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ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS 3. ULTRASONIDOS 3.1.- Fundamentos.

El ensayo ultrasnico esta basado en los fenmenos que se producen en la propagacin de vibraciones mecnicas, con frecuencias entre 0,25 y 25 M !. Este intervalo de frecuencias est muy por encima de lo detectable por el o"do umano y por eso se las designa cono #ltrasonidos. $a mas e%tendida de las aplicaciones se basa en la refle%in del ultrasonidos en la interfase producida por defectos o discontinuidades en los materiales. $os principales fenmenos f"sicos que intervienen en los ensayos ultrasnicos son& 'elocidad de propagacin, (tenuacin, )efle%in y )efraccin. 3.1.1.- Ondas Ultrasnicas. *odo material con propiedades elsticas puede ser el lugar apropiado para la propagacin de ondas snicas y ultrasnicas, en tanto las fuer!as elsticas sean capaces de retraer las part"culas del mismo a su posicin de reposo luego de ser despla!adas por una energ"a mecnica. En aquellos materiales con estructura cristalina +metales por e,emplo- las part"culas que forman la red pueden ser despla!adas de su posicin de equilibrio describiendo oscilaciones con trayectorias diversas, en funcin de la energ"a mecnica aplicada, originando distintos tipos de ondas, a saber& .ndas .ndas .ndas .ndas $ongitudinales *ransversales /uperficiales de $amb

(ntes de entrar a describir estos tipos de ondas recordemos que en todos los casos estamos ablando de la propagacin de una perturbacin, constituida por la puesta en oscilacin de las part"culas del material alrededor de sus posiciones de equilibrio y no de transporte de materia. 3.1.2.- Ondas Lon itudinales! En este tipo de ondas la vibracin de las part"culas es producida por un esfuer!o de compresin y por lo tanto oscilan en direccin paralela al sentido de propagacin de la onda. 3.1.3.- Ondas Trans"ersales! /i en el material, por la direccin en que se e,erce la e%citacin, se producen esfuer!os de corte la vibracin de las part"culas puede ser

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transversal a la direccin de la propagacin. Este caso corresponde a las ondas transversales o de corte, que no se podrn propagar ni en l"quidos ni en gases ya que estos no ofrecen resistencia a esfuer!os tangenciales o de corte. 3.1.#.- Ondas Su$er%iciales& /on ondas que se propagan solamente en la superficie del material. $as part"culas estn sometidas a esfuer!os combinados, de corte y de compresin, resultando una oscilacin de tipo el"ptica. 0ueden recorrer toda una superficie siempre que la misma este libre y no tenga interrupciones bruscas.

3.1.&.- Ondas de Lam'& 1uando el espesor de una lamina o el dimetro de un alambre es del orden de la longitud de onda de la vibracin, la onda se propaga masivamente en toda la seccin, originando las llamadas .ndas de $amb. 'ibrando todo el material en su con,unto son infinitos los posibles modos de vibracin, pero e%isten dos modos fundamentales que son& - .ndas sim2tricas de compresin - .ndas asim2tricas de fle%in 3.1.(.- )elocidad de $ro$a acin de ondas ultrasnicas . 1ada tipo de onda tiene su propia velocidad de propagacin, que depende en cada caso de las propiedades del medio y es independiente de la frecuencia, salvo en el caso de las .ndas de $amb en que e%iste una dependencia del producto entre la frecuencia y el espesor del material en que se propaga. /on de aplicacin las siguientes relaciones& * 1- ------- -------------------- ,1- . ,1 - 2 . * 1 ------ ------------- 2 ,1 - . * 1 ------

Ondas Lon itudinales

) L+

Ondas Trans"ersales

)T +

Ondas Su$er%iciales ---------------2 ,1 - .

/012 - 1012 )S + ---------------------1-

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donde& E 3 modulo de elasticidad 3 densidad 3 relacin de 0oisson )L 3 )T 3 )S 0ara .ndas de $amb e%isten frmulas que dependen de los modos de transmisin y de las relaciones entre frecuencia y espesor. 3.1.2.- Re%le4in del 5a6 ultrasnico. 1uando un a! ultrasnico se propaga en un medio y alcan!a una superficie limite +interfase-, se produce su refle%in con un comportamiento anlogo al del a! luminoso. $a cantidad de energ"a refle,ada depende de las impedancias ac4sticas relativas de los dos medios separados por la interfase. $a 5mpedancia (c4stica es un parmetro que caracteri!a la resistencia que opone el medio a la vibracin de las part"culas y esta definida por la relacin& 7+.) donde& 6 3 impedancia ac4stica 3 densidad del material ' 3 velocidad de propagacin /i llamamos 5 a la energ"a ultrasnica incidente, la parte de energ"a que es refle,ada ser igual a 5 multiplicado por el coeficiente de refle%in ) mientras que la energ"a transmitida al segundo medio ser igual a 5 multiplicado por el coeficiente de transmisin * . R - T + 1. /i llamamos 67 y 62 a las 5mpedancias ac4sticas del primer y segundo medio, respectivamente, los correspondientes coeficientes de refle%in y de transmisin sern& , 71 - 72 .2 R + ----------------, 71 - 72.2 # 71 . 72 T + -------------, 71 - 72.2

8e acuerdo con estas frmulas podemos ver que la refle%in ser m%ima cuando sea m%ima la diferencia de impedancia entre los dos medios, independientemente de cual de ellos sea el menor.

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3.1.1.- Re%raccin 8 con"ersin de modo. 1uando un a! ultrasnico llega con un ngulo distinto de 90: a la interfase entre dos medios cuyas impedancias relativas permiten transmisin de energ"a de un medio a otro, se produce una reparticin de la misma entre aces refle,ados y refractados. $as relaciones entre los ngulos formados por los distintos aces se pueden calcular seg4n la $ey de /nell, que e%presa que la relacin entre el seno del ngulo que se forma con la normal a la interfase y la velocidad de propagacin en el medio considerado es constante.

'7 y '2 3 velocidades en medio 7 y 2 67 y 62 3 impedancias de medio 7 y 2 $i 3 .nda longit. incidente $r 3 .nda longit. refle,ada r 3 (ngulo de refle%in $t 3 .nda $ongit. refractada *t 3 .nda transv. refractada y 3 (ngulo de incidencia $ 3 (ngulo de refrac. .nda $ongit. * 3 (ngulo de refrac. .nda *ransv.

Fi ura N 9 - Re%le4in 8 Re%raccin del :a6 Ultrasnico en Inter%ase.

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Fi ura N 1/

.- ;om$ortamiento del 5a6 ultrasnico en una inter%ase.

1uando el a! ultrasnico incide oblicuamente en una superficie, e,erce una presin que puede ser descompuesta en dos componentes principales& una normal, que provoca despla!amiento longitudinal de las part"culas, originando ondas longitudinales y otra componente tangencial que determina la propagacin de ondas transversales, por esfuer!os de corte. En ra!n de ello se tienen finalmente ondas longitudinales y transversales refle,adas en el primer medio y ondas transversales y longitudinales refractadas en el segundo medio. $os ngulos que cada una de estas ondas forma con la normal a la superficie limite, estn dados por la ley de /nell& Sen i )1L Sen Tr Sen L )1T )2L Sen T )2T

------------ + ----------------- + ----------- + --------------

/e define como <RI=*R AN>ULO ;RITI;O al ngulo de incidencia para el cual el ngulo de refraccin de las ondas longitudinales se ace igual a 90 grados. 1on valores de ngulo de incidencia iguales o superiores al primer ngulo critico en el segundo medio de,an de propagarse ondas longitudinales. (umentando mas el ngulo de incidencia se llega al S*>UNDO AN>ULO ;RITI;O, para el cual el ngulo de refraccin de las ondas transversales se ace igual a 90 grados y se produce la propagacin de ondas de superficie. En la figura se describen estos fenmenos y se dan valores de ngulo critico para acero y aluminio. 3.1.9.- :a6 Ultrasnico. En el ensayo ultrasnico la produccin de energ"a ultrasnica se basa generalmente en el efecto pie!oel2ctrico.

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En los cristales pie!oel2ctricos la energ"a mecnica aplicada se transforma en parte en energ"a el2ctrica que se manifiesta como una polari!acin, apareciendo cargas el2ctricas en las caras del cristal que determinan un potencial el2ctrico. Este fenmeno es reversible, de manera que si aplicamos una carga el2ctrica en las caras opuestas de un cristal pie!oel2ctrico, se induce una deformacin con la consiguiente transformacin de energ"a el2ctrica en energ"a mecnica. /i la tensin aplicada es alternativa el cristal as" e%citado vibrar con una frecuencia que depende de sus propiedades elsticas y de su espesor. #n efecto similar se obtiene con ciertos materiales cermicos, formados por %idos o sales de metal como el plomo, titanio, bario, boro, etc. Estos sinteri!ados en forma de pastillas y previamente polari!ados e% iben el mismo efecto que los cristales pie!oel2ctricos. En la formacin del a! ultrasnico la pastilla cermica o el cristal pie!oel2ctrico, pueden ser considerados como constituidos por un con,unto de peque;os cristales que e%citados simultneamente brindan cada uno su aporte de energ"a vibratoria en forma independiente. /e originan en cada punto ondas esf2ricas que al propagarse producen interferencias entre si, por lo tanto asta una cierta distancia, a partir de la cual el frente de onda se puede considerar plano, la distribucin de presiones dentro del a! se a,ustan al principio de <uygens. /i consideramos una fuente de emisin de ultrasonido +el cristal pie!oel2ctrico- frente a un medio material, sus ondas se propagaran siguiendo una forma geom2trica suficientemente definida, que depende de las dimensiones del cristal y de la longitud de onda de las vibraciones en el medio considerado. Esquemticamente esta forma de propagacin, que llamamos a! ultrasnico, esta representada en la figura siguiente&

Fi ura N 11 - ;ONFI>URA;ION D*L :A7 ULTRASONI;O. 8e acuerdo con la figura anterior podemos observar que en las pro%imidades del cristal se tiene una !ona de longitud $o, en la cual el a! se propaga en forma prcticamente cil"ndrica, de dimetro casi igual al del cristal.

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En esta !ona la presin snica no es omog2nea presentando m%imos y m"nimos resultantes de la suma de presiones correspondientes a los frentes de onda originados en los distintos campos que conforman el cristal. Esta !ona se llama ;am$o ;ercano, y su valor esta dado por la relacin& D2 Lo + -------# donde , es la longitud de onda. ( partir del campo cercano la propagacin se ace en forma de con una divergencia que se calcula seg4n la siguiente relacin& a! cnico,

Sen + 1022 --------D Esta configuracin depende de la frecuencia +longitud de onda en el medioy del dimetro del cristal, y determina una serie de condiciones para la practica del ensayo, entre las que podemos mencionar& - En la !ona del campo cercano se pueden detectar reflectores pero resulta insegura su evaluacin. - En la !ona cnica o campo le,ano la altura de un eco depende no solo del tama;o del reflector sino tambi2n de su distancia. - En materiales de espesor relativamente peque;o la divergencia del a! puede dar lugar a refle%iones en las paredes que originan ecos que parecen provenir de mayor distancia que el eco de fondo. 3.1.1/.- Atenuacin del 5a6& En la !ona le,ana la presin snica disminuye por divergencia del a!, pero adems por otros dos efectos& la absorcin de energ"a debida a la resistencia mecnica del material y la dispersin del a! producida por peque;os reflectores constituidos por imperfecciones del material. El fenmeno de dispersin es un factor que se debe controlar en base a la frecuencia de ensayo por lo que muc as veces resulta un factor limitante de la sensibilidad y resolucin del ensayo . 0ara tama;os de grano del orden de 7=7000 a 7=700 de la longitud de onda, la dispersin resulta prcticamente nula. 1on tama;o de granos mayores, la dispersin aumenta rpidamente. /i el tama;o de grano se ace mayor 7=70 de la longitud de onda la dispersin es tan intensa que ace imposible el ensayo. 3.2.- <AL<ADOR*S.
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$os palpadores se construyen sobre la base de un cristal pie!oel2ctrico o una pastilla cermica que act4a como generadora=receptora de las vibraciones ultrasnicas, con elementos conductores el2ctricos para e%citacin, material de soporte para proteccin mecnica y material de amortiguacin de las vibraciones. /e construyen en cuatro tipos principales& >ormales (ngulares 8e ondas superficiales 8e inmersin.

E%isten adems tipos especiales tales como palpadores para alta temperatura, palpadores de ondas transversales, de rodamiento, locali!ados, etc.

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<AL<ADOR*S D* ULTRASONIDOS

3.3.- T*;NI;AS D* *NSA?O. $as principales t2cnicas de ensayo son& *ransmisin con emisin continua *ransmisin por pulsos 0ulso - eco )esonancia.

*odas estas t2cnicas pueden ser empleadas por contacto, es decir logrando el acoplamiento con una delgada pel"cula de un liquido o pasta, o bien por
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inmersin lo que implica sumergir los elementos ba,o liquido y lograr el acoplamiento por columna liquida.

Fi ura N 13 - T*;NI;AS D* *NSA?O. 3.#.- *@UI<OS <ARA *NSA?O $a t2cnica mas utili!ada es la de 0ulso-eco, para cuya aplicacin se usan equipos con presentacin de la informacin en tubos de rayos catdicos o pantalla digital, especialmente dise;ados para evaluacin de defectos..tro tipo de equipo de uso muy e%tendido, que tambi2n utili!a la t2cnica de 0ulso - eco, es el llamado medidor de espesores. Este tipo de equipo mide electrnicamente el tiempo transcurrido entre la emisin del pulso y el retorno del eco y de acuerdo a una calibracin de la velocidad del sonido en el material ba,o e%amen e%presa el espesor en presentacin digital o analgica.

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Fi ura N 1# - ;IR;UITO *S@U*=ATI;O D* UN *@UI<O D* ULTRASONIDOS 3.&.- *)ALUA;ION D* D*F*;TOS En la figura >: 75 se a esquemati!ado el comportamiento de las indicaciones obtenidas por la t2cnica de 0ulso - eco, en la pantalla de un tubo de rayos catdicos, en el caso de distintos tipos de defectos. El caso a- representa un peque;o defecto en relacin con el dimetro del a! ? b- representa el caso de varios defectos peque;os en distintas profundidades ? c- un defecto grande respecto del dimetro del a! y detrs del mismo un defecto mas peque;o, que en esta situacin no produce indicacin. En el caso d- el defecto es grande pero su plano reflector no es normal a la direccin del a!, por lo tanto lo desv"a y no da indicacin ? en el caso e- el defecto es peque;o pero la indicacin del eco de fondo desaparece pues la pared posterior esta inclinada respecto del a!. En el caso f- se obtiene una gran cantidad de indicaciones m4ltiples y peque;as debidas a estructura gruesa o inclusiones en el material, que impiden distinguir la indicacin de defecto.

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Fi ura N 1& -- INDI;A;ION*S D* D*F*;TO. 3.(.- ;ALIARA;ION*S 0ara que la informacin obtenida en el ensayo sea confiable y pueda ser repetida y comparada se requieren dos tipos de calibraciones. $a primera es la calibracin del equipo, comprendiendo instrumento, cables, palpadores y acoplante. /e reali!a peridicamente utili!ando probetas normali!adas conocidas como @bloques o patrones de calibracinA, que permiten verificar el estado de funcionamiento del equipo, especialmente en lo referido a linealidad de la base de tiempo y de la ganancia de amplificacin. Esta calibracin permite adems verificar posicin de salida del a! desde el palpador, ngulo de salida, poder de resolucin, etc. /e debe reali!ar esta calibracin cada seis meses, por e,emplo, o cada ve! que se introduce una modificacin o se reali!a una reparacin. $a otra calibracin esta referida a la fi,acin de las escalas de distancia y de las sensibilidades +ganancia- de traba,o de registro y de la aceptacin o rec a!o. /e utili!a una probeta de calibracin preparada al efecto y del mismo material a ensayar. $a forma de preparacin de estas probetas eta normali!ada seg4n diferentes criterios, entre los cuales son las mas usuales el 8(1 +criterio americano- y el ('B +criterio alemn-. En el primer caso, 8(1, se usa como reflector un orificio cil"ndrico pasante o agu,ero de fondo plano, tra!ando curvas de altura de eco en funcin de la distancia. En el sistema ('B, se utili!an como reflectores de calibracin orificios de fondo plano de distintos dimetros, formando familias de curvas que relacionan la altura del eco con la distancia de refle%in y el dimetro del reflector.
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Fi ura N 1( - ALO@U* D* ;ALIARA;ION D* *@UI<OS D* US. 3.2.- *B*=<LOS D* *NSA?O ULTRASONI;O. El e%amen de soldaduras por #/ es una de las practicas mas e%tendidas actualmente, adquiriendo importancia comparable al tradicional ensayo radiogrfico. Este ensayo se reali!a usualmente mediante palpadores angulares que generan en el material ondas transversales a ngulos prefi,ados. /e elaboran procedimientos escritos teniendo en cuenta la forma, tipo y procedimiento de soldadura. 0or e,emplo una soldadura de c apa a tope puede ser e%aminada, aciendo correr el palpador perpendicularmente a la soldadura desde una posicin de refle%in a-, de segunda refle%in +paso completo- a una posicin b- de refle%in directa +7=2 paso-, seg4n se indica en al figura 7C.

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Digura >7C - *CA=*N D* SOLDADURAS <OR ULTRASONIDOS. /i se trata de c apas soldadas en * o en ngulo el e%amen con palpador angular solo se podr acer desde la c apa normal o angulada y no desde la c apa base. En este caso el procedimiento indicara adems un e%amen adicional con palpador normal desde la c apa base. 1uando se considera un e%amen ultrasnico completo se debe utili!ar mas de una direccin de inspeccin. En todos los casos los ngulos de inspeccin se eligen de manera que el a! incida lo mas perpendicularmente posible al plano de desarrollo de los posibles defectos. En soldaduras para el caso de falta de fusin lateral es importante tratar de incidir normalmente al plano del bisel de preparacin de la c apa. En los casos que e,emplificamos se puede utili!ar como patrn de calibracin de ganancia a un tro!o de c apa del mismo material. Este mismo patrn se utili!a para calibrar en distancia la base de tiempo del equipo ultrasnico, ya sea en camino snico o en distancia proyectada. 1on el aparato calibrado el operador debe registrar la altura de la indicacin y la posicin del palpador en el momento del registro. 1on estos datos puede calcular donde y a que profundidad se encuentra el defecto y si esta dentro del limite de aceptacin o rec a!o.

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