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Tema 1.

Introduccin a la instrumentacin
TEMA 1: INTRODUCCIN A LA
INSTRUMENTACIN
1. Introduccin .............................................................................................................. 1
2. Conceptos bsicos ..................................................................................................... 1
3. Diagrama de bloques de un sistema de instrumentacin........................................... 2
Transductor................................................................................................................ 2
Acondicionamiento de seal ..................................................................................... 3
Almacenamiento........................................................................................................ 3
Fuente de alimentacin.............................................................................................. 3
4. Aplicaciones .............................................................................................................. 4
Monitorizacin de procesos y operaciones ............................................................... 4
Control de procesos y operaciones............................................................................ 4
Anlisis experimental................................................................................................ 4
5. Proceso de medida. Calibracin................................................................................ 5
Calibracin ................................................................................................................ 6
Mtodos de medida ................................................................................................... 7
6. Caractersticas metrolgicas y no metrolgicas ........................................................ 7
1. Introduccin
Con el contenido de este tema se
pretende introducir al lector en los
primeros conceptos sobre los sistemas
de instrumentacin. Adems, con este
tema, se trata de dar una panormica
general con la que poder vislumbrar
los contenidos de los temas
posteriores. El tema est estructurado
de la siguiente forma. En primer lugar,
se definen conceptos muy genricos
sobre la instrumentacin, qu es la
instrumentacin, qu es la medida, cul
es la finalidad de estos sistemas.
Seguidamente se ver cmo es un
diagrama de bloques del sistema de
instrumentacin, se ver de qu est
compuesto, incluyndose una breve
descripcin de los elementos que lo
constituyen. En un siguiente apartado,
se har una lista de las principales
lneas de aplicacin de estos sistemas.
Se finalizar el tema haciendo una
breve introduccin al proceso de
medida y las distintas tcnicas de
medida que existen.
2. Conceptos bsicos
La instrumentacin es una disciplina
de la ingeniera y de la ciencia que
abarca reas tales como la deteccin,
adquisicin, control y anlisis de datos.
Instrumento es algo de lo que nos
valemos para conseguir un fin, en
nustro caso el fin es la medida. En lo
sucesivo, cuando hablemos de
instrumento, nos referiremos a
instrumento electrnico de medida.
La medida es una forma de aprender
acerca de los objetos que nos rodean de
manera cuantitativa. Estos objetos son
muy diversos y presentan un nmero
ilimitado de propiedades fsicas como
puede ser el color, peso, tamao, etc.
Cuando el experimentador se propone
obtener informacin acerca de objetos
particulares, selecciona un limitado
nmero de propiedades que son
comunes al rango completo de objetos
que conoce. A estas propiedades, se les
denomina magnitudes fsicas. Aqu, el
trmino magnitud fsica se refiere a
todas las propiedades estudiadas, no
solo en el campo de la fsica, sino en
otros campos de la ciencia y la
tecnologa, qumica, biolgica,
econmica, etc. Estas propiedades
pueden ser adquiridas de dichos
objetos debido a que se manifiestan
mediante distintas formas de energa.
La cantidad de energa que identifica
Tema 1. Introduccin a la instrumentacin
una determinada magnitud fsica, es
decir, el valor de dicha magnitud fsica
estar expresado en un determinado
sistema de unidades. En lo sucesivo, se
tratar de utilizar el Sistema
Internacional como sistema de
representacin de estas magnitudes.
Durante el proceso de medida, a estos
sistemas se les denomina sistema bajo
pruebas, en la nomenclatura
anglosajona, se les conoce por Device
Under Test (DUT). Nosotros, a partir
de ahora usaremos las siglas DUT para
referirnos a dichos sistemas.
La finalidad del sistema de medida es,
por tanto, la de presentar a un
observador el valor numrico lo ms
aproximado posible al valor real de
una determinada magnitud fsica que
est siendo medida del DUT. Como se
observa en la figura 1, la entrada al
sistema de medida es el valor real y la
salida del sistema de media se
denomina valor medido. Como se
ver despus, los sistemas de
instrumentacin tendrn objetivos ms
ambiciosos que la mera medida, como
es el control y el tratamiento de la
informacin, aunque siempre incluirn,
de una forma u otra, un proceso de
medida.
Figura 1. Proceso de medida.
3. Diagrama de bloques de
un sistema de
instrumentacin
Los instrumentos electrnicos sirven
de nexo de unin entre el medio y el
observador.
La finalidad de un sistema de
instrumentacin es la de estimar los
valores de las magnitudes fsicas
presentando el resultado de la
estimacin a un observador y permitir
a dicho observador interactuar con el
medio.
En la Figura 2, se muestra la estructura
interna de un instrumento electrnico
en el que pueden observarse los
siguientes bloques: transductores,
acondicionamiento de seal, control,
almacenamiento, anlisis de datos y
fuente de alimentacin. A continuacin
comentaremos, de forma breve, estos
bloques. Algunos de ellos sern
desarrollados en temas posteriores con
mayor detalle.
Transductor
Un transductor es aquel dispositivo
que acepta energa proveniente de una
parte del sistema y la emite con
diferente forma a otra parte de tal
sistema. Al transductor o conjunto de
ellos que permite obtener informacin
del medio se le denomina sensor. Al
transductor o conjunto de ellos que
permite actuar sobre dicho medio se le
denomina actuador. Un ejemplo de
sensor es una sonda de temperatura
que transforma energa trmica en
energa elctrica. Un ejemplo de
actuador es una resistencia que,
aportndole energa elctrica, permite
calentar el medio variando su
temperatura.
Existe una familia de transductores que
interaccionan directamente con el
observador para permitirle conocer las
magnitudes que estn siendo medidas,
la mayora de estos transductores
intercambian radiacin luminosa y son
Tema 1. Introduccin a la instrumentacin
Figura 2. Diagrama general simplificado de un sistema de medida
conocidos como elementos de
visualizacin o transductores
indicadores, por ejemplo: tubo de
rayos catdicos, indicadores
electromecnicos (indicadores de
aguja), diodos leds, displays de cristal
lquido, etc. Finalmente, a los
transductores que permiten al
observador actuar sobre el sistema de
instrumentacin, se les denominan
transductores de mando.
Acondicionamiento de seal
El acondicionamiento de seal se usa
para conectar elctricamente los
distintos transductores con los
elementos que procesan los datos, es
decir, los sistemas de control,
almacenamiento o anlisis de la
informacin, modificando la seal
elctrica que proviene de los
transductores o que se enva hacia
ellos, para que sea compatible y tenga
los valores adecuados. Algunas de las
tareas que tiene el bloque de
acondicionamiento son:
Conversin tensin/corriente.
Amplificacin.
Filtrado.
Aislamiento galvnico.
Conversin A/D D/A.
Telemetra.
Modulacin/demodulacin.
Algunas de estas funciones sern
tratadas en temas posteriores.
Almacenamiento
El almacenamiento permite tener un
registro de la medida para que el
observador pueda estudiar la
informacin o que dicha informacin
sea procesada con tiempo suficiente.
Por ejemplo, el registro de los latidos
cardacos, la captura de un transitorio
de descarga de un condensador, etc.
El almacenamiento se realiza
fundamentalmente en dispositivos de
memorias analgicas o digitales. Otros
sistemas de almacenamiento con
soporte fsico diferente son los
sistemas de almacenamiento basados
en registradores de papel, discos, cintas
etc. Incluso los ploters e impresoras
podran estar incluidos en esta familia
aunque adems pueden hacer la
funcin de transductores indicadores.
Fuente de alimentacin
La fuente de alimentacin debe ser
diseada en funcin de las necesidades
de precisin de los elementos que
integran el sistema de instrumentacin.
En este sentido, es importante tener en
cuenta su inmunidad o rechazo a las
variaciones de tensin que pueda
Tema 1. Introduccin a la instrumentacin
experimentar dicha fuente. Este efecto
resulta de gran importancia en los
casos en que la fuente ha de alimentar
algn transductor o elemento de
acondicionamiento.
Existen dos tipos de fuentes de
alimentacin, dependiendo de donde
proviene la energa: Batera y red
elctrica. En algunos casos pueden
coexistir los dos tipos de fuentes.
En uso de bateras puede recomendarse
en diferentes casos. Por ejemplo, en
equipos autnomos para ser utilizados
en lugares carentes de red elctrica;
para aislar al equipo de medida de
tensiones peligrosas (determinadas
normas de seguridad lo recomiendan);
para evitar posibles interferencias que
puedan llegar a travs de los cables de
conexin a red y en sistemas de
emergencia, que deben ponerse en
funcionamiento una vez que
desaparece la alimentacin de la red
elctrica.
4. Aplicaciones
Las aplicaciones fundamentales de los
instrumentos electrnicos son la
monitorizacin de procesos y
operaciones, el control de procesos y
operaciones y el anlisis experimental.
Monitorizacin de procesos y
operaciones
En este caso el sistema de
instrumentacin realiza
exclusivamente la funcin de medida
almacenamiento y procesamiento pero
no acta sobre el medio. En este caso
el bloque de control resulta
innecesario. Ciertas aplicaciones de la
medida pueden caracterizarse por tener
esencialmente una funcin de
monitorizacin, por ejemplo, los
termmetros, barmetros y
anemmetros de una estacin
meteorolgica. Estos indican
exclusivamente el estado del entorno y
no se utilizan para ejercer ninguna
accin sobre dicho entorno. Otro
ejemplo mucho ms cercano a nosotros
lo constituyen los equipos de
monitorizacin de las constantes
vitales de los pacientes en los
hospitales.
Control de procesos y
operaciones
En este caso, el sistema de
instrumentacin ejerce su accin sobre
el medio. El instrumento puede ser
considerado realmente como un
sistema de control. En la Figura 3, se
representa la estructura tpica de un
sistema de control con
retroalimentacin, el cual acta sobre
el medio para que las magnitudes a
controlar coincidan el lo posible con
las magnitudes deseadas.
Un ejemplo muy familiar de sistema de
control, y a su vez sencillo, es el de un
calentador que utiliza un termostato
para controlar la temperatura la de
resistencia calefactora. El sensor de
temperatura es un elemento bimetlico
que, a partir de cierta temperatura, se
deforma accionando un interruptor
(elemento actuador) que corta la
corriente circulante por la resistencia.
Figura 3. Sistema de instrumentacin
destinado al control de procesos.
Anlisis experimental
La solucin de problemas de ingeniera
requiere generalmente la utilizacin de
dos mtodos: terico y experimental.
Muchos de tales problemas requieren
el uso simultneo de ambos.
Caractersticas de los mtodos
tericos:
1. Dar resultados de carcter general.
Tema 1. Introduccin a la instrumentacin
2. Requieren la aplicacin de
hiptesis de simplificacin. Por
ello, no es el sistema lo que se
estudia sino un modelo
simplificado.
3. En algunos casos, conduce a
complicados problemas
matemticos. Actualmente las
tcnicas computacionales resuelven
problemas inabordables en otra
poca.
4. Requieren slo papel, lpiz y
computador.
5. No hay que gastar tiempo en
construir maquetas, ensamblar y
chequear instrumentos ni adquirir
datos.
Caractersticas de los mtodos
experimentales:
1. A menudo dan resultados
aplicables slo al sistema
especfico en experimentacin.
Sin embargo, tcnicas tales
como el anlisis dimensional y
modelado de datos pueden
permitir alguna generalizacin.
2. No se necesita hacer ninguna
suposicin de simplificacin.
3. Se necesitan medidas precisas,
Esto requiere la utilizacin de
equipos caros y complicados,
as como un largo periodo de
tiempo para su estudio y puesta
a punto.
4. Se requiere la presencia del
sistema o, en su defecto, de un
modelo a escala.
5. Se requiere, en general, un
largo tiempo para diseo,
construccin, ensamblaje y
puesta a punto del propio
sistema y de los aparatos de
medida.
Los tipos de problemas en los que
puede necesitarse la utilizacin de
experimentacin y, por lo tanto, de
instrumentos de medida son:
1. Cuando se pretende demostrar la
validez de predicciones tericas y
mejorar la teora.
2. Formulacin de relaciones
empricas en situaciones donde no
existe una teora o sta es
excesivamente compleja de
formular.
3. Determinacin de parmetros de
materiales, componentes, sistemas,
variables e ndices de
comportamiento.
4. Estudio de fenmenos, con la
ayuda de la teora.
5. Solucin de ecuaciones
matemticas mediante analoga.
5. Proceso de medida.
Calibracin
Un sistema de medida o cualquiera de
sus partes responde a una forma de
energa, o conjunto de ellas, que
denominaremos estmulos
e
X y, a
travs de sus transductores, transforma
dicha energa a otra o conjunto de ellas
que denominaremos respuestas
r
Y , tal
como se muestra en la Figura 4. La
respuesta es lo que el observador
detecta a travs de los transductores
indicadores. A este proceso se le
denomina proceso de medida.
Figura 4. Proceso de medida.
Como se muestra en la Figura 4, los
sistemas de medida se ven afectados
por una serie de acciones externas,
i
X
y el resultado rara vez refleja el valor
esperado. Incluso el propio
instrumento puede alterar lo que se
pretende medir. Esto da lugar a lo que
se conoce como errores de medida. En
Tema 1. Introduccin a la instrumentacin
el siguiente tema se estudiarn dichos
errores, sus componentes y cmo
tratarlos. Teniendo en cuenta todos
estos errores, el resultado de una
medida se considera completo cuando
incluye dos partes fundamentales, el
valor atribuido al valor medido y la
incertidumbre de la medida asociada
con dicho valor. La comprobacin de
la veracidad de los resultados de los
sistemas de medida se realiza mediante
el proceso de calibracin.
Calibracin
Con la calibracin de un sistema de
medida se pretende comprobar que la
medida de dicho sistema es la correcta
y adems determinar su incertidumbre.
Para ello, se realiza un proceso con el
fin de determinar ambos valores. Se
realiza un proceso similar al propio
proceso de medida. Para realizar la
calibracin debe modelarse el sistema
de medida segn una funcin de las
variables de entrada.
Y=f(X
1
, X
2
, .X
n
)
Entre las entradas, se encuentran, entre
otras, la lectura que se realiza con
equipos de la ms alta precisin, los
estndares de medida o patrones,
condiciones ambientales, etc, y adems
deben conocerse las incertidumbres de
todos estos valores de entrada. A partir
de toda esta informacin se determinan
las magnitudes de salida y sus
incertidumbres como se ver en el
prximo tema.
El trmino estndar hace referencia a
un dispositivo de medida construido
para producir y/o mantener una unidad
de medida con el propsito de
transferirlo a otro estndar inferior de
la cadena de calibracin.
A la posibilidad de conocer la cadena
de estndares, con sus
correspondientes certificados de
calibracin, que anteceden a un
instrumento se le denomina
trazabilidad del instrumento.
Los estndares se clasifican de distinta
forma. Una posible manera es su
clasificacin en fundamentales o
derivados, segn estn basados en
magnitudes fundamentales o derivadas
del sistema internacional.
Otra posible clasificacin es en
estndares primarios, secundarios y de
trabajo.
Los estndares primarios mantienen
y/o producen las unidades de medida y
transfieren sus dimensiones con la ms
alta precisin alcanzable.
A los estndares primarios se les
denomina internacionales (realmente
se encuentran en algunos organismos
internacionales), cuando slo se
utilizan para mantener pero no
transferir unidades y nacionales
cuando, adems de mantener los
patrones primarios, los transfieren a
estndares secundarios. Los estndares
secundarios se encuentran en
organismos oficiales y centros de
calibracin.
Los estndares de trabajo se utilizan
para medida y calibracin en los
laboratorios de las industrias, las
plantas de produccin, universidades,
etc., a los que pertenecen.
Cada cierto tiempo, todo patrn debe
ser enviado a los laboratorios de
calibracin para ser recalibrados. Es
necesario conoce cuanto tiempo pas
desde la ltima calibracin, ya que esta
informacin permite evaluar la
incertidumbre que aparece debido al
paso del tiempo.
Los requerimientos esenciales para
mantener una uniformidad y
trazabilidad en los instrumentos, as
como de sus medidas asociadas son
expresar los resultados en unidades
oficiales, ya sean fundamentales o
derivadas, del sistema internacional.
Tema 1. Introduccin a la instrumentacin
Mtodos de medida
Segn la manera en que los datos
experimentales son procesados para
encontrar el resultado de la medida, los
mtodos de medida se dividen en:
directos e indirectos. Estos pueden
ser, a su vez: simultneos y
acumulativos.
La medida directa se obtiene de los
datos sin tener que hacer uso de
ninguna relacin. Por ejemplo, la
medida de tensin con un voltmetro.
La medida indirecta se obtiene
utilizando relaciones entre las variables
medidas de manera que el resultado es
inferido de las medidas. Las medidas
pueden ser simultnea, cuando se
miden las mismas variables al mismo
tiempo, y acumulativa, cuando se van
tomando distintas medidas en distintas
condiciones. Un ejemplo de medida
acumulativa es la medida de los
parmetros que relacionan el valor de
la resistencia con la temperatura,
) 1 (
2
0
Bt At R R . Estos parmetros
pueden obtenerse planteando un
sistema de ecuaciones, midiendo las
resistencias y la temperatura para tres
condiciones de temperatura.
Segn que la medida se realice sin
tener en cuenta el tiempo se dividen en
medidas estticas y medidas
dinmicas.
Una ltima clasificacin se realiza
dependiendo de la manera en que se
utilizan los estndares. En este caso se
dividen en mtodos directos, donde se
mide con un equipo calibrado de
antemano, y mtodos de
comparacin, donde la medida se
obtiene con referencia a un patrn que
se encuentra presente durante el
proceso de medida. Los ltimos se
clasifican, a su vez, en mtodos de
balanceo, diferencial, de sustitucin
y de coincidencia.
6. Caractersticas
metrolgicas y no
metrolgicas
Las caractersticas metrolgicas estn
relacionadas con la forma y calidad
con que se obtiene la medida, por
ejemplo: errores, sensibilidad,
linealidad, etc.
Las caractersticas no metrolgicas
estn relacionadas principalmente con
el correcto funcionamiento del sistema,
por ejemplo, la seguridad, la fiabilidad,
las emisiones de interferencia, etc.
La determinacin de las caractersticas
metrolgicas se realiza mediante lo que
se conoce como ensayo de calibracin.
La determinacin del resto de
caractersticas no metrolgicas se
obtienen mediante otros ensayos
regidos por normativas internacionales.
De esta forma se garantiza que los
equipos que se comercialicen cumplan
todos los requisitos necesarios par
dicha comercializacin.
Las caractersticas metrolgicas se
tratarn en detalle en prximos temas.
Referencias.
[1] W. D. Cooper y Albert D. Helfrick,
Instrumentacin Electrnica Moderna
y Tcnicas de Medicin, Prentice Hall
Hispanoamericana 1991.
[2] Ramn Pallas Areny,
Transductores y Acondicionadores de
Seal, Marcombo, 1989.
[3] Anton F. P. Van Putten, Electronic
Measurement Systems, Prentice Hall,
1988.
[4] B. R. Bannister y D. G. Whitehead,
Instrumentacin. Transductores e
interfaz. Addison-Wesley
Iberoamericana. 1994.
Tema 2. Caractersticas metrolgicas
1
TEMA 2: CARACTERSTICAS METROLGICAS
1. Introduccin. ..............................................................................................................1
2. Errores........................................................................................................................ 1
3. Caractersticas sistemticas........................................................................................3
4. Modelo esttico del sistema de medida. ....................................................................6
5. Repetibilidad e Incertidumbre.................................................................................... 7
Apdice: Errores aleatorios. Tratamiento estadstico. ...................................................8
1. Introduccin
Las caractersticas metrolgicas estn
relacionadas con la forma y calidad
con que se obtiene la medida, por
ejemplo errores, sensibilidad,
linealidad, etc.
Las caractersticas no metrolgicas
estn relacionadas principalmente con
el correcto funcionamiento del sistema,
por ejemplo la seguridad, la fiabilidad,
las emisiones de interferencia, etc.
La determinacin de las caractersticas
metrolgicas se realiza mediante lo que
se conoce como ensayo de calibracin.
La determinacin del resto de
caractersticas no metrolgicas se
obtienen mediante otros ensayos
regidos por normativas internacionales.
De esta forma, se garantiza que los
equipos que se comercialicen cumplan
todos los requisitos necesarios para
dicha comercializacin.
Este tema versar acerca de las
principales caractersticas metrolgicas
de los sistemas de instrumentacin.
Todas estas caractersticas pueden ser
resumidas en lo que se conoce como
modelo generalizado del sistema de
medida. Este modelo generalizado se
podr, a su vez, aplicar a determinadas
partes de dicho sistema.
Todo sistema de medida puede
modelarse a travs de una parte
sistemtica y una parte aleatoria. La
parte sistemtica se caracteriza porque
puede ser exactamente cuantificada por
medios matemticos o grficos. La
parte aleatoria se caracteriza porque no
puede ser exactamente determinada y
solo pueden ser cuantificadas mediante
mtodos estadsticos.
Tambin conviene comentar que los
sistemas de instrumentacin o sus
partes se pueden modelar mediante una
parte esttica y otra dinmica, que
podrn dividir a dicho modelo en dos
submodelos: modelo esttico y modelo
dinmico.
El modelo esttico est relacionado
con cantidades que permanecen
invariables con el tiempo o que
cambian muy lentamente, y el modelo
dinmico se asocia a magnitudes
variables con el tiempo.
Para estructurar este tema, en primer
lugar se harn una serie de definiciones
previas. Se comienza con distintos
conceptos de error. Seguidamente, se
definen conceptos relacionados con las
caractersticas sistemticas. Despus,
se estudiar el modelo esttico, el cual
permitir determinar la componente
sistemtica del sistema de medida.
Seguidamente se ver cmo, a partir
del modelo esttico, se pueden
determinar los valores de la medida y
la incertidumbre de dicha medida.
Finalmente se establecer el modelo
dinmico y la forma de determinar los
errores en esta situacin.
Al final del tema se incluye un
apndice donde se hace un recordatorio
de la estadstica bsica para determinar
el resultado de la medida y sus
incertidumbres.
2. Errores
El Valor real de una variable se
define como el valor medido que se ha
obtenido con estndares de la mxima
precisin. Tambin puede considerarse
Tema 2. Caractersticas metrolgicas
2
como valor real el valor terico que se
desea o debera alcanzar con el
instrumento.
El Valor medido es el valor que se
obtiene durante el proceso de medida.
Cuando se realizan varias medidas el
valor que se usa para representar
dichas medidas es la media,
desechando las medidas que se
consideran anmalas.
El error se define como la diferencia
entre el valor medido y el valor real.
real medido
Y Y e (1)
El error relativo porcentual o
porcentaje de error se define como la
relacin entre error absoluto y el valor
real, en tanto por ciento.
100
real
r
Y
e
e (2)
La exactitud es el complementario del
error.
A e
r
100 (3)
La incertidumbre es el grado de
discordancia entre un grupo de
mediciones realizadas ante las mismas
condiciones aparentes. Para una
medida dentro de un conjunto de
medidas, la incertidumbre indica la
dispersin de dicha medida respecto al
valor medio. Se usa la desviacin
como estimacin de dicha
incertidumbre.
100
Y
Y Y
I
n
(4)
Y
n
Valor de la n-sima medida.
Y Valor medio de una serie de
medidas.
Cuando se considera un conjunto de
medidas, la incertidumbre se determina
mediante la desviacin estndar (raz
cuadrara positiva de la varianza). A
este valor se le denomina
incertidumbre estndar de la
medida.
La precisin o repetibilidad es el
grado de concordancia dentro de un
grupo de mediciones realizadas en las
mismas condiciones. Es el
complementario de la incertidumbre.
I P 100 (5)
Si un instrumento es preciso no tiene
por qu ser exacto y viceversa.
Error de incertidumbre se toma 2
veces la incertidumbre estndar,
tambin se conoce como
incertidumbre extendida U
Cuando se expresa la medida, se hace
en base a dos trminos: la medida Y y
la incertidumbre U. Se debe expresar
en la forma U Y .
El error lmite es el error absoluto
junto con el error de incertidumbre
expresado como porcentaje respecto de
la escala total de medida o fondo de
escala (f. s. r.). El concepto de fondo
de escala se define ms adelante en la
pgina 4. Esta forma de presentar el
error es la ms utilizada por los
fabricantes.
Puede observarse que si se realizan
medidas de valores menores del fondo
de escala, el error porcentual ir
aumentando a medida que las medidas
son ms pequeas. Por esta razn se
recomienda realizar las medidas lo ms
cerca posible del mximo valor del
rango de medidas.
_______________________________
Ejemplo:
Un fabricante de un voltmetro
proporciona un error lmite del 2%
para su voltmetro. Si el instrumento
tiene 300V de fondo de escala tendr
un error de 0.02 300=6V. Si medimos
120V el error porcentual ser igual a
% 5 100
120
6
_______________________________
El error en la medida se compone de
dos partes: error sistemtico y error
aleatorio.
Los errores sistemticos son aquellos
que se repiten constantemente y
afectan siempre en el mismo sentido.
Son debidos a problemas con
Tema 2. Caractersticas metrolgicas
3
instrumentos, entornos o problemas de
observacin.
Los errores de instrumento son
debidos a elementos que componen los
instrumentos, por ejemplo tensin de
muelles, movimiento de indicadores
mala calibracin o fallo en los
instrumentos en general. Se pueden
reducir realizando un adecuado
mantenimiento.
Los errores del entorno se producen
cuando se utilizan los instrumentos en
condiciones de trabajo diferentes a las
recomendadas, por ejemplo
variaciones de temperatura, presin,
humedad, fuerzas gravitacionales
electrostticas, campos
electromagnticos, etc.
Los errores de observacin son los
introducidos por el observador. Se
deben a utilizacin de frmulas o
modelos aproximados, etc.
Los errores aleatorios, tambin
conocidos como incertidumbres, se
producen alternativamente y afectan en
los dos sentidos; son la acumulacin de
un gran nmero de efectos imposibles
de modelar y controlar. Las principales
fuentes de incertidumbre se listan a
continuacin.
Definicin incompleta del DUT.
Realizacin imperfecta del DUT.
Muestra del DUT no
representativa.
Conocimiento inadecuado de los
efectos producidos por las
condiciones ambientales o
imperfecta medida de stas.
Errores de apreciacin en medidas
de tipo analgico.
Resolucin finita de los
instrumentos.
Inexactitud de los estndares de
medida y materiales de referencia.
Valores inexactos de constantes y
otros parmetros obtenidos de
fuentes externas y usados en
algoritmos de reduccin de datos.
Aproximaciones y suposiciones
incorporadas durante el
procedimiento de medida.
Variaciones durante repetidas
observaciones del DUT bajo
condiciones aparentemente
idnticas. Todas las anteriores
fuentes de incertidumbre pueden
contribuir a esta ltima fuente de
incertidumbre.
3. Caractersticas
sistemticas
Como se observa en la Figura 1, el
sistema durante el proceso de medida,
ante un estmulo que representa a la
magnitud fsica que se pretende medir
X
e
, presenta una respuesta Y
r
o
resultado de la medida. El sistema
adems, responde a todos los dems
factores externos X
i
que intervienen en
el proceso de medida.
La relacin existente entre la respuesta
y el estimulo junto a los factores
externos no se conoce con exactitud.
El proceso de calibracin permite
conocer con cierta exactitud dicha
relacin. Esta relacin entrada/salida, o
estmulo/respuesta, puede establecerse
mediante una funcin matemtica
Y=f(X
e
,Xi).
Figura 1. Proceso de medida.
Una estimacin de la medida, la
estimacin de la salida y, se determina
de la ecuacin anterior usando los
valores estimados de las entradas, x
i
y
la propia funcin que relaciona estos
valores con la salida:
.
y=f(x
1
,x
2
,x
n
)
Las incertidumbre de la medida
tambin se calcula a partir de las
Tema 2. Caractersticas metrolgicas
4
incertidumbres de las entradas X
i
.
Para las siguientes definiciones, se
considerar una sola entrada y una sola
salida, es decir, una funcin
monoevaluada de la forma Y=f(X).
El rango de entrada viene
determinado por los valores mnimos y
mximos a la entrada, es decir, x
min
y
x
max
. Asimismo, el rango de salida se
determina por y
min
e y
max
.
El fondo de escala o span es la
mxima variacin de la variable, es
decir, para la entrada la diferencia
entre el valor mximo y el mnimo
X
f
=x
max
-x
min
. Anlogamente se define
el fondo de escala de salida como
Y
f
=y
max
-y
min
.
Un sistema de medida es lineal cuando
la funcin f que relaciona la entrada
con la salida corresponde a una lnea
recta en su rango de variabilidad. La
expresin de la recta que pasa por los
puntos extremos es:
) (
min
min max
min max
min
x x
x x
y y
y y (6)
b ax y (7)
Esta recta puede obtenerse por
regresin y no necesariamente se
fuerza a que pase por los puntos
extremos. Por ejemplo, la recta puede
ser trazada mediante mnimo
cuadrados pero hacer que pase por el
origen de coordenadas o por algn
punto concreto como por ejemplo uno
de los puntos extremos del rango de
medida. Como se muestra en la Figura
2, la relacin entre la entrada y la
salida del sistema de medida puede ser
aproximadamente lineal (caso a) o
puede que no sea lineal (casos b a d).
La recta puede pasar por puntos
extremos (caso a y c), puede forzarse a
que pase por el origen de coordenadas
(caso c), o se puede hacer que la recta
pase por un punto arbitrario como es el
que corresponde en la Figura 2(d) al
rango superior.
Figura 2. Regresin lineal: a) la recta
pasa por puntos extremos, b) la recta
pasa por el origen, c) la recta pasa por
puntos extremos, d) la recta pasa por el
rango superior.
La sensibilidad esttica de un
instrumento puede ser definida como la
pendiente de la curva de calibracin.
La no linealidad aparece cuando la
funcin entrada salida no puede ser
definida como una lnea recta.
Esta no linealidad puede establecerse
en forma de una funcin cuyo valor
corresponde a la diferencia entre el
valor real y el correspondiente a la
recta que mejor se aproxima y que se
define como estndar.
) ( ) ( ) ( b ax x y x NL (8)
en cuyo caso,
) ( ) ( x NL b ax x y (9)
El error de no linealidad se expresa
en funcin del mximo valor NL en
valor absoluto, es decir L N

, y referido
al fondo de escala de salida.
100

f
NL
Y
L N
e (10)
Es habitual expresar la relacin y(x) en
forma polinmica:
n
i
i
i
x a x y
0
) ( (11)
Tambin se utilizan otras expresiones
como es el caso de funciones
Tema 2. Caractersticas metrolgicas
5
exponenciales.
Figura 3. Representacin grfica de la
no linealidad y del error de no
linealidad.
_______________________________
Ejemplo
La resistencia en ohmios de un
termistor viene dada por la expresin
273
3300
04 . 0 ) (
T
e T R (12)
Determinar el error de linealidad en el
rango de cero a 25 respecto a la recta
que pasa por los puntos extremos.
Solucin:
La recta que pasa por los puntos
extremos del rango es:
RC(T)=7108-181,2T
La diferencia entre R y RC es
181,2T 7108 04 . 0 ) (
273
3300
T
e T NL
El mximo valor de NL es 664 .
Expresado en % es
E
NL
=100*664/4530=14,68%
_______________________________
En este ltimo caso, la linealidad se
mide como la mxima desviacin de la
mejor lnea recta de un rango de
medidas. Se suele expresar como un
porcentaje de la medida o del fondo de
escala.
El fenmeno de histresis es una de
las principales fuentes de no linealidad.
Aparece como consecuencia de
rozamientos, flujos, etc. La curva se
representa en la Figura 4.
Matemticamente, la histresis se
define como la diferencia entre la
curva superior y la inferior.
2 1
) ( ) ( ) ( x y x y x H (13)
Se define el error de histresis como el
valor mximo de la histresis y
referido al fondo de escala de salida en
tanto por ciento.
100

f
H
Y
H
e (14)
Figura 4. Representacin grfica de la
no histresis y del error de histresis
El umbral es el mnimo valor de la
entrada a partir del cual se obtiene un
valor medible a la salida.
La resolucin es el cambio de la
entrada con un pequeo cambio
medible en la salida.
Ambos conceptos pueden ser dados
como trminos absolutos o como un
porcentaje del fondo de escala.
Los espacios muertos corresponden al
cambio total de la entrada para obtener
Tema 2. Caractersticas metrolgicas
6
cambios medibles en la salida.
4. Modelo esttico del
sistema de medida
El modelo esttico del sistema de
medida permite determinar el valor de
la medida junto con su incertidumbre.
Antes de introducir el modelo esttico
del sistema de medida se definirn
algunos errores sistemticos.
Hasta ahora se ha considerado que la
salida slo depende de la entrada. Para
determinar el modelo esttico lo ms
simplificado posible se considerarn
que los efectos de los dems factores,
condiciones ambientales, etc. influyen
directamente sobre las constantes de la
recta
) ( ) (
i i
X b x X a Y (15)
Una segunda aproximacin es
considerar que esta influencia se
produce de forma lineal.
Para determinas la relacin lineal es
necesario definir los siguientes
parmetros: desplazamiento de cero y
y desplazamiento del factor de escala
o de sensibilidad.
Figura 5. Desplazamiento de cero y de
sensibilidad.
i
i
i
X
X b
b
DC
) ( 1
(16)
y desplazamiento de sensibilidad:
i
i
i
X
X a
a
DS
) ( 1
(17)
Como se observa en la Figura 5, un
desplazamiento de cero produce un
desplazamiento paralelo de la recta
caracterstica. El desplazamiento de
sensibilidad dar lugar a un giro de la
recta respecto del punto de corte con el
eje de abscisa.
De esta forma, un incremento en la
sensibilidad puede ser expresado por:
i
i i
i
i
i
i
X DS a X
X
X a
a
) (
(18)
Si se producen sendos incrementos en
los parmetros de la recta
caracterstica, se puede determinar la
salida como:
b b x a x a
b b x a a Y
(19)
Si no aparecen efectos de histresis
pero si de no linealidad y ambientales,
entonces la salida viene dada por:
x x DC b
x x DS a x NL b ax y
i
m
i
i
i
n
i
i
) (
) ( ) (
0
0 (20)
La Figura 6 muestra esta ecuacin en
forma de diagrama de bloques.
Figura 6. Modelo esttico del sistema
de medida.
Pasemos ahora a ver la componente
aleatoria del sistema de medida.
Modelo multietapa
Se considera ahora un sistema con n
elementos conectados en serie.
Tema 2. Caractersticas metrolgicas
7
Supuesto cada elemento lineal e
independiente de las condiciones
ambientales, se puede determinar su
modelo equivalente multiplicando
todas las constantes que relacionan las
entradas con las salidas de cada etapa:
i
i
x k kx y (21)
x
Figura 7. Modelo multietapa.
x k y x e
i
i
) 1 ( (22)
Se observa que el error ser nulo si
1
i
i
k . (23)
5. Repetibilidad e
Incertidumbre
La repetibilidad de un instrumento es
la capacidad de dicho instrumento de
repetir la misma medida manteniendo
las variables de entrada x y las dems
condiciones ambientales
i
x constantes.
La falta de repetibilidad es debida a
dos factores:
Para un mismo instrumento, ni las
entradas ni las condiciones ambientales
permanecen realmente constantes, es
decir aparecen variciones de entrada y
condiciones de medida (
i
x x, ).
Para una serie del mismo instrumento,
algunos componentes que se
supusieron de antemano iguales, en
realidad los parmetros de las
ecuaciones que relacionan las entradas
con las salidas varan. Esto equivale a
que los parmetros de la relacin lineal
varan ( b a, ).
Para el primer caso se asume que las
variables de entrada tienen una
distribucin gaussiana, en cuyo caso,
tanto la medida como la incertidumbre
de esta pueden calcularse de las medias
de las medidas y de las incertidumbres
de las dems variables de la forma
siguiente:
b
b
y
a
a
y
x
x
y
x
x
y
y
i
i i
(24)
Y la incertidumbre se puede
determinar como:
2
2
2
2
2
2
2
2
2
b
ax
i
x
i
x
b
y
a
y
x
y
x
y
i
(25)
6. Modelo dinmico del
sistema de medida
Si el sistema de medida est sujeto a
rpidas variaciones de la entrada, la
relacin entrada-salida puede ser
diferente a la del caso esttico o
cuasiesttico. La respuesta dinmica
puede ser expresada mediante
ecuaciones diferenciales. Las
caractersticas dinmicas dependern
(en el caso lineal) del orden de las
ecuaciones diferenciales.
Los instrumentos de primer orden (por
ejemplo, medidor de temperatura), se
puede caracterizar por un parmetro
denominado Constante de Tiempo
(expresada en segundos) del sistema.
La ecuacin diferencial es:
y y x t (26)
Un sistema de segundo orden puede
caracterizarse por dos parmetros:
frecuencia natural
n
rad
s
y
amortiguamiento del sistema. La
ecuacin diferencial es:
1 2
2
n n
y y y x t (27)
En general, se pueden modelar
0sistemas de orden superior colocando
en cascada estos subsistemas de primer
y segundo orden.
Los parmetros dan una idea del error
dinmico y como este se ve afectado
en funcin de la entrada. Por ejemplo,
una constante de tiempo baja da lugar a
una rpida respuesta y bajo error
dinmico. Un sistema con alto da
1
k
2
k
n
k
Tema 2. Caractersticas metrolgicas
8
lugar a bajas oscilaciones pero es ms
lento (mayor error dinmico).
Las funciones de transferencia tpicas
se expresan mediante la transformada
de Laplace, que se define como:
0
) ( ) ( dt t f e s F
st
(28)
El sistema de primer orden puede
representarse por una funcin de la
forma:
s
s G
1
1
) ( (29)
Y el sistema de segundo orden por una
funcin de la forma:
1
2 1
1
) (
2
2
s s
s G
n n
(30)
Est claro que a partir de G(s) se puede
obtener la salida con una determinada
entrada variante con el tiempo ) (t x .
Haciendo su antitransformada de
Laplace se obtiene ) (t y . Pues bien, el
error dinmico se define como la
diferencia entre la seal medida y la
seal real:
) ( ) ( ) ( t x t y t E (31)
o lo que es lo mismo:
) ( ) ( ) ( ) (
1
t x s x s G L t E (32)
En el caso particular en el que se
tengan seales peridicas se puede
hacer uso del anlisis de Fourier. De
este modo, se puede expresar la seal
en forma de una serie de Fourier:
2
2
2
2
2
2
) (
1
) sen( ) (
2
) cos( ) (
2
) sen( ) cos( ) (
0
1
1
1
1
1
1 0
T
T
T
T
T
T
dt t f
T
a
dt t n t f
T
b
dt t n t f
T
a
t n b t n a a t f
n
n
n
n
n
n
(33)
En este caso el error dinmico que
tiene el sistema de medida se puede
obtener como:
1
1 1 1
) ( ) ( ) (
) (
n
n n
t n sen t n sen jn G y
t E
siendo
n n
b y la amplitud del n-simo
armnico y ) ( arg
1
jn G
n
.
Apdice: Errores aleatorios.
Tratamiento estadstico
El error total incluye los dos errores,
sistemtico y aleatorio.
e e e
s a
(34)
El error aleatorio es una variable
aleatoria y, aunque el error sistemtico
no lo es, el error total tambin ser una
variable aleatoria.
La funcin de densidad ms utilizada
para modelar este error es la funcin de
tipo gaussiano denominada funcin
normal:
El teorema central del lmite demuestra
que la suma de n variables aleatorias,
cuando n , es una variable
aleatoria de distribucin normal.
La funcin de densidad normal ( , )
se define como:
f x e
x
1
2
2
2
2
x (35)
e e
s
(36)
e e
a
(37)
Los errores se caracterizan
numricamente mediante la esperanza
y la varianza:
e
e
s
f e
Tema 2. Caractersticas metrolgicas
9
de e f e e E (38)
de e f e E e e V
ar
2
(39)
En el caso en que la funcin de
densidad f(e) sea una distribucin
normal ( , ), pueden calcularse
dichos valores, obtenindose:
E e e f e de (40)
2 2
2
a a a a ar
ar
de e f e e V
de e f e E e e V
(41)
La esperanza caracteriza la parte
sistemtica:
a s
e e E e E
s a s
e e E e E (42)
e E e
s
(43)
Para obtener una medida de la
dispersin en unidades del error se
define la desviacin tpica como:
e V e
ar
(44)
No es suficiente para determinar el
error mximo.
El mximo error depende tambin del
tipo de funcin de densidad. Para el
caso de funciones no acotadas como es
el caso de la gaussiana, el error
aleatorio puede tomar cualquier valor.
Hay que introducir, por tanto, el
concepto de intervalo de confianza. El
rea bajo la funcin de densidad en
dicho intervalo es la probabilidad de
que el error est en dicho intervalo. El
nivel de confianza de la media de una
serie de medidas ms usado es el 0.95,
que equivale a un intervalo
n
2
,
donde !n" es el nmero de medidas y
es la desviacin de una muestra de
la poblacin.
Para expresar el error o el resultado de
una medida, han de darse dos errores, y
el nivel de confianza. Otra posibilidad
de dar la medida es hacerlo junto con
los valores mnimo y mximo del error
total y la probabilidad de que dicho
error caiga entre los lmites.
Cuando no se conoce se emplea
s
que es una aproximacin por defecto.
m
t
n
m m
t
n
s
s
s
s
(45)
Algunas definiciones de error
estadstico:
Error probable: es r 0675 . que
corresponde al error que es probable
que ocurra en un 50% de los casos.
Error estndar o incertidumbre
estndar de la media:
n
Error estndar extendido
n
2
Se asume que la influencia en la
medida de cualquier otro parmetro
que no sea controlable acta de manera
aleatoria. Si no se conoce la funcin de
densidad se puede obtener una
aproximacin a partir de los propios
datos.
La media es un valor representativo de
un conjunto de datos. La ms usada es
la media aritmtica:
n
x x x
x
n
...
1
(46)
La desviacin es la diferencia de
cualquier dato respecto a la media.
d x x
i i
(47)
La desviacin media nos da una idea
de cuanto se separan los datos de su
valor medio:
D
d d d
n
n 1 2
...
(48)
Ms utilizada es el aproximador de la
desviacin estndar:
s
n
d d
n
1
2 2
...
(49)
Para datos menores de 30 el
denominador suele ser n-1.
Cuando se tiene un nmero reducido
de muestras el estimador de la
Tema 2. Caractersticas metrolgicas
10
desviacin tpica debe se corregido por
la t de Student que permite extender el
intervalo de confianza para tener en
cuenta la falta de informacin. En la
tabla 1 se muestra la t de Student para
distintos grados de libertad y distintos
niveles de confianza.
Grado
s
De
Libert
ad
P=68.
3%
( ) 1
P=95%
) 2 (
P=99
%
P=99.7
3%
( ) 3
1 1.8 12.7 64 235
2 1.32 4.30 9.9 19.2
3 1.20 3.18 5.8 9.2
4 1.15 2.78 4.6 6.6
5 1.11 2.57 4.0 5.5
6 1.09 2.45 3.7 4.9
7 1.08 2.37 3.5 4.5
8 1.07 2.31 3.4 4.3
9 1.06 2.26 3.2 4.1
10 1.05 2.23 3.2 4.0
15 1.03 2.13 3.0 3.6
20 1.03 2.09 2.8 3.4
30 1.02 2.04 2.8 3.3
50 1.01 2.01 2.7 3.2
100 1.00 1.98 2.6 3.1
1.00 1.96 2.58 3.0
Tabla 1. Valores de la t de Student
_______________________________
Ejemplo:
Una serie de 5 medidas dan media
A y A m 005 . 0 123 . 1
Para 99% y 4 6 . 4 t
m
2
1
5
0005 6 . 4
123 . 1
2
1
5
005 . 0 6 . 4
123 . 1
1113 1133 . . m
_______________________________
Los dgitos significativos dan una idea
de la precisin de la medida de forma
que la medida debe redondearse hasta
los valores de la incertidumbre.
Cuando se realizan clculos, se pueden
seguir las siguientes reglas a la hora de
obtener una representacin adecuada
del resultado.
Si se realizan sumas o rectas se
obtendrn con un nmero de dgitos
decimales igual al del menor de los
sumandos.
______________________________
Ejemplo:
12343.342+22.45+45.948332+123.1=
12534.840332=12534.8
_______________________________
Si se realizan multiplicaciones o
divisiones se expresa el resultado con
un nmero de dgitos significativos
igual al del operando de menor nmero
de dgitos totales.
_______________________________
Ejemplo:
3.189 2.0=6.4
3.189 2.00=6.38
3.189 2.000=6.378
3.189 2.0000=6.378
Los dgitos que se desprecian se
redondean.
_______________________________
BIBLIOGRAFA
John P. Bentley, !Principles of
Measurement System" Editorial:
Longman. Tercera edicin de 1995.
ISBN 0-582-23779-3
Robert A. Witte. !Spectrum and
Network Measurements". P T R
Prentice-Hall, Englewood Clifds, New
Jersey, 1993.
Alan V. Oppenheim, Ronald W.
Schafer. !Discrete-Time Signal
Processing". Prentice-Hall
International, Inc. 1989.
J.W. Cooley, J.W. Tukey. !An
Algorithm for the Machine Calculation
of Complex Fourier Series". Math
Computation (vol 19). 1965.
Instrumentacin bsica de medida electrnica
1
TEMA 3. INSTRUMENTACIN BSICA DE MEDIDA
ELECTRNICA
1. Introduccin................................................................................................................................. 1
2. El galvanmetro de DArsonval, Permanent Magnetic Movil Coil (PMMC) ............................ 3
Ampermetro DC......................................................................................................................... 5
Voltmetros DC ........................................................................................................................... 6
Medida de Resistencia................................................................................................................. 6
3. Amplificacin.............................................................................................................................. 7
4. Medida de corriente alterna AC .................................................................................................. 7
Medida RMS no real ................................................................................................................... 7
Valor medio de la tensin rectificada...................................................................................... 8
Valor Pico................................................................................................................................ 9
Medida RMS real ...................................................................................................................... 10
Circuitos de clculo analgico o digital ................................................................................ 10
Electrodinammetro .............................................................................................................. 10
Transductores de Efecto Hall ................................................................................................ 11
Termoacopladores ................................................................................................................. 12
5. Multmetro digital...................................................................................................................... 12
1. Introduccin
Este tema est dedicado a estudiar la
instrumentacin bsica de medida
electrnica. Estos instrumentos permiten
realizar medidas de tensin, corriente y
resistencia en un rgimen permanente, tanto
para seal continua (DC) como para alterna
(AC).
El primer instrumento de este tipo que se
utiliz, se bas en un transductor
electromecnico, el galvanmetro de
DArsonval, que permita visualizar,
mediante una aguja sobre una escala, la
corriente circulante a travs de l.
Aadiendo una serie de resistencias, se pudo
construir un instrumento de medida, que
permita medir no slo la corriente, sino
tambin la tensin y la resistencia, todo ello
en diferentes rangos. Este instrumento,
denominado Volt-Ohm-miliampermetro
(VOM) electromecnico, es un instrumento
preciso y robusto, pero sufre de un
importante inconveniente, la baja
sensibilidad que da lugar a una baja
impedancia de entrada. Por ejemplo, con una
sensibilidad de
V
k
20 en un rango de 0 a
0.5 V, tiene una impedancia de entrada de
10K
.
Con la aparicin de la electrnica, se
incorpora a estos instrumentos una etapa
amplificadora cuya misin primordial es
reducir los efectos de carga que tenan estos
multmetros.
Aparecen entonces los voltmetros
electrnicos, Electronic Volt-Meters (EVM).
Los diferentes tipos de voltmetros
electrnicos se vinieron denominando segn
la tecnologa empleada. En un principio
fueron voltmetros de vlvulas. Con la
aparicin del transistor surgieron los
voltmetros de transistores, y actualmente los
de transistores de efecto de campo.
Gracias a la etapa amplificadora que
incorpora, el EVM posee impedancias de
entrada que van de 10 a
100M
y se
mantienen en todo el rango de medida,
pudiendo medir corrientes del orden de pA.
Podemos hacer una clasificacin de estos
instrumentos atendiendo a la manera de
procesar la informacin y presentar el
Instrumentacin bsica de medida electrnica
2
resultado de la medida. Segn la
representacin de la informacin, existen
dos clases de voltmetros electrnicos:
analgicos y digitales. Para que la
representacin sea digital, es necesario,
como es lgico, un procesamiento digital.
Este procesamiento digital se realiza
mediante un convertidor analgico digital.
En la Figura 1(b) se muestra un diagrama de
bloques simplificado en el que se observa
cmo la seal, una vez amplificada, se
convierte de analgica a digital, para
posteriormente ser representada mediante un
display numrico. Tambin se ha
representado en la misma figura, parte (a),
un diagrama de bloques simplificado de un
voltmetro electrnico analgico. Para este
caso, la seal se amplifica y la salida del
amplificador acta sobre el galvanmetro
que representa la medida en una escala.
(a) (b)
Figura 1. Diagrama simplificado de un EVM. a) EVM analgico y b) EVM digital.
Figura 2. Multmetro digital FLUKE 37 (en
la parte superior) y fuente de alimentacin
DC PHILIPS PE 1542 (en la parte inferior).
En la fotografa de Figura 2, parte superior,
puede observarse el multmetro digital
FLUKE 37. En la parte inferior de dicha
figura se muestra la fuente de alimentacin
PHILIPS PE 1542, la cual incorpora tres
galvanmetros de DArsonval para
representar la tensin o la corriente de
salida. Este es un caso claro en el que no es
necesaria una gran precisin en la medida de
la tensin y de corriente, por lo que el
empleo de este sistema es mucho ms
sencillo y, a su vez, ms barato.
Pero an habiendo un procesado digital, la
representacin puede ser tambin analgica.
Por ejemplo, en la Figura 3 puede
observarse una ampliacin de la pantalla del
multmetro FLUKE 37, en la cual se observa
en la parte superior los dgitos y en la parte
inferior una barra que corresponde a una
representacin analgica conviviendo con la
digital. Esta barra horizontal est constituida
A
A
CONVERTIDOR
A/D
DISPLAY
Instrumentacin bsica de medida electrnica
3
por 30 marcas, una por cada voltio medido.
En la foto aparecen 12 marcas debido a que
la tensin que se est midiendo en ese
momento es de 12,13V.
Figura 3. Fotografa ampliada del display
del multmetro digital FLUKE 37.
La representacin analgica presenta la
ventaja de ser ms rpida en dar una
informacin aproximada, incluso permite
visualizar variaciones transitorias de la
magnitud que se est midiendo. En cambio,
la representacin digital permite una lectura
ms precisa, quedando limitada dicha
precisin por el nmero de dgitos que
emplea el indicador.
2. El galvanmetro de
DArsonval, Permanent
Magnetic Movil Coil (PMMC)
El galvanmetro de DArsonval es un
transductor indicador electromecnico.
Los indicadores en general, y en particular
los indicadores electromecnicos, son
transductores actuadores, ya que en su
interaccin directa con el observador
transforman la energa en forma de seal
elctrica del sistema de medida en seal
luminosa.
El PMMC se engloba dentro de la
clasificacin de transductores analgicos. La
ventaja fundamental de los indicadores
analgicos, cuando no se requiere gran
precisin en la medida, es la de presentar la
medida de manera que la lectura sea rpida,
sin necesidad de distraccin para el
observador. Por ejemplo, el medidor de
velocidad o el nivel del depsito de
combustible de un vehculo.
El principal inconveniente es una menor
precisin en la medida. Por esta ltima
razn, estos indicadores estn siendo
sustituidos paulatinamente por indicadores
digitales.
Los indicadores electromecnicos son, por
tanto, transductores actuadores moduladores
que constan de varias etapas de
transduccin. Transforman energa elctrica
en energa magntica; sta se transforma en
energa mecnica que produce un
movimiento de una parte del instrumento, la
aguja indicadora, que gira o deflecta
respecto de una posicin inicial. Una ltima
transformacin a energa luminosa permite
al observador visualizar la posicin de dicha
aguja. El objetivo es, por tanto, mostrar el
valor de una magnitud elctrica, la corriente
que circula a travs del indicador, mediante
el giro de una aguja de manera que dicho
giro resulte proporcional a la corriente.
Como se muestra en la Figura 4, el giro de la
aguja indicadora resulta proporcional a la
corriente de forma instantnea, ) (t i k . Si
la corriente vara de manera rpida, es decir,
a frecuencias mayores de la inversa de la
constante de tiempo del sistema mecnico,
dicho sistema mecnico no puede moverse a
la misma vez que vara la corriente, con lo
que la lectura ser proporcional al valor
medio de la corriente instantnea:
T
dt t i
T
k ) (
1
El smbolo que se emplea para representar
un indicador electromecnico es el
mostrado en la Figura 5. Los valores que se
representan en la dicha figura se refieren a la
resistencia interna
m
R y a la corriente de
fondo de escala
fs
I que, como se ver ms
adelante, son los parmetros de diseo que
caracterizan al indicador.
Instrumentacin bsica de medida electrnica
4
Figura 4. Representacin grfica del
indicador electromecnico.
Figura 5. Smbolo representativo del
indicador electromecnico.
El esquema fsico de este transductor se
muestra en la Figura 6. Est constituido por
una bobina mvil unida a la aguja
indicadora. La bobina se encuentra
sustentada por sus extremos y gira respecto a
su eje de giro en el interior de un campo
magntico permanentemente. El campo
magntico es generado mediante un imn
permanente.
Este es un dispositivo sensible a la corriente
circulante por la bobina mvil. El campo que
genera la corriente circulante por la bobina
mvil interacciona con el campo
estacionario. El sistema electromecnico
transforma la corriente en un par
proporcional a dicha corriente. Este par
produce el movimiento del indicador de
forma que dicho movimiento pueda ser
visualizado en una escala. La lectura sobre la
escala ser indicativa de la magnitud
medida, es decir, de la corriente.
En el esquema mostrado en la Figura 6, se
representan los vectores del campo
magntico, corriente y fuerza que se
relacionan a travs de la ley de Biot y
Savart.
B I l F
T
Figura 6. Galvanmetro de D'Arsonval.
El par de giro M es el producto de la fuerza
F por la distancia de los conductores activos
al eje de giro r.
B I r l r F M
T
La longitud total de conductores activos es el
nmero de espiras por la longitud total de un
conductor de ida y el de vuelta
correspondiente a una espira, es decir:
l N l
T
2 .
Como el rea de una espira es dos veces el
radio por la longitud de la espira, l r A 2 ,
se tiene finalmente:
I B A N B I r l r F M
T
El resorte se encarga de hacer que el ngulo
de giro sea proporcional al par; puesto que
dicho par es proporcional a la corriente, se
tiene que el giro aplicado ser proporcional a
la corriente.
fs m
I R ,
i(t)
Instrumentacin bsica de medida electrnica
5
El galvanmetro se caracteriza por una
corriente de fondo de escala
fs
I y una
resistencia interna R
m
.
Los errores de observacin son debidos al
tamao de la escala, que es limitado (va a
influir en la resolucin del instrumento), y a
error de paralaje. Este error es debido a que
el observador no se sita justo encima de la
aguja indicadora. Para evitar este error se
coloca un espejo, de manera que la medida
se da por buena cuando la aguja queda justo
encima de su imagen.
Los principales errores que se producen con
este tipo de medidores estn provocados por
los efectos de carga, debido a que el
galvanmetro posee una resistencia interna
relativamente baja que carga al circuito que
se pretende medir. Como es lgico, este
error ser menor cuanto mayor sea la
resistencia interna del galvanmetro.
A continuacin se analizan algunos de los
montajes bsicos que pueden realizarse con
este tipo de indicador.
Ampermetro DC
Es la funcin bsica, ya que la deflexin es
proporcional a la corriente. Para corrientes
elevadas se utiliza una resistencia
derivacin, conocida como resistencia
Shunt.
Figura 7. Ampermetro DC de un solo
rango.
Como caracterstica del divisor de corriente
se usa
fs
I
I
n . Mediante esta divisin de
corriente se determina el factor de
multiplicacin
1 n
R
R
m
S
.
Ejemplo:
Un galvanmetro de 1mA con R
m
100 se
quiere usar con fondo de escala 100mA.
R
S
1 100
100 1
101 .
Para variar el rango de medida se puede
cambiar el valor de la resistencia derivacin.
En la Figura 8 se muestra una configuracin
con tres resistencias. El uso de un
conmutador permite cambiar el rango de
medida.
Figura 8. Ampermetro multi-rango basado
en el galvanmetro.
Otra alternativa para configurar las
resistencias del ampermetro multi-rango es
la Derivacin Universal Ayrton que se
muestra en la Figura 9.
Figura 9. Ampermetro DC multi-rango
mediante derivacin universal Airton
p
R
fs m
I R ,
I
Instrumentacin bsica de medida electrnica
6
Voltmetros DC
Se realiza aadiendo en serie una resistencia
denominada resistencia multiplicadora como
se muestra en la Figura 10.
Para dicho voltmetro, se puede determinar
qu valor de resistencia R
s
deber utilizarse
para obtener una tensin de fondo de escala
V de la siguiente forma:
Figura 10. Voltmetro basado en el
galvanmentro.
(a)
(b)
Figura 11. Configuraciones para voltmetro
multirango. (a) Paralelo. (b) Serie.
m
fs fs
m fs
S
m fs S fs m S fs
R
I
V
I
R I V
R
R I R I R R I V
En la expresin anterior se puede definir la
sensibilidad como
V I
S
fs
1
. En tal
caso, la ecuacin anterior se reduce a:
m
R V S
S
R y, por tanto, V S R
T
,
siendo
m s T
R R R .
Esta resistencia total R
T
corresponde al
efecto de carga que introduce el medidor
sobre el sistema que se pretende medir.
Dicho efecto de carga produce un error, que
se hace mayor cuanto menor es la
sensibilidad para el mismo rango. Por otra
parte, se hace mayor este error por efecto de
carga para menores rangos y la misma
sensibilidad.
Para tener distintos fondos de escala de la
tensin, es necesario aadir varias
resistencias de la forma que se muestra en la.
Se pueden combinar en paralelo Figura 11(a)
o en serie Figura 11(b), siendo la forma ms
comn la configuracin en serie.
fs m
I R ,
E
X
R
y
x
z
R
Figura 12. Medidor de resistencia basado en
el galvanmetro de DArsonval.
Medida de Resistencia
El circuito para medida de resistencia se
muestra en la Figura 12. Como se observa en
esa figura, la resistencia a ser medida R
x
se
conecta entre los terminales x e y. Cuando la
Instrumentacin bsica de medida electrnica
7
resistencia es nula, es decir, cuando se
cortocircuitan los terminales x e y, el
galvanmetro marca el fondo de escala, ya
que as se obtiene la mxima corriente por
dicho galvanmetro. A medida que la
resistencia aumenta, la corriente a travs del
galvanmetro disminuye. La relacin entre
la resistencia y la corriente es no lineal; en
concreto, es una relacin hiperblica, ya que
la corriente es inversamente proporcional a
la resistencia. La escala de medida de
resistencia se dibuja teniendo precisamente
en cuenta dicha relacin. El potencimetro
R
2
permite efectuar la calibracin del
instrumento para conseguir que la aguja
indicadora marque exactamente el fondo de
escala cuando los terminales de medida se
encuentran cortocircuitados.
3. Amplificacin
La amplificacin se realiza
fundamentalmente para aumentar la
impedancia de entrada del medidor, de
manera que al conectarlo al sistema que se
pretende medir se reduzcan los efectos de
carga.
Los montajes amplificadores que se emplean
son montajes del tipo acoplamiento directo o
par diferencial y se recurre a transistores del
tipo efecto de campo, bien sea JFET o
MOSFET.
4. Medida de corriente alterna
AC
La medida de tensin o corriente alterna
(AC) se basa en la medida del valor eficaz o
valor RMS (proveniente del acrnimo
anglosajn Root Means Square).
El valor RMS se define como:
T
rms
dt t v
T
V ) (
1
2
La realizacin de este tipo de medida lleva
asociada errores debidos al rango de
frecuencias que abarca la seal que est
siendo medida en relacin al ancho de banda
del medidor. Adems, dicho error tambin se
ver afectado por otras caractersticas
propias de la seal, como son el factor de
forma y el factor de cresta. Veamos en
detalle algunos de estos parmetros.
Ancho de Banda
El ancho de banda del instrumento es un
factor importante. El resultado de la medida
no se altera si los armnicos fundamentales
no superan el ancho de banda del
instrumento, pero si la frecuencia es elevada
no se podr medir correctamente el valor
eficaz.
Factor de Cresta
Se define como la relacin
rms
p
u
u
FC
siendo u
p
el valor de pico de entrada y
rms
u
su valor eficaz.
Los valores de pico no deben superar el
lmite de entrada del amplificador AC. Por
eso, cuanto mayor sea el FC, mayor error
tendremos en la medida. Por ejemplo, un
factor de cresta de 7 puede producir errores
del orden del 3% en un voltmetro de medida
AC.
Factor de Forma
El factor de forma relaciona el valor eficaz
con el valor medio de la seal
K
V
V
rms
av
siendo V
av
el valor medio.
Las tcnicas de medida RMS se dividen en
dos tipos, medida no real y medida real. En
la medida no real se determina el valor RMS
de forma indirecta.
Medida RMS no real
Se basa en la determinacin de
caractersticas de una seal, como el valor
medio rectificado y valor pico, para, a travs
de esta informacin, determinar el valor
eficaz. Por ejemplo, para una seal cuya
forma de onda es senoidal, se puede
determinar con facilidad el valor pico, que
Instrumentacin bsica de medida electrnica
8
ser proporcional al valor eficaz, siendo la
constante de proporcionalidad la raz de dos.
Basta con determinar el valor de pico para
as poder determinar el valor RMS, el cual
ser real slo para seales del tipo senoidal.
Las dos tcnicas empleadas son la
determinacin del valor medio de la tensin
rectificada y la determinacin del valor de
pico. Tanto una como otra realizan un
rectificado de la seal haciendo uso de
circuitos simples con diodos.
Si se pretende rectificar la seal, hay dos
posibilidades con respecto a la
amplificacin, rectificar antes y amplificar
despus ( Figura 13), o bien, amplificar
primero y rectificar despus ( Figura 14).
Figura 13. Rectificacin antes de amplificar.
Figura 14. Amplificacin antes de rectificar.
Si se rectifica antes de amplificar, se tendr
menos sensibilidad, debido a que la cada
directa de los diodos impide medir seales
dbiles. Para este caso, se obtiene como
ventaja el disponer de un mayor ancho de
banda. Si se amplifica antes de rectificar,
ocurre lo contrario, se tiene un ancho de
banda limitado pero se consigue una mayor
sensibilidad. El ancho de banda est limitado
por el ancho de banda del amplificador de
alterna empleado.
Como se ver ms adelante, algunas tcnicas
de medida AC son sensibles al valor medio
de la seal. Generalmente la seal es
senoidal y la calibracin respecto al valor
RMS es vlida. Pero para otras formas de
onda es necesaria una correccin de las
medidas, consistente en multiplicar las
lecturas obtenidas por una constante.
Valor medio de la tensin
rectificada
El galvanmetro es sensible al valor medio
de la tensin. Si la tensin es alterna con
media cero, la salida del galvanmetro ser
cero. Puesto que el medidor necesita una
componente de continua, se usa la tensin
rectifcada como entrada al galvanmetro,
obtenindose, por tanto, el valor medio de la
tensin alterna rectificada. Una posible
realizacin mediante circuito rectificador de
media onda se muestra en la Figura 15. La
otra posibilidad, es decir, empleando un
circuito rectificador de onda completa, se
muestra en la Figura 16.
Para una rectificacin de media onda:
rms
p
AV
E
E
E
2
Para onda completa:
E
E
E
AV
p
rms
2
2 2
Figura 15. Circuito de medida AC mediante
rectificador de media onda.
fs m
I R ,
1
R
1
D
A
i
V
A
i
V
Instrumentacin bsica de medida electrnica
9
Figura 16. Circuito de medida AC mediante
rectificador de onda completa.
Valor Pico
Hay distintos montajes de sistemas
detectores de pico. Los dos montajes bsicos
son el detector de pico y el detector pico-
pico.
La medida pico se realiza mediante un
simple circuito detector como el mostrado en
la Figura 17. Este circuito tambin se
conoce como circuito detector de envolvente
o demodulador de amplitud, ya que se usa en
aplicaciones de radio AM como circuito
demodulador. El funcionamiento de este
circuito es muy sencillo. Cuando la tensin
de entrada supera la tensin del
condensador, el diodo conduce, quedndose
el condensador cargado al valor mximo de
la tensin de entrada. Cuando dicha tensin
de entrada baja por debajo de la tensin del
condensador, el diodo se corta y la tensin
de salida permanece constante e igual al
valor pico.
Figura 17. Circuito detector de pico.
Para mejorar la sensibilidad del sistema de
medida se emplea el detector pico-pico. Este
detector da lugar a una sensibilidad del doble
de la del detector de pico.
El circuito, que se muestra en la Figura 18
consiste en dos etapas. En una primera etapa,
se produce un desplazamiento del nivel de
continua de valor Vp; es decir, el circuito
desplazador de nivel realiza la funcin de
restar a la seal de entrada un valor de
tensin igual al valor pico. La segunda etapa
corresponde a un circuito detector de pico
negativo, ya que la seal V
AK
es siempre
negativa. El funcionamiento de la primera
etapa del circuito se basa en el hecho de que
el condensador se carga al valor pico durante
el primer ciclo de tensin de entrada; una
vez que la tensin de entrada diminuye por
debajo del valor pico, el diodo se corta y el
condensador no vuelve a descargarse. A
partir de este momento, la tensin de salida
es igual a la tensin de entrada menos el
valor pico.
Figura 18. Circuito detector pico-pico.
Como se observa en la Figura 18,
AK c i
V V V
A partir del primer mximo de V
i
,
. Cte V V
p c
p i AK p c
V V V Cte V V .
En la Figura 19 se representan las formas de
onda para el circuito detector pico-pico.
i
V
o
V
fs m
I R ,
V
Instrumentacin bsica de medida electrnica
10
Figura 19. Formas de onda del detector
pico-pico.
Para medida de voltajes de radiofrecuencia
se suele usar un montaje similar al detector
pico de la Figura 17, el cual se incluye en la
propia sonda de medida. El diodo que se
emplea es el diodo Schottky.
Los diodos Schottky tienen la ventaja de
poseer muy poca cada directa y muy baja
capacidad parsita. Sin embargo, tienen el
inconveniente de soportar muy baja tensin
inversa.
Para medida de potencia de radiofrecuencia
(hasta el orden de nW) se usa el mismo
circuito detector de pico, pero con una
resistencia normalizada colocada a la entrada
del detector de 50 .
En estos dos ltimos casos la tensin DC
que se genera es muy baja, por lo que se
precisa de una etapa amplificadora de alta
sensibilidad.
Medida RMS real
Esta tcnica se emplea para la medida de
valores RMS de ondas complejas. Las
tcnicas que se van a analizar en este
apartado son las basadas en: circuitos de
clculo analgico o digital,
electrodinammetro, transductores de efecto
Hall y termoacopladores.
Circuitos de clculo analgico o
digital
Esta tcnica hace uso de varios mdulos que
realizan el clculo del valor RMS, como se
muestra en la Figura 20. Estos mdulos
pueden ser implementados mediante
circuitos analgicos o mediante circuitos
digitales. Como puede observarse en dicha
Figura 20, en el primer mdulo se determina
el cuadrado instantneo de la tensin de
entrada, en la segunda etapa se determina el
valor medio y en la tercera la raz cuadrada.
Un ejemplo de circuito integrado que calcula
el valor RMS real mediante mdulos
analgicos es el circuito integrado AD536.
Figura 20. Determinacin del valor RMS
real mediante mdulos de clculo.
Electrodinammetro
Su principal aplicacin se centra en la
medida de magnitudes alternas de
instalaciones elctricas de 50Hz o 60Hz, y se
emplea principalmente como elemento
indicador de panel. Consta de una bobina
fija y una mvil. Las dos bobinas son
atravesadas por la misma corriente que se
pretende medir.
Instrumentacin bsica de medida electrnica
11
2
L
2
L
m
I
Bobina fija
Bobina mvil
Figura 21. Esquema elctrico del
electrodinammetro para medida de
corriente RMS.
La bobina fija suele estar separada en dos
mitades, como se observa en la Figura 21.
En este caso, la corriente que circula por la
bobina fija produce un campo magntico que
es proporcional a dicha corriente, I K B
1
.
Por tanto, utilizando la misma expresin
obtenida para el galvanmetro de
DArsonval, se tiene:
M F r r l I K I k I
T 1
2
Cuando la corriente es alterna, la deflexin
angular promedio de la aguja es
proporcional al valor medio. Se calibra la
escala en funcin de la raz cuadrada de este
valor medio. Esta calibracin equivale a
obtener el valor RMS.
Este transductor indicador tambin se utiliza
para medida de potencia. Se hace pasar por
la bobina fija la corriente, y con la mvil se
mide la tensin (mediante una resistencia en
serie).
El producto i v promediado corresponde a
la potencia promedio:
P
T
v i dt
AV
T
1
0
Transductores de Efecto Hall
El transductor de efecto Hall es un
transductor de tipo modulador. Est
constituido por una barra de material
semiconductor. El campo magntico B hace
que los portadores de carga, asociados a la
corriente I, se desven de su trayectoria,
producindose una fuerza electromotriz U
AB
en la direccin perpendicular al campo B y a
la corriente I.
Figura 22. Transductor de efecto Hall.
La fuerza electromotriz generada es
a
I B
R U U
X Z
H H AB
siendo R
H
el coeficiente Hall.
Podemos hacer que el campo se genere por
la misma corriente que atraviesa el
transductor, con lo que se obtiene una
tensin proporcional al valor instantneo de
la corriente elevado al cuadrado. Dicho valor
corresponde al valor eficaz elevado al
cuadrado. Otra de las aplicaciones de este
transductor es la medida de potencia. En este
caso, se hace lo mismo que para el
electrodinammetro; por ejemplo, se hace el
campo magntico proporcional a la tensin y
se hace circular la corriente, con lo cual se
consigue el producto de la corriente y la
tensin de forma instantnea. Una vez
obtenido dicho producto se realiza un
filtrado que determina el valor medio.
Una de las principales aplicaciones del
transductor de efecto Hall es la medida de
corriente continua de forma aislada. Como
es sabido, la corriente alterna se puede medir
con aislamiento gracias al empleo de
transformador de corriente. Este
transformador proporciona un aislamiento
pero no permite medir corrientes de baja
frecuencia ni corriente continua. Como el
transductor de efecto Hall es sensible al
Instrumentacin bsica de medida electrnica
12
campo magntico y este campo es
proporcional a la corriente que gener dicho
campo, se puede medir dicha corriente de
forma totalmente aislada y, adems, esa
corriente puede ser corriente continua, ya
que el efecto sigue existiendo aunque la
intensidad de campo no vare con el tiempo.
Termoacopladores
Consiste en utilizar un elemento
termoacoplador. El termoacoplador est
constituido por una resistencia calefactora y
un sensor de temperatura. La potencia
disipada por la resistencia es proporcional al
valor eficaz elevado al cuadrado, tanto de la
tensin aplicada a la resistencia como de la
corriente que circula por dicha resistencia.
Figura 23. Termoacoplador.
Los sensores de temperatura pueden ser del
tipo termopar o del tipo resistencia metlica.
La tensin del termopar es proporcional a la
temperatura:
2
2
rms
rms
o
V K
R
V
f p f V
El factor k depende de la distancia y de los
materiales empleados.
El principal problema de este mtodo es la
no linealidad del termopar. Una posible
solucin es disponer dos termopares en el
mismo encapsulado, dispuestos segn un
circuito de realimentacin.
La realimentacin negativa reduce el tiempo
de respuesta, pero como contrapartida se
reduce la sensibilidad y se requiere una
ganancia alta en bucle abierto para que no se
deteriore la misma.
Estos medidores RMS son capaces de medir
seales de muy alta frecuencia, incluso en el
rango de las microondas.
5. Multmetro digital
La medida se realiza segn los bloques
mostrados en la Figura 24.
En el bloque acondicionamiento de la seal
se incluye el cambio de rango y el tipo de
medida (tensin, corriente o resistencia).
Tambin se incluye los circuitos para
medida de corriente alterna.
Una vez preparada la seal medida, se
realiza la conversin A/D. Tras sta, existe
una serie de circuitos digitales que gobiernan
el display para realizar la representacin
numrica del resultado de la conversin.
Figura 24. Diagrama de bloques del
voltmetro digital.
Instrumentacin bsica de medida electrnica
13
A
V
x
V
Figura 25. Convertidor A/D simple rampa.
Figura 26. . Convertidor A/D simple rampa. Formas de onda.
Instrumentacin bsica de medida electrnica
14
Figura 27. Conversin analgica-digital de doble rampa.
Los mtodos que se usan para la conversin
A/D son:
Simple Rampa
El mtodo se ilustra en la Figura 25. Las
formas de onda se muestran e la Figura 26.
El inconveniente de este mtodo es
principalmente la dependencia con C y R.
Doble Rampa
Un diagrama de bloques de este mtodo se
muestra en la Figura 27. Con el de doble
rampa el inconveniente anterior se evita, ya
que, como se muestra en la Figura 28,
aunque exista una variacin de R o C, dicha
variacin se compensa por la carga y
descarga del condensador. Otra forma de
verlo, es calculando el valor del tiempo
durante el que el contador se incrementa
durante la fase de desintegracin o de
descarga del condensador T
x
, que representa
la informacin del resultado de la
conversin. Se tiene que:
dt V
RC
dt V
RC
V
t
t
x
t
t
ref A
2
1
3
2
1 1
Operando se llega a que:
1 2 2 3
t t
V
V
t t T
ref
x
x
RC
V
ref
RC
V
x
c
V
XT T
n
2
t
1
t
2
t
3
Figura 28. Tensin del condensador del
Convertidor analgico-digital de doble
rampa.
Los multmetros digitales emplean un
circuito integrado, que incluye la conversin
A/D y gran parte de los circuitos digitales
que gobiernan el display. Un CI tpico es el
ICL 7135. Este circuito integrado incluye
adems la posibilidad de autocorreccin de
derivas. En ellos, el proceso de conversin
Instrumentacin bsica de medida electrnica
15
se divide en cuatro etapas:
1 Autocero (AZ). Se carga un condensador a
la tensin de offset. Este condensador
quedar en serie con el condensador del
integrador, con lo que esta tensin se
descuenta de la tensin medida.
2 Integracin. Es el proceso normal de carga
del condensador con tensin de entrada V
x
y
durante un periodo de tiempo fijo.
3 Desintegracin. Es el proceso normal de
descarga del condensador con una tensin
constante y durante un tiempo T
x
que
determina el resultado de la conversin.
4 Puesta a cero del integrador (ZI). Se
prepara el integrador para la siguiente
medida, de forma que el condensador est
totalmente descargado.
En la Figura 29 y en la Figura 30 se
representa el esquema electrnico completo
de un multmetro digital.
En la Figura 29 pueden observarse las etapas
divisoras de resistencias para variar el rango
de medida tanto de tensin/resistencias
(divisor de resistencias de la parte superior)
como corriente (divisor de resistencias de la
parte inferior). Tambin puede observarse el
circuito de generacin de corriente para la
medida de resistencia (en la parte central a la
izquierda de la figura) y el circuito de
medida de valor RMS real (en la parte
inferior derecha).
En la Figura 30 se observa el amplificador
de entrada (a la izquierda), el convertidor
A/D de doble rampa (en el centro) el
convertidor de cdigo BCD a 7 segmentos
(parte superior derecha), el display
compuesto por cuatro dgitos y medio (parte
superior), el generador de pulsos de reloj
para la conversin A/D basado en el CI 555
(parte inferior derecha) y los reguladores de
tensin de 5V y -5V, entre otros.
Instrumentacin bsica de medida electrnica
16
Figura 29. Esquema electrnico de la etapa de acondicionamiento de un multmetro digital.
Instrumentacin bsica de medida electrnica
17
Figura 30. Esquema electrnico de la etapa de conversin A/D y representacin de un multmetro
digital.
El osciloscopio
1
TEMA 4. EL OSCILOSCOPIO
1. Introduccin.................................................................................................................. 1
2. Tipos de osciloscopios.................................................................................................. 1
3. Tubo de rayos catdicos ............................................................................................... 4
4. Sistema de deflexin vertical........................................................................................ 8
5. Sistema de deflexin horizontal ................................................................................... 9
6. Puntas de prueba......................................................................................................... 11
Sistema de fijacin ..................................................................................................... 12
Sonda pasiva de alta impedancia................................................................................ 12
Sonda pasiva de baja impedancia............................................................................... 13
Sonda de medida diferencial ...................................................................................... 15
Sondas activas ............................................................................................................ 15
7. Osciloscopios digitales ............................................................................................... 17
1. Introduccin
El osciloscopio es un instrumento de
laboratorio muy verstil. Permite
representar una seal, tensin, corriente,
potencia, en funcin del tiempo o en
funcin de otras seales.
Existen dos tipos de osciloscopios,
analgicos y digitales. Los
osciloscopios analgicos se basan en la
generacin de un haz de electrones, el
cual se hace visible cuando incide sobre
una pantalla de fsforo. En estos
osciloscopios, los electrones son
desviados proporcionalmente a los
valores de tensin de entrada. Los
osciloscopios digitales, denominados de
almacenamiento, se construyen
mediante un sistema de conversin
analgico/digital y una memoria de
almacenamiento. La informacin
almacenada en estos osciloscopios se
representa mediante un monitor de
video o cualquier otro medio de
representacin.
El osciloscopio puede ser considerado
como un elemento capaz de registrar la
informacin pero, a diferencia de los
elementos registradores de papel
continuo o plotter, la seal representada
puede variar muy rpidamente. Esto es
posible porque, en este caso, no existen
inercias en los elementos mviles.
A continuacin se expone la
organizacin de este tema. En el
siguiente apartado se hace una
clasificacin de los distintos tipos de
osciloscopios que existen. En dicho
aparatado se introducen los diagramas
de bloques y algunos conceptos bsicos
que permiten describir el
funcionamiento de estos equipos. En los
apartados 3, 4 y 5 se analizan las partes
fundamentales de los osciloscopios. En
el punto 6 se presenta una lista de
algunas de las puntas de prueba ms
utilizadas para conectar los
osciloscopios con el exterior.
Finalmente, en el apartado 7 se estudia
con mayor detalle el osciloscopio
digital, que es el ms utilizado
actualmente.
2. Tipos de osciloscopios
Como se coment en la introduccin,
los osciloscopios se clasifican en
analgicos y digitales, aunque existen
osciloscopios que incorporan ambas
tecnologas, denominados mixtos.
Los osciloscopios analgicos se
caracterizan por incluir un TRC
electrosttico en el cual se realiza un
verdadero proceso de transduccin. En
estos TRCs electrostticos, los niveles
de tensin de entrada se convierten en
desplazamientos del punto de incidencia
del haz de electrones proporcionales a
dicha tensin de entrada. Un diagrama
de bloques del osciloscopio analgico
se muestra en la Figura 1. En el
El osciloscopio
2
osciloscopio analgico, la seal Y
puede ser representada en funcin de
otra seal X o en funcin del tiempo
slo con que dicha seal X vare
proporcionalmente con el tiempo. Esto
se consigue generando una rampa de
tensin en el mdulo denominado
generador de base de tiempo. En este
mdulo se hace variar X de la forma
X=Kt
.
En la Figura 2 se muestran las
formas de onda de la seal de entrada Y
y de la seal de barrido X=Kt generada
internamente en el interior de
osciloscopio analgico. En esta figura
se ha representado un barrido
independiente de la seal Y, el cual se
denomina barrido no sincronizado.
Debido a esta falta de sincronismo las
seales peridicas no pueden
visualizarse de forma clara.
Figura 1. Diagrama de bloques de un osciloscopio analgico.
(a) (b)
Figura 2. Barrido no sincronizado de un osciloscopio analgico. (a) Formas de onda de
entrada al TRC y (b) resultado de la representacin.
(a) (b)
Figura 3. Barrido sincronizado de un osciloscopio analgico. (a) Formas de onda de
entrada al TRC y (b) resultado de la representacin.
Y
X
1
2 3
1 2 3
Y
X
1
2 3
Lnea de
Retardo
Amplificador
Vertical
Y
Control
TRC
Z
Intensidad Enfoque
Posicin Y
Can de Electrones
Pulso externo
Generacin
de Pulso
Barrido Base
Tiempo
Amplificador
Horizontal
Base de Tiempo
Posicin X
X
El osciloscopio
3
Mediante el circuito generador de
pulso de sincronismo se elige un punto
de la seal Y a partir del cual se realiza
el barrido de la rampa. A este barrido se
le denomina barrido sincronizado. Las
formas de onda para el caso del barrido
sincronizado se muestran en la Figura 3.
Aten A/D
Memoria
VIDEO P
CTR
Figura 4. Diagrama de bloques de un
osciloscopio digital.
En los osciloscopios digitales (ver
Figura 4) la seal se convierte a formato
digital mediante un proceso de
conversin analgica digital. Esta seal
se almacena en una memoria. La
informacin almacenada se representa a
menor frecuencia mediante una pantalla
de video.
El osciloscopio mixto incluye las dos
formas de tratamiento de la seal, es
decir, usa el tubo de rayos catdicos en
forma analgica y adems, dicho tubo
se usa como pantalla de representacin
para la informacin digital.
Figura 5. Diagrama de bloques del osciloscopio mixto analgico digital.
Segn la manera de representar distintos
canales, los osciloscopios pueden
clasificarse en: osciloscopios de doble
canal y osciloscopios doble traza.
El osciloscopio de doble canal se
utiliza para obtener simultneamente
seales no peridicas en breve espacio
de tiempo. Est constituido por un TRC
con varios haces de electrones y varios
juegos de pantallas deflectoras
verticales; por ser un sistema muy caro
apenas se usa en la actualidad.
El osciloscopio de doble traza presenta
varios canales con un TRC de un solo
haz. Se basa en la conmutacin de un
canal a otro aprovechando la
persistencia del fsforo como se
muestra en la Figura 6. Estos poseen
dos modos de funcionamiento, alterno
(ALT) y troceado o chopper (CHOP).
En modo alterno se representa un canal
por cada pulso de disparo, es decir, la
seal de conmutacin proviene del
circuito de barrido, como puede
observarse en la Figura 6.
En modo troceado se representa cada
canal por tramos, es decir, se usa una
onda de mayor frecuencia que la de
barrido y se va conmutando entre un
canal y otro a dicha frecuencia.
El osciloscopio de doble traza incorpora
un sistema mediante el cual, para
seales de baja frecuencia (tiempo por
divisin mayor de
div
ms
1 . 0 ) conmuta
de forma automtica a modo CHOP.
Aten A/D Memori D/A
F
Disparo
Barrido
D/A
El osciloscopio
4
SW
Barrido
Canal A
Canal B
Figura 6. Diagrama de bloques de un
osciloscopio de doble traza.
A los osciloscopios con capacidad de
mantener la informacin durante un
cierto tiempo se les denomina
osciloscopios de memoria.
El osciloscopio de memoria almacena la
seal en un punto intermedio para poder
ser tratada, bien convertida a digital o
representada de manera ms lenta. El
almacenamiento se puede realizar de
distinta forma, mediante memoria CCD
basada en dispositivos de acoplamiento
de carga, mediante TRC de emisin
secundaria de electrones o mediante
memoria digital. Las memorias CCDs
estn constituidas por capacidades
gobernadas por interruptores analgicos
de forma que se almacenan los valores
de tensin en una serie de
condensadores. Cada muestra se va
transfiriendo de un condensador a otro
en forma de buffer.
Figura 7. TRC con emisin secundaria.
El TRC con emisin secundaria (ver
Figura 7) corresponde a un osciloscopio
de memoria con un haz de electrones
primario y un haz de electrones
secundarios. El haz de electrones
primario dibuja la curva sobre una
rejilla metlica prxima a la pantalla de
fsforo, cargando positivamente la zona
que es alcanzada por el haz primario.
Existe un haz secundario y uniforme
proveniente de los ctodos secundarios
que atraviesa la zona cargada
positivamente. El resto de la rejilla
metlica est a un potencial negativo,
que impide el paso de la nube de
electrones uniforme generada por los
ctodos secundarios.
El osciloscopio de muestreo se emplea
para representar seales peridicas de
muy alta frecuencia. stos usan tcnicas
de muestreo para almacenar seales de
frecuencias superiores a la mxima
admisible por el sistema de adquisicin.
A esta tcnica se le denomina muestreo
en tiempo equivalente, a diferencia del
muestreo convencional denominado
muestreo en tiempo real. El muestreo
puede ser realizado en forma analgica
o digital. La idea consiste en adquirir en
cada ciclo de seal una parte de dicha
seal; una vez transcurridos varios
ciclos, la seal original puede ser
reconstruida con la informacin captada
en dichos ciclos. Debido al avance de la
tecnologa digital, los osciloscopios de
muestreo digitales son los que ms se
usan en la actualidad. Con ellos se
pueden lograr frecuencias de muestreo
en tiempo equivalente de decenas de
GHz.
3. Tubo de rayos catdicos
Es similar a un tubo de imagen de un
televisor, pero en este caso el haz de
electrones se desva mediante campo
elctrico y no magntico. Por esta razn
a este tubo se le denomina tubo
electrosttico.
Est constituido por un envoltorio de
vidrio al vaco, en cuyo interior se
encuentran las siguientes etapas (ver
Figura 9):
1. Emisin. Ctodo emisor de
electrones K, G.
2. Enfoque y Aceleracin. nodos
preacelerador a
1
, enfoque a
2
y
aceleracin a
3
.
3. Deflexin. Pantallas deflectoras X,
Y.
-
+
+
-
-
-
Ctodos Seundarios
El osciloscopio
5
4. Postacelaracin. Elementos de
postaceleracin P
1
, P
2
.
5 Representacin. Pantalla de fsforo.
Todas las conexiones elctricas
menos la alta tensin se realizan en
la base.
El emisor de electrones se compone
del triodo y el foco. Su misin es la de
generar electrones mediante un proceso
termoinico producido en el ctodo
caliente. El ctodo se rodea de una capa
cilndrica con una pequea abertura y a
potencial negativo que repele los
electrones. Acta como rejilla de
control. El foco estigmtico consiste en
una puerta de rejilla de vlvulas con tres
nodos, como se muestra en la Figura
10.
Las pantallas deflectoras desvan el
haz de electrones en las dos direcciones.
Se produce de forma electrosttica
mediante campos elctricos, a
diferencia del tubo de imgenes de
video, cuya deflexin es magntica.
Este tipo de deflexin electroesttica
ofrece la ventaja de trabajar a mayores
frecuencias y tener una gran linealidad.
Las pantallas deflectoras se colocan en
ngulo recto. Estas pantallas suelen
proporcionarse en forma de ngulo para
aumentar la dimensin de la pantalla y
disminuir la longitud del tubo. Hay tres
tipos:
(a) (b) (c)
Figura 8. Perfil de la pantalla deflectora.
a) En ngulo, b) acodadas, c) curvas.
La mxima respuesta en frecuencia est
limitada por el tiempo invertido en
viajar un electrn a travs de la longitud
total de la pantalla deflectora. Para
sistemas que trabajan en alta frecuencia
se recurre al uso de pantallas
segmentadas, como se muestra en la
Figura 11. Con ellas se pretende hacer
que la onda de tensin se transmita al
haz de electrones a la vez que se va
trasladando por el interior de la pantalla
deflectora. Se realiza una lnea de
retardo mediante parmetros
concentrados de forma que la tensin se
va aplicando al haz de electrones a la
vez que se va desplazando por la lnea
de retardo.
Figura 9. Esquema del tubo de rayos catdicos.
P
1
P
2
2kV
20kV
300V
1M
a
3
a
2
a
1
470K
K
G
f
f
63V
ac
-1500
500K
Intensidad Z
2,5M
Foco Astigmatismo
1M
V
Y X
El osciloscopio
6
Figura 10. Sistema de enfoque. nodos
a
1
y a
2
. Lentes electrnicas E
1
y E
2
.
Figura 11. Placas de deflexin
segmentadas.
A continuacin, se pretende determinar
la relacin existente entre la tensin
entre placas y la desviacin que
experimenta el haz de electrones una
vez que incide sobre la pantalla de
fsforo. Esta relacin es el factor de
deflexin.
Supngase un TRC monoacelerado, es
decir, la nica aceleracin que se aplica
es la debida a la diferencia de potencial
ctodo nodo. Sea un electrn que viaja
con velocidad V
e
segn la direccin Z
como se muestra en la Figura 12.
Figura 12. Desviacin del haz de
electrones.
La intensidad de campo entre placas se
puede determinar a partir de la tensin
entre placas V
D
como:
y
d
V
E
D
D
siendo d la distancia entre placas.
El electrn se somete a una fuerza:
y
d
V e
E e F
D
D
Esta fuerza actuar mientras atraviese
las placas durante un tiempo:
t
l
V
e
e
El electrn adquirir una componente
de velocidad sobre el eje y:
e
D
e y
V m d
l V e
t a V
Por otra parte, la energa de aceleracin
se invierte en imprimir una energa
cintica de valor:
e V V m
ac e
2
2
1
siendo V
ac
el potencial de aceleracin.
Si la pantalla est a una distancia L, de
la pantalla deflectora (ver Figura 12) el
electrn tardar un tiempo de vuelo:
e
v
V
L
t
La distancia recorrida en direccin
vertical ser el producto de la
componente de velocidad en direccin
vertical V
y
por t
v
:
2
e
D
e
y
v y
V m d
V L l e
V
L V
t V D
D
V l L
d V
S V
D
ac
p D
2
S
p
es la sensibilidad de placas:
S
l L
d V
cm
V
p
ac
2
en
F D
S
p
1
Factor de deflexin
V
cm
.
Ejemplo:
V V cm d= cm l= L
ac
500 , 1 , 2 cm, 15
cm
V
D F
2 . 33
.
y
x
z
e
V Z
e
+
V
D
2
V
D
2
d
l
D
K
G
E
1
a
1
a
2
E
2
El osciloscopio
7
Existen condicionantes que hacen que
S
p
no sea tan grande como se desee:
La distancia entre placas d est limitada
por los extremos de las placas; los
electrones siguen una parbola y pueden
variar la sensibilidad o chocar con
dichas placas. Adems, si d disminuye,
la capacidad parsita entre placas
aumenta.
La longitud de placas l, tambin est
limitada por las mismas razones que d.
Adems, si la tensin entre placas V
e
vara mientras el electrn pasa a travs
de la placa, este efecto no repercute
sobre el haz y se pierde sensibilidad.
Esto significa que en realidad la
sensibilidad S
p
no es constante, ser
funcin de la frecuencia, y se ver ms
influenciada para mayores longitudes de
placas. Para tener una longitud de
placas sin por ello afectar
excesivamente a la respuesta en
frecuencia se usan las placas
segmentadas. Estas placas se muestran
en la Figura 11. El sistema se comporta
como una lnea de parmetros
distribuidos.
La tensin de aceleracin V
ac
debe ser
baja pero, si esto ocurre en un TRC
monoacelerado, el fsforo queda poco
iluminado.
L no puede hacerse excesivamente largo
por ser un equipo porttil de laboratorio.
La postaceleracin se hace necesaria
para frecuencias por encima de los
10MHz con el fin de poder iluminar
bien el fsforo. Se coloca una rejilla o
unas hlices para generar un campo
equipotencial de alta tensin que
produzca esa postaceleracin. En la
Figura 13 se muestra este sistema.
Figura 13. TRC con postaceleracin.
Los materiales con la propiedad de
emitir luz al ser bombardeados por
electrones se denominan fluorescentes.
Poseen otra propiedad denominada
fosforescencia que es la capacidad de
emitir luz durante un cierto espacio de
tiempo. A este tiempo se le denomina
persistencia. En funcin de esta
persistencia, los TRC se clasifican en:
TRC de persistencia corta. La
persistencia es del orden de
microsegundos. Est realizado
mediante fsforo del tipo
31 11 4 P P P .
TRC de persistencia media. La
persistencia es del orden de
milisegundos. Est realizado
mediante fsforo del tipo 2 1 P P .
TRC de persistencia larga. La
persistencia es del orden de
segundos. Est realizado mediante
fsforo del tipo 7 P .
2 KV
20 KV
El osciloscopio
8
Figura 14. Sistema de deflexin vertical.
Prev Prev
Volt
div
900K
90K
10K
10 mV
20 mV
50 mV
500 mV
200 mV
100 mV
1V
2V
5V
1000
600
400
10-30pF
Figura 15. Etapa atenuadora del sistema de deflexin vertical.
4. Sistema de deflexin
vertical
El diagrama de bloques se muestra en la
Figura 14. El acoplamiento puede ser
DC o AC. Para realizar el acoplamiento
AC se coloca un condensador en serie
con un valor tpico de 01 . F .
El atenuador de entrada se construye en
la secuencia 1- 2- 5, por ejemplo 10, 20,
50, 100, 200mV. Ha de dar siempre la
misma impedancia de entrada. Si la
impedancia de entrada al amplificador
es elevada, la impedancia de entrada del
atenuador apenas variar. Lo que si
vara es la impedancia de entrada del
amplificador a alta frecuencia. Se
recurre a colocar un atenuador
compensado y en dos etapas.
El conjunto atenuador-preamplificador-
amplificador va a estar caracterizado
por la sensibilidad medida en
cm
V
para
media banda, mnima atenuacin y el
ancho de banda.
Otra caracterstica muy relacionada con
las anteriores es el tiempo de subida.
El tiempo de subida es el tiempo que
tarda la seal en pasar del 10% al 90%
ante una entrada escaln. Est
relacionado con el ancho de banda
mediante la expresin:
tr BW 035 .
tr es el tiempo de subida en S.
BW es el ancho de banda en MHz.
Para etapas en cascada se demuestra
empricamente que:
r r r
N n 1
2 2
...
La impedancia de entrada es otra
caracterstica importante para medida de
sistemas de alta impedancia. Valores
tpicos de impedancia de entrada son:
R M C pF
im im
1 50
La lnea de retardo ha de permitir la
visualizacin de la seal justo antes del
disparo y coloca para visualizar la
subida de la seal justo antes del
instante de disparo.
Atenuador
Lnea de
retardo
C
AC
DC
Acoplamiento
Preamplificador
Amplificin
Vertical
Al circuito de
sincronismo
El osciloscopio
9
I
h
V
5. Sistema de deflexin
horizontal
Cuando se desea medir la respuesta
temporal de una seal, el haz de
elctrones se deflecta en sentido
horizontal a velocidad constante con el
tiempo.
La variacin de la tensin horizontal se
realiza mediante una rampa de tensin
producida por el proceso de carga de un
condensador a corriente constante como
el mostrado en el circuito de la Figura
16.
La tensin de salida del circuito se
calcula de la ecuacin:
Cte
C
I
dt
dv
Figura 16. Circuito equivalente para
generacin de rampa.
La pendiente de la rampa se puede
controlar mediante la variacin de I y C.
En la Figura 17 se muestra un circuito
que permite variar la pendiente de esta
rampa que se usa para fijar V/div del
osciloscopio.
Figura 17. Variacin de la escala de tiempo por divisin en un osciloscopio analgico.
Figura 18. Circuito de acoplamiento del disparo.
AF
Amp.
Dif. Inversor
Comparador
Schmitt
Rectificador
Pulsos
Canal A
Canal B
EXT
DC
Acoplamiento
AC
GF
Nivel Pendiente
Derivador
1
Disparo
15 V
R
+10
Descarga
20 s
div
C C
10
C
100
50ns
div
N
Barrido
R/3
R/5
El osciloscopio
10
Figura 19. Circuito de temporizacin para el disparo del barrido.
Figura 20. Formas de onda del circuito de barrido horizontal.
El barrido puede ser simple o sncrono.
El barrido sncrono utiliza la
informacin del pulso de disparo de uno
de los canales o del exterior. El pulso de
sincronismo tambin puede ser tomado
de la propia red elctrica. El diagrama
de bloques del sistema de generacin de
pulso de sincronismo para un
osciloscopio tpico de ancho de banda
igual a 60MHz, se muestra en la Figura
18. En este diagrama se distingue una
primera etapa que se denomina
acoplamiento para el disparo en la
que se prepara la seal para usarla de
seal de sincronismo y una segunda en
la cual se realiza el tratamiento del
pulso de sincronismo.
El acoplamiento para el disparo se elige
de distintas seales: canal A, canal B,
seal externa o la red elctrica. El
acoplamiento consiste en una serie de
filtros que acondicionan la seal de
sincronismo. Los filtros empleados dan
lugar a los distintos tipos de
acoplamientos para el disparo:
acoplamiento DC, AC, HF y LF.
El acoplamiento DC es el ms sencillo
ya que se realiza mediante un paso
directo. El ancho de banda est limitado
por la impedancia de entrada del
T
1
1
Salida del monoestable de
barrido
2
Barrido
3
Retencin
4
Entrada del monoestable de
barrido
5
6
Impulso
Eje Z TRC
Histresis
Lnea de Disparo
Monoestable
de
barrido
X
Disparo
Integrador
Fig. 17
Monoestable
de
retencin
1 +
+
2
3
4
6
Impulso TRC Eje Z
El osciloscopio
11
amplificador diferencial. Teniendo en
cuenta dicha impedancia, el sistema
presenta un comportamiento de filtro
paso bajo, es decir, cubre el rango desde
DC hasta unos 20MHz.
El acoplamiento AC es el ms usado.
Elimina la componente continua de la
seal con la que se pretende sincronizar.
Este filtro de acoplamiento presenta un
comportamiento de filtro pasabanda con
una frecuencia inferior de 60Hz y una
superior de 20MHz.
El acoplamiento HF o rechazo de alta
frecuencia se comporta como un filtro
pasabanda que presenta una frecuencia
inferior de 60Hz y una superior de
50KHz.
El acoplamiento LF o rechazo de baja
frecuencia se comporta como un filtro
pasabanda que presenta una frecuencia
inferior situada en 50kHz y una superior
de 20MHz.
Como puede observarse en la Figura 18,
una vez que se elige la seal de
sincronismo y se filtra, esta seal se
compara con un nivel de tensin que es
conocido como nivel de disparo
(LEVEL). Seguidamente, esta seal se
invierte mediante un circuito inversor,
en funcin de que se pretenda
sincronizar con el flanco positivo o el
flanco negativo (SLOPE). Esta seal se
compara con cero voltios mediante un
comparador Schmitt para convertirla a
una seal cuadrada. Esta seal cuadrada
se hace pasar por un circuito derivador.
Tras este circuito se obtienen pulsos. Un
circuito rectificador elimina los pulsos
positivos para generar los pulsos de
sincronismo.
Los pulsos de sincronismo se usan para
producir la seal que determina el
comienzo de la rampa de tiempo. Estos
pulsos de sincronismo son temporizados
mediante el circuito de retencin de la
Figura 19. El circuito monoestable,
cuando recibe un pulso, mantiene
activada la salida durante un tiempo T.
El monoestable de retencin evita que
exista disparo mientras la seal de
barrido est decayendo. Este
monoestable puede ser controlado para
valores mayores mediante el
potencimetro denominado HOLD-
OFF. ste temporizador permite
representar seales complejas con
varios flancos de forma que los flancos
siguientes al de disparo son rechazados
por dicha temporizacin.
Cuando no existe seal de disparo el
osciloscopio se encuentra bloqueado.
Existe un circuito de disparo automtico
que asegura el arranque del barrido en
ausencia de disparo. En modo
automtico, el circuito de base de
tiempo se conmuta a modo auto unos
100ms despus del ltimo pulso de
disparo. Cuando llega un nuevo pulso se
conmuta a modo normal.
Para seales de frecuencia inferior a
10Hz es recomendable utilizar modo
normal para evitar la interaccin con el
circuito de disparo automtico.
El modo nico (single) slo acepta un
pulso de disparo. Se utiliza para captura
de transitorios. Slo se permite un
nuevo pulso si se utiliza el pulsador de
reset.
6. Puntas de prueba
Son prolongadores o cables que
permiten conectar el osciloscopio al
sistema a medir. Tambin se les
denomina sondas.
En la Figura 21 se muestra una sonda
junto a sus accesorios.
Figura 21. Sonda tpica 10:1 junto con
sus accesorios.
El osciloscopio
12
Las misiones de la sonda son:
Disminuir los efectos de carga sobre
el sistema a medir. Generalmente
tendrn alta impedancia o una
impedancia de adaptacin.
Disminuir los efectos de retorno por
cable de tierra. Poseen un cable de
tierra muy corto para que las
inducciones sean mnimas.
Minimizar los efectos de
perturbacin electromagnticas
gracias al uso de cables
apantallados.
Producir una conexin mecnica
slida.
Extender el rango de medida. Es
decir, aumentar la tensin mxima
medida mediante sondas
atenuadoras. Por ejemplo, la sonda
atenuadora x10 extiende el rango
hasta 400V, y la sonda atenuadora
x100 lo extiende hasta los 4kV.
Posibilidad de efectuar medidas de
otro tipo: medida diferencial,
medida de corriente, temperatura,
radiacin luminosa, etc, sin ms que
emplear sondas que incluyan el
transductor correspondiente a ese
tipo de medida.
Compensar los efectos de las
capacitancias del propio cable y de
la entrada del osciloscopio para
aumentar el rango de frecuencias.
Sistema de fijacin
Existen conectores para placa de
circuito impreso para realizar una mejor
fijacin en los sistemas bajo prueba.
Estos conectores se muestran en la
Figura 22.
Figura 22. Enchufe soporte para sonda.
Existen sondas de pequea dimensin
para dispositivos de montaje superficial
(SMD). En la Figura 23 se muestra una
de estas sondas conectada a un circuito
integrado.
Figura 23. Sonda de pequeo tamao
para sistemas de montaje superficial.
Figura 24. Kit de una sonda de
pequeas dimensiones para sistemas de
montaje superficial.
En la Figura 24 se muestra el kit
completo de esta sonda.
Sonda pasiva de alta impedancia
Desde la figura 25 a la 28 se muestran
diferentes modelos de sondas pasivas.
Una sonda pasiva 10:1 junto con la
impedancia de entrada del osciloscopio
puede representarse por el circuito
equivalente de la Figura 25. En dicho
circuito R
1
C
1
representa la impedancia
de la sonda y R
2
C
2
la impedancia de
entrada del osciloscopio.
El osciloscopio
13
Figura 25. Modelo equivalente de una
sonda pasiva 10:1 junto con la
impedancia de entrada del osciloscopio.
Para esta sonda se puede determinar la
relacin de atenuacin en funcin de la
frecuencia. Definiendo las siguientes
admitancias:
1 1
1
1
1
1
C R j
R
Y
2 2
2
2
1
1
C R j
R
Y
1
2 2 1
1
2 1
2
2 1
2
1
2
1
1
1 1
1
Y
Y
Y Y
Y
Y Y
Y
Z Z
Z
V
V
V
V
R
R R
j R C
j R
2
1
2
2 1
2 2
1 1
1
1
En el caso en que R C R C
1 1 2 2
la
relacin de tensin
V
V
R
R R
2
1
2
1 2
. Es
decir, esta relacin de tensiones no
depende de la frecuencia. En este caso
se dice que la sonda est compensada.
La impedancia total que cargar al
circuito que se pretende medir es
Z Z Z
R
j R C
R
j R C
1 2
1
1 1
2
2 2
1 1
Con la condicin anterior
R C R C
1 1 2 2
:
Z
R R
R
R
j R C
1 2
2
2
2 2
1
Se observa que la impedancia ha sido
aumentada en el factor de atenuacin.
La compensacin se consigue haciendo
que vare el condensador de la sonda
para adaptarlo a la impedancia de
entrada de cada osciloscopio.
Cuando R C R C
1 1 2 2
se dice que la
sonda est subcompensada y el efecto
es un recorte de la respuesta (domina la
respuesta de filtro paso-bajo).
Cuando R C R C
1 1 2 2
se dice que
est sobrecompensada.
(a) (b)
Figura 26. Efecto de la
descompensacin de la sonda sobre una
onda cuadrada. a)Subcompensada
b)Sobrecompensada.
La sonda pasiva de tensin tiene
distintas disposiciones constructivas
para la relacin 10:1.
Las sondas 10:1 presentan menor
capacidad de entrada que las 1:1 (la
capacidad de la 1:1 es la del
osciloscopio) del orden de 10 pF. Se
puede disminuir dicha capacidad
aumentando la relacin de atenuacin,
por ejemplo 100:1. Esta sonda presenta
una alta impedancia de entrada y una
baja capacitancia, de unos 2pF, pero la
seal est muy atenuada.
Sonda pasiva de baja impedancia
Existen otro tipo de sondas de menor
capacidad pero presentan el
inconveniente de una impedancia
menor. Se trata de las sondas de baja
impedancia como la mostrada en la
Figura 30. stas se realizan mediante
una lnea de transmisin que conecta
directamente con el osciloscopio en una
terminacin de 50 .
Debido a la baja capacitancia y baja
impedancia de entrada de este tipo de
sondas, la principal aplicacin de sta es
a la medida en alta frecuencia.
C
1
V
1
R
2
R
1
C
2
V
2
El osciloscopio
14
Figura 27. Sonda pasiva 10:1 de alta impedancia con condensador de compensacin en
el conector del osciloscopio.
Figura 28. Sonda pasiva 10:1 de alta impedancia con condensador de compensacin en
la carcasa.
Figura 29. Sonda pasiva 10:1 de alta impedancia con circuito de compensacin de alta
frecuencia.
Figura 30. Sondas pasivas de baja impedancia para alta frecuencia.
La baja capacitancia de entrada de estas
sondas, en torno a los 0.25pF, se debe a
que la impedancia vista desde el
comienzo de la lnea de transmisin es
50 resistivo puro. El sistema de masa
permite a este tipo de sondas llegar a
varios GHz de ancho de banda.
Adems, la pequea dimensin de estas
puntas de prueba permite el fcil acceso
a pequeos componentes. Esta sonda se
suministra con dos posibilidades de
atenuacin, 10:1 con 500 de
impedancia total vista desde la entrada,
Osciloscopio Ajuste Compensado
5-30 pF
40 pF
M 1
10 pF
9M
Tierra
Punta Tip
14-21 pF
1M
pF 30 5
9M
Punta
C pF
C
100
C pF
S
2 4
50 50
450
El osciloscopio
15
y 20:1 con una impedancia total de
1000 .
Figura 31. Sonda de alta frecuencia y
sus accesorios.
Sonda de medida diferencial
Para realizar medida diferencial
utilizando dos sondas hay que
asegurarse de que sean iguales y la
atenuacin sea la misma. En la Figura
32 se observa el circuito equivalente de
dos sondas que no tienen los mismos
valores de impedancias.
Figura 32. Modelo equivalente de la
medida diferencial mediante dos
sondas.
Figura 33. Sonda diferencial.
En el circuito de la Figura 32, si se
haceV
S
0, se obtiene:
V V V
R
R R
R
R R
V
K K
V
K K
K K
A B mc
A
A
B
B
mc
mc
1 2 1 2
2 1
1 2
1
1
1
1
1 1
Si se hace K K
2 1
, es decir
R
R
R
R
A B
1 2
,
la tensin de modo comn quedar
atenuada totalmente.
Las caractersticas tpicas de estas
sondas son 500 MHz de ancho de banda
con 10:1 de atenuacin. Para un
mximo de 100:1 de atenuacin, se
puede llegar a frecuencias del orden de
los GHz.
Una alta resistencia de entrada de 1
MOhm y baja capacitancia de entrada,
inferior a 6 pF, permiten minimizar los
efectos de carga sobre el circuito bajo
prueba.
El CMRR puede ser mayor de 40 dB a
10 MHz.
Un inconveniente que presentan es su
baja tensin de entrada que suele ser de
30V.
Sondas activas
Se consigue reducir la capacidad de
entrada y aumentar la impedancia sin
perder sensibilidad. Se puede llegar
hasta los 250 MHz sin prdida de seal
de entrada. Se basan en la utilizacin de
un amplificador con entrada FET.
Figura 34. Circuito electrnico de una
sonda activa.
V
CC
V
CC
Canal A
Canal B
V
A
V
B
R
A
R
B
R
1
R
2
V
S
V
mc
El osciloscopio
16
Figura 35. Sonda activa.
La sonda de la Figura 35 es una sonda
activa 10:1 capaz de medir hasta
2.5GHz con una impedancia de carga de
0.6pF y 100k . La mxima tensin de
entrada es 40Vac.
A modo de resumen con respecto a las
sondas analizadas anteriormente, en la
Figura 36 se representa un grfico
comparativo de la impedancia de
entrada de dichas sondas en funcin de
la frecuencia.
Figura 36. Impedancia de entrada de las
principales sondas en funcin de la
frecuencia.
Sonda de medida de corriente
La medida de corriente se realiza
mediante la sonda de corriente como la
mostrada en la Figura 37. La sonda de
corriente se basa en un transformador de
corriente de forma que el primario de
dicho transformador es el propio cable
por el que circula la corriente que se
pretende medir. El secundario del
transformador se bobina sobre el ncleo
de hierro que rodea al cable (ver Figura
38). Mediante este mtodo pueden
medirse corrientes de hasta un rango de
frecuencias de 50 MHz.
Figura 37. Sonda de corriente.
Para la medida de corriente continua
DC se usa la sonda Hall. El transductor
de efecto Hall que incorpora dicha
sonda permite medir corrientes
continuas, ya que el campo magntico
es proporcional a la corriente circulante
por el cable. Un esquema equivalente de
la sonda de corriente DC se muestra en
la Figura 39.
Transformador
AC
Cable
Figura 38. Sonda de medida de
corriente AC.
Sensor Hall
Cable
Figura 39. Sonda de corriente DC
basada en transductor de efecto Hall.
El osciloscopio
17
7. Osciloscopios digitales
Estos osciloscopios son los ms
empleados en la actualidad,
principalmente en laboratorios de
investigacin y desarrollo de sistemas
electrnicos.
Las principales ventajas que incorporan
este tipo de instrumentos son:
Captura de seales simples o
repetitivas.
Representacin permanente de la
forma de onda.
Almacenamiento de eventos para un
posterior tratamiento.
Visualizacin de la seal antes y
despus del disparo.
Control pleno de las condiciones de
adquisicin.
Capacidad de medida con cursores.
Capacidad de comunicacin de la
informacin.
Capacidad de control remoto y
almacenamiento de la
configuracin.
La estructura se mostr en la Figura 4.
En dicha estructura se observan dos
bloques fundamentales: el convertidor
A/D y la memoria.
La capacidad de muestreo de estos
osciloscopios se basa en tcnicas de
conversin A/D muy rpidas. La tcnica
empleada es la conversin tipo flash. En
la Figura 40 se muestra un convertidor
A/D tipo flash de 8 bits capaz de
muestrear a 200Ms/s.
La velocidad de muestreo se incrementa
an ms mediante tcnicas de muestreo
en tiempo equivalente, tal como fue
comentado anteriormente.
El muestreo en tiempo equivalente
puede realizarse de varias formas:
muestreo secuencial, muestreo aleatorio
y muestreo mltiple. El muestreo
secuencial consiste en muestrear la
seal cada ciclo o periodo de seal de
forma consecutiva a partir del instante
de disparo, tal como se muestra en la
Figura 41.
El muestreo aleatorio consiste en
muestrear la seal ciclo a ciclo pero en
instantes no consecutivos. En este caso
se puede muestrear informacin de la
seal antes y despus del instante de
disparo, como se muestra en la Figura
42.
El muestreo mltiple consiste en
muestrear la seal varias veces por
periodo. Esta tcnica permite disminuir
el tiempo de adquisicin. En el caso de
muestrear dos veces por periodo, como
se muestra en la Figura 43, el tiempo se
reduce a la mitad.
Figura 40. Convertidor A/D tipo flash
de 8 bits AD770.
El osciloscopio
18
Seal
resultante
Seal
Seal de
muestreo
Figura 41. Muestreo en tiempo
equivalente secuencial.
Seal
resultante
Seal
Seal de
muestreo
Figura 42. Muestreo en tiempo
equivalente aleatorio.
Seal
resultante
Seal
Seal de
muestreo 1
Seal de
muestreo 2
Figura 43. Muestreo en tiempo
equivalente aleatorio mltiple con dos
muestras por periodo.
Las caractersticas tcnicas del
osciloscopio digital se resumen
bsicamente en tres parmetros:
resolucin, velocidad de muestreo y
capacidad de memoria.
La resolucin est ntimamente
relacionada con el nmero de bits del
convertidor A/D. sta puede ser
cuantificada como 1/n, donde n es el
nmero de bits del convertidor A/D.
Algunos osciloscopios multitraza,
cuando representan varios canales
simultneos reducen la resolucin de la
traza. Esto es debido a que, al ser muy
cara la memoria de almacenamiento,
usan menos bits para almacenar todos
los canales simultneos. Por ejemplo,
un osciloscopio de 4 canales almacena
cada canal con 6 bits de resolucin.
Esto es debido a que para una
representacin de cuatro seales
simultneas se ocupa un cuarto de la
pantalla, con lo que se necesita un
cuarto de informacin para visualizarse.
Esto puede verse a simple vista en la
visualizacin de un osciloscopio de 4
canales donde se ven trazas ms gruesas
debido a los 6 bits de resolucin que
usan. La resolucin influye
directamente en la precisin. En los
osciloscopios digitales queda reducida
en muchos casos al orden del 2%, que
es similar a la precisin de los
osciloscopios analgicos.
La capacidad de memoria N equivale
al nmero de datos que el osciloscopio
es capaz de almacenar. Las memorias
empleadas en estos sistemas son
memorias especiales, de muy alta
velocidad. Estas memorias se realizan
mediante lgica ECL. La capacidad de
memoria tpica de los osciloscopios
digitales es del orden de 500kB por
canal. Algunos osciloscopios de alta
gama llegan hasta unos 2MB por canal.
El tiempo mximo que puede ser
capturado por un osciloscopio digital se
denomina tiempo de ventana T
w
. ste,
se calcula como el producto de la
capacidad de memoria por el periodo de
muestreo T
s
.
T
w
=T
s
N
Por otra parte, el tiempo de ventana es
igual al tiempo por divisin o base de
tiempo (T/div) multiplicado por el
nmero de divisiones D
D
div
T
T
w
.
La frecuencia de muestreo es la
inversa del tiempo de muestreo y se
expresa en muestras por unidad de
tiempo. Se suele usar megamuestras por
segundo, en la literatura anglosajona
megasamples per second (MS/s) como
unidad ms habitual. Con las
ecucaciones anteriores se puede
El osciloscopio
19
determinar la relacin que existe entre
la frecuencia de muestreo y el tiempo
por divisin:
D
div
T
N
s S f
S
.
) / (
Esta expresin aparece representada en
la Figura 44.
Debido a que la capacidad de memoria
es una cantidad constante, la nica
forma de capturar tiempos mayores es
hacer el periodo de muestreo ms
grande. Por ejemplo, un osciloscopio de
100kB de capacidad de almacenamiento
y un periodo de muestreo de 2ns
(500MS/s) es capaz de almacenar un
tiempo de ventana de 0,2ms a dicha
frecuencia de muestreo.
Si el usuario quisiera representar un
tiempo de 4ms, el tiempo de muestreo
debera ser aumentado 20 veces, con lo
que la precisin en la medida de tiempo
se degrada en la misma proporcin.
Figura 44. Relacin entre la frecuencia
de muestreo y la base de tiempo.
Cuando se cambia el tiempo por
divisin, se cambia la frecuencia de
muestreo y el osciloscopio digital
presenta problemas de aliasing. Para
resolver este problema se debe usar
filtros antialiasing de ancho de banda
variable. Algunos osciloscopios
digitales incluyen estos filtros, pero la
mayora de los osciloscopios digitales
no los incluyen. Para evitar problemas
en estos casos, es conveniente realizar
las medidas comenzado por el tiempo
por divisin ms pequeo e ir
reduciendo dicho tiempo. Con ello se
evita muestrear seales de alta
frecuencia con una frecuencia de
muestreo insuficiente.
A continuacin se describen algunas de
las posibilidades de procesado y
representacin que poseen algunos de
los osciloscopios digitales del mercado.
-Mejora del aliasing: interpolacin
lineal, sinusoidal, sinusoidal
modificada.
-Representacin en funcin del tiempo
Y-t: cursores, mximo, mnimo,
amplitud, valores pico-pico, tiempo de
subida y bajada, sobreoscilacin,
preoscilacin, ancho de pulso,
frecuencia, periodo, duty-cycle (es la
relacin entre el tiempo en alto y el
periodo de una seal cuadrada), valor
RMS, valor AC-RMS, rea.
- Representacin en funcin del tiempo
Y-t especiales: trigger, constante, suma,
delta, ratio, multiplicacin, media,
logaritmo, antilogaritmo conseno,
cuenta, FFT.
-Representacin en modo Y-X:
cursores, cursor de tiempo, radio,
ngulo, rea, integracin de X en Y y
viceversa.
Adems de estas caractersticas
comunes a la mayora de los
osciloscopios digitales, algunos de
gama alta incorporan las siguientes
caractersticas muy tiles en sistemas de
comunicacin:
-Alta profundidad de memoria por
canal, que permita ver seales pulsadas
a distancia con alta resolucin en el
tiempo.
-Muestreo simultneo de todos los
canales que permita realizar un anlisis
de fase correcto de seales complejas.
-Cursores especiales en modo XY para
medida relativa de fase y amplitud.
-Muestreo sincronizado con una seal
digital externa. Esto resulta til para
representacin de constelaciones
vectoriales (ver Figura 45).
-Procesado de seal interna,
principalmente la FFT que permite usar
el osciloscopio como analizador de
seal.
El osciloscopio
20
-Persistencia variable que permita
visualizar diagrama de ojo (ver Figura
46).
-Inclusin de mscaras de tolerancia
para ensayos del tipo pasa/falla muy
comunes en normas de
telecomunicacin (ANSI, CCITT).
-Condiciones de disparo definidas por
tiempo o estados de otro canal o de una
seal externa. Intervalo (glitch), TV,
cada de seal, patrn lgico.
-Capacidad de realizar anlisis de
histogramas de fluctuaciones de
amplitud, parpadeo de pulso (edge
jitter) y otras propiedades de seales
complejas.
En las Figuras 45 y 46 se representan, a
modo de ejemplo, dos ventanas de
aplicaciones de un osciloscopio digital
de la marca Lecroy.
Figura 45. Representacin de una modulacin vectorial mediante un osciloscopio digital
de la marca Lecroy.
El osciloscopio
21
Figura 46. Representacin del diagrama del ojo mediante el osciloscopio digital Lecroy.
Generadores de Seal
1
TEMA 5. GENERADORES DE SEAL
1. Introduccin.................................................................................................................. 1
2 Osciladores .................................................................................................................... 2
Osciladores de un solo transistor.................................................................................. 2
Circuitos resonantes...................................................................................................... 4
Estabilidad de la oscilacin .......................................................................................... 5
Oscilador de cristal ....................................................................................................... 6
3 Atenuador ...................................................................................................................... 7
Variacin de la atenuacin ........................................................................................... 8
Atenuador variable. Control Automtico de Nivel (CAN) .......................................... 8
4 Sntesis de frecuencia .................................................................................................... 9
Mtodo indirecto o PLL ............................................................................................... 9
Sntesis Directa............................................................................................................. 9
Sntesis Digital............................................................................................................ 12
5. Generador de funciones.............................................................................................. 12
1. Introduccin
Un generador de seal es un
instrumento electrnico, que se emplea
para proporcionar condiciones de
prueba conocidas y realizar operaciones
como evaluar ganancias, observar
respuestas en frecuencia, sintonizar,
etc... Puede ser empleado para
caracterizar circuitos electrnicos. Por
ejemplo, en circuitos de comunicacin
permite sustituir la seal a niveles de
antena y realizar labores de ajuste o
reparacin sin la necesidad de que
exista la seal real, ya que sta puede
ser emulada por dicho generador.
Tambin se puede utilizar para
caracterizar dispositivos, por ejemplo,
para determinar la ganancia de un
amplificador. En este caso, lo que se
hace es que se introduce la seal del
generador, que es conocida en cada
momento, a la entrada del amplificador
y se mide la respuesta de dicho
amplificador, calculando la ganancia
como el cociente entre la seal de salida
y la de entrada.
Se puede decir, por tanto, que genera
seales de muy diversos tipos y niveles
de potencia.
Los objetivos de un generador son:
obtener una seal de frecuencia estable
y conocida, tener un control sobre la
amplitud de la seal en todo el rango de
frecuencias y generar una seal libre de
distorsin cuando dicha seal sea de
tipo sinusoidal.
La estructura simplificada de un
generador de seal se muestra en la
Figura 1.
Figura 1. Estructura simplificada de un
generador de seal.
El conformador produce la forma de
onda para la que se ha diseado el
generador. Cada forma de onda
generada da lugar a un tipo de
instrumento concreto. En la tabla 1 se
listan algunos instrumentos generadores
ATENUADOR
VARIABLE
CONFORMADOR
Ajuste de
frecuencia
Ajuste
de
amplitud
Generadores de Seal
2
y el tipo de conformador que emplean.
Los rangos de frecuencia son
orientativos e indican valores de
algunos equipos comerciales.
Equipo
generador
Tipo de
Conformador
Rango de
frecuencia
Generador de
radiofrecuencia
Oscilador de RF 9kHz-1,8GHz
Generador de
audio
Oscilador de audio 10Hz-40kHz
Generador de
forma de onda
Multivibrador con
comparadores
10mHz-2MHz
Generador de
forma de onda
arbitraria
Sintetizador digital 10mHz-5MHz
Generador de
pulsos
Multivibrador
astable
10kHz-4GHz
Generador de
onda vectorial
Sintetizador P-Q 10Hz-4GHz
Tabla 1. Distintos tipos de generadores
de seal.
El atenuador reduce los niveles de
potencia de la seal de forma
controlada. En la mayora de las
aplicaciones es necesario el empleo de
seales de bajo nivel, por ejemplo, a la
entrada de un amplificador.
2 Osciladores
Un oscilador no es ms que un
amplificador con una realimentacin
positiva, siguiendo un esquema como el
mostrado en la Figura 2.
Figura 2. Sistema realimentado.
De acuerdo con el esquema de la Figura
2, la expresin de la ganancia de
realimentacin es
A
A
A
f
1
La realimentacin se realiza mediante la
red de realimentacin (red de
desplazamiento de fase), que suele estar
compuesta por componentes pasivos
R,L,C.
En un oscilador, la tensin de salida V
o
es distinta de cero incluso cuando
0
in
V . Viendo la ecuacin, esto ocurre
cuando 1 0 1 A A .
Para que se produzca oscilacin, segn
el criterio de Barkhausen, A debe
tener mdulo 1 y fase cero, pero en este
caso se parte de un circuito
realimentado positivamente. En este
caso,
0
1
j
e A
Para que las oscilaciones se mantengan,
es necesaria una ganancia mayor que la
unidad. En cualquier caso, dicha
ganancia no debe ser mucho mayor para
evitar que el amplificador sature.
La red de retardo est formada por
componentes pasivos: redes RC o LC (a
estas ltimas se las denomina tanques
resonantes).
Con este anlisis se trata de predecir la
frecuencia y la mnima ganancia de
oscilacin, debido a que est basando en
un modelo lineal. El carcter no lineal
del oscilador impide que pueda
conocerse con exactitud la amplitud y
forma de las oscilaciones.
Osciladores de un solo transistor
En algunos casos no es tan sencillo
identificar la ganancia en bucle
abierto A. Existe un mtodo de
anlisis directo para osciladores de un
solo transistor.
Para el caso de circuitos osciladores con
un solo transistor, se puede partir de una
estructura bsica, como la representada
en la Figura 3(a). A partir del modelo de
pequea seal de la Figura 3(b) se
obtienen las ecuaciones de malla
siguientes
V
o
A

V
i
Generadores de Seal
3
Z
3
Z
1
Z
2
2
1
3
Z
L
V
i
(a)
Z
2
Z
3
Z
1
+
V
Z
i gm ro
R
L
V
i
I
S
(b)
Figura 3. Circuito oscilador de un solo
transistor: (a) modelo simplificado, (b)
modelo de pequea seal.
V Z Z I V gm V Z
V I
Z Z
Z Z
S S
S
i
i
2 3 2
1
1
Para que se produzcan las oscilaciones
I
S
y V deben ser no nulas cuando
V
S
0. sto se cumple cuando el
determinante de la matriz de
impedancias es igual a cero, es decir,
0
1
Z gm + 1
1
1
2 3 2
i
Z
Z
+ - Z
Z Z
Desarrollando el determinante
0
0
2 1 0 3 2 1 3 2 1
2 1 3 2
1
3 2 1
Z Z Z Z Z r Z Z Z
o
Z Z gm Z Z
Z
Z
Z Z Z
i
para el caso en que Z r
i
.
En otros casos, Z
i
estar compuesta por
una capacidad en paralelo que puede
englobarse en Z
1
.
2 0 1 2 0 2 1
2 0 3 3 2 1
3 2 1
0 1
1 0 1
0
Z Z Z Z Z
Z Z Z Z Z
Z Z Z
Si
0
es positiva las impedancias
Z Z
1 2
y son del mismo tipo. La Z
3
debe ser contraria.
Se observa que para que la suma total
sea cero las impedancias puras deben
ser bobinas y condensadores. De la
segunda ecuacin (que obliga a que X
1
sea del mismo signo que X
2
), debe
haber dos bobinas (Hartley) o dos
condensadores (Colpitts).
L
C1
C2
(a)
L1
C
L2
(b)
Figura 4. Circuitos tpicos osciladores
de radiofrecuencia, (a) oscilador
Colpitts y (b) oscilador Hartley
Es importante hacer notar que los
circuitos representados en la figura
corresponden a un modelo de pequea
seal antes de sustituir los modelos de
los transistores. Los circuitos reales
deben incluir la fuente de alimentacin
y las resistencias de polarizacin, as
Generadores de Seal
4
como los condensadores y las bobinas
de desacoplo.
Circuitos resonantes
Existe otra forma de interpretar los
circuitos osciladores, basada en los
circuitos resonantes. En la Figura 5 se
representa un circuito resonante simple.
Este circuito est formado por una
bobina y un condensador. La resistencia
r representa la resistencia parsita de la
bobina. Puede demostrarse que si la
resistencia r es cero, y se parte del
condensador cargado a un cierto valor
de tensin V
C0
, el circuito es oscilante y
su frecuencia de oscilacin es
LC
1
Demostracin:
Analizando el circuito mediante la
transformada de Laplace, considerando
una carga inicial del condensador V
co
y
la resistencia despreciable, se obtiene la
siguiente ecuacin para la corriente que
circula a travs del circuito:
0
1
s
V
I
Cs
LsI
co
La corriente se obtiene despejndola de
la ecuacin anterior:
2 2
) (
s L
C
V s I
co
siendo
LC
1
.
Realizando la antitransformada se
obtiene:
) ( ) ( t sen
L
C
V t i
co
Por tanto, el circuito se comporta como
un oscilador armnico.
Si el valor de la resistencia es distinto
de cero, puede demostrarse que el
circuito acaba amortigundose, es decir
las oscilaciones desaparecen tras un
cierto tiempo. Si se consigue conectar a
la bobina un circuito cuya impedancia
de entrada sea una resistencia negativa e
igual a la resistencia parsita en serie
con un condensador, como se muestra
en la Figura 6, se puede construir un
circuito resonante puro. La resistencia
negativa puede interpretarse como una
fuente de energa que alimenta al
circuito y permite compensar la energa
disipada por las resistencias.
En la Figura 7 se muestra un circuito
cuya impedancia de entrada
corresponde con un condensador y una
resistencia negativa.
L
R
C
Figura 5. Circuito resonante.

L
r
C
-r
Figura 6. Circuto resonante con
compensacin de la resistencia parsita.
L
r C1
C2
Z
i
Figura 7. Circuito equivalente a un
condensador y una resistencia negativa.
Generadores de Seal
5
Demostracin
Se substituye el transistor por su
modelo de pequea seal, como se
muestra en la Figura 8.
Z
2
Z
1
+
V
r
gmV
R
L
V
i
I
i
Z
i
Figura 8. Modelo de pequea seal del
circuito de la Figura 7.
Para este circuito se calcula la tensin
de entrada como:
V V gm I Z V
i i
) (
2
r Z
r Z
I V
i
1
1
r Z
r Z
Z gm Z I V
i i
1
1
2 2
) 1 (
r Z
r Z
Z gm Z
I
V
Z
i
i
i
1
1
2 2
) 1 (
Considerando r Z
1
, se obtiene
1 1
2 1 2 1 2
1
C C
gm
C j
Z Z gm Z Z Z
i
Estabilidad de la oscilacin
Existe una estabilidad a largo plazo
debido a cambios en la frecuencia por
dependencia de la temperatura y
envejecimiento de los componentes.
Existe otra estabilidad a corto plazo, es
decir, se producen cambios rpidos en
la frecuencia del oscilador. Esto har
que la frecuencia final pueda diferir de
la frecuencia para la que el oscilador ha
sido diseado. Estos casos sern ms
propicios a la aparicin de fenmenos,
como la modulacin de la frecuencia de
oscilacin. Esta modulacin puede ser
producida por ruido interno o por
interferencias, lo que se conoce como
ruido de fase. Debido a que esta
estabilidad est ligada a la fase de la
funcin de transferencia del oscilador,
se denominar estabilidad de fase.
La estabilidad de fase se define como
d
d
S
Se puede observar con un ejemplo que
la estabilidad de fase depende
directamente del factor de calidad del
circuito resonante. Se ver que cuanto
mayor sea dicho factor de calidad, la
estabilidad de fase ser mayor.
L C R
V
o
I
o
Figura 9. Circuito resonante paralelo.
La admitancia equivalente del circuito
es
1
1
1 1 1
LC
L
jR
R L j
C j
R
Y
Definiendo
o
o
o
o
r
L) (
R
L
R
Q=
LC
2
2
1
) (
1
Se obtiene
o
o
o
o
Q j
R
Y I
V
1
1
o
o
Q arctg
2 2
2
1
1
o
o
o
o
Q
Q
d
d
Generadores de Seal
6
o
Q
d
d
S
o
2
Oscilador de cristal
Los osciladores de cristal presentan
unos valores de Q muy elevados
(cientos de miles). Es por ello por lo
que se emplean cristales para estabilizar
los osciladores.
Se basan en un material, cristal piezo-
elctrico (cuarzo), al que se le colocan
dos terminales metlicos. Se le aplica
una tensin y se ejerce una fuerza
mecnica, y viceversa.
Otro oscilador de frecuencia por encima
de 30 kHz es el oscilador de cristal.
El fabricante nos da el modelo elctrico
que sustituye al comportamiento
interno.
Valores tpicos de un cristal de 90 kHz
son:
L 137H, C= 0.0235 pF, R=15K, C' =3.5 pF
8 . 5154
R
2 fL
Q
La reactancia del cristal en funcin de la
frecuencia es una curva que sigue la
ecuacin:
jX
j
C
L
s
p
'
2 2
2 2
donde:
LC
s
1
2
es la frecuencia de resonancia serie, y:
p
L C C
2
1 1 1
'
es la frecuencia de resonancia paralelo.
Figura 10. Smbolo del cristal y su
modelo equivalente.
Demostracin:
R es despreciable y se calcula la
impedancia serie formada por L y C:
C j
CL
L j
C j
Z
2
1 1
La admitancia total, incluyendo ahora el
condensador C, es
'
1
2
C j
CL
C j
Y
2
2
1
) 1 ( '
CL
CL C C
j Y
2
2
1
1
'
'
CL
CL
C
C
C j
Dividiendo numerador y denominador
por LC, se obtiene:
2 2
2 2
2
2
'
1
1
'
'
s
p
C j
LC
LC
C
C
C j
La inversa de la expresin anterior
equivale a la impedancia.
Grficamente, la forma de X
L
respecto
a se muestra en la Figura 11.
L
R
C
C
Generadores de Seal
7
Si C'>>C, entonces
p
es
aproximadamente igual a
s
, aunque
siempre
s
<
p
.
jX
L
w
w
P
w
S
Figura 11. Curva caracterstica de la
reactancia del cristal.
El oscilador se puede disear teniendo
en cuenta el peso de la componente
capacitiva o no. Cuando la frecuencia
de diseo (frecuencia de oscilacin)
debe tener un valor elevado, el peso de
las capacidades es importante y no
pueden despreciarse. En este caso, se
dice que se disea el oscilador en modo
serie, ya que, al ser las capacidades
comparables a las inductancias, la
reactancia resultante es baja y, por
tanto, el punto de trabajo se encuentra
prximo a la frecuencia serie.
Al contrario, si la frecuencia a la que se
pretende disear el oscilador no es una
frecuencia muy elevada, el efecto de las
capacidades puede considerarse
despreciable y el cristal se comporta
con un alto valor de reactancia, es decir,
como una bobina pura. En este caso, el
punto de equilibrio para la frecuencia
final de oscilacin se encuentra prximo
a la frecuencia paralelo y, entonces, se
dice que el diseo del oscilador es un
diseo paralelo.
3 Atenuador
El atenuador reduce la potencia de la
seal en una cantidad fija. La reduccin
se puede expresar en forma logartmica
como
o
i
P
P
A log 10
El atenuador ms comnmente utilizado
es el atenuador en PI, que se muestra en
la Figura 12(a). Otra topologa es la del
atenuador en T de la Figura 12(b).
R
1
R
2
R
3
R
1
R
2
R
3
(a) (b)
Figura 12. Atenuadores tpicos, (a) en
PI y (b) en T.
Para altas frecuencias, se usan
resistencias especiales para eliminar la
reactancia parsita.
Los criterios de diseo son la
impedancia de entrada
i
Z y salida
o
Z determinadas, y la atenuacin. Esto
da lugar a tres ecuaciones con tres
incgnitas que son las tres resistencias
del atenuador. Es decir se parte de
i
Z ,
o
Z y ) log( 10 N A , siendo
o
i
P
P
N .
Para el caso en que la impedancia de
entrada sea igual a la de salida, se suele
utilizar sistemas de impedancia
50 Z y se puede partir de la relacin
de tensiones
V
V
N
i
o
y de los valores
de las impedancias 50 Z Z
o i
.
Generadores de Seal
8
Variacin de la atenuacin
Para variar la atenuacin se recurre a
atenuadores por pasos. Consiste en
colocar varios atenuadores en cascada,
de manera que la atenuacin del
conjunto es la suma de cada uno de
ellos.
Tambin pueden combinarse
atenuadores en serie. De esta forma, con
atenuadores de 1, 2, 4 y 8 dB, se puede
atenuar de 0 a 16 dB en pasos de 1 dB
codificando los interruptores en lgica
binaria:
Tambin se realizan atenuadores de
pistn. En ellos:
d
L
dB A 32
Operan por debajo de la frecuencia de
diseo de la gua de onda. La
atenuacin se produce por reflexin y
hace que la impedancia de entrada no
sea constante.
Atenuador variable. Control
Automtico de Nivel (CAN)
El atenuador de ganancia variable
permite realizar un ajuste de la amplitud
de salida de forma fina. Como no puede
producirse grandes variaciones de nivel
mediante estas tcnicas, es necesario el
empleo de ambas tcnicas de variacin
de la atenuacin de manera conjunta.
Por tanto, un ajuste de nivel se realiza
variando de forma gruesa la atenuacin
mediante el atenuador por pasos (se
consigue abarcar grandes rangos de
niveles), y ajustando dicha amplitud al
valor deseado mediante el atenuador de
ganancia variable. El atenuador de
ganancia variable puede ser realizado de
forma sencilla mediante un circuito
basado en el diodo PIN, como el
mostrado en la Figura 11. El diodo PIN
es un componente semiconductor
realizado mediante tres capas, una n,
otra p y entre ambas una capa de
material intrnseco. El funcionamiento
de este dispositivo se basa en el
fenmeno de la modulacin de la
conductividad de la unin p-n que
experimenten los diodos y transistores
bipolares. En este caso, el fenmeno se
ve aumentado debido a la presencia de
la capa de material intrnseco. Esta capa
hace que el diodo se comporte como
una resistencia de un valor
relativamente alto. Cuando el diodo se
polariza directamente en continua,
aparece una mayor concentracin de
portadores en la zona intrnseca, de
forma que aumenta la conductividad y,
por tanto, disminuye la resistencia de
RF. Estos diodos se disean para que su
capacitancia sea baja.
Un circuito tpico atenuador de
ganancia variable en T es el mostrado
en la Figura 13.
Entre las aplicaciones de los
atenuadores de ganancia variable
podemos destacar, por un lado, la
modulacin de amplitud y, por otro, la
ms importante que es el control
automtico de nivel (CAN).
El CAN se utiliza para obtener una
tensin o potencia de generacin lo mas
constante posible e independiente de la
carga e incluso de la atenuacin que se
este introduciendo. Para ello, se utiliza
un circuito realimentado consistente en
medir la tensin o la potencia a la
entrada del atenuador. El resultado de
dicha medida se compara con el nivel
de referencia deseado y, con el error
resultante de dicha comparacin, se
acta sobre la atenuacin para tratar de
disminuir dicho error.
Generadores de Seal
9
15V
4.7 K
51 51
0.01K
4.7K
10K
Figura 13. Atenuador basado en diodo
PIN.
PIN
RMS
ATEN
Figura 14. Diagrama de bloque de un
Control Automtico de Nivel.
4 Sntesis de frecuencia
Para controlar la frecuencia del
oscilador y poder generar una gran
variedad de frecuencias diferentes, se
recurre a varios mtodos de sntesis.
Estos mtodos se pueden dividir en tres
tipos:
- Mtodo indirecto o circuito de fase
fija PLL.
- Sntesis directa.
- Sntesis digital.
Mtodo indirecto o PLL
Utiliza el esquema de la Figura 15.
VCO
FILTRO
DIVISOR
PROGRAMABLE
COMPARADOR
DE FASE
OSCILADOR
PATRON
Figura 15. Mtodo indirecto o PLL.
Como se muestra en la Figura 15, se
produce una frecuencia mediante un
oscilador controlado por tensin (VCO).
Esta frecuencia se divide por un nmero
entero N, mediante un divisor
programable. La frecuencia dividida se
compara con la que proviene de un
oscilador patrn mediante un
comparador de fase. El resultado de la
comparacin se hace pasar a travs de
un filtro para generar una tensin
continua que acta sobre el VCO. Esta
tensin hace que el VCO mantenga la
frecuencia a un valor constante. Las dos
frecuencias, la dividida por N y la del
oscilador patrn, debern ser idnticas,
e incluso debern estar en fase, es decir:
CLK
VCO
f
N
f
,
CLK VCO
f N f
Sntesis Directa
La sntesis directa consiste en la
generacin de las frecuencias
directamente a partir de los osciladores
mediante procesos que incluirn, en
gran parte de ellos, etapas de mezcla,
divisin y filtrado.
Las tcnicas de sntesis directa que se
estudiarn son:
-Generacin de armnicos.
-Oscilador mltiple.
-Doble mezclado ms divisor por 10.
-Divisin y multiplicacin de
frecuencias.
Generacin de armnicos
Generadores de Seal
10
Es el mtodo de sntesis ms sencillo.
Este mtodo introduce una no linealidad
a la salida del oscilador para producir
distorsin y generar armnicos. Estos
armnicos sern las nuevas frecuencias
sintetizadas, las cuales se seleccionan
mediante filtros pasabanda, como se
muestra en la Figura 16.
GENERADOR
DE
ARMONICOS
Figura 16. Generacin de armnicos.
Oscilador mltiple
En este caso, se parte de varios bancos
de osciladores, de manera que se
selecciona entre cada uno de ellos la
frecuencia que se pretende sintetizar.
Para tener mayor precisin se pueden
combinar varios bancos, como se
muestra en la Figura 17.
9
oscil.
1-9kHz
9
oscil.
10-
90kHz
MEZCLADOR
Figura 17. Oscilador mltiple.
En dicha figura se representan dos
bancos de osciladores. Se puede
seleccionar de cada un de ellos una
frecuencia y ambas se suman mediante
un circuito mezclador. Se observa
como, a partir de los 18 osciladores, se
pueden sintetizar frecuencias desde
10kHz hasta 99kHz en pasos constantes
de 1kHz; es decir, se utiliza un banco de
osciladores para cada dgito de
precisin que se desee obtener. El filtro
pasabanda de salida elimina todas las
frecuencias no deseadas.
Doble mezcla ms divisor por 10
Con esta tcnica de sntesis se pretende
producir frecuencias con un alto grado
de precisin, pero empleando un
mnimo nmero de osciladores. A
diferencia de la tcnica anterior, que
empleaba un banco de osciladores
completo para cada dgito de precisin,
sta utiliza un mismo banco de
osciladores para todos los dgitos. El
sintetizador se construye empleando una
etapa, como la representada en la Figura
18, por cada dgito de precisin que se
desee obtener.
DIVISOR
1/10
f
i
f
2
+f
1
*
f
1
f
i
+f
1
+f
2
+f
1
*
=10f
i
+f
1
* f
i
+f
1
*
/10
10 osciladores
f
i
+f
1
Figura 18. Etapa elemental del
sintetizador doble mezcla ms divisin
por 10.
En cada una estas etapas, la frecuencia
resultante es
1
f f
i
. Esta frecuencia se
mezcla con otra frecuencia de valor
*
1 2
f f
. Esta ltima representa la
frecuencia de un banco de 10
osciladores, donde
2
f
es la frecuencia
del primero de los osciladores y
*
1
f
es
un nmero entero del 0 al 9, que se va
sumando a
2
f
para obtener todas las
frecuencias del banco de osciladores.
Mediante esta segunda mezcla, se
obtiene
*
1 2 1
f f f f
i
. El sistema se
disea con la restriccin de que las
frecuencias deben cumplir la
relacin
10
1 2
f f f f
i i
, por lo que
la frecuencia resultante ser
*
1
10 f f
i
.
Generadores de Seal
11
DIVISOR
1/10
DIVISOR
1/10
f
i
10 osciladores
f
2
+f
2
*
f
2
+f
3
*
f
2
+f
1
*
f
1
f
i
+f
1
+f
2
+f
1
*
=10f
i
+f
1
*
f
i
+f
1
*
/10
f
i
+f
1
+f
2
+f
1
*
/10+f
2
*
=10f
i
+f
1
*
/10+f
2
*
f
i
+f
1
*
/100+f
2
*
/10 f
o
=10f
i
+f
1
*
/100+f
2
*
/10+f
3
*
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
f
1
f
1
f
2
+f
i
*
f
1
Figura 19. Diagrama de bloques de un sintetizador doble mezcla ms divisin por 10 de
tres etapas.
Una vez dividida dicha frecuencia por
10, se obtiene una frecuencia de salida
igual a
10
*
1
f
f
i
para siguiente etapa.
A modo de ejemplo, se representa en la
Figura 19 un sintetizador de tres etapas.
Un detalle de importancia a tener en
cuenta es que en todos estos diseos, la
ltima etapa se deja sin dividir. Como
se observa en dicha figura, se necesitan
12 osciladores en total para generar
frecuencias con tres dgitos de
precisin. Cada dgito se programa
mediante el conmutador de cada etapa,
que elige un valor determinado de
frecuencia del banco de osciladores, que
es compartido por todas las etapas.
Como se observa en la Figura 19, la
frecuencia resultante es
100 10
10
*
1
*
2 *
3
f f
f f f
i o
Se ve que
*
3
f controla el dgito ms
significativo, y
*
1
f , el menos
significativo.
Ejemplo: se desea disear un
sintetizador que genere frecuencias
de MHz MHz 99 . 19 10 con incrementos
de KHz 10 .
Solucin: lo primero que puede
deducirse es que, como hay que
controlar tres dgitos, se necesitarn tres
etapas.
Lo segundo que se puede determinar es
la frecuencia
i
f . De la expresin de la
frecuencia de salida, cuando todos los
dgitos son iguales a cero, se tiene que
i o
f f 10 ; por tanto, MHz f
i
1 . De la
relacin que deben cumplir las
frecuencias
10
1 2
f f f f
i i
Generadores de Seal
12
se obtiene
2 1
9 f f MHz . El reparto
de las frecuencias
1
f y
2
f se realiza de
forma arbitraria, pero interesa que la
relacin de mezclado, definida como el
cociente de las frecuencias a mezclar,
sea prximo a la unidad. Por ejemplo:
1
1
f
f
r
i
Esto hace que se elija MHz f 3
1
y
MHz f 6
2
.
Los osciladores del banco de
osciladores valdrn 6MHz, 7MHz,
8MHz y as hasta 15MHz.
Divisin multiplicacin de frecuencia
Esta tcnica es muy sencilla. Consiste
en dividir la frecuencia mediante
divisores y seleccionar las distintas
frecuencias que se van generando tras la
divisin. Lo mismo puede hacerse
multiplicando las frecuencias.
Sntesis Digital
El diagrama de bloques se muestra en la
Figura 20. La tcnica consiste en una
memoria donde de almacenan los
valores discretos de la forma de onda
que se pretende sintetizar. La memoria
se direcciona mediante un contador que
se incrementa con una seal de reloj.
CLK
D/A
CONTADOR
ROM
Figura 20. Sintetizador digital.
Cada dato diseccionado se convierte a
analgico mediante el convertidor
analgico digital. Finalmente, la salida
del convertidor es filtrada mediante un
filtro paso bajo para eliminar el
escalonamiento de la conversin.
Esta tcnica es la empleada por los
generadores de forma arbitraria. Otra
aplicacin de gran inters es la
generacin de barridos de frecuencia. El
barrido de frecuencia consiste en la
generacin de una seal modulada en
frecuencia en la que la seal que se
modula es proporcional al tiempo, es
decir, una rampa. La ventaja de realizar
el barrido con esta tcnica es que se
evitan los problemas de no linealidad
que aparecen en los VCOs (osciladores
controlados por tensin) cuando son
utilizados para esta aplicacin.
5. Generador de funciones
El generador de funciones es un
generador muy utilizado en laboratorio
para aplicaciones de propsito general.
Las funciones que genera son:
sinusoidal, triangular y cuadrada. El
rango de frecuencias se extiende desde
fracciones de Hz a cientos de kHz.
Para generar las funciones utiliza una de
ellas como funcin primaria y, a partir
de ella, genera las dems.
Una de las muchas alternativas puede
ser el circuito de la Figura 21. En este
circuito, la funcin primaria es la seal
triangular.
La onda cuadrada se obtiene mediante
el circuito comparador con histresis.
La conversin de onda triangular a onda
sinusoidal se realiza mediante un
circuito recortador basado en diodos.
i(v)
i(v)
H
L
Figura 21. Generador de funciones.
En las figuras 22, 23 y 24 se muestran
Generadores de Seal
13
los esquemas de detalle de un generador
de formas de onda. En la Figura 22 se
muestra los circuitos electrnicos
usados para producir la onda triangular
bsica. Pueden observarse, en el centro,
dos amplificadores operacionales
conectados a dos transistores que actan
de fuente de corriente para cargar a un
condensador a corriente constante. En la
Figura 23 se muestra el circuito de
comparacin, en la parte inferior y el
circuito que genera la forma de onda
senoidal a partir de la forma de onda
triangular, en la parte superior del
esquema. En la Figura 24 se muestra el
esquema del circuito de representacin
digital de la frecuencia (en la partes
superior) y el amplificador de salida
(parte inferior). En la parte inferior, a la
derecha de la figura se muestran los
atenuadores por pasos del generador de
seal. La impedancia de salida del
amplificador y las impedancias de los
atenuadores se ajustan para un sistema
de 50 Ohmios.
Generadores de Seal
14
Figura 22. Esquema completo de un generador de funciones.
Generadores de Seal
15
Figura 23. Esquema completo de un generador de funciones. Parte de formacin onda
senoidal a partir de la onda triangular y de comparacin.
Generadores de Seal
16
Figura 24. Esquema completo de un generador de funciones. Parte de presentacin
digital de la frecuencia, amplificacin y atenuacin.
Analizadores de Seal
1
TEMA 6: ANALIZADORES DE SEAL
1. Introduccin...............................................................................................................1
2. Analizador de espectros heterodino........................................................................... 1
Diagrama de bloques de detalle del analizador de espectros heterodino...................2
Ajustes del panel frontal del analizador.....................................................................5
Caractersticas fundamentales del analizador de espectros heterodino .....................6
Medida con el analizador de espectros ......................................................................9
3 Analizador de espectros digital................................................................................... 9
Problemas con la realizacin de un analizador de espectros digital ........................ 10
4. Otros analizadores de seal......................................................................................11
Analizador de onda ..................................................................................................11
1. Introduccin
Los analizadores de seal son
instrumentos que proporcionan
medidas de amplitud de tensin y
potencia de una seal en funcin de la
frecuencia. Por tanto, realizan las
medidas en el dominio de la
frecuencia, a diferencia, por ejemplo,
del osciloscopio, que realiza dichas
medidas en el dominio del tiempo.
La medida de la amplitud de la seal se
representa preferentemente en forma
logartmica, y relativa a valores de
tensin o potencia. Al ser los niveles
de seal bajos, es habitual el uso de
dBm (decibelio relativo a un milivatio)
para medida de potencia o dBV
(decibelio relativo a un microvoltio)
para representar valores RMS de
tensin.
Los analizadores permiten caracterizar
seales, y la tcnica de medida,
siempre que sea analgica, se basa en
tomar una fraccin de la seal,
empleando un filtro pasabanda de un
determinado ancho de banda. La
medida depender, por tanto, del ancho
de banda empleado para realizarla.
Si los analizadores de seal se
combinan con los generadores de
seal, se puede caracterizar la
respuesta de dispositivos, tales como
amplificadores, filtros, mezcladores,
osciladores, etc...
Los analizadores de seal se dividen en
dos tipos fundamentales: barrido
sintonizado y de tiempo real.
2. Analizador de espectros
heterodino
Es un instrumento de medida que
permite visualizar el espectro de una
seal, es decir, visualiza la magnitud
de dicha seal en funcin de la
frecuencia. Esta visualizacin se
realiza mediante el empleo de un tubo
de rayos catdicos (TRC) analgico.
El analizador de espectro es similar a
un receptor superheterodino de FI ms
alta. n la Figura 1 se muestra un
diagrama de bloques del analizador de
espectros heterodino bsico. La seal
de entrada al analizador V
1
(f) se mezcla
con el oscilador, controlado por
tensin (VCO) para obtenerse la seal
V
2
(f). Esta seal es igual que V
1
(f),
pero trasladada en frecuencia, justo el
valor de la frecuencia del VCO f
OL
. La
seal mezclada se hace pasar a travs
de un amplificador sintonizado que,
adems de amplificar, acta como
filtro pasabanda. La frecuencia a la que
est sintonizado el filtro se denomina
frecuencia intermedia (FI) f
I.
Analizadores de Seal
2
Deflexin
horizontal
Rampa
Deflexin
vertical
VCO
TRC
f
OL
f
I
f
I
f
OL
f
f
V
1
(f) V
2
(f)
f
I
f
V
3
(f)
V
2
(f)
V
3
(f)
V
1
(f)
Figura 1. Diagrama de bloques del analizador de espectros heterodino bsico.
La seal resultante V
3
(f) es una porcin
de la seal mezclada, y ser
proporcional a V
1
. Esta seal resultante
aparece como seal de banda estrecha,
es decir, presenta una forma de onda
casi senoide; por tanto, su valor eficaz
puede ser fcilmente determinado
mediante un detector de pico. El
resultado es una tensin continua que
es proporcional a la amplitud de la
seal original a una frecuencia igual a
f
I
-f
OL
. Para recorrer todo el espectro, se
realiza un barrido en frecuencia del
VCO. Este barrido consiste en
introducir una forma de onda de
tensin en rampa al VCO. Esta misma
rampa se emplea como seal de
barrido en direccin horizontal de un
tubo de rayos catdicos (TRC). El
TRC permite visualizar el espectro en
una pantalla de fsforo. La seal a la
salida de detector de pico se hace pasar
al sistema de deflexin vertical del
TRC. La visualizacin del espectro se
basa, por tanto, en la composicin en el
TRC de los dos movimientos
simultneos, horizontal proporcional al
tiempo o a la frecuencia, y vertical
proporcional a la amplitud de la seal.
Diagrama de bloques de detalle
del analizador de espectros
heterodino
En la Figura 2 se muestra el diagrama
de bloques de un analizador de
espectros con ms detalle. En este
caso, se ha representado un sistema
superheterodino con doble mezcla.
Como ejemplo, se han representado
unos valores de frecuencia tpicos para
este tipo de analizadores.
En primer lugar, la entrada se convierte
a una FI ms alta que la mayor
frecuencia de la seal de entrada, en
este caso, 400 MHz. Como en todos
los mezclados superheterodinos, debe
emplearse un filtro paso bajo para
evitar que frecuencias no deseadas
pasen a travs del primer mezclador,
siendo amplificadas posteriormente e
introduciendo errores de medida.
Como la mayora de los equipos que
presentan una alta sensibilidad, se
aade un atenuador a la entrada para
poder medir seales de niveles
superiores.
Analizadores de Seal
3
0-300Mhz
Deflexin
horizontal
Microproc.
CAD
21.4 Mhz 400 Mhz
Log/Lin
Rampa
Deflexin
vertical
Filtro de
video
VCO 400-700
Mhz
Oscilador
421.4Mhz
LOG
RBW=1khz
Figura 2. Diagrama de bloques del analizador de espectro heterodino.
Figura 3. Panel frontal del analizador de espectros heterodino HM5010.
Analizadores de Seal
4
Figura 4. Diagrama de bloques detallado del analizador de seal heterodino HM5010.
El empleo de atenuadores a la entrada
evita el uso de amplificadores de
ganancia variable, que resultan mucho
ms difciles de disear. Para lograr
que el analizador tenga una
selectividad en frecuencia muy alta (en
este caso llegar hasta 1kHz) hay que
emplear una segunda etapa de mezcla
hacia una frecuencia ms baja. Esta
segunda FI (en la Figura 2 es de
21.4MHz) permite usar filtros
pasabanda de cristal que son muy
selectivos.Tras este filtro se introduce
un amplificador logartmico que
Analizadores de Seal
5
permite la representacin en
decibelios. Despus, aparece el
detector de pico que proporciona un
valor continuo proporcional al nivel de
la seal. Tras el detector y antes de
representar la informacin de espectro,
se introduce un filtro de video. La
misin de ste es promediar las seales
de banda ancha, por ejemplo ruido,
para poder determinar su nivel medio.
Este filtro debe usarse slo cuando se
realizan estas medidas, ya que puede
introducir errores al medir seales de
banda estrecha debido a que reduce sus
picos, tal como se muestra en la Figura
5.
(a) (b)
Figura 5. Efecto de introducir filtro de
video: (a) sin filtro, (b) con filtro.
Existe un tipo de analizadores de
espectros que incorporan un soporte
digital que permite mejorar sus
prestaciones. ste consiste en un
convertidor analgico digital que
convierte a digital la seal que va a ser
representada por el sistema de
deflexin vertical. El convertidor va
seguido de un sistema de
almacenamiento, todo ello gobernado
mediante una estructura
microprocesadora. El sistema
microprocesador incorpora la
posibilidad de actuar directamente
sobre el TRC, usndolo como un
monitor de video para representar toda
la informacin generada por dicho
sistema. Las prestaciones que
incorpora el soporte digital son
similares a las que incorporan los
osciloscopios mixtos analgicos-
digitales. En concreto, permite mejorar
la calidad de la traza, la realizacin de
las medidas y las comunicaciones con
el usuario. Respecto a la calidad de la
traza, los analizadores de espectros
heterodinos presentan el inconveniente
de que para tiempos de barrido largos,
en vez de aparecer una traza, se
observa un punto debido a una
persistencia del fsforo limitada. Si la
traza se almacena durante un barrido,
puede representarse posteriormente
con mayor velocidad y, por tanto,
aparece mucho mejor representada.
Respecto a la realizacin de medidas,
aparece la incorporacin de cursores,
tanto para medida de amplitud como
de frecuencia. El sistema proporciona
los valores en formato numrico de la
posicin de los cursores. Tambin
puede realizar medidas automatizadas.
Respecto a las comunicaciones con el
usuario, permite el almacenamiento de
la configuracin del sistema y el
almacenamiento de los datos, de
manera que pueda exportarse a fichero.
En la Figura 4 se muestra un diagrama
de bloques mucho ms detallado del
analizador de espectros heterodino.
Este diagrama de bloques corresponde
al analizador de espectros HM5010.
Ajustes del panel frontal del
analizador
Una vez descrita la estructura del
analizador de espectros, se describirn
los distintos ajustes que se pueden
realizar desde el panel frontal del
equipo, y cmo estos actan sobre los
distintos mdulos del diagrama de
bloques anteriormente descrito. En la
Figura 3 se muestra una vista del panel
frontal del analizador de espectros
heterodino HM5010. En esta figura se
observan numerados los distintos
botones que pueden ser manejados
para ajustar los parmetros de medida
del analizador.
Se comenzar por los ajustes de
frecuencia. La frecuencia del primer
oscilador local se barre
electrnicamente en forma de rampa.
Mediante esta rampa se puede
controlar el rango de frecuencias que
se puede representar en la pantalla. La
Analizadores de Seal
6
rampa tendr un valor mnimo y un
valor mximo de tensin, que
corresponden a los valores de
frecuencia mnimo y mximo a
representar. El tiempo de barrido T
B
se
define como el tiempo que tarda la
rampa en representar todas las
frecuencias, desde la mnima a la
mxima. Este tiempo de barrido puede
ser controlado por el usuario desde el
panel frontal. Este tiempo variar el
rango de frecuencias que se
representa (SCANWITH), a este rango
de frecuencias se le denomina tambin
SPAN del analizador. El SPAN se
expresa en unidades de frecuencia por
divisin (Hz/div, MHz/div, etc.).
La frecuencia en torno a la que se
centra este rango se denomina
frecuencia central (FREQ). Existen
dos formas de establecer el rango de
frecuencias a representar: se pueden
especificar las frecuencias mnima
(START) y mxima (STOP) o se
puede especificar SPAN y frecuencia
central (FREQ). En la Figura 6 se
representa una vista de la pantalla del
analizador en la que se introducen
START y STOP para seleccionar el
rango de frecuencias.
Otro punto de la estructura del
analizador donde se puede actuar es
sobre el atenuador de entrada, para
controlar los niveles de medida. El
nivel de referencia (REF) tambin
aparece representado en la Figura 6. Se
expresa en dBm, que es el nivel
absoluto que corresponde a la parte
superior de la pantalla. Las medidas se
realizan siempre relativas a dicho
nivel. En algunos analizadores, suele
ser fijo el valor de decibelios por
divisin (dB/div o tambin aparece
como dB/). Si se varia la atenuacin de
entrada y se mantiene constante los
dB/, el nivel absoluto ir cambiando en
funcin del valor de dicho atenuador.
En un analizador con soporte digital se
puede especificar el nivel de
referencia, de forma que se ajusta el
atenuador de entrada para que se tenga
ese valor.
LOG
a dB/
REF xdBm
RBW bkHz
START kHz STOP kHz
Figura 6. Vista de la pantalla de un
analizador de espectros.
Tambin se puede actuar sobre la
resolucin del filtro pasabanda de la
segunda etapa mezcladora. Al ancho
de banda de este filtro se le denomina
Ancho de banda de resolucin
(RBW) y puede ser controlado, aunque
slo se pueden fijar ciertos valores.
Para analizador la Figura 3, se
encuentra la siguiente correspondencia
numrica: FREQ es el botn 9. REF se
controla mediante el ajuste de la
atenuacin a travs de los botones 14.
RBW se ajusta mediante el botn 10 y
el filtro de video se introduce mediante
el botn 11.
Caractersticas fundamentales
del analizador de espectros
heterodino
A continuacin se describirn en
detalle las caractersticas
fundamentales del analizador de
espectros.
Rango de frecuencias
Vara dependiendo de la utilidad. Los
ms asequibles son los del rango
intermedio (kHz - MHz). En el
diagrama de la Figura 2 va de 0 - 300
MHz, aunque conviene decir que para
bajas frecuencias (Hz) y para el rango
de microondas (sobre los GHz) la
electrnica es ms complicada y, por
tanto, estos analizadores son ms
caros. La frecuencia mnima en estos
analizadores heterodinos estar
Analizadores de Seal
7
limitada, debido a que siempre aparece
en pantalla un pico correspondiente a
la frecuencia del oscilador VCO, que
ocultar toda la informacin cerca de la
frecuencia cero. El rango superior est
limitado, como se ha comentado, por la
electrnica empleada.
Resolucin en frecuencia
La resolucin en frecuencia va a
permitir discernir entre tonos de
frecuencia cercanos. La resolucin se
mide en forma de ancho de banda del
filtro FI. Si hay varios, el de ancho de
banda menor ser el que d la mejor
resolucin del analizador. Este ancho
de banda del filtro de resolucin se
conoce como RBW (Resolution
BandWidth), y cuanto ms estrecho
sea, mejor ser el discernimiento de
frecuencias. Si se introduce un tono
puro, a la salida no se ver ste sino la
forma del filtro de resolucin de FI. Se
ver ms estrecho si el ancho de banda
del filtro es ms estrecho.
Factor de forma
Determina de qu forma se enmascaran
seales pequeas. Se define por la
relacin
RBW
BW
FF
60
donde BW
60
es el ancho de banda
medido a 60dB del nivel central del
filtro. Esta caracterstica permite ver
cmo el analizador es capaz de
discernir entre seales prximas y de
niveles muy diferentes. Como se
muestra en la Figura 7, aparecen dos
seales cercanas pero separadas ms
del RBW, y aparecen dos filtros
diferentes, uno con FF
1
y otro con FF
2
.
Interesa usar el filtro con FF
1
para que
no se enmascare la seal de menor
nivel.
Figura 7. Factores de forma.
Rango dinmico
Se define como la diferencia entre el
mximo valor medible y el nivel
mnimo detectable.
El nivel superior estar limitado por la
distorsin asociada a la no linealidad
del mezclador. Aparece cuando se hace
pasar la seal a travs del mezclador.
Dicha seal interacciona con el VCO y
se mezcla, pero si hay a la entrada
otras seales a frecuencias prximas,
tambin se mezclan, produciendo
distorsin y seales espreas. De entre
todas ellas, la ms importante es la
intermodulacin de tercer orden, y es
el principal factor limitante en el rango
dinmico del analizador de espectro.
Se mide aplicando dos seales
prximas a la entrada del analizador, y
se ajusta el nivel de stas de modo que
el producto de intermodulacin
aparezca por encima del ruido interno
generado por el analizador. Otra forma
de determinar el rango dinmico del
analizador es a travs del punto de
intercepcin de intermodulacin de
tercer orden. Para ello se aplican dos
tonos prximos al analizador. Si los
niveles de las dos seales de entrada se
incrementan, el producto de
intermodulacin de tercer orden
aumenta tres veces el incremento de
decibelios de las dos seales de entrada
(esto indica que la relacin abarca el
tercer orden). La intermodulacin de
tercer orden aumenta a una razn
mucho mayor que el aumento en las
dos seales de entrada, lo que significa
que el producto de la intermodulacin
Analizadores de Seal
8
terminar por tener el mismo nivel que
las dos seales de entrada. Este nivel,
donde se cruzan la caracterstica lineal
y la de tercer orden, recibe el nombre
de punto de intercepcin de tercer
orden y es una indicacin del lmite del
rango dinmico del analizador de
espectro (todo esto se puede apreciar
en la Figura 8). El nivel de cualquier
producto de tercer orden se determina
a partir de la expresin
p ent
I P P 2 3
3
Para establecer el rango dinmico del
analizador de espectro, los productos
de intermodulacin deben ser los
mismos que la seal mnima detectable
o visible (SMD) en el analizador. Por
motivo de simplicidad, se considera
que la intermodulacin es igual al nivel
de ruido. La ecuacin que determina la
potencia de intermodulacin se iguala
al SMD cuando la potencia de entrada
es mxima:
) (
3
2
) ( 2 ) ( 3
2 3 2 3
max
max
max max
SMD I SMD P RD
SMD I SMD P
I SMD P I P SMD
p
p
p p
P
i
(dBm)
P
o
(dBm)
0
-40
20
20
P
o
(P
i
)
P
3
(P
i
)
IP
3
Figura 8. Recta caracterstica del
producto de intermodulacin de tercer
orden.
La SMD depender de la resolucin de
ancho de banda y de otros factores. El
punto de intercepcin IP
3
es fijo y es lo
que proporciona normalmente el
fabricante, y con ambos se puede
obtener el rango dinmico.
Vase cmo depende SMD con el
ancho de banda del filtro FI
FR
MHz
RBW
dBm SMD
1
log 10 114
donde FR es la figura o cifra de ruido
del analizador
i
o
SNR
SNR
FR
Velocidad de barrido
Depende de la rampa de barrido que
ataca al TRC del analizador. El tiempo
de barrido no se puede escoger
arbitrariamente, ya que est
relacionado con otras caractersticas
del analizador como el RBW y el
SPAN escogido.
En relacin con el RBW, hay que decir
que cuando se pasa la seal por el
segundo filtro de FI (el de menor
RBW) la seal aparece retrasada y
atenuada. Cuanto ms estrecho sea el
filtro, es decir, cuanto menor sea
RBW, mayor ser el retardo y la
atenuacin (ver Figura 9). Para
compensar el error producido por este
retardo, es necesario aumentar el
tiempo de barrido en forma
proporcional a retardo, por lo que la
relacin ptima es una relacin inversa
entre RBW y el tiempo de barrido, tal
como se aprecia en laFigura 9.
Entre el SPAN y el TB debe existir una
relacin lineal, ya que la frecuencia es
proporcional a la rampa y, por tanto, al
tiempo de barrido, luego hay una
relacin directa con el SPAN. Se puede
determinar un punto ptimo con la
siguiente expresin:
2
44 . 0
RBW
SPAN
T
B
Analizadores de Seal
9
Figura 9. Relaciones entre ,TB y
RBW.
Con este TB ptimo se minimizan los
errores en la visualizacin producidas
por el barrido de frecuencias. Hay
analizadores que seleccionan
automticamente el TB segn esta ley,
de acuerdo al SPAN y al RBW que se
haya fijado.
Medida con el analizador de
espectros
En general, con el analizador de
espectro interesar medir niveles y
frecuencias. La pantalla est
cuadriculada en 10 partes para
frecuencia y 8 partes para niveles. Para
la medida de potencia se fija un nivel
de referencia en la parte superior de la
pantalla, y toda medida se hace con
relacin a ese nivel, tal y como se
mostr en la Figura 6.
Para medir la frecuencia se fija una
frecuencia central. Cuando se enciende
el aparato aparece con el mximo
SPAN, que el analizador es capaz de
visualizar (SPAN: MHz/div). Una vez
fijada la frecuencia central, se va
disminuyendo el SPAN, que hace que
la seal se vaya ensanchando (es como
si se hiciera un zoom en esa zona). Se
tiene un pulso que se puede desplazar
con un cursor y que va dando la
frecuencia que hay en cada punto
(frecuencia absoluta).
3 Analizador de espectros
digital
Existen mtodos matemticos para
calcular el espectro de una seal si
dicha seal se reduce a una ecuacin
matemtica o a un conjunto de puntos
dado. El mtodo matemtico ms
directo es la transformada de Fourier.
Si una seal se transforma mediante un
conjunto de puntos mediante la
digitalizacin de una seal analgica,
se puede programar un ordenador para
obtener su transformada de Fourier y
calcular su espectro. El mtodo
empleado para calcular la transformada
de Fourier que es ms eficiente es el
algoritmo de la transformada rpida de
Fourier (FFT).
Filtro Anti-
Solapamiento
Muestreo
A / D
Atenuador
Transformada
Rpida de Fourier
FFT
Sistema
de video
Amplificador
Figura 10. Diagrama de bloques del analizador de espectros digital.
El diagrama de bloques del analizador
de espectro digital se observa en la
Figura 10. Ntese las similitudes con el
osciloscopio digital. Se observan los
siguientes bloques: atenuador, filtro
paso bajo, etapa de muestreo y
retencin S&H, etapa de conversin
analgica/digital, bloque de clculo
FFT y pantalla de video (equivalente a
un monitor de televisin).
RBW
RBW
TB
TB
Analizadores de Seal
10
La FFT se programa en una placa
microprocesadora que realiza todas las
operaciones. La FFT toma N muestras
de la seal que se almacenan en
memoria, procesndose posteriormente
para obtener el resultado deseado. Se
hace la transformada de los N datos
obteniendo N/2 +1 valores complejos,
que son la transformada FFT con una
ventana temporal de duracin T
W
. Cada
punto de los N/2 + 1 se llama lnea
espectral o bin. En cada bin es como si
se tuviera un filtro de frecuencia muy
estrecho, sintonizado a una frecuencia
concreta. La separacin entre
frecuencias (entre bin y bin) es f .
Este incremento de frecuencia se puede
determinar como la inversa del tiempo
de ventana T
s
N
f
T
f
S
S
1
Problemas con la realizacin de
un analizador de espectros
digital
Para la realizacin de un analizador de
espectros digital se plantea una serie de
problemas que se tratarn a
continuacin.
Resolucin
La resolucin est controlada por el
incremento de frecuencia f. Para
mejorar la resolucin habra que
disminuir este incremento. Para ello, y
observando la relacin que existe con
T
W
, se ve que este objetivo se logra si
se aumenta el nmero de muestras N o
se disminuye la frecuencia de muestreo
f
S
.
El nmero de muestras N es difcil
variarlo porque no se puede tener un
nmero excesivo de muestras
almacenadas en memoria, por lo
normalmente permanece constante. En
algunos casos, puede aadirse ceros a
la trasformada, con lo que se produce
un efecto equivalente al aumento del
nmero de muestras. Esta tcnica se
conoce como Cero Padding!.
Si se disminuye la frecuencia de
muestreo se deber modificar el ancho
de banda del filtro LP antialiasing. El
problema es que este filtro es fijo, por
lo que se usa un filtro antialiasing
digital de ancho de banda variable
antes del mdulo de la FFT, y a
medida que va variando la frecuencia
de muestreo, el procesador modifica la
frecuencias de corte del filtro digital.
Visualizacin de frecuencias
El segundo problema que se plantea es
que las frecuencias que se pueden
visualizar estn comprendidas entre 0 y
f
N
2
. Si se desea realizar una
ampliacin de la frecuencia, la
visualizacin en pantalla siempre
comienza desde cero (la amplitud del
bin cero corresponde a la componente
DC). Si se quiere representar una
banda de frecuencia que no parta de
cero, ha de realizarse una mezcla
heterodina digital. Esta se realiza con
un oscilador local, que permitir
trasladar la frecuencia del espectro a la
frecuencia central del oscilador local,
que adems se puede controlar
digitalmente.
Error de prdidas (leakage)
La situacin ideal de funcionamiento
del equipo se da cuando la ventana
temporal que se usa toma un periodo
completo de la seal de entrada. Si esto
no ocurre, la ventana incluye parte del
siguiente periodo o menos del que
realmente tiene, y se realiza la
transformada suponiendo que es
peridica. Esa es la razn de que no
coincida con la verdadera transformada
de la seal. A este fenmeno se le
conoce como leakage o error de
prdida. Este puede suponer un
problema grave, porque puede
provocar errores graves en magnitud y
frecuencia.
Para evitar este problema, se usan otras
ventanas distintas de la ventana
rectangular para lograr que en los
extremos la seal valga cero y as
siempre se est transformando un
Analizadores de Seal
11
periodo completo, aunque en este caso
d una seal ligeramente modificada.
Para esta seal modificada, los errores
son muy bajos comparados con los
errores de prdida. Estas ventanas son:
Ventana de Hamming: sirve para medir
cualitativamente un espectro con
mayor resolucin. La seal resultante
tendr una cierta modulacin, pero sta
produce un error poco significativo.
Ventana de Hanning: es ms ancha,
por lo que empeora la resolucin, pero
se comete un error menor en medidas
de magnitud.
Ventana exponencial: permite quedarse
con la parte transitoria de seal,
eliminando la informacin del rgimen
permanente y evitando as el salto
entre ventana y ventana, ya que lleva la
seal a cero.
4. Otros analizadores de
seal
Se estudiar a continuacin los
siguientes analizadores: analizador de
de onda y analizador de distorsin.
Analizador de onda
Este instrumento proporciona una
medida de una seal (tensin o
potencia) mediante un indicador
(display o galvanmetro) a una
frecuencia determinada y con un
determinado ancho de banda.
Para el caso de medida de potencia, el
analizador de onda recibe el nombre de
vatmetro de seal.
Para la seleccin de la frecuencia se
usa un filtro paso de banda (BPF) de
banda estrecha, de forma que, una vez
que atraviesa el filtro, la seal es de
tipo senoide y, por tanto, fcilmente
medible, ya que se puede determinar su
valor eficaz mediante un detector de
envolvente.
Segn el mtodo que se emplee para la
seleccin de la frecuencia existen 2
tipos de analizadores de onda:
analizador de frecuencia selectiva y el
analizador heterodino.
Analizador de frecuencia selectiva
Se emplea en el rango de baja
frecuencia, por ejemplo, en las
frecuencias de audio, y puede usar bien
filtros sintonizables (variables) o bien
un banco de filtros. El inconveniente
que presenta este analizador es que el
rango de frecuencia es muy limitado
debido a las limitaciones de los propios
filtros.
Analizador heterodino
Los analizadores tambin reciben el
nombre de receptores, ya que se
realizan de la misma forma que un
receptor de radio.
Se emplea para el rango de
radiofrecuencia y usa el procedimiento
de mezcla heterodina, que consiste en
variar el espectro de la seal, dejando
el filtro fijo (lo nico que puede variar
es su ancho de banda). La seal de
entrada se desplaza a una frecuencia
intermedia ms alta (FI) por medio de
un oscilador local interno. La salida del
amplificador FI se rectifica y se aplica
al circuito de medicin. La estructura
es idntica a la del analizador de
espectros heterodino, pero en este caso,
se simplifica bastante, ya que no es
necesaria la visualizacin del espectro.
Analizador de distorsin
Es un dispositivo que permite analizar
la distorsin que sufren las seales
senoidales despus de pasar por un
dispositivo no lineal. El
comportamiento no lineal de los
elementos de un circuito introduce
armnicos de la frecuencia
fundamental en la onda de salida, por
lo que la distorsin resultante recibe el
nombre de distorsin armnica.
La distorsin armnica total THD se
define como
1
2
3
2
2
...
E
E E
THD
siendo E
i
los valores eficaces de los i-
simos armnicos.
Tambin se define el factor de
Analizadores de Seal
12
distorsin como
rms
E
E E
KHD
...
2
3
2
2
En este caso, se divide por el valor
eficaz de la seal E
rms.
La relacin entre ambas magnitudes es
la siguiente:
1
2
1
E
E
THD
RMS
2
2
) ( 1
1
) ( 1
1
KHD
KHD
KHD
Conviene destacar que si la distorsin
es menor del 10%, el THD es
aproximadamente igual al KHD.
En este instrumento, la onda de entrada
se aplica a un filtro rechazo de banda
que suprime la frecuencia fundamental,
pero permite el paso de todas las
componentes de frecuencias
armnicas. En una primera medida se
hace pasar la seal a travs del filtro de
forma que se mide el valor rms de
todos los armnicos distintos del la
componente fundamental. En una
segunda medida se determina el valor
RMS de la seal. Con el cociente de
ambas se calcula el factor de
distorsin.
RMS
Figura 11. Analizador de distorsin.
BIBLIOGRAFA
Robert A. Witte. Spectrum and
Network Measurements!. P T R
Prentice-Hall, Englewood Clifds, New
Jersey, 1993.
Alan V. Oppenheim, Ronald W.
Schafer. Discrete-Time Signal
Processing!. Prentice-Hall
International, Inc. 1989.
J.W. Cooley, J.W. Tukey. An
Algorithm for the Machine Calculation
of Complex Fourier Series!. Math
Computation (vol 19). 1965.
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
2000
Tema adaptado de
Tema 7. Analizadores de red
Slide 1
Welcome to Network Analyzer Basics.
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
2000
Tema adaptado de
Anlisis de red NO ES.
Router
Bridge
Repeater
Hub
Your IEEE 802.3 X.25 ISDN
switched-packet data stream
is running at 147 MBPS with
a BER of 1.523 X 10 . . .
-9
Slide 2
This module is not about computer networks! When the name "network analyzer" was
coined many years ago, there were no such things as computer networks. Back then,
networks always referred to electrical networks. Today, when we refer to the things that
network analyzers measure, we speak mostly about devices and components.
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
2000
Tema adaptado de
Qu tipo de dispositivos son testeados?
Tipo de dispositivo Activo Pasivo
I
n
t
e
g
r
a
c
i

n
A
l
t
o
B
a
j
o
Antenas
Conmutador
Multiplexor
Mezclador
Muestreador
Multiplicador
Diodos
Duplexores
Diplexores
Filtros
Acopladores
Puentes
Separadores, divisores
Combinadores
Aisladores
Circuladores
Attenuadores
Adaptadores
Abierto, corto, carga
Lnea de retardo
Cables
Lneas de transmisin
Guiaondas
Resonadores
Dielctricos
R, L, C's
RFICs
MMICs
T/R mdulos
Transceivers
Receptores
Sintonizadores
Convertidores
VCAs
Amplificadores
VCOs
VTFs
Osciladores
Moduladores
VCAttens
Transistores
Slide 3
Here are some examples of the types of devices that you can test with network analyzers.
They include both passive and active devices (and some that have attributes of both).
Many of these devices need to be characterized for both linear and nonlinear behavior. It
is not possible to completely characterize all of these devices with just one piece of test
equipment.
The next slide shows a model covering the wide range of measurements necessary for
complete linear and nonlinear characterization of devices. This model requires a variety
of stimulus and response tools. It takes a large range of test equipment to accomplish all
of the measurements shown on this chart. Some instruments are optimized for one test
only (like bit-error rate), while others, like network analyzers, are much more general-
purpose in nature. Network analyzers can measure both linear and nonlinear behavior of
devices, although the measurement techniques are different (frequency versus power
sweeps for example). This module focuses on swept-frequency and swept-power
measurements made with network analyzers
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
2000
Tema adaptado de
Modelo del dispositivo de medida
NF
Tipo de estmulo Complejo Simple
C
o
m
p
l
e
j
a
H
e
r
r
a
m
i
e
n
t
a
S
i
m
p
l
e
DC CW Swept Swept Noise 2-tonos Multi- Modulacin Pulso- Protocolo
freq power tono compleja RF
Det/Scope
Param. An.
NF Mtr.
Imped. An.
Power Mtr.
SNA
VNA
SA
VSA
TG/SA
Ded. Testers
I-V
Absol.
Power
Gain/Flatness
LCR/Z
Harm. Dist.
LO stability
Image Rej.
Gain/Flat.
Phase/GD
Isolation
Rtn Ls/VSWR
Impedance
S-parameters
Compr'n
AM-PM
RFIC test
Full call
sequence
Pulsed S-parm.
Pulse profiling
BER
EVM
ACP
Regrowth
Constell.
Eye
Intermodulation
Distortion
NF
Plano de Medida
Slide 4
Here is a key to many of the abbreviations used above:
Response
84000 84000 series high-volume RFIC tester
Ded. Testers Dedicated (usually one-box) testers
VSA Vector signal analyzer
SA Spectrum analyzer
VNA Vector network analyzer
TG/SA Tracking generator/spectrum analyzer
SNA Scalar network analyzer
NF Mtr. Noise-figure meter
Imped. An. Impedance analyzer (LCR meter)
Power Mtr. Power meter
Det./Scope Diode detector/oscilloscope
Measurement
ACP Adjacent channel power
AM-PM AM to PM conversion
BER Bit-error rate
Compr'n Gain compression
Constell. Constellation diagram
EVM Error-vector magnitude
Eye Eye diagram
GD Group delay
Harm. Dist. Harmonic distortion
NF Noise figure
Regrowth Spectral regrowth
Rtn Ls Return loss
VSWR Voltage standing wave ratio
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
2000
Tema adaptado de
Det/Scope: Osciloscopio ms
generador de barrido
Detector
de
envolvente
Osciloscopio en modo X-Y
V
g
Generador de barrido
X
Y
Detector
de
tono
Z
DUT
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
2000
Tema adaptado de
TG/SA: Analizador de espectros
ms generdor de barrido
Analizador de espectros
Generador de barrido
8563A SPECTRUM ANALYZER 9kHz - 26.5GHz
DUT
8563A SPECTRUM ANALYZER 9kHz - 26.5GHz 8563A SPECTRUM ANALYZER 9kHz - 26.5GHz
DUT
Analizador de espectros con
generador de tracking
8563A SPECTRUM ANALYZER 9 kHz - 26.5 GHz 8563A SPECTRUM ANALYZER 9 kHz - 26.5 GHz 8563A SPECTRUM ANALYZER 9 kHz - 26.5 GHz
DUT DUT
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
2000
Tema adaptado de
SNA, VNA: Analizador de red
escalar y vectorial
Analizador de red
G R A
DUT DUT
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
2000
Tema adaptado de
Analoga entre la luz y la energa en RF
RF
Incidente
Reflejada
Transmitida
Luz
DUT
Slide 5
One of the most fundamental concepts of high-frequency network analysis involves
incident, reflected and transmitted waves traveling along transmission lines. It is helpful to
think of traveling waves along a transmission line in terms of a lightwave analogy. We can
imagine incident light striking some optical component like a clear lens. Some of the light
is reflected off the surface of the lens, but most of the light continues on through the lens.
If the lens were made of some lossy material, then a portion of the light could be
absorbed within the lens. If the lens had mirrored surfaces, then most of the light would
be reflected and little or none would be transmitted through the lens. This concept is valid
for RF signals as well, except the electromagnetic energy is in the RF range instead of
the optical range, and our components and circuits are electrical devices and networks
instead of lenses and mirrors.
Network analysis is concerned with the accurate measurement of the ratios of the
reflected signal to the incident signal, and the transmitted signal to the incident signal.
Tema 7. Analizadores de red
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2000
Tema adaptado de
! Verificar las especificaciones de
"bloques fucionales# para construir
sistemas de RF ms complejos.
! Asegurar la transmisin de seales
de comunicacin sin distorsin:
$ lineal: ampitud constante, fase lineal
/ rertardo de grupo constante.
$ nolineal: harmnicos,
intermodulacin, compresin,
conversin de AM-a-PM.
! Asegurar ptima adaptacin cuando
se pretende absorber potencia
(ejem. Antenas).
Porqu necesitamos testear
componentes?
KPWR FM 97
Slide 6
Components are tested for a variety of reasons. Many components are used as "building
blocks" in more complicated RF systems. For example, in most transceivers there are
amplifiers to boost LO power to mixers, and filters to remove signal harmonics. Often,
R&D engineers need to measure these components to verify their simulation models and
their actual hardware prototypes. For component production, a manufacturer must
measure the performance of their products so they can provide accurate specifications.
This is essential so prospective customers will know how a particular component will
behave in their application.
When used in communications systems to pass signals, designers want to ensure the
component or circuit is not causing excessive signal distortion. This can be in the form of
linear distortion where flat magnitude and linear phase shift versus frequency is not
maintained over the bandwidth of interest, or in the form of nonlinear effects like
intermodulation distortion.
Often it is most important to measure how reflective a component is, to ensure that it
absorbs energy efficiently. Measuring antenna match is a good example.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
La necesidad de conocer magnitud y fase
4. Caracterizacin en el
dominio del tiempo.
Mag
Tiempo
5. Correccin de errores
en forma vectorial
Error
Medido
Actual
2. Diseo de
adaptaciones
3. Modelado
1. Completa
caracterizacin de
redes
High-frequency transistor model
Collector
Base
Emitter
S
21
S
12
S
11
S
22
Slide 7
In many situations, magnitude-only data is sufficient for out needs. For example, we may
only care about the gain of an amplifier or the stop-band rejection of a filter. However, as
we will explore throughout this paper, measuring phase is a critical element of network
analysis.
Complete characterization of devices and networks involves measurement of phase as
well as magnitude. This is necessary for developing circuit models for simulation and to
design matching circuits based on conjugate-matching techniques. Time-domain
characterization requires magnitude and phase information to perform the inverse-Fourier
transform. Finally, for best measurement accuracy, phase data is required to perform
vector error correction.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
ndice
1. Qu medidas se realizan?
Lneas de transmisin
Parmetros de Reflexin y
transmisin
Definicin de parmetros S
2. Hardware del analizador de red
Dispositivos de separacin
Tipos de deteccin
Rango dinmico
T/R versus parmetros-S
3. Modelo de error y calibracin
Tipos de errores de medida
Modelo de una y dos puertas
Correccin de errores
Clculo de incertidumbres
4. Ejemplos de medidas
5. Apndice
Slide 8
In this section we will review reflection and transmission measurements. We will see that
transmission lines are needed to convey RF and microwave energy from one point to
another with minimal loss, that transmission lines have a characteristic impedance, and
that a termination at the end of a transmission line must match the characteristic
impedance of the line to prevent loss of energy due to reflections. We will see how the
Smith chart simplifies the process of converting reflection data to the complex impedance
of the termination. For transmission measurements, we will discuss not only simple gain
and loss but distortion introduced by linear devices. We will introduce S-parameters and
explain why they are used instead of h-, y-, or z-parameters at RF and microwave
frequencies.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Lneas de transmisin
Bajas frecuencias
Longitud de onda >> longitud de cables
corriente (I) circula por cables sin problemas de adaptacin
La tensin y corrientes medidas no dependen de la
posicin
Altas frecuencias
Longitud de onda o << longitud del medio de
transmisin
Necesidad de lneas de transmisin para una
eficiente transferencia de potencia
La adaptacin a una impedancia caracterstica es de
suma importacia para reducir reflexiones: mxima
transferencia de potencia
La medida de la envolvente de la tensin depende
de la longitud
I
+
-
Slide 9
The need for efficient transfer of RF power is one of the main reasons behind the use of
transmission lines. At low frequencies where the wavelength of the signals are much
larger than the length of the circuit conductors, a simple wire is very useful for carrying
power. Current travels down the wire easily, and voltage and current are the same no
matter where we measure along the wire.
At high frequencies however, the wavelength of signals of interest are comparable to or
much smaller than the length of conductors. In this case, power transmission can best be
thought of in terms of traveling waves.
Of critical importance is that a lossless transmission line takes on a characteristic
impedance (Zo). In fact, an infinitely long transmission line appears to be a resistive load!
When the transmission line is terminated in its characteristic impedance, maximum power
is transferred to the load. When the termination is not Zo, the portion of the signal which
is not absorbed by the load is reflected back toward the source. This creates a condition
where the envelope voltage along the transmission line varies with position. We will
examine the incident and reflected waves on transmission lines with different load
conditions in following slides
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Lnea de transmisin Zo
! Zo determina la relacin entre la tensin y la corriente de la
onda
! Zo es funcin de las dimensiones fsicas y de
r
! Zo es normalmente real (e.g. 50 o 75 ohms)
characteristic impedance
for coaxial airlines (ohms)
10 20 30 40 50 60 70 80 90100
1.0
0.8
0.7
0.6
0.5
0.9
1.5
1.4
1.3
1.2
1.1
n
o
r
m
a
l
i
z
e
d

v
a
l
u
e
s
50 ohm standard
attenuation is
lowest at 77 ohms
power handling capacity
peaks at 30 ohms
Microstrip
h
w
Coplanar
w1
w2
r
Waveguide
Twisted-pair
Coaxial
b
a
h
Slide 10
RF transmission lines can be made in a variety of transmission media. Common
examples are coaxial, waveguide, twisted pair, coplanar, stripline and microstrip. RF
circuit design on printed-circuit boards (PCB) often use coplanar or microstrip
transmission lines. The fundamental parameter of a transmission line is its characteristic
impedance Zo. Zo describes the relationship between the voltage and current traveling
waves, and is a function of the various dimensions of the transmission line and the
dielectric constant (
r
) of the non-conducting material in the transmission line. For most
RF systems, Zo is either 50 or 75 ohms.
For low-power situations (cable TV, for example) coaxial transmission lines are optimized
for low loss, which works out to about 75 ohms (for coaxial transmission lines with air
dielectric). For RF and microwave communication and radar applications, where high
power is often encountered, coaxial transmission lines are designed to have a
characteristic impedance of 50 ohms, a compromise between maximum power handling
(occurring at 30 ohms) and minimum loss.
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Tema adaptado de
Eficiencia de la transferencia de potencia
RS
RL
Para impedancias complejas: mxima
transferencia de potencia ZL = ZS*
Mxima potenicia es transferida cuando RL = RS
RL / RS
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
P
o
t
e
n
c
i
a
C
a
r
g
a
(
n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
)
Rs
RL
+jX
-jX
Slide 11
Before we begin our discussion about transmission lines, let us look at the condition for
maximum power transfer into a load, given a source impedance of Rs. The graph above
shows that the matched condition (RL = RS) results in the maximum power dissipated
in the load resistor. This condition is true whether the stimulus is a DC voltage source or
an RF sinusoid.
For maximum transfer of energy into a transmission line from a source or from a
transmission line to a load (the next stage of an amplifier, an antenna, etc.), the
impedance of the source and load should match the characteristic impedance of the
transmission line. In general, then, Zo is the target for input and output impedances of
devices and networks.
When the source impedance is not purely resistive, the maximum power transfer occurs
when the load impedance is equal to the complex conjugate of the source impedance.
This condition is met by reversing the sign of the imaginary part of the impedance. For
example, if RS = 0.6 + j0.3, then the complex conjugate RS* = 0.6 - j0.3.
Sometimes the source impedance is adjusted to be the complex conjugate of the load
impedance. For example, when matching to an antenna, the load impedance is
determined by the characteristics of the antenna. A designer has to optimize the output
match of the RF amplifier over the frequency range of the antenna so that maximum RF
power is transmitted through the antenna
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Tema adaptado de
Terminacin de lnea con Zo
Desde el punto de vista de la reflexin, una lnea
de transmisin terminada con Zo se comporta
como una lnea de longitud infinita
Zs = Zo
Zo
Vrefl = 0 (toda la potencia
indicente es absorbida)
V
inc
Zo =Impedancia
caractersticas de la
lnea de transmisin
Slide 12
Let's review what happens when transmission lines are terminated in various
impedances, starting with a Zo load. Since a transmission line terminated in its
characteristic impedance results in maximum transfer of power to the load, there is no
reflected signal. This result is the same as if the transmission line was infinitely long. If we
were to look at the envelope of the RF signal versus distance along the transmission line,
it would be constant (no standing-wave pattern). This is because there is energy flowing
in one direction only.
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Tema adaptado de
Lnea terminada con Abierto, Corto
Zs = Zo
Vrefl
V
inc
Desde el punto de vista de la reflexin, la terminacin
corto o abierto refleja toda la potencia
En fase (0
o
) para abierto,
En contrafase (180
o
) para corto
Slide 13
Next, let's terminate our line in a short circuit. Since purely reactive elements cannot
dissipate any power, and there is nowhere else for the energy to go, a reflected wave is
launched back down the line toward the source. For Ohm's law to be satisfied (no voltage
across the short), this reflected wave must be equal in voltage magnitude to the incident
wave, and be 180
o
out of phase with it. This satisfies the condition that the total voltage
must equal zero at the plane of the short circuit. Our reflected and incident voltage (and
current) waves will be identical in magnitude but traveling in the opposite direction.
Now let us leave our line open. This time, Ohm's law tells us that the open can support no
current. Therefore, our reflected current wave must be 180
o
out of phase with respect to
the incident wave (the voltage wave will be in phase with the incident wave). This
guarantees that current at the open will be zero. Again, our reflected and incident current
(and voltage) waves will be identical in magnitude, but traveling in the opposite direction.
For both the short and open cases, a standing-wave pattern will be set up on the
transmission line. The valleys will be at zero and the peaks at twice the incident voltage
level. The peaks and valleys of the short and open will be shifted in position along the line
with respect to each other, in order to satisfy Ohm's law as described above.
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Tema adaptado de
Terminacin de 25
Vrefl
El patrn de onda estacionario no pasa por cero
como con en el caso de corto o abierto
Zs = Zo
ZL = 25
V
inc
Slide 14
Finally, let's terminate our line with a 25 resistor (an impedance between the full
reflection of an open or short circuit and the perfect termination of a 50 load). Some
(but not all) of our incident energy will be absorbed in the load, and some will be reflected
back towards the source. We will find that our reflected voltage wave will have an
amplitude 1/3 that of the incident wave, and that the two waves will be 180
o
out of phase
at the load. The phase relationship between the incident and reflected waves will change
as a function of distance along the transmission line from the load. The valleys of the
standing-wave pattern will no longer be zero, and the peak will be less than that of the
short/open case.
The significance of standing waves should not go unnoticed. Ohm's law tells us the
complex relationship between the incident and reflected signals at the load. Assuming a
50-ohm source, the voltage across a 25-ohm load resistor will be two thirds of the voltage
across a 50-ohm load. Hence, the voltage of the reflected signal is one third the voltage of
the incident signal and is 180
o
out of phase with it. However, as we move away from the
load toward the source, we find that the phase between the incident and reflected signals
changes! The vector sum of the two signals therefore also changes along the line,
producing the standing wave pattern. The apparent impedance also changes along the
line because the relative amplitude and phase of the incident and reflected waves at any
given point uniquely determine the measured impedance. For example, if we made a
measurement one quarter wavelength away from the 25-ohm load, the results would
indicate a 100-ohm load. The standing wave pattern repeats every half wavelength, as
does the apparent impedance.
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Tema adaptado de
Caracterizacin de dispositivos en alta
frecuencia
Transmitida
Incident.
TRANSMISIN
Gain / Loss
S-Parameters
S
21
, S
12
Group
Delay
Transmission
Coefficient
Insertion
Phase
Reflejada
Incident.
REFLEXIN
SWR
S-Parameters
S
11
, S
22
Reflection
Coefficient
Impedance,
Admittance
R+jX,
G+jB
Return
Loss
Incidente
Reflejada
Transmitida
R
B
A
A
R
=
B
R
=
Slide 15
Now that we fully understand the relationship of electromagnetic waves, we must also
recognize the terms used to describe them. Common network analyzer terminology has
the incident wave measured with the R (for reference) receiver. The reflected wave is
measured with the A receiver and the transmitted wave is measured with the B receiver.
With amplitude and phase information of these three waves, we can quantify the
reflection and transmission characteristics of our device under test (DUT). Some of the
common measured terms are scalar in nature (the phase part is ignored or not
measured), while others are vector (both magnitude and phase are measured). For
example, return loss is a scalar measurement of reflection, while impedance results from
a vector reflection measurement. Some, like group delay, are purely phase-related
measurements.
Ratioed reflection is often shown as A/R and ratioed transmission is often shown as B/R,
relating to the measurement receivers used in the network analyzer
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Tema adaptado de
Medida de reflexin
dB
No reflexin
(ZL = Zo)
RL
VSWR
0
1
Total reflexin
(ZL = open, short)
0 dB
1
=
Z
L
Z
O
Z
L
+
O
Z
Coeficiente
Reflexin
=
V
reflejada
V
Incident.
=
= Prdidas de refl. = -20 log( ),
Relacin de onda estacionaria
VSWR =
Emax
Emin
=
1 +
1 -
Emax
Emin
Slide 16
Let's now examine reflection measurements. The first term for reflected waves is
reflection coefficient gamma ( ). Reflection coefficient is the ratio of the reflected signal
voltage to the incident signal voltage. It can be calculated as shown above by knowing the
impedances of the transmission line and the load. The magnitude portion of gamma is
called rho ( ). A transmission line terminated in Zo will have all energy transferred to the
load; hence V
refl
= 0 and = 0. When Z
L
is not equal to Zo , some energy is reflected and
is greater than zero. When Z
L
is a short or open circuit, all energy is reflected and = 1.
The range of possible values for is therefore zero to one.
Since it is often very convenient to show reflection on a logarithmic display, the second
way to convey reflection is return loss. Return loss is expressed in terms of dB, and is a
scalar quantity. The definition for return loss includes a negative sign so that the return
loss value is always a positive number (when measuring reflection on a network analyzer
with a log magnitude format, ignoring the minus sign gives the results in terms of return
loss). Return loss can be thought of as the number of dB that the reflected signal is below
the incident signal. Return loss varies between infinity for a Zo impedance and 0 dB for
an open or short circuit.
As we have already seen, two waves traveling in opposite directions on the same
transmission line cause a "standing wave". This condition can be measured in terms of
the voltage-standing-wave ratio (VSWR or SWR for short). VSWR is defined as the
maximum value of the RF envelope over the minimum value of the envelope. This value
can be computed as (1+ )/(1- ). VSWR can take
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Tema adaptado de
Carta de Smith
Carta de Smith= mapea
de plano recto a plano
polar
0 +R
+jX
-jX
Plano recto
.
-90
o
0
o
180
o
+
-
.2
.4
.6
.8
1.0
90
o
Plano polar
Z = Zo
L
= 0
Constant X
Constant R
Carta de Smith
L
Z = 0
= 180
O
1
(short) Z = L
= 0
O
1
(open)
Slide 17
Our network analyzer gives us complex reflection coefficient. However, we often want to know the
impedance of the DUT. The previous slide shows the relationship between reflection coefficient and
impedance, and we could manually perform the complex math to find the impedance. Although
programmable calculators and computers take the drudgery out of doing the math, a single number
does not always give us the complete picture. In addition, impedance almost certainly changes with
frequency, so even if we did all the math, we would end up with a table of numbers that may be difficult
to interpret.
A simple, graphical method solves this problem. Let's first plot reflection coefficient using a polar
display. For positive resistance, the absolute magnitude of varies from zero (perfect load) to unity (full
reflection) at some angle. So we have a unit circle, which marks the boundary of the polar plane shown
on the slide. An open would plot at 1 0
o
; a short at 1 180
o
; a perfect load at the center, and so on.
How do we get from the polar data to impedance graphically? Since there is a one-to-one
correspondence between complex reflection coefficient and impedance, we can map one plane onto the
other. If we try to map the polar plane onto the rectilinear impedance plane, we find that we have
problems. First of all, the rectilinear plane does not have values to infinity. Second, circles of constant
reflection coefficient are concentric on the polar plane but not on the rectilinear plane, making it difficult
to make judgments regarding two different impedances. Finally, phase angles plot as radii on the polar
plane but plot as arcs on the rectilinear plane, making it difficult to pinpoint.
The proper solution was first used in the 1930's, when Phillip H. Smith mapped the impedance plane
onto the polar plane, creating the chart that bears his name (the venerable Smith chart). Since unity at
zero degrees on the polar plane represents infinite impedance, both plus and minus infinite reactances,
as well as infinite resistance can be plotted. On the Smith chart, the vertical lines on the rectilinear plane
that indicate values of constant resistance map to circles, and the horizontal lines that indicate values of
constant reactance map to arcs. Zo maps to the exact center of the chart.
In general, Smith charts are normalized to Zo; that is, the impedance values are divided by Zo. The
chart is then independent of the characteristic impedance of the system in question. Actual impedance
values are derived by multiplying the indicated value by Zo. For example, in a 50-ohm system, a
normalized value of 0.3 - j0.15 becomes 15 - j7.5 ohms; in a 75-ohm system, 22.5 - j11.25 ohms.
Fortunately, we no longer have to go through the exercise ourselves. Out network analyzer can display
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Medida de transmisin
V
Transmitida
V
Incident
Coeficiente de transmisin = =
V
Transmitida
V
Incident
=
DUT
Ganancia (dB) = 20 Log
V
Trans
V
Inc
= 20 log
Prdidas de insercin (dB)
= 20 Log
V
Trans
V
Inc
= - 20 log
Slide 18
Transmission coefficient is defined as the transmitted voltage divided by the incident
voltage. If |V
trans
| > |V
inc
|, the DUT has gain, and if |V
trans
| < |V
inc
|, the DUT exhibits
attenuation or insertion loss. When insertion loss is expressed in dB, a negative sign is
added in the definition so that the loss value is expressed as a positive number. The
phase portion of the transmission coefficient is called insertion phase.
There is more to transmission than simple gain or loss. In communications systems,
signals are time varying -- they occupy a given bandwidth and are made up of multiple
frequency components. It is important then to know to what extent the DUT alters the
makeup of the signal, thereby causing signal distortion. While we often think of distortion
as only the result of nonlinear networks, we will see shortly that linear networks can also
cause signal distortion.
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Tema adaptado de
Comportamiento lineal frente a comportamiento
no lineal
Comportamiento lineal:
Frecuecias de entrada y salidas
son las mismas (no se crean
frecuencas adicionales)
La frecuencia de salidas solo
presenta cambios en amplitud y
fase
Frequency f
1
Time
Sin 360
o
* f * t
Frequency
A
phase shift =
to * 360
o
* f
1
f
DUT
Time
A
t
o
A * Sin 360
o
* f (t - t
o
)
Input Output
Time
Comportamiento no
lineal:
Frecuencias de salidas
puede experimetar
desplazamiento (e.g.
mezcladores)
frequencias adicionales son
creadas (armnicos,
intermodulacin)
Frequency
f
1
Slide 19
Before we explore linear signal distortion, lets review the differences between linear and
nonlinear behavior. Devices that behave linearly only impose magnitude and phase
changes on input signals. Any sinusoid appearing at the input will also appear at the
output at the same frequency. No new signals are created. When a single sinusoid is
passed through a linear network, we don't consider amplitude and phase changes as
distortion. However, when a complex, time-varying signal is passed through a linear
network, the amplitude and phase shifts can dramatically distort the time-domain
waveform.
Non-linear devices can shift input signals in frequency (a mixer for example) and/or
create new signals in the form of harmonics or intermodulation products. Many
components that behave linearly under most signal conditions can exhibit nonlinear
behavior if driven with a large enough input signal. This is true for both passive devices
like filters and even connectors, and active devices like amplifiers
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Tema adaptado de
Lnea sin distorsin
Red lineal
Amplitud constante sobre
la banda de inters
M
a
g
n
i
t
u
d
F
a
s
e
Frecuencia
Frecuencia
Fase lineal sobre la
banda de inters
Slide 20
Now lets examine how linear networks can cause signal distortion. There are three
criteria that must be satisfied for linear distortionless transmission. First, the amplitude
(magnitude) response of the device or system must be flat over the bandwidth of interest.
This means all frequencies within the bandwidth will be attenuated identically. Second,
the phase response must be linear over the bandwidth of interest. And last, the device
must exhibit a "minimum-phase response", which means that at 0 Hz (DC), there is 0
o
phase shift (0
o
n*180
o
is okay if we don't mind an inverted signal).
How can magnitude and phase distortion occur? The following two examples will illustrate
how both magnitude and phase responses can introduce linear signal distortion.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Variacin de la magnitud con la frecuencia
F(t) = sin wt + 1/3 sin 3wt + 1/5 sin 5wt
Tiempo
Red lineal
Frecuencia Frecuencia
Frecuencia
M
a
g
n
i
t
u
d
Tiempo
Slide 21
Here is an example of a square wave (consisting of three sinusoids) applied to a
bandpass filter. The filter imposes a non-uniform amplitude change to each frequency
component. Even though no phase changes are introduced, the frequency components
no longer sum to a square wave at the output. The square wave is now severely
distorted, having become more sinusoidal in nature.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Variacin de la fase con la frecuencia
Frecuencia
M
a
g
n
i
t
u
d
Red lineal
Frecuencia
Frecuencia
Tiempo
0
-180
-360

Tiempo
F(t) = sin wt + 1 /3 sin 3wt + 1 /5 sin 5wt
Slide 22
Let's apply the same square wave to another filter. Here, the third harmonic undergoes a
180
o
phase shift, but the other components are not phase shifted. All the amplitudes of
the three spectral components remain the same (filters which only affect the phase of
signals are called allpass filters). The output is again distorted, appearing very impulsive
this time.
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Tema adaptado de
Desviacin de fase
Uso del retardo elctrico
para eliminar la porcin
lineal de la fase
Longitud elctrica
aadida
+
Se
obtiene
Frecuencia
(Funcin de retardo)
Frecuencia
Respuesta de un
filtro RF
Desviacin de fase
F
a
s
e
1


/
D
i
v
o
F
a
s
e
4
5


/
D
i
v
o
Frecuencia
Baja resolucin Alta resolucin
Slide 23
Now that we know insertion phase versus frequency is a very important characteristic of a
component, let's see how we would measure it. Looking at insertion phase directly is
usually not very useful. This is because the phase has a negative slope with respect to
frequency due to the electrical length of the device (the longer the device, the greater the
slope). Since it is only the deviation from linear phase which causes distortion, it is
desirable to remove the linear portion of the phase response. This can be accomplished
by using the electrical delay feature of the network analyzer to cancel the electrical length
of the DUT. This results in a high-resolution display of phase distortion (deviation from
linear phase).
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
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Tema adaptado de
Retardo de grupo
en radianes
en radianes/sec
en grados
f en Hertzios ( f)
Retardo de Grupo (t )
g
=
d
d
=
1
360
o
d
d f *
Frecuencia
Rizado de retardo de
grupo
Retardo medio
t
o
t
g
Fase
Frecuencia
Rizado en GD supone distorsin de fase
GD medio indica el valor de la longitud elctrica
del DUT
La apertura en la medidas es de suma
importancia.
Slide 24
Another useful measure of phase distortion is group delay. Group delay is a measure of
the transit time of a signal through the device under test, versus frequency. Group delay
is calculated by differentiating the insertion-phase response of the DUT versus frequency.
Another way to say this is that group delay is a measure of the slope of the transmission
phase response. The linear portion of the phase response is converted to a constant
value (representing the average signal-transit time) and deviations from linear phase are
transformed into deviations from constant group delay. The variations in group delay
cause signal distortion, just as deviations from linear phase cause distortion. Group delay
is just another way to look at linear phase distortion.
When specifying or measuring group delay, it is important to quantify the aperture in
which the measurement is made. The aperture is defined as the frequency delta used in
the differentiation process (the denominator in the group-delay formula). As we widen the
aperture, trace noise is reduced but less group-delay resolution is available (we are
essentially averaging the phase response over a wider window). As we make the
aperture more narrow, trace noise increases but we have more measurement resolution.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Porqu medir retardo de grupo?
El mismo valor p-p del rizado de fase se obtiene en un caso
y en otro pero el GD resulta muy diferente.
F
a
s
e
F
a
s
e
G
r
o
u
p
D
e
l
a
y
G
r
o
u
p
D
e
l
a
y
d
d
d
d
f
f
f
f
Slide 25
Why are both deviation from linear phase and group delay commonly measured?
Depending on the device, both may be important. Specifying a maximum peak-to-peak
value of phase ripple is not sufficient to completely characterize a device since the slope
of the phase ripple is dependent on the number of ripples which occur over a frequency
range of interest. Group delay takes this into account since it is the differentiated phase
response. Group delay is often a more easily interpreted indication of phase distortion.
The plot above shows that the same value of peak-to-peak phase ripple can result in
substantially different group delay responses. The response on the right with the larger
group-delay variation would cause more signal distortion.
Tema 7. Analizadores de red
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2000
Tema adaptado de
Cmo caracterizar dispositivos desconocidos?
Los parmetros (H, Y, Z, S):
Proporciona modelo de comportamiento lineal del DUT
Medidas de magnitudes (e.g. tensin corriente) versus
frecuencia bajo determinadas cargas (e.g.circuito abierto)
Calcula parmetros de los dispisitivos directamente de
ensayos
Predice el comportamiento frente a cualquer fuente o
condicin de carga
H-parameters
V1 = h11I1 + h12V2
I2 = h21I1 + h22V2
Y-parameters
I1 = y11V1 + y12V2
I2 = y21V1 + y22V2
Z-parameters
V1 = z11I1 + z12I2
V2 = z21I1 + z22I2
h11 =
V1
I1 V2=0
h12 =
V1
V2 I1=0
(require corto)
(require circuito abierto)
Slide 26
In order to completely characterize an unknown linear two-port device, we must make
measurements under various conditions and compute a set of parameters. These
parameters can be used to completely describe the electrical behavior of our device (or
network), even under source and load conditions other than when we made our
measurements. For low-frequency characterization of devices, the three most commonly
measured parameters are the H, Y and Z-parameters. All of these parameters require
measuring the total voltage or current as a function of frequency at the input or output
nodes (ports) of the device. Furthermore, we have to apply either open or short circuits as
part of the measurement. Extending measurements of these parameters to high
frequencies is not very practical.
Tema 7. Analizadores de red
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2000
Tema adaptado de
Porqu usar parmentros S?
Relativamente fcil de obtener a altas frecuencias
Medida de ondas de tensin transmitidas y reflejadas mediante
analizadores de red
No necesita corto y abierto para medir los parmetros que pueden
causar oscilaciones o destruccin de componentes
Se relaciona con medidas muy familiares (ganancia, prdidas,
coeficiente de reflexin ...)
Pueden ponerse en cascada
Pueden calcularse los parmetros H, Y, o Z a partir de los S
Incident Transmitida
S
21
S11
Reflejada
S22
Reflejada
Transmitida Incident
b
1
a
1
b
2
a
2
S12
DUT
b1 = S11
a
1 + S12
a
2
b
2 = S21
a
1 + S22
a2
Port 1 Port 2
Slide 27
At high frequencies, it is very hard to measure total voltage and current at the device
ports. One cannot simply connect a voltmeter or current probe and get accurate
measurements due to the impedance of the probes themselves and the difficulty of
placing the probes at the desired positions. In addition, active devices may oscillate or
self-destruct with the connection of shorts and opens.
Clearly, some other way of characterizing high-frequency networks is needed that doesn't
have these drawbacks. That is why scattering or S-parameters were developed. S-
parameters have many advantages over the previously mentioned H, Y or Z-parameters.
They relate to familiar measurements such as gain, loss, and reflection coefficient. They
are defined in terms of voltage traveling waves, which are relatively easy to measure. S-
parameters don't require connection of undesirable loads to the device under test. The
measured S-parameters of multiple devices can be cascaded to predict overall system
performance. If desired, H, Y, or Z-parameters can be derived from S-parameters. And
very important for RF design, S-parameters are easily imported and used for circuit
simulations in electronic-design automation (EDA) tools like Agilent's Advanced Design
System (ADS). S-parameters are the shared language between simulation and
measurement.
An N-port device has N
2
S-parameters. So, a two-port device has four S-parameters. The
numbering convention for S-parameters is that the first number following the "S" is the
port where the signal emerges, and the second number is the port where the signal is
applied. So, S21 is a measure of the signal coming out port 2 relative to the RF stimulus
entering port 1. When the numbers are the same (e.g., S11), it indicates a reflection
measurement, as the input and output ports are the same. The incident terms (a1, a2)
and output terms (b1, b2) represent voltage traveling waves.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Medida de parmetros S
S
11 =
Reflejada
Incident
=
b
1
a
1
a
2 = 0
S
21 =
Transmitida
Incident
=
b
2
a
1
a
2 = 0
S
22 =
Reflejada
Incident
=
b
2
a
2
a
1 = 0
S
12 =
Transmitida
Incident
=
b
1
a
2
a
1 = 0
Incident Transmitida
S
21
S
11
Reflejada
b
1
a
1
b
2
Z
0
Load
a
2 = 0
DUT
Directa
Incident Transmitida S 12
S 22
Reflejada
b
2
a
2
b
a
1 = 0
DUT
Z
0
Load
Inversa
1
Slide 28
S11 and S21 are determined by measuring the magnitude and phase of the incident,
reflected and transmitted voltage signals when the output is terminated in a perfect Zo (a
load that equals the characteristic impedance of the test system). This condition
guarantees that a
2
is zero, since there is no reflection from an ideal load. S11 is
equivalent to the input complex reflection coefficient or impedance of the DUT, and S21 is
the forward complex transmission coefficient. Likewise, by placing the source at port 2
and terminating port 1 in a perfect load (making a
1
zero), S22 and S12 measurements
can be made. S22 is equivalent to the output complex reflection coefficient or output
impedance of the DUT, and S12 is the reverse complex transmission coefficient.
The accuracy of S-parameter measurements depends greatly on how good a termination
we apply to the load port (the port not being stimulated). Anything other than a perfect
load will result in a
1
or a
2
not being zero (which violates the definition for S-parameters).
When the DUT is connected to the test ports of a network analyzer and we don't account
for imperfect test-port match, we have not done a very good job satisfying the condition of
a perfect termination. For this reason, two-port error correction, which corrects for source
and load match, is very important for accurate S-parameter measurements (two-port
correction is covered in the calibration section).
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Significado de los parmetros S
S11 = coeficiente de reflexin directo (entrada adap.)
S22 = coeficiente de reflexin inverso (salidas adap.)
S21 = coeficiente de transmisin directo (ganancia o
prdida)
S12 = coeficiente de transmisin inverso (aislamiento)
Parmetros S son magnitudes
complejas y lineales, sin embargo
se suelen expresar en forma
logartmica
Slide 29
S-parameters are essentially the same parameters as some of the terms we have
mentioned before, such as input match and insertion loss. It is important to separate the
fundamental definition of S-parameters and the format in which they are often displayed.
S-parameters are inherently complex, linear quantities. They are expressed as real-and-
imaginary or magnitude-and-phase pairs. However, it isn't always very useful to view
them as linear pairs. Often we want to look only at the magnitude of the S-parameter (for
example, when looking at insertion loss or input match), and often, a logarithmic display is
most useful. A log-magnitude format lets us see far more dynamic range than a linear
format.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Frecuencia
Frecuencia
Tiempo
Tiempo
Criterios para transmisin sin distorsin
Redes no lineales
! La saturacin, cruce,
intermodulaciones y otros efectos no
lineales pueden causar distorsiones
en la seal
! Los efectos sobre el sistema
dependen de la cantidad y tipo de
distorsin generada.
Slide 30
We have just seen how linear networks can cause distortion. Devices which behave
nonlinearly also introduce distortion. The example above shows an amplifier that is
overdriven, causing the signal at the output to "clip" due to saturation in the amplifier.
Because the output signal is no longer a pure sinusoid, harmonics are present at integer
multiples of the input frequency.
Passive devices can also exhibit nonlinear behavior at high power levels. A common
example is an L-C filter that uses inductors made with magnetic cores. Magnetic
materials often display hysteresis effects, which are highly nonlinear. Another example
are the connectors used in the antenna path of a cellular-phone base station. The metal-
to-metal contacts (especially if water and corrosion salts are present) combined with the
high-power transmitted signals can cause a diode effect to occur, producing very low-
level intermodulation products. Although the level of the intermodulation products is
usually quite small, they can be significant compared to the low signal strength of the
received signals, causing interference problems.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Medida del comportamiento no lineal
:Principales mtodos de medida
Mediante analizador de red y barrido
de potencia
compresin
Conversin de AM a PM
Mediante analizador de espectros
ms fuentes
armnicos
Productos de intermodulacin
RL 0 dBm ATTEN 10 dB 10 dB / DIV
CENTER 20.00000 MHz SPAN 10.00 kHz
RB 30 Hz VB 30 Hz ST 20 sec
LPF
8563A S PE CT RU M AN A LYZ ER 9 kH z - 26. 5 GHz
LPF
DUT
Slide 31
So far, we've focused most of our attention on linear swept-frequency characterization,
which is needed for both passive and active devices. We already know that nonlinear
behavior is important to quantify, as it can cause severe signal distortion. The most
common nonlinear measurements are gain compression and AM-to-PM conversion
(usually measured with network analyzers and power sweeps), and harmonic and
intermodulation distortion (usually measured with spectrum analyzers and signal
sources). We will cover swept-power measurements using a network analyzer in more
detail in the typical-measurements section of this presentation. The slide shows how
intermodulation distortion is typically measured using two signal sources and a spectrum
analyzer as a receiver.
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
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Tema adaptado de
Diferencias entre Analizador de red y
Analizador de espectro
.
R
e
l
a
c
i

n
d
e

A
m
p
l
i
t
u
d
Frequency
A
m
p
l
i
t
u
d
e
Frequency
8563ASP E CTR U M AN A LYZ ER 9 kH z - 26. 5 GHz
Mide
seales
conocidas
Mide seales
desconocidas
Analizador de red:
Mide componentes,
dispositivos,
circuitos, mdulos.
Contiene generador y
receptor
Muestra relaciones de fase y
amplitud
(barrido de frecuencia o
potencia)
Ofrece la posibilidad de
correccin de errores
Analizador de espectros:
Mide caractersticas de amplitud
de seal, nivel de portadora,
bandas laterales, armnicos...)
Puede demodular (& medir)
seales complejas
Es receptor solamente (un solo
canal)
Puede usarse para medida escalar
(no mide fase) con ayuda de un
generador de barrido iinterno o
externo
Slide 32
Now that we have seen some of the measurements that are commonly done with network
and spectrum analyzers, it might be helpful to review the main differences between these
instruments. Although they often both contain tuned receivers operating over similar
frequency ranges, they are optimized for very different measurement applications.
Network analyzers are used to measure components, devices, circuits, and sub-
assemblies. They contain both a source and multiple receivers, and generally display
ratioed amplitude and phase information (frequency or power sweeps). A network
analyzer is always looking at a known signal (in terms of frequency), since it is a stimulus-
response system. With network analyzers, it is harder to get an (accurate) trace on the
display, but very easy to interpret the results. With vector-error correction, network
analyzers provide much higher measurement accuracy than spectrum analyzers.
Spectrum analyzers are most often used to measure signal characteristics such as carrier
level, sidebands, harmonics, phase noise, etc., on unknown signals. They are most
commonly configured as a single-channel receiver, without a source. Because of the
flexibility needed to analyze signals, spectrum analyzers generally have a much wider
range of IF bandwidths available than most network analyzers. Spectrum analyzers are
often used with external sources for nonlinear stimulus/response testing. When combined
with a tracking generator, spectrum analyzers can be used for scalar component testing
(magnitude versus frequency, but no phase measurements). With spectrum analyzers, it
is easy to get a trace on the display, but interpreting the results can be much more
difficult than with a network analyzer.
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
2000
Tema adaptado de
ndice
1. Qu medidas se pueden
realizar?
2. Hardware del analizador de red
3. Modelos de error y calibracin
4. Ejemplos de medida
5. Apndice
Slide 33
In this next section, we will look at the main parts of a network analyzer.
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
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Tema adaptado de
Diagrama de bloques generalizado
de un analizador de red
RECEPTOR / DETECTOR
PROCESADOR / DISPLAY
REFLEJADA
(A)
TRANSMITIDA
(B)
INCIDENT
(R)
SEPARADOR
FUENTE
Incident
Reflejada
Transmitida
DUT
Slide 34
Here is a generalized block diagram of a network analyzer, showing the major signal-
processing sections. In order to measure the incident, reflected and transmitted signal,
four sections are required:
Source for stimulus
! Signal-separation devices
! Receivers that downconvert and detect the signals
! Processor/display for calculating and reviewing the results
We will briefly examine each of these sections. More detailed information about the signal
separation devices and receiver section are in the appendix.
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
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Tema adaptado de
Fuente
Produce los estmulos del
sistema
Barre en frecuencia o potencia
Tradicionalmente usa fuente
separada
Muchos la integran en el equipo
Slide 35
The signal source supplies the stimulus for our stimulus-response test system. We can
either sweep the frequency of the source or sweep its power level. Traditionally, network
analyzers used a separate source. These sources were either based on open-loop
voltage-controlled oscillators (VCOs) which were cheaper, or more expensive
synthesized sweepers which provided higher performance, especially for measuring
narrowband devices. Excessive phase noise on open-loop VCOs degrades measurement
accuracy considerably when measuring narrowband components over small frequency
spans. Most network analyzers that Agilent sells today have integrated, synthesized
sources, providing excellent frequency resolution and stability.
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
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Tema adaptado de
Separador
Test Port
Detector
Acoplador
direccional
separador
puente
! Mide seal incidente
! Separa seal incidente de reflejada
RECEIVER / DETECTOR
PROCESSOR / DISPLAY
REFLECTED
(A)
TRANSMITTED
(B) INCIDENT (R)
SIGNAL
SEPARATION
SOURCE
Incident
Reflected
Transmitted
DUT
Slide 36
The next major area we will cover is the signal separation block. The hardware used for
this function is generally called the "test set". The test set can be a separate box or
integrated within the network analyzer. There are two functions that our signal-separation
hardware must provide. The first is to measure a portion of the incident signal to provide a
reference for ratioing. This can be done with splitters or directional couplers. Splitters are
usually resistive. They are non-directional devices (more on directionality later) and can
be very broadband. The trade-off is that they usually have 6 dB or more of loss in each
arm. Directional couplers have very low insertion loss (through the main arm) and good
isolation and directivity. They are generally used in microwave network analyzers, but
their inherent high-pass response makes them unusable below 40 MHz or so.
The second function of the signal-splitting hardware is to separate the incident (forward)
and reflected (reverse) traveling waves at the input of our DUT. Again, couplers are ideal
in that they are directional, have low loss, and high reverse isolation. However, due to the
difficulty of making truly broadband couplers, bridges are often used instead. Bridges
work down to DC, but have more loss, resulting in less signal power delivered to the
DUT. See the appendix for a more complete description of how a directional bridge
works.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Directividad
La directividad es una medida de
cmo puede separarse la seal
reflejada de la incidente
Puerto de test
(seal indeseada) (Seal deseada)
Acoplador Direccional
Slide 37
Unfortunately, real signal-separation devices are never perfect. For example, let's take a
closer look at the actual performance of a 3-port directional coupler.
Ideally, a signal traveling in the coupler's reverse direction will not appear at all at the
coupled port. In reality, however, some energy does leak through to the coupled arm, as a
result of finite isolation.
One of the most important parameter for couplers is their directivity. Directivity is a
measure of a coupler's ability to separate signals flowing in opposite directions within the
coupler. It can be thought of as the dynamic range available for reflection measurements.
Directivity can be defined as:
Directivity (dB) = Isolation (dB) - Forward Coupling Factor (dB) - Loss (through-arm) (dB)
The appendix contains a slide showing how adding attenuation to the ports of a coupler
can affect the effective directivity of a system (such as a network analyzer) that uses a
directional coupler.
As we will see in the next slide, finite directivity adds error to our measured results.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Interaccin de la directividad con el
DUT (Sin correcin de errores)
Data Max
Suma en-fase
D
e
v
i
c
e
D
i
r
e
c
t
i
v
i
t
y
R
e
t
u
r
n

L
o
s
s
Frecuencia
0
30
60
DUT RL = 40 dB
Se suman fuera
de fase
(cancelacin)
D
e
v
i
c
e
Directivid.
Dato = Suma Vector.
D
i
r
e
c
t
i
v
i
d
.
D
e
v
i
c
e
Valor
Min.
Slide 38
Directivity error is the main reason we see a large ripple pattern in many measurements
of return loss. At the peaks of the ripple, directivity is adding in phase with the reflection
from the DUT. In some cases, directivity will cancel the DUT's reflection, resulting in a
sharp dip in the response.
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
2000
Tema adaptado de
Tipos de detectores
Receptor sintonizado
Escalar
(se pierde informacin
de fase)
Vectorial
(magnitud y fase)
Diodo
DC
AC
RF
IF Filter
IF = F
LO
F
RF
RF
LO
ADC / DSP
RECEIVER / DETECTOR
PROCESSOR / DISPLAY
REFLECTED
(A)
TRANSMITTED
(B) INCIDENT (R)
SIGNAL
SEPARATION
SOURCE
Incident
Reflected
Transmitted
DUT
Slide 39
The next portion of the network analyzer we'll look at is the signal-detection block. There
are two basic ways of providing signal detection in network analyzers. Diode detectors
convert the RF signal level to a proportional DC level. If the stimulus signal is amplitude
modulated, the diode strips the RF carrier from the modulation (this is called AC
detection). Diode detection is inherently scalar, as phase information of the RF carrier is
lost.
The tuned receiver uses a local oscillator (LO) to mix the RF down to a lower
"intermediate" frequency (IF). The LO is either locked to the RF or the IF signal so that
the receivers in the network analyzer are always tuned to the RF signal present at the
input. The IF signal is bandpass filtered, which narrows the receiver bandwidth and
greatly improves sensitivity and dynamic range. Modern analyzers use an analog-to-
digital converter (ADC) and digital-signal processing (DSP) to extract magnitude and
phase information from the IF signal. The tuned-receiver approach is used in vector
network analyzers and spectrum analyzers.
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
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Tema adaptado de
Diodo detector de banda ancha
Fcil de realizar banda ancha
Barato si se compara con el receptor sintonizado
Adecuado para medida de sistemas de traslacin en
frecuencia
Mejora en rango dinmico por incrementar los valores
de potencia
sensibilidad y rango dinmico no muy elevados
10 MHz 26.5 GHz
Slide 40
The two main advantages of diode detectors are that they provide broadband frequency
coverage ( < 10 MHz on the low end to > 26.5 GHz at the high end) and they are
inexpensive compared to a tuned receiver. Diode detectors provide medium sensitivity
and dynamic range: they can measure signals to -60 dBm or so and have a dynamic
range around 60 to 75 dB, depending on the detector type. Their broadband nature limits
their sensitivity and makes them sensitive to source harmonics and other spurious
signals. Dynamic range is improved in measurements by increasing input power.
AC detection eliminates the DC drift of the diode as an error source, resulting in more
accurate measurements. This scheme also reduces noise and other unwanted signals.
The major benefit of DC detection is that there is no modulation of the RF signal, which
can have adverse effects on the measurement of some devices. Examples include
amplifiers with AGC or large DC gain, and narrowband filters.
One application where broadband diode detectors are very useful is measuring
frequency-translating devices, particularly those with internal LOs.
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
2000
Tema adaptado de
Deteccin de banda estrecha $ Receptor
Mejor sensibilidad y rango dinmico
Mejor rechazo frente a armnicos y
seales espureas
Mejora de rango dinmico gracias a
aumento de potencia, disminucin
de ancho de banda o promediado
Bajo ruido de fondo y lenta velocidad
de medida
10 MHz
26.5 GHz
ADC / DSP
Slide 41
Tuned receivers provide the best sensitivity and dynamic range, and also provide
harmonic and spurious-signal rejection. The narrow IF filter produces a considerably
lower noise floor, resulting in a significant sensitivity improvement. For example, a
microwave vector network analyzer (using a tuned receiver) might have a 3 kHz IF
bandwidth, where a scalar analyzer's diode detector noise bandwidth might be 26.5 GHz.
Measurement dynamic range is improved with tuned receivers by increasing input power,
by decreasing IF bandwidth, or by averaging. The latter two techniques provide a trade off
between noise floor and measurement speed. Averaging reduces the noise floor of the
network analyzer (as opposed to just reducing the noise excursions as happens when
averaging spectrum analyzer data) because we are averaging complex data. Without
phase information, averaging does not improve analyzer sensitivity.
The same narrowband nature of tuned receivers that produces increased dynamic range
also eliminates harmonic and spurious responses. As was mentioned earlier, the RF
signal is downconverted and filtered before it is measured. The harmonics associated
with the source are also downconverted, but they appear at frequencies outside the IF
bandwidth and are therefore removed by filtering.
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
2000
Tema adaptado de
Comparacin de tcnicas de recepcin
< -100 dBm Sensibilidad
0 dB
-50 dB
-100 dB
0 dB
-50 dB
-100 dB
-60 dBm Sensibilidad
Diodo
Receptor
Ms alto ruido de
fondo
Respuestas falsas
Alto rango dinmico
Inmunidad a armnicos
Rango dinmico = mxima potencia ruido de
fondo
Slide 42
Dynamic range is generally defined as the maximum power the receiver can accurately
measure minus the receiver noise floor. There are many applications requiring large
dynamic range. One of the most common is measuring filter stopband performance. As
you can see here, at least 80 dB dynamic range is needed to properly characterize the
rejection characteristics of this filter. The plots show a typical narrowband filter measured
on an 8757 scalar network analyzer and on an 8510 vector network analyzer. Notice that
the filter exhibits 90 dB of rejection but the scalar analyzer is unable to measure it
because of its higher noise floor.
In the case where the scalar network analyzer was used with broadband diode detection,
a harmonic from the source created a "false" response. For example, at some point on a
broadband sweep, the second harmonic of the source might fall within the passband of
the filter. If this occurs, the detector will register a response, even though the stopband of
the filter is severely attenuating the frequency of the fundamental. This response from the
second harmonic would show on the display at the frequency of the fundamental. On the
tuned receiver, a false signal such as this would be filtered away and would not appear on
the display. Note that source subharmonics and spurious outputs can also cause false
display responses.
Tema 7. Analizadores de red
Copyright
2000
Tema adaptado de
Dynamic Range and Accuracy
Dynamic range
is very important
for measurement
accuracy!
Error Due to Interfering Signal
0,001
0,01
0,1
1
10
100
0 -5 -10 -15 -20 -25 -30 -35 -40 -45 -50 -55 -60 -65 -70
Interfering signal (dB)
phase error
magn error
+
-
Slide 43
This plot shows the effect that interfering signals (sinusoids or noise) have on
measurement accuracy. The magnitude error is calculated as 20*log [1 interfering-
signal] and the phase error is calculated as arc-tangent [interfering-signal], where the
interfering signal is expressed in linear terms. Note that a 0 dB interfering signal results in
(plus) 6 dB error when it adds in phase with the desired signal, and (negative) infinite
error when it cancels the desired signal.
To get low measurement uncertainty, more dynamic range is needed than the device
exhibits. For example, to get less than 0.1 dB magnitude error and less than 0.6 degree
phase error, our noise floor needs to be more than 39 dB below our measured power
levels (note that there are other sources of error besides noise that may limit
measurement accuracy). To achieve that level of accuracy while measuring 80 dB of
rejection would require 119 dB of dynamic range. One way to achieve this level is to
average test data using a tuned-receiver based network analyzer.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
T/R y parmetros S Test Sets
RF siempre sale de 1
puerto 2 siempre es
receptor
Calibracin un-puerto
RF sale de1 o de 2
Medida directa e inversa
Calibracin dos-puertos
Transmisin/Reflexin Test Set
Port 1 Port 2
Source
B
R
A
DUT Fwd
Port 1 Port 2
Transfer switch
Source
B
R
A
Parmetros S Test Set
DUT
Fwd Rev
Slide 44
There are two basic types of test sets that are used with network analyzers. For
transmission/reflection (T/R) test sets, the RF power always comes out of test port one
and test port two is always connected to a receiver in the analyzer. To measure reverse
transmission or output reflection of the DUT, we must disconnect it, turn it around, and re-
connect it to the analyzer. T/R-based network analyzers offer only response and one-port
calibrations, so measurement accuracy is not as good as that which can be achieved with
S-parameter test sets. However, T/R-based analyzers are more economical. For the
8712, 8753 and 8720 families, Agilent uses the ET suffix to denote a T/R analyzer, and
the ES suffix to denote an S-parameter analyzer.
S-parameter test sets allow both forward and reverse measurements on the DUT, which
are needed to characterize all four S-parameters. RF power can come out of either test
port one or two, and either test port can be connected to a receiver. S-parameter test sets
also allow full two-port (12-term) error correction, which is the most accurate form
available. S-parameter network analyzers provide more performance than T/R-based
analyzers, but cost more due to extra RF components in the test set.
There are two different types of transfer switches that can be used in an S-parameter test
set: solid-state and mechanical. Solid-state switches have the advantage of infinite
lifetimes (assuming they are not damaged by too much power from the DUT). However,
they are more lossy so they reduce the maximum output power of the network analyzer.
Mechanical switches have very low loss and therefore allow higher output powers. Their
main disadvantage is that eventually they wear out (after 5 million cycles or so). When
using a network analyzer with mechanical switches, measurements are generally done in
single-sweep mode, so the transfer switch is not continuously switching.
S-parameter test sets can have either a 3-receiver (shown on slide) or 4-receiver
architecture. The 8753 series and standard 8720 series analyzers have a 3-receiver
architecture. Option 400 adds a fourth receiver to 8720 series analyzers, to allow true
TRL calibration. The 8510C family uses a 4-receiver architecture. More detailed
Tema 7. Analizadores de red
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2000
Tema adaptado de
RECEIVER / DETECTOR
PROCESSOR / DISPLAY
REFLECTED
(A)
TRANSMITTED
(B)
INCIDENT
(R)
SIGNAL
SEPARATION
SOURCE
Incident
Reflected
Transmitted
DUT
Procesador / Display
marcadores
Lneas lmite
Indicacin
pasa/falla
Formato linear/log
grid/polar/carta
Smith
ACTIVE
CHANNEL
RESPONSE
STIMULUS
ENT RY
INSTRUMENT
STATE
RCHANNEL
R L T S
H P- I B S TAT US
NETWORK ANYZER
50 MH-20GHz
PORT 2 PORT 1
Slide 45
The last major block of hardware in the network analyzer is the display/processor section.
This is where the reflection and transmission data is formatted in ways that make it easy
to interpret the measurement results. Most network analyzers have similar features such
as linear and logarithmic sweeps, linear and log formats, polar plots, Smith charts, etc.
Other common features are trace markers, limit lines, and pass/fail testing. Many of
Agilent's network analyzers have specialized measurement features tailored to a
particular market or application. One example is the E5100A/B, which has features
specific to crystal-resonator manufacturers.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Medida automtica
Simple: recall states
Ms potente:
Test sequencing
Registro de secuencias
de test
Funciones avanzadas
IBASIC
programacin
Interface programado por
usuario
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ0123456789 + - / * = < > ( ) & "" " , . / ? ; : ' [ ]
1 ASSIGN @Hp8714 TO 800
2 OUTPUT @Hp8714;"SYST:PRES; *WAI"
3 OUTPUT @Hp8714;"ABOR;:INIT1:CONT OFF;*WAI"
4 OUTPUT @Hp8714;"DISP:ANN:FREQ1:MODE SSTOP"
5 OUTPUT @Hp8714;"DISP:ANN:FREQ1:MODE CSPAN"
6 OUTPUT @Hp8714;"SENS1:FREQ:CENT 175000000 HZ;*WAI"
7 OUTPUT @Hp8714;"ABOR;:INIT1:CONT OFF;:INIT1;*WAI"
8 OUTPUT @Hp8714;"DISP:WIND1:TRAC:Y:AUTO ONCE"
9 OUTPUT @Hp8714;"CALC1:MARK1 ON"
10 OUTPUT @Hp8714;"CALC1:MARK:FUNC BWID"
11 OUTPUT @Hp8714;"SENS2:STAT ON; *WAI"
12 OUTPUT @Hp8714;"SENS2:FUNC 'XFR:POW:RAT 1,0';DET NBAN; *WAI"
13 OUTPUT @Hp8714;"ABOR;:INIT1:CONT OFF;:INIT1;*WAI"
14 OUTPUT @Hp8714;"DISP:WIND2:TRAC:Y:AUTO ONCE"
15 OUTPUT @Hp8714;"ABOR;:INIT1:CONT ON;*WAI"
16 END
Slide 46
All of Agilent's network analyzers offer some form of internal measurement automation.
The most simple form is recall states. This is an easy way to set up the analyzer to a pre-
configured measurement state, with all of the necessary instrument parameters.
More powerful automation can be achieved with test sequencing or Instrument BASIC
(IBASIC). Test sequencing is available on the 8753/8720 families and provides keystroke
recording and some advanced functions. IBASIC is available on the 8712ET/ES series
and provides the user with sophisticated programs and custom user interfaces and
measurement personalities.
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Tema adaptado de
Agilent%s Series of HF Vector Analyzers
Microwave
RF
8510C series
110 GHz in
coax
highest
accuracy
modular,
flexible
pulse systems
Tx/Rx module
test
8720ET/ES series
13.5, 20, 40 GHz
economical
fast, small, integrated
test mixers, high-power
amps
8712ET/ES series
1.3, 3 GHz
low cost
narrowband and
broadband
detection
IBASIC / LAN
8753ET/ES
series
3, 6 GHz
highest RF
accuracy
flexible
hardware
more features
Offset and
harmonic RF
sweeps
Slide 47
Shown here is a summary of Agilent's high-frequency families of vector network
analyzers.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Agilent%s LF/RF Vector Analyzers
E5100A/B
180, 300 MHz
economical
fast, small
target markets: crystals, resonators, filters
equivalent-circuit models
evaporation-monitor-function option
4395A/4396B
500 MHz (4395A), 1.8 GHz (4396B)
impedance-measuring option
fast, FFT-based spectrum analysis
time-gated spectrum-analyzer option
IBASIC
standard test fixtures
LF
Combination NA / SA
Slide 48
Shown here is a summary of Agilent's low-frequency vector network analyzers and
combination network/spectrum analyzers.
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Tema adaptado de
Analizador de espectros / Generador de
Tracking
Tracking generator
RF in
TG out
f = IF
Spectrum analyzer
IF
LO
DUT
Diferencias respecto a analizadores de redes
Un canal -- no realiza ratio entre entrada y salida
Ms caro que un analizador de red escalar (pero mejor rango
dinmico)
Solo normalizacin
Menor precisin
Bajo incremento de coste si se dispone ya de un analizador de
seal
8563A S PE CT RU M AN A LYZ ER 9 kH z - 26. 5 GHz
DUT
Slide 49
If the main difference between spectrum and network analyzers is a source, why don't we
add a tracking generator (a source that tracks the tuned frequency of the spectrum
analyzer) to our spectrum analyzer . . . then is it a network analyzer? Well, sort of.
A spectrum analyzer with a tracking generator can make swept scalar-magnitude
measurements, but it is still a single-channel receiver. Therefore it cannot make ratioed or
phase measurements. Also, the only error correction available is normalization (and
possibly open-short averaging). The amplitude accuracy with a spectrum analyzer is
roughly an order of magnitude worse than on a scalar network analyzer (dB vs. tenths of
dB). Finally, a spectrum analyzer with a tracking generator costs more than a scalar
network analyzer with similar frequency range, but it may be a small incremental cost to
add a tracking generator if the spectrum analyzer is already needed for other spectrum-
related measurements.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Agenda
Porqu se necesita la correccin de error y la
calibracin
Es imposible hacer un hardware perpecto
Sera extraordinariamente caro hacer una hardware
con mnimo error
Correccin de errores es lo ms til
1. Qu medidas se pueden
realizar?
2. Hardware del analizador de
red
3. Modelos de error y calibracin
4. Ejemplos de medida
5. Apndice
Slide 50
In this next section, we will talk about the need for error correction and how it is
accomplished. Why do we even need error-correction and calibration? It is impossible to
make perfect hardware which obviously would not need any form of error correction.
Even making the hardware good enough to eliminate the need for error correction for
most devices would be extremely expensive. The best balance is to make the hardware
as good as practically possible, balancing performance and cost. Error correction is then
a very useful tool to improve measurement accuracy.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Modelo de error y calibracin
1. Qu medidas se pueden realizar?
2. Hardware del analizador de red
3. Modelos de error y calibracin
! Errores de medida
! Qu es una correccin de
medida vectorial
! Tipos de calibracin
! Precisin, ejemplos
! Consideraciones sobre
calibracin
4. Ejemplos de medida
5. Apndice
Slide 51
We will explain the sources of measurement error, how it can be corrected with
calibration, and give accuracy examples using different calibration types.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Errores sistemticos
Debido a imperfecciones en el
analizador y en el sistema de pruebas
Se supone que estos erorres son
independientes del tiempo
(predecibles)
Errores aleatorios
varian con el tiempo en forma
aleatoria (impredecibles)
Principales componentes: Ruido del
instrumento conmutacin y
repetibilidad de conectores y cables
Errores de deriva
Debido a cambios en las
caractersticas del sistema despus
de haberse realizado la calibracin
Fundamentalmente causado por la
variacin de la temperatura
Errores de medida
Measured
Data
Unknown
Device
SYSTEMATIC
RANDOM
DRIFT
Errors:
C
A
L
R
E
-
C
A
L
Slide 52
Let's look at the three basic sources of measurement error: systematic, random and drift.
Systematic errors are due to imperfections in the analyzer and test setup. They are
repeatable (and therefore predictable), and are assumed to be time invariant. Systematic
errors are characterized during the calibration process and mathematically removed
during measurements.
Random errors are unpredictable since they vary with time in a random fashion.
Therefore, they cannot be removed by calibration. The main contributors to random error
are instrument noise (source phase noise, sampler noise, IF noise).
Drift errors are due to the instrument or test-system performance changing after a
calibration has been done. Drift is primarily caused by temperature variation and it can be
removed by further calibration(s). The timeframe over which a calibration remains
accurate is dependent on the rate of drift that the test system undergoes in the user's test
environment. Providing a stable ambient temperature usually goes a long way towards
minimizing drift.
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Tema adaptado de
Medida de errores sistemticos
A B
Fuente
Mismatch
Carga
Mismatch
Crosstalk
Directividad
DUT
Respuesta en frecuencia
Barrido en reflexin (A/R)
Barrido en transmisin (B/R)
R
Seis trminos de error directo y seis inversos calculan
12 trminos de error para un dispositivo de dos puertos
Slide 53
Shown here are the major systematic errors associated with network measurements. The
errors relating to signal leakage are directivity and crosstalk. Errors related to signal
reflections are source and load match. The final class of errors are related to frequency
response of the receivers, and are called reflection and transmission tracking. The full
two-port error model includes all six of these terms for the forward direction and the same
six (with different data) in the reverse direction, for a total of twelve error terms. This is
why we often refer to two-port calibration as twelve-term error correction
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Tema adaptado de
Tipos de correccin de errores
respuesta (normalizacin)
simple de realizar
Slo corrige error de barrido
Almacena la curva de referencia en memoria y
realiza los clculos dividiendo por los datos
almacenados
vectorial
Necesita ms estndares
Necesita un analizador con capacidad de medida
de fase
Tiene en cuenta la mayor parte de los errores
sistemticos
S
11
m
S
11
a
SHORT
OPEN
LOAD
thru
thru
Slide 54
The two main types of error correction that can be done are response (normalization)
corrections and vector corrections. Response calibration is simple to perform, but only
corrects for a few of the twelve possible systematic error terms (the tracking terms).
Response calibration is essentially a normalized measurement where a reference trace is
stored in memory, and subsequent measurement data is divided by this memory trace. A
more advanced form of response calibration is open/short averaging for reflection
measurements using broadband diode detectors. In this case, two traces are averaged
together to derive the reference trace.
Vector-error correction requires an analyzer that can measure both magnitude and
phase. It also requires measurements of more calibration standards. Vector-error
correction can account for all the major sources of systematic error and can give very
accurate measurements.
Note that a response calibration can be performed on a vector network analyzer, in which
case we store a complex (vector) reference trace in memory, so that we can display
normalized magnitude or phase data. This is not the same as vector-error correction
however (and not as accurate), because we are not measuring and removing the
individual systematic errors, all of which are complex or vector quantities.
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Tema adaptado de
Qu es una correccin vectorial de errores?
Proceso para caracterizar los errores sistemticos
midiendo estndares conocidos y eliminando el
efecto que producen los errorres sobre medidas
sucesivas
Calibracin de 1-puerto (medidas de reflexin)
Medida de slo tres errores sistemticos
directividad, fuente match, and barrido de reflexin
Calibracin completa de 2-puertos (medidas de
reflexin y transmisin)
12 medidas de trminos de error sistemticos
usualmente requiere 12 medidas sobre cuatro
estndares conocidos (SOLT)
Los estndares se definen mediante un archivo de
definicin de kit de calibracin
VNA incluye este archivo
Slide 55
Vector-error correction is the process of characterizing systematic error terms by
measuring known calibration standards, and then removing the effects of these errors
from subsequent measurements.
One-port calibration is used for reflection measurements and can measure and remove
three systematic error terms (directivity, source match, and reflection tracking). Full two-
port calibration can be used for both reflection and transmission measurements, and all
twelve systematic error terms are measured and removed. Two-port calibration usually
requires twelve measurements on four known standards (short-open-load-through or
SOLT). Some standards are measured multiple times (e.g., the through standard is
usually measured four times). The standards themselves are defined in a cal-kit definition
file, which is stored in the network analyzer. Agilent network analyzers contain all of the
cal-kit definitions for our standard calibration kits. In order to make accurate
measurements, the cal-kit definition MUST MATCH THE ACTUAL CALIBRATION KIT
USED! If user-built calibration standards are used (during fixtured measurements for
example), then the user must characterize the calibration standards and enter the
information into a user cal-kit file. Sources of more information about this topic can be
found in the appendix.
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Tema adaptado de
Reflexin: Modelo 1-Puerto
E
D
= Directividad
E
RT
= Barrido en reflexin
E
S
= Match de fuente
S11
M
= Medido
S11
A
= Actual
se miden 3 estndades y
se generan 3 ecuaciones
con 3 incgnitas
S11
M
S11
A
E
S
E
RT
E
D
1
RF in
Adapt. de error
S11
M
S11
A
RF in Ideal
Si el DUT es de 2 puertos, se asume buena terminacin en el segundo
puerto
Si se usa el puerto 2 del NA y el aislamiento del DUT es bajo (ejem. Filtro
pasabanda o cables):
la suposicin de buena terminacin no es vlida y
la correccin de 2-puerto presenta mucho mejor resultado
S11M = ED + ERT
1 - ES S11A
S11A
Slide 56
Taking the simplest case of a one-port reflection measurement, we have three systematic
errors and one equation to solve in order to calculate the actual reflection coefficient from
the measured value. In order to do this, we must first calculate the individual error terms
contained in this equation. We do this by creating three more equations with three
unknowns each, and solving them simultaneously. The three equations come from
measuring three known calibration standards, for example, a short, an open, and a Zo
load. Solving the equations will yield the systematic error terms and allow us to derive the
actual reflection S-parameter of the device from our measurements.
When measuring reflection two-port devices, a one-port calibration assumes a good
termination at port two of the device. If this condition is met (by connecting a load
calibration standard for example), the one-port calibration is quite accurate. If port two of
the device is connected to the network analyzer and the reverse isolation of the DUT is
low (for example, filter passbands or cables), the assumption of a good load termination
is not valid. In these cases, two-port error correction provides more accurate
measurements. An example of a two-port device where load match is not important is an
amplifier. The reverse isolation of the amplifier allows one-port calibration to be used
effectively. An example of the measurement error that can occur when measuring a two-
port filter using a one-port calibration will be shown shortly.
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Antes y despus de una calibracin 1-puerto
Datos antes de calibrar
1-puerto
Datos despus de
calibrar 1-puerto
0
20
40
60
6000 12000
2.0
R
e
t
u
r
n

L
o
s
s

(
d
B
)
V
S
W
R
1.1
1.01
1.001
MHz
Slide 57
Shown here is a plot of reflection with and without one-port calibration. Without error
correction, we see the classic ripple pattern caused by the systematic errors interfering
with the measured signal. The error-corrected trace is much smoother and better
represents the device's actual reflection performance.
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Two-Port Error Correction
Each actual S-parameter is a
function of all four measured
S-parameters
Analyzer must make forward
and reverse sweep to update
any one S-parameter
Luckily, you don't need to know
these equations to use network
analyzers!!!
Port 1 Port 2 E
S11
S21
S12
S22
E
S
ED
ERT
E
TT
EL
a
1
b
1
A
A
A
A
X
a
2
b
2
Forward model
= fwd directivity
= fwd source match
= fwd reflection tracking
= fwd load match
= fwd transmission tracking
= fwd isolation
ES
ED
ERT
ETT
EL
EX
= rev reflection tracking
= rev transmission tracking
= rev directivity
= rev source match
= rev load match
= rev isolation
ES'
ED'
ERT'
ETT'
EL'
EX'
Port 1 Port 2
S11
S
S12
S22 ES'
ED'
ERT'
ETT'
EL'
a
1
b
1
A
A
A
EX'
21
A
a
2
b
2
Reverse model
S
a
S
m
E
D
E
RT
S
m
E
D
E
RT
E
S
E
L
S
m
E
X
E
TT
S
m
E
X
E
TT
S
m
E
D'
E
RT
E
S
S
m
E
D
E
RT
E
S
E
L
E
L
S
m
E
X
E
TT
S
m
E
X
E
TT
11
11
1
22 21 12
1
11
1
22 21 12
( )(
'
'
' ) ( )(
'
'
)
( )(
'
'
' ) ' ( )(
'
'
)
S
a
S
m
E
X
E
TT
S
m
E
D
E
RT
E
S
E
L
S
m
E
D
E
RT
E
S
S
m
E
D
E
RT
E
S
E
L
21
21 22
1
11
1
22
1 ( )(
'
'
( ' ))
( )(
'
'
' ) ' ( )(
'
'
) E
L
S
m
E
X
E
TT
S
m
E
X
E
TT
21 12
' S E S E
(
'
)( ( ' ))
( )(
'
'
' ) ' ( )(
'
'
)
m X
E
TT
m D
E
RT
E
S
E
L
S
m
E
D
E
RT
E
S
S
m
E
D
E
RT
E
S
E
L
E
L
S
m
E
X
E
TT
S
m
E
X
E
TT
S
a
12
1
11
1
11
1
22 21 12
12
(
'
'
)(
(
S
m
E
D
E
RT
S
m
E
D
E
RT
S
a
22
1
11
22
) ' ( )(
'
'
)
S
m
E
D
E
RT
E
S
E
L
S
m
E
X
E
TT
S
m
E
X
E
TT
11 21 12
E
S
S
m
E
D
E
RT
E
S
E
L
E
L
S
m
E
X
E
TT
S
m
E
X
E
TT
)(
'
'
' ) ' ( )(
'
'
) 1
22 21 12
1
Slide 58
Two-port error correction is the most accurate form of error correction since it accounts for
all of the majorsources of systematic error. The error model for a two-port device is shown
above. Shown below are the equations to derive the actual device S-parameters from the
measured S-parameters, once the systematic error terms have been characterized. Notice
that each actual S-parameter is a function of all four measured S-parameters. The network
analyzer must make a forward and reverse sweep to update any one S-parameter. Luckily,
you don't need to know these equations to use network analyzers!!!
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Tema adaptado de
Crosstalk: Prdida de seal entre puertos
durante transmisin
Crosstalk puede ser problema con:
Dispositivos de alto aislamiento (e.g.,conmutadores
en abierto)
Dispositivos de alto rango dinmico (algunos filtros
rechazo de banda)
Calibracin de Aislamiento
aade ruido al modelo de error (medida cerca del
ruido de fondo)
Se usa solo si es necesario (uso de promediado)
Si el crostalk es independiente del DUT
se usa dos terminaciones
Si es dependiente se usa una sola
terminacin
DUT
DUT
LOAD DUT LOAD
Slide 59
When performing a two-port calibration, the user has the option of omitting the part of the
calibration that characterizes crosstalk or isolation. The definition of crosstalk is the signal
leakage between test ports when no device is present. Crosstalk can be a problem with
high-isolation devices (e.g., switch in open position) and high-dynamic range devices
(some filter stopbands). The isolation calibration adds noise to the error model since we
usually are measuring near the noise floor of the system. For this reason, one should only
perform the isolation calibration if it is really needed. If the isolation portion of the
calibration is done, trace averaging should be used to ensure that the system crosstalk is
not obscured by noise. In some network analyzers, crosstalk can be minimized by using
the alternate sweep mode instead of the chop mode (the chop mode makes
measurements on both the reflection (A) and transmission (B) receivers at each
frequency point, whereas the alternate mode turns off the reflection receiver during the
transmission measurement).
The best way to perform an isolation calibration is by placing the devices that will be
measured on each test port of the network analyzer, with terminations on the other two
device ports. Using this technique, the network analyzer sees the same impedance
versus frequency during the isolation calibration as it will during subsequent
measurements of the DUT. If this method is impractical (in test fixtures, or if only one
DUT is available, for example), than placing a terminated DUT on the source port and a
termination on the load port of the network analyzer is the next best alternative (the DUT
and termination must be swapped for the reverse measurement). If no DUT is available or
if the DUT will be tuned (which will change its port matches), then terminations should be
placed on each network analyzer test port for the isolation calibration.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Errores y estndares de calibracin
Imprecisin
No se eliminan
erores
Fcil de realizar
Se usa cuando no
se requiere alta
precisin
Elimina los errores
de respuesta de
frecuencia
Para medidas de reflexin
Necesita buena
terminacin cuando se
calibran dispositivos de 2
puertos
Elimina errores de::
Directividad
Match de fuente
Barrido de reflexin
Mxima precisin
Elimina errores de:
Directividad
Fuente, carga
match
Barrido de
reflexin y
trnasmisin
Crosstalk
Sin correccin Respuesta 1-Puerto 2-puertos
DUT
DUT
DUT
DUT
thru
thru
Respuesta enriquecida
Combina respuesta y 1-puerto
Corrige match de fuente para medida de
trnasmisin
SHORT
OPEN
LOAD
SHORT
OPEN
LOAD
SHORT
OPEN
LOAD
Slide 60
A network analyzer can be used for uncorrected measurements, or with any one of a
number of calibration choices, including response calibrations and one- or two-port vector
calibrations. A summary of these calibrations is shown above. We will explore the
measurement uncertainties associated with the various calibration types in this section.
Tema 7. Analizadores de red
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Tema adaptado de
Tracking de transmisin
Crosstalk
Match de fuente
Match de carga
S-parameter
(two-port)
T/R
(response, isolation)
Transmisin
Test Set (cal type)
*
( )
Resumen de calibracin
Tracking Reflexin
Directividad
Match de fuente
Match de carga
S-parameter
(two-port)
T/R
(one-port)
Reflexin
Test Set (cal type)
error no se puede comp.
*
Respuesta enriquecida: Corrige
match de fuente para medida de
transmisin
error puede se compens.
SHORT
OPEN
LOAD
Slide 61
This summary shows which error terms are accounted for when using analyzers with T/R
test sets (models ending with ET) and S-parameter test sets (models ending with ES).
Notice that load match is the key error term than cannot be removed with a T/R-based
network analyzer.
The following examples show how measurement uncertainty can be estimated when
measuring two-port devices with a T/R-based network analyzer. We will also show how 2-
port error correction provides the least measurement uncertainty.
EMI. Introduccin
1
TEMA 8. EMI INTRODUCCIN
Introduccin............................................................................................................................ 1
Componentes ante una situacin de interferencia .................................................................. 1
Fuentes de Interferencias........................................................................................................ 2
Estimacin de la interferencia radiada o conducida............................................................... 3
Introduccin
El uso extenso de sistemas elctricos y
electrnicos que funcionan prximos a
otros dispositivos as como los avances en
sistemas de comunicaciones ha hecho
imprescindible el estudio de las
interferencias que estos sistemas
producen. Hoy en da, los dispositivos
electrnicos deben ser diseados no solo
para funcionar sino que adems deben
hacerlo ante un entorno de interferencias
y sin contribuir a que el nivel de
interferencia de dicho entorno aumente.
La interferencia electromagntica (EMI
acrnimo anglosajn que proviene de
Electromagnetic Interference) es un ruido
elctrico o radioelctrico que crea una
perturbacin o respuesta indeseada en un
sistema.
La compatibilidad electromagntica
(EMC acrnimo anglosajn que proviene
de Electro-Magnetic Compatibility) es la
aptitud de un dispositivo de no perturbar
su entorno o de no ser perturbado por
dicho entorno de forma intolerable.
La susceptibilidad electromagntica
(EMS acrnimo anglosajn que proviene
de Electro-Magnetic Susceptibility) es la
incapacidad de un sistema electrnico de
funcionar sin degradacin ante una
perturbacin EMI. El concepto contrario
es la Inmunidad.
Los sistemas deben disearse para
minimizar las emisiones y tambin para
ser inmunes ante estas.
Desgraciadamente, como nunca se sabe
qu tipo de interferencia se va a encontrar
esta ltima tarea resulta mucho ms
compleja.
Existen muchas tcnicas de reduccin de
EMI y es conveniente ponerlas en
prctica lo antes posible durante el
proceso de diseo. Si se hace al final,
cuando el diseo es definitivo el coste de
las soluciones se incrementa
sustancialmente. Adems, en estas fases
finales del diseo se deben aadir nuevos
elementos que aaden complejidad y
reducen la fiabilidad.
Qu herramientas se emplean para el
estudio de las interferencias?
Las principales herramientas de clculo
utilizan los principios del
electromagnetismo, basados en las
ecuaciones de Maxwell, y las tcnicas de
anlisis de seal. Sin embargo, refiriendo
esta teora a circuitos simples y sobre
todo en baja frecuencia, pueden hacerse
simplificaciones basadas en la teora de
circuitos, que pueden emplearse con gran
aproximacin. Desafortunadamente, un
estudio detallado de la EMI da lugar a un
gran nmero de casos especiales que no
se corresponden con el comportamiento
normal desde el punto de vista de la teora
de circuitos. Esto hace que se tenga que
retornar con gran frecuencia a los
principios del electromagnetismo para
resolver estos problemas.
Componentes ante una
situacin de interferencia
Para que exista un problema de
EMI. Introduccin
2
interferencia deben existir al menos tres
elementos: la fuente o culpable de dichas
interferencias, el camino de propagacin
y el receptor o victima.
Las perturbaciones pueden ser conducidas
o radiadas. Se dice que son conducidas si
se propagan a travs de materiales
conductores o guas (cables de
alimentacin o de seal). Se miden en
voltios o amperios aunque se prefiere
expresar dichas unidades en dB V. Las
interferencias son radiadas si se propagan
a travs del aire. En dicho caso, las
unidades utilizadas para su medida son
V/m y A/m, las cuales se expresan
habitualmente en dB V/m o dB A/m.
Las interferencias radiadas pueden ser, a
su vez, de campo lejano o de campo
prximo. Las de campo prximo se
clasifican en capacitiva e inductiva.
Las caractersticas del campo generado
por una fuente de interferencia dependen
de la naturaleza de dicha fuente, de la
frecuencia y la distancia al receptor.
El espacio que rodea a una fuente de
interferencia puede dividirse en dos
regiones. Distancia menor de que se
denomina regin de campo cercano, y
distancia mayor de que se denomina
regin de campo lejano. Donde es la
longitud de la onda que, para el caso de
propagacin a travs del aire, puede
determinarse por
Hz
s
m
f
c
m
8
10 997925 . 2
Aproximadamente
) (
300
MHz f f
c
Para el caso de campo lejano, la
impedancia de la onda toma el valor de la
impedancia del medio que si es aire, vale
Z
0
=377
Para el caso de campo cercano se
distinguen dos casos: campos
predominantemente elctricos y campos
predominantemente magnticos, E 1/d
3
y
H /d
2
en cuyo caso, la impedancia de la
onda es Z
0
1/d y para campos
predominantemente magnticos E 1/d
2
y
H /d
3
y la impedancia de la onda es
Z
0
d
Fuentes de Interferencias
Las interferencias pueden ser de origen
externo o interno.
Las de origen interno se les denomina
ruido intrnseco. Ruido trmico, ruido
Shot, ruido de contacto.
Las fuentes de interferencia se clasifican
en artificiales y naturales.
Artificiales pueden ser intencionadas o no
intencionadas.
Intencionadas:
Electrnica de
Comunicaciones.
No intencionadas:
Energa Elctrica.
Herramientas y mquinas.
Sistemas de Encendido.
Industria y Consumo.
Naturales
Terrestres: Descargas
electrostticas (ESD), rayos.
Extraterrestres: Sol, ruidos
galcticos, rayos csmicos.
Las perturbaciones se manifiestan
generalmente en forma pulsada. Se
consideran:
Continuas: Cuando los
EMI. Introduccin
3
impulsos son de una
duracin mayor de 200 ms.
Discontinuas: Con pulsos
menores de 200 ms. Estas
pueden ser simples cuando
estn separados a intervalos
mayores de 200ms y
mltiples con una separacin
entre pulsos menor de 200
ms.
Estimacin de la interferencia
A partir de la expresin temporal de estos
pulsos, se puede determinar la respuesta
en frecuencia. Algunos ejemplos de la
interferencia y su correspondiente
espectro se muestran en la figura 1.
Figura 1. Ejemplos de distintos espectros
EMI. Introduccin
2
Figura 2 Estimacin grfica de la intensidad de campo elctrico emitido por un cable.
Es interesante hacer notar cmo el
espectro de una onda trapezoidal queda
muy reducido a frecuencias mayores de
f
2
=1/
r
, siendo
r
el tiempo de subida.
Este hecho permite concluir que un buen
mtodo que permite reducir interferencias
desde el origen es, impidiendo
variaciones bruscas en las formas de onda
de las fuentes generadoras.
Referencias:
[1] Henry W. Ott, Noise Reduction
Techniqaues in Electronic Systems!. John
Willey & Sons, Inc. 1988
[2] D. Motchenbacher y J.A. Connelly,
Low-Noise Electronic System Design!.
John Willey & Sons, Inc. 1993.
[3] Alain Charoy, Parsitos y
perturbaciones en electrnica, Paraninfo,
1996.
[4] Josep Balcells, Francesc Daura,
Rafael Esparza, Ramn Palls,
"Interferencias Electromagnticas en
sistemas electrnicos". Serie Mundo
Electrnico, Ed. Marcombo 1992.
[5] Paul, C., Introduction to
Electromagnetic Compatibility, John
Wiley & Sons, 1992.
[6] Kennedy, G., Electronic
Communications Systems, McGraw-Hill,
1970.
[7] Ott, H. W., Noise Reduction
Techniques in Electronic Systems, John
Wiley & Sons,
second edition, 1988.
EMI. Sistemas de medida.
1
TEMA 9. EMI. SISTEMAS DE MEDIDA.
Introduccin ..................................................................................................................................1
Ensayos de emisin radioelctrica ................................................................................................2
Ensayo de emisin radiada........................................................................................................2
Ensayo de emisin conducida ...................................................................................................4
Ensayos de inmunidad...................................................................................................................5
Inmunidad radiada.....................................................................................................................5
Inmunidad conducida. Descargas electrostticas......................................................................6
Inmunidad conducida. Transitorios...........................................................................................6
Inmunidad frente a campos magnticos ....................................................................................6
Medida de SAR.............................................................................................................................8
Introduccin
Las medidas de interferencias se realizan
por dos razones fundamentales: para
verificar y depurar los diseos, y para
comprobar mediante ensayos el
cumplimiento de las normativas
internacionales en relacin con dichas
interferencias.
Muchos de los equipos que se usan para
realizar y calibrar los diferentes ensayos son
equipos de propsito general, analizadores
de espectros, antenas, sondas de campo, etc.
Estos, adems de utilizarse para realizar los
ensayos, pueden servir depurar los
prototipos.
Los ensayos de interferencia se regulan
mediante organismos internacionales.
Concretamente en Europa existe el Comit
Europeo de Normalizacin Electrotcnica
CENELEC que se encarga de esa misin.
Este comit se inspira en normas de
organismos internacionales y adopta
habitualmente las recomendaciones del
Comit Internacional de Perturbaciones
Radioelctricas CISPR de la IEEE. Muchas
de las normas generadas por dicho comit se
adoptan con las debidas modificaciones por
CENELEC y se reescriben en versin oficial
en los idiomas de los distintos pases. Estas
van precedidas por las siglas del comit de
normalizacin correspondiente a cada
nacin. Por ejemplo, la norma genrica de
emisin Norma Internacional CEI 61000-6-
3 es adoptada como Norma Europea EN
61000-6-3, y se traduce en versin oficial
con el nombre UNE-EN 61000-6-3 en
Espaa o VDE EN 61000-6-3 en Alemania.
Existen dos grupos de normas
fundamentales: normas de emisin y
normas de inmunidad o susceptibilidad.
A su vez, las normas de emisin se dividen
en perturbaciones radioelctricas, armnicos
y fluctuaciones de tensin.
Las normas referentes a perturbaciones
radioelctricas abarcan todas las
interferencias que un dispositivo es capaz de
enviar hacia el exterior, tanto a nivel radiado
como conducido por sus cables de
alimentacin o seal. El rango de frecuencia
que se analiza en interferencia conducida es
de 9kHz a 30MHz, y para radiada es de
30MHz a 1000MHz.
Las normas relativas a armnicos analizan
el espectro de tensin y corriente de la
alimentacin del equipo en baja frecuencia.
Determinan el grado de distorsin que el
equipo introduce en la alimentacin.
Las normas relativas a las fluctuaciones de
tensin o Flicker determinan las
variaciones de tensin que un equipo
produce en la red de alimentacin,
fundamentalmente debido a las variaciones
de carga.
Mediante los ensayos de inmunidad se
prueba si el dispositivo soporta
Eduardo Galvn Dez.
Profesor Titular del Departamento de Ingeniera Electrnica
de la Universidad de Sevilla.
e-mail: galvan@gte.esi.us.es
EMI. Sistemas de medida.
2
determinadas acciones externas, como por
ejemplo campos magnticos,
electromagnticos, fluctuaciones de tensin,
etc.
Las normas contemplan distintos
mecanismos de acoplamiento, que pueden
ser conducidos o radiados. Estos
acoplamientos se realizan a travs de puntos
de conexin al dispositivo o acceso como se
muestra en la Figura 1. El acceso segn la
norma es la interconexin particular del
dispositivo con el entorno electromagntico.
El acceso al DUT puede realizarse por
distintos puntos, como el acceso por la
alimentacin tanto de continua como de
alterna, por los bornes de seal y control,
por el borne de tierra, y por el propio chasis
o envolvente. A este ltimo se le denomina
acceso por la envolvente que se define
como la frontera fsica del aparato a travs
del cual los campos electromagnticos
pueden radiar o con el que pueden chocar.
APARATO
Acceso por la
envolvente
Acceso por la
alimentacin de
corriente alterna
Acceso por la
alimentacin de
corriente continua
Acceso por el
borne de tierra
Acceso por los
bornes de seales y
de control
Figura 1. Acceso al dispositivo bajo prueba
en un ensayo de interferencia segn la
normativa.
La norma define unos lmites para cada
acceso y para distintas gamas de
frecuencias. Adems, por regla general,
hacen referencia a normas bsicas anteriores
o de referencia que an siguen en vigor y
que definen de forma exhaustiva las
caractersticas de los sistemas de ensayo.
Existen dos normas recopilatorias que cubre
los ensayos genricos de emisin.
La norma genrica de emisin en entornos
residenciales, comerciales y de industria
ligera UNE-EN 61000-6-3, que usa la tabla
1 como resumen completo de la norma, y la
UNE-EN 61000-6-4, aplicable a entornos
industriales. Esta ltima utiliza una tabla
similar a la anterior pero con la diferencia
de que se aumentan los niveles permitidos
desde el punto de vista de interferencia
conducida. La distancia de medida radiada
pasa a realizarse a 30m de distancia desde el
dispositivo, al sistema de medida. Adems,
solo se tiene en cuenta la envolvente y la
alimentacin de corriente alterna, siendo la
norma bsica o de referencia la normativa
CISPR 11 en vez de la CISPR 22.
En los siguientes apartados se analizar en
mayor detalle el origen del problema y en
qu consisten los distintos ensayos que se
deben realizar. Los apartados se dividen en
ensayos de emisin radioelctrica y ensayos
de inmunidad.
Ensayos de emisin
radioelctrica
Estos ensayos consisten en medir los niveles
de emisin de los dispositivos bajo prueba y
verificar en los peores casos si dichos
niveles superan determinados valores.
En este apartado se estudiarn los ensayos
de emisin tanto a nivel radiado como
conducido.
Ensayo de emisin radiada
En este ensayo se mide, mediante una
antena receptora de banda ancha, la
radiacin producida por el DUT a una
distancia de 3m (esta distancia puede ser
diferente segn la normativa aplicada).
Como se observa en la Figura 2, el DUT se
coloca sobre una mesa rotatoria y en un
plano de masa. La antena de medida se
instala sobre un mstil cuya altura es
regulable. Esto permite medir la radiacin
del equipo en prcticamente todas las
direcciones. Por tanto, el ensayo consiste en
verificar la mxima radiacin emitida por el
equipo bajo pruebas.
Estos ensayos pueden realizarse en campo
abierto, aunque la mayora se realizan en el
interior de una cmara denominada
semianecoica. Tambin hay normas que
permiten realizar medidas mediante antenas
de cuadro para EUT de pequeas
dimensiones. Este ensayo se muestra en la
Figura 3.
EMI. Sistemas de medida.
3
Acceso Gama de frecuencias Lmites Norma bsica Nota para
la
aplicacin
Observaciones
Envolvente 30MHz a 230MHz
230MHz a 1GHz
30dBuV/m a10m
37dBuV/m a10m
CISPR 22,
Clase B
Nota 1
0kHz a 2kHz Segn normas bsica CEI 61000-3-2
CEI 61000-3-3
Nota 2 Armnoicos y
flicker

0.15MHz a 0.5MHz
Lmite que decrece
linealmente con el
logaritmo de la frecuencia
66 a 56 dBuV
en cuasipico
56 a 46 dBuV
en valor medio

0.5MHz a 5MHz 56 cp 46 vm
5MHz a 30MHz 60 cp 50 vm
Alimentacin con
corriente alterna
0.15MHz a 0.5MHz Segn norma bsica
perturbaciones
discontinuas
CISPR 14
0.15MHz a 0.5MHz
Lmite que decrece
linealmente con el
logaritmo de la frecuencia
40 a 30 dBuV
en cuasipico
30 a 20 dBuV
en valor medio
CISPR 22,
Clase B
Medida con
sonda de
corriente
Seales de control,
entradas, salidas
CC y otras
0.5MHz a 30MHz 30 en valor cuasipico
20 dBuV en valor
medio

Nota 1: Aplicable nicamente a los aparatos que contienen dispositivos de tratamiento de datos
que funcionan a frecuencias superiores de 9kHz.
Nota 2: Aplicable a los aparatos correspondientes a la norma.
RECEPTOR DE
CERTIFICACION
ANTENA DE
BANDA
ANCHA
26MHz-2GHz
MSTIL DE
ANTENAS
EUT
MESA
ROTATORIA
Figura 2. Ensayo de emisin radiada.
EUT
ANTENA DE CUADRO
DE DIAMETRO2m
EUT EUT EUT
ANTENA DE CUADRO
DE DIAMETRO2m
8563A S P EC T R U M A N AL Y Z ER 9 k H z - 2 6 .5 GHz 8563A S P EC T R U M A N AL Y Z ER 9 k H z - 2 6 .5 GHz 8563A S P EC T R U M A N AL Y Z ER 9 k H z - 2 6 .5 GHz
Figura 3. Ensayo de emisin con antena de
cuadro.
En la Figura 4 se muestra la disposicin de
los elementos durante dicho ensayo en el
interior de una cmara semianecoica.
El equipamiento bsico necesario para
realizar estos ensayos consiste en: una
cmara semianecoica con mesa rotatoria, un
mstil de antenas con controlador de mstil
y mesa y una antena receptora.
EMISINRADIADA EN-61000-6-3
ANTENA DE
BANDA ANCHA
26MHz-2GHz
EUT
856 3A S PE C TR U M A NA L YZ E R 9 kH z - 2 6.5 GH z 856 3A S PE C TR U M A NA L YZ E R 9 kH z - 2 6.5 GH z 856 3A S PE C TR U M A NA L YZ E R 9 kH z - 2 6.5 GH z
Figura 4. Emisin radiada en el interior de
una cmara anecoica.
La cmara semianecoica [5] consiste en un
recinto apantallado cubierto internamente,
paredes y techo, por un material absorbente
a la radiacin electromagntica. Esta cmara
tiene la misin de evitar que la radiacin
salga hacia el exterior, y adems evita que
penetre radiacin externa que pueda
EMI. Sistemas de medida.
4
perturbar el ensayo. La instalacin de
material absorbente en su interior permite
hacer que dicha cmara se comporte igual
que un campo abierto. En este sentido,
existen pruebas que verifican cuanto se
parece la cmara a un campo abierto. Con
ellas se compara la respuesta de dos antenas
gemelas calibradas con un analizador de
redes en campo abierto y se vuelve a medir
en el interior de la cmara. A la mxima
desviacin entre unas curvas y otras se le
denomina NSA, admitindose un mximo
de 5dB.
Los materiales que se usan como
absorbentes son: pirmides de espuma
cubiertas de material absorbente o losetas de
ferrita. Estas ltimas se usan para baja
frecuencia hasta 1GHz y evitan el uso de
pirmides de grandes dimensiones.
Las antenas ms empleadas son las
logoperidicas, ya que cubren prcticamente
todo el rango de ensayo evitando tener que
cambiar de antena durante el ensayo. Otras
antenas que se usan en estos ensayos son la
bicnica y el dipolo como se muestra en la
Figura 5.
Figura 5. Antena bicnica, dipolo y
logoperidica.
Estos ensayos hacen uso de equipos de
medida en el dominio de la frecuencia. Esta
funcin es realizada por el analizador de
espectros, aunque se prefiere el uso de un
receptor que normalmente es del tipo
heterodino. Un receptor EMI es bsicamente
un analizador de onda heterodino. Un
esquema simplificado del receptor se
muestra en la Figura 6.
Figura 6. Receptor de interferencias.
El sistema de medida de interferencias
consta de un transductor, la antena, que
convierte la interferencia en seales de
tensin que se envan al receptor. El
receptor est constituido por un elemento
detector, un filtro pasabanda y un indicador.
Por simplicidad, no se ha representado la
estructura completa que incluira todo el
proceso de mezcla heterodina.
El detector puede ser: de pico, cuasipico,
valor medio y RMS real. La estructura de
estos detectores se muestra en la Figura 7.
(a)
(b)
(c)
(d)
Figura 7. Detectores. (a) pico, (b) cuasipico,
(c) valor medio, (d) RMS real
termodetector.
Actualmente se emplea el detector pico y
cuasipico. ste ltimo presenta una
constante de tiempo de carga del
condensador distinta de la de descarga. La
tendencia es emplear detectores de valor
medio o RMS que determina mejor los
niveles de interferencia de las seales
pulsadas y consigue medir con buena
precisin a altas frecuencias.
Ensayo de emisin conducida
Con este ensayo se pretende medir la
interferencia que circula por los cables de
alimentacin (tanto de tensin alterna como
continua), los de seal y el cable de tierra
que conectan el equipo con el exterior.
Estos ensayos consisten en conectar el
dispositivo bajo prueba a la red elctrica o a
cualquier otro equipo externo (para el caso
de medir la interferencia por cables de
control se conecta al equipo correspondiente
EMI. Sistemas de medida.
5
con dichos cables y se mide sobre ellos) a
travs de una red de adaptacin de
impedancia de lnea (LISN), tal como se
muestra en la Figura 8.
EUT
50/60Hz
EMI
50/60Hz
EMI
EUT
LISN
50/60Hz 50/60Hz
EMI EMI
50/60Hz 50/60Hz
EMI EMI
8563A SPECT RUMANALYZER 9kHz - 26.5 GHz 8563A SPECT RUMANALYZER 9kHz - 26.5 GHz 8563A SPECT RUMANALYZER 9kHz - 26.5 GHz
Figura 8. Ensayo de emisin conducida.
La LISN incluye dos mdulos principales,
como se muestra en la Figura 9: un elemento
de adaptacin que permite canalizar la
interferencia hacia el receptor y un mdulo
de filtrado que evita que la interferencia
salga o entre de la red elctrica.
En la Figura 9 puede observarse con ms
detalle como se construye fsicamente esta
red. Los elementos empleados para realizar
las funciones anteriormente descritas son
elementos pasivos, bobinas, condensadores
y resistencias.
DUT
FILTRADO
ADAPTACIN
Figura 9. Red de estabilizacin de
impedancia de lnea (LISN)
Los cables de alimentacin pueden ser
monofsicos con tres cables (fase, neutro,
tierra) o trifsicos con 5 cables (3 fases ms
neutro y tierra) como se muestra en las
figuras 10 y 11 respectivamente.
En la Figura 12 se muestra el caso de cables
de seal.
Ensayos de inmunidad
Los ensayos de inmunidad tambin se
dividen en inmunidad radiada e inmunidad
conducida.
RECEPTOR DE
CERTIFICACION EMI
EUT
CONTROL DE
LINEA A MEDIR
LISN
50/60Hz
EMI
50/60Hz
EMI
RECEPTOR DE
CERTIFICACION EMI
EUT
CONTROL DE
LINEA A MEDIR
LISN
50/60Hz 50/60Hz
EMI EMI
50/60Hz 50/60Hz
EMI EMI
Figura 10. Ensayo de emisin de
interferencia conducida para equipos
monofsicos.
RECEPTOR DE
CERTIFICACION EMI
PMM 9000
CONTROL DE
LINEA A MEDIR
LISN PMML3 32
50/60Hz 50/60Hz
EMI EMI
50/60Hz 50/60Hz
EMI EMI
EUT
Figura 11. Ensayo de emisin de
interferencia conducida para equipos
trifsicos.
RECEPTOR DE
CERTIFICACION EMI
EUT
CONTROL DE
MODO A MEDIR
(simtrico/asimtrico)
LISN PMM L2 D
Seal datos Seal datos
EMI EMI
Seal datos Seal datos
EMI EMI
Easym
Esym
Figura 12. Ensayo de emisin de
interferencia conducida para cables de seal.
Inmunidad radiada
Los ensayos que se realizan se representan
de forma grfica en la Figura 13 y Figura
14. En una primera medida es necesario
calibrar el sistema de ensayo. Este proceso
permite garantizar la condicin de
uniformidad de campo. Para ello se utiliza la
sonda isotrpica y el medidor de campo,
realizndose un proceso de medida en un
plano para determinar si el campo es
uniforme en dicho plano, como se observa
en la Figura 13.
EMI. Sistemas de medida.
6
GENERADOR DE
SEAL
INMUNIDAD RADIADA EN-61000-4-3 CALIBRACION
ANTENA DE
BANDA ANCHA
26MHz-2GHz
AMPLIFICADOR
KALMUS
AMPLIFICADOR
SONDA
ISOTROPICA
100KHz-1,5GHz
MEDIDOR de
CAMPO
Figura 13. Ensayo de inmunidad radiada.
Calibracin.
GENERADOR DE
SEAL
INMUNIDADRADIADA EN-61000-4-3 CALIBRACION
ANTENA DE
BANDA ANCHA
26MHz-2GHz
AMPLIFICADOR
KALMUS
AMPLIFICADOR
EUT
Figura 14. Ensayo de inmunidad radiada.
Una vez terminado el proceso de
calibracin, se realiza el proceso de medida.
Mediante la antena, se inyecta el campo
electromagntico con los niveles que las
normas establecen y que se extienden en
frecuencias hasta varios GHz. Las ltimas
revisiones de UNE-EN 61000-4-3
contemplan la necesidad de probar los
equipos a frecuencias superiores a 1 GHz
debido a la mayor presencia de radiaciones
de frecuencias superiores (por ejemplo
telefona mvil). Debido a que los niveles
de campo deben ser suficientemente
elevados se emplean amplificadores de RF
para garantizar estos niveles de intensidad
de campo.
El equipamiento necesario para realizar
estos ensayos de inmunidad radiada ser,
por tanto: un generador de seal, un
amplificador de banda ancha y gran
potencia, un acoplador direccional, una
sonda isotrpica, un medidor de potencia,
antena y medidor de campo
electromagntico.
Inmunidad conducida. Descargas
electrostticas
En la Figura 15 se representa el ensayo de
descarga electrosttica. El ensayo consiste
en la generacin de una descarga sobre el
DUT mediante el uso de una pistola de
descarga. El EUT se coloca sobre una mesa
que se conecta al plano de tierra mediante
una impedancia normalizada.
EMTEST ESA 30
EMTEST PRT
EMTEST VCP
EMTEST ESD30
GENERADOR DE
DESCARGAS
EUT
PISTOLA DE DESCARGAS:
EMTEST P18 CON PUNTAS INTERCAMBIABLES
EMTEST M AD Y RSI para
descargas por aire y por contacto
PLANO DE TIERRA
Figura 15. Sistema de ensayo de descargas
electrostticas.
Inmunidad conducida. Transitorios
En las figuras 16 y17 se muestran los
ensayos que pueden realizarse con un
simulador de red de alimentacin. Este
sistema permite la generacin de ondas de
choque (SURGES), transitorios (EFT) y
simulacin de fallos de alimentacin. La
generacin de tensin variable se realiza a la
salida del simulador de fallos de
alimentacin mediante un VARIAC que es
un trasformador de tensin variable
controlado desde el propio sistema.
Inmunidad frente a campos
magnticos
Este mismo equipo, junto con el
transformador variable, se usa para la
realizacin del ensayo de inmunidad frente a
campos magnticos a frecuencia industrial
segn la norma 61000-4-8, como se muestra
en la Figura 18, y campos magnticos
pulsados, como se muestra en la Figura 19.
EMI. Sistemas de medida.
7
INMUNIDAD A TRANSITORIOS RAPIDOS EN 61000-4-4
lneas de alimentacin monofsica
SIMULADOR ULTRACOMPACTO
EMTEST UCS500 M/4
WINCOM
SOFTWARE
WINCOM
SOFTWARE
Generador
Transitorios
EFT
Generador
Transitorios
EFT
EUT
CDN
Interna
INMUNIDAD A TRANSITORIOS RAPIDOS EN 61000-4-4
lneas de alimentacin trifsica
SIMULADOR ULTRACOMPACTO
EMTEST UCS500 M/4
Generador
Transitorios
EFT
Generador
Transitorios
EFT
EUT
CDN Trifsica
EMTEST CNI 503 16 A
WINCOM
SOFTWARE
WINCOM
SOFTWARE
INMUNIDAD A TRANSITORIOS RAPIDOS EN 61000-4-4
lneas de control o de datos
SIMULADOR ULTRACOMPACTO
EMTEST UCS500 M/4
Generador
Transitorios
EFT
Generador
Transitorios
EFT
EUT
PINZA DE ACOPLOCAPACITOVO
EMTEST HFK
WINCOM
SOFTWARE
WINCOM
SOFTWARE
INMUNIDAD A ONDAS DE CHOQUE EN 61000-4-5
lneas de alimentacin monofsica
SIMULADOR ULTRACOMPACTO
EMTEST UCS500 M/4
Generador
Ondas de
Choque
SURGES
Generador
Ondas de
Choque
SURGES
CDN EUT
WINCOM
SOFTWARE
WINCOM
SOFTWARE
INMUNIDAD A ONDAS DE CHOQUE EN 61000-4-5
lneas de alimentacin trifsica
SIMULADOR ULTRACOMPACTO
EMTEST UCS500 M/4
Generador
Ondas de
Choque
SURGES
Generador
Ondas de
Choque
SURGES
CDN Trifsica
EMTEST CNI 503 16 A
EUT
WINCOM
SOFTWARE
WINCOM
SOFTWARE
INMUNIDAD A ONDAS DE CHOQUE EN 61000-4-5
lneas de control o de datos
SIMULADOR ULTRACOMPACTO
EMTEST UCS500 M/4
Generador
Ondas de
Choque
SURGES
Generador
Ondas de
Choque
SURGES
RED DE ACOPLO
lneas de control o de datos
EMTEST CNV 504
EUT
WINCOM
SOFTWARE
WINCOM
SOFTWARE
LINEAS DE CONTROL ODATOS
Figura 16. Inmunidad a transitorios, ondas de choque.
EMI. Sistemas de medida.
8
INMUNIDAD A INTERRUPCIONES Y VARIACIONES DE LA TENSION
DE ALIMENTACION EN 61000-4-11
alimentacin monofsica
SIMULADOR ULTRACOMPACTO
EMTEST UCS500 M/4
Simulador
de fallos de
Alimentacin
Simulador
de fallos de
Alimentacin
WINCOM
SOFTWARE
WINCOM
SOFTWARE
0-260V
M
VARIAC
EMTEST MV 2616
0-260V
M
VARIAC
EMTEST MV 2616
EUT
Figura 17. Inmunidad a interrupcin de la
fuente de alimentacin.
INMUNIDAD CAMPOS MAGNETICOS A FRECUENCIA INDUSTRIAL EN 61000-4-8
SIMULADOR ULTRACOMPACTO
EMTEST UCS500 M/4
Simulador
de fallos de
Alimentacin
Simulador
de fallos de
Alimentacin
WINCOM
SOFTWARE
WINCOM
SOFTWARE
0-260V
M
VARIAC
EMTEST MV 2616
0-260V
M
VARIAC
EMTEST MV 2616
TRANSFORMADOR
DE CORRIENTE
EMTEST MC2630
EUT
ANTENA DE LAZO
EMTEST MS 100
Figura 18. Inmunidad a campos magnticos
de alta frecuencia.
INMUNIDAD CAMPOS MAGNETICOS PULSADOS EN 61000-4-9
SIMULADOR ULTRACOMPACTO
EMTEST UCS500 M/4
WINCOM
SOFTWARE
WINCOM
SOFTWARE
EUT
ANTENA DE LAZO
EMTEST MS 100
Generador
Ondas de
Choque
SURGES
Generador
Ondas de
Choque
SURGES
Figura 19. Inmunidad a campos magnticos
pulsados.
Medida de SAR
Se define el SAR como la tasa especfica de
absorcin (SAR Specific Absortion rate). Es
una medida de la radicacin que absorbe la
cabeza de un ser humano cuando usa un
telfono mvil. El valor del SAR es una
medida de la mxima energa absorbida por
unidad de masa. Los valores de SAR se
expresan en unidades de W/kg en 1g o 10g
de tejido.
El ensayo se realiza como se muestra en
laFigura 20.
5.a
1
2
2.e
5.d
2.a
2.b
2.c
2.d
5.b
5.c
5.e
3
4
7
9
10
ENSAYO
8
Medidas SAR segn EN50360
Figura 20. Medida de SAR.
Los lmites permitidos dependen de los
distintos pases o regiones y se presentan en
la Tabla 1.
[1] Henry W. Ott, Noise Reduction
Techniqaues in Electronic Systems!. John
Willey & Sons, Inc. 1988
[2] Alain Charoy, Parsitos y perturbaciones
en electrnica, Paraninfo, 1996.
[3] Josep Balcells, Francesc Daura, Rafael
Esparza, Ramn Palls, "Interferencias
Electromagnticas en sistemas
electrnicos". Serie Mundo Electrnico, Ed.
Marcombo 1992.
[4] Paul, C., Introduction to Electromagnetic
Compatibility, John Wiley & Sons, 1992.
[5] UNE-EN 50147-Cmaras anecicas.
Parte 2: Adaptabilidad de un emplazamiento
de ensayo alternativo con respecto a la
atenuacin
[6] EN 55011, EN55022, EN 55014. Lmites
y mtodos de medida de las caractersticas
relativas a las perturbaciones radioelctricas
de los aparatos que producen energa en
radiofrecuencia
EMI. Sistemas de medida.
9
[7] UNE-EN 61000-4-3. Compatibilidad
electromagntica (CEM). Parte 4: Tcnicas
de ensayo y de medida. Seccin 3: Ensayos
de inmunidad a los campos
electromagnticos radiados de
radiofrecuencia.
[8] UNE-EN 61000-4-2 Compatibilidad
electromagntica (CEM). Parte 4: Tcnicas
de ensayo y de medida. Seccin 2: Ensayos
de inmunidad a las descargas electrostticas.
[9] UNE-EN 61000-4-4 Compatibilidad
electromagntica (CEM). Parte 4: Tcnicas
de ensayo y de medida. Seccin 4: Ensayos
de inmunidad a los transitorios elctricos
rpidos en rfagas. Norma bsica de CEM.
[10] UNE-EN 61000-4-5 Compatibilidad
electromagntica (CEM). Parte 4: Tcnicas
de ensayo y de medida. Seccin 5: Ensayo
de inmunidad a las ondas de choque.
[11] UNE-EN 61000-4-6 Compatibilidad
electromagntica (CEM). Parte 4: Tcnicas
de ensayo y de medida. Seccin 6: Ensayo
de inmunidad a las perturbaciones
conducidas, inducidas por los campos de
radiofrecuencia.
[12] UNE-EN 61000-4-8. Compatibilidad
electromagntica (CEM). Parte 4: Tcnicas
de ensayo y de medida. Seccin 8: Ensayo
de inmunidad a los campos magnticos a
frecuencia industrial. Norma bsica de
CEM.
[13] UNE-EN 61000-4-9. Compatibilidad
electromagntica (CEM). Parte 4: Tcnicas
de ensayo y de medida. Seccin 9: Ensayos
de inmunidad a los campos magnticos
impulsionales. Norma bsica de CEM.
[14] UNE-EN 61000-4-11. Compatibilidad
electromagntica (CEM). Parte 4: Tcnicas
de ensayo y de medida. Seccin 11: Ensayos
de inmunidad a los huecos de tensin,
interrupciones breves y variaciones de
tensin.
Regin
/Pas
Norma aplicable
Documentos de
referencia
Lmites
Europa
European Specification
ES 59005
ICNIRP Guidelines
1998
(ICNIRP 1998)
2.0 W/Kg en 10g de
tejido
Australia
Australian Communications
Authority (ACA) Standard
(ACA RS 1999)
Australian Standard
AS/NZS 2772.1
1.6 W/Kg en 1g de
tejido
USA
Federal Communications
Commission (FCC)
Guidelines (FCC 1997)
American Standard
ANSI C95.1 (ANSI
1992)
1.6 W/Kg en 1g
tejido
Tabla 1. Lmites permitidos de SAR.
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