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FISICA DE

SEMICONDUCTORES
GUIAS DE LABORATORIO

Dr.rer.nat. Henry A. Mndez Pinzn


Juan Carlos Salcedo Reyes PhD
2011

GRUPO DE PELICULAS DELGADAS


DEPARTAMENTO DE FISICA

Indice de prcticas

1. Tratamiento de datos de laboratorio

2. El nmero de Avogadro.

3. La gota de aceite de Millikan

4. Carga especfica del electrn 14


5. La constante de Rydberg..

19

6. Espectro de emisin del Hidrgeno.

22

7. Espectro de absorcin de un material..... 26


8. Difraccin de electrones por una red poli-cristalina

31

9. Experimento de Franck-Hertz...

36

10. Reflexin de Bragg.

40

11. Microscopia de Efecto tnel y fuerza atmica

47

12. Fluorescencia de Rayos X. 49


13. Efecto Hall

57

14. Resistividad de un metal vs. Temperatura.

68

15. Caracterizacin elctrica de un diodo PN..

72

16. Estructuras cristalinas

74

17. La dualidad onda-partcula de la luz...

75

18. Efecto fotoelctrico I (mtodo del contravoltaje)...

79

19. Efecto fotoelctrico I (mtodo de la rejilla de difraccin).

83

20. Analoga ptica de la difraccin de electrones..

87

Anexo A. Cdigo fuente IV only.vi de LabVIEW 8.5.1..

90

Prctica 1

Tratamiento de datos de Laboratorio


Con esta prctica se pretende recordar el formalismo de anlisis de grficas y tratamiento
de errores. En particular, se desea determinar experimentalmente la ecuacin de tiempo
de vaciado de un recipiente cilndrico en funcin de la altura inicial y del dimetro del
orificio (ecuacin de continuidad de fluidos incompresibles).

1.1.

Principios fsicos y tericos

Para unificar criterios acerca del tratamiento de datos se adoptar las indicaciones
expuestas en el curso interactivo de fsica en internet elaborado por ngel Franco Garca.
De particular importancia son las secciones para estimar el error de las mediciones [2] y
para estimar el error en una regresin lineal (error en la pendiente e intercepto), as como
aclarar el mtodo de los mnimos cuadrados [3].
1.2.

Detalles experimentales

Suponga un recipiente cilndrico de seccin transversal


hasta una altura

, inicialmente lleno con agua

y con un orificio circular en su parte inferior de dimetro

(Fig. 1.1).

Figura 1.1. Diagrama esquemtico del experimento del tiempo de vaciado de un recipiente
cilndrico en funcin de la altura inicial de agua y del dimetro del orificio de evacuacin .

Se supone que cuanto t = 0 s, se abre el orificio y se mide el tiempo (en segundos) que
tarda en vaciarse el recipiente en funcin de la altura inicial h y del dimetro del orificio d
obteniendo el resultado de la tabla I.
h ( 0.05 cm)

1.05

4.05

10.05

30.05

1.55

13.5

26.5

43.5

73.5

2.05

7.5

15.5

23.5

41.5

3.05

3.5

6.5

10.5

18.5

5.05

1.5

2.5

3.5

6.5

d ( 0.05 cm)

Tabla I. Resultados experimentales de la medida del tiempo de evacuacin de agua de


un recipiente cilndrico. Todos los resultados del tiempo de vaciado se toman con un error
absoluto de 0.5 s.

Para iniciar el anlisis preliminar de los datos se sugiere efectuar inicialmente los
siguientes procedimientos:
1.2.1. Elaborar una grfica de t vs h.
1.2.2. Elaborar una grfica de t vs d.
1.2.3. A partir de los pasos 1 y 2, encontrar la relacin funcional entre h y t, as
como entre d y t, teniendo en cuenta por supuesto la incertidumbre en las
mediciones.
1.2.4. Encontrar la relacin entre h, d,y t.
Esta primera prctica de laboratorio tiene como objetivo que el estudiante analice un
sistema fsico en particular realizando un tratamiento adecuado de los datos
experimentales en el sentido de relacionar los resultados experimentales con los modelos
tericos y, de esta manera, extrapolar la validez de los mismos. Desde este punto de vista
en este laboratorio el estudiante debe recordar el procedimiento de tratamiento de
errores y linealizacin de grficas que aprendi en sus cursos bsicos de fsica. Es por
esta razn que en esta gua no se incluyen mas detalles del procedimiento a seguir. Se
evaluar la presentacin de las grficas, el anlisis adecuado de los errores, el
procedimiento de mnimos cuadrados y la obtencin de la ecuacin final.

1.3.

Referencias

[1] Angel Franco Garca. Pgina de internet


http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/. Junio de 2011.

Fsica

con

[2] Angel Franco Garca. Pgina de internet Errores en las


http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/unidades/medidas/medidas.htm#Reglas.
2011.

ordenador.
medidas.
Junio de

[3]
Angel
Franco
Garca.
Pgina
de
internet
Regresin
lineal.
http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/cinematica/regresion/regresion.htm. Junio de 2011.

Prctica 2

El nmero de Avogadro

Esta prctica tiene como objetivo determinar experimentalmente el nmero de Avogadro y


el volumen de una molcula de cido oleico. La determinacin experimental
necesariamente implica una estimacin de la incertidumbre de estas dos cantidades.

2.1. Fundamentos fsicos


En esta prctica se asume que cuando se deja caer una gota de solucin muy diluida (un
solvente voltil -etanol o alcohol, por ejemplo- y acido oleico) sobre agua, la gota se
extiende rpidamente, evaporando el solvente, y formando una capa muy delgada
(aproximadamente monomolecular) de cido. El cido oleico, algunas veces conocido
como omega 9, es un cido graso monoinsaturado (posee un solo doble enlace carbonocarbono) tpico de los aceites vegetales. La frmula qumica del cido oleico es C 18H34O2,
de modo que la cadena de carbonos (con un doble enlace central C 17H33-) es hidrfoba y
el radical cido (-COOH, polar) es hidrfilo, lo que produce que las molculas de cido
oleico (insoluble en agua) tiendan a ordenarse siguiendo la topografa de la superficie del
agua.
A partir de la densidad del cido oleico (0.895 g/cm3) , del volumen de cido contenido en
una gota de solucin y del rea de la capa delgada, se puede calcular su espesor.
Suponiendo que el volumen de una molcula es igual al volumen de una esfera de
dimetro igual al grosor de la capa, se puede calcular el nmero de molculas contenidas
en la monocapa y, usando la masa molar del cido oleico (282 g/mol), el nmero de
Avogadro (6.02214179(30)10 23 mol-1)

2.2. Detalles experimentales


En esta prctica se usarn como elementos: cido oleico, alcohol, licopodio, una cubeta
con agua, un gotero, papel milimetrado y una probeta graduada de 10 cm3. (Figura 2.1a)
[1]. Primero se prepara la solucin base mezclando 5 cm3 de cido con 95 cm3 de alcohol.
Posteriormente se mezclan 45cm3 de alcohol con 5 cm3 de la solucin base.

Figura 2.1. Montaje experimental para estimar el tamao de una molcula de aceite.
Tomado de la pgina oficial de LD-Didactics GmbH [1].

Debido a la alta transparencia de la capa de cido no se puede distinguir fcilmente la


superficie de la capa de cido, por lo que se debe usar un medio de contraste. Para ello,
se deposita previamente en la superficie del agua un pulverizado llamado licopodio, el
cual es un polvo de color blanco que queda suspendido en la superficie del agua. Cuando
se deposita el cido, ste desplaza al licopodio de la regin donde se forma la capa de
cido y se puede observar claramente (Figura 2.1b). Una vez se forma la capa de cido,
muy rpidamente, se mide el dimetro de la superficie circular resultante.

A manera de gua para el anlisis de los resultados se propone efectuar los siguientes
pasos previos:

2.2.1. Determinar el volumen de una gota de solucin con su respectiva incertidumbre.


2.2.2. Determinar, con su respectiva incertidumbre, el volumen de cido oleico en una
gota de solucin.
2.2.3. Calculando el valor del rea de la superficie de la capa de cido, determinar el
espesor de la capa.
2.2.4. A partir de los datos anteriores, y suponiendo que una molcula de cido oleico es
esfrica, calcular el volumen de una molcula.
2.2.5. A partir de los valores de la densidad y la masa molar del cido oleico calcular el
nmero de Avogadro.

2.3.
[1]

Referencias
LD-Didactics Physics Leaflets P6.1.1.1. Estimating the size of oil molecules.

http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6111_e.pdf . Junio de 2011.

Prctica 3

La gota de aceite de Millikan

El objeto de esta prctica es determinar experimentalmente la naturaleza discreta de la


carga elemental y su valor. Esta es una de las constantes fsicas de la naturaleza y su
valor experimental se estima en 1.602176487 10 -19 coulomb 4 10-27 c [1]. Los
preliminares de este experimento y su contexto son un tanto curiosos pues la historia de
este descubrimiento no est exenta de competencia, intrigas, denuncias de fraude y
errores fsicos [2].

3.1. Principios fsicos

Se trata de introducir unas goticas electrizadas por rozamiento de un aceite con densidad
conocida, en medio de un condensador de placas paralelas. La accin combinada de las
fuerza gravitatoria y elctrica en presencia de un fluido viscoso (aire) permite determinar
la carga adquirida por la gota de aceite electrizada. Cuando la gota ha alcanzado su
velocidad terminal se encuentra en una situacin de equilibrio de fuerzas, incluyendo la
fuerza de rozamiento viscoso. Una ilustracin preliminar del experimento puede
encontrarse en el applet creado por Magnus Karlsson [3].
3.2. Detalles experimentales

La figura 3.1 ilustra el esquema general del experimento.

Figura 3.1. Esquema del experimento de la gota de aceite de Millikan.

El componente esencial del experimento es un condensador de placas paralelas


contenido en una caja oscura, al que se puede aplicar una diferencia de potencial de
varios cientos de voltios. Se tiene ademas una bomba manual inyectora de aceite
atomizado en pequeas goticas, las cuales al introducirse por un pequeo agujero de la
caja, se electrizan por rozamiento con sus paredes. Las gotas al interior de la caja pueden
observarse a travs de un cristal al que se le ha adaptado un pequeo microscopio de
bajo aumento, y para mejorar la observacin de las goticas, el interior de la caja puede
iluminarse con una pequea lmpara (no mostrada). El aceite empleado es un aceite
especial de gran calidad con baja presin de vapor que normalmente se usa en bombas
rotatorias y de alto vaco.

En ausencia de campo elctrico (o voltaje aplicado a las placas) la gota desciende por
accin de la gravedad. Sin embargo, al observarse a travs del microscopio la gota
parece que est ascendiendo, debido a que el microscopio proporciona una imagen
invertida. El ascenso de la gota es lento, teniendo en cuenta que el volumen de la gotica
es muy pequeo, y que ella est inmersa en un fluido viscoso (aire).

Una vez se acciona el campo elctrico se puede observar que algunas gotas aceleran su
ascenso, mientras que otras cambian su trayectoria en direccin opuesta (descendiendo
para el observador). La direccin ascendente o descendente de las goticas depende del
tipo de carga adquirida por cada una de ellas, y su velocidad depende de la magnitud de
esta carga adquirida. Este es el escenario que se observa en el applet de la referencia [2].
A manera de ejemplo, las goticas con carga negativa sern atradas hacia la placa
positiva del condensador y por tanto deben ascender. Sin embargo, el observador las
percibe como si estuvieran descendiendo debido a la inversin de la imagen por el
10

microscopio. Aunque es trabajoso medirla, la velocidad de cada una de las gotas puede
cuantificarse con la ayuda de un cronmetro, gracias a que el microscopio est dotado
con una reglilla micromtrica. La velocidad de cada una de estas gotas electrizadas puede
modificarse de manera controlada a travs del voltaje aplicado entre las placas del
condensador.

El montaje mostrado en la figura 3.2 es extrado de la pgina web oficial de la empresa


alemana LD Didactic GmbH. El aparato de Millikan LD 559 411 se conecta a la unidad
de servicio Millikan LD 559 421 [3]. Esta ltima consta de una fuente de voltaje DC
variable hasta 600V para suministrar la diferencia de potencial entre las placas del
condensador y otra fuente de voltaje DC constante de 12V para alimentar la lmpara.
Aunque no van a ser empleados en esta experiencia, la unidad de servicio Millikan posee
adems unos contadores digitales que permiten estimar el tiempo de trnsito de las gotas
con mayor precisin y asistido por computador.

a)

b)

Figura 3.2. a) Aparato de Millikan 559 411 de LD-Didactic GmbH con sus respectivos
componentes: 1- Plataforma, 2- Microscopio de medicin con ocular micromtrico, 3Condensador de placas paralelas, 4- Dispositivo de iluminacin, 5- Atomizador de aceite,
6- Pera de goma y 7- base del soporte. b) Conexiones del aparato de Millikan LD 559 411
a la Unidad de servicio Millikan LD 559 421.

11

La parte operativa de este experimento consiste en medir la velocidad de descenso (


ascenso) aparente de una gotica escogida, en funcin del voltaje aplicado a las placas del
condensador. Para hacer esto se selecciona una determinada gotica, cuya trayectoria
est dentro de la escala micromtrica del ocular del microscopio. Asumiendo que cada
gotica se mueve con velocidad constante (velocidad terminal) se mide su velocidad para
un determinado voltaje aplicado con ayuda de la escala micromtrica y un cronmetro.
Este mismo procedimiento se repite para varias gotas seleccionadas. Se debe elaborar
una grfica de la velocidad adquirida por cada gota en funcin del voltaje aplicado
(incluyendo cambios de polaridad).

La velocidad adquirida por la gota en funcin del voltaje aplicado debe depender en ltima
instancia de la carga elctrica que posee la gotica, y el propsito de esta prctica es
determinar la cantidad de carga de cada una de ellas con base en consideraciones
tericas y mediciones experimentales.

Para el anlisis de datos se sugiere:

3.2.1. Elaborar un diagrama de las fuerzas que actan sobre cada gotica en presencia
de un fluido viscoso, tanto para el caso en que la gotica est ascendiendo como
para el caso contrario.
3.2.2. Asumir que cada gotica es aproximadamente esfrica y emplear la ley de Stokes
para fluidos laminares.
3.2.3. Deducir una relacin entre la carga de la gota, las variables fsicas medidas
(velocidad y diferencia de potencial) y otros parmetros fsicos mencionados en la
siguiente seccin.
Datos tcnicos tiles

Distancia entre placas del condensador: 6 mm


Largo de la escala micromtrica: 10 mm
Divisin de la escala: 0.1 mm
Densidad del aceite: 877 Kg m-3.
12

Densidad del aire: seco, a 20 C y 101.325 kPa, la densidad es de 1.2041 kg/m 3 (IUPAC).
Viscosidad del aire: A 20 C, 1.8 10-5 Kgm-1s-1 [5].

3.3.

Referencias

[1] Valor recomendado por CODATA ao 2006. http://physics.nist.gov/cgi-bin/cuu/Value?e


Junio de 2011.
[2]

Applet

sobre

la

gota

de

aceite

de

Millikan.

http://physics.wku.edu/~womble/phys260/millikan.html. Junio de 2011.


[3]

LD

Physics

leaflets.

Unidad

de

Servicio

de

Millikan.

http://www.ld-

didactic.de/ga/5/559/559421/559421s.pdf. Junio de 2011.


[4] Ver experimentos introductorios de Fsica atmica y nuclear (VP6.1.1) de LeyboldDidactics en http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/p_index_e.html# . Junio de 2011.
[5] Danish Wind Industry Association.
http://www.talentfactory.dk/es/stat/unitsw.htm#visco. Junio de 2011.

13

Prctica 4

Carga especfica del electrn

La relacin entre la carga elemental del electrn

y su masa respectiva

conoce como carga especfica del electrn (

, es lo que se

). La idea de esta prctica de

laboratorio es determinar cuantitativamente esta relacin usando el mtodo original


empleado por J.J. Thompson en 1897.

4.1. Principios fsicos


Una partcula cargada que se mueve en presencia de un campo magntico

experimenta

la fuerza de Lorentz , que est dada por la ecuacin 4.1.


(4.1)
En la ecuacin 4.1, se tiene en cuenta la carga negativa del electrn y su respectiva
velocidad . El carcter vectorial de esta fuerza se ilustra en la figura 4.1.
En una configuracin donde la velocidad se
dirige perpendicularmente a la direccin del
campo

magntico,

la

trayectoria

del

electrn se curva debido a la fuerza de


Lorentz.

El caso en el que esta deflexin es


suficientemente pronunciada como para
que el electrn realice una trayectoria
circular cerrada, se lleva a cabo cuando su
velocidad y radio
Figura 4.1. Ilustracin de la fuerza de

alcanzan la condicin

establecida por la ecuacin 4.2.

Lorentz, de origen magntico [1].


14

(4.2)

Bajo esta condicin, la fuerza de Lorentz acta como una fuerza centrpeta, por
consiguiente para establecer su magnitud se tiene:
(4.3)

En consecuencia, la carga especfica puede expresarse en trminos de la rapidez


intensidad del campo magntico

, la

y el radio de su trayectoria circular :


(4.4)

4.2. Detalles experimentales

En la configuracin del experimento de Thomson, mostrada en la figura 4.2, se tiene un


haz de electrones en una ampolleta de vidrio que contiene un gas a muy baja presin.
Los electrones en su movimiento ionizan
los tomos del gas, y su emisin de
luminiscencia
trayectoria

de

permite
los

visualizar

electrones.

la

Dicha

trayectoria alcanza una forma circular en


presencia del campo magntico generado
por las bobinas de Helmholz, y su radio
depende de la intensidad de
rapidez

y de la

de los electrones. Los electrones

proceden de un pequeo can, el cual


contiene un filamento que origina los
electrones por emisin termoinica.

Figura 4.2. Configuracin de Thomson


para visualizar la trayectoria de los
electrones en un gas ionizado.

15

De la ecuacin 4.4, puede observarse que para calcular la carga especfica del electrn
deben determinarse

. El radio de la trayectoria circular puede medirse

directamente, mientras que la intensidad del campo magntico generado por las bobinas
de Helmholz [3] y la rapidez de los electrones deben determinarse por mediciones
indirectas. La rapidez de los electrones se estima a travs del potencial de aceleracin de
los electrones . Por conservacin de la energa se tiene:
(4.5)

Combinando las expresiones 4.4 y 4.5, se obtiene:


(4.6)

Por otro lado, se conoce que el campo magntico generado por las bobinas de Helmholz
posee una gran uniformidad y obedece a la expresin dada en la ecuacin 4.7 [3].
(4.7)

donde

es la permeabilidad magntica del vaco (

vueltas de cada bobina y

),

el nmero de

su respectivo radio. En esta ecuacin se destaca el hecho de

que el campo magntico generado por las bobinas de Helmholz es proporcional a la


corriente que circula por ellas.
(4.8)
De esta forma, se obtiene una expresin final para la carga especfica del electrn
(ecuacin 4.9), que relaciona diversos parmetros directamente medibles: ,

(4.9)

16

Detalles experimentales

La figura 4.3 muestra el montaje experimental [4], en el que se sita la ampolleta de vidrio
LD 555 571 en el interior de las bobinas de Helmholz LD 555 581 [5]. Las bobinas son
alimentadas por una fuente (0-16V, 0-5A) y se coloca un ampermetro para monitorear la
corriente. Se recomienda encender la fuente de alimentacin de las bobinas por cortos
periodos de tiempo para evitar sobrecalentamiento.

Figura 4.3. Montaje experimental propuesto por la empresa Phywe [4]

Por otro lado, en la ampolleta de vidrio se conectan dos fuentes de voltaje. Una de ellas
(6V, 1.5A) para alimentar el filamento que genera los electrones, y la otra es para
acelerarlos (0-500V).
El procedimiento experimental consiste en ajustar la corriente de las bobinas de Helmholz
y el voltaje de aceleracin de los electrones

, hasta obtener una trayectoria circular de

los electrones claramente visible de radio .

17

Como referencia para medir el radio de la trayectoria circular, puede usarse la


configuracin ilustrada en la figura 4.4 [5].
A

continuacin

se

vara

el

voltaje de aceleracin de los


electrones

se

ajusta

sucesivamente la corriente de
las bobinas hasta obtener el
mismo radio de la rbita de los
electrones. De esta forma se
obtiene una relacin entre

e ,

para un radio constante. Las


diversas

mediciones

pueden

graficarse, linealizarse y de all


efectuar una regresin lineal
Figura 4.4. Gua para la medicin del radio de la rbita

que permita estimar el valor de


la carga especfica del electrn

circular de los electrones [5].

con su respectiva incertidumbre.

4.3. Referencias

[1] Pgina web Jupiter radio. http://www.jupiterradio.com/jove-emission.php . Septiembre


de 2010.
[2]

S.E.A.

Engineering

Company.

Pgina

official,

septiembre

de

2010.

http://www.sea.co.th/seaweb/laboratoryexperimentsphysics5102.htm
[3] Wikipedia. http://en.wikipedia.org/wiki/Helmholtz_coil . Septiembre de 2010.
[4] Phywe Physics, Pginal official. http://www.phywe-es.com/1005/pid/26484/CARGAESPECIFICA-DEL-ELECTRON-e-m.htm . Septiembre de 2010.
[5]

LD

physics

leaflets,

specific

charge

of

the

electron.

http://www.ld-

didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6131_e.pdf . Septiembre de 2010

18

Prctica 5

La constante de Rydberg

El propsito de este laboratorio es hacer una estimacin cuantitativa de la constante de


Rydberg, a partir del espectro de emisin del hidrgeno en el rango visible, ms conocido
como serie de Balmer.

5.1. Fundamentos fsicos


Una lmpara de descarga de hidrgeno emite una serie de lneas espectrales que cubren
el rango energtico desde el infrarrojo hasta el ultravioleta. Estas lneas son el resultado
de transiciones electrnicas que se presentan en los tomos ionizados dentro del gas,
como producto de la alta tensin a la que se somete la lmpara de energa.

Figura 5.1. Series del espectro de emisin del tomo de Hidrgeno [1].
19

La energa de las correspondientes lneas espectrales depende de la diferencia


energtica entre los niveles energticos involucrados en las transiciones electrnicas
(figura 5.1). En la emisin de radiacin involucra una transicin desde un estado inicial de
mayor energa (orbitas externas) hasta un estado final de menor energa. Es
precisamente este estado final el que determina el rango de energa de la emisin de luz.
As, aquellas transiciones que tienen como estado final el nivel fundamental (n=1),
tambin denominado estado base, estn en el rango espectral del ultravioleta y se
denomina serie de Lyman.

En el rango visible (serie de Balmer) se agrupan aquellas transiciones electrnicas cuyo


estado final corresponde al segundo nivel de energa, o primer estado excitado (n=2). Y
finalmente en el rango espectral del infarrojo, estn involucradas transiones electrnicas
cuyo estado final corresponde al tercer nivel de energia n=3 (serie de Paschen), cuarto
nivel de energa n=4 (Serie de Brackett), quinto nivel n=5 (Serie de Pfund), etc. En
general, la longitud de onda de la radiacin emitida est dada por la ecuacin 5.1.
(5.1)

donde Z es el nmero atmico, R es la constante de Rydberg, y

describen

respectivamente los estados inicial y final del electrn en su transicin. Para el caso de la
serie de Balmer en el tomo de Hidrgeno, la ecuacin 5.1 se transforma en:

(5.2)

5.2. Detalles experimentales


La luz proveniente de una lmpara que contiene gas hidrgeno en su interior es difractada
por un medio dispersor, bien sea un prisma o una rejilla de difraccin (figura 5.2). Como
resultado se produce una serie de lneas espectrales, cuya longitud de onda puede ser
medida sobre una reglilla graduada.
20

Figura 5.2. Esquema del montaje experimental empleado para determinar el espectro de
emisin del hidrgeno [2].
Para evitar que la luz proveniente de la lmpara interfiera con la luz del ambiente, tanto el
prisma como la reglilla graduada se encuentran en el interior de un aparato que posee
una cmara oscura, y que se denmina espectrgrafo.
El problema a resolver consiste en determinar el valor de la constante de Rydberg con su
respectiva incertidumbre, midiendo la longitud de onda correspondiente a las lneas de
emisin de la serie de Balmer del hidrgeno.

5.3. Referencias
[1] Australia Telescope Outreach and education webpage.
http://outreach.atnf.csiro.au/education/senior/astrophysics/spectroscopyhow.html .
Septiembre 2010.
[2] Colorvision website.
http://www.horrorseek.com/home/halloween/wolfstone/Lighting/colvis_ColorVision.html.
Septiembre 2010.

21

Prctica 6

Espectro de emisin del Hidrgeno

En esta prctica se va a registrar el espectro de emisin del Hidrgeno con un


espectrofotmetro. Este instrumento proporciona un mtodo ms preciso para determinar
la constante de Rydberg , dada por la ecuacin 6.1.

(6.1)

6.1. Fundamentos fsicos

El espectro de emisin de un elemento o compuesto qumico se define como la intensidad


relativa en funcin de la frecuencia de la radiacin emitida por el sistema cuando es
excitado por cualquier agente externo (temperatura, voltaje, radiacin, etc.). El espectro
de emisin de cada elemento es nico de modo que, por medio de la espectroscopia, se
pueden conocer los elementos constitutivos de un compuesto qumico desconocido. La
espectroscopia astronmica, por ejemplo, se usa para determinar la composicin qumica
de las estrellas.

Cuando un electrn de un tomo es excitado puede pasar de su estado base a un estado


excitado de mayor energa [1]. Posteriormente, en un instante definido por el tiempo de
relajacin (tpicamente del orden de los femto-segundos), el electrn pasa del estado
excitado al estado base emitiendo fotones con energa igual a la diferencia de energa
entre los dos niveles. La emisin de fotones con energa correspondiente a las
transiciones entre todos los posibles niveles de energa del tomo, que cumplan con las
reglas de seleccin, conforman el espectro de emisin del tomo. De acuerdo con el
modelo de Bohr, en el espectro de emisin del hidrogeno se pueden definir varios tipos de
22

emisin de acuerdo a los niveles de transicin: serie Lyman, serie Balmer y serie
Paschen, principalmente.

6.2.

Detalles experimentales

En este laboratorio se analizara el espectro de emisin de una lmpara de Hidrgeno. El


montaje ptico se muestra en la Figura 6.1., y est compuesto de los siguientes
elementos:
6.2.1. Mesa ptica Edmund optics High Performance Laboratory Table NT59-908
6.2.2. Fuente de Luz. Lmpara de hidrogeno Oriel.
6.2.3. Lente plano-convexo de CaF2 de 12.7 mm de dimetro y 50.0 mm de distancia
focal (Thorlabs LA5183). Los lentes de CaF2 se usan comnmente en
aplicaciones que requieren alta transmisin tanto en IR como en UV (transmisin
0.95% en el rango 0.18 - 8.0 m)

Figura 6.1. Diagrama esquemtico del montaje ptico usado en el experimento diseado
para registrar el espectro de emisin de una lmpara de Hidrgeno.

6.2.3. Chopper ptico Stanford Research SR540 con frecuencia de modulacin de 4.0Hz
hasta 3.7KHz y disco de 5/6.
6.2.4. Monocromador Acton research spectral pro 775. Controlado por puerto RS3232,
rango de 200-1500 nm y 0.1 nm de resolucin.
23

6.2.5. Tubo fotomultiplicador (PMT) 77342 Side-on. PMT Oriel montado sobre una
carcasa 77265 estndar. La respuesta espectral del PMT se muestra en la fig. 6.2.

Figura 6.2. Respuesta espectral del tubo fotomultiplicador 77342 Side-on.

6.2.6. Amplificiador Lock-In. Es usado para medir seales muy dbiles (del orden de nV)
obteniendo mediciones muy precisas aun cuando la razn seal/ruido sea del
orden de 0.001. Los amplificadores Lock-in se basan en una tcnica de deteccin
sensible a la fase en la que se filtra la seal de entrada usando la frecuencia y la
fase de una seal de referencia.
6.2.7. Fuente regulada de alto voltaje oriel 70705 para alimentar el PMT. 2000 VDC,
2mA. Alta estabilidad.
6.2.8. Computador para adquisicin de datos. Todo el sistema (monocromador, PMT) es
controlado por LabView 8.5 via puerto GPIB. Se almacenan los espectros
(Intensidad vs Longitud de onda) en formato ASCII.

Con este montaje experimental se puede registrar el espectro de emisin de la lmpara


de hidrogeno, el cual consiste en una grfica que registra la intensidad de la luz
por la lmpara para cada longitud de onda , esto es

emitida

. Este espectro contiene toda la

informacin para determinar el valor experimental de la constante de Rydberg.

24

6.3.

Procedimiento sugerido para el anlisis del espectro

6.3.1. Convertir la longitud de onda (nm) a su correspondiente unidad de energa


expresada en electron-volts (eV). De esta manera se puede determinar la energa de los
principales picos de emisin.
6.3.2. De acuerdo a la longitud de onda

de los picos de emisin y a valores en la

literatura se identifican los picos correspondientes a la serie Balmer completando la


siguiente tabla:
Color

energa

Serie

nombre

Balmer

Balmer

Balmer

Balmer

nf

ni

6.3.3. De acuerdo a la expresin de Balmer dada por la ecuacin 6.2.,


(6.2)

Se puede elaborar una grafica de ( - 1/n2 ) en funcin de 1/ y a partir de ella


determinar el valor de R, con su respectivo error experimental.
6.3.4. Es muy importante comparar el valor obtenido con el valor terico calculado a
partir de la ecuacin 6.1.
6.3.5. A partir del valor obtenido de R, se puede determinar la longitud de onda de las
lneas de emisin de la serie Lyman y de la serie Paschen, e identificarlas en el
espectro de emisin. Discuta los resultados.
6.4.

Referencias

[1] Eisberg, R., Fsica cuntica tomos, molculas, slidos, ncleos y partculas, Editorial
Limusa, 1978.
25

Prctica 7

Espectro de absorcin de un material

Usando un espectrofotmetro se va a determinar el valor del gap de energa de un xido


semiconductor a partir de su espectro de absorcin. El material es un semiconductor
transparente denominado oxido de estao dopado con indio (Indium tin oxide ITO).

7.1. Fundamentos fsicos

En general, uno de los procesos ms importantes en la descripcin de la interaccin


radiacin-materia es la absorcin, en la cual se describe como la energa de un fotn es
absorbida por un material y es transformada en otros tipos de energa (oscilaciones de la
red, por ejemplo). Una de las maneras ms sencillas y directas de determinar
experimentalmente la brecha de energa (band gap energy, E g) de un semiconductor es
determinando su espectro de absorcin. En el proceso de absorcin de radiacin visible,
un fotn con la suficiente energa excita un electrn de la banda de valencia a la banda de
conduccin, de modo que a partir del estudio de la radiacin transmitida/absorbida en
funcin de la energa de los fotones incidentes, se pueden determinar, en principio, las
posibles transiciones energticas de los electrones y, en particular, las llamadas
transiciones banda-banda (absorcin fundamental).

El coeficiente de absorcin () describe la cantidad de radiacin que es absorbida por un


material. Por otra parte, la transmitancia (T) es la razn entre la intensidad de radiacin
que atraviesa el material y la intensidad de la radiacin incidente. Dependiendo del tipo de
radiacin, se habla de UVT (transmitancia en el ultra violeta), VT (transmitancia en el
visible) o IRT (transmitancia en el infrarrojo).

26

(7.1)

Donde

es la intensidad de la radiacin transmitida e

es la intensidad de radiacin

incidente. Se puede definir, adems, la absorbancia del material como


(7.2)
De modo que el coeficiente de absorcin est definido por
(7.3)
donde

es el grosor del material. Por otra parte, suponiendo la aproximacin de banda

parablica para semiconductores se puede mostrar que [1]


(7.4)

7.2. Detalles experimentales

En este laboratorio se analizara una muestra de ITO crecida por la tcnica de


pulverizacin catdica (sputtering) en el laboratorio de espectroscopia de la PUJ. El
montaje ptico se describe en la Figura 7.1.

Figura 7.1. Diagrama esquemtico del montaje ptico usado en el experimento de


transmisin.

27

En el montaje ptico intervienen los siguientes componentes:


7.2.1. Mesa ptica Edmund optics High Performance Laboratory Table NT59-908
7.2.2. Fuente de luz. Lmpara de Tungsteno halgena de 100W en un porta-lmpara
universal Oriel Co. 66057 con ptica UV y sistema de refrigeracin.
7.2.3. Lente plano-convexo de CaF2 de 12.7 mm de dimetro y 50.0 mm de distancia
focal (Thorlabs LA5183). Los lentes de CaF2 se usan comnmente en
aplicaciones que requieren alta transmisin tanto en IR como en UV (transmisin
0.95% en el rango 0.18 - 8.0 m)
7.2.4. Muestra. Pelcula delgada de ITO (Indium tin oxide o tin-doped indium oxide)
crecida por sputtering (erosin catdica)
7.2.5. Lente 2. Lente plano-convexo de CaF2 de 12.7 mm de dimetro y 80.0 mm de
distancia focal (Thorlabs LA5458).
7.2.6. Optical chopper Stanford Research SR540 con frecuencia de modulacin de 4.0Hz
hasta 3.7KHz y disco de 5/6. Monocromador Acton research spectral pro 775.
Controlado por puerto RS3232, rango de 200-1500 nm y 0.1 nm de resolucin.
Tubo fotomultiplicador (PMT) 77342 Side-on PMT Oriel montado sobre una
carcasa 77265 estndar. La respuesta espectral se muestra en la fig. 7.2.
7.2.7. Amplificador Lock-In Stanford Research SR839. Los amplificadores Lock-in son
usados para medir seales muy dbiles (del orden de nV) obteniendo mediciones
muy precisas aun cuando la razn seal/ruido sea del orden de 0.001. Los
amplificadores Lock-in se basan en una tcnica de deteccin sensible a la fase en
la que se filtra la seal de entrada usando la frecuencia y la fase de una seal de
referencia
7.2.8. Fuente regulada de alto voltaje oriel 70705 para alimentar el PMT . 2000 VDC,
2mA. Alta estabilidad.
7.2.9. Computador para adquisicin de datos. Todo el sistema (monocromador, PMT) es
controlado por LabView 8.5 via puerto GPIB. Se almacenan los espectros
(Intensidad vs Longitud de onda) en formato ASCII.

28

Figura 7.2. Respuesta espectral del tubo fotomultiplicador.

7.3.

Procedimiento sugerido.

Para determinar la transmitancia (Eq. 7.1), primero hay que determinar I e I0


independientemente y, despus, hacer numricamente el cociente. En mediciones
pticas, es muy usual hacer varios barridos del espectro y promediarlos con el fin de
mejorar la razn seal/ruido. El numero de barridos depende de qu tan ruidosa est la
seal (tpicamente se efectan 4 o 5 barridos).

La transmitancia se obtiene mediante el siguiente procedimiento:


7.3.1.

Se registra el espectro de emisin de la lmpara (I0) en el rango de longitudes de


onda entre 350 y 800 nm.

7.3.2. Se registra el espectro de transmisin del ITO (I) en el rango 350-800 nm.
7.3.3. Se determina la absorbancia (I/I0) en el rango 350-800 nm.

29

Con base en el espectro de absorbancia se contina adelante con el anlisis y tratamiento


de datos como sigue:
7.3.4. Se grafica la absorbancia en funcin de la longitud de onda .
7.3.5. Se grafica el coeficiente de absorcin.
7.3.6. Se expresa el espectro de absorbancia, en trminos de energa en unidades de
electron-volt (eV). Para ello debe hacerse la conversin de longitud de onda a su
equivalente energtico en eV.
7.3.7. Por extrapolacin, se determine el valor del gap Eg.

Es conveniente comparar estos resultados obtenidos con los reportados en la literatura, y


discutir en detalle el origen de las caractersticas especficas del espectro de transmisin
(oscilaciones y cada de la intensidad).

7.4.

Referencias

[1] Pankove J. Optical processes in semiconductors. Dover Publications Inc., New York
1971. ISBN: 0-486-60275-3.

30

Prctica 8

Difraccin de electrones por una red policristalina

El comportamiento ondulatorio del electrn se manifiesta a travs del fenmeno de


difraccin ocasionado por una cristal de grafito altamente orientado. En esta prctica se
utiliza dicho patrn de difraccin para determinar las constantes de red del cristal de
grafito.

8.1. Principios fsicos

Basado en la relacin cuntica momentum (

) vs nmero de onda (

) para el fotn, Luis

de Broglie en 1924 pretendi generalizarla y aplicarla para otras partculas. De esta


manera las propiedades ondulatorias para partculas quedan resumidas en la ecuacin
8.1:
(8.1)

donde

es la constante de Planck y

es la longitud de onda asociada al momentum de la

partcula.
Esta hiptesis formulada por De Broglie en su tesis de doctorado, fu confirmada
experimentalmente por Clinton Davisson y Lester Germer en 1927, hecho que le vali la
obtencin del premio nobel de fsica en 1929. Mientras que el experimento de Davisson y
Germer se efectu por reflexin de electrones sobre un monocristal de nquel, la presente
experiencia se basa en un montaje ideado en 1928 por G. P. Thomson [1], en la que se
produce el fenmeno difraccin cuando los electrones son transmitidos a travs de una
31

delgada cinta de grafito policristalino. Los tomos de grafito se consideran como una red
espacial que acta como una red de difraccin para los electrones.

El patrn de difraccin es registrado por una pantalla fluorescente en el tubo de rayos


catdicos, y tiene un aspecto similar al observado en la figura 8.1. Se aprecian claramente
dos anillos con diferentes dimetros

, que cambian de acuerdo con la longitud de

onda asociada al electrn, esto es, con su voltaje de aceleracin

La energa potencial de los electrones


acelerados es transformada en energa
cintica:
(8.2)

De all se obtiene la rapidez promedio


de los electrones, de carga
Con

esta

informacin

y masa

puede

determinarse la cantidad de movimiento


de los electrones:
(8.3)

Combinando las ecuaciones 3 y 1, se


obtiene:
(8.4)
Figura 8.1. Representacin esquemtica del
patrn de anillos observado por difraccin de

La ecuacin 8.4 expresa una relacin

electrones a travs de una rejilla de grafito.

inversa entre el voltaje de aceleracin


y la longitud de onda del electrn .

Cuando los electrones acelerados son difractados por el cristal de grafito, el patrn de
difraccin observado corresponde a la interferencia constructiva establecido por la
condicin de Bragg:

32

(8.5)

En la que

es la distancia entre planos cristalinos,

electrones medido con respecto al plano y

es el ngulo de incidencia del haz de

un nmero entero que determina el orden de

la difraccin. En un cristal de grafito se pueden encontrar dos diferentes distancias


interplanares

, como se ilustra en la figura 8.2.

Estas

distancias

interplanares

en

diferentes direcciones son tenidas en


cuenta debido a que se trata de un
material

policristalino,

coleccin

de

es

decir

una

pequeos monocristales

orientados aleatoriamente en diferentes


direcciones. Debido a que existen dos
diferentes distancias interplanares en el
cristal, la ecuacin 8.5 dice que para una
misma longitud de onda

se deben

presentar dos puntos de interferencia


Figura 8.2. Distancias interplanares en un

constructiva.

cristal de grafito [1].

orientacin

La
de

aleatoriedad
la

cinta

en

la

policristalina

ocasiona que en vez de un patrn


puntual, se presente el patrn de anillos
caractersticos ilustrados en la figura 8.1.

8.2. Detalles experimentales

El montaje experimental se realiza en el interior de un tubo al vaco, de acuerdo a la


configuracin ilustrada en la figura 8.3.

33

Los electrones son


generados

por

emisin termoinica
en el filamento (F).
Ellos son acelerados
por una fuente de
voltaje que establece
la

diferencia

potencial

de

entre el

nodo (A) y el ctodo


(C). En el nodo est Figura 8.3. Esquema para determinar el ngulo de difraccin de
situada

la

policristalina

cinta electrones a travs de un cristal de grafito [1].


de

grafito.

El enfoque de los electrones es regulado por potenciales aplicados sobre el electrodo X, y


el patrn de difraccin de electrones puede visualizarse por la luminiscencia del
recubrimiento de fsforo de la pantalla situada en el extremo del tubo de rayos catdicos.
Dicha pantalla est situada a una distancia

= 13.5 cm del material policristalino, y sobre

ella pueden medirse directamente el dimetro de los anillos de difraccin

8.4. Procedimiento sugerido

Para ngulos muy pequeos, el trmino de la izquierda en la ecuacin 8.5 puede


aproximarse a:
(8.6)

En consecuencia la condicin de Bragg (ec. 8.5), combinada con la ec. 8.4 resulta en la
expresin:

34

(8.7)

De aqu se deriva una relacin inversa entre los parmetros medibles: el voltaje aplicado
, y el dimetro de los anillos

. Al variarse el voltaje

, el dimetro de los dos anillos v

cambiando, y esto dar lugar a que se realiza una serie de medidas experimentales.
Basndose en la ecuacin 8.7, y aplicando el procedimiento de linealizacin habitual en el
que las pendientes e interceptos contienen informacin sobre el sistema fsico, puede
determinarse las distancias interplanares del cristal de grafito con su respectiva
incertidumbre.

8.4 Referencias

[1] LD physics leaflets. http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6151_e.pdf . Octubre de


2010.

35

Prctica 9

Experimento de Franck-Hertz

El objetivo de esta prctica es reproducir y entender la importancia del experimento


clsico realizado por James Franck y Gustavo Hertz en 1914, que apoya el modelo de
Bohr y fundamenta la teora cuntica del tomo.

9.1. Principios fsicos


En su experimento se observ que los electrones al ser acelerados por un potencial en
presencia de un gas de Mercurio, pierden su energa en cuanto se alcanza cierto valor
umbral, y este fenmeno est acompaado por emisin de radiacin ultravioleta.
En

otras

palabras,

en

vez

de

obtenerse un incremento continuo de


la

corriente al incrementarse el

potencial de aceleracin de los


electrones, se observa un patrn de
saltos peridicos en la intensidad de
corriente, similar al ilustrado en la
figura 9.1. Tan solo unos meses ms
tarde, Niels Bohr reconoci que los
resultados

de

este

experimento

Figura 9.1. Patrn de corriente vs potencial demostraban la naturaleza cuntica


observado por los investigadores Franck y Hertz del tomo, de acuerdo con el modelo
en

1914,

para

la

corriente

producida

por

propuesto por l, pues muestra

electrones acelerados en presencia de un gas de

cmo

los

tomos

slo

pueden

Mercurio [1].

absorber cantidades especficas de


energa (cuantos) [2].

36

9.2. Detalles experimentales

La esencia del experimento consiste en medir la caracterstica corriente-voltaje ( I vs U),


de un tubo al vaco de configuracin cilndrica, ilustrado en la figura 8.2.

El tubo contiene un filamento (ctodo K), el cual


por el fenmeno de emisin termoinica, emite
electrones cuando es calentado tras la aplicacin
de un pequeo voltaje

. La rejilla

solo se

emplea para regular el flujo de electrones


emitidos por el ctodo.

El punto relevante en el experimento es medir la


corriente que alcanza el nodo A cuando los
electrones son acelerados por la aplicacin de
una diferencia de potencial

a la rejilla

En un tubo al vaco se esperara un incremento


continuo de la corriente
esta diferencia de potencial

por la aplicacin de
.

Figura 8.2. Diagrama esquemtico


del tubo de Franck-Hertz [1].

Esta caracterstica cambia radicalmente cuando el tubo contiene un gas de Mercurio (Hg)
en su interior sometido a una presin aproximada de 15 hPa, a una temperatura regulada.
Esto se realiza introduciendo el tubo con el gas de Mercurio en un horno regulado con un
control de temperatura.

Para poder medir la caracterstica corriente voltaje de este tubo con vapor de mercurio
calentado y regulado, se emplea el montaje experimental esquematizado en la figura 8.3.

37

Figura 8.3. Montaje experimental para regular la temperatura del gas de Mercurio
contenido en el tubo de Franck-Hertz y medir su caracterstica corriente-voltaje [1].

El montaje est compuesto por varias secciones. La seccin

corresponde a la parte

posterior del control electrnico, y se encarga de calentar y regular la temperatura del


horno. La parte

es una termocupla que mide la temperatura del horno y la muestra en el

tablero del control electrnico. La seccin


electrones en el tubo, y mide la corriente

aplica el voltaje

para acelerar los

que llega al nodo. La electrnica interna del

control traduce estas seales como voltajes de salida

, que pueden ser ledos por un

osciloscopio por un graficador XY.

9.3. Interpretacin de los resultados

Los electrones son acelerados y por consiguiente su energa cintica se empieza a


incrementar gradualmente. Esto sucede hasta que los electrones adquieren la suficiente
38

energa cintica para interaccionar en colisiones inelsticas, excitando masivamente los


electrones internos de los tomos de Mercurio. Este fenmeno masivo de transferencia de
energa de los electrones a los tomos de Mercurio ocasiona una disminucin dramtica
en la intensidad de corriente, pues el nmero de electrones que llegan al nodo disminuye
drsticamente. Posteriormente, los tomos excitados decaen radiativamente emitiendo en
el ultravioleta. Al continuar aumentando progresivamente el potencial de aceleracin de
los electrones, stos pueden participar en dos o ms colisiones inelsticas sucesivas con
los tomos de Mercurio, dando lugar al patrn peridico de disminucin de la corriente a
intervalos regulares de potencial elctrico, caractersticos de la figura 9.1.

9.4. Referencias

[1]

Pgina

official

LD

Didactics

GmbH.

LD

Physics

leaflets.

http://www.pha.jhu.edu/~gritsan/2010.173.308/lab4/p6241_e.pdf . Octubre de 2010.

[2] Wikipedia. http://es.wikipedia.org/wiki/Experimento_de_Franck_y_Hertz . Octubre de


2010.

39

Prctica 10

Reflexin de Bragg

El objeto principal de esta experiencia de laboratorio es determinar cuantitativamente la


constante de red de un monocristal con estructura de tipo FCC, con su respectiva
estimacin de error.

10.1. Fundamentos fsicos

El principio fsico subyacente en esta experiencia de laboratorio es la ley de Bragg, la cual


describe la interferencia producida en los rayos X reflejados por un cristal, causada por
mltiples reflexiones elsticas de los rayos X incidentes cuando stos interaccionan con
los planos cristalinos del material.

Debido a la periodicidad intrnseca del cristal, los

planos cristalinos orientados en cierta direccin escogida son paralelos entre s, y estn
espaciados a una distancia fija

. Una onda incidente con longitud de onda

se refleja

con mayor intensidad cuando satisface la condicin de Bragg:


(10.1)

donde

muestra la direccin de las ondas incidente y reflejada con respecto a los planos

cristalinos, y

es un nmero entero, que se conoce como el orden de difraccin.

Para un cristal con estructura de tipo FCC, como por ejemplo el cloruro de sodio (NaCl) o
el fosfuro de litio (LiF), cuya estructura cristalina se ilustra en la figura 10.1, los planos
cristalinos son paralelos a la superficie del cristal en el caso ms simple. La celda
convencional tiene una arista

, a la que ordinariamente se denomina constante de red.

40

Puede observarse en la figura 10.1, que la distancia interplanar


de la constante de red

corresponde a la mitad

:
(10.2)

De esta forma, la condicin de Bragg puede expresarse como:


(10.3)

En consecuencia, para
poder

determinar

la

constante de red del


cristal se requiere medir
el ngulo para el cual se
presenta

la

mayor

intensidad de los rayos


X

reflejados

cristal,

por

los

el

cuales

poseen una longitud de


onda

conocida. Esa es

precisamente la idea a
desarrollar

en

el

presente experimento.
Figura 10.1. Estructura cristalina de NaCl [1]. La celda
convencional tiene una arista

10.2. Detalles experimentales

10.2.1. Generacin de los rayos X caractersticos.

Los rayos X caractersticos son generados por las transiciones electrnicas que se
producen en los tomos de un material, tras ser impactado por electrones con alta energa
41

que inciden desde el filamento. El material impactado, denominado blanco, emite rayos X
en un proceso ilustrado en la figura 10.2a. Los electrones incidentes ionizan los tomos
del blanco, y posteriormente un electrn localizado en niveles de energa ms externos
ocupa el hueco dejado en los niveles internos por el electrn expulsado. Esta transicin
electrnica deja como resultado la emisin de un fotn de alta energa, correspondiente a
la diferencia de energa entre los niveles involucrados en la transicin electrnica, desde
un nivel electrnico de mayor energa hasta otro nivel de menor energa.

b)
a)
Figura 10.2. Produccin de rayos X caractersticos. a) Ilustracin del proceso, que
involucra transiciones electrnicas entre distintos niveles de energa. b) Nomenclatura
espectroscpica.

La nomenclatura espectroscpica hace uso de la designacin de las letras K, L, M, N,


etc., a medida que se incrementa la energa de los niveles electrnicos principales del
tomo, los cuales corresponden a los nmeros cunticos principales 1, 2, 3, etc., del
modelo atmico de Bohr.

La transicin electrnica que produce rayos X se etiqueta con una letra mayscula que
corresponde al nivel electrnico de menor energa, que es el mismo nivel de energa
donde estaba el electrn expulsado, como se observa en la figura 10.2b. Adems de la
42

letra mayscula, la transicin electrnica se etiqueta con un subndice en carcter griego,


el cual designa los niveles consecutivamente superiores en orden ascendente de energa
como

, etc. De esta manera la transicin

hace referencia a un proceso en el que

un electrn del primer nivel de energa (K), fue expulsado y posteriormente un electrn
situado dos niveles de energa por encima, ocupa el hueco dejado por el electrn
expulsado. Esta transicin resulta en la emisin de un fotn que posee una energa (o
longitud de onda) bien definida, la cual es caracterstica del tipo de tomo que
experimenta dicha transicin electrnica. Para el presente experimento se usa como
material blanco al Molibdeno (Mo), cuyas emisiones caractersticas de rayos X,
poseen longitudes de onda de 0.7108

y 0.6309 , respectivamente.

10.2.2. La condicin de Bragg

Para determinar la distancia entre planos cristalinos se usa un detector de Geiger-Mller,


el cual mide la intensidad de los rayos X reflejados por un cristal a diferentes ngulos. La
mxima intensidad detectada se produce cuando la geometra cumple la condicin de
Bragg (ecuacin 1), en la que el ngulo

hace referencia tanto a la direccin de la

radiacin incidente, como a la radiacin reflejada elsticamente, medida con respecto a la


superficie de la muestra. Debido a que la fuente de rayos X en el equipo LD-554811 est
fijamente empotrada, la medicin para detectar la condicin de Bragg exige un
acoplamiento entre la rotacin del cristal y el movimiento del detector, como se ilustra en
la figura 10.3. All se muestran el colimador (1) que filtra los rayos X provenientes del
can, la muestra cristalina (2) que puede rotar sobre su propio eje y el detector de
Geiger-Mller (3) que puede moverse sobre una trayectoria circular concntrica al centro
del cristal.

43

El

acoplamiento

consiste

en

que

cristal-detector
mientras

la

muestra cristalina rota un ngulo ,


el detector se mueve rotando hasta
un ngulo cuyo valor es el doble de
la rotacin del cristal,

. Esto

garantiza que el detector mide


exactamente los rayos dispersados
elsticamente,

en

el

que

reflejada

incidente

Figura 10.3. Configuracin geomtrica para la

radiacin

medicin de la radiacin dispersada elsticamente.

forman el mismo ngulo

la

con

respecto a la superficie del cristal.

El montaje experimental para realizar la configuracin que permite medir los rayos X
dispersados elsticamente se muestra en la figura 10.4.
El cristal est montado sobre un
soporte f, capaz de rotar sobre su
propio eje y se fija mediante un
tornillo g. El conjunto puede
deslizarse sobre un riel d, hasta
que la distancia entre el centro
de la muestra y el colimador a,
sea aproximadamente de 5 cm.
El detector de Geiger-Mller c
est sujeto a un brazo deslizable
b, que le permite rotar alrededor
del cristal.

Figura 10.4. Equipo de rayos X LD-554811 en su


configuracin de Bragg [1].

44

10.3.

Ilustracin del problema

Siguiendo las orientaciones indicadas en la gua del equipo [1], se obtiene un espectro de
difraccin de rayos X similar al mostrado en la figura 10.5, el cual muestra la intensidad de
los rayos X medidos por el detector, en funcin del ngulo de inclinacin del cristal con
respecto a la horizontal. En este caso en particular se us un cristal de fosfuro de litio
(LiF) y una fuente de rayos X de Molibdeno (Mo). En el espectro se aprecia un par de
picos muy intensos detectados cerca a los 10 grados de inclinacin. El ms intenso de
ellos corresponde a la emisin

(con una longitud de onda

el otro, menos intenso, corresponde a la emisin

del Mo (

= 0.7108

) mientras que

= 0.6309

). Esta pareja

de picos aparece repetida otras dos veces en el mismo espectro a ngulos mayores,
alrededor de los 20 y 30 grados de inclinacin, respectivamente. Estas tres parejas de
picos en el espectro indican que la condicin de Bragg se ha cumplido tres veces. Una
comparacin con la ecuacin 10.1, permite establecer que para cada longitud de onda
hay 3 difracciones de Bragg en el espectro (n= 1,2,3), que pueden ubicarse a 3 diferentes
ngulos de difraccin . De all puede deducirse la distancia entre planos cristalinos , o
asimismo, la constante de red

2500

Intensidad (cps)

2000

1500

1000

500

0
0

10

15

20

25

30

35

40

(grados)

Figura 10.5. Espectro de difraccin de rayos X obtenido con el equipo LD- 554811,
usando un monocristal de cloruro de sodio (NaCl) y una fuente de molibdeno para la
45

emisin de los rayos X.

Como el espectro de difraccin de rayos X registr al menos 6 picos, correspondientes a 3


difracciones de Bragg para dos diferentes longitudes de onda, se tienen entonces 6 datos
experimentales para linealizar la ecuacin 1, y deducir a partir de esta linealizacin la
constante de red del cristal

, haciendo un tratamiento profesional de los datos y

estimando el respectivo error de la medicin.

10.4.

Referencias

[1] Leybold Didactics GmbH, Physics section, Solid State Physics leaflets p7.1.2.1.
http://www.leybold-didactic.de/literatur/hb/p_index_e.html#. Septiembre 2010.

46

Prctica 11

Microscopa de efecto tnel y de fuerza atmica

A partir de una imagen tomada sobre una superficie cristalina convenientemente


preparada, es posible determinar algunas propiedades morfolgicas del material

11.1. Fundamentos tericos

En la actualidad existen muchos recursos en la red que ilustran los fundamentos de las
microscopas de fuerza atmica y de efecto tnel, con multiples recursos multimedia que
incluyen applets, tutoriales y animaciones. Por ejemplo, puede hallarse en lnea un tutorial
muy instructivo sobre microscopa de efecto tnel (Scanning tunneling Microscopy STM)
en la referencia [1]. De igual manera hay una pgina muy interesante creada por el grupo
de tecnologa de imgenes de la universidad de Illinois [2] que ilustra los fundamentos de
la tcnica de microscopa de fuerza atmica (Atomic Force Microscopy) en sus diferentes
modalidades, mediante un tutorial que hace uso extensivo de animaciones y apletts.

11.2. Detalles experimentales

La figura 11.1 muestra una imagen de una superficie de grafito altamente orientado
(Highly oriented pyrolitic Graphite - HOPG) tomada con el microscopio de efecto tnel
Nanosurf easy Scan.

A partir de esta imagen puede realizarse un anlisis de la morfologa de esta superficie


como:
47

11.2.1. Determinar los vectores primitivos de la malla superficial.


11.2.2. Determinar la celda primitiva
11.2.3. Determinar la constante de red
11..2.4. Determinar la celda de Wigner-Seitz
11.2.5. Determinar el radio de Bohr de los tomos de carbn

Figura 11.1. Imagen de HOPG tomada con el microscopio de efecto tnel (Scanning
tunneling Microscope - STM).
11.3. Referencias

[1] Tit-Wah-Hui, Scanning Tunneling Microscopy A tutorial.


http://www.chembio.uoguelph.ca/educmat/chm729/stmpage/stmtutor.htm . Junio de 2011.

[2] Imaging Technology Group, University of Illinois at Urbana-Champaign. Beckman


Institute for advanced science and technology.
http://virtual.itg.uiuc.edu/training/AFM_tutorial/ . Junio de 2011.

48

Prctica 12

Fluorescencia de Rayos X

Esta prctica describe un mtodo no destructivo para identificacin cualitativa de la


composicin qumica de una muestra slida desconocida, con base en la emisin de
rayos X caractersticos, despus de ser excitada por una fuente de Molibdeno.

12.1.

Principios fsicos

12.1.1. Generacin de rayos X

La figura 12.1, ilustran el proceso fsico de generacin de los rayos X por bombardeo de
electrones [1].
El can de electrones consiste en
un tubo al vaco en el que se
encuentra

un

filamento

de

tungsteno que se calienta cuando


una alta corriente, del orden de los
amperios, circula sobre l. Como
resultado, este filamento emite luz,
calor y electrones por emisin
termoinica.
Figura 12.1. Esquema del tubo de rayos X [1].

Los electrones son acelerados por aplicacin de un alto voltaje (del orden de los
kilovoltios) hacia el electrodo positivo (nodo). All se encuentra un disco metlico del
49

elemento, usualmente cobre (Cu) o Molibdeno (Mo), que ser impactado por los
electrones (blanco).
La interaccin de los electrones con el blanco ocasiona la generacin de rayos X
mediante los mecanismos ilustrados en la figura 12.2.
En

ella

se

aprecian

electrones

incidentes que han sido acelerados


desde el filamento. El primer electrn
pasa

una

relativamente

lejana

distancia del ncleo y por consiguiente


hay una dbil interaccin con el ncleo,
lo cual ocasiona una dbil desviacin de
su trayectoria con poca prdida de
energa. Este electrn emitir radiacin
de frenado (continua) con baja energa.
El electrn nmero 2 pasa ms cerca al Figura 12.2. Mecanismo de generacin de
ncleo

experimenta

una

mayor

rayos X.

desviacin de si trayectoria, emitiendo


radiacin de moderada energa.

El tercer electrn interacciona fuertemente con el ncleo y emite radiacin continua de


mxima energa. En cambio, el electrn nmero cuatro posee la energa justa para
extraer un electrn del primer nivel de energa, dejando un hueco en este nivel. En un
tiempo posterior este nivel ser ocupado por otro electrn perteneciente a una rbita ms
externa del tomo. Esto corresponde a una transicin electrnica desde un nivel
electrnico con mayor energa, a otro nivel de menor energa, con la subsecuente emisin
de un fotn. La energa de este fotn proporciona informacin sobre las energas de los
electrones en cada rbita de cada tomo, por eso se llama energa caracterstica, y se
usa para identificar la presencia de tomos de cada elemento. En otras palabras, esta
radiacin caracterstica se usa para efectuar anlisis de composicin qumica.
Por la configuracin de sus niveles electrnicos, cada elemento posee energas bien
definidas entre sus transiciones electrnicas, las cuales ya han sido ampliamente
estudiadas y han sido publicadas [2].
50

Para identificar su origen se usa la


notacin espectroscpica en el que la
serie de letras K, L, M, N,etc., identifica
el

nivel

electrnico

de

donde

fue

expulsado el electrn (donde queda


provisionalmente un hueco). El subndice
, , ,etc., denota el nivel electrnico
Figura 12.3. Simplificacin de la notacin

de mayor energa desde donde se


efecta la transicin electrnica que

espectroscpica.

cubre el hueco dejado por el electrn


expulsado.
La figura 12.3 ilustra el sentido de la notacin espectroscpica, aunque cabe anotar que
en la prctica la notacin se hace ms compleja pues se tiene en cuenta que los niveles
electrnicos poseen subniveles que a su vez tambin estn diferenciados por el spin
electrnico.
La figura 12.4 muestra el espectro
de emisin de rayos X de un blanco
de Molibdeno, registrado bajo un
voltaje de aceleracin de 35 kV, y
calibrado con el aparato de rayos X
LD Didactic GmbH [3]. Se aprecian
claramente las lneas de emisin
del Molibdeno K (17,48 keV) y K
(19,61

keV)

[2].

aprecian

otras

intensas

que

Tambin
lneas

se

menos Figura 12.4. Espectro de emisin del Molibdeno.

corresponden

a Tomado con el aparato de rayos X LD didactic

hierro, oro y plata provenientes del

GmbH [3], laboratorio de fsica moderna, Depto de

detector.

Fsica PUJ.

Estos picos caractersticos estn superpuestos sobre una radiacin continua originada por
el frenado de los electrones (Bremsstrahlung).

51

12.1.2. Fluorescencia de rayos X

Se llama fluorescencia a la emisin de rayos X caractersticos, llamados tambin


secundarios o fluorescentes, desde un material que ha sido bombardeado por fotones alta
energa (rayos X rayos gamma) [4]. La figura 12.5, ilustra el proceso de fluorescencia
[5].
La radiacin de alta energa es
capaz de provocar una transicin
electrnica, en la que un electrn
es excitado a un nivel superior
Figura 12.5. Mecanismo de fluorescencia de
rayos X.

desocupado,

dejando

provisionalmente desocupado un
estado de baja energa.

Este nivel de baja energa es ocupado por otro electrn, y esta transicin electrnica
provoca la emisin secundaria de otro fotn de rayos X, cuya energa es inferior a la del
fotn que origin la excitacin primaria del tomo en cuestin. Justamente el trmino
fluorescencia hace referencia a fenmenos en que la absorcin de radiacin de cierta
energa da lugar a la posterior re-emisin de radiacin con diferente energa,
generalmente menor [4].

La emisin de rayos X secundarios es caracterstica del material, en el sentido de que


posee informacin sobre las energas de sus niveles electrnicos, lo cual posibilita
identificar el tomo emisor, hecho que la convierte en una tcnica no destructiva para
efectuar anlisis de composicin qumica, o cuando menos la identificacin cualitativa de
elementos que componen una muestra. Esta ltima propiedad es el objeto de la presente
prctica de laboratorio.

52

12.2.

Detalles experimentales

Antes de tomar un espectro de fluorescencia de Rayos X para identificar la composicin


qumica de una muestra, debe calibrarse primero la energa que mide el detector,
tomando un espectro de referencia directamente desde el can de rayos X (El blanco por
defecto es Molibdeno, Mo). El principio de funcionamiento del detector de Rayos X est
descrito en las referencias [6, 7] que incluyen una animacin explicativa. Por lo pronto, es
suficiente comprender que se trata de un arreglo de fotodiodos en el que cada uno de
ellos registra la intensidad de rayos X en cierto intervalo de energa E (denominado
canal). Este intervalo de energa se hace ms pequeo entre mayor sea la cantidad de
canales definidos. En otras palabras, la resolucin del espectro mejora en la medida en
que aumente el nmero de canales, que sin embargo tiene un lmite superior que est
determinado por el nmero de fotodiodos del detector. El espectro de referencia se
registra utilizando el montaje mostrado en la figura 12.6 [8].
PRECAUCION:

En

este

montaje

es

extremadamente
importante
atenuador

colocar
c,

el

para

disminuir la intensidad de
los rayos X que llegan al
detector d y evitar que
ste

se

avere.

atenuador

se

El

monta

sobre el colimador b, que


a su vez est situado
sobre

la

apertura

de

entrada a, desde donde


incide

la

radiacin

proveniente del can de


rayos X.

Figura 12.6. Montaje experimental para tomar el espectro de


referencia para calibracin de energa. El detector d se coloca
directamente sobre la salida del atenuador c, que a su vez
est montado sobre el colimador b. El colimador filtra los rayos
X que provienen de la abertura a de la cmara donde se
localiza el can de rayos X.

53

Para que la seal digital del detector de energa sea procesada por el computador, se
debe conectar el conversor anlogo-digital CASSY desde la salida del aparato de rayos X
al puerto USB del computador.
Previo a la adquisicin del espectro se recomienda:
12.2.1. Encender el detector y esperar algunos minutos hasta que el LED se torne verde.
12.2.2. Abrir el Software de CASSY LAB.
12.2.3. Establecer los siguientes parmetros recomendados para la medicin:
Medida Multicanal, 256 canales, pulsos negativos, voltaje = -2.5 V, tiempo de
medicin de 300 segundos.
12.2.4. PRECAUCION: Verificar que el atenuador c est colocado sobre el colimador b.
12.2.5. Ajustar el can de rayos X a U = 35 KV y con una corriente de emisin i = 0.1
mA.
12.2.6. Encender el can de rayos X.
12.2.7. Luego se procede a adquirir el espectro (F9).
ATENCION: Si la rata de conteo excede significativamente las 200 cps (cuentas por
segundo), debe reducirse la corriente de emisin.
Como resultado de la medicin, se adquiere un espectro similar al ilustrado en la figura
12.7, el cual fue registrado usando un can de rayos X con blanco de Molibdeno.
La ordenada corresponde a la

Fuente de Molibdeno

rata de conteo (cps), mientras

5000

que la abcisa registra la lectura


4000

de cada uno de los 256

3000

canales que se usaron en la

2000

medicin.

1000

principales corresponden a las

lneas de emisin K y K de la
1

51

101

151

201

251

referencia para un cann de rayos X de Molibdeno.

dos

picos

fuente de Molibdeno, mientras


que

Figura 12.7. Medicin multicanal del espectro de

Los

los dems picos

son

artefactos originados por los


materiales que constituyen el
detector de energa.

54

El procedimiento de calibracin de energa se efecta usando la rutina especificada en la


ventana Calibracin de energa (Alt+E). En la opcin calibracin global de energa se
puede asignar la energa de 17.48 eV al pico principal K , y la energa 19.61 eV al
segundo pico ms intenso K. Despus de estaq asignacin, la abcisa del espectro toma
un aqspecto similar al mostrado en la figura 12.4.
A partir de este procedimiento de calibracin, el software permite la identificacin de
cualquier otra lnea del espectro y de espectros que se tomen posteriormente, usando la
opcin del men Energas de rayos X.
La adquisicin de otro espectro, proveniente de una muestra slida requiere la deteccin
de rayos X proveniente de emisin secundaria de rayos X (fluorescencia) por parte de la
muestra, una vez que ha sido excitada con la energa primaria proveniente del can de
rayos X. La configuracin geomtrica ptima para la adquisicin del espectro de
fluorescencia de la muestra bajo estudio se ilustra en la figura 12.8 [6].
En esta configuracin ya no es necesario
usar el atenuador. Basta solo con usar el
colimador a) y acoplar el portamuestras b)
con

el

detector

c).

Los

parmetros

recomendados para la adquisicin de


datos son: Medida Multicanal, 256 canales,
pulsos negativos, voltaje = -6.0 V, tiempo
de medicin de 300 segundos. Ajustar el
can de rayos X a U = 35 KV y aumentar
la corriente de emisin i = 1 mA.
Figura

12.8.

Configuracin

geomtrica

Hay un kit de materiales para comprobar la

recomendada

calibracin

espectros de fluorescencia de rayos X para

de

energa

efectuada

previamente.

para

la

adquisicin

de

muestras slidas.

Sin embargo, la experiencia de identificacin de materiales se torna ms interesante


cuando se toma un espectro de un material de composicin desconocida pero con
algunas pistas. El estudiante puede apoyarse para su identificacin con las tablas de la
referencia [2] de libre adquisicin en la red.
55

12.3.

Referencias

[1] Figura tomada de la agencia australiana para la proteccin de radiacin y seguridad


nuclear. http://www.arpansa.gov.au/radiationprotection/basics/xrays.cfm (ltima visita,
abril de 2011).
[2] X-Ray data booklet. Publicado por el centro para ptica de rayos X y fuentes
avanzadas de luz del Lawrence Berkeley National laboratory (USA). http://xdb.lbl.gov/
[3] Aparato de rayos X LD-Didactic GmbH.
http://www.ld-didactic.de/index.php?id=128&L=2
[4] Wikipedia. http://en.wikipedia.org/wiki/X-ray_fluorescence. ltima consulta, abril de
2011.
[5] Figura tomada de Wikimedia commons.
http://en.wikipedia.org/wiki/File:X-ray_fluorescence_simple_figure.svg
[6] LD Physics Leaflets P6.3.5.1 .LD Didactics GmbH. Recording and calibrating an XRay energy spectrum. http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6351_e.pdf
[7]

Ketek

pginal

oficial.

Function

of

silicon

drift

detector.

http://www.ketek.net/index.php?id=207 Junio de 2011.


[8] LD Physics leaflets P6.3.5.2. LD Didactics GmbH. Recording the energy spectrum of a
molybdenum anode. http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6352_e.pdf

56

Prctica 13

Efecto Hall

Con esta prctica se quiere determinar experimentalmente la concentracin y tipo de


portadores de carga de un semiconductor de Germanio a temperatura ambiente,
basado en el efecto Hall.

13.1. Fundamentos fsicos

Existe una diversidad de tcnicas para determinar cada uno de los parmetros intrnsecos
que caracterizan las propiedades elctricas de un material. En particular, para determinar
la densidad de portadores de carga , la tcnica ms empleada es la de medicin del
voltaje Hall VH. Este voltaje resulta de la aplicacin de una corriente a un material en
presencia de un campo magntico, debido fundamentalmente a la fuerza de Lorentz, que
acta sobre cargas en movimiento bajo la accin de un campo magntico. El
descubrimiento de este efecto en 1879 se debe Edwin H. Hall, quien estaba realizando
investigaciones sobre la modificacin de la resistencia elctrica de los materiales en
presencia de un campo magntico, fenmeno conocido como magnetoresistencia.

Para un tratamiento ms riguroso del origen del efecto Hall, se recomiendan las
referencias [1-3]. Este voltaje resulta de un anlisis juicioso de la fuerza magntica que
acta sobre cada portador de carga (electrn hueco).

57

a)

b)

Figura 13.1. Ilustracin del origen del efecto Hall. a) La fuerza de Lorentz actuando sobre
un electrn [1]. b) Parmetros medibles en el experimento de Hall [4].

En la figura 13.1a se ilustra el efecto de la fuerza de Lorentz (dada por la ecuacin 13.1),
cuando acta sobre un electrn.
(13.1)

Para el caso de un electrn, se muestra que hay una acumulacin de electrones en un


borde de la muestra y, en el supuesto de un material neutro, los huecos (representados
como cargas positivas) se acumularan en la otra cara de la muestra. Como
consecuencia, se genera un campo elctrico de origen columbiano

, dirigido desde las

cargas positivas (huecos) hacia las cargas negativas (electrones), el cual es el origen del
voltaje Hall medido

. La polaridad de este voltaje cambia si los portadores de carga son

mayoritariamente huecos.

La figura 13.1b ilustra los parmetros medibles en un experimento de Hall DC. Usando
una fuente de voltaje DC (o de corriente DC) se hace circular una corriente

sobre una

muestra en forma de pelcula delgada de espesor , en presencia de un campo magntica


de intensidad . Como resultado, se detecta una diferencia de potencial

cuya polaridad

58

depende del tipo de portadores de carga mayoritarios en el semiconductor, y que est


dada por la ecuacin 13.2:
(13.2)
Para la presente experiencia, se tiene un semiconductor de Germanio de un milmetro de
espesor

. Se usar una aplicacin basada en el software

LabView 8.5 (ver anexo A), el cual permite medir el voltaje Hall para diversos valores de
intensidad de corriente. El propsito de variar la corriente es poseer una buena cantidad
de datos para el voltaje hall resultante, de tal manera que el error en la medicin se
reduce considerablemente.

13.2. Detalles experimentales


Se trata bsicamente de implementar el esquema mostrado en la figura 13.1b. Una vista
general del montaje, se ilustra en la figura 13.2.

Figura 13.2. Fotografa que ilustra el montaje general e instrumentos que van a ser
empleados en la prctica.
59

La muestra semiconductora est montada sobre una tarjeta Phywe 11802, cuyos detalles
de conexin sern tratados ms adelante. Esta tarjeta debe colocarse entre los polos del
electroimn Phywe 06480.01, el cual est alimentado por su respectiva fuente Phywe
13531.93. Para hacer circular la corriente sobre la muestra se emplea la fuente de
corriente de precisin Keithley 6220, y el respectivo voltaje Hall es medido por el
nanovoltmetro Keithley 2182. Antes de hacer este montaje, debe medirse la intensidad
del campo magntico, cuyo procedimiento se describe en la siguiente seccin.

13.2.1. Calibracin del campo magntico

Los elementos necesarios para medir el campo magntico son el Teslmetro digital
Phywe 13610.93 (figura 3a) y la sonda Hall axial Phywe 13610.01 (Figura 13.3b). La
magnitud del campo magntico en miliTesla puede medirse en tres rangos diferentes,
insertando el conector de la sonda hall en el correspondiente socket del teslmetro. La
direccin del campo magntico viene determinada por la cara marcada con signo positivo
(+). Una magnitud positiva indica que esta cara est orientada hacia el polo positivo del
electroimn y viceversa. Curiosamente, la sonda hall debe su nombre a que es un
transductor que en presencia de un campo magntico induce un voltaje que es
proporcional a la intensidad del campo magntico.

Figura 13.3. Instrumentos para medicin del campo magntico. a) Teslmetro digital
Phywe 13610.93 b) Sonda hall axial Phywe 13610.01. La Hoja de instrucciones de uso de
estos instrumentos est disponible en la referencia [5].

60

El campo magntico es generado por un electroimn DC Phywe 06480.01, al que se le


adaptan dos polos metlicos entre sus respectivas bobinas (ver figura 13.4). Detalles
sobre las instrucciones de uso de este electroimn se encuentran disponibles en internet
bajo la referencia [6].
Como precauciones a tener en cuenta, este
electroimn debe usarse con la fuente de
potencia Phywe 13531.93, a una corriente
de operacin normal a 4 A, mximo 5 A por
20 minutos.

La intensidad del campo

magntico depende de la distancia entre


Figura 13.4. Electroimn Phywe 06480.01

los polos, la cual puede variarse usando los


tornillos ajustables mostrados en la fig.
13.5.

Por supuesto, tambin la intensidad del campo magntico depende de la corriente que
circula sobre sus bobinas. Como para tener una referencia acerca de los valores de
intensidad del campo magntico proporcionados por el electroimn para una corriente de
5 A, se muestra la siguiente tabla:
Distancia (mm)

2.5

5.0

10.0

20.0

B (T)

1.3

1.1

0.7

0.45

Los valores fueron tomados del manual del usuario del electroimn DC Phywe 06480.01
[6] .

13.2.2. La muestra semiconductora.

Un monocristal de Germanio est contenido en la tarjeta Phywe 11802.00 (de tipo n, en


este caso), que permite tener conexiones elctricas a los instrumentos, sin perturbar la
muestra cuando ella est en el gap entre los polos del electroimn. Las conexiones a los
instrumentos se ilustran en la figura 13.5.
61

Figura 13.5. Tarjeta Phywe 11802.00 que contiene la muestra semiconductora de


Germanio.

El cristal de germanio tipo n est sealado con el nmero 1. Los extremos del cristal van
conectados a la fuente de corriente Keithley 6220. Atencin debe prestarse a la polaridad
de la muestra: el conector positivo (2.1) debe conectarse al terminal rojo de la fuente de
corriente, mientras que el terminal negro se conecta al conector negativo (2.2). Los
contactos para medir el voltaje Hall se sealan con el nmero 3, y debe tenerse en cuenta
la forma en que se conecta al nanovoltmetro Keithley 2182, pues la polaridad del voltaje
Hall est determinada por el tipo de portadores mayoritarios (electrones o huecos). Como
regla general, el terminal rojo mide el potencial con respecto al terminal negro. Las otras
conexiones ilustradas en la figura 13.5 no sern utilizadas en la presente prctica.

62

13.2.3. Adquisicin de datos por el computador.

Una vez medido el campo magntico con el teslmetro, se implementa el montaje


mostrado en la figura 13.2. Tanto la fuente de corriente, como el nanovoltmetro son
controlados por el computador a travs de un puerto GPIB, y la adquisicin de datos se
realiza a travs de una aplicacin desarrollada usando el software Labview 8.5.1 de
National Instruments. La aplicacin se llama IV only.vi. Y la interface de usuario se
ilustra en la figura 13.6.

Figura 13.6. Interface de usuario de la aplicacin IV only.vi desarrollada con el software


Labview 8.5.1 para adquisicin de datos.

Para quienes estn interesados en el cdigo fuente del programa, este se anexa a la
presente gua [7].
El programa IV only.vi permite efectuar un barrido de corriente sobre la muestra, es decir
la fuente de corriente inyecta la corriente a la muestra empezando por el valor inicial en
amperes establecido en el control titulado Corriente inicial / A. El voltaje originado en los
contactos 3 es medido por el nanovoltmetro y mostrado en el indicador rotulado como
63

Voltaje / V. A continuacin el programa incrementa la corriente en la cantidad sealada


en el control titulado paso / A, y espera durante un segundo y vuelve a medir el voltaje
en los contactos 3, que se vuelve a mostrar en el indicador de voltaje. Estos valores de
corriente aplicada y voltaje medido se grafican simultneamente sobre la pantalla titulada
I-V Characteristics. Este proceso se repite hasta que la corriente alcance el valor lmite
establecido en el control rotulado como Corriente lmite / A. Finalmente, todo este
conjunto de datos se guarda en el archivo, cuya ubicacin est escrita en el control
superior derecho. La ejecucin de la aplicacin se inicia presionando sobre el botn con la
flecha, situado en la parte superior izquierda, y se interrumpe automticamente, excepto
que voluntariamente se desee hacerlo, en cuyo caso es recomendable presionar el botn
STOP de la aplicacin, para evitar complicaciones en la comunicacin entre el PC y los
instrumentos Keithley.

13.3. Procedimiento para la realizacin del experimento

Una vez descritos los montajes, el procedimiento a seguir para realizar la medicin del
efecto hall se efecta mediante los siguientes pasos:
13.3.1. Calibracin del campo magntico entre los polos del electroimn.

13.3.1.1.

Mover los tornillos del electroimn hasta que la distancia entre sus polos sea
aproximadamente de 3 mm.

13.3.1.2.

Conectar la sonda hall al teslmetro y encenderlo.

13.3.1.3.

Colocar la sonda Hall en el interior del electroimn, entre los dos polos SIN
CONECTAR.

13.3.1.4.

Mover el control de calibracin hasta que el indicador digital seale cero.

13.3.1.5.

Conectar el electroimn a la fuente de voltaje. Antes de encender la fuente,


verifique que el control de corriente este en su mnimo. A continuacin
encienda la fuente y amplifique gradualmente hasta que se alcance un valor de
4 A. Espere aproximadamente dos minutos y mida el valor y POLARIDAD del
campo magntico. (se recomienda leer las instrucciones de uso de la sonda
Hall para determinar la polaridad del campo magntico [8]).

64

13.3.1.6.

Devuelva el control de la fuente del electroimn a su valor mnimo, y apguela.


Tambin apague el teslmetro, retire la sonda Hall y gurdela.

13.3.2. Realizacin del montaje.

13.3.2.1.

Con ayuda de un soporte fije la tarjeta, de tal manera que pueda insertarse
cmodamente entre los polos del electroimn, y el semiconductor quede
justamente horizontal entre los polos y aproximadamente en la misma posicin
donde se encontraba la sonda hall cuando se midi el campo magntico.}

13.3.2.2.

Extraiga la tarjeta y conecte la fuente de corriente Keithley 6220 a los


contactos 2, y el nanovoltmetro Keithley 2182 a los contactos 3,
respectivamente. Anote bien la configuracin, pues es decisivo para poder
determinar si el semiconductor es de tipo N o P.

13.3.3. Medicin del voltaje hall.


13.3.3.1.

Encender el PC y los instrumentos Keithley (fuente de corriente y


nanovoltmetro). Despus de verificar que los instrumentos estn conectados a
travs de un cable GPIB, abrir el programa Labview 8.5.1. Busque la
aplicacin IV only.vi y brala. Como resultado se mostrar la interface de
usuario ilustrada en la figura 13.7.

13.3.3.2.

Escriba el nombre de archivo en el control de la parte superior derecha.

13.3.3.3.

Por seguridad el semiconductor debe someterse a corrientes pequeas. Un


buen punto de comienzo sera sealar en los controles una corriente inicial de 10

, una corriente final de 10

, y un paso de 1

. Con esto se pretende

que la fuente de corriente inyecte una corriente haciendo un barrido con 21


mediciones desde -10

, hasta 10

, en intervalos de 1

. Cada segundo,

la aplicacin registra los valores de corriente aplicada y voltaje resultante en el


respectivo indicador, adems los grafica y finalmente guarda en el archivo
indicado. El formato es de tipo ASCII, de tal manera que cualquier hoja
electrnica (tipo Excel, origin, etc.) los puede leer y procesar posteriormente.
13.3.3.4.

Antes de encender la fuente del electroimn, asegrese de que el botn de


control de corriente est en su mnimo. Encindala, y

gradualmente

establezca la corriente hasta una intensidad de 4 A. En principio, el valor del


campo magntico aplicado a la muestra semiconductora, debe coincidir con el
medido en el apartado 1. A continuacin, cambie el nombre de archivo de la
65

aplicacin IV Only.vi y ejecute el programa, accionando la el botn con la


flecha. Como resultado, debe obtenerse una caracterstica I-V lineal. Si ese no
es el caso, es decir que no se aprecia un cambio significativo en la pendiente
de la caracterstica I-V, se aconseja incrementar el valor de todos: la corriente
inicial, final, y el paso en un orden de magnitud, y efectuar las mediciones con
el campo magntico aplicado.

Una vez finalizada la medicin, apague la

fuente generadora del campo magntico.


13.3.3.5.

Invierta la polaridad de la fuente del campo magntico y repita la medicin,


siguiendo el procedimiento descrito en el numeral 3.4.

13.3.4. Gua para anlisis de las mediciones de efecto Hall

Siguiendo las instrucciones, se obtienen dos archivos en los que se tiene la


caracterstica IV con el campo magntico en ambas polaridades, respectivamente.
Este procedimiento se efecta porque an en ausencia de campo magntico,
existe un voltaje residual

en el lugar de los contactos Hall (electrodos 3 en la

figura 13.5). La idea de tomar dos mediciones con ambas polaridades de campo
magntico es justamente eliminar este voltaje residual

. Cuando se realiza la

primera medicin, los contactos Hall registran una superposicin del voltaje Hall y
el voltaje residual (ecuacin 13.3):
(13.3)

Al efectuar la segunda medicin con el campo magntico en direccin contraria,


se espera que solo el voltaje Hall tenga polaridad contraria, y por tanto el voltaje
medido para esta segunda medicin estar dado por la ecuacin 13.4:
(13.4)

Esto se debe a que el voltaje residual es independiente de la polaridad del campo


magntico. Por lo tanto, para obtener el voltaje Hall en la muestra, basta con restar
los voltajes medidos (ec. 13.5):
66

(13.5)

Este procedimiento debe efectuarse para el voltaje hall medido para cada valor de
corriente. De esta manera puede obtenerse una grfica de voltaje Hall en funcin
de la corriente aplicada

, que de acuerdo con la ecuacin 13.2 debe

presentar un comportamiento lineal que es de fcil interpretacin y permite obtener


la densidad y el tipo de portadores de carga

13.4.

del semiconductor de Germanio.

Referencias

[1] Tipler-Mosca. Fsica para la ciencia y la tecnologa. Vol 2A. 5 edicin. Editorial
Revert (2005). ISBN: 84-291-4404-8
[2] J. Singh. Physics of semiconductors and their heterostructures. Mc Graw Hill,Inc.
International edition (1993). ISBN: 0-07-057607-6
[3] P. Blood and J.W. Orton. The electrical characterization of semiconductor majority
carriers and electron states. Academic Press Ltd. (1992). ISBN: 0-12-528627-9.
[4] Ilustracin tomada de en.wikipedia.org. Agosto de 2010.
[5] Hoja de instrucciones de uso del teslmetro digital Phywe 13610.93. Agosto 2010.
http://www.phywe.com/index.php/fuseaction/download/lrn_file/bedanl.pdf/13610.93/e/1361
093e.pdf
[6] Hoja de instrucciones de uso del electroimn Phywe 06480.01
http://www.phywe.com/index.php/fuseaction/download/lrn_file/bedanl.pdf/06480.01/e/0648
001e.pdf .
[7] Hernndez Moreno, Clara Patricia. Estudio de propiedades optoelectrnicas de
materiales empleados en la construccin de diodos orgnicos emisores de luz (OLEDs).
Tesis de pregrado Ingenieria electrnica. Pontificia Universidad Javeriana (2010).

67

Prctica 14

Resistividad de un metal vs. temperatura

En esta experiencia se determina la curva de resistividad de un metal en funcin de la


temperatura, y a partir de ella se determina el coeficiente de temperatura para la
resistencia del metal , con base en mediciones de la resistencia elctrica R de una
lmina de cobre (Cu), que se calienta gradualmente hasta lograr un incremento de
aproximadamente 200C en su temperatura.

14.1.

Principios Fsicos

Una de las propiedades caractersticas de los metales es el incremento de su resistencia


elctrica cuando su temperatura aumenta. La explicacin sobre el origen de este
comportamiento difiere, segn se trate desde el punto de vista de la teora clsica de
Drude o diferentes modelos basados en desarrollos de la fsica moderna y la fsica del
estado slido. Aunque la dependencia entre la resistencia de un metal y su temperatura
no es necesariamente lineal, para un buen nmero de ellos y para cierto rango de
temperaturas esa relacin lineal puede ser aproximadamente vlida. Esto quiere decir que
la resistencia elctrica elctrica R en funcin de la temperatura T se rige
aproximadamente por la ecuacin 14.1 [1]:
(14.1)

donde

es la temperatura de referencia (la temperatura ambiente para este caso),

es la resistencia del material a la temperatura de referencia (resistencia inicial),


es la diferencia de temperaturas y es el coeficiente de temperatura para la
resistencia del metal.

68

Para elaborar la curva que expresa la dependencia entre la resistividad y la temperatura


de un material, debe determinarse la resistencia y del material mientras la temperatura
permanece aproximadamente constante, y adems deben tenerse en cuenta las
dimensiones y geometra del material. La resistencia del material puede medirse
utilizando una gran variedad de mtodos. Puesto que se trata de una lmina conductora,
en la presente experiencia se propone medir la resistencia utilizando el mtodo de dos
puntas que consiste en aplicar una diferencia de potencial entre dos contactos, y medir la
corriente inyectada a la muestra. La resistencia puede calcularse directamente a partir de
la ley de Ohm macroscpica:
(14.2)

A partir de all, y suponiendo que la muestra es homognea, en la que no hay una


variacin significativa en la relacin geomtrica entre las dimensiones del material, puede
determinarse la resistividad del material. Para mejorar la exactitud de las mediciones, la
resistencia no se determina por una simple medicin de corriente y voltaje para cada
temperatura, sino a partir de su caracterstica corriente-voltaje (I-V), en la que se toman
como mnimo 20 mediciones de corriente inyectada y voltaje aplicado. La exactitud de la
medicin se garantiza mientras se asegure que la temperatura permanece constante
durante la adquisicin de datos de corriente y voltaje. Para ello las mediciones de
corriente y voltaje deben efectuarse de una manera rpida y es muy til el empleo de un
computador programado para esa tarea. Para un material conductor, la caracterstica I-V
presenta una dependencia lineal, y de su pendiente puede deducirse la resistencia
elctrica del material.

14.2.

Detalles experimentales

La caracterstica I-V del material se efecta usando el programa para adquisicin de datos
I-V Only, basado en la plataforma LabView 8.5.1 de National Instruments [2], que
controla la fuente de corriente de precisin Keithley 6220 y el nanovoltmetro Keithley
69

2182 [3]. Como prametros de adquisicin de datos se recomienda inyectar la corriente


desde -100 mA hasta 100 mA en pasos que incrementan la corriente en 10 mA cada
segundo, con esto pueden obtenerse una caracterstica I-V que contiene 20 mediciones
experimentales en un tiempo menor a 30 segundos. El montaje experimental se basa en
la placa de cobre para efecto hall 11803.00 suministrada por Phywe [4] que se muestra en
la figura 14.1.

Figura 14.1. Placa de cobre Phywe 11803.00 para medicin de resistividad y efecto Hall
en funcin de la temperatura. 1- Lmina de cobre. 2- Contactos para inyeccin de
corriente y medicin de voltaje con el mtodo de dos puntas. 3- Contactos para medicin
de voltaje Hall. 4- Baquelita. 5- Contactos para calentar la placa de cobre. 6- Termocupla.
7- Contactos para medir el termovoltaje.

Los terminales indicados con el nmero 2 se usan para determinar la caracterstica


corriente-voltaje de la muestra. Para incrementar la temperatura, se inyecta corriente
sobre los terminales 5, que suministra la potencia al calentador, el cual tiene forma de
serpentn y est aislado de la muestra por una lmina de baquelita. Se recomienda usar
para el calentador un voltaje mximo de 8V ( ~ 5A), con esta potencia se puede llegar a
un incremento de 175C. La termocupla (6) es de tipo T (Cu CuNi) y permite medir la
temperatura de la muestra a travs de un voltmetro de precisin Fluke 8842A [5]. En
primera aproximacin se tiene una variacin de 1C por cada 40V, sin embargo para un
70

registro ms preciso de la temperatura se usa la tabla de referencia certificada por la NIST


(National Institute of Standards and Technology) [6].

El procedimiento para la realizacin del experimento consiste entonces en registrar la


caracterstica I-V de la muestra y a continuacin incrementar ligeramente la potencia
elctrica del calentador, lo ocasionar un ligero incremento de la temperatura, que puede
leerse a travs del multmetro. Cuando la lectura alcance un valor estacionario, se
procede a realizar otra medicin de la caracterstica I-V y se contina incrementando la
potencia del calentar, y as sucesivamente se registra la caracterstica I-V para cada
temperatura, lo cual permitir obtener la curva de resistividad en funcin de la temperatura
de la muestra, teniendo en cuenta las dimensiones de la placa de cobre: largo = 35.0
0.5 mm, ancho = 25.0 0.5 mm y espesor = 18.0 0.5 mm.

14.3.

Referencias

[1] Wikipedia en versin inglesa. http://en.wikipedia.org/wiki/Temperature_coefficient.


Junio de 2011.
[2] Pgina oficial de national Instruments. http://www.ni.com/labview/whatis/esa/. Junio de
2011.
[3] Pgina oficial de Keithley instruments. http://www.keithley.com/products. Junio de
2011.
[4] Placa de cobre Phywe 11803.00 para medicin de efecto Hall.
http://fys.kuleuven.be/pradem/handleidingen/Halleffect%20bij%20koper.pdf. Junio de
2011.
[5] Pgina oficial del fabricante Fluke Corporation.
http://www.fluke.com/fluke/usen/products/categorydmm.htm . Junio de 2011.
[6] Pgina oficial del fabricante de termocuplas Omega Inc.
http://www.omega.com/temperature/z/pdf/z207.pdf. Junio de 2011.

71

Prctica 15

Caracterizacin elctrica de un diodo PN

Mediante la caracterstica corriente-voltaje (I-V) de un diodo PN es posible hallar


parmetros fsicos importantes como la constante de Planck , la corriente de saturacin
y a partir de esta ltima el potencial de difusin

, tambin conocido como barrera de

potencial a travs de la juntura PN.

15.1.

Principios fsicos

La solucin de las ecuaciones de Poisson y de continuidad, junto con la aplicacin de las


condiciones de frontera para difusin y recombinacin de portadores de carga a travs de
la juntura PN, conlleva a una expresin que relaciona la corriente inyectada a travs de
una juntura en dependencia del voltaje aplicado (caracterstica corriente-voltaje I-V) dada
por la ecuacin 1[1,2]:
(15.1)

donde

es la carga del electrn,

es la constante de Boltzmann y

la temperatura de

operacin del diodo. Teniendo en cuenta el valor de la energa trmica a temperatura


ambiente

, es fcil observar que para voltajes aplicados mayores a 0.1 V el

trmino exponencial es mucho mayor que la unidad y por consiguiente la ecuacin 1


puede simplificarse a la expresin:
(15.2)

72

Con esta aproximacin es fcil apreciar que bsicamente la corriente a travs de un diodo
se incrementa exponencialmente con el voltaje aplicado. Esto permite una fcil
linealizacin de la caracterstica I-V del diodo y a partir de all extraer informacin sobre
los parmetros buscados: la constante de Boltzmann, la corriente de saturacin y la altura
de la barrera de potencial a travs de de la juntura PN.

15.2.

Detalles experimentales

La caracterstica I-V del diodo se usa el mtodo de dos puntas, en el que la fuente de
corriente de precisin Keithley 6220 y el nanovoltmetro Keithley 2182 [3] se conectan
directamente a las terminales del diodo, teniendo en cuenta su polaridad directa. La
adquisin de datos se efecta con el programa I-V Only, basado en la plataforma
LabView 8.5.1 de National Instruments [4], que controla la fuente de corriente y el
nanovoltmetro, y permite obtener un archivo tipo ASCII para poder efectuar el tratamiento
de un gran nmero de datos de las mediciones.

15.3.

Referencias

[1] Ben G. Streetman, Sanjay Kumar Banerjee. Solid state electronic devices. PearsonPrentice Halls. Philadelphia 6 th edition (2006). ISBN: 978-0131497269.
[2] Britney Spears guide to semiconductor physics. The PN Junction.
http://britneyspears.ac/physics/pn/pnjunct.htm. Junio de 2011.
[3] Pgina oficial de Keithley instruments. http://www.keithley.com/products. Junio de
2011.
[4] Placa de cobre Phywe 11803.00 para medicin de efecto Hall.
http://fys.kuleuven.be/pradem/handleidingen/Halleffect%20bij%20koper.pdf. Junio de
2011.

73

Prctica 16

Estructuras cristalinas

Mediante esta prctica se identifican las simetras y propiedades bsicas de las


estructuras cristalinas cbicas: cbica simple (Simple cubic - SC), cbica centrada en las
caras (Face-centerd cubic - FCC), cbica centrada en el cuerpo (Body-centered cubic
BCC) y la estructura de tipo Zinc-Blenda [1].

16.1 Detalles experimentales

En esta prctica se usarn los kits diseados para construir estructuras cristalinas. Cada
grupo de laboratorio usar dos kits para construir las estructuras cristalinas SC, FCC,
BCC y Zinc Blenda en los que se identificar:
16.1.1. Los vectores primitivos.
16.1.2. La celda primitiva
16.1.3. La constante de red.
16.1.4. La celda de Wigner-Seitz
16.1.5. Las principales operaciones de simetra [2].

16.2. Referencias

[1] Dr. S.J. Heyes. Structure of simple inorganic solids.


http://www.chem.ox.ac.uk/icl/heyes/structure_of_solids/strucsol.html. Junio de 2011
[2] Prof. Stephen A. Nelson. Tulane University. Introduction and symmetry operations.
http://www.tulane.edu/~sanelson/eens211/introsymmetry.htm. Junio de 2011.

74

Prctica 17

La dualidad onda-partcula de la luz

El efecto fotoelctrico es usado en esta prctica para mostrar que la luz posee
propiedades que en determinados experimentos ordinariamente son asociadas a
partculas, mientras que bajo otras condiciones manifiestan propiedades asociadas a
ondas (interferencia, difraccin). La demostracin del efecto fotoelctrico en este
experimento es nicamente de tipo cualitativo.

17.1. Fundamentos fsicos

El efecto fotoelctrico consiste en la emisin de electrones por un material sometido a


radiacin de suficiente energa (figura 17.1) [1].
El fenmeno fue registrado por primera vez
en 1887 por Heinrich Hertz , razn por la
que tambin este fenmeno fue conocido
como efecto Hertz[2]. El estudio de este
fenmeno contribuy sustancialmente al
entendimiento de la naturaleza cuntica de
la luz y los electrones e influenci la
formacin del concepto de dualidad ondaFigura 17.1. Emisin de fotoelectrones.
Figura tomada del museo de ciencia y
tecnologa de Canad [1].

partcula [3]. Bajo este concepto tanto la luz


como

la

materia

en

general

posee

caractersticas tanto de onda, como de


partcula.

75

La faceta ondulatoria o corpuscular de la materia se manifiesta dependiendo de las


circunstancias [4]. El efecto fotoelctrico no pudo ser explicado por la teora clsica del
electromagnetismo, debido a que la energa de los electrones emitidos no depende de la
radiacin incidente [5]. Albert Einstein en 1905 efectu una descripcin matemtica de
este fenmeno asumiendo que la luz est compuesta de cuantos discretos llamados
fotones, cuya energa era proporcional a la frecuencia de la onda electromagntica. Este
resultado coincida con la hiptesis de Plack para explicar la radiancia de un cuerpo
negro. Einstein explic el efecto fotoelctrico en trmino de que un fotn con frecuencia
superior al umbral posee energa suficiente para expulsar un electrn del material. Esta
explicacin y sus consecuencias para fundamentar la teora cuntica y entender la
naturaleza de la dualidad onda-partcula le hizo acreedor del premio Nobel de Fsica en
1921.

17.2. Detalles experimentales

La figura 17.2 ilustra tres evidencias experimentales relacionadas con el efecto


fotoelctrico [6].

Figura 17.2. Experimentos con efecto fotoelctrico. Figura tomada de School physics [6].

76

El experimento se efecta con un electroscopio cargado con una vara plstica o una
mquina de Whimshurt. En la primera secuencia, se observa que un electroscopio
conectado a una placa de Zinc cargada no es afectado cuando ste es iluminado con un
lser rojo. En la segunda secuencia se observa que la radiacin ultravioleta no afecta a la
placa de zinc cuando sta es cargada positivamente. En cambio en la secuencia tres se
observa que al iluminarse con luz ultravioleta, s hay una descarga del electroscopio
cuando est conectado a una placa de zinc cargada negativamente. Estos experimentos
muestran que efectivamente, hay desprendimiento de electrones por efecto de la
radiacin, y adems que los fotoelectrones se generan slo para radiaciones de mayor
frecuencia.

Adems de estas evidencias experimentales las investigaciones efectuadas con montajes


ms sofisticados en sistemas de vaco y usando detectores de electrones, han mostrado
que el nmero de electrones emitidos por segundo depende de la intensidad de la
radiacin incidente, y que la energa de los fotoelectrones depende de la frecuencia de la
radiacin incidente. Estos hechos no pueden explicarse con la teora clsica del
electromagnetismo, asumiendo que la luz es una onda electromagntica. Un seguimiento
ms detallado muestra que para cada material hay una frecuencia umbral, a partir de la
cual hay emisin de fotoelectrones cuando se ilumina con radiacin de mayor frecuencia,
y no hay emisin de fotoelectrones para frecuencias inferiores [6].

17.3. Referencias

[1]

Museo

de

ciencia

tecnologa

de

Canad.

http://www.sciencetech.technomuses.ca/english/whatson/sudbury_neutrino_observatory_p
art03.cfm . Junio de 2011.
[2] Weisstein, Eric W. (2007), "Eric Weisstein's World of Physics", Eric Weisstein's World
of Science, Wolfram Research.
[3] Serway, Raymond A. (1990). Physics for Scientists & Engineers (3rd ed.). Saunders.
pp. 1150. ISBN 0030302587.
77

[4] Wikipedia versin inglesa. http://en.wikipedia.org/wiki/Photoelectric_effect#cite_noteserway_1-0 . Junio de 2011.


[5] Robert Resnick, Basic Concepts in Relativity and Early Quantum Theory, Wiley, 1972,
p. 137.
[6]

Keith

Gibbs,

School

Physics

(2010).

http://www.schoolphysics.co.uk/age16-

19/Quantum%20physics/text/Photoelectric_effect/index.html. Junio de 2011.

78

Prctica 18

El efecto fotoelctrico I

El objetivo de este experimento es determinar el valor del cuanto de accin de Planck


(ms conocida como constante de Planck

) midiendo el contravoltaje de frenado de

electrones para diferentes longitudes de onda.

18.1. Fundamentos fsicos

Segn Einstein la explicacin del efecto fotoelctrico se basa en la transferencia de


energa del fotn al electrn:
(18.1)

Usando la hiptesis de Planck y descomponiendo la energa del electrn en sus


componentes cintica

y potencial

se tiene:
(18.2)

La energa potencial se considera que es la energa necesaria para que el electrn pueda
salir del slido, y se denomina como funcin trabajo ,
(18.3)

Para medir la energa cintica, en esta prctica se utilizar el mtodo del contravoltaje.
Este mtodo consiste en aplicar una diferencia de potencial (potencial de frenado) que
contrarreste la energa cintica que posee el electrn cuando es expulsado del material.
Una ilustracin del mtodo se ilustra en la figura 18.1 [1].
79

Cuando el electrn es expulsado del


metal por efecto de la radiacin, ste
posee cierta energa cintica que le
permite alcanzar la placa C, que est
conectada a un detector de carga
(electrmetro). Al aplicarse a la placa
C un potencial negativo con respecto
al metal (contravoltaje), el electrn
experimentar una disminucin en su
velocidad (frenado) por efecto del
campo elctrico aplicado. Si el campo
es suficientemente intenso es posible
Figura

18.1.

Esquema

del

experimento

fotoelctrico por el mtodo de contravoltaje.


Imagen

tomada

de

la

pgina

Fsica

ordenador de Angel Franco Garca [1].

con

hacer que el electrn pierda toda su


energa cintica e incluso retorne de
vuelta

al

metal

de

donde

fue

expulsado previamente.

Cuando se alcanza esa condicin, el electrmetro no detectar ninguna carga, puesto que
ningn electrn posee energa cintica suficiente para alcanzar la placa C. De esta forma
se puede medir la energa cintica mxima de los fotoelectrones emitidos, aplicando un
contravoltaje

tal que el electrmetro no registre ninguna carga. Un applet ilustrativo

del mtodo de contravoltaje se puede apreciar en la referencia [1]. De esta manera, la


ecuacin 18.3 se transforma en:
(18.4)
Donde

18.2.

es la carga del electrn.

Detalles experimentales

En la figura 18.2 se muestra el montaje experimental propuesto [2]. La lmpara de


mercurio es la fuente de radiacin con una amplia gama de longitudes de onda que se
extiende hasta el ultravioleta. Su frecuencia mxima puede ser limitada por un filtro F.
80

Figura 18.2. Montaje experimental para el experimento fotoelctrico. Figura tomada del
montaje propuesto por la firma LD-Didactics GmbH [2].

La lmpara se sita frente a la fotocelda Phywe 06778 [3], la cual contiene un par de
lminas metlicas (ctodo y nodo) dentro de una ampolleta de vidrio al vaco. El ctodo
es el metal (platino, Pt) que va a ser iluminado por la lmpara, mientras que el nodo
(Potasio, K) colecta los fotoelectrones emitidos y est conectado al electrmetro
amplificador. Se escoge potasio como material del nodo debido a que los elementos
alcalinos (grupo I de la tabla peridica) tienen una funcin trabajo pequea porque los
electrones de valencia estn muy dbilmente enlazados.

Los fotoelectrones que alcanzan el nodo son detectados por el electrmetro y su seal
es amplificada dando lugar a una fotocorriente. El contravoltaje

es aplicado hasta

anular la fotocorriente.

El procedimiento se repite colocando diversos filtros que limitan la frecuencia mxima de


emisin de la lmpara de Mercurio. De esta forma, puede medirse el potencial de retardo
, en funcin de la frecuencia de la radiacin incidente . La grfica resultante permite
deducir el valor de la constante de Planck , teniendo como referencia la ecuacin 18.4.
De all incluso podra deducirse el valor de la funcin trabajo del ctodo, sin embargo, si
se tiene en cuenta la contribucin del nodo, el valor resultante correspondera a la suma
de las funciones trabajo del nodo y ctodo conjuntamente.
81

18.3 Referencias
[1]

Fsica

con

ordenador.

Angel

Franco

Garca.

El

efecto

fotoelctrico.

http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/cuantica/fotoelectrico/fotoelectrico.htm. Junio de 2011.


[2] LD Physics leaflets P6.1.4.5. Determining Plancks constant counter voltage method.
http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6145_e.pdf. Junio de 2011.
[3] Plancks quantum of action from the photoelectric effect (line separation by diffraction
grating) LEP 5.1.05.
http://www.science.com.tw/catelog/images/phywe/LEP/LEP5105_01_05.pdf.

Junio

de

2011.

82

Prctica 19

El efecto fotoelctrico II

El objetivo de este experimento es determinar el valor del cuanto de accin de Planck


(ms conocida como constante de Planck ) usando la dispersin de lneas generada por
una rejilla de difraccin .

19.1. Fundamentos fsicos

Segn Einstein la explicacin del efecto fotoelctrico se basa en la transferencia de


energa del fotn al electrn:
(19.1)

Usando la hiptesis de Planck y descomponiendo la energa del electrn en sus


componentes cintica

y potencial

se tiene:
(19.2)

La energa potencial se considera que es la energa necesaria para que el electrn pueda
salir del slido, y se denomina como funcin trabajo ,
(19.3)

Para medir la energa cintica, en esta prctica se utilizar el mtodo del contravoltaje.
Este mtodo consiste en aplicar una diferencia de potencial (potencial de frenado) que
contrarreste la energa cintica que posee el electrn cuando es expulsado del material.
Una ilustracin del mtodo se ilustra en la figura 19.1 [1].
83

Cuando el electrn es expulsado del


metal por efecto de la radiacin, ste
posee cierta energa cintica que le
permite alcanzar la placa C, que est
conectada a un detector de carga
(electrmetro). Al aplicarse a la placa
C un potencial negativo con respecto
al metal (contravoltaje), el electrn
experimentar una disminucin en su
velocidad (frenado) por efecto del
campo elctrico aplicado. Si el campo
es suficientemente intenso es posible
Figura

19.1.

Esquema

del

experimento

fotoelctrico por el mtodo de contravoltaje.


Imagen

tomada

de

la

pgina

Fsica

ordenador de Angel Franco Garca [1].

con

hacer que el electrn pierda toda su


energa cintica e incluso retorne de
vuelta

al

metal

de

donde

fue

expulsado previamente.

Cuando se alcanza esa condicin, el electrmetro no detectar ninguna carga, puesto que
ningn electrn posee energa cintica suficiente para alcanzar la placa C. De esta forma
se puede medir la energa cintica mxima de los fotoelectrones emitidos, aplicando un
contravoltaje

tal que el electrmetro no registre ninguna carga. Un applet ilustrativo

del mtodo de contravoltaje se puede apreciar en la referencia [1]. De esta manera, la


ecuacin 18.3 se transforma en:
(19.4)
Donde

19.2.

es la carga del electrn.

Detalles experimentales

En la figura 19.2 se muestra el montaje experimental propuesto. La lmpara de mercurio


es la fuente de radiacin con una amplia gama de longitudes de onda que se extiende
hasta el ultravioleta.
84

Figura 19.2. Montaje experimental para el experimento fotoelctrico.

La lmpara se sita frente a la fotocelda Phywe 06778 [2], la cual contiene un par de
lminas metlicas (ctodo y nodo) dentro de una ampolleta de vidrio al vaco. El ctodo
es el metal (platino, Pt) que va a ser iluminado por la lmpara, mientras que el nodo
(Potasio, K) colecta los fotoelectrones emitidos y est conectado al electrmetro
amplificador. Se escoge potasio como material del nodo debido a que los elementos
alcalinos (grupo I de la tabla peridica) tienen una funcin trabajo pequea porque los
electrones de valencia estn muy dbilmente enlazados.

Al ser iluminado el ctodo, algunos de los fotoelectrones alcanzan el nodo, y se


establece una diferencia de potencial entre nodo y ctodo (contravoltaje), el cual alcanza
un valor lmite

despus de un corto tiempo en que el nodo adquiere carga negativa

por los electrones acumulados. De esta manera, los electrones fluyen en contra del
campo elctrico establecido por la carga acumulada en el nodo, y slo alcanzarn el
nodo cuando posean energa cintica suficiente para contrarrestar el potencial de retardo
. As, el valor estacionario

medido por el voltmetro conectado al electrmetro

permite determinar la energa cintica mxima de los fotoelectrones.

85

Para variar la frecuencia de la radiacin incidente, se usa una rejilla de difraccin y un


banco ptico de ngulo variable como puede observarse en la figura 19.3 [2].

Figura 19.3. Montaje experimental para medir efecto fotoelctrico con ayuda de una rejilla
de difraccin, propuesto por la empresa Phywe GmbH [2].

Al graduar el brazo del banco ptico a diferentes ngulos, se puede acceder a diversas
longitudes de onda dispersadas por la rejilla de difraccin. De esta forma, puede medirse
el potencial de retardo

, en funcin de la frecuencia de la radiacin incidente

grfica resultante permite deducir el valor de la constante de Planck

. La

, teniendo como

referencia la ecuacin 19.4. De all incluso podra deducirse el valor de la funcin trabajo
del ctodo, sin embargo, si se tiene en cuenta la contribucin del nodo, el valor
resultante correspondera a la suma de las funciones trabajo del nodo y ctodo
conjuntamente.

19.3 Referencias
[1]

Fsica

con

ordenador.

Angel

Franco

Garca.

El

efecto

fotoelctrico.

http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/cuantica/fotoelectrico/fotoelectrico.htm. Junio de 2011.


[2] Plancks quantum of action from the photoelectric effect (line separation by diffraction
grating) LEP 5.1.05.
http://www.science.com.tw/catelog/images/phywe/LEP/LEP5105_01_05.pdf.

Junio

de

2011.

86

Prctica 20

Analoga ptica de la difraccin de electrones

El propsito de este experimento es determinar la distancia entre ranuras de una rejilla de


difraccin haciendo uso de la imagen recproca obtenida en un patrn de difraccin.

20.1. Fundamentos fsicos

La difraccin se refiere a una serie de fenmenos que ocurren cuando la luz encuentra un
obstculo. Sus efectos son generalmente ms pronunciados cuando la longitud de onda
de la luz tiene dimensiones similares a las de los objetos que generan la difraccin. Los
patrones de difraccin generados por una rejilla se modelan a partir de la interferencia
constructiva debido a las diferencias de camino entre las trayectorias de los haces deluz
cuando pasan por cada una de las ranuras de la rejilla. La base del tratamiento terico de
este fenmeno es el experimento de Young (o de la doble rendija), que constituye una
seccin obligatoria de cualquier texto de fsica bsica de nivel universitario [1, 2]. De all
se deduce que la condicin de interferencia constructiva se presenta cuando se cumple la
condicin:
(20.1)

donde

es la distancia entre ranuras de la rejilla de difraccin,

el ngulo para el cual se

presentan los mximos de intensidad de luz en el patrn de difraccin,


onda de la luz y

la longitud de

el orden de la difraccin que es un nmero entero y positivo.

87

20.2. Detalles experimentales

El montaje experimental se muestra en la figura 20.1a [3].

Figura 20.1. a) Montaje experimental para la obtencin de un patrn de difraccin con


una rejilla. Imagen tomada de la firma LD-Didactics [3]. b) Imagen del patrn de difraccin
obtenido.

El lser y la rejilla de difraccin se montan sobre un banco ptico, lo cual permite obtener
el patrn de difraccin mostrado en la figura 20.1b. All pueden observarse seis franjas de
interferencia constructiva que corresponden a los armnicos de primero, segundo y tercer
orden situados simtricamente a derecha e izquierda del haz incidente, respectivamente.
Los ngulos a los que se presentan las franjas brillantes pueden medirse cuidadosamente
usando relaciones trigonomtricas. Tras una linealizacin del grfico de

para cada orden

de difraccin , y conociendo la longitud de onda de emisin del lser, es posible hacer


una estimacin experimental de la distancia entre ranuras de la rejilla de difraccin.

20.3 Referencias
[1] Wikipedia versin inglesa. http://en.wikipedia.org/wiki/Double-slit_experiment . Junio
de 2011.

88

[2] Sears, Zemansky, Young, Freedman. Fsica Universitaria con Fsica moderna,
Volumen 2, 11a Edicin (2005). Pearson educacin de Mxico SA de CV. ISBN: 970-260672-1.
[3] LD Physics Leaflets P6.1.5.2. Optical analogy to diffraction of electrons in a
polycrystalline lattice. http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6152_e.pdf . Junio de
2011.

89

ANEXO A

Cdigo fuente de la aplicacin IV only.vi, basada en el software LabView 8.5, para


medicin de la caracterstica corriente-voltaje (I-V).

Tomado de la tesis de pregrado de Ingeniera electrnica Estudio de propiedades


optoelectrnicas de materiales usados en la construccin de diodos orgnicos emisores
de luz (OLEDs), realizada por la estudiante Clara Patricia Hernandez Moreno en el primer
semestre de 2010, en la Pontificia Universidad Javeriana.

Programa utilizado para la adquisicin de datos de corriente y voltaje provenientes del


nanovoltmetro Kethley 2182 y la fuente de corriente de precisin Kethley 6220. La
comunicacin se estableci mediante puerto GPIB.

90

Interface de usuario.

91

En este primer marco se establece comunicacin entre el PC y los instrumentos: fuente


de corriente Keithley 6220 (direccin 20, voltaje mximo de salida 100V), y el
nanovoltmetro keithley 2182 (direccin 7, midiendo en canal 1, hasta 100V mximo).

92

En este marco est el ncleo central del programa.


La parte izquierda est diseada para empezar en el valor mnimo de corriente, e
incrementarla cada segundo hasta que se alcanza el valor mximo establecido en la
interface de usuario.
La parte inferior se encarga de almacenar los datos en un archivo de texto en formato
ASCII.
La rutina en el marco se encarga de comunicarse con los instrumentos, acumula los datos
de corriente y voltaje cada segundo, y los va apilando. Enseguida transmite las columnas
de datos tanto a la grfica (parte superior derecha), como al archivo de datos para su
escritura (parte inferior).

93

Este marco final se realiz para apagar la fuente de corriente al terminar las mediciones.

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