II- TEORIA:

MECANISMO DE CRISTALIZACION
En el ao 1878, D.K. Chernov, cuando estudiaba la estructura del acero fundido, indic que el proceso de cristalizacin consta de dos procesos elementales. El primer proceso consiste en la formacin de partculas pequesimas de los cristales, a las que dio el nombre de "grmenes2 y que ahora se llaman centros o ncleos de cristalizacin. El segundo proceso es el de crecimiento de los cristales a partir de estos centros. REDES CRISTALINAS Cuando los metales solidifican desde el estado fundido al estado slido, los tomos se ordenan a s mismos de una manera peculiar para cada metal. A este arreglo se le llama red espacial. En 1912, Max Von Laue, descubri que la disposicin de las partculas (iones) en un slido poda determinarse mediante rayos X, con esto se descubri que en la mayora de los slidos, las partculas que los componen se disponen en forma muy ordenada. Un slido que posee sus partculas individuales dispuestas de esta manera se denomina "slido cristalino"; los metales son slidos cristalinos, este tipo de slidos poseen tambin un punto de fusin bien definido. Estructuras cristalinas: La distribucin de los tomos en el cristal conviene representarla por esquemas espaciales en forma de las llamadas celdillas elementales o celdillas unidad. Se entiende por celdilla elemental el menor conjunto de tomos que al repetirse muchas veces en el espacio permite reconstruir la red cristalina espacial. En la mayora de los metales las estructuras cristalinas ms comunes son: 1) Cbica centrada en el cuerpo. 2) Cbica centrada en las caras. 3) Hexagonal compacto. CUBICA CENTRADA EN EL CUERPO: Cada tomo de la estructura, est rodeado por ocho tomos adyacentes y los tomos de los vrtices estn en contacto segn las diagonales del cubo.

Figura 1: Estructura Cristalina http://www.esi2.us.es/IMM2/ec/cci.html

Numero de tomos: (1/8).8 +1= 2 tomos Numero de coordinacin = 8 Relacin R/a =

CUBICA CENTRADA EN LAS CARAS: Los tomos ocupan los vrtices y el centro de las caras del cubo, siendo tangentes a lo largo de las diagonales de las caras.

Figura 2: Estructura Cristalina, Centrada en Caras

Cubica

www.oposinet.com/fabricacion_mecanica/te mas/.../index.php

Numero de tomos: (1/8).8 + (1/2).6 = 4 tomos Numero de coordinacin = 12 Relacin R/a =

HEXAGONAL COMPACTA: Los tomos ocupan los vrtices de un prisma hexagonal regular los centros de las bases y los centros de los tringulos alternativos en que puede descomponerse la seccin media del prisma. Es una variedad compacta de la hexagonal sencilla

Figura 3: Estructura Hexagonal Compacta

Cristalina,

www.esi2.us.es/IMM2/ec/estructuras _tipicas.html

Numero de tomos: (1/6).12 + (1/2).2 + 3 = 6 tomos Numero de coordinaciones = 12

Densidad:

Conociendo la estructura cristalina podemos encontrar la densidad, mediante la ecuacin:

Donde

(1)

n = numero de atomos asociados a cada celdilla unidad A = peso atomico Vc = volumen de la celdilla unidad Na= numero de Avogadro (6,023x1023 atomos/mol )
ALOTROPIA Es el fenmeno mediante el cual un elemento e presenta ms de una forma cristalina, si este fenmeno ocurre en una sustancia se le llama polimorfismo, como por ejemplo el cobalto, hierro y titanio.

SISTEMAS CRISTALINOS:

Est basado en la geometra de la unidad de celda que tiene el cristal, bsicamente es un paraleppedo que cambia sus longitudes y ngulos

Planos cristalogrficos:

1. 2.

3. 4. 5.

Para la orientacin de los planos cristalogrficos de la estructura cristalina tambin se utiliza un sistema de coordenadas de tres ejes y la celdilla de unidad. Los pasos a seguir para obtener los valores de los ndices son: Si el plano pasa por el origen, se debe trazar otro paralelo o se escoge un nuevo origen en el vrtice de otra celdilla unidad. El plano cristalogrfico o bien corta o bien es paralelo a cada uno de los tres ejes. La longitud de los segmentos de los ejes se determina en funcin de los parmetros de red. Se escriben los nmeros reciprocos de estos valores. Un plano paralelo a un eje se considera que lo corta en el infinito, y por lo tanto el ndice es cero. Estos tres nmeros se les multiplica por un factor comn. Finalmente se escriben juntos los ndices enteros dentro de un parntesis.

RAYOS X:

Son un tipo de radiacin electromagntica que tienen una alta cantidad de energa y una pequea longitud de onda que oscila entre valores de 0.1 a 3A. Al ser una radiacin electromagntica se produce cuando se desacelera una partcula elctricamente cargada y con una alta energa cintica.

Figura 4: Interferencia de ondas constructiva [http://www.lpi.tel.uva.es/~nacho/docencia/E MC/trabajos_02_03/RADIOASTRONOMIA/ web/Indice/Radio/I_radio/5_3_3/InDi_C.htm]

EL FENMENO DE LA DIFRACCIN: Este fenmeno ocurre cuando una onda (en este caso una electromagntica) choca con algn obstculo o atraviesa una rendija. Asimismo este fenmeno es consecuencia de interacciones entre dos o ms ondas dispersadas (que fueron descompuestas en cualquier direccin al chocar). De esta manera una o ms ondas electromagnticas dispersadas pueden reforzarse mutuamente (interferencia constructiva) como en la Figura 1, cuando la longitud de onda de las mismas es igual y adems estn en la misma fase. De esta manera se obtiene una onda con el doble de amplitud, que las dos anteriores. Es importante que las ondas estn en una misma fase ya que de lo contrario sus amplitudes no se adicionan totalmente, es decir que ocurre un reforzamiento parcial o peor an, que las ondas se anulen as mismas como ocurre en la Figura 2, en donde el desfase es de 180.

Figura 5: Interferencia de ondas destructiva [http://www.lpi.tel.uva.es/~nacho/docencia/E MC/trabajos_02_03/RADIOASTRONOMIA/ web/Indice/Radio/I_radio/5_3_3/InDi_C.htm]

DIFRACCIN DE RAYOS X: En nuestro estudio este fenmeno es muy

importante porque forma parte de los experimentos que luego proporcionaran caractersticas muy importantes acerca de la configuracin y la estructura atmica de un material. Dado que los cristales son formaciones que contienen filas y planos de tomos de gran densidad atmica y escasos espacios entre tomos, estas estructuras tiene la capacidad de actuar como pantallas de difraccin de rayos X. Esto se debe a que cuando una cierta cantidad de estos rayos inciden sobre las superficies de los tomos interactan con los electrones de stos, produciendo vibraciones en ellos. De tal forma que difractan en cualquier direccin a los rayos X, conservando su frecuencia inicial. Sin embargo esto no solo sucede en un nico tomo sino que en casi todos los tomos del material ya que los rayos [http://webs.ono.com/jmrubio/idenjade.html] penetran por los espacios donde no hay tomos y
Figura 6 Difraccin de rayos X en ms de un plano

llegan a otros tomos que estn en planos paralelos al primero, es as como, por otro lado ocurre una interferencia de ondas dispersadas por los electrones, esta interferencia es de tipo constructiva por lo cual podemos ver de nuevo los rayos x. Adems para que se cumpla la interferencia los rayos que inciden sobre la primera pantalla difractara (primer plano de tomos), deben cumplir la condicin de que el ngulo de incidencia sea igual al ngulo con el que sale el otro rayo difractado. No obstante sabemos que las estructuras cristalogrficas no solo tiene un plano, sino que en su interior existen varios, y adems no todo los rayos son difractados ya que varios pasan por los espacios entre tomos del primer plano. En esta situacin la interferencia constructiva solo puede darse bajo ciertas condiciones especficas, las cuales son regidas por la Ley de Bragg. Entre las condiciones que se deben de cumplir es que las ondas deben estar en una misma fase, adems que el recorrido de las ondas sea el mismo, es decir que GE y EH sean iguales. La suma de estas longitudes a su vez tiene que ser igual a un mltiplo de la longitud de onda completa (). Asi la ley de Bragg es obtenida:

En la ecuacin (1), los valores de n estn limitados por la condicin de que

(1) sea menor a la

unidad, de tal forma de que n no tiene un solo valor sino que un conjunto de valores. Adems, una aclaracin importante es que es la mitad del ngulo que forman el haz de rayos

difractados y el haz de ratos original y adems la distancia d es el espacio entre dos planos difractados como se aprecia en la figura3. Pare determinar la estructura de una material se utilizan varios mtodos, entre ellos tenemos al Mtodo de Laue, que consiste en la proyeccin de rayos X usando pantallas donde se reflejan esos haces difractados, formando un patrn que luego se analiza. Otro mtodo importante es el de Debye-Scherrer o mtodo de los polvos y es el que usaremos en este laboratorio.

MTODO DE LOS POLVOS:

Para utilizar este mtodo se hace uso de una cierta cantidad de material pulverizado a cristales de pequea media, este polvo de material se coloca en un contenedor donde pasa a una cmara cerrada, n donde se encuentra un Difractmetro, mostrado en la figura 4, el cual es un dispositivo que se basa en la difraccin de rayos X para hacer el anlisis del material. Este aparato consta de cinco partes, un generador de rayos X que generalmente es de una material comnmente usado para este tipo de emisiones, puede ser cobalto, cobre, molibdeno, hierro, cobre, etc (cada uno con diferente longitud de onda de rayos X) que al calentarse liberan sus electrones que luego son acelerados por una diferencia del potencial, y pasan a travs de un colimador (dispositivo que sirve para homogenizar los haces de rayos X), estos luego [Askeland. Ciencia E Ingeniera De Los Materiales, 3ra chocan en la muestra y son difractados. Sin embargo,
Edicin, pgina 66] Figura 7: Esquema de un Difractometro de Rayos X

esto no siempre sucede ya que el material solo difracta en ciertos planos cristalogrficos y los pequeos cristales de la muestra solo difractan en una direccin, por eso el instrumento hace un barrido variando el ngulo de incidencia. Los rayos difractados son absorbidos por un detector que recoge las longitudes de onda de los rayos difractados. As mismo encontramos otra parte llamada gonimetro que se encarga de suministrar la informacin de los ngulos que van variando. Ambos instrumentos, el detector y el gonimetro son los que suministran la

informacin al controlador, que en la mayora de casos es una computadora, que previamente

debe tener un software instalado compatible con datos obtenido en y el que logre plasmar la de

informacin

llamado

diagrama

difraccin (Espectro de Difraccin), figura 8. En el diagrama de difraccin podemos observar que el eje de las coordenadas corresponde a la intensidad de los rayos X difractados, as como en el eje de las coordenadas vemos los valores del ngulo de difraccin (2 ).

Los picos significan que es cuando la intensidad de los rayos X sube drsticamente, es decir cuando tienen mayor difraccin, esto se presenta cuando los rayos incidentes son difractados de manera correcta y con un plano de difraccin correcto en la muestra. De tal forma que se
Figura 8: Diagrama de Difraccin [http://www.scielo.cl/scielo.php?pid=S071833052012000200009&script=sci_arttext&tlng=pt]

indican los planos que difractan y su respectivo ngulo de difraccin. Y por la ley de Bragg podemos identificar las otras magnitudes restantes. Por otra parte tambin es posible identificar

los valores de los parmetros de la estructura cristalina de un material, sin embargo el grupo encontr problemas para hallarlos ya que la mayora de bibliografa solo muestra formas de hallar los parmetros en estructuras cubicas. Sin embargo para identificar otro tipo de estructuras se utilizan Standard X-ray Powder Diffraction Patterns. Que son espectros de radiacin ya identificados, con los cuales se compara la informacin obtenida por la difraccin de algn material. Esto es posible ya que los espectros de difraccin de los materiales son como una huella digital, nunca se repiten. Estos datos son provedos por ICDD (International Center for Diffraction Data), que actualiza su base de datos anualmente. En el caso de que la estructura se utilizan las ecuaciones de Bragg y otras propias de las estructuras cristalinas cubicas para hallar los parmetros a partir de la distancia interplanar.