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Laboratorio de ptica Oscar Hurtado Gonzlez Prctica1. Medicin del ndice de refraccin. Martes 18 de Febrero 2014, CU Mxico D.F.

Resumen

Introduccin El ndice de refraccin de un material ptico, denotado por n, desempea un papel central en la ptica geomtrica. Es la razn entre la rapidez de la luz c en el vaco y la rapidez de la luz v en el material:

n=

c (1) v

La luz siempre viaja con ms lentitud en un material que en el vaco, por lo que el valor de n en cualquier material que no sea el vaco siempre es mayor que la unidad. Para el vaco, n=1. Como n es una razn entre dos valores de rapidez, es un nmero sin unidades. La ptica geomtrica se basa fundamentalmente en considerar a la luz como un conjunto de rayos luminosos que se propagan en lnea recta. Cuando un rayo de luz incide en la interfaz o frontera entre dos medios transparentes aparecen dos nuevos rayos; el rayo reflejado, que es el que regresa al mismo medio (medio de incidencia) donde se encuentra el rayo incidente y el rayo transmitido que es el que se propaga en el segundo medio (medio de transmisin). El estudio de la ptica geomtrica llevo al desarrollo de tres sencillas leyes, la ley del plano de incidencia, la ley de la reflexin y la ley de la refraccin o la ley de Snell; para esta prctica estaremos especialmente interesados en la ley de Snell. sta ley puede enunciarse de la siguiente forma: Para la luz monocromtica y para un par dado de materiales, a y b, en lados opuestos de la interfaz, la razn de los senos de los ngulos q i y

q t , donde los dos ngulos estn medidos a

partir de la normal a la superficie, es igual al inverso de la razn de los dos ndices de refraccin:

senqi nt = senq t ni
bien:

(2)

ni senq = nt senqt (3)


Fig. 1 Ley de Snell esquematizada

Donde los ndices del medio incidente y del medio de transmisin estn denotados por ni , nt respectivamente. La ley de la refraccin explica por qu una regla o una pajilla parcialmente sumergidas parecen estar dobladas; los rayos de luz que provienen de un lugar por debajo de la superficie cambian de direccin al pasar por la interfaz aire-agua, de manera que los rayos parecen provenir de una posicin por arriba de su punto de origen real Otro fenmeno interesante es cuando tenemos un rayo de luz viajando a travs de un medio cuyo ndice de refraccin es que en ciertas circunstancias, toda la luz se puede reflejar en la interfaz, sin que se transmita nada de ella, aun si el segundo material es transparente. La figura 2 muestra la forma en que esto ocurre.

Fig.2 Reflexin interna total. Se ilustran varios rayos que salen de una fuente puntual en el material a con ndice de refraccin na . Los rayos inciden la superficie del segundo material b con ndice nb , donde

nb < na . Segn la ley de Snell de la refraccin,


senq b =

na senq a nb

(4) ; el rayo se desva apartndose de

Como

es mayor que la unidad,

es mayor que

la normal. As, debe haber algn valor de menor que 90 para el cual la ley de Snell da y . Esto se ilustra con el rayo 3 en el diagrama, que emerge apenas rozando la superficie con un ngulo de refraccin de 90. El ngulo de incidencia para el cual el rayo refractado emerge en forma tangencial a la superficie se llama ngulo crtico, y se denota con . Si el ngulo de incidencia es mayor que el ngulo crtico, el seno del ngulo de refraccin, tendra que ser mayor que la unidad, lo cual es imposible. Ms all del ngulo crtico, el rayo no puede pasar hacia el material superior: queda atrapado en el material inferior y se refleja por completo en la superficie de frontera. Esta

situacin, llamada reflexin interna total, slo ocurre cuando un rayo incide sobre la interfaz con un segundo material cuyo ndice de refraccin es menor que el del material por el que viaja el rayo. Es posible encontrar el ngulo crtico para dos materiales dados si se iguala de Snell. De esta forma, se tiene en la ley

senq crt =

nb na

(5) es mayor o igual que

La reflexin interna total ocurrir si el ngulo de incidencia Desarrollo y objetivos.

En esta prctica nuestro objetivo es estudiar o mejor dicho, medir experimentalmente el ndice de refraccin de varias sustancias, como lo son vidrio, Lucita, agua y agua con azcar. Los materiales utilizados a lo largo de esta prctica fueron los siguientes: Microscopio viajero con vernier de 0.001 cm de precisin Placas plano-paralelas de Lucita y vidrio Vaso de precipitados de 100 ml para el agua Lmpara auxiliar de luz led. Un trozo de papel con letras pequeas (objeto a enfocar) Un trozo de tarjeta de plstico del metro (objeto a enfocar) Disco graduado giratorio Lser rojo Semidisco de Lucita Semidisco de vidrio Papel mojado Dos placas plano paralelas de Lucita y dos de vidrio (distintos espesores) Cubeta de paredes paralelas de acrlico Agua, azcar Pantalla opaca Carros para riel. Mesa elevadora Nivel de mano pequeo

Observacin: durante este informe estamos suponiendo que el ndice de refraccin del aire es igual a 1. Para lograr nuestro objetivo de medir el ndice de refraccin de dichos materiales se hicieron cinco experimentos mediante mtodos distintos, los cuales los describimos brevemente a continuacin. i) Mtodo de profundidad aparente Debido a que el ngulo de transmisin no necesariamente es el mismo que el de incidencia, cuando la luz se propaga de un medio a otro (con ndices de refraccin distintos) como lo muestra la ley de Snell, sta sufre un cambio en la direccin de su propagacin. Por ejemplo, si observamos un estanque con un pez , desde afuera del agua la posicin que aparenta el pez no es en realidad la posicin del pez debido a que la luz que proviene del agua y en especial

profundidad real profundidad aparente


(2.3)

L3 L1 los rayos de luz que provienen del pez cambian de L2direccin L1 al salir del agua, entrar al aire y
llegar a nuestros ojos. ste principio es el que utilizamos en este mtodo. Este fenmeno, como se mencion hace un par de lneas, puede explicarse con la ley de Snell. La siguiente figura muestra un sencillo esquema que describe el experimento.

L1
Profundidad aparente

L2 L3

Fig. 2.3 Cambio en la profundidad aparente de un objeto por efecto de la refraccin de Fig. 3 Mtodo de profundidad aparente. la luz.

Se puede demostrar (lo cual se har, en un apndice ubicado al final de este informe) utilizando la ley de Snell, que
| | En este mtodo se utiliza el hecho de que para cada rayo que incida sobre una placa plano paralela transparente, aqul emerger paralelo a la direccin inicial, pero desplazado lateralmente de su El procedimiento utilizado fue el siguiente direcci n original (ver Fig. 3). La del desplazamiento del nguloyde incidencia i , a) Primero se realizaron las medidas demagnitud . Se coloc el microscopiodepende viajero en lamesa luego, del espesor D de la placa y de su ndice de refracci n, n ti. Adems, localizando al rayo reflejado por la en su objetivo, el pedazo de papel con las letras pequeas. Se enfocaron las letras con el primera superficie la placa, se podr determinar ngulo incidencia. Realizando un anlisis microscopio hasta que de se obtuviera una imagen ntida deel las letras de y una vez que se enfocaran, geom trico del dispositivo se encuentra que: se observaba y se registraba la medida dada por el vernier. En esto consista una medicin de | | a.3.2. Por desplazamiento transversal al rotar una placa (6) paralela

. Cuando se meda , se desenfocaban las letras y despus se buscaba nuevamente enfocar 2 Dmedicin sen i cos 2 las mismas letras del papel, para obtener la segunda de i . Este procedimiento se (2.4) n sen i repiti 15 veces para . D sen i X b) La segunda medicin fue para , la profundidad aparente. Se coloc encima de la hoja de papel una de las placas plano paralelas, primero fue la Lucita despus de tomar varias donde icon , D, la yX se muestran la Fig.de 2.4. Por lo tanto elde ndice determinar montando el mediciones Lucita se puso en la placa vidrio. Despus tenerse lapuede hoja por debajo de la arreglo experimental mostrado en ladel misma figura y midiendo indicadas. placa, se enfocaban las letras a travs microscopio viajero y las se cantidades registraba la medida dada por el vernier. En esto consista una medicin de Una vez hecho esto el microscopio se desenfocaba para posteriormente volver a enfocar las letras del papel y volver a registrar lo medido por el vernier y as obtener la segunda medicin de . Este procedimiento se repiti 15 veces para la placa de Lucita y 15 veces para la placa de vidrio. c) La tercera medicin correspondi a . Aqu se puso la hoja de papel encima de la placa de 18 Lucita y despus encima de la placa de vidrio. Se hizo prcticamente lo mismo que en los incisos a) y b), se enfocaban las letras, se registraba la medida dada por el vernier, se desenfocaba, se volva a enfocar, se volva a enfocar etc., obteniendo as 15 mediciones distintas para , 15 veces sobre la placa de Lucita y 15 veces sobre la placa de vidrio. d) Tambin se hizo el mismo procedimiento utilizando un vaso de precipitados y agua, para medir precisamente el ndice de refraccin del agua. corresponda a la hoja de papel sin el vaso de precipitados, corresponda a la medicin cuando la hoja se hallaba en el fondo del vaso con el agua, y a la medicin cuando la hoja estaba en la superficie del vaso de precipitados.

Profundidad real

1.3.1 Construccin del arreglo experimental. Construye el arreglo experimental mostrado en la figura 2. Ten cuidado de alinear el haz incidente de manera que pase por el centro del instrumento para medir ngulos. Coloca el semidisco de acrlico de forma que el centro de la superficie cilndrica coincida tambin con el centro del mismo instrumento. Tambin debes tener cuidado de que tanto el hazNota: incidente comocon el semidisco estn nivelados conestn respecto a tabla la horizontal. los datos su respectiva incertidumbre en la 1 que aparece en el apndice 1.3.2 Observaci n cualitativa. Gira poco a poco el semidisco hasta darle una vuelta completa. al final de este informe. Observa y anota el comportamiento (direccin, intensidad, etc.) los haces reflejado y transmitido al Los datos obtenidos para la profundidad aparente y para la de profundidad real se promediaron, ir variando el ngulo de incidencia del haz del l ser. calculando su respectiva incertidumbre y despus con ayuda de la ecuacin (6) se calcul el 1.3.3 Medici n de ngulos en incidencia externa. Coloca semidisco de aparecen forma que el ladelante ser incida ndice de refraccin de la Lucita, del vidrio y del agua.el Los resultados ms sobre su cara rectangular plana (interfase aire-acr lico). Mide los ngulos de reflexi n ( ) y en el apartado de resultados y anlisis de datos de este informe. transmisin ( ) para diferentes valores del ngulo de incidencia ( ) comprendidos entre 0 y 90. Anota slo las del cifras que sean significativas e incluye la asociada a la ii) Mtodo disco giratorio y el lser (medicin de incertidumbre los parmetrosinstrumental de la ley de Snell ) medici n de cada dato. La idea de este mtodo es medir los ngulos de incidencia y de transmisin, que forman un 1.3.4 Medici n de ngulos en una incidencia interna. Coloca el semidisco forma que el lser incida lser rojo que incide sobre superficie de Lucita y una de vidrio. de Para ello se construy un primero sobre su cara curva y despu s sobre su cara plana (interfase acr lico-aire). Realiza las mismas arreglo experimental que est esquematizado en la siguiente figura: mediciones que en el paso anterior para , y .

Fig. 4 Arreglo experimental (2do mtodo). Nota: usamos un lser rojo en lugar de la lmpara de luz 1.4. GU A PARA LA colimada que aparece enDISCUSI la figura. N

1.4.1 Construcci n del arreglo experimental. Para construir estearreglo se utiliz un disco graduado que poda montarse sobre un carrito para i) Por qu es importante queytanto el semidisco como el lser incidente est n alineados con riel. Este disco poda girar para variar controlar el ngulo de incidencia como se muestra en el el centro del instrumento? diagrama. Encima del disco graduado se coloca un semidisco de Lucita (que despus de hacer las ii) Qu suceder a la si el haz incidente y el semidisco no estuvieran nivelados? respectivas mediciones para Lucita, se remplaz por un semidisco de vidrio) procurando que el 1.4.2 Observaci n cualitativa. dimetro del semidisco, est alineado con el dimetro del disco graduado. Despus de esto se coloca i) Describe de manera cualitativa las observaciones queahiciste con a la intensidad el lser sobre una mesa elevadora que permite variar la altura la que el respecto lser incidir con el y/o direcci n de los haces transmitido y reflejado al variar el ngulo de incidencia. semidisco. Se procura, con la ayuda del nivel de mano, que tanto el disco como la mesa elevadora ii) Respecto al punto i), qua diferencias y/oAntes similitudes observas en incidencia externa esten correctamente alineados respecto la horizontal. de empezar a medir, se enciende el e incidencia interna? lser y se hace una prueba preliminar para alinear el lser, el disco y el semidisco. El lser tiene que iii) En incidencia interna, cmo var a la intensidad del haz transmitido aumentar el ngulo pasar paralelamente a uno de los dimetros del disco graduado vindolo desde al una vista superior de incidencia de fijar 0 a 90 ? (en este momento se debe un origen, que por comodidad se elige el ngulo 0) as como en la 1.4.34Medici n de ngulos incidencia externa e interna. figura y debe incidir en la en cara plana del semidisco de tal forma que pase por el centro de ste i) Cu l es la incertidumbre asociada a tus mediciones? como se observa en la misma figura. Si el ngulo de incidencia es cero, entonces no se debera ver ii) La puede otra tomarse slo como laes mitad de la mnima escala o habr que ningn haz de luz incertidumbre refractado en alguna direccin, lo cual un buen parmetro para determinar hacer otras consideraciones? si el arreglo esta correctamente alineado. iii) Haz una gr fica de cada dependiente vscentro la variable independiente. Otro detalle que permite conocer si el variable haz de luz para por el del semidisco es empezar a girar iv) De las ficas anteriores, puedes culEn es la relaciincide n entre variables? el disco graduado y gr observar la cara plana del deducir semidisco. donde el las lser se observa un punto rojo y si se mueve o cambia mucho su posicin a medida que se gira el disco graduado, quiere decir que el lser no esta incidiendo en el centro y que el semidisco no est bien alineado. 29 Cuando este punto rojo no se mueve a medida que gira el disco graduado entonces podemos confiar en que tenemos una mejor alineacin en nuestro arreglo experimental.

Una vez hechos estos arreglos se comienzan a medir los ngulos de incidencia y de transmisin. Los ngulos que se controlan son los ngulos de incidencia. Se comienza con 5 y se anota cul es el ngulo de transmisin. Se aumenta de 5 en 5 grados el ngulo de incidencia, hasta llegar a 85 y cada 5 se anota o se mide el ngulo de transmisin. Con estos datos, utilizando el ndice de refraccin del aire como 1 y aplicando la ley de Snell (descrita por la ecuacin (3) de la introduccin) podemos calcular el ndice de refraccin del disco de Lucita y del disco de vidrio. Algo importante a destacar aqu es que lo hasta ahora descrito para esta parte del experimento corresponde a lo que se conoce como incidencia externa. Utilizando el mismo arreglo experimental, sin mover ni desmontar nada, se realiza el experimento pero a incidencia interna. Para ello ahora se hace incidir el lser por la cara curva del semidisco de Lucita (o vidrio). Nuevamente se miden los ngulos de incidencia desde 5 hasta un cierto ngulo (el ngulo crtico, comentado en la introduccin de este informe) y se registraron sus respectivos ngulos de transmisin. Los datos de esta parte del experimento se muestran en la tabla 2 en el apndice al final de este informe; los resultados obtenidos estn en la parte de resultados. iii) Medicin del ngulo crtico. El tercer mtodo para calcular el ndice de refraccin de la Lucita y el Vidrio fue encontrar, con ayuda del mismo arreglo experimental que se utiliz en el mtodo ii), el ngulo crtico, que es cuando ya no hay un haz de luz transmitido como se explic en la introduccin. Utilizando la parte redonda del semidisco, se tena el caso de incidencia externa y poco a poco se giraba el disco graduado hasta que desapareca el haz transmitido, en ese momento se registraba el ngulo de incidencia medido con ayuda del disco graduado, y ste corresponda al ngulo crtico. Se repiti tres veces este proceso para el semidisco de Lucita y tres veces para el semidisco de vidrio. Para calcular el ndice de refraccin se utiliza la ecuacin (5):

senq crt =

nb na

(5)

Observacin: los mtodos ii) y iii) solo se usan para medir los ndices de refraccin de la Lucita y del vidrio, no los del agua y del agua con azcar iv) Mtodo de desplazamiento transversal de un haz al rotar una cubeta de paredes paralelas de acrlico. A diferencia de como se hizo notar en la observacin anterior, aqu, este mtodo solo ayud a calcular el ndice de refraccin del agua y del agua con azcar y no de el vidrio ni de la Lucita. Este mtodo consiste en hacer incidir un lser en una cara de un paraleleppedo (cubeta de paredes paralelas de un cierto material). Al entrar al nuevo medio el lser se refracta a un cierto ngulo dependiente del ndice de refraccin, cuando el haz cruza el ancho del medio hacia la pared

Fig. 5 Esquema del mtodo de desplazamiento

paralela, sale de ste volvindose a refractar hacia el aire. Lo que se observa es que el haz que sale tiene una direccin paralela al que incidi, como se observa en el esquema de la figura 5. Para ello se utiliz la siguiente relacin entre el ndice de refraccin n del material estudiado y los parmetros medibles: ngulo de incidencia del lser , ancho del prisma D, desviacin del haz de salida respecto del haz de entrada r (y tomando el ndice de refraccin del aire como n0=1):

La cubeta se coloco sobre el disco graduado para poder medir el ngulo de incidencia y se variaba el ngulo de incidencia de 5 en 5 y se midi para cada ngulo de incidencia el parmetro de desviacin r. Los datos para r es encuentran en una tabla en el apndice al final de este informe y los resultados se discuten en la siguiente seccin. v) Mtodo de Pfund. Este mtodo se basa, en el fenmeno de la reflexin total interna. Se tiene una configuracin como se muestra en la figura 6: una lmina plano-paralela cuya superficie inferior est recubierta por un trozo de papel mojado, haciendo que esta superficie sea difusora de la luz. Un haz de luz incide sobre un punto, donde se refleja en todas las direcciones. Una porcin de los rayos que alcanzan la superficie superior de la placa con ngulos de incidencia inferiores al ngulo crtico c son refractados al aire (rayo 1), mientras que otra porcin es reflejada, volviendo a incidir sobre la superficie difusora (rayo 2). Para valores superiores al ngulo crtico, no hay componente transmitida en la interfaz superior, siendo entonces reflejada toda la luz dentro del medio (rayo 3), volviendo a incidir nuevamente sobre la superficie difusora. Entonces, lo que se observa en este mtodo es un punto central muy luminoso, debido a la incidencia directa del lser, rodeado por un crculo oscuro, originado de la reflexin parcial de los rayos que inciden en la superficie superior con <c. Y finalmente, en la periferia una regin ms iluminada que la interior. En este caso se utiliz este mtodo para calcular el ndice de refraccin de la Lucita y del vidrio, utilizando la siguiente relacin: Dnde h es el dimetro del crculo obscuro interior, D es el espesor de la placa de planos paralelos (parmetros que a medir) y se tiene implcito en el desarrollo de la expresin que el ndice de refraccin del aire se toma como n0=1. En este mtodo slo medimos el dimetro de los crculos que se formaron una sola vez. Los resultados se hallan en la siguiente seccin.

Haz incidente

Haz transmitido (1)

h
Haces reflejados Superficie lisa

D
Superficie rugosa

Fig. 6. Esquema del mtodo de Pfund, h es el dimetro de la zona de sombra, D es el espesor de la placa, c es el ngulo crtico.

Resultados y anlisis de datos Discusin Conclusiones Apndices Bibliografa