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24/09/2012

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La Prueba de FRA en
Guillermo Aponte Mayor Ph. D.
Septiembre 25 de 2012
Conceptosgenerales:Magnetismo
Electromagnetismo
H
i dl H
c
=
}

I r H = t 2 / 1
i k H =
r
H B =
Leyesfundamentales
BA = |
B B
A
}
=
A
A d B

|
}
= =
dt
d
l d E
|
c

Leydeinduccinde
Leyesfundamentales
24/09/2012
2
LeydeLenz
Elflujomagntico
constante:Inercia
magntica.
Leydeinduccin(I)
Leyesfundamentales
Direccin del campo magntico
H B i k H = =
I
H
B
H
I
B
Campoenunconductor
Campo magntico
B
H B i k H = =
H
k Constante dependiente de
distancias y geometra.
B Densidad de campo magntico. I
Campoenunaespira
Espira y bobina
i N k B
H B i N k H
=
= =
Campoenunabobina
u
s B = u
B
s
s i k
H B
i k H
= u
=
=
H
Flujoenunaespira
N
s i N k
H B i N k H
t u = u
= u
= =
s B = u
Flujoenunabobina
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3
B H H B / = => =
B
H
aire
hierro
Acero-silicio
s i k
s B
i k B
H B
i k H
= u
= u
=
=
=
Saturacin
m=B/H
m=B/H=
B ()
H (i)
Conceptosfundamentales
B ()
H (i)
o m I V Z / =
m= V/I
V
I
CurvaVI
) (t i
) t ( v
u
dt
t d
N t e
dt
t d
t e
) (
) (
) (
) (
u
=
u
=
) (t e
}
= =
dt
d
l d E t e
|

) (
Conceptosfundamentales
Bobina con ncleo de aire
C
u
d
u

c
Flujoprincipal

d
Flujodedispersin
Conceptosfundamentales
Como >>
0
d C
u >> u
C
u
C
u
d
u
C
u
Conceptosfundamentales
C
u
C
u
d
u
C
u
dt
t di
s k N t e
dt
t d
t e
) (
) (
) (
) (
1 1
=
u
=

) t ( e
1
espiras N1
0 ~ u
d c
u = u
Conceptosfundamentales
s i k N
s B
H B
i k N H
= u
= u
=
=

. .
.
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C
u
C
u
d
u
N
1
N
2
) (
1
t e
) (
1
t i
dt
t di
s N k t e
) (
) ( 1 1 =
dt
t di
s N k t e
) (
) ( 2 2 =
1
2
1
2
N
N
e
e
=
) t ( e
2
V
1
V
2
U
2
I
1
+ I
0
I
2
u
c
u
c
u
d1 u
d2
u
2
u
1
1 1 1
i s k N = u 2 2 2
i s k N = u
2 2 1 1
i N i N =
V
1
V
2
C
u
C
u
N
1 N
2
1 1 1
.i e P =
2
e
1
i
2
i
1
e
2 2 2
.i e P =
2
1
1
2
1
2
i
i
N
N
e
e
= =
C
u
C
u
N
1 N
2
1 1 1
.i e P =
2
e
01
i
02
i
1
e
2 2 2
.i e P =
2 2 1 1
i N i N =
V
1
jX
m
R
m
V
2
a = N
1
:N
2
ideal
r
1
j X
o1
j X
m
R
m
V
1
(t)
i
1
(t)
i
o
(t)
i
e
x
ce
1
(t)
N
1
:N
2
x
x
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5
1 1
( ) ( ) e t V t =
2 2
( ) ( ) e t V t =
m Z i V .
0 1
=
Zm
I
ex
2 2 1 1
i N i N =
I
2
(t)
V
1
(t)
I
1
(t)
|
t
(t)
e
1
(t) e
2
(t)
|
o1
(t)
e
o1
(t)
1 1 1
.i e P =
2 2 2
.i e P =
v
2
v
cc
1 1 n
i i =
2 2 n
i i =
CC N
V V >> 0
2
= V
1
2
1
2
N
N
e
e
=
+
v
1
v
2
I
1
+ I
0
I
2
u
c
u
c
u
d1
u
d2
u
2 u
1
P
cc
= (I
n1
)
2
.r
1
+ (I
n2
)
2
.r
2
+ P
0 = u
d
V
I
o
V
n
I
V
cc
I
occ
Corrientedemagnetizacinyvoltajes
encortocircuito
x x
0
2 2
= = e e
r
1
j X
o1
j X
m
R
m
V
1
(t)
i
1
(t)
i
o
(t)
i
e
x
ce
1
(t)
N
1
:N
2
Zcc
CC Z i V
n CC
.
1
=
v
cc
R
t
JX
t
i
n1
CC Z i V
CC N
. =
I
1
jX
d1 R
1
I
2
V
1
V
2
a = N
1
:N
2
ideal
jX
d2
. a
2
R
2
. a
2
Zcc
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6
I
1
jX
d1 R
1
jX
d2
R
2 I
2
V
CC
V
2
a = N
1
:N
2
ideal
V
1
I
2
(t)
V
1
(t)
I
1
(t)
|
t
(t)
e
1
(t) e
2
(t)
Carga
nom
V V
1 1
=
| |
nom
I I
1 1
0 = | |
nom
I I
2 2
0 =
+
Z
L
I
1
+ I
0
I
2
u
c
u
c
u
d1
u
d2
v
1
v
2
V
1
jX
m
R
m
V
2
Z
L
R
1
+jX
d1
y R
2
+jX
d2
I
1
+ I
0
u
d1
jX
d1 R
1
jX
d2
R
2
u
d2
u
c I
2
V
2
V
1
e
1 e
2
Z
L
I
1
jX
d1 R
1
jX
d2
R
2 I
2
V
1
jX
m
R
m
V
2
a = N
1
:N
2
ideal
Circuitoelctricoequivalente
I
1
jX
d1 R
1
I
2
V
1 jX
m R
m
V
2
a = N
1
:N
2
ideal
jX
d2
. a
2
R
2
. a
2
Circuitoelctricoequivalente
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7
v
2
a = N
1
:N
2
I
2
jX
d1 R
1
v
2
jX
m R
m
jX
d2 R
2
v
1
Circuitoelctricoequivalente
r
1
j X
o1
j X
m
R
m
V
1
(t)
i
1
(t)
i
o
(t)
i
e
x
ce
1
(t)
N
1
:N
2
Z
I
2
(t)
r
1
j X
o1
j X
m
R
m
V
1
(t)
i
1
(t)
i
o
(t)
i
e
x
cZ
I
2
(t)
Circuito en PU
R1 X2
N1:N2
Ideal
X1
C2 Rm C1
R2
Xm
C12
Circuitoelctricoequivalente Circuitoelctricoequivalente
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8
B ~ V
H ~ i
B= H
Materialesmagnticos
ynomagnticos
B ~ V
H ~ i
B
max
I
0
Materialesmagnticos
ynomagnticos
B= H
( ) t t |
Histresis
Magnetostriccin
Magnetizacin
()
(i)
H
B
m
B
m
B
rem
-B
rem
(V)
B
BH(enmaterialmagntico)
Histresis
u
u
F
9 = u / F
S l . / = 9
) ( . vuelta amp i N F =
Fuerzamagnetomotriz yReluctancia
CircuitosMagnticosVsCircuitosElctricos
Voltaje (Volt)
Corriente (Amp)
Resistencia (Ohm)
Fuerza Magnetomotriz (Amp-vuelta)
Flujo Magntico (Weber)
Reluctancia (Amp-Vuelta/ Weber)
CircuitoMagnticoVsCircuitoElctrico
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9

9
R
9
S
9
T

+ + +

T

N
R
I
R
N
S
I
S
N
T
I
T

Circuitomagnticotrifsico
LS
LR
LT
CS
CR
CT
+
_
VS
+
_
+
_
VR
RS
RR
RT VT

NR NS NT 9R 9
S
9T
+ + +
R
S
T
NRIR NSIS NTIT
Circuitomagnticotrifasico
SanMarcos
Tasajera
Guatap
Ancn
EPM
Esmeralda
Purnio
LaMiel
Virginia
Yumbo
SANCARLOS
ANTIOQUIA/
CHOC
SUROCCIDENTAL
NORTE
Sierra Comuneros
Termocentro
Malena MAGDALENA
MEDIO
Valle
Cauca
Nario
Huila
Bogot
Mesa
Noroeste
Hermosa
Ancn
Sur ISA
Paez Jamondino
(Pasto)
Panamericana
(Ipiales)
Oriente
Miraflores
Tolima
Jaguas
Cerromatoso
Chin
Cerromatoso
CARIBE
SanFelipe
Betania
Torca
Balsillas
Occidente
Bello
Sabana
A.Anchicay
Salvajina
Pance
Juanchito
Barranca
Enea
LaMiel
Cartago
Cajamarca
Regivit
Colegio
/
SanBernardino
Sobrevoltajes internos.
Descargas atmosfricas.
Descargas internas (parciales).
Sobrevoltajes internos.
Descargas atmosfricas.
Descargas internas (parciales).
Sobrecargas.
Sobre excitacin.
Sobrecargas.
Sobre excitacin.
Corto circuitos.
Golpes.
Vibraciones.
Corto circuitos.
Golpes.
Vibraciones.
Desgastepor
envejecimiento.
Corrosin.
Desgastepor
envejecimiento.
Corrosin.
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Condicin
normal
(inicial)
Condicion
Envejecida
(normal)
Condicion de
prefalla
Falla
Anormal
Critica
Incipiente
Critica
Evento
anormal
Evaluacindelacondicin
Se trata de explotar a su mxima posibilidad
Obtener algunos datos o parmetros
Primerpaso:pruebas
Identificar algn evento anormal, tendencias y sntomas.
Segundopaso:diagnstico
Tomar decisiones para mejorar la condicin.
ELEMENTO FALLA METODO DE DIAGNOSTICO
Aislamiento
Envejecimiento
Anlisis fsico qumicos del aceite ,Grado de
polimerizacin DP, Anlisis de furanos, DGA
Mtodos qumicos de medicin de humedad,
PDC, FDS.
Contaminacin
Capacitancia y Tangente delta, ndice de
polimerizacin, resistencia de aislamiento
Descargas parciales Medicin de descargas parciales, DGA
Espiras en cortocircuito
Relacin de transformacin, corriente de
excitacin
Dao del conductor, conductores en paralelo
Contactos y conexiones de alta resistencia Corriente de excitacin, resistencia de devanados
Perdida de presin de apriete FRA
Desplazamiento o Deformacin axial y radial Impedancia de dispersin, Capacitancia, FRA
Ncleo
Puntos calientes DGA
Defectos en la estructura del ncleo magntico Corriente de excitacin, FRA
Anlisisdeaceite
FRA
FDS
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Carga V1(t)
I1(t)
|t(t)
e1(t) e2(t)
cc cc cc
jX R Z + =
cc cc cc
jX R Z + =
I2(t)
V1(t)
I
1
(t)
|t (t)
e1(t) e2(t)
|o1(t)
eo1(t)
I2(t)
V1(t)
I
1
(t)
|t (t)
e1(t) e2(t)
Carga
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u Z I V = f Z / ) (
Elcomportamientoenfrecuencia
R = f R ) (
Elcomportamientoenfrecuencia
wL = f Xl ) (
wC
1
= f X
C
) (
Elcomportamientoenfrecuencia
Log F
V2
V1
I1
Z(f)
wL Log = f Xl ) (
wC
1
Log = f X
C
) (
Elcomportamientoenfrecuencia
Elcomportamientoenfrecuencia
Debe ser siempre la misma
Elcomportamientoenfrecuencia
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-100
-90
-80
-70
-60
-50
-40
-30
-20
-10
0
0,010 0,100 1,000 10,000 100,000 1000,000 10000,000
Frecuencia [kHz]
M
a
g
n
i
t
u
d

[
d
B
]
Elcomportamientoenfrecuencia Elcomportamientoenfrecuencia
Vc
i
) (
1
) (
) (
S Z
SC
+ SL
s I
s V
= = ) ( ) ( ) ( s I
SC
1
+ s SLI s V =
) ( ) ( s I
SC
1
= s V
C
) ( ) ( ) ( s Vc + s SLxSCVc s V =
) (
) 1 (
1
) (
) (
2
s H FTo =
LC S
=
s V
s V

c

Debe ser siempre la misma

Debesersiemprelamisma
Sobrevoltajes internos.
Descargas atmosfricas.
Descargas internas (parciales).
Sobrecargas.
Sobre excitacin.
Corto circuitos.
Golpes.
Vibraciones.
Desgasteporenvejecimiento.
Corrosin.
Elctricos
Trmicos
Mecnicos
Fsicos
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Eventos que pueden deformar o desplazar las
as sus parmetros elctricos
Eventosdetipomecnico Fijacinmecnica
Fijacinmecnica Transporteymontaje
Sismo de noviembre 2004 en Costa Rica
Efectodeunterremoto
cc cc cc
jX R Z + =
cc cc cc
jX R Z + = B il F =
Cortocircuitofranco
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Fx
Fx
Fy
Fy
- Fy - Fy
Fy
Fy
F
F
N

c
l
e
o
B il F =
Cortocircuitofranco Movimientosaxiales
Ax
Ax
Desplazamientosodebilitamientomecnico Deformaciones
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identificar si se han presentado cambios, deformaciones o movimientos en su
estructura fsica interna.
-100
-90
-80
-70
-60
-50
-40
-30
-20
-10
0
0,010 0,100 1,000 10,000 100,000 1000,000 10000,000
Frecuencia [kHz]
M
a
g
n
i
t
u
d

[
d
B
]
Debesersiemprelamisma
IEC 60076-18: La relacin de fase y de amplitud
entre los voltajes que se miden en dos terminales de
un objeto de ensayo sobre un rango de frecuencias,
cuando uno de los terminales es excitado por una
ffuentel de tensin
IEEE PC57.149/D9: la medicin de la admitancia de
los elementos capacitivos e inductivos que conforman
sobre un amplio rango de frecuencias, comparando
los resultados con una referencia , para realizar un
diagnostico.
Respuestaenfrecuencia
Tcnica empleada para la deteccin de
variaciones en las caractersticas elctricas de los
anlisis de las curvas de respuesta de frecuencia.
Tcnica usada para detectar daos empleando
las mediciones de respuesta en frecuencia (IEC).
AnlisisdelaRespuestaen
FrecuenciaFRA
ImpulsodebajovoltajeLVI
Es difcil mantener la
ocasionaran variaciones en
la seal de salida
ImpulsodebajovoltajeLVI
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ImpulseFrequency ResponseAnalisys IFRA
Se muestrea la seal de entrada x(t)
Se muestrea la seal de respuesta y(t)
Se obtiene el espectro de ambas seales X(jw), Y(jw)
Se obtiene la funcin de transferencia, relacionando
ImpulseFrequency ResponseAnalisys IFRA
) (
) (
) (
i
i
i
I
V
Z
e
e
e =
) ( )........ ( ) ( ) ( ) ( 2 1 0 i V V V V t V e e e e + + + =
) ( )........ ( ) ( ) ( ) ( 2 1 0 i V I I I t I e e e e + + + =
IFRA
ConceptodelIFRA
Sweep Frequency Response
Analisys SFRA
) (
) (
) (
1
1
1
e
e
e
I
V
Z =
Concepto delSFRA Concepto delSFRA
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Sweep Frequency Response Analisys
(SFRA)
Se aplica un voltaje sinusoidal de unos pocos voltios (3 a10
V pico) a un devanado y se mide la seal de salida en el
mismo o en otro devanado, variando la frecuencia en una
rango entre 20 Hz y 2 M Hz.
Impulse Frequency Response Analisys
(IFRA)
Se aplica un impulso a un devanado (del orden de 100 V
pico) y se mide la seal instantnea de salida en el mismo o
MtodosdeIFRAySFRA IFRAySFRA
PC57.149/D9.1Mar2012
FRAX 101
CIGRE
05 06 07 08 09 10 11
IEEEDraft 1
NormaChina
Draft IEC
IEEEDraft 9.1
PPTA
NTC/GTC
2004 12
Evolucindelanormativa
IEC6007618
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I
1
I
2
V
2
V
1
Z
eq
Z
eq
Z
eq
Conexionesparalaprueba
Impedanciaenfuncinfrecuencia
Funcindetransferencia
) (
) (
) (
1
2
e
e
e
j V
j V
j H =
) (
) (
) (
1
2
e
e
e
j I
j V
j Z
tr
=
) (
) (
) (
1
1
1
e
e
e
j I
j V
j Z =
Tiposderespuestaenfrecuencia
Z
(S)
I
1
V
1
V
2
Z
eq
Z
eq
Z
eq
1
1
) (
I
V
Z
s
=
1
) (
2
*V
Z Z
Z
V
s eq
eq
+
=
) ( 1
2
) (
s eq
eq
s
Z Z
Z
V
V
H
+
= =
eq
s
eq
s
Z
H
Z
Z =
) (
) (
Relacinentrelasfunciones
Z
(S)
yH
(S)
eq
s
eq
s
Z
H
Z
Z =
) (
) (
Relacinentrelasfunciones
Z
(S)
yH
(S)
Barridoentre20Hz 2MHz
Conexionesparalaprueba Conexionesparalaprueba
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20
La frecuencia se varia entre 20Hz ~ 2MHz.
La impedancia del cable coaxial es usualmente de 50O y
su longitud esta entre 15m ~ 30m (18m).
En el TAP que involucra mas devanado (y el de menos).
Se realiza para cada fase en las diferentes conexiones.
Los puentes a tierra deben ser lo mas corto posibles y las
conexiones deben ser firmes.
Conexionesparalaprueba
Se debe repetir en las mismas condiciones.
Deben mantenerse todas las condiciones de prueba
Debe seguirse un protocolo y hacerse un registro
Debe realizarse con personal debidamente entrenado.
Conexionesparalaprueba
Conexindecircuitoabierto
(end to end opencircuit)
Conexindecortocircuito
(end to end opencircuit)
(capacitive interwindings)
Conexindevoltajetransferido
(inductive interwindings)
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Circuito abierto AT
H1 H3
X1-X2-X3
flotantes
H2 H1
H3 H2
Circuito abierto BT
X1 X0
H1-H2-H3
flotantes
X2 X0
X3 X0
AT con corto
circuito en BT
H1 H3
X1-X2-X3
En corto
H2 H1
H3 H2
BT
H1 X1
flotantes
H2 X2
H3 X3
Voltaje transferido
AT-BT
H1 X1
bajo prueba a tierra
H2 X2
H3 X3
Curvasobtenidas
PORCOMPARACION
Enel
tiempo
Entre
fases
gemelo
Tiposdecomparacin Comparacineneltiempo
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La naturaleza comparativa de la respuesta en
frecuencia requiere contar con buenas prcticas de
medicin para garantizar la mxima repetibilidad,
cada prueba se debe hacerse en una condicin tan
cerca como sea posible de las anteriores, para
asegurar que los cambios registrados sean slo
debido a variaciones dentro del transformador.
Problemasquesepueden
presentar
Es posible que factores no relacionados con
fallas, puedan afectar las respuestas y llevar a
una mala interpretacin de los resultados, estos
pueden ser:
Relacionados con los equipos de prueba
Externos
Factoresqueafectan
Rango de frecuencia SFRA (20Hz-2 MHz)
Precisin en el rango de medicin
Nivel de Voltaje
Cables de medicin
Buenas Conexiones
losequiposdeprueba
Voltajesdeprueba
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Cablesdiferentes Impedanciasdiferentes
Numerodepuntos
demuestreo
Rangodinmico
IEC+10dBto 90dB
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24
Magnetismo remanente.
Las Conexiones.
El acetite.
La temperatura.
Campos elctrico.
Campo magntico.
Elcircuitomagntico
magnetizacin
conexin
conexinatierra
diferentesniveles
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elctrico
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magntico
Se debe tener alto
nivel de certeza en
el diagnstico, ya
que se toman
decisiones muy
importantes a partir
del mismo.
Cambiosnotorios Cambiosnodrsticos
Se deben tener criterios para relacionar los
cambios en las curvas con variaciones fsicas en el
Pueden existir variaciones en el transformador y
que estas no se evidencien en las curvas de FRA.
Pueden presentarse cambios en las curvas que no
sean debidas a variaciones en el transformador.
El conocimiento para analizar las variaciones
en las curvas de FRA se puede obtener a
partir de:
La Normativa
Empleando modelos.
Pruebas en laboratorio.
La experiencia practica.
Criteriosdeanlisis
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Ncleo
Interaccion
entre
Estructuda
Cables
Delanormativa
UsodemodelosparaanlisisdeFRA
Condatosdeconstruccin.
Condatosdemediciones
MatemticocircuitalesModelodeceldasJ.Pleite
Parmetros Valor
Rexc 750.157
Lexc 0.459
Cexc 1.819 e-6
RL 0.017
RH 60.943
LH 0.425
LL 0.00012
CH 500 e-12
CL 333 e-12
CHL 284 e-12
CsH 5.5348E-10
CsL 4.3035E-10
x y
Pn
Empleodemodelos
(mediciones)
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ModeloyrespuestaX1X2abiertoyencorto
Variacinde la LL
delcircuito
equivalente
Variacinde
Cexcdelcircuito
equivalente
Inclinacin o Tilting (Fase R):
Todo el devanado de AT y las
galletas (1 y 2 derecha), (3 y 4
atrs, izquierda y derecha)
(FaseR):Engalletas1y3
DeformacinhacaafueraoBulge
(FaseR):Engalletas1,3,7y8
Cortocircuito entre
espiras: unin de las
galletas de AT de la
Fase R (12), (45) y (7
8)
Apilamientodelasgalletasde
ATendosgrupos
Ncleoconlaminasen
corto
Deformacin
logitudinaloBending
Pruebasespecialesen
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Noidentificablesonorelacionablesconlasvariacionesfsicas
Identificacindeloscambios
Identificacindeloscambios
Movimiento
AT con BT
abierto
BT con AT
abierto
AT con BT
CC
Inter-
Voltaje
Transferido
H2
H1
H3
H2
H1
H3
X1
X0
X2
X0
X3
X0
H2
H1
H3
H2
H1
H3
H1
X1
H2
X2
H3
X3
H1
X1
H2
X2
H3
X3
R S T R S T R S T R S T R S T
Suntec
AT
Fase R X X X X X X
Fase S X X X X X X X X
Fase T X X X X X X X
BT
Fase R X X X
Fase S X X X X X
Fase T X X X X
Explorer
AT
Fase R X X X X X X X X X
Fase S X X X X X X X X X
Fase T X X X X X X X X X
BT
Fase R X X X X X X X X
Fase S X X X X X X X X X
Fase T X X X X X X X X X
Fase R X X X X X
Fase S X X X X X X X
Fase T X X X X X X
TYF AT
Fase R X X X X X X X X X X
Fase S X X X X X X X X X
Fase T X X X X X X X X X
Relacinentremovimientosaxialesy
cambiosenlascurvasdeFRA(Yy)
Condicin
Antes y despus del ensayo de Corto
Antes y despus del ensayo de Impulso
Antes y despus de Calentamiento
Antes y despus del ensayo de Tensin
Con diferentes niveles de aceite
Diferentes posiciones de cables
Se realizaron pruebas en 17 transformadores de distribucin , 5 trifsicos y 12
monofsicos, con potencias de 15 a 112.5 kVA, para evaluar su comportamiento
ante diferentes condiciones.
Antes y despus del
ensayo de Corto
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Laexperiencia
SOFTWARE FRAX
101
MEGGER
Pasospreviosalarealizacindelaprueba
potencia y que todos sus bujes estn desconectados (incluido el de neutro).
2. El tanque o cuba del transformador bajo ensayo debe estar slidamente
3. Verificar que no se hayan realizado pruebas con tensiones de DC al
transformador antes de realizar las pruebas de respuesta en frecuencia, en
caso contrario realizar el proceso de desmagnetizacin.
4. Interconectar y encender el computador porttil y el equipo de FRA.
ConexindeloscablesalequipodepruebaFRAX
Figura 2. Conexin de cables al equipo FRAX 101
1
1
2
2
3
4y5
6
7
7
SoftwareFRAX Pantallainicial
La ventana principal del software FRAX esta divida en tres secciones:
2. Caractersticas de placa o las
graficas de prueba.
1 2
3
3. Sirve para visualizar las curvas y el
control de las pruebas.
Figura 3. Pantalla inicial
1. El navegador de pruebas o leyenda:
gua la realizacin de la prueba.
Figura 1. Base de datos Pruebas FRA
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Seleccindeltipodeprueba
Ejecucindelaspruebas