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La microscopa electrnica de barrido SEM (I) Concepto y usos

Publicado por: PyRC

La microscopia electrnica de barrido o SEM se basa en el principio de la microscopia ptica en la que se sustituye el haz de luz por un haz de electrones. Con esto conseguimos hasta los 100 , resolucin muy superior a cualquier instrumento ptico. Su funcionamiento consiste en hacer incidir un barrido de haz de electrones sobre la muestra. La muestra (salvo que ya sea conductora) est generalmente recubierta con una capa muy fina de oro o carbn, lo que le otorga propiedades conductoras. La tcnica de preparacin de las muestras se denomina sputtering o pulverizacin catdica. Al alcanzar el haz la superficie de la muestra se generan principalmente las siguientes partculas - Electrones retrodispersados (e1) - Electrones secundarios (e2) Adems de radiacin electromagntica (rayos X) y otras partculas menos significativas. El microscopio se encuentra internamente equipado con unos detectores que recogen la energa y la transforman en las siguientes imgenes y datos: - Detector de electrones secundarios: (SEI Secundary Electron Image) con los que obtenemos las imgenes de alta resolucin. - Detector de electrones retrodispersados: (BEI Backscattered Electron Image) Con menor resolucin de imagen pero mayor contraste para obtener la topografa de la superficie.

- Detector de energa dispersiva: (EDS Energy Dispersive Spectrometer) detecta los rayos X generados y permite realizar un anlisis espectrogrfico de la composicin de la muestra. La imagen de cabecera muestra el primer microscopio electrnico de uso en Espaa, que data de 1946. En la siguiente imagen aparece un microscopio actual.

Aplicaciones prcticas en materiales de construccin - Morteros y hormigones: Microestructura, fases cristalinas, impurezas, deteccin e identificacin de sales, microfisuracin, etc. - Materiales metlicos: Fases cristalinas, texturas, composicin, tamao de grano, patologas y deterioro (corrosin, fatiga, defectos, fragilizacin, etc.) - Anlisis de fracturas en distintos materiales. - Determinacin de espesores.

- Productos cermicos: Microestructura, evaluacin de la temperatura de coccin, fases cristalinas, impurezas, deteccin e identificacin de sales y esflorescencias, etc. - Geologa: Cristalografa, composicin mineralgica, petrologa, estudio de composicin de arcillas, etc. - Patrimonio, Conservacin y Rehabilitacin: Anlisis de materiales ptreos, morteros y pinturas, grado y origen de alteracin, estado, caracterizacin del sistema poroso, biodeterioro, efecto de los tratamientos de limpieza y consolidacin, anlisis de sales y costras, anlisis de pigmentos. Las aplicaciones son mltiples y muy tiles donde otros anlisis y ensayos comunes en los laboratorios tradicionales de construccin no pueden llegar. Otra de las ventajas de la SEM es la escasa porcin de muestra que se necesita para el anlisis, lo que lo convierte prcticamente en un ensayo no destructivo. Ejemplo: En las siguientes fotografas se muestra el anlisis de un mortero (No se dispone de datos previos sobre composicin) Este primer examen se hace sobre la mayor fraccin de la muestra. La zona del recuadro magenta indica el fragmento sobre el que se realiza el anlisis de composicin.

Los valores pueden mostrase en combinacin con oxigeno o como elementos qumicos puros. Elemento %Peso %P.Atomico %Comp. Formula Na 1,48 1,43 1,99 Na2O Mg 1,00 0,92 1,66 MgO Al 8,74 7,20 16,51 Al2O3 Si 23,00 18,22 49,21 SiO2 K 0,89 0,51 1,08 K2O Ca 16,98 9,43 23,76 CaO Ti 0,34 0,16 0,57 TiO2 Fe 2,92 1,16 3,75 FeO O 43,18 60,04 Cl 1.47 0 .92 Posteriormente se enfoca el anlisis hacia la laja que aparece en la imagen.

Este es el espectrograma que obtenemos y su composicin qumica simple.

Elemento %Peso %P.Atomico C 5,64 9,26 O 46,24 57,00 Si 47,91 33,64 Ca 0,21 0,11 Ver tambin: La microscopa electrnica de barrido SEM (II) Casos prcticos.