0.626
0.633
0.545
1.455
0.539
1.438
24
0.989
0.612
0.619
0.555
1.445
0.549
1.429
25
0.990
0.600
0.606
0.565
1.435
0.559
1.420