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Carlos R. A. Lima
Departamento de Fsica Instituto de Cincias Exatas Universidade Federal de Juiz de Fora

Professores Revisores Roberto Rosas Pinho e Maria Luiza Bedran

Roteiro Experimental de

Laboratrio de Fsica IV

Juiz de Fora 2003

NDICE
Introduo ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------04 Experincia 01- Uso do osciloscpio -----------------------------------------------------------------------------------------------05 Experincia 02- Carga e descarga de capacitores e indutores.--------------------------------------------------------------14 Experincia 03- Determinao da diferena de fase em circuitos de corrente alternada -----------------------------20 Experincia 04- ndice de refrao de lquidos e slidos ----------------------------------------------------------------------26 Experincia 05- Desvios linear e angular em prismas -------------------------------------------------------------------------32 Experincia 06- Espelhos e Lentes -------------------------------------------------------------------------------------------------38 Experincia 07- Polarizao e a lei de Mallus.-----------------------------------------------------------------------------------47 Experincia 08- Atividade ptica.---------------------------------------------------------------------------------------------------51 Experincia 09- Interfermetro de Michelson -------------------------------------------------------------------------------------58 Experincia 10- Difrao em Aberturas e Obstculos e Redes de Difrao ----------------------------------------------62 Experincia 11- Modelo atmico de Bohr ------------------------------------------------------------------------------------------72 Experincia 11- Efeito fotoeltrico e o limiar fotoeltrico ----------------------------------------------------------------------78

INTRODUO
A disciplina de laboratrio de fsica IV tem como objetivo abordar tpicos experimentais relacionados disciplina de fsica IV. Nessa disciplina o estudante tem os primeiros contatos com experincias relacionadas ao estudo de correntes alternadas, ptica e fsica moderna. Na medida do possvel, as experincias seguem a mesma ordem da disciplina terica de fsica IV. Espera-se com isso, que o estudante tenha a oportunidade de entender o fenmeno fsico do ponto de vista terico e experimental. A preparao dos relatrios de cada experincia dever seguir um padro que permita ao estudante entender o desenvolvimento do mtodo cientfico. A disciplina de laboratrio de fsica IV uma matria experimental, na qual a turma de estudantes se divide em grupos de trabalho. No incio de cada aula, o professor apresenta uma breve discusso terica sobre a experincia que ser realizada. Nessa discusso, os grupos tambm so orientados na seqncia lgica do procedimento experimental. Sugere-se que uma experincia completa deve ser executada em cada aula. Para um desenvolvimento satisfatrio dos trabalhos, as aulas sero baseadas na Apostila de Laboratrio de Fsica IV, que estar disponvel na Internet na pgina do departamento de Fsica (www.fisica.ufjf.br), para que interessados possa tirar cpias da mesma. A apostila composta por roteiros que inclui uma breve introduo terica sobre o ttulo da experincia e o procedimento experimental a ser seguido. Cada roteiro dever ser estudado cuidadosamente fora do horrio de aula por cada estudante antes da realizao da experincia. Cada equipe dever ter um caderno de laboratrio com pginas numeradas tipo ATA, para anotaes de dados, tabelas e clculos obtidos durante os experimentos. Esse caderno de laboratrio ser parte integrante da avaliao final e dever acompanhar a equipe durante todas as experincias. A falta desse material em uma ou mais experincias implicar em perdas de pontos para a equipe. Todos os dados e resultados que a equipe considerar relevantes, devero ser apresentados ao professor por escrito em forma de relatrio. A forma dos relatrios dever seguir o mesmo padro para todas as experincias, contemplando os seguintes itens: Ttulo, Autores, Instituio, Objetivos e metas, Teoria, Procedimento experimental, Resultados, Concluses, Referncias. Cada relatrio dever ser entregue ao professor, no mximo, aps 15 dias ao trmino da experincia. No final do semestre, quando todas as experincias estiverem terminadas, cada estudante ser submetido individualmente a uma prova de bancada e outra escrita. A prova de bancada ser uma pequena parte de qualquer uma das experincias realizada durante o semestre. Nessa prova, cada estudante receber um mini roteiro para desenvolver um mini relatrio, nos mesmos moldes dos relatrios convencionais. A prova escrita conter questes conceituais relacionadas ao tema da disciplina e questes de natureza tcnica relacionadas s experincias realizadas. No final do curso, cada estudante ser avaliado com base nas notas de relatrio (RE), caderno de laboratrio (CL), prova escrita (PE) e prova de bancada (PB). A nota final (NF) deve ser calculada como segue: NF= 0,25(NR) + 0,05(CL) + 0,35(PE) + 0,35(PB) Os alunos que alcanar nota final igual ou superior a 60 estaro liberados. Alunos que perdero a prova escrita ou a prova de bancada, tero direito a fazer uma segunda chamada desde que faam pedido justificado da falta num prazo de 48 horas teis a partir do trmino da prova. A mdia final dever ser tambm igual ou superior a 60.

EXPERINCIA 01 USO DO OSCILOSCPIO


1- OBJETIVO Familiarizao com o osciloscpio 2- INTRODUO TERICA 2.1- APRESENTANDO O OSCILOSCPIO O osciloscpio um instrumento fundamental para a anlise de circuitos e sistemas eletrnicos e tem sido uma das ferramentas mais importantes para o desenvolvimento de projetos na eletrnica moderna. O osciloscpio de raios catdicos foi inventado em 1897 por Ferdinand Braun, com a finalidade de analisar variaes de intensidade de tenses com o tempo. Foi nesse mesmo ano que J.J. Thomson mediu a razo entre a carga e a massa do eltron. O osciloscpio passou a ser comercialmente vivel somente em 1905, quando Welhnet desenvolveu um tubo de raios catdicos. Basicamente, um osciloscpio capaz de produzir num anteparo uma imagem que representa graficamente um fenmeno dinmico, tais como: pulso de tenso, tenso que varie com o tempo, descarga de um capacitor ou indutor, etc. Os fenmenos podem se repetir numa certa freqncia, ou ento podem ser nicos, ocorrendo por um s instante somente uma nica vez. Alguns osciloscpios podem permitir a visualizao de fenmenos lentos que durem alguns segundos, ou fenmenos rpidos que ocorram milhes de vezes por segundo. Os tipos mais comuns de osciloscpios tem uma faixa de freqncia que vai de 20 a 100 MHz, e normalmente so os mais empregados no desenvolvimento de projetos na indstria moderna. Para visualizar os sinais eletrnicos com preciso, os osciloscpios possuem controles e alguns recursos adicionais que podem variar com a sofisticao do modelo. Nos mais simples, possvel sincronizar os sinais apenas com uma base de tempo interna ao instrumento, enquanto que em outros isso pode ser estendido a bases externas. Osciloscpios mais sofisticados utilizam circuitos de sincronismos digitais que so verdadeiros computadores. Nestes, alm de se poder digitalizar uma imagem, tambm possvel realizar clculos com os dados que foram armazenados. Alguns desses osciloscpios so capazes de apresentar, numericamente, valores de pico, freqncia, perodo, e at mesmo, eventuais distores que possam ocorrer com um sinal analisado. O funcionamento de um osciloscpio se baseia na deflexo de um feixe de eltrons e posterior coliso do mesmo contra uma tela fluorescente. Esta tela sensibilizada emite luz visvel na forma de um ponto. A deflexo do feixe eletrnico ao longo da direo vertical d a resposta ao sinal de entrada e na horizontal, a dependncia temporal do mesmo. Como resultado, tem-se uma construo grfica bidimensional, similar ao um sistema de eixos cartesianos. O elemento principal de um osciloscpio o tubo de raios catdicos que, entretanto, necessita de uma srie de circuitos auxiliares para controlar o deslocamento do feixe eletrnico, desde sua gerao at o ponto onde atinge a tela fluorescente. 2.2- O TUBO DE RAIOS CATDICOS (TRC) uma espcie de vlvula na qual os eltrons emitidos de um ctodo aquecido se deslocam na forma de um feixe estreito at a coliso contra a tela fluorescente. Como mostrado na Fig. 1.1 um tubo de raios catdicos [01][02] possui os seguintes elementos : filamento, ctodo, grade de controle, anodo de acelerao e focalizao, placas de deflexo vertical e horizontal, e tela fluorescente. O filamento consiste de um fio de resistncia adequada, alojado no interior do ctodo e o elemento responsvel pela emisso de eltrons. O filamento emite eltrons quando aquecido por efeito Joule ao ser submetido a uma tenso c.a., da ordem de 6.3V. O ctodo possui um potencial altamente negativo, constitui-se de uma superfcie metlica cilndrica, e a partir dele que os eltrons so fortemente acelerados em direo ao nodo.

ANODO DE FOCALIZAO FILAMENTO AQUECIDO PLACA DE DEFLEXO HORIZONTAL FEIXE ELETRNICO

CATODO PLACA DE DEFLEXO VERTICAL GRADE DE CONTROLE ANODO DE ACELERAO Fig.1.1- Tubo de raios catdicos com seus elementos integrantes.

TELA FLUORESCENTE

A grade de controle regula a passagem de eltrons procedente do ctodo nodo. Constitui-se de um cilindro metlico com um orifcio circular no fundo e possui o mesmo potencial que nodo. Quando o potencial dessa grade controlado, verifica-se uma variao no brilho da imagem sob a tela do osciloscpio. O nodo de focalizao e de acelerao possui um formato cilndrico com pequenos orifcios para a passagem do feixe eletrnico. Possuem um alto potencial positivo em relao ao ctodo, para que os eltrons sejam fortemente acelerados e se desloquem numa trajetria linear. Entre esses dois nodos, existe um campo eletrosttico que funciona como uma espcie de lente biconvexa para eltrons, possibilitando a convergncia do raio a um determinado ponto. O conjunto formado pelo filamento, ctodo, grade de controle e os nodos de focalizao e acelerao conhecido como "canho eletrnico". As placas de deflexo horizontal e vertical so submetidas a campos eltricos controlveis, e so responsveis pela deflexo do raio eletrnico na tela do osciloscpio. A deflexo do raio eletrnico est baseado no princpio da deflexo eletrosttica, mostrada na Fig.1.2, onde um eltron de massa m e carga e, desloca-se com uma velocidade v0 , perpendicularmente ao campo uniforme E.

v0
0

+ + + + + + + + +

G E

(x1 ,y1) x

TELA FLUORESCENTE
Fig.1.2- Trajetria de um eltron ao atravessar uma regio com um campo eltrico uniforme. O movimento do eltron similar ao de um projtil lanado horizontalmente no campo sob a ao da gravidade da terra. Como o eltron tem uma carga negativa, ele deve ser acelerado em direo a placa positiva com uma acelerao

ay =

eE . Logo, valores dos pontos (x ,y) podem ser calculados m eE 2 y= t x = v0 t 2m

por: (1.1)

Eliminando-se o tempo tem-se a equao da trajetria do eltron. Quando o eltron atravessa a regio entre as placas, ele segue seu movimento em linha reta, tangente parbola no ponto (x1,y1), desde que a gravidade da terra seja desprezada. No osciloscpio, a deflexo eletrosttica atua em dois pares de placas perpendiculares entre si, para possibilitar deslocamentos verticais e horizontais do feixe eletrnico. As telas fluorescentes dos osciloscpios podem ter dimenses e formas variadas. So de vidro onde na sua parte interna depositado um material fluorescente, como por exemplo, fsforo ou o sulfeto de zinco, que emite luz com a coliso do feixe eletrnico. Esses materiais fluorescentes possuem tambm uma caracterstica de fosforescncia, isto , continuam a emitir luz mesmo depois de cessar o bombardeamento eletrnico. A intensidade do feixe na tela do osciloscpio pode ser ajustada utilizando-se os controles de foco e astigmatismo disponveis no osciloscpio. Mantendo-se baixa a intensidade luminosa e breve a exposio do feixe na tela do osciloscpio, evita-se a destruio permanente da camada de fsforo, o que prolonga a vida til do equipamento. Uma superfcie condutora chamada de aquadag, eletricamente ligada ao segundo nodo, reveste o interior do tubo de raios catdicos, e utilizado para capturar eltrons gerados numa segunda emisso, resultante do bombardeio eletrnico. Esta superfcie tem tambm a finalidade de servir como ltimo nodo acelerador do feixe. 2.3- DEFLEXO HORIZONTAL (BASE DE TEMPO) O circuito de base de tempo atua junto s placas de deflexo horizontal. Estas placas controlam o movimento do feixe eletrnico na direo horizontal. Esse circuito faz com que o ponto luminoso na tela do osciloscpio mova na direo horizontal, da esquerda para a direita, com velocidade constante retornando periodicamente a sua posio inicial. Para efetuar este percurso, o circuito de base de tempo proporciona s placas horizontais uma tenso varivel do tipo dente de serra. O intervalo de tempo transcorrido entre os valores de mnimo e mximo dessa tenso varivel, corresponde ao tempo que o ponto leva para ir da esquerda para a direita, e denominado de tempo de varredura horizontal. O intervalo de tempo de retorno, necessrio para que o ponto retorne para esquerda, muito menor que o tempo de varredura, pois o interesse na reproduo da trajetria eletrnica da esquerda para a direita. O retorno deve se o mais rpido possvel. Nos osciloscpios os circuitos de base de tempo proporcionam bases de tempo de freqncias variveis, para que uma ampla gama das mesmas possa ser analisada. A variao de freqncias da base de tempo processada por meio de uma chave seletora que controla um circuito RC. Um problema muito comum relacionado a circuitos que fornecem ondas dente de serra o fato da imagem se tornar instvel na tela do osciloscpio, o que dificulta a leitura do sinal analisado. Para a imagem se tornar estvel, necessrio que a freqncia da tenso em dente de serra seja sincronizada com a freqncia do sinal analisado. Esse problema se torna particularmente difcil quando se trata de altas freqncia (maior do que 150KHz). Para esses casos necessrio o uso de circuitos mais complexos. Normalmente a freqncia do sinal horizontal pode derivar, da prpria base de tempo, do exterior ou da rede (60Hz). Para proporcionar ao sinal, procedente do circuito de base de tempo, uma amplitude suficiente para que a varredura eletrnica ocupe toda a tela do osciloscpio, utiliza-se um amplificador horizontal. O amplificador horizontal amplifica, no somente o sinal em dente de serra, mas tambm o sinal a ser analisado aplicado entrada X (vertical) do osciloscpio. 2.4- DEFLEXO VERTICAL (AMPLITUDE DO SINAL) Normalmente, um osciloscpio capaz de analisar sinais eltricos de valores que podem ser de 20V/cm de altura, ou at 30V/cm quando se tratar de corrente alternada. A sensibilidade de deflexo de um osciloscpio uma das caractersticas mais importantes que valorizam o aparelho. Quanto maior a sensibilidade deflexo, melhor ser o aparelho. Osciloscpios mais comuns possuem sensibilidade da ordem de 10mV/cm. evidente que quando se aplica um sinal da ordem de milivolts, por exemplo, entrada vertical do osciloscpio, o desvio vertical do sinal praticamente no ser notado. Para que esses sinais pequenos possam ser analisados, o osciloscpio utiliza um circuito amplificador que os eleva a um valor apropriado. O circuito amplificador formado pelos seguintes elementos: atenuador, seguidor catdico e amplificador. O atenuador tem como funo reduzir a amplitude do sinal de entrada quando este possuir um valor excessivo que ponha em risco a fidelidade do sinal. Em geral, o circuito atenuador reduz o valor do sinal de entrada, em 10, 100 ou 1000, vezes. Uma vez atenuado, o sinal aplicado a um capacitor de tenso de ruptura da ordem de 400V, cuja finalidade evitar que uma corrente se mantenha pelo circuito.

O atenuador provoca uma forte diminuio do valor dos sinais de entrada (10, 100, 1000 vezes). Para evitar que o sinal perca sensibilidade. Em osciloscpios mais sofisticados, o atenuador utiliza um dispositivo denominado de seguidor catdico para proporcionar um casamento de impedncias do circuito de entrada e sada do equipamento. O amplificador composto de um pr-amplificador, um circuito compensador; e um amplificador final. O pr-amplificador, etapa que efetivamente amplifica a tenso de entrada, acoplado ao amplificador final por uma seo de filtros corretores de rudos. O ganho de um pr-amplificador deve ser, em geral, elevado. O circuito compensador responsvel por um alargamento da banda passante do amplificador. Esse alargamento uma caracterstica importante que define a qualidade de um osciloscpio. Num osciloscpio, podem existir trs tipos de circuitos compensadores: compensador de baixas freqncias, compensador de altas, freqncias e compensador misto. O compensador de baixa freqncia permite a passagem de freqncias baixas da curva de resposta para a etapa seguinte, com um ganho mais uniforme e com baixa defasagem. Este circuito deve ter uma constante de tempo bastante elevada para evitar diminuio do ganho e distoro de fase das baixas freqncias. O compensador de altas freqncias permite diminuir o efeito das capacitncias parasitas, responsveis pela limitao das altas freqncias da banda passante. O compensador misto acumula as funes dos compensadores de baixas e altas freqncias. O uso de compensadores mistos aumenta em muito, a faixa de largura da banda passante, j que tanto altas como baixas freqncias so consideradas. Para se conseguir uma faixa larga de freqncias, no necessrio somente selecionar o circuito compensador correto, mas tambm recorrer a uma srie de filtros corretores que integram os elementos de acoplamento entre as passagens. O amplificador final atua diretamente nas placas de deflexo vertical do osciloscpio. 2.4- ENTRADAS E CONEXES DO OSCILOSCPIO Existem atualmente no mercado grandes variedades de osciloscpios. Seria impraticvel descrever todos os comandos de cada um deles. Entretanto, conhecer os comandos relacionados a um osciloscpio considerado bsico, no fica difcil entender aqueles relacionados a outros mais complexos. A Fig. 1.3 mostra, com o painel em primeiro plano, o modelo de osciloscpio do osciloscpio National, modelo VP-5102B/10 utilizado em nosso laboratrio. Os controles e entradas do osciloscpio podem ser divididos nos seguintes grupos: comando da fonte de alimentao, comando de ajuste do trao ou do ponto na tela, comandos e entrada de atuao vertical, comandos e entrada de atuao horizontal e comandos de entrada de sincronismo. 2.4.1- COMANDOS DA FONTE DE ALIMENTAO Esses comandos tm como funo interromper ou estabelecer a corrente no primrio do transformador de fora do equipamento. Sua atuao, eventualmente, acompanhada por uma lmpada ou led piloto (1) que serve de aviso sobre a situao do circuito (ligado ou desligado). 2.4.2- COMANDOS DE AJUSTE DO TRAO OU DO PONTO NA TELA Esses comandos ajustam a luminosidade e o foco do ponto ou do trao (2). O controle do brilho realizado por meio de um potencimetro (3), que regula o potencial do circuito da grade de controle do tubo de raios catdicos. importante evitar o uso de um brilho excessivo para que a tela no seja danificada permanentemente. O foco ajusta a nitidez do ponto ou do trao luminoso. O ajuste do foco realizado por meio de um potencimetro (4) que regula a polarizao do eletrodo de enfoque. O foco deve ser ajustado de forma a se obter um trao mais fino e ntido possvel na tela.

O brilho e o foco so ajustes bsicos que devem ser realizados antes mesmo de se iniciar a utilizao do osciloscpio. Uma fonte de luz reticular permite ainda a iluminao da escala ou divises na tela.

1 2 3 4

17 13 19 15 16 11 10 5

18 14 12

9 6 8 7 6

Fig.1.3- Fotografia do osciloscpio National, modelo VP-5102B/10, utilizado em nosso laboratrio. O painel com todos os comando mostrado em primeiro plano.

2.4.3- COMANDOS E ENTRADA DE ATUAO VERTICAL Em geral, os osciloscpios possuem duas entradas de atuao vertical, controladas por uma chave (MODE) (5). As duas atuaes so selecionadas por meio dos canais CH1 (IMPUT X) ou/e CH2 (IMPUT Y) (6), sendo que ambos so mantidos numa mesma referncia aterrada externamente (7). Na posio dual, os dois canais so utilizados simultaneamente. Na posio XY pode-se observar a correlao espacial existente entre dois sinais introduzidos nas duas entradas do equipamento. A atuao vertical formada por uma entrada do sinal (6), uma chave de seleo do modo de entrada (ACDC) (8), uma chave seletora de ganho (VOLT/DIV) (9), um controle de posio vertical (POSITION 7) (10), e um controle de calibrao (VARIABLE)(11) . Na entrada do sinal (6) conecta-se a ponta de prova do osciloscpio. As variaes de tenso aplicadas nesta entrada so observadas na tela. A chave de seleo do modo de entrada (AC-DC) (8) seleciona o tipo de onda que se deseja analisar: corrente alternada (AC) ou corrente contnua (DC). No osciloscpio do laboratrio, esta chave possui trs posies (AC-GND-DC) (8). A posio adicional, relacionada a um aterramento GND ( do ingls ground), normalmente utilizada para ajustes do trao do osciloscpio quando se deseja, por exemplo, uma referncia na tela. Alguns osciloscpios no so dotados dessa posio adicional no modo de entrada. A posio DC pode ser utilizada para observar tanto o sinal contnuo quanto o alternado. Isso necessrio para que se possa observar sinais alternados (AC) sobre um sinal contnuo (DC). O recurso AC utilizado somente quando no se deseja observar um sinal DC. A chave seletora de ganho (VOLT/DIV) (9), ajusta a escala adequada na tela, dependendo da amplitude do sinal aplicado na entrada do osciloscpio. O controle de posio vertical (POSITION 7)(10), permite deslocar verticalmente a imagem referente ao sinal na tela do osciloscpio, sem alterar sua forma. O controle de calibrao (VARIABLE) (11), atua na calibrao do ganho do osciloscpio. Normalmente deve ser mantido na posio CAL para que a leitura da amplitude do sinal esteja correta. 2.4.4- COMANDOS E ENTRADA DE ATUAO HORIZONTAL A atuao horizontal formada por uma chave de seleo de base de tempo (TIME/DIV) (12), um controle de posio horizontal (POSITION) (13), e um controle de calibrao (VARIABLE) (14): A chave de seleo de base de tempo (TIME/DIV) (12), ajusta a escala de tempo adequada, dependendo da freqncia do sinal analisado. Em alguns osciloscpios esta chave seletora tem uma posio identificada como externa (EXT), permitindo que o deslocamento horizontal possa ser controlado por circuito externo ao osciloscpio, por uma entrada especfica. Quando esta opo selecionada tem-se apenas um ponto na tela do osciloscpio. O controle de posio horizontal (POSITION) (13), permite deslocar horizontalmente a imagem referente ao sinal na tela do osciloscpio, sem alterar sua forma. O controle de calibrao (VARIABLE) (14), atua na calibrao da base de tempo do osciloscpio. Normalmente deve ser mantido na posio CAL para que a leitura da freqncia do sinal esteja correta. No osciloscpio do laboratrio, a imagem na tela poder ser amplificada por um fator 05, se a chave do controle de calibrao estiver puxada. 2.4.5- COMANDOS E ENTRADA DE SINCRONISMO (TRIGGER) So comandos destinados a fixao da imagem na tela do osciloscpio. Estes comandos so utilizados principalmente na observao de sinais alternados. A entrada de sincronismo formada por um controle de seleo da fonte de sincronismo (SOURCE) (15), um controle do modo de sincronismo (MODE) (16), e um controle do nvel de sincronismo (LEVEL) (17).

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O controle de seleo da fonte de sincronismo (SOURCE) (15), seleciona a origem do sinal de sincronismo para a fixao da imagem na tela do osciloscpio. Normalmente, esta chave possui trs posies diferentes: Interno (INT), rede (LINE) e externo (EXT). Na posio INT o sinal de sincronismo tem como base o prprio sinal de entrada. Na posio LINE o sinal de sincronismo tem como base a freqncia da rede de alimentao do osciloscpio (60Hz). Nesta posio consegue-se facilmente sincronizar na tela sinais aplicados na entrada vertical obtidos a partir da rede eltrica. Na posio EXT sinal de sincronismo tem como base um sinal externo aplicado a um terminal de entrada de sincronismo (EXT. TRIG) (18). O controle de modo de sincronismo (MODE) (16), seleciona o modo do sinal de sincronismo para a fixao da imagem na tela do osciloscpio. Normalmente, esta chave possui duas posies diferentes: automtico (AUTO), ou normal (NORM). Na posio AUTO o osciloscpio realiza o sincronismo automaticamente, com base no sinal selecionado pela chave seletora de fonte de sincronismo. Na posio NORM o sincronismo ajustado manualmente por meio do controle do nvel de sincronismo. O controle do nvel de sincronismo (LEVEL) (17), deve ser solicitado quando o controle de modo de sincronismo (MODE) estiver na posio NORM. Nesse caso, o sinal do primeiro pico do sincronismo pode ser controlado por uma chave (SLOPE) (19). Na posio (+), o primeiro pico do sincronismo positivo, e na posio (-) este negativo. O sincronismo ajustado manualmente por um potencimetro que controla o nvel de sincronismo (17). 2.5- EXEMPLOS DE UTILIZAO DO OSCILOSCPIO. 2.5.1- Medio da tenso pico a pico e freqncia de um sinal AC. A Fig. 1.4 mostra a configurao de um sinal alternado senoidal observada na tela de um osciloscpio quando os comandos deste so colocados nas posies indicadas.

SOURCE INT. AC-GND-DC DC. VOLT/DIV 5,0 V. TIME/DIV 1,0 ms.

Fig.1.4- Observao de um sinal alternado AC no osciloscpio. Neste exemplo, o valor do sinal pico a pico deve ser calculado pela multiplicao do fator de escala (VOLT/DIV =5,0 V) pelo nmero de divises verticais ocupadas pelo sinal na tela (=2,3 Div.), que pode ser escrito com dois algarismos significativos, sendo o ltimo duvidoso, isto :

Vpp = 5,0 Volts / Div 2,3 Div = 11,5Volts 11Volts


Note que, nesse caso, o resultado final deve aparecer com dois algarismos significativos, uma vez que os dois termos do produto possuem dois algarismos significativos. A aproximao foi feita de acordo com a regra utilizada na teoria de erros. A determinao da freqncia f pode ser feita por meio do clculo do perodo T do sinal. O perodo deve ser calculado pela multiplicao da escala (TIME/DIV =1,0 ms) pelo nmero de divises verticais ocupadas por uma onda completa (=3,5), que tambm pode ser escrito com dois algarismos significativos, sendo o ltimo duvidoso, isto

a f

T = 1,0 ms / Div 3,5 Div = 3,5ms = 0,0035s


Note que o nmero de algarismos significativos nas duas ltimas operaes continuam sendo dois, uma vez que no so algarismos significativos os zeros esquerda do primeiro algarismo significativo diferente de zero.

a f

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A freqncia ser obtida pelo inverso do perodo, isto :

Note que se fez a aproximao algarismos significativos na operao final, uma vez que potncias de dez no so contadas como algarismos significativos. 2.5.2- Medio da amplitude de um sinal DC. Antes da medio de um sinal contnuo DC, inicialmente este deve ser zerado no osciloscpio. Isto pode ser feito com o comando AC-GND-DC colocado na posio GND, e ajustando a posio do sinal no centro da tela utilizando o comando POSITION 7. Feito isto, o sinal pode ser medido corretamente como mostra a Fig. 1.5, quando os comandos do osciloscpio so colocados nas posies indicadas.

1 1 = = 2,9 102 Hz T 0,0035s 285,7 Hz 286 Hz 2,9 102 Hz , de modo a manter um nmero de dois f =

SOURCE LINE. AC-GND-DC DC. VOLT/DIV 5,0V.

Fig.1.5- Observao de um sinal contnuo DC no osciloscpio.

Nesse exemplo a amplitude do sinal DC deve ser calculada pela multiplicao do fator de escala (VOLT/DIV =5V/Div) pelo nmero de divises verticais ocupadas pelo sinal na tela a partir do eixo central (=1,5), isto

V = 5,0 Volts / Div 1,5 Div = 7,5Volts


Note que as regras de operao com algarismos significativos so tambm obedecidas aqui. O osciloscpio permite ainda o uso dos dois canais simultaneamente, atravs do comando MODE mantido na posio XY. Quando duas senides so injetadas nesses canais, observam-se as conhecidas Figuras de Lissajous muito teis na anlise de sinais em circuitos eletrnicos. Em experincias posteriores utilizaremos esta tcnica para a determinao da diferena de fase entre dois sinais alternados. 3- MATERIAL NECESSRIO Osciloscpio, gerador de funes, fonte de corrente contnua e cabos. 4- PROCEDIMENTO 4.1- Preparao do osciloscpio 4.1.1- Ligue o osciloscpio, gire o controle Intensity at o aparecimento do feixe eletrnico e utilize o controle Focus para focalizar o feixe eletrnico. 4.1.2- Utilize os controles 7 de forma a centralizar o feixe eletrnico. 4.1.3- Mantenha os controles VARIABLE da escala de tempo e voltagem na posio de calibrao (CAL). 4.1.4- Mantenha o controle MODE na posio (NORMAL). 4.2- Medida de um sinal AC 4.2.1- Mantenha o controle SOURCE na posio (INT) e mantenha o controle AC-GND-DC em DC.

f a f

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4.2.2- Ajuste o gerador de funes para uma onda senoidal, gire o controle de amplitude at aproximadamente metade do mximo e sintonize a freqncia para aproximadamente 500Hz. 4.2.3- Insira o sinal senoidal na entrada X do osciloscpio utilizando os cabos coaxiais. Lembre-se de conectar tambm os terminais de terra. Atue no controle LEVEL para fixar a varredura eletrnica na tela. 4.2.4- Ajuste e anote a escala de voltagem do osciloscpio de modo a ter uma boa observao da amplitude pico a pico do sinal na tela. 4.2.5- Ajuste e anote a escala de tempo do osciloscpio de modo a ter uma boa observao do perodo do sinal na tela. 4.2.6- Utilizando o osciloscpio determine a amplitude pico a pico e a freqncia do sinal com a melhor preciso possvel. Lembre-se que

f =1 T.

4.2.7- Repita os procedimentos 4.2.4 a 4.2.6 para uma onda quadrada com o gerador de funes na amplitude aproximadamente da mxima e sintonizado em 5kHz. 4.2.8- Repita os procedimentos 4.2.4 a 4.2.6 para uma onda triangular com o gerador de funes na amplitude mxima e sintonizada em 50kHz. 4.3- Medida de um sinal DC 4.3.1- Mantenha o controle SOURCE na posio (LINE) e Atue no controle LEVEL para fixar a varredura do feixe eletrnico na tela. 4.3.3- Coloque o controle AC-GND-DC em (GND) e atue no controle POSITION (7) at o feixe eletrnico ficar sobre o eixo horizontal central da tela. 4.3.4- Ajuste a fonte de corrente contnua de modo a fornecer aproximadamente 5V, utilizando o prprio voltmetro do equipamento. 4.3.5- Insira o sinal contnuo na entrada X do osciloscpio, e respectivo terra, utilizando os cabos disponveis. 4.3.6- Mantenha o controle AC-GND-DC em DC. 4.3.7- Ajuste e anote a escala de voltagem do osciloscpio de modo a ter uma boa observao da amplitude do sinal na tela. 4.3.8- Atravs do osciloscpio determine o valor da tenso DC com a melhor preciso possvel. 4.3.9- Repita os procedimentos 4.3.4 a 4.3.8 com a fonte de corrente contnua fornecendo aproximadamente 10V e 15V. 5- RESPONDA AS SEGUINTES QUESTES 5.1- Quais so as grandezas fsicas que podemos medir com um osciloscpio? 5.2- Assim como um voltmetro, um osciloscpio capaz de medir voltagens. Em que um osciloscpio se diferencia de um simples voltmetro? 5.3-Um osciloscpio foi utilizado para medir a voltagem e a freqncia de uma fonte de onda quadrada. Quando os controles do osciloscpio: (SOURCE) foi colocado em (INT), (AC-GND-DC) em (DC), (VOLT/DIV) em 1,0 V e (TIME/DIV) em 5,0 ms, observa-se uma imagem na tela como a mostrada na figura abaixo. (a) Quais so os valores medidos do sinal pico a pico e da freqncia? (b) Explique porque os controles foram colocados nas posies citadas.

13

EXPERINCIA 02 CARGA E DESCARGA DE CAPACITORES E INDUTORES


1- OBJETIVO Observao de fenmenos transitrios de carga e descarga de capacitores e indutores em circuitos de corrente alternada. 2- INTRODUO TERICA Considere o circuito RC da Fig.2.1(a), alimentado por uma fora eletromotriz de amplitude por um gerador de funo AC de onda quadrada. VR

0 representado

V pp = 0 V pp = 0

VC 0 T/2 (b) T t

(a) Fig. 2.1- Circuito

RC

alimentado por um gerador de onda quadrada.

Durante a aplicao da tenso varivel o capacitor e o resistor ficam sujeitos duas tenses diferentes durante um ciclo completo. Numa metade do ciclo ficam sujeitos a uma tenso V pp = 0 e na outra metade a uma tenso zero como mostra a Fig.2.1 (b). No primeiro semi - ciclo a lei das malhas fornece a relao entre tenses,

VR + VC = 0 , ou
(2.1)

dq 1 + q = 0 dt C

cuja soluo mostra o processo de carga no capacitor dada, por

q(t ) = q0 (1 e t / )
c

(2.2)

onde q0 = C 0 a amplitude de carga e, c = RC , tem unidade de tempo, e denominado de constante de tempo capacitiva do circuito. O significado fsico da constante de tempo capacitiva pode ser entendido substituindo-se t = c na eq.(2.2), isto

q(t = c ) = q0 (1 e

c / c

) = q0 (1 e 1 ) = 0.63q0

(2.3)

ou seja, a constante de tempo c mede o tempo necessrio para que a carga valor mximo.

q no capacitor atinja 63% do seu

O tempo necessrio para que a carga no capacitor atinja metade do seu valor mximo denominado tempo de meia vida

t1/ 2 e pode ser obtido tambm partir da eq.(2.2), considerando q(t = t1/ 2 ) = 1 q0 , isto
2
1 q0 = q0 (1 e t 2
1/ 2 / c

) t 1/2

1 = c ln = c ln 2 2

(2.4)

14

Da eq.(2.2), pode-se obter a tenso no capacitor medida com o osciloscpio, como

VC (t ) =

q(t ) = 0 (1 e t / ) C
c

(2.5)

Observe que esta funo segue o mesmo comportamento que a funo q(t ) , ambas apresentam-se como funes crescentes com o tempo e definem a constante de tempo capacitiva como sendo 63% do valor mximo da respectiva grandeza. Logo, a curva associada a tenso no capacitor, fornece as mesmas informaes qualitativas e quantitativas que a curva associada ao processo de carga no capacitor. No segundo semi - ciclo a lei das malhas fornece,

VR + VC = 0 , ou
(2.6)

dq 1 + q=0 dt C

cuja soluo mostra o processo de descarga do capacitor dado, por

q(t ) = q0 e t /

(2.7)

O que mostra que no segundo semi- ciclo ocorre um processo de descarga no capacitor, isto , a carga no capacitor cai exponencialmente a zero partir do valor mximo q0 . Desta equao, calcula-se a tenso no capacitor, como:

VC (t ) =

q (t ) = 0e t / C

(2.8)

Que como antes, segue o mesmo comportamento que a funo

q(t ) agora, durante o processo de descarga. Observe que o tempo de meia vida pode ser obtido tambm no processo de descarga, isto , t1/ 2 tambm o

tempo necessrio para que a carga no capacitor carregado diminua at a metade de seu valor mximo q0 . A Fig. 2.2, mostra as curvas dos processos de carga e descarga do capacitor, num circuito RC , observadas com um osciloscpio quando conectado entre os terminas do capacitor, de acordo com as eqs. (2.5) e (2.8). Observe que t1/ 2 corresponde ao ponto de interseo entre as duas curvas. Se essas curvas so observadas na tela de um osciloscpio, pode-se medir experimentalmente as constantes de tempo C e circuito

t1/ 2

associadas ao

RC

em questo.

VC ( Volts )

0
V

V pp = 0

VC = 0.63 0
VC = 1 0 2
t1/ 2

CARGA DESCARGA

T/2

t ( ms)
(b)

(a)

Fig. 2.2- Curvas dos processos de carga e descarga no capacitor medida no capacitor num circuito RC.

15

Considere agora o circuito

RL da Fig.2.3, alimentado por um gerador de funo AC de onda quadrada.


VR

Vpp = 0

VL

Fig. 2.3- Circuito

RL

alimentado por um gerador de onda quadrada.

Assim como no capacitor no circuito RC , durante a aplicao da tenso varivel o indutor e o resistor ficam sujeito duas tenses diferentes durante um ciclo completo. Pela lei de Faraday, no indutor aparece uma fora eletromotriz auto-induzida por causa da variao de corrente eltrica, dada por:

L = L

di dt

O sinal (-) especifica o sentido da fora eletromotriz auto induzida que, de acordo com a lei de Lenz, se ope variao que a produziu. Se o indutor for ideal ( resistncia interna nula), a diferena de potencial igual, em mdulo, a fora eletromotriz auto induzida
[01, 02, 03, 04]

VL entre os terminais do indutor ser

, isto (2.9)

VL = L = L
No primeiro semi- ciclo a lei das malhas fornece,

di dt

VR + VL = 0 , ou di Ri + L = 0 dt

(2.10)

A eq.(2.10) anloga equao de carga de um capacitor num circuito

RC , e sua soluo,
(2.11)

i(t ) = i0 (1 e t / )
L

onde i = 0 ao circuito

0 a amplitude de corrente e L L = a constante de tempo indutiva do circuito . Similarmente


R R

RC ,

a constante de tempo indutiva

no circuito

RL ,

mede o tempo necessrio para que,

agora, a corrente

no indutor atinja 63% do seu valor mximo

i0 .
1 i = i0 , denominado 2

O tempo necessrio para que a corrente no indutor atinja metade do seu valor mximo tempo de meia vida

t1/ 2 e, similarmente ao caso do circuito RC ,


t1/ 2 = L ln

dado, por (2.12)

1 = L ln 2 2

16

Se fosse determinado a tenso no indutor

VL (t ) ,

notar-se-ia

que a funo no seguiria o mesmo

de potencial no indutor L para se obter informaes qualitativas e quantitativas associadas ao processo de carga no indutor num circuito RL . Nesse caso, essas informaes poderia ser melhor obtidas medindo-se a diferena de potencial no resistor R , pois VR (t ) = Ri(t ) , que claramente, segue mesmo comportamento da corrente no circuito

di(t ) . Logo, no conveniente utilizar a diferena comportamento da corrente i(t ) no circuito, pois, VL (t ) = L dt

RL , pois de acordo com a eq.(2.11):


VR (t ) = Ri(t ) = 0 (1 e t / )
L

(2.13) das malhas fornece, VR

No ou,

segundo

semi

ciclo

ocorre

0 = 0

lei

+ VL = 0 ,
(2.14)

Ri + L

di =0 dt

cuja soluo mostra o processo de descarga do indutor, como

i(t ) = i0 e t /
Desta equao, calcula-se a diferena de potencial no resistor

(2.15)

R durante o segundo semi ciclo, com segue:


L

VR = Ri(t ) = 0 e t /

(2.16)

Os processos de carga e descarga do indutor num circuito RL , observadas com um osciloscpio quando conectado entre os terminais do resistor, de acordo com as eqs. (2.13) e (2.16), similar observada no circuito RC mostrada na Fig. 2.2. Se essas curvas so observadas na tela de um osciloscpio, pode-se medir experimentalmente as constantes de tempo L e t1/ 2 associadas ao circuito RL em questo. 3- MATERIAL NECESSRIO Resistores, capacitor, indutor, osciloscpio, gerador de funes e cabos. 4- PROCEDIMENTO 4.1- Regule o gerador de funes para operar com uma onda quadrada de amplitude V pp = 3,0V , e freqncia de

500 Hz . Faa esse ajuste utilizando o osciloscpio.

4.2- Monte o circuito da figura abaixo utilizando o capacitor e o resistor disponveis, alimentando o circuito com o gerador de funes j regulado.

GERADOR
DE

R = 12 k C = 10nF

Osciloscpio

FUNES

Aterramento
4.3- Introduza os terminais do canal 1 do osciloscpio em paralelo com os terminais do capacitor,, observando que o terra (Referncia) deve ser conectado no ponto livre das tenses perturbativas do resistor . Escolha e anote as escalas adequadas de varredura vertical Volt/Div. e de varreduras horizontal Time/Div, de modo a observar no osciloscpio um sinal de carga e um sinal de descarga.

17

4.4- Utilize a curva de carga no capacitor, observadas diretamente no osciloscpio para medir Anote os resultados numa tabela em seu relatrio.

0 , c e t1/2 .
t1/ 2 .

4.5- Utilizando os valores de R e C, calcule a constante de tempo capacitiva c e o tempo de meia vida . Compare com os resultados experimentais. 4.6- Utilize os valores de

0, c

, medidos experimentalmente, e o fato que = q0 para escrever 0

numericamente as equaes de carga e descarga do capacitor:

q(t ) = q0 (1 e t / ) e, q(t ) = q0e t / .


C c

4.7- Introduza uma outra resistncia de 12 k no circuito em srie com a primeira e observe no osciloscpio, as novas curvas de carga e descarga no capacitor. Comente o resultado observado. 4.8- Retorne ao circuito com apenas um resistor e introduza os terminais do canal 1 do osciloscpio, agora em paralelo com os terminais do resistor. Faa comentrios sobre o comportamento das novas curvas observadas em cada um dos semiciclos do sinal de onda quadrada, ressaltando as principais diferenas em relao ao caso anterior. 4.9- Regule agora o gerador de funes para operar com uma onda quadrada de amplitude V pp = 4V , e freqncia de

200 Hz . Faa esse ajuste utilizando o osciloscpio.

4.10- Monte o circuito da figura abaixo utilizando o indutor e o resistor disponveis, alimentando o circuito com o gerador de funes j regulado. Osciloscpio Aterramento

GERADOR DE FUNES

R = 12 k

L = 4,33H

4.11- Introduza os terminais do canal 1 do osciloscpio em paralelo com os terminais do resistor,, observando que o terra (Referncia) deve ser conectado no ponto livre das tenses perturbativas do indutor. Escolha e anote as escalas adequadas no osciloscpio de varredura vertical Volt/Div. e horizontal Time/Div. 4.12- Utilize a curva de carga , observada diretamente no osciloscpio, para medir resultados numa tabela de seu relatrio: 4.13- A partir dos valores de R e L, calcule a constante de tempo indutiva utilizando as equaes tericas e compare com os resultados experimentais. 4.14- Utilizando os valores de 0 , L , medidos experimentalmente, e o fato que numericamente as equaes de carga e descarga no indutor.

0, L

t1/ 2 .

Anote os

e o tempo de meia vida

t1/ 2

0 = Ri0

, escreva

4.15- Introduza uma outra resistncia de 12 k no circuito em srie com a primeira e observe, no osciloscpio, as novas curvas de carga e descarga. Comente o resultado observado. 4.16- Retorne ao circuito com apenas um resistor e introduza os terminais do canal 1 do osciloscpio, agora em paralelo com os terminais do indutor. Faa comentrios sobre o comportamento das novas curvas observadas

18

em cada um dos semi-ciclos do sinal de onda quadrada, ressaltando as principais diferenas em relao ao caso anterior. 5- RESPONDA AS SEGUINTES QUESTES 5.1- Mostre que, num circuito RC, ao contrrio do que acontece no capacitor, a diferena de potencial no resistor V (t ) = Ri(t ) = R R

dq(t ) diminui com o tempo durante o primeiro semi-ciclo e aumenta com o tempo dt

durante o segundo semi ciclo do sinal de onda quadrada. Esse comportamento foi previsto nas suas experincias? Justifique. 5.2- Um circuito RC em regime AC, de constante de tempo capacitiva
2

sofre um processo de descarga.

Sabendo-se que a energia armazenada no capacitor U (t ) = q(t ) , encontre o tempo necessrio , em termos de C , para que a energia armazenada seja a metade do seu valor inicial. 5.3- O tempo necessrio para que a diferena de potencial em um capacitor, num circuito RC, cresa at uma certa frao de seu valor mximo depende do valor da f.e.m aplicada? Justifique. 5.4- Descubra uma maneira de utilizar um circuito RC em regime AC, para a medida de resistncias muito altas. 5.5- Mostre que, num circuito RL, ao contrrio do que acontece no resistor, a diferena de potencial no indutor

2C

VL (t ) = L

di(t ) diminui com o tempo durante o primeiro semi ciclo e aumenta com o tempo durante o segundo dt

semi ciclo do sinal de onda quadrada. Esse comportamento foi previsto nas suas experincias? Justifique. 5.6- Um circuito RL em regime AC, de constante de tempo indutiva L sofre um processo de carga. Sabendo que a energia armazenada no indutor U = 1 LI 2 , encontre o tempo necessrio , em termos de L , para que 2 a energia armazenada seja a metade do seu valor final.

19

EXPERINCIA 03 DETERMINAO DA DIFERENA DE FASE EM CIRCUITOS DE CORRENTE ALTERNADA


1- OBJETIVO Medir diferenas de fase em circuitos de corrente alternada utilizando um osciloscpio. 2- INTRODUO TERICA 2.1- Mtodo de Observao Direta dos Sinais. A Fig. 3.1 mostra um circuito 04, 05, 06] , por

RL

em srie submetido a uma fonte de corrente alternada, cuja tenso dada [03,

V = Vmx sent

(3.1) Osciloscpio

Aterramento

A corrente gerada no circuito pode ser escrita, como:

V(t)
R
CANAL 1

i = imx sen t

(3.2)
CANAL 2

Fig. 3.1- Circuito onde

RL

em regime de corrente alternada.

a diferena de fase entre a tenso do gerador e a corrente. A tenso no resistor est em fase com a

corrente, e a tenso no indutor est adiantada de 90 em relao corrente como mostrado no diagrama de fasores da Fig.3.2(a), pois V L t atinge seu mximo antes de i t .

af

af

Vmax

imax

V T

Resistor (VR)

VL max

VR max

to

t
(a)

at f

Gerador (V)

t=t-to

(b)

Fig.3.2- (a) Diagrama de fasores para o circuito RL e, (b) Sinais observados na tela do osciloscpio. Se o sinal do gerador for conectado ao CANAL 1 do osciloscpio, e o sinal do resistor no CANAL 2, observamos na tela esses sinais defasados de , como mostrado na Fig.3.2(b), cujo valor pode ser determinado medindo-se o perodo T do sinal do gerador e a variao de tempo t entre os dois sinais, por

= 2

t T

(rad )

(3.3)

20

Como a tenso no gerador (Referncia) ,correspondente a resistor , correspondente a

t0 ,

est adiantada em relao tenso no

t , ento t0 < t , e portanto t = t t0 > 0 .

O clculo terico da fase

V L , ou Xi tg = L max = L max = R VR max Rimax

pode ser feito atravs do diagrama de fasores, notando-se que,

= tg 1
Considere agora o caso do circuito

F L I H RK

(3.4)

RC

mostrado na Fig. 3.3. Aterramento

Osciloscpio

V(t)
R

C
CANAL 1 CANAL 2

Fig. 3.3- Circuito

RC

em regime de corrente alternada.


0

Agora a tenso no capacitor est atrasada de 90 em relao tenso no resistor como verifica-se no diagrama de fasores da Fig. 3.4(a). A Fig. 3.4(b) mostra os sinais observados na tela do osciloscpio. A determinao experimental de pode ser feita tambm atravs da eq.(3.3), observando agora que nesse caso, como a tenso no gerador (Referncia), correspondente a t 0 , est atrasada em relao tenso no resistor, correspondente a

t , ento, t0 > t

e, portanto

t = t t0 < 0 .

imax VR max Vmax


V T

t
VC max
(a)

at f

to

t Resistor (VR)

t=t-to
Gerador (V)

(b)

Fig.3.4- (a) Diagrama de fasores para o circuito

RC

e, (b) Sinais observados na tela do osciloscpio.

21

O clculo terico da fase

pode se efetuado utilizando-se o diagrama de fasores da Fig.3.4(a), como segue:

tg =
ou,

a f

1 VCmx X Cimx = = VRmx Rimx RC

= tg 1

F 1 I H RC K

(3.5)

2.2- Mtodo da Elpse. As eqs. (3.1) e (3.2) mostram que num circuito RL e RC , a tenso e a corrente variam segundo funes harmnicas de diferentes amplitudes, mesmas freqncias angulares , e com diferena de fase entre elas. Sejam x e y , funes harmnicas com essas mesmas caractersticas, isto

x = asent
A segunda equao pode ser rescrita, por:

y = bsen t

f
x2 sen a2

(3.6)

y = b sent cos sen cost = b

x cos f FGH a

I JK

pois, cost =

1 sen 2t

e,

sent =
y

x . Manipulando-se os termos, obtm-se: a


b x2 x cos = b 1 2 sen a a
2 2

Elevando-se ambos os membros ao quadrado, e lembrando-se que cos + sen = 1, encontra-se

cos x 2 y2 2 + 2 = sen 2 xy 2 b ab a
ou, multiplicando-se por

ab , obtm-se
b 2 a 2 x + y 2 xy cos = absen 2 a b
(3.7)

Essa a equao de uma elipse que intercepta o eixo x ( y = 0 ) em asen , o eixo y ( x = 0 ) em bsen e os valores mximos ocorrem para x = a e y = b , como mostra a Fig.3.5.

y
bsen B

a asen

Fig. 3.5- Figura de Lissajous para funes harmnicas com mesma freqncia angular e diferena de fase

22

A elipse da Fig.3.5 conhecida como figura de Lissajous para duas funes harmnicas de mesma freqncia angular e diferena de fase , e pode ser observada facilmente na tela de um osciloscpio. Observe nessa figura que, se B e b forem medidos em mdulo na tela do osciloscpio, encontramos o mdulo do valor experimental da diferena de fase , por

= sen 1
pois, B = bsen . Os sinais de

B b

(3.8)

deve ser assumido como (-) para circuitos RC e (+) para circuitos

RL .

As figuras de Lissajous so freqentemente utilizadas na anlise de circuitos eletrnicos. Num caso geral, em e y diferentes, a soluo mais que as funes harmnicas possuem freqncias angulares x complicada e depende da razo

y e fase . x

y . A Fig.3.6 mostra as figuras de Lissajous para alguns valores da razo x

y 1 = x 2

y 1 = x 3

= 0

=0

Fig. 3.6- Figuras de Lissajous para alguns valores da razo

y x

e fase

3- MATERIAL NECESSRIO Resistores, capacitor, indutor, osciloscpio, gerador de funes e cabos. 4- PROCEDIMENTO 4.1- Mtodo de Observao Direta dos Sinais 4.1.1- Regule o gerador de funes para operar com uma onda senoidal de tenso pico a pico V pp = 10V e freqncia

f 1 = 200 Hz . Faa essa regulagem utilizando o osciloscpio.

4.1.2- Monte o circuito da figura abaixo utilizando o indutor e o resistor disponveis, alimentando o circuito com o gerador de funes j regulado. Utilize o CANAL 1 do osciloscpio para observao do sinal do gerador de funes e o CANAL 2 para observao do sinal do resistor. Mantenha o controle dos canais na posio (DUAL) para que os dois sinais sejam observados simultaneamente. GERADOR

R=12k 1 T 2
Gerador

L=4,33H
Aterramento Resistor

23

4.1.3- Escolha escalas VOLT/DIV, para cada um dos canais, e TIME/DIV suficientes para que aproximadamente dois mximos dos sinais possam ser observados na tela do osciloscpio. 4.1.4- Para efetuar corretamente a medida da diferena de fase entre o sinal do resistor e do gerador, inicialmente coloque os controles AC-GND-DC em GND nos dois canais do osciloscpio e ajuste as varreduras horizontais na posio do eixo central da tela. 4.1.5- Retorne o controle AC-GND-DC para AC, mea e anote o perodo T do sinal do Gerador e o tempo t correspondente ao afastamento dos dois sinais ao longo do eixo horizontal central da tela do osciloscpio. Em seguida determine e anote o valor experimental da diferena de fase em radianos. Lembre-se que t > 0 pois num circuito RL , o sinal no gerador est adiantado em relao ao sinal no resistor.

f 2 = 800 Hz e determine o novo valor experimental de . 4.1.7- Utilizando os valores de R e L , calcule a diferena de fase para cada freqncia f 1 = 200 Hz e f 2 = 800 Hz , e compare com os valores obtidos experimentalmente. Lembre-se que = 2f .
4.1.6- Aumente a freqncia para 4.1.8- Troque o indutor L pelo capacitor C , como mostra a figura abaixo e repita os procedimentos anteriores para o capacitor e anote todos os dados obtidos. Lembre-se que agora t < 0 pois num circuito RC , o sinal no gerador est atrasado em relao ao sinal no resistor.

GERADOR

1 T

2
Gerador

C=0,01F

R=12k

Aterramento Resistor

4.2- Mtodo da Elipse 4.2.1- Ainda com o circuito RC do experimento anterior com f = 800 Hz , coloque a escala da varredura horizontal (TIME/DIV.) e o controle dos canais do osciloscpio na posio ( X Y ). Uma figura de Lissajous elptica, similar a fig. 3.5, deve surgir na tela do osciloscpio e, nesse caso, as unidades de x e y sero arbitrrias de comprimento. Atue nos controles VOLT/DIV. para que a elipse seja a maior possvel. 4.2.2- Desloque a elipse para o centro do sistema de coordenadas xy da tela do osciloscpio. Esse ajuste pode ser feito com maior preciso atuando nos controles AC-GND-DC de cada canal deslocando-se as varreduras horizontal e vertical individualmente para o centro do sistema de coordenadas. 4.2.3- Mea e anote, o valor da distncia B do ponto de interseo da elipse ao eixo horizontal x e o valor mximo da coordenada vertical b em unidades arbitrrias de comprimento ( u. a . c ). Em seguida, determine e anote, o valor experimental da diferena de fase para a freqncia f = 800 Hz . Lembre-se que devemos assumir < 0 pois num circuito RC , o sinal no gerador est atrasado em relao ao sinal no resistor. Compare esse valor experimental com o valor calculado no procedimento 4.1.8.

24

5- RESPONDA AS SEGUINTES QUESTES 5.1- Um circuito RC submetido a uma fonte de corrente alternada. Quando o sinal da fonte conectado no canal 1 e, o sinal do resistor conectado no canal 2 de um osciloscpio, observase as curvas mostradas na figura ao lado. (a) Se os controles do osciloscpio; (VOLT/DIV) estiver em 1mV e (TIME/DIV) estiver em 50s , estimar os valores das tenses pico a pico dos sinais e da diferena de fase entre eles. (b) Sabendo-se que

FONTE

tg =

RESISTOR

, determine a constante de

tempo capacitiva do circuito. 5.2- Um circuito RC submetido a uma fonte de corrente alternada de freqncia 500 Hz . Quando o sinal da fonte conectado no canal 1, o sinal do resistor conectado no canal 2 de um osciloscpio e, se ambos os controles, (TIME/DIV) e o seletor de canais estiverem na posio ( X Y ) observase a figura de Lissajous mostradas na figura ao lado. (a) estimar o valor da diferena de fase entre os sinais, em radianos . (b) Sabendo-se que

tg =

, determine a constante de tempo

capacitiva do circuito.

25

EXPERINCIA 04 NDICE DE REFRAO DE LQUIDOS E SLIDOS


1- OBJETIVO Medir o ndice de refrao de diferentes meios, determinar o ngulo crtico da reflexo total e observar a disperso da luz policromtica. 2- INTRODUO TERICA Quando a luz passa do vcuo para um outro meio, ocorre interferncia entre a onda incidente e uma onda gerada pela remisso dos tomos, A onda transmitida, resultante dessa interferncia, possui um atraso de fase em relao onda incidente. Como conseqncia a luz transmitida desvia-se na sua direo de propagao. O efeito de mudana de direo da luz transmitida denominado de refrao. A razo entre a velocidade da luz no vcuo c e a velocidade da luz no meio v maior que 1, e denominado de ndice de refrao n do meio, isto

n=
Se

e so

c v
n

(4.1) respectivamente, ento,

os comprimentos de onda da luz no vcuo e no meio de ndice

c = f , v = f , o que resulta em n =

c e, portanto = v

=
onde,

(4.2)

a freqncia da luz, que sempre uma constante. Assim,

< . Dize-se que, o comprimento de


n > 1.

onda de uma radiao de ftons de determinada freqncia menor num meio onde o ndice A Fig. 4.1 mostra uma frente de onda plana passando de um meio de ndice de refrao de refrao

n1

para outro de ndice

n2 .

1 v1t

1
A

1 2

n1

C
n2

2
v2 t

2 2

Fig. 4.1- Efeito de refrao de uma onda plana na interface entre dois meios diferentes. O princpio de Huygens enuncia que: Cada ponto numa determinada frente de onda, pode ser [07, 08, 09,10] considerado como uma fonte puntiforme de uma ondcula secundria" . Esse princpio permite afirmar que a parcela da frente de onda que passa para o meio 2 muda sua direo e velocidade, enquanto que a parcela da mesma frente de onda que ainda est no meio 1 permanece inalterada. Se v1t a distncia

26

percorrida por uma ondcula de ondcula de

no intervalo de tempo

t, e

v2t

a distncia percorrida por outra e,

no mesmo intervalo de tempo, tem-se

sen 1 =

c c sen 1 v1 . Alm disso, como e v2 = , ento v1 = = n1 n2 sen 2 v2

v1t AC

sen 2 =

v2 t AC

e, portanto

n1sen 1 = n2 sen 2

(4.3)

esta equao formaliza a lei da refrao de Snell. A lei de Snell pode ser utilizada para determinar o ndice de refrao n2 = n de materiais transparentes, quando o material est mergulhado no ar cujo ndice de refrao

n1 = 1 , isto

n=

sen 1 sen 2

(4.4)

Para isso, faz-se incidir um raio de luz com um ngulo

sobre uma cuba semi-cilndrica feita com o material

em questo como mostra a Fig. 4.2, e em seguida mede-se o ngulo refratado.

2
Fig. 4.2- Cuba semicilndrica utilizada para medida do ndice de refrao de materiais. A forma semicilndrica da cuba permite uma observao do raio refratado fora do material, pois o raio muda de meio sempre numa direo perpendicular a uma reta tangente no ponto de mudana. Cubas ocas, cujos lados sejam feitas de lminas de faces paralelas, podem ser preenchidas com lquidos ou gases a alta presso. As faces das lminas no introduzem qualquer contribuio para o desvio angular do raio de luz provocado pela substncia em questo. Quando a luz passa de um meio mais refringente para um outro menos refringente, o ngulo refratado maior que o incidente. A Fig. 4.3 mostra raios de luz, com diferentes ngulos de incidncia, passando para um meio menos refringente ( n1 > n2 ).

2 1 c

n2

n1 > n2

n1
REFLEXO TOTAL

REFLEXO PARCIAL

Fig.4.3- Refrao de raios da luz para diferentes ngulos de incidncia com

n1 > n2 .

27

Quando os ngulos de incidncia forem maiores que um ngulo crtico

c , no haver raio refratado. Nesse caso, toda a energia ser refletida. Este fenmeno conhecido como reflexo total. O ngulo crtico c pode
1 = c
e

ser determinado utilizando-se

2 = 2
n2 n1

na lei de Snell ( eq. 4.3):

sen c =

bn > n g
1 2

(4.5)

O fenmeno de reflexo total aparece em diversos sistemas pticos como mostra a Fig.4.4. Nos binculos, a reflexo total em quatro prismas utilizada para aumentar o caminho ptico da luz e permitir a reinverso da [07, 08, 09, 10] . O alto brilho dos diamantes se deve ao seu imagem sem aumentar a dimenso do instrumento alto ndice de refrao ( n 2 ,4 ), de modo que quase toda a luz que entra no seu interior termina por sofrer . O efeito de transmisso da luz numa fibra ptica s reflexo total na mesma direo de incidncia [07, 08, 09, 10] possvel por causa de vrias reflexes totais em seu interior .
[07, 08, 09, 10]

Fig.4.4- Sistemas pticos onde aparecem os fenmenos da reflexo total. Um outro fenmeno importante observado na propagao da luz a Disperso , que est relacionada a uma sensvel dependncia do ndice de refrao n com o comprimento de onda da luz. Essa dependncia [09, 10] , por: representada por uma relao emprica denominada Frmula da Disperso de Cauchy dada

n= A+

(4.6)

As constantes A e B so caractersticas de cada substncia. Assim, o ndice de refrao de um material diminui com o aumento do quadrado de . Dessa forma, na identificao do ndice de refrao de uma substncia, importante especificar tambm o comprimento de onda utilizado na observao. Entretanto, como essa dependncia pequena na regio do visvel ( 450nm a 650nm ), comum representar o ndice de refrao das substncias como uma valor correspondente mdia desse intervalo ( 500nm ). Por exemplo, o valor 1,33 para o ndice de refrao da gua deve ser observado para 500nm . O efeito da disperso pode ser observado facilmente incidindo-se luz branca em um prisma de vidro comum, como mostra a Fig.4.5.

VERMELHO (600nm) AMARELO (580nm)

LUZ BRANCA

VERDE (520nm) AZUL (480nm) VIOLETA (450nm)

Fig.4.5- Efeito da Disperso da luz branca em um prisma de vidro.

28

De acordo com a frmula da disperso de Cauchy, a disperso da luz branca no prisma deve ocorrer do vermelho para o violeta como se observa na figura. 3- MATERIAL NECESSRIO Fonte de luz laminar, cuba semicilndrica, prisma de disperso, disco com divises angulares e lquidos diversos. 4- PROCEDIMENTO 4.1-NDICE DE REFRAO DA GUA, GLICERINA E VIDRO 4.1.1-Coloque a cuba semicilndrica contendo gua sobre o disco com divises angulares, como mostra a figura seguinte. 4.1.3- Incida raios luminosos com ngulos de incidncia 1 = 30,0 ,
0

35,00 , 40,00 , 50,00 , 60,00 sobre o

ponto mdio da cuba, mea os ngulos refratados

correspondentes e, por meio da eq. (4.4), calcule os

ndices de refrao da gua para cada um desses ngulos. 4.1.2- Regule a fonte de luz laminar de modo a fornecer somente um raio luminoso.

4.1.4- Calcule a mdia n e o erro padro

n ,

usando para isso as seguintes equaes, n =

1 N

n
i =1

n = t

(n n )
1=1 i

N ( N 1)

, onde N = 5 o nmero total de medidas,

t o parmetro estatstico de Student

(Captulo C do Manual de Erros, Medidas e Grficos), que deve ser escolhido com um valor

que se tenha um nvel de confiana de Nesse caso, no necessrio considerar o erro na preciso na escala do instrumento de medida, pois o erro estatstico calculado se sobrepe a este ltimo.

t = 2,13 para 90% no erro padro. Escreva a resposta final na forma n n n .

4.1.6- Repita os procedimentos anteriores para a glicerina e para um semi cilindro de vidro, escrevendo sempre as respostas na forma n n n .

29

4.2- NGULOS CRTICOS NA GUA, GLICERINA E VIDRO. 4.2.1-Coloque a cuba semicilndrica, contendo gua, sobre o disco com divises angulares. Faa incidir raios de luz perpendicularmente s retas tangentes em pontos da face circular do semicilindro, at a observao da reflexo total na face retangular interna ao semicilindro, como mostra a figura abaixo. Em seguida, mea o ngulo crtico c .

N
N 2

4.2.2- Por meio da eq. (4.5) e , utilizando o valor de o ngulo crtico

c ,e compare com o valor medido no procedimento 4.2.1.

n1 = n

para a gua obtido no procedimento 4.1.4, calcule

4.2.5- Repita os procedimentos anteriores para a glicerina e o semicilindro de vidro, sempre comparando os valores medidos com os calculados. 4.3- DISPERSO PTICA DA LUZ BRANCA. 4.3.1- Utilize o prisma de disperso disponvel e a configurao proposta na figura abaixo, para observar que a disperso da luz branca da fonte ocorre do vermelho para o azul, como prev a frmula da disperso de Cauchy.

30

5- RESPONDA AS SEGUINTES QUESTES 5.1- Como voc esperaria ser a dependncia do ndice de refrao das substncias como funo das suas densidades de massa? 5.2- Qual deve ser a direo do raio refratado se o raio incidente for normal superfcie da amostra? Justifique o fato utilizando a lei de Snell. 5.3- Quando um feixe de luz vermelha, tal como um laser de He-Ne ( = 633nm ), refratado por um meio de ndice de refrao maior, qual deve ser sua cor nesse meio? Justifique sua resposta. 5.4- possvel haver reflexo total quando o raio de luz passa de um meio menos refringente para um outro mais refringente? Justifique o fato utilizando a lei de Snell. 5.5- No vero, possvel que ocorra chuva e sol ao mesmo tempo. Nessa situao observamos as faixas coloridas na atmosfera conhecidas como arco-ris. Justifique esse fenmeno com base no efeito da disperso e da reflexo total. 5.6- Em dias quentes, as pessoas tm a impresso de ver poas de gua no asfalto de uma estrada. Esse fenmeno conhecido como Miragem. Justifique esse fenmeno com base na lei de Snell.

31

EXPERINCIA 05 DESVIOS LINEAR E ANGULAR EM PRISMAS


1- OBJETIVO Medir desvios linear e angular em prismas e medir ndice de refrao de materiais por meio da determinao do ngulo de desvio mnimo. 2- INTRODUO TERICA Um prisma qualquer meio limitado por duas superfcies planas com determinado ngulo de abertura . Quando esse ngulo zero ( = 0 ), o prisma denominado lmina de faces paralelas. Os prismas podem ser de reflexo total, usados comumente em instrumentos pticos para desvios e prolongamentos de raios luminosos, ou de disperso, usados freqentemente em analisadores espectrais ou espectrmetros. 2.1- DESVIO LINEAR EM UMA LMINA DE FACES PARALELAS. Seja um raio luminoso incidindo na superfcie superior de uma lmina de faces paralelas como mostra a Fig.5.1.

1 1 2
d

2 a

2
D

3
Fig.5.1- Lmina de faces paralelas. O desvio linear

pode ser obtido em termos do ngulo de incidncia

espessura d da lmina, observando-se que: sen 1 2 = D a e, cos 2 = d a , ou seja

1 ,

do ngulo de refrao

2 e

da

D=

dsen 1 2 cos 2

g
n,

(5.1)

2.2- DESVIO ANGULAR EM PRISMAS DE DISPERSO E NGULO DE DESVIO MNIMO. Seja um prisma de disperso de abertura angular e ndice de refrao refrao unitrio como mostra a Fig.5.2. De acordo com a lei de Snell, pode-se observar da Fig.5.2, que

imerso no ar cujo ndice de

sen 1 = nsen 2 sen 4 = nsen 3

(5.2) (5.3) (5.4)

= 2 +3
Alm disso, = (1 2 ) + ( 4 3 ) = 1 + 4 ( 2 + 3 ) que, combinada com a eq.(5.4), resulta:

= 1 + 4

(5.5)

32


= 1 2 + 4 3

g b

1 2 4 3 3 2

4 = 2 +3

Fig. 5.2- Prisma de disperso de ndice de refrao

e ngulo de abertura

Por outro lado, relacionando as eqs.(5.3) e (5.4), obtm-se:

4 = sen 1 nsen 2 = sen 1 n sen 1 sen 2 2 sen 2 cos


Mas, da eq.(5.2)

sen 2 = 1 / n sen 1

a f

e, portanto

4 = sen 1 sen n 2 sen 2 1 cossen 1


Logo, a eq.(5.5) resulta, em

j j
(5.6)

1 = 1 + sen 1 sen n 2 sen 2 1 cossen 1


A Fig.5.3 mostra um grfico de refrao

b g

b g

em funo do ngulo de incidncia


0

para um prisma com ndice de

n = 1,50 e ngulo de abertura = 60,0 , de acordo com a eq.(5.6). Nota-se a existncia de um

ngulo de desvio mnimo

min , que pode ser determinado experimentalmente por meio do grfico. (0 )


45 40 35 30 40 50 60 70 80

n = 1,50 = 60,00

(0 )

Fig.5.3- Grfico do desvio angular

em funo de

para

n = 1,50 e = 60,00 .

33

Podaria-se determinar analiticamente a condio de desvio mnimo derivando-se a eq.(5.6) em relao a

igualando-se zero. Entretanto, um processo indireto mais simples pode ser efetuado pela anulao da derivada da eq.(5.5), isto :

d d = 1+ 4 = 0 d 1 d 1
ou,

d 1 = d 4

(5.7)

Derivando-se ambos os lados das eqs. (5.2), (5.3) e (5.4), obtm-se

cos 1d 1 = n cos 2 d 2
ou, d1 = n

cos 4 d 4 = n cos 3d 3

0 = d 2 + d 3

cos 2 cos 3 d 2 e d 4 = n d 2 , cuja substituio na eq.(5.7) resulta, em cos 1 cos 4

cos 2 cos 4 = cos 1 cos 3


Como, pela lei de Snell,

(5.8)

1 2

3 4 , ento a nica possibilidade para que a eq.(5.8) seja satisfeita, :


2 = 3
e

1 = 4

(5.9)

Assim, na condio de desvio mnimo, as eqs. (5.4) e (5.5), tornam-se

2 =

1 2

1 =

1 min + 2

(5.10)

Substituindo-se estas expresses na eq.(5.2), obtm-se o ndice de refrao do material com o qual feito o prisma, como:

n=

sen

1 min + 2 1 sen 2

(5.11)

Esta relao considerada como parte de uma das tcnicas mais precisas para o clculo do ndice de refrao de substncias transparentes. A tcnica baseia-se na construo de um prisma com o material que se deseja medir o ndice de refrao e posterior determinao do ngulo de desvio mnimo. Prismas ocos, cujos lados sejam feitos de lminas de faces paralelas, podem ser preenchidos com lquidos ou gases alta presso. As faces paralelas no introduzem qualquer contribuio para o desvio angular final. 3- MATERIAL NECESSRIO Fonte de luz laminar, lmina de faces paralelas, prisma de disperso, transferidor, e disco com divises angulares. 4- PROCEDIMENTO 4.1- DESVIO LINEAR EM LMINAS DE FACES PARALELAS. 4.1.1-Mea a espessura d da lmina de faces paralelas com uma rgua graduada . 4.1.2-Coloque a lmina de faces paralelas com a face despolida sobre o disco com divises angulares, como mostra a figura seguinte.

34

4.1.3- Regule a fonte de luz laminar de modo a fornecer somente um raio luminoso. 4.1.4-Incida raios de luz com ngulos 1 = 30,0 e
0

60,00 , sobre o ponto mdio de uma das faces da lmina.

Mea os ngulos refratados

correspondentes, e o desvio linear observado

, a partir da direo do raio

incidente at a posio do raio emergente. 4.1.5- Utilizando os valores medidos dos ngulos refratados ngulo incidente

, calcule os desvios lineares D , para cada

utilizando a eq. (5.1).

4.1.6- Baseado na preciso dos dois processos experimentais utilizados para a medida de D , compare e discuta os dois resultados encontrados. 4.2- DESVIOS ANGULARES EM PRISMAS DE DISPERSO. 4.2.1-Coloque o prisma de ngulo de abertura = 45,0 com a face despolida sobre o disco com divises angulares e o transferidor, numa posio tal como a mostra a figura seguinte.
0

N2

N1
1

35

4.2.2- Faa incidir raios de luz com ngulos medindo em cada caso calcule o desvio angular utilizando a eq.(5.5).

1 que variam de 30,00 a 70,00 com intervalos de 5 graus, os ngulos refratados 4 dos respectivos raios emergentes. Para cada valor de 4 , 1
na escalar linear, disponvel na pgina

4.2.3- Disponha os pontos experimentais na forma de um grfico

seguinte, e desenhe uma curva que melhor se ajusta sobre esses pontos. 4.2.4- A partir da curva ajustada, obtenha o valor do desvio angular mnimo

min e,

do fato que

= 450 ,

determine o ndice de refrao do vidro com o qual feito o prisma, utilizando a eq.(5.11). 4.2.5- Compare o valor do ndice de refrao, determinado pela tcnica do desvio mnimo, com valores encontrados na literatura, para especificar o tipo de vidro com o qual feito o prisma do nosso experimento. 5- RESPONDA AS SEGUINTES QUESTES 5.1-D um exemplo de instrumento ptico que utiliza prismas de reflexo total e descreva a finalidade desses dispositivos neste instrumento. 5.2-Um prisma de disperso pode ser utilizado como um analisador espectral de luz policromtica? Justifique.

36

37

EXPERINCIA 06 ESPELHOS E LENTES


1- OBJETIVO Observao e localizao de imagens formadas por espelhos esfricos, lentes e sistemas de lentes. Determinao da distncia focal de lentes divergentes. 2- INTRODUO TERICA 2.1- Espelhos planos muito simples determinar as caractersticas da imagem formada por um espelho plano. Na Fig.6.1 observamos raios de luz emitidos por um objeto puntiforme P e refletidos por um espelho plano.

2
2 1

P s
Fig.6.1- Reflexo de raios de luz em um espelho plano.

Utilizando o princpio de Fermat, que diz A trajetria da luz entre dois pontos tal que o tempo de percurso mnimo, pode-se mostrar que o ngulo de incidncia 1 igual ao ngulo de reflexo 2 e, como conseqncia, tambm so iguais e opostas as distncias isto

do objeto ao espelho e

da imagem ao espelho,

1 = 2

s = s

(6.1)

O ponto imagem P uma imagem virtual pois esta no emite luz. Para existir imagem, o objeto no necessita estar em frente ao espelho. A imagem ser vista desde que o objeto no esteja atrs do plano do espelho. Os raios 1 e 2 delimitam a regio na qual o observador pode enxergar a imagem do objeto. Existe uma outra questo importante que deve ser considerada sobre as imagens de objetos formadas por espelhos planos. Por exemplo, quando se observa a mo direita num espelho plano, sua imagem equivalente mo esquerda. Esta alterao conseqncia de uma inverso de profundidade, ou seja, frente e o dorso da mo so invertidos pelo espelho. 2.2- Espelhos esfricos Os espelhos esfricos podem ser cncavos ou convexos. Num espelho esfrico cncavo, raios paralelos paraxiais (raios vizinhos ao eixo ptico que passam pelo vrtice do espelho), convergem a um ponto imagem real denominado de ponto focal F , cuja distncia f ao vrtice, metade do raio de curvatura r do espelho, como mostrado na Fig.6.2(a). Num espelho esfrico convexo, raios paralelos paraxiais, divergem e do origem a um ponto imagem virtual em F , obtido por prolongamentos dos raios divergentes, como mostra a Fig. 6.2(b). Por conveno, f > 0 para espelhos cncavos e f < 0 para espelhos convexos.

38

C r

V
Eixo ptico

f
(a)

f
(b)

Fig.6.2- Raios paraxiais paralelos ao eixo ptico incidindo: (a) num espelho cncavo e, (b) num espelho convexo. Quando raios paralelos incidentes num espelho esfrico no so paraxiais, diz-se raios abaxiais, raios convergentes ou divergentes do origem a uma imagem difusa em torno do ponto focal F . Esse efeito denominado aberrao esfrica. As aberraes esfricas podem ser eliminadas utilizando-se espelhos parablicos. A Fig. 6.3 mostra um raio que parte de um ponto objeto imagem P .

P , reflete num espelho cncavo e passa pelo ponto

V
s

r
s
Fig.6.3- Imagem gerada por um ponto objeto num espelho cncavo Adotando-se relaes apropriadas entre os ngulos ngulos sejam pequenos para permitir as condies

, , e e assumindo-se raios paraxiais, tal que os l = r , l s , l s , pode-se mostrar que

1 1 1 + = s s f
onde usou-se a relao Se

(6.2)

r =2f

. A eq.(6.2) denominada de equao dos espelhos esfricos.

o tamanho do objeto e

o tamanho da imagem, a ampliao ser dada por

m=

y s = y s

(6.3)

39

Uma ampliao negativa, que ocorre quando s e s so positivos, indica que a imagem est invertida. Um espelho esfrico pode ser caracterizado tambm pela sua potncia p , dada em dioptrias (dio) no sistema internacional de medidas e definido por

p=

1 f

(6.4)

2.3- Lentes esfricas Uma lente um componente ptico com determinado ndice de refrao n , formada por duas superfcies esfricas. Para minimizar efeitos de aberraes esfricas (geradas por raios no paraxiais) e aberraes cromticas (disperso) deve-se considerar somente as denominadas lentes delgadas. As lentes podem ser convergentes ou divergentes. Numa lente delgada convergente, raios de luz paraxiais paralelos ao eixo ptico definem um ponto imagem real F cuja distncia f em relao ao vrtice da lente considerada positiva, como mostra a Fig. 6.4(a). Numa lente delgada divergente, os mesmos raios definem um ponto imagem virtual prolongados, cuja distncia f considerada negativa, como mostra a Fig.6.4(b).

F,

resultante de raios

f >0
(a)

f <0
(b)

Fig.6.4- Diagrama de uma lente delgada, (a) convergente e (b) divergente. As lentes so construdas partir de materiais lapidados com superfcies esfricas. A Fig.6.5 mostra um raio de luz partindo de um ponto objeto P num meio de ndice de refrao n1 e incidindo numa superfcie esfrica de um material de ndice de refrao n2 .

1
P

C
s

n2

Fig.6.5- Raio de luz incidindo numa superfcie esfrica refratora. Para raios paraxiais, ou condio de pequenos ngulos, a lei de Snell torna-se aproximadamente, . Adotando-se relaes apropriadas entre os ngulos aproximaes

, ,

n1 1 = n2 2

e assumindo-se mais uma vez as

l = r , l s , l s , pode-se mostrar que n1 n2 n2 n1 + = r s s

(6.5)

40

onde r > 0 se o ponto C est no lado da transmisso e r < 0 se o ponto C est no lado da incidncia. Uma lente um meio refrator que possua duas superfcies esfricas. A primeira superfcie deve gerar uma imagem virtual P 1 de um objeto P que funciona como um objeto real para a segunda superfcie. como se

P1 estivesse dentro do material refrator e o raio de luz realmente fosse proveniente deste. Adotando-se esse
procedimento e os sinais apropriados, a aplicao dupla da eq.(6.4), fornece:

1 1 1 1 + = (n 1) s s r1 r2
Onde ento

FG H

IJ K

(6.6)

s , s so as distncias do objeto e imagem respectivamente, r1 , r2 so os raios das duas superfcies n o ndice de refrao do material com o qual a lente fabricada. Se s ento s f
e

esfricas e

1 1 1 = (n 1) f r1 r2

FG H

IJ K

(6.7)

Essa equao conhecida como a equao dos fabricantes de lentes. As eqs. (6.2) e (6.6) mostram que as posies do objeto de imagem numa lente delgada definem uma distncia focal equivalentemente aos dos espelhos esfricos, isto

1 1 1 + = . Aqui, esta equao conhecida como equao das lentes delgadas. s s f

importante observar que, nos espelhos esfricos podem ocorrer somente aberraes esfricas, nas lentes, por outro lado, podem ocorrer tanto aberraes esfricas quanto cromticas. Essa a grande vantagem do uso de espelhos esfricos no lugar de lentes em muitos instrumentos pticos. Assim como para espelhos esfricos, uma lente pode ser caracterizada pela sua ampliao m e sua potncia p , de acordo com as eqs. (6.3) e (6.4). Pode-se notar que a equao das lentes delgadas pode ser escrita como

a s + sf = 1
ss f

, ou

fs + fs = ss , ou ainda
s = sf s f
(6.8)

Com esta equao pode-se encontrar o comportamento de s + s em funo de s simplesmente montando-se uma tabela por meio da atribuio de valores de s e calculando-se os correspondentes valores de s como mostra a Fig. 6.6.

s 5f 4f 3f 2.5 f 2f 15 . f
125 . f

s
125 . f 133 . f 150 . f 166 . f

s + s
6.25 f 5.33 f 4.50 f 4.16 f
6f
s + s

5f

1f

2f 3f 5f

4f 4.50 f 6.25 f

4f

Fig. 6.6 - Comportamento de s + s em funo de s para uma lente esfrica convergente.

2f

3f

4f

5f

41

Deve-se notar que o grfico tem um ponto de mnimo exatamente em s = s = 2 f . Logo, este procedimento pode ser utilizado como um excelente mtodo experimental para a determinao da distncial focal das lentes [09, 10] . convergentes Para os casos de duas ou mais lentes, a imagem final pode ser determinada encontrando-se inicialmente a imagem da primeira lente e usando-a como objeto real ou virtual para a segunda lente, lembrando-se, entretanto que, qualquer raio de luz deve ter sua origem sempre no objeto original. A Fig. 6.7 mostra um exemplo de um sistema de duas lentes separadas pela distncia d uma da outra. Observa-se que o raio que passa pelo vrtice da lente 2 tambm constri a imagem da lente 1. 1 2

F1

F2

F1

F2

d s1 s1

s2 s2

Fig.6.7- Formao de imagem num sistema de duas lentes. Para as duas lentes, escreve-se:

1 1 1 + = s1 s1 f 1
Se d > s1 ento da Fig.6.7, ento

1 1 1 + = s2 s2 f2

s2 = d s1

(6.9)

ser calculada por m = m1m2 .

s2 > 0 e portanto, o objeto ser real para a lente 2. Se entretanto, d < s1 , como o exemplo s2 < 0 e o objeto ser virtual para a lente 2. A ampliao m do sistema de duas lentes pode

3- MATERIAL NECESSRIO Fonte de luz laminar, seta luminosa, mesas graduadas, espelhos cncavo e convexo, lentes esfricas convergentes e divergentes e lentes cilndricas. 4- PROCEDIMENTO 4.1- IMAGENS FORMADAS POR ESPELHOS ESFRICOS. 4.1.1- Utilize a fonte de luz laminar e a mesa graduada menor, para determinar a distncia focal f do espelho cncavo, em milmetros, com o nmero de algarismos significativos apropriado e incluindo um algarismo duvidoso. Faa essa medida, incidindo raios de luz paraxiais paralelamente ao eixo ptico, e observando os pontos de interseo dos raios refletidos com esse eixo, como mostrado na figura abaixo.

42

Eixo ptico

f 4.1.2- Coloque agora a seta luminosa a uma distncia s = 120,0mm do espelho cncavo. Utilizando-se o anteparo em frente ao espelho e atrs do objeto, procure focalizar a imagem da seta luminosa, movendo o anteparo para frente e para trs na direo do eixo ptico, como mostrado na figura abaixo. Observe que a orientao da seta invertida na formao da imagem. Anteparo

V F

Eixo ptico

s
4.1.3- Com uma escala graduada em milmetros, mea os valores de significativos apropriados. 4.1.4- Adotando-se y

y , com os nmeros de algarismos

= 11,5mm

para a altura do objeto, utilize as equaes (6.2), (6.3) e (6.4) para calcular o

valor da distncia focal f , a potncia p e a ampliao m da imagem, mantendo sempre o nmero de algarismos significativos apropriado. 4.2- IMAGENS FORMADAS POR LENTES CONVERGENTES. 4.2.1- Coloque agora a seta luminosa a uma distncia s = 60mm da lente convergente. Posicionando-se o anteparo em frente a lente, procure focalizar a imagem do objeto luminoso, movendo-se o anteparo para a frente e para trs na direo do eixo ptico, como mostra a figura abaixo. Lente
F

Anteparo

Eixo ptico

43

4.2.2- Com uma escala graduada, mea a posio s da imagem observada no anteparo. 4.2.3- Repita o procedimento anterior, variando-se a posio intervalos de

do objeto de

60,0mm a 240, 0mm em

15,0mm .

4.2.4 - Monte uma tabela com valores de s e s + s , e disponha esses pontos experimentais na forma de um grfico s + s s na escalar linear, disponvel na pgina seguinte. Desenhe em seguida, uma curva que

melhor se ajusta sobre esses pontos experimentais. 4.2.5- A partir da curva ajustada, obtenha o ponto de mnimo a relao

a s + s f

a s + s f

min

, calcule a distncia focal f utilizando

min

=4f

e determine a potncia p da lente convergente em dioptrias (dio).


LENTE DIVERGENTE.

4.3-IMAGENS FORMADAS POR MLTIPLAS LENTES E DETERMINAO DA DISTNCIA FOCAL DE UMA

4.3.1- Coloque a seta luminosa a uma distncia s1 = 80mm da lente convergente, mea a distncia imagem e calcule sua ampliao

s1

da

m1 .

4.3.2- Introduza a lente divergente tambm a uma distncia d = 80mm da lente convergente, de modo que a lente divergente fique entre a lente convergente e o anteparo tal como na Fig. 6.7. Procure focalizar a imagem formada pelo sistema de lentes. Com uma escala graduada, mea a posio s2 da imagem observada no anteparo em relao lente divergente. 4.3.3- Determine a posio em seguida, a ampliao

s2

do objeto virtual para a lente divergente a partir da terceira eq. (6.9). Determine

m2

da imagem formada pela lente divergente.

4.3.4-Calcule a ampliao m = m1m2 da imagem do sistema de lentes, a distncia focal em dioptrias (dio) para a lente divergente. 5- RESPONDA AS SEGUINTES QUESTES 5.1 - Uma imagem virtual pode ser focalizada sobre um anteparo? Justifique.

f2

e a potncia

p2

5.2 - Utilize o princpio de Fermat para mostrar que num espelho plano, o ngulo de incidncia igual ao ngulo de reflexo. 5.3 - Onde est localizado o foco de um espelho plano? Utilizando a equao dos espelhos esfricos mostrar que um espelho plano um caso particular de um espelho esfrico. 5.4 - Em que condies a distncia focal de uma lente delgada positiva? A distncia focal de uma lente simples diferente para cores diferentes? Justifique. 5.5 - Qual deve ser a posio de duas lentes convergentes para que a imagem final de um objeto seja direita e ampliada? Responda a questo atravs de um diagrama mostrando as duas lentes e raios provenientes do objeto.

5.6- (a) Baseando-se na Fig. 6.3, para a formao de imagens por espelhos esfricos, mostre que

+ = 2 . (b) A partir do resultado do item (a) mostre que, para raios paraxiais

1 1 1 + = s s f

44

45

n1 n2 n2 n1 . (c) A figura abaixo mostra um raio de luz partindo de um ponto objeto P no ar, e incidindo + = r s s numa lente delgada de ndice de refrao n . A primeira superfcie gera a imagem virtual P 1 do objeto P que
funciona como um objeto real para a segunda superfcie.

5.7- (a) Baseando-se na Fig. 6.5, para a formao de imagens por lentes esfricas, mostre que n1 + n2 = n2 n1 . (b) A partir do resultado do item (a) mostre que, para raios paraxiais,

2 n

P 1

P
s
s2

P
s

Mostre que a aplicao dupla da equao obtida no item (b) resulta em

n 1 1 n . (c) Adotando-se sinais apropriados para s1 + = s2 s r2

1 n n 1 + = s s1 r1

e s2 mostre ento que

1 1 1 1 + = (n 1) s s r1 r2

FG H

IJ K
1 2

5.8 - Um sistema de duas ou mais lentes, define duas posies focais distintas, como esquematizado nas figuras abaixo.

s2 fp

s1 f a

s1

Fp

Fa

s2

fp
Define-se uma distncia focal posterior anterior fa , fazendo-se s1 valem as seguintes equaes:

fa

fa

quando

f p quando s1 e uma distncia focal f p , fazendo-se s2 s2 nas eqs. (6.9). Mostre que, para esses sistemas de lentes,
1 1 1 = f a f1 d f 2

1 1 1 = f p f 2 d f1

46

EXPERINCIA 07 POLARIZAO E A LEI DE MALUS


1- OBJETIVO Estudo do comportamento da luz natural ao atravessar elementos pticos de polarizao. 2- INTRODUO TERICA A radiao eletromagntica um exemplo de onda transversal, isto , os campos eltrico e magntico variam ao longo das direes perpendiculares direo de propagao da onda. Por exemplo, se uma onda plana propaga-se na direo do eixo dos z , os campos eltrico e magntico iro variar ao longo de direes perpendiculares entre si e perpendiculares ao eixo z , como mostra a Fig.7.1(a).

G B
G E
(a)

y
PROPAGAO

z
x

Ey

G E

Ex
(b)

Fig.7.1- (a) Onda eletromagntica plana se propagando ao longo da direo do eixo campo eltrico no plano x , y .

e, (b) Componentes do

A natureza vetorial dos campos eltrico e magntico , de fato, incontestvel. Sobre um plano x , y perpendicular direo de propagao, os vetores campo eltrico e magntico apresentam componentes ao longo das direes x e y . A Fig. 7.1 (b) mostra o caso particular para o campo eltrico E . A dinmica dessas duas componentes, denominadas de componentes de polarizao, so responsveis pelos diferentes estados pticos de polarizao da radiao eletromagntica. Em geral, as fontes de luz ordinrias so despolarizadas ( ou natural) , isto , apresentam componentes E x e E y com variaes de fase aleatrias no tempo. Por outro lado, fontes de luz cujas componentes E x e E y variam com uma fase definida, so polarizadas. Se a diferena de fase entre E x e E y for nula, o campo dever variar ao longo de uma direo fixa no espao e a fonte ser dita linearmente polarizada. Se a diferena de fase entre E x e E y for de polarizada. Em particular, se E x = E y , a fonte ser dita circularmente polarizada. Nas fontes de ondas de rdio e de microondas, por exemplo, os eltrons so os radiadores elementares e se [09] . Estas movimentam num contnuo vai e vem ao longo da antena transmissora, atuando em unissonncia fontes so denominadas fontes coerentes e geram ondas linearmente polarizadas. Por outro lado, nas fontes de luz comum, como o Sol e as lmpadas fluorescentes, os radiadores elementares so os tomos, que [09] irradiam independentemente uns dos outros . A luz gerada por essas fontes despolarizada, pois consistem de trens de ondas independentes que se propagam em todas as direes com orientaes aleatrias do vetor campo eltrico. Luz polarizada pode ser gerada a partir de luz no polarizada por meio de um dos seguintes efeitos: absoro, espalhamento, reflexo e birrefringncia. O fenmeno da polarizao foi descoberto por acaso em 1809, por Etienne Louis Malus, fazendo-se observaes da reflexo da luz num cristal de calcita de um pr do sol no palcio de Luxemburgo de Paris.

, 2

os pontos gerados por essas componentes no plano x , y definiro uma elipse e a fonte ser dita elipticamente

47

Em 1938, E. H. Land desenvolveu uma pelcula, cujo nome comercial polaride, que contm molculas de hidrocarbonetos de cadeia longa, as quais, durante o processo de fabricao, quando a pelcula esticada, ficam alinhadas numa nica direo. Estas cadeias tornam-se condutoras nas freqncias pticas, quando so mergulhadas numa soluo que contm iodo. Quando a luz incide com o seu vetor campo eltrico paralelo s cadeias, as correntes eltricas que nelas se estabelecem absorvem a energia da luz e esta no passam pela pelcula. Por outro lado, se o vetor campo eltrico for perpendicular direo das cadeias, a luz passa pela pelcula sem ser absorvida. Esta direo a do eixo de transmisso do polaride. Seja o caso de um feixe de luz despolarizada de um laser de He-Ne, que se propaga na direo z , perpendicular superfcie de um polaride, cujo eixo de transmisso pode ser girado de um ngulo , em relao ao eixo x , como mostra a Fig.7.2. Este polaride denominado de analisador e tem a finalidade de definir e girar o plano de polarizao da luz do laser. A luz que atravessa o analisador tem a metade da intensidade da luz que nele incide, pois, em mdia, metade da luz incidente tem o vetor campo eltrico ao longo da direo x e a outra metade ao longo da direo y .
Y Y

X X

VOLTMETRO

E x = E0 cos

LASER

E0
DETECTOR DE LUZ ANALISADOR POLARIZADOR

Fig.7.2- Diagrama da montagem para observao da lei de Malus. Se um segundo polaride, denominado de polarizador, colocado aps o primeiro com o seu eixo de transmisso fixo e paralelo a direo do eixo x , ento a luz transmitida deve possuir o campo eltrico igual a Ex = E0 cos , onde E0 o valor do campo eltrico da luz entre os dois polarides. Uma vez que a intensidade da luz dada pelo valor mdio temporal do mdulo do vetor de Poynting, a intensidade da luz transmitida pelos dois polarides ser dada, por:

I= S =
pois, B x = E x c , ou

1 1 1 2 E x Bx = Ex = E 02 cos2 0 0c 0c

I = I 0 cos2
onde I 0 =

(7.1)

0c

E02 , a amplitude da intensidade de luz detectada. A eq. (7.1) denominada de Lei de

Malus, e se aplica a quaisquer dois elementos polarizadores cujos eixos de transmisso fazem um ngulo entre si.

O efeito de polarizao permite por exemplo, determinar o tamanho e a forma de um vrus pela anlise da luz ultravioleta por ele espalhada, ou ainda que os anis de saturno so constitudos por cristais de gelo e que os

48

gros de poeira csmica tem suas maiores dimenses paralelas ao fraco campo magntico galctico (da ordem de

10 8 T ).

3- MATERIAL NECESSRIO Laser de He-Ne, polarizador, analisador com variao angular, detector de luz, voltmetro. 4- PROCEDIMENTO 4.1 Gire o ponteiro do analizador at que se alinhe com a direo horizontal definida como o eixo x de referncia. Posicione o feixe de luz do laser de He-Ne perpendicularmente aos centros do analisador e do polarizador como mostra a Fig. 7.2. Introduza o detector e o voltmetro no experimento como indicado na referida figura. Gire o polarizador at que os eixos de transmisso do mesmo fiquem paralelos ao eixo de transmisso do analisador. Isso dever ocorrer quando a intensidade de luz no detector lida no voltmetro em milivolts, for mxima. Anote o valor desse sinal em milivolt ( mV ) com um nmero de algarismos significativos apropriado. Normalmente o laser deve ter flutuaes de intensidade variando entre um mximo e um mnimo. Observe essas flutuaes no voltmetro e adote a mdia como medida experimental. 4.2 Gire o analisador de 30,0 em 30,0 graus, at um total de 360,0 e anote, em cada caso, a intensidade I de luz lida no voltmetro em milivolts ( mV ). Faa as anotaes utilizando sempre um nmero de algarismos significativos apropriado. 4.3 Repita os procedimentos anteriores mais trs vezes e anote todos os dados numa tabela no caderno de laboratrio. 4.4- Calcule a mdia I e o erro padro I , usando para isso as seguintes equaes, I =
0

1 N

I
i =1

I = t

cI I h
N i 1=1

N N 1

, onde

N = 4 o nmero total de medidas, t o parmetro estatstico de Student

(Captulo C do Manual de Erros, Medidas e Grficos), que deve ser escolhido com um valor que se tenha um nvel de confiana de 90% no erro padro.

t = 2,35 para

4.5- Disponha os pontos experimentais na forma de um grfico I na escalar linear, disponvel na pgina seguinte, e desenhe uma curva que melhor se ajusta sobre esses pontos, para mostrar o comportamento da intensidade da luz emergente dos polarizadores como funo do ngulo do analisador. Disponha no grfico as barras de erros verticais de dimenses I para cada ponto experimental (Para maiores esclarecimento veja o Captulo E do Manual de Erros, Medidas e Grficos). 4.6- Discuta o resultado experimental comparando-o com a descrio terica dada pela lei de Malus.

5- RESPONDA AS SEGUINTES QUESTES 5.1- Quando se incidi luz natural, de intensidade

I0 ,

num conjunto de dois polarides, com eixos de

transmisso paralelos, qual dever ser a intensidade da luz emergente? 5.2- Qual ser a intensidade da luz emergente se o analisador do problema anterior for girado de

30,00 .

5.3- Considere um par de polarides cruzados com eixos de transmisso vertical e horizontal. A intensidade da luz que emerge do primeiro polaride I1 e, evidentemente, no passa luz atravs do analisador. Introduza agora, entre os dois elementos, um terceiro polaride com eixo de transmisso a intensidade de luz emergente de todo o conjunto de polarizadores

45,00 com a vertical. Calcule a

49

50

EXPERINCIA 08 ATIVIDADE PTICA


1- OBJETIVO Estudo do comportamento do plano de polarizao da luz ao se propagar em meios opticamente ativos. 2- INTRODUO TERICA A forma como a luz interage com a matria fornece informaes sobre a sua estrutura atmica. Em 1811 o [08, 09] fsico francs Dominique F. J. Arago descobriu o fenmeno conhecido hoje como atividade ptica . Arago observou que o plano de polarizao da luz linearmente polarizada, girava continuamente medida que se propagava ao longo do eixo ptico de uma lmina de quartzo, como mostra a Fig. 8.1. Quase que na mesma poca, Jean Baptiste Biot observou efeito semelhante em diversas substncias naturais, tanto na fase de vapor [08, 09] quanto lquida . Substncias que apresentam atividade ptica so denominadas de opticamente ativas.

EIXO PTICO

d
Fig. 8.1- Rotao do plano de polarizao da luz por um meio opticamente ativo. O ngulo de rotao do plano de polarizao da luz linearmente polarizada proporcional ao comprimento do caminho da luz na substncia d e depende da natureza da substncia. Para um observador que olha no sentido de onde incide a luz, a substncia destrgira, se gira o plano de polarizao no sentido horrio ( direita), e levgira, se gira o plano no sentido anti-horrio ( esquerda). Certas substncias apresentam atividade ptica apenas no estado slido. Como exemplos, o quartzo (cristal [08, 09] inorgnico) e o benzil (cristal orgnico) . Nestas substncias a atividade ptica depende de arranjos especiais dos tomos e molculas no cristal, arranjos esses que desaparecem quando as molculas orientamse ao acaso no estado lquido ou gasoso. Em cristais em que ao passar de uma camada atmica para outra vizinha, esta ltima est girada em relao anterior de um pequeno ngulo no sentido horrio, eles se comportam como substncias destrgira. No caso de rotaes no sentido anti-horrio, eles se comportam como substncias levgira. Substncias como acar, terebintina -

C10 H6

( resina extrada do pinheiro), cnfora e cido tartrico,


[08, 09]

. Nessas substncias, a possuem atividade ptica em qualquer estado fsico como tambm em soluo atividade ptica est associada com as molculas individuais e no com seus arranjos relativos. A atividade ptica de uma dada substncia depende do comprimento de onda

rotao decresce com o aumento do comprimento de onda . Assim, um feixe de luz branca linearmente polarizada, aps passar pela substncia, ter os raios de luz com as diferentes cores rodadas de ngulos diferentes em relao ao plano da luz branca incidente.

da luz. O ngulo de

Para se entender o fenmeno da atividade ptica de uma maneira simples, basta considerar que, o meio opticamente ativo apresenta diferentes valores de ndice de refrao para ondas planas circularmente [07] . Num plano xy , os campos eltricos de uma onda polarizadas com sentidos opostos de rotao

51

circularmente polarizada para a direita definidos, respectivamente


[07]

G ER

e uma onda circularmente polarizada para a esquerda

G EL

so

, por

G G G E R = E0 i cos k R z t + jsen k R z t G E L = E0
onde
L L

b g b g G G i cosb k z t g jsenb k z t g
G G = ER + E L
ser dada, por

(8.1)

(8.2)

kR

kL

so os nmeros de onda associados onda circularmente polarizada que gira para a direita e

onda circularmente polarizada que gira para a esquerda, respectivamente. A resultante das duas ondas definidas pelas eqs. (8.1) e (8.2), E

G G G G G k +k k k k k E = 2E0 cos R L z t i cos R L z + jsen R L z = Emx cos i + Emxsen j 2 2 2

LMb N

OPLM b QN

g OP b Q

g b

(8.3)

onde usou-se as seguintes identidades trigonomtricas:

sen sen = 2 cos

2 2 + cos + cos = 2 cos cos 2 2

sen

e, com base na Fig. 8.2, definiu-se, = k R k L z 2 e Na entrada

Emx = 2 E0 cos k R + k L z 2 t .

az = 0f

, tem-se

G G E = 2 E0i cost

(8.4)

O campo polarizado linearmente segundo o eixo x . Alm disso, esse comportamento permanece a medida que o tempo passa. Assim, a onda resultante est sempre polarizada linearmente, embora a orientao do plano de polarizao dependa de z .

Ey

G E

Ex
Fig. 8.2- Componentes de polarizao do vetor campo eltrico circularmente polarizada para a direita

G ER

G E resultante da superposio dG e uma onda

e uma onda circularmente polarizada para a esquerda

EL .

52

A velocidade de fase de uma onda num meio qualquer definida por, v = f = 2 k 2 = k ou, em termos do ndice de refrao

do meio, v = c n = k , ou ainda, k =

k e so o nmero de onda e o comprimento de onda da luz no vcuo respectivamente. Se nR e nL so,


respectivamente, os ndices de refrao do meio associados a onda que gira para a direita e da onda que gira para a esquerda, ento

2 f 2 n= n= n = kn , onde c c

gb

k R = knR

k L = kn L

(8.5)

G nL . Em caso contrrio, o campo resultante E deve girar para a esquerda G (rotao levgira). Se for o ngulo de rotao do campo resultante E , a rotao ser destrgira quando > 0 , e levgira quando < 0 . Para que essa conveno de sinais seja satisfeita, de acordo com a eq. G [08, 09] (8.3), o ngulo de rotao do campo resultante E ser dado , por
"enxerga" um ndice de refrao

Quando n L > n R ou, k L > k R , o campo resultante E deve girar para a direita (rotao destrgira) , ao se olhar de frente para a fonte de luz, pois o meio impe uma maior " resistncia" componente desse campo que

=
pois, somente assim , > 0 quando k L > k R , e a rotao do plano de polarizao ser:

bk

kL z 2
quando k L < k R . Se a espessura do meio for

(8.6)

<0

z=d,

=
onde

bkn kn g d = k bn n g d = 2 bn n g d = d bn n g = d n
R L L R L R

(8.7)

n = nL nR

a birrefringncia relacionada atividade ptica do meio. A atividade ptica dos materiais

usualmente apresentada em tabelas em termos da razo R =

, conhecida como poder rotatrio ou d

rotao especfica. Em termos dessa grandeza, a eq. (8.7) torna-se

R=

= n d

(8.8)

Solues dotadas de atividade ptica so compostas por uma substncia opticamente ativa diluda num solvente neutro qualquer. Em solues de baixa concentrao de substncia opticamente ativa, observa-se experimentalmente que

n = nL nR

diretamente proporcional a essa concentrao, isto

n = K .

Nesse caso, da eq. (8.7), tem-se:

=d
ou,

(8.9)

K = d

(8.10)

53

Os ngulos de rotao das solues S so to pequenos que, normalmente so especificados para amostras com d = 10 cm de comprimento e em termos de uma concentrao mnima de esses dados na eq. (8.8), obtm-se:

= 1 g cm3 .

Inserindo

S = 10cm
ou, da eq. (8.9)

gFGH K IJK c1 g cm h
3

S = 10cm
com

g d c1 g cm h
3

(8.11)

dado em

g cm3

em

cm .

3- MATERIAL NECESSRIO Laser, polarizador, analisador com variao angular, cuba com gua e acar. 4- PROCEDIMENTO 4.1 Coloque a cuba vazia entre o polarizador e o analisador como mostra a figura abaixo. Alinhe a luz do laser no centro dos polarizadores com os eixos dos mesmos cruzados, de modo que a intensidade de luz seja mnima num anteparo posicionado aps o polarizador. Mea o comprimento d da cuba em centmetros e anote o resultado com um nmero de algarismos significativos apropriado.

ANTEPARO

LASER

d
ANALISADOR CUBA POLARIZADOR

4.2 Preencha a cuba com laser no anteparo.

0,50 litro de gua e verifique se houve alguma alterao na intensidade da luz do

4.3 - Dissolva uma colher de acar, cheia at a borda, removendo o excesso com uma rgua (cada colher assim corresponde aproximadamente a 4,15 g de acar) na gua. Calcule a densidade da soluo utilizando a relao

= mV

, mantendo o nmero de algarismos significativos apropriados.

4.4 - Procure com o analisador o novo ponto de intensidade mnima, mea a variao angular analisador e calcule o poder rotatrio R = apropriado.

do eixo do

da soluo, com um nmero de algarismos significativos

54

4.5 - Repita os procedimentos 4.3 e 4.4 mais nove vezes, em cada caso, acrescentando soluo sempre uma colher de acar. 4.6- Disponha os pontos experimentais na forma de um grfico R na escalar linear, disponvel na pgina seguinte e desenhe uma curva que melhor se ajusta sobre esses pontos. Discuta o comportamento grfico obtido no experimento. Essa tcnica poderia ser adotada para determinar a concentrao de substncias opticamente ativas? 4.7- Para a concentrao mxima da soluo, gire a cuba de 90,0 e procure com o analisador o novo ponto de intensidade mnima. Mea o ngulo e o novo comprimento d da cuba. Calcule o poder rotatrio
0

R = d , compare-o com o ltimo dado experimental do item 4.5 e discuta o resultado.

55

56

5- RESPONDA AS SEGUINTES QUESTES 5.1- O que uma substncia opticamente ativa? 5.2- Uma substncia opticamente ativa encontra-se no interior de um recipiente de comprimento d = 20 cm . Quando luz de comprimento de onda = 633 nm , linearmente polarizada, atravessa a soluo, nota-se que o plano de polarizao girado de um ngulo relacionados onda que gira para a direita

= 5,00 . Determine a diferena entre os ndices de refrao


e a que gira para a esquerda

nR

nL

na substncia.

5.3- O ngulo de rotao S da sacarose dissolvida em gua a onda ativa por

20o C com luz de sdio de comprimento de

= 589,3 nm , + 66,45o , para cada 10cm de percurso numa soluo com um grama de substncia

cm3 . Luz linearmente polarizada segundo a vertical, atravessa um tubo de um metro de comprimento
1000 cm3 de soluo com 10 gramas de sacarose. Qual a rotao da polarizao linear

e que contm emergente?

57

EXPERINCIA 09 O INTERFERMETRO DE MICHELSON


1-OBJETIVO Medida de pequenos deslocamentos, espessuras e ndice de refrao do ar. 2-INTRODUO TERICA O Interfermetro de Michelson , mostrado na Fig. 9.1, um dos sistemas pticos mais importante que utiliza tcnicas interferomtricas para medidas de ndice de refrao, deslocamentos, ou vibraes, com grande [08][09] preciso . Um raio de luz coerente incide sobre um semi-espelho (divisor de feixe), onde parcialmente refletido e parcialmente transmitido. O feixe transmitido ( identificado como o primeiro brao do Interfermetro) refletido por um espelho M1 e, em seguida, novamente refletido pelo divisor de feixe at atingir um anteparo. O segundo feixe ( identificado como o segundo brao do interfermetro ) refletido por um espelho M 2 e tambm atinge o anteparo, onde gerado o padro de interferncia.

IMAGEM DE

M1 VISTA POR UM EVENTUAL OBSERVADOR O

M1 M2
CUNHA DE AR

2t

LASER

M1

DIVISOR DE FEIXE ANTEPARO

O
Fig. 9. 1- Configurao do interfermetro de Michelson para medida de pequenos deslocamentos. Geralmente, o espelho M1 fixo e o espelho do feixe de luz. A figura de interferncia, observada sobre o anteparo, pode ser melhor compreendida notando-se que o semi espelho gera uma imagem M1 do espelho M1 na regio do espelho M 2 , vista por um eventual observador

M2

pode ser deslocado, utilizando-se um micrmetro na direo

O . A cunha de ar formada pelas duas superfcies planas de M1 e M 2 responsvel pela formao do


padro de interferncia. Se o espelho

M2

for ligeiramente deslocado, por exemplo de

t=

, a espessura da

cunha ser modificada ponto a ponto, por este mesmo valor, introduzindo uma diferena de percurso adicional de 2t = no feixe de luz, pois este atravessa a cunha duas vezes. Esta diferena de percurso ser observada na figura de interferncia pelo deslocamento completo de uma franja clara. De um modo geral, se houver um deslocamento de N franjas claras no padro de interferncia, o deslocamento t correspondente do espelho M 2 ser dado, por

58

2 t = N

(9.1)

ocorre mudana de fase durante a reflexo das ondas, pois saem de um meio menos refringente (ar) para outro mais refringente ( espelho). O Interfermetro de Michelson pode tambm ser transparentes construdos na forma de uma lmina lmina transparente deve ser colocada no caminho refrao n do material maior que o ndice do ar, lmina diminui para =

Quando se considera N um nmero inteiro, a eq. (9.1) descreve a condio de interferncia construtiva dos raios refletidos nos espelhos M 2 e M1 quando o segundo atravessa a cunha de ar. Em ambos os casos

, onde o comprimento de onda da luz no vcuo. n

utilizado para medir ndice de refrao de materiais de espessura bem definida, como mostra a Fig. 9.2. A de um dos feixes do interfermetro. Como o ndice de ou vcuo, o comprimento de onda da luz no interior da

M2
DIVISOR DE FEIXE

M2
DIVISOR DE FEIXE

LASER

M1

LASER

M1
n

ANTEPARO

ANTEPARO

Fig. 9. 2- Configurao do interfermetro de Michelson para medida de ndice de refrao.

Dessa forma, o nmero de ondas no interior da lmina aumenta de pode ser medido com boa preciso, observando o nmero de franjas no padro de interferncia sobre o anteparo, uma vez que

N1 =
N

2t

para

N2 =

2 t 2 nt , =

que

claras, ou escuras, que se deslocam

N = N 2 N1 =

2t

an 1f

,ou

n= N

2t

+1

(9.2)

Note que o ndice de refrao n do material pode ser encontrado por esta experincia desde que se conhea com preciso o comprimento de onda da luz e a espessura t do material. Os ndices de refrao de gases ( como o ar por exemplo) e lquidos podem ser medidos utilizando-se lminas ocas, com espessuras calibradas. 3- MATERIAL NECESSRIO Interfermetro de Michelson com micrmetro, clula de ar, laser de He-Ne, lente convergente e anteparo. 4- PROCEDIMENTO 4.1- Medida de pequenos deslocamentos 4.1.1- Monte o experimento do Interfermetro de Michelson sobre a bancada conforme mostrado na figura abaixo utilizando os instrumentos disponveis. Procure superpor os dois feixes de luz sobre o anteparo atuando sobre os parafusos micromtricos do espelho M1 .

59

PISTOLA DE VCUO ANTEPARO

LASER DE HE-NE CLULA


DE AR

10 CM

M1 M2
85 CM INTERMETRO DE MICHELSON

4.1.2- Introduza a lente convergente entre o interfermetro e o anteparo para ampliar o padro interferomtrico, como mostra a figura seguinte. Atue nos parafusos micromtricos do espelho M1 para que se tenha um nmero entre quatro e seis franjas no padro interferomtrico, e ao mesmo tempo que elas se posicionem na horizontal ou vertical. 4.1.3- Posicione o anteparo para que o centro de uma franja clara ou escura fique sobre a linha de referncia do mesmo. Atue no micrmetro do interfermetro at que este fique no zero de sua escala. Perceba que a menor diviso de escala do micrmetro 0,01 mm , e conseqentemente, tem uma preciso da ordem de t mic = 0,005 mm .

PISTOLA DE VCUO ANTEPARO

LASER DE HE-NE LENTE CLULA


DE AR

10 CM

M1 M2
70 CM 15 CM INTERMETRO DE MICHELSON

4.1.4- Desloque o espelho leitura do micrmetro

M2

para frente atuando no micrmetro do interfermetro at a contagem de

35,0

franjas sobre a referncia do anteparo. Anote, com o maior nmero possvel de algarismos significativos, a nova

tmic em milmetros e, por conseguinte, o deslocamento t M

d i
2

mic

do espelho previsto por

esse instrumento. A construo do interfermetro tal que o deslocamento do espelho

dt i

M 2 mic

1 10

do

60

deslocamento promovido pelo micrmetro uma vez que

tmic , isto t M

d i
2

mic

tmic

10 . Nesse caso, a preciso da medida aumenta,

d t i

M 2 mic

1 t mic = 0,0005 mm . 10

4.1.5- Repita essa experincia por mais duas vezes atuando no micrmetro a partir do ponto onde parou. conveniente que cada experincia seja realizada por diferentes componentes da equipe de trabalho. Assuma o valor mdio

dt i

M 2 mic

como

resultado da medida do deslocamento registrado pelo micrmetro, mantendo sempre o nmero apropriado de algarismos significativos. 4.1.6- Utilize o nmero de franjas deslocadas

N = 35,0

calcular, por meio da eq. (9.1), o deslocamento

dt i

e o comprimento de onda do laser de He-Ne do espelho

= 633 nm

para

M 2 int

M2

previsto pelo mtodo interferomtrico, tambm

com o nmero apropriado de algarismos significativos. 4.1.7- Repita toda a experincia para contagens de

N = 40,0

N = 45,0

franjas de interferncia.

4.1.8- Faa uma estimativa dos erros gerados pelo micrmetro e pelo interfermetro de Michelson e discuta a preciso dos dois mtodos. 4.2- Medida do ndice de refrao do ar 4.2.1- Novamente, posicione o anteparo para que o centro de uma franja clara ou escura fique sobre a linha de referncia do mesmo. 4.2.2- Atue cuidadosamente na pistola de vcuo para retirar o ar da clula de ar lentamente e, ao mesmo tempo, conte o nmero N de franjas que se deslocam no anteparo at que o movimento cesse. Adote a medida de N com o nmero apropriado de algarismos significativos. Lembre-se que N no precisa ser necessariamente um nmero inteiro. 4.2.3- Utilize o nmero de franjas deslocadas N , a espessura t = 10 mm da clula de ar calibrada e o comprimento de onda do laser de He-Ne = 633 nm para calcular, por meio da eq. (9.2), o ndice de refrao n do ar. 4.2.3- Libere o ar na clula de ar e repita a experincia por mais quatro vezes. 4.2.4- Calcule a mdia

e o erro padro
N

, com o maior nmero possvel de algarismos significativos, usando para

isso as seguintes equaes,

n=

1 N

n
i =1

n = t

bn n g
N i
1=1

N N 1

onde

N =5

o nmero total de medidas,

parmetro estatstico de Student (Captulo C do Manual de Erros, Medidas e Grficos), que deve ser escolhido com um valor t = 2,13 para que se tenha um nvel de confiana de 90% no erro padro. 5- RESPONDA AS SEGUINTES QUESTES 5.1- Uma pelcula, de ndice de refrao

1,3 3

e espessura

Michelson. A luz usada tem o comprimento de onda de a figura de interferncia?

12 m , inserida num dos braos de um interfermetro de 589 nm no ar. De quantas franjas de interferncia ser deslocada

5.2- Uma pessoa umedece os seus culos comprados num camel afim de limp-los e, em seguida, usa-os antes de seclos. Quando a gua se evapora verifica que, num curto intervalo de tempo, as lentes tornam-se no refletoras. Explique como isso pode ser possvel. 5.3- Uma espira de arame mergulhada numa soluo de sabo em gua e mantida de tal forma que a pelcula de sabo fica na vertical. (a) Observada por reflexo, com luz branca, parte de cima da pelcula parece negra. Explicar a razo deste efeito. (b) Depois da regio negra aparecem, na pelcula, franjas coloridas. A primeira franja colorida violeta ou vermelha?

61

EXPERINCIA 10 DIFRAO EM ABERTURAS E OBSTCULOS E REDES DE DIFRAO


1- OBJETIVO O objetivo dessa experincia a utilizao de fenmenos da difrao para a medida das dimenses de pequenas estruturas, caracterizar redes de difrao e aplic-las na anlise do espectro da luz branca. 2- INTRODUO TERICA 2.1- Conceito de difrao Difrao um fenmeno ondulatrio associado a desvios da direo de propagao de uma onda ao passar pelas bordas de obstculos opacos. No caso de uma onda luminosa, cada frao de luz desviada, recombinase e gera um padro de franjas claras e escuras que s pode ser compreendida a partir da ptica ondulatria. A Fig. 10.1 mostra os dois tipos de difrao que usualmente se propes analisar: (a) a difrao de Fresnel, onde no so planas as frentes de onda que chegam ao elemento difrativo e (ou) que chegam no ponto de observao (anteparo), e (b) a difrao de Fraunhoffer onde so planas ambas as frentes de onda citadas.

G A r
Fonte de Luz

G r
P
Frentes de onda Plana

(a)

(b)

Fig. 10.1- Frentes de onda luminosa difratada por uma abertura de rea Difrao de Fraunhoffer. De acordo com o formalismo de Kirchoff Fresnel
[08, 09, 10]

A . (a) difrao de Fresnel e (b)

, o campo

E A P difratado no ponto P ,
(10.1)

bg

EA P =
onde

bg

f E da

bg

f ( E ) uma funo do campo E na regio da abertura, ou mscara como tambm chamada, e, da

um elemento de rea nessa regio. A difrao de Fraunhoffer proporciona uma enorme simplificao ao tratamento matemtico da difrao. 2.2 - Difrao de Fraunhoffer em uma fenda simples e em um fio longo O campo difratado por uma fenda simples dado, por:

E = Emx
onde

1 sen 2 1 2
asen

(10.2)

(10.3)

62

a diferena de fase entre a primeira onda da base inferior da fenda e a ltima onda da base superior. A largura da fenda identificada por a e o ngulo de observao da difrao. Da eq. (10.2), a distribuio de intensidade

I E 2 da difrao de Fraunhoffer na fenda

F sen 1 I 2 J I=I G J GG 1 H 2 JK
0 2

(10.4)

onde I 0 E mx a intensidade do mximo central da figura de difrao. A Fig. 10.2 mostra o fenmeno da difrao de acordo com as eqs.(10.4) e (10.3).

sen

L
Fig.10.2- Distribuio de intensidade da luz difratada por uma fenda simples. Nota-se que a medida da distncia y , entre o primeiro ponto de mnimo e o mximo central da figura de difrao, permite determinar a largura da fenda simples desde que se conhea o comprimento de onda luz pois, sen tg =

y = , ou L a

da

a=L
A condio

(10.5)

sen tg pode ser utilizada uma vez que na difrao de Fraunhoffer L >> y e, portanto, o

ngulo de difrao

muito pequeno.

O padro de difrao de um fio longo similar ao padro gerado por uma fenda simples. Esse aspecto pode [08, 10] . ser justificado a partir do princpio de Babinet de mscaras complementares As Figs. 10.3 (a) e (b) mostram duas mscaras complementares, iluminadas por feixes de luz em condies idnticas de Fresnel ou Fraunhoffer. De acordo com a eq. (10.1), os campos de difrao

E A P e E B P no ponto P em cada caso, so


EB P =

bg

bg

EA P =

bg

f E da

bg

bg

f E da

bg

63

Regio no Iluminada pelo Feixe onde

E P =0 P
EA ( P )

bg

E ( P) = 0

EB ( P ) E ( P) 0

Regio Iluminada pelo Feixe onde

E P 0

bg

Anteparo

Anteparo

(a)

(b)

Fig. 10.3- Mscaras complementares iluminadas por feixes de luz em condies idnticas de Fresnel ou Fraunhofer. Se ambas as aberturas de cada mscara se encontrarem presentes, no existiro quaisquer regies opacas e a perturbao no obstruda E P no ponto P , ser

bg

E P =

bg

A+ B

f E da = E A P + E B P

bg

bg

bg

(10.6)

Essa a essncia do princpio de Babinet. Uma vez que nenhuma obstruo est presente, no deve existir mximos e mnimos de difrao, isto :

bg e E b P g = 0 na regio no iluminada pelo feixe O princpio de Babinet particularmente til nas regies E b P g = 0 , onde E b Pg = E b Pg
E P 0 na regio iluminada pelo feixe
A B

(10.7) b g b g para E b Pg = 0 Conclui-se portanto que, nas regies onde E b P g = 0 , o padro de difrao de um fio longo essencialmente o

Como I

E 2 , ento

I A P = IB P

mesmo que a de uma fenda simples. 2.3 - Difrao de Fraunhoffer em uma abertura circular [08, 09, 10] O padro de difrao de Fraunhofer em uma abertura circular de dimetro D , so anis concntricos cujo mximo principal encontra-se no centro como mostra a Fig. 10.4.

64

sen

1, 22

L
Fig. 10.4- Padro de difrao de uma abertura circular. As posies dos mnimos no padro de difrao so semelhantes ao caso da difrao em uma fenda simples, diferindo-se particularmente num fator multiplicativo de 1.22, isto

sen tg =
ou

y = 1.22 L D

D = 1, 22 L

(10.8)

onde deve-se observar a presena do dimetro D da abertura circular. Este fator aparece de uma anlise matemtica semelhante a que foi feito para a fenda simples, sendo porm, mais complicada devido simetria [08, 09, 10] circular da abertura . A condio sen tg pode ser utilizada uma vez que na difrao de Fraunhoffer L >> y e, portanto, o ngulo de difrao

muito pequeno.

2.4 Redes de Difrao Rede de difrao um elemento ptico formado por uma srie de aberturas e obstculos repetidos ou modulao peridica de relevos que, em geral, introduzem variaes peridicas na fase e/ou na amplitude de [08, 09, 10] uma onda eletromagntica . A Fig. 10.5 mostra uma rede de difrao formado por uma srie de aberturas e obstculos repetidos de perodo d , onde uma onda luminosa incide obliquamente com ngulo e difrata numa direo de ngulo 1

identificada por uma ordem

m.

A diferena de caminho ptico entre os raios 1 e 2, dada por, r = dsen + dsen , fornece a condio de interferncia construtiva na m-sima ordem de difrao dada, por

d ( sen + sen ) = m ; m = 0, 1, 2,...

(10.9)

dsen

dsen

Fig.10.5 - Incidncia oblqua de uma onda luminosa sobre uma rede de difrao.

65

Esta equao conhecida como equao geral da rede de difrao e mostra que cada comprimento de onda define uma direo angular de interferncia construtiva. Essa propriedade faz da rede de difrao um componente ptico capaz de decompor espectralmente a luz policromtica, tal como a luz branca. Em cada direo, somente um nico comprimento de onda interfere construtivamente e, todos os outros interferem destrutivamente. O espectrmetro e o monocromador so exemplos de instrumentos pticos que utilizam a rede de difrao para a separao de comprimentos de onda na regio do ultravioleta, visvel e infravermelho presente numa fonte de luz policromticas. Esses instrumentos so utilizados para anlise espectral de fontes de luz, anlise de substncias qumicas, etc. Para a anlise de uma rede de difrao, usualmente considerar incidncias normais, onde a eq.(10.9), torna-se:

= 0 . Nesse caso,
(10.10)

dsen = m

m = 0,1,2,....

Alm disso, o perodo d de uma rede de difrao normalmente descrito em termos de uma freqncia espacial f , dada em linhas/unidade de comprimento e definida como o inverso do perodo, isto f = 1 d . As redes de difrao podem ser caracterizadas quanto a sua qualidade e aplicabilidade, por meio da sua disperso angular D e resoluo R dadas, respectivamente, por

D=

m = d cos

R=

= mN

(10.11)

onde N o nmero de linhas da rede na regio iluminada pele radiao eletromagntica. Quanto maior a disperso angular D ou a resoluo R de uma rede de difrao melhor a rede separa dois comprimentos de ondas prximos de uma luz policromtica. Uma rede de difrao pode ser fabricada, por exemplo, utilizando uma frisador de vidro controlada por computador. Uma lmina de vidro pode ser riscada com espaamentos peridicos com uma ponta de diamante. Entretanto, esta tcnica litogrfica extremamente complicada, por causa do grande nmero de linhas que as redes em geral possuem. Atualmente, uma das tcnicas mais modernas para a fabricao de redes de difrao, utiliza o mtodo hologrfico mostrado na Fig.10.6.

m = 1 =

FILME FOTOSSENSVEL Fig.10.6- Mtodo hologrfico para fabricao de redes de difrao. A interferncia de dois feixes de luz coerente, tal como um laser, define um padro de franjas hologrficas, que pode ser gravado e revelado num filme fotossensvel, tais como filmes especiais para holografia ou alguns polmeros fotossensveis. O perodo d da rede hologrfica gravada, pode ser determinado em termos do semi ngulo de interferncia entre os dois feixes, utilizando-se m = 1 e 1 = na equao geral da rede eq.(10.9), isto :

66

d=

2 sen

(10.12)

Esta equao mostra que o perodo da rede inversamente proporcional ao semi - ngulo entre os dois feixes, sendo possvel gravar redes com perodo at

d=

quando

3- MATERIAL NECESSRIO Laser de He-Ne, fonte de luz branca, redes de difrao, haste e trena. 4- PROCEDIMENTO 4.1- Medida das dimenses de pequenas estruturas. 4.1.1- Coloque o laser a uma distncia da ordem de 3,20m em relao a um anteparo. Geralmente, isso deve ser feito sobre duas bancadas niveladas no laboratrio, como mostra a figura abaixo. Faa um alinhamento do laser de modo que o feixe atinja o centro do anteparo.

LASER DE HE-NE FENDA

ANTEPARO

20,0cm

L 3,00m

4.1.2- Coloque a fenda no caminho do feixe luminoso prximo ao laser a uma distncia

L 3,00m .

4.1.3- Certifique-se que o feixe laser incida perpendicularmente no centro da fenda. Observe a figura de difrao no anteparo e procure otimiz-la, tornando-a simtrica, movendo lentamente a fenda de um lado para o outro. 4.1.4- Com uma escala graduada em milmetros, mea a distncia Y entre os primeiro mnimos de difrao em torno do mximo central. Divida o resultado por dois e calcule o ngulo de difrao . 4.1.5- A partir do resultado obtido e do fato que = 633nm para o laser de He-Ne, calcule a largura d da fenda utilizando a relao sen = d . Nesses clculos adote um nmero de algarismos significativos apropriado e faa uma estimativa do erro da medida. 4.1.6- Troque a fenda pela agulha de insulina e repita os procedimentos de e repita os procedimentos de 4.1.3 a 4.1.5, a fim de medir a espessura d dessa agulha. 4.1.7- Troque a agulha de insulina pelo orifcio circular e observe a figura de difrao no centro do anteparo. 4.1.8- Mea o dimetro do anel gerado pelo primeiro mnimo de difrao em torno do mximo central. Divida o resultado por dois e calcule o ngulo de difrao no centro do anteparo. 4.1.9- A partir desse resultado, calcule o dimetro

do orifcio circular utilizando a relao sen = 1,22

. D

Nesses clculos adote um nmero de algarismos significativos apropriado e faa uma estimativa do erro da medida.

67

4.2-Medida do perodo e da freqncia espacial da rede de difrao. 4.2.1-Faa incidir luz de um laser He-Ne ( = 633nm ) perpendicularmente na regio central da rede de difrao. 4.1.2-Coloque o anteparo na frente e a uma distncia L 20, 0cm da rede de disfaram de modo a observar as duas primeiras ordens de difrao ( m

= 0,1 ) como mostra a figura abaixo.


ANTEPARO

REDE
Laser He-Ne

m = +1

m=0 m = 1

Y1

L
4.2.3- Utilizando uma escala graduada, mea a distncia mximo de interferncia ( m = 4.2.4- Determine, o ngulo

+1 ) no anteparo, com o maior nmero possvel de algarismos significativos.


em radianos, o perodo

Y1

entre o mximo central (

m = 0)

e o primeiro

da rede em nanometros , e a sua freqncia espacial

em linhas por milmetro.

4.2.5- Sabendo-se que o dimetro do feixe laser rede de difrao, utilizando a relao

N=

. d

2,0mm , determine o nmero N de linhas iluminadas da

4.2.6- Faa a caracterizao da qualidade espectral da rede de difrao determinando, a disperso angular em radianos por micrmetro e a resoluo

D1

R1 , ambas na primeira ordem de interferncia ( m = +1 ).

4.3- Decomposio espectral utilizando a rede de difrao. 4.3.1- Coloque a rede de difrao a uma distncia L 40,0cm do filamento da fonte de luz branca. 4.3.2- Voc como um observador, posicione-se na direo angular que define a primeira ordem de interferncia ( m = +1 ) por transmisso, como mostra a figura abaixo, e observe a decomposio espectral da luz branca .

L 40,0cm

1
REDE ESPECTRO

Y1

68

4.3.3- Pea a um colega para colocar a haste cilndrica numa posio tal que coincida com uma das faixas do espectro cuja cor se deseja medir o comprimento de onda. 4.3.4- Mea as posies Y1 na primeira ordem de interferncia ( m = +1 ), entre o filamento da lmpada e a haste colocada nas faixas de cores VERMELHO, VERDE e AZUL respectivamente. 4.3.5-Determine as posies angulares ambos para ( m =

+1 ), para cada uma das 03 cores consideradas.

em radianos, e os comprimentos de onda

em micrmetro,

5- RESPONDA AS SEGUINTES QUESTES 5.1- Seja uma fenda de largura a iluminada por uma fonte de luz coerente. As posies dos mnimos de difrao podem ser encontradas dividindo-se a fenda em um grande nmero de pequenas fontes de luz como mostra a figura ao lado. Seja por exemplo um total de 100 fontes observadas sob um ngulo , de modo que, as ondas do topo e da base da abertura esto em fase e asen = . Neste caso, as fontes 01 e 51 esto em contra fase ( = ). Ocorrendo o mesmo com as fontes 02 e 52 03 e 53, e assim por diante. Com 1 este raciocnio observa-se que as ondas provenientes de cada a par de fontes separadas por

a cancelam-se mutuamente, 2

demonstrando assim ausncia de energia luminosa sob este ngulo . Justifique com a generalizao desse argumento, observando-se as fontes sob outros ngulos com divises da fenda em 04, 08, 16,...etc regies, que a figura de difrao, possui mnimos de intensidade luminosas em posies angulares dadas pela seguinte expresso geral

asen = m

m = 1,2,....

5.2- Seja novamente uma fenda de largura a iluminada por uma fonte de luz coerente. Se a fenda for dividida em N fontes iguais distanciadas por d =

a , cada uma delas funcionar como uma N 2

fonte filiforme como mostra a figura ao lado. A diferena de percurso ptico entre ondas adjacentes ser dsen , resultando por conseqncia, numa diferena de fase ,

a
d

asen dsen

dsen .

A figura abaixo mostra o diagrama de fasores para a adio de todas as ondas provenientes de cada uma das N fontes. As diferenas de fase de cada uma das ondas em relao primeira sero dadas, respectivamente por ,2 ,....., N 1 .

69

E0

/2 /2
E /2
E0

E /2

E0
(1800 ) / 2

E0 E0 E0

Emx = NE 0

Quando N for muito grande e muito pequeno, o diagrama de fasores se aproxima de um arco de crculo. A amplitude resultante E ser dada pelo comprimento da corda do arco. Se for a diferena de fase entre a primeira e a ltima onda, mostre que o campo difratado ser dado por

E = Emx
onde E mx = NE 0 e

1 sen 2 1 2

asen .

5.3- Uma das aplicaes mais importantes das redes de difrao na medio de comprimentos de onda de luz monocromtica. Explique como isso pode ser feito. 5.4- Uma das caractersticas interessante das redes de difrao a decomposio espectral de luz policromtica, tal como luz branca. Que tipo de equipamento ptico adota esse efeito e com que finalidade? 5.5- Por diferenciao de ambos os lados da eq. (10.10), assumindo angular de uma rede de difrao

D=

d m = = d d cos

e variveis, mostre que a disperso

5.6- Se as aberturas de uma rede de difrao forem identificadas por fasores idnticos, como mostra a figura abaixo, ento, de acordo com a figura abaixo, a fase relativa entre eles ser, diferenciao resulta em,

d =

d cosd

ou

dsen ,

cuja

d cos .

70

E = E min = 0 E = E max

= 2 N

= 0

r = dsen

Intensidade

2
t

2 r

Segundo o critrio de resoluo de Rayleigh, a condio limiar para que dois pontos luminosos sejam distinguidos, ocorre quando o mximo principal da figura de difrao gerada por um desses pontos, coincide com o primeiro mnimo da figura de difrao gerada pelo outro ponto, como mostra a figura ao lado. No caso de uma rede de difrao com N aberturas, ou fendas, a diferena de fase entre o mximo e o mnimo das figuras de difrao, geradas por aberturas consecutivas, = E min. E max. = substituio na equao anterior resulta em

c sen = Pmin

b g b g
=

Nd cos

2 , cuja N
L

. Combine

essa equao com a equao da disperso D , obtida na questo anterior, para mostrar que a resoluo R de uma rede de difrao dada por

R=

= mN .

Pmin

sen

5.7- Um laser de

CO2 emite um espectro numa regio do infravermelho com comprimentos de onda que variam de = 9,3 m a = 10, 6 m . Qual deve ser a freqncia espacial em linhas por milmetro, de uma '+ ' ' ) seja observado na primeira ordem de rede de difrao para que o centro desse espectro ( m =
2
difrao ( m =

+1 ) numa posio angular 1 = 30

5.8- Qual deve ser o semi - ngulo entre dois feixes de um laser de Argnio de comprimento de onda = 0.4579 m , para que as franjas formadas na regio de interferncia possam ser utilizadas para gravar uma rede de difrao hologrfica de freqncia espacial f = 1200 linhas / mm num filme fotogrfico.

71

EXPERINCIA 11 FACULTATIVO MODELO ATMICO DE BOHR


1-OBJETIVO Estudo da estrutura interna dos tomos por meio da anlise dos espectros de tomos de Hidrognio. Verificao do modelo atmico de Bohr. 2-INTRODUO TERICA Por volta de 1910, experincias de espalhamento de raios X por tomos, efeito fotoeltrico, e outras, mostraram que os tomos deveriam conter eltrons. Essas experincias revelaram que o nmero Z de eltrons num tomo era da ordem da metade do peso atmico A do tomo. Em condies de equilbrio, os tomos devem ser neutros, de modo que o nmero de cargas negativas seja igual ao nmero de cargas positivas. Assim, um tomo neutro deve conter uma carga negativa Ze , onde e a carga do eltron, e uma carga positiva de mesmo valor em mdulo. Como a massa do eltron muito menor que a massa do tomo, praticamente toda a massa do tomo deveria estar associada a massa das cargas positivas. partir dessas consideraes, J. J. Thomson prope o primeiro modelo atmico, segundo o qual os eltrons estariam localizados no interior de uma distribuio contnua de cargas positiva [11][12][13][14]. Para ele, a forma da distribuio de cargas positivas deveria ser esfrica de raio da ordem de 10 10 metros , valor este obtido partir da densidade de um slido e do nmero de Avogrado. Por causa de repulses mtuas, os eltrons estariam distribudos uniformemente na esfera de carga positiva, como mostra a Fig. 11.1 numa configurao que ficou conhecida como pudim de ameixas. eltrons

Fig. 11.1- Modelo atmico de pudim de ameixas de J. J. Thomson. Em 1911 Ernest Rutherford decidiu testar a viabilidade do modelo atmico proposto por seu ex-professor J. J. Thomson. Rutherford j tinha ganhado o prmio nobel de qumica em 1908 pela investigao do decaimento de substncias radioativas. Entretanto, seu maior desejo como fsico, era dar uma contribuio relevante fsica. Rutherford estudou o espalhamento de partculas , as quais ele conhecia muito bem, por finas pelculas de metal. Devido s foras coulombianas, as partculas sofrem mltiplas deflexes no interior da pelcula metlica e emergem na forma de um feixe divergente. Como a massa dos eltrons no metal muito menor que a massa das partculas , e como efeitos de repulso coulombiana na distribuio de cargas positivas dos tomos so de pouca importncia, devido a sua pequena dimenso ( 10 10 m ), o modelo atmico de Thomson prev uma deflexo mxima por tomo da ordem de 104 rd . De acordo com a teoria mostra que a frao de partculas espalhadas em ngulos maiores que

900 da ordem de 103500 .


Os resultados experimentos obtidos por Rutherford estavam em total desacordo com o modelo atmico de Thomson. Utilizando um pelcula de ouro de espessura de 1m , Rutherford encontrou uma frao de partculas

espalhadas em ngulos maiores que 900 da ordem de

104 .

A probabilidade pequena, porm no nula, para o espalhamento em grandes ngulos, no poderia jamais ser explicado em termos do modelo atmico de Thomson. Rutherford observou que algumas partculas eram at mesmo retro espalhadas. Para Rutherford isso era to incrvel, como se voc atirasse uma pedra sobre um pedao de papel de seda e ela voltasse e o atingisse.

72

Baseado nessas observaes, em 1911 Rutherford props um novo modelo para a estrutura atmica [11][12][13][14]. Para Rutherford todas as cargas positiva do tomo, e portanto, essencialmente toda a sua massa fica concentrada numa regio pequena denominada de ncleo. Se a partcula passasse suficientemente prximo do ncleo, ela poderia ser espalhada por um ngulo muito grande por causa de uma forte repulso coulombiana, mesmo que atravessasse somente um nico tomo. O sucesso do modelo atmico de Rutherford inspirou Niels Bohr a imaginar uma separao no domnio fsico dos tomos, em que os eltrons estariam associados s propriedades qumicas dos elementos, enquanto que o ncleo s propriedades radioativas. A proposta de Bohr revelava uma correlao entre o nmero de eltrons num tomo e sua localizao na tabela peridica dos elementos. O significado fsico dos nmeros atmicos dos elementos qumicos ficou claro aps a proposta do modelo atmico de Bohr em 1913. Indicao do comportamento quntico da matria tinha sido observada bem antes da poca de Rutherford e Bohr. Uma das mais notveis evidncias desse comportamento tinha sido observado no espectro de emisso dos tomos. A Fig. 11.2 mostra um diagrama esquemtico de um espectrgrafo utilizado para observao de um espectro atmico. A fonte de luz consiste de uma descarga eltrica num meio que contm um gs monoatmico. Os tomos so colocados fora do equilbrio por colises com eltrons da descarga. Ao voltar ao seu estado normal, os tomos liberam o excesso de energia emitindo radiao eletromagntica. A radiao, colimada por uma fenda, atravessa uma rede de difrao (ou ainda uma prisma de disperso), que possibilita a separao das linhas espectrais, ou raias, que compe a radiao. O espectro pode ser observado num anteparo colocado aps a rede de difrao. Utilizando a equao geral das redes de difrao, pode-se calcular o comprimento de onda cada linha do espectro, como

associado a

= dsen

(11.1)

onde d a distncia entre dois picos ou dois vales na rede de difrao, ou simplesmente seu perodo, e o afastamento angular entre a linha espectral e a direo normal rede.

FONTE DE LUZ FENDA REDE DE DIFRAO RAIAS ESPECTRAIS Fig. 11.2- Diagrama esquemtico de um espectrgrafo utilizando uma rede de difrao. Ao contrrio do espectro contnuo da radiao emitida, por exemplo, pela superfcie aquecida de um corpo negro, a radiao emitida por tomos livres est distribuda em comprimentos de onda discretos. Nota-se que cada espcie de tomo tem seu espectro caracterstico. Em geral, os espectros atmicos so complicados pois podem conter centenas de linhas espectrais. Entretanto, em particular o espectro do tomo de hidrognio relativamente simplificado. No final do sculo XIX foram observados diversos espectros do tomo de hidrognio sem que nenhuma tentativa de explic-los tinha sido feita. A primeira interpretao satisfatria para explicar o espectro visvel do tomo de hidrognio foi feita empiricamente por J. J. Balmer em 1885. A regularidade bvia na seqncia das

73

linhas espectrais visveis induziu Balmer a propor o seguinte comportamento para os comprimentos de onda observados:

= 364,6(nm)

n2 n2 4

(11.2)

onde, n = 3,4,5,6,..... . Aps a descoberta de Balmer, vrios procedimentos foram realizados para explicar outras sries de linhas observadas em outros elementos. Em 1890, J. R. Rydberg generaliza a relao de Balmer para incluir outras possveis sries de linhas que poderiam ser observadas no tomo de hidrognio em outras regies do espectro eletromagntico. Rydberg observou que a eq.(11.2) poderia ser reescrita, como:

n2 4 1 1 1 4 4 1 1 1 1 = = 2 = 2 = RH 2 2 2 364,6nm n 364,6nm 1 n 364,6nm 4 n 2 n 1


onde,

FG H

IJ K

F H

I K

F H

I K

F H

I K

(11.3)

RH

denominado de constante de Rydberg para o hidrognio. De acordo com dados espectroscpicos

recentes:

RH = 10,9677576 m1

(11.4)

Rydberg interpretou a eq.(11.3) como sendo um caso particular de um resultado mais geral para o tomo de hidrognio dado, por:

A introduo do novo ndice

= RH

FG 1 1 IJ Hn n K
2 2 2 1

n1 = 3,4,5,6,....

(11.5)

n2 < n1 , permitiria descrever outras possveis sries de linhas espectrais do tomo


n2 = 3 , correspondentes regio do infravermelho,
foram observadas

de hidrognio. Linhas espectrais para

por L. C. H. F. Paschen em 1908. Em 1914, T. Lyman observou as linhas associadas a

n2 = 1 ,

correspondentes regio do ultravioleta. Outras sries, na regio do infravermelho, foram tambm reveladas mais tarde por outros investigadores. Um dos fatos mais notveis observado nos espectros atmicos foi principalmente a sua distribuio discreta. No modelo atmico de Rutherford, os eltrons se movem em torno do ncleo sob influncia de uma fora coulombiana atrativa. Nesse modelo, os eltrons acelerados poderiam emitir somente radiaes contnuas. De acordo com as leis clssicas do eletromagnetismo o sistema atmico poderia ter perdas radioativas de energia, levando o tomo a uma instabilidade intrnseca. Como conseqncia inevitvel, os eltrons entrariam em colapso com o ncleo enquanto a radiao fosse emitida continuamente. Ver-se que o problema da instabilidade atmica no est propriamente na dinmica do modelo atmico de Rutherford, mas sim na utilizao de teorias clssicas para explic-lo. O primeiro passo para resolver o problema da instabilidade atmica foi dado por Niels Bohr em 1913. Para isso, a exemplo de Planck e Einstein, Bohr teve que romper com princpios fundamentais da fsica clssica. A proposta de Bohr daria novas e importantes contribuies para o desenvolvimento da teoria quntica. Bohr observou que a teoria clssica no poderia explicar o fator de que todos os tomos de uma mesma espcie teriam rbitas eletrnicas similares, como evidenciava os espectros atmicos. Ele considerou a possibilidade da constante de Planck h ter um papel natural importante na descrio dos sistemas atmicos. O modelo atmico proposto por Bohr explicados por teorias clssicas:
[11, 12, 13, 14]

baseava -se em dois postulados que no poderiam ser

1- No tomo, os eltrons s poderiam se mover em rbitas discretas especficas denominadas de estados estacionrios, de onde no poderiam emitir radiao eletromagntica.

74

2- O tomo s emitiria, ou absorveria, radiao eletromagntica quando o eltron fizesse uma transio de um estado estacionrio para outro como mostra a Fig. 11.3.

Ef h Ei
Fig. 11.3- Transies entre estados estacionrios de um sistema atmico. ABSORO EMISSO

Ef h Ei

Como conseqncia do primeiro postulado, o momento angular eletrnico deve assumir somente valores discretos, postulados por Bohr, como:

Ln = n=
onde, = =

n = 1,2,3,...

(11.6)

h = 1,055 1034 J . s = 6,582 1016 eV . s a constante de Planck dividida por 2 . 2

O segundo postulado estabelece que a energia, emitida ou absorvida numa transio, corresponde a uma energia de um fton dada por,

h =

hc

= E f Ei

(11.7)

Aplicando-se os postulados de Bohr a um tomo monoeletrnico, com apenas um eltrons na ltima rbita circular n , obtm-se a energia E n do eltron, como

En =
onde, E = 0 no tomo,

Z2 E0 n2 m

(11.8)

FG e IJ m H 4 K 2=
2 0

13,60 eV conhecida como a energia de Rydberg, Z o nmero total de eltrons

a massa reduzida do sistema formado pelo eltron na rbita

e o ncleo atmico,

massa do eltron,

carga do eltron, e

diagrama de nveis de energia de acordo com a eq.(11.8) para o tomo de hidrognio ( Z = 1 ). Substituindo-se a eq.(11.7) na eq.(11.6), obtm-se

a permissividade eltrica do vcuo. A Fig. 11.4 mostra um

Ei E f E0 1 1 = Z 2 hc m hc ni2 n2 f

F GH

I JK

(11.9)

Esta equao essencialmente a mesma que a frmula emprica de Rydberg dada pela eq. (11.5). A igualdade ocorre quando identificamos a constante de Rydberg RH , para Z = 1 (tomo de hidrognio), como

75

RH =

E0
m hc

. Assim fica evidente que os nveis de energia previstos pelo modelo atmico de Bohr, esto em

acordo com as linhas espectrais observadas nos tomos de hidrognio.

0,00 0,85
ENERGIA

1,51 3,40

4 3

En (eV )

NMERO QUNTICO

13,60

Fig.11.4 - Diagrama de nveis de energia para o tomo de hidrognio de acordo com o modelo atmico de Bohr.

3-MATERIAL NECESSRIO Fonte de luz de Hidrognio, gonimetro de preciso, suporte de placas e rede de difrao. 4- PROCEDIMENTO 4.1- Coloque o suporte com a rede de difrao no centro da plataforma do gonimetro de preciso. 4.2- Posicione a lmpada de Hidrognio a uma distncia da ordem de 30 cm , com a sua estrutura filiforme paralela s linhas da rede e direcionada ao centro da rede, como mostra a figura abaixo. OBJETIVA REDE DE DIFRAO

LUNETA

FENDA GONIMETRO FONTE DE LUZ

OCULAR MVEL

RAIAS ESPECTRAIS

ESPECTRMETRO DE BANCADA

4.3- Utilize o gonimetro para medir a direo angular em que cada raia espectral observada, correspondentes a primeira ordem de difrao, faz com a linha central da lmpada. Repita essas medidas pelo menos mais quatro vezes. recomendvel que cada uma das medidas seja feita por diferentes componentes da equipe.

76

4.7- Calcule os comprimentos de onda

associado a cada angulo

medido, utilizando a equao da rede

= dsen . partir desses valores, determine os valores mdios =

1 N

i =1

e os respectivos erros

padres

= t

d i
N i
1=1

N N 1

, de cada uma das raias observadas na lmpada de hidrognio, onde N = 5

o nmero total de medidas, t o parmetro estatstico de Student ( Captulo C do Manual de Erros, Medidas e Grficos ), que deve ser escolhido com um valor t = 2,13 para que se tenha um nvel de confiana de 90% no erro padro. 5- RESPONDA AS SEGUINTES QUESTES 5.1- O modelo de Thomson para o tomo de hidrognio prev um freqncia nica de oscilao para o eltron. Considerando o raio do tomo de hidrognio como sendo R = 0.05nm , calcule o comprimento de onda da radiao emitida por esse tomo. 5.2- Por que necessrio considerar uma pelcula fina em experincias que visam verificar a frmula do espalhamento de Rutherford? 5.3- Para as rbitas do tomo de hidrognio de Bohr, a energia potencial negativa e maior em mdulo do que a energia cintica. Isso significa que a energia total negativa. Qual o significado fsico de um sinal negativo para energia total de um tomo? 5.4- Um tomo de hidrognio pode absorver um fton cuja energia exceda sua energia de ligao

13.6eV

5.5- Quanta energia necessria para remover um eltron de um tomo de hidrognio em um estado com n = 8?

77

EXPERINCIA 12 - FACULTATIVO O EFEITO FOTOELTRICO E O LIMIAR FOTOELTRICO


1-OBJETIVO Determinao e observao dos aspectos associados ao efeito fotoeltrico no explicado pela teoria clssica, tais como: limiar fotoeltrico e potencial frenador. Utilizao do modelo corpuscular da radiao de Einstein e o efeito fotoeltrico para a determinao experimental da constante de Planck. 2-INTRODUO TERICA A hiptese da quantizao da energia proposta por Max Planck no final do sculo XIX e incio do sculo XX foi uma concepo extremamente arrojada para a poca que, entretanto, ajudou a esclarecer uma srie de questes relacionadas aos processos de interao da radiao com a matria. Como exemplo desses processos, podemos destacar o efeito fotoeltrico. O efeito fotoeltrico um processo de emisso de cargas eltricas por uma superfcie metlica [11, 12, 13, 14] descoberta por Heinrich Hertz em 1887. A Fig. 12.1 mostra um esquema da montagem utilizada por Hertz em sua experincia. Um catodo C (emissor de cargas negativas) e um anodo A (receptor de cargas negativas) so mantidos no vcuo a uma diferena de potencial de alguns volts. Quando uma radiao ultravioleta de freqncia f 1016 Hz atinge o catodo C, observa-se um fluxo de corrente eltrica atravs do anodo A. A descoberta da existncia do eltron em 1879 por Thonsom, atravs da medida da razo e / m entre a carga e a massa de partculas carregadas num tubo de raios catdicos [11, 12, 13, 14] , sugeriu que as cargas deslocadas no efeito fotoeltrico sejam eltrons. Esta hiptese foi confirmada em 1900 por Lenard, quando mediu a razo

e / m das partculas fotoeltricas e mostrou que era a mesma que a medida por Thonsom.
VCUO

A UV

i V

JANELA DE QUARTZO

+ V

Fig. 12.1- Experimento de Hertz para o efeito fotoeltrico. A experincia de Lenard esclareceu dvidas relativas identidade das partculas fotoeltricas, entretanto, mostraram tambm algumas propriedades do efeito fotoeltrico no compreensveis por teorias clssicas da fsica. Lenard mediu a corrente atravs do anodo A como funo da diferena de potencial aplicada entre os eletrodos para intensidades alta e baixa da luz incidente. O resultado obtido mostrado na Fig.12.2.

78

i
ALTA INTENSIDADE

imx1
imx 2

BAIXA INTENSIDADE

V0 0

Fig. 12.2- Corrente fotoeltrica como funo da diferena de potencial aplicada entre os eletrodos para duas intensidades da luz incidente. A corrente fotoeltrica satura para valores altos da diferena de potencial V. Nessas condies, todos os fotoeltrons emitidos por C so coletados por A. Quando a diferena de potencial negativa, o anodo torna-se negativo e passa a repelir os eltrons liberados pelo catodo. Entretanto, nesse processo, a corrente no cai imediatamente a zero como se esperaria. Este fato sugere que os eltrons sejam emitidos de C com alguma energia cintica. Alguns eltrons alcanaro o anodo A, mesmo que o campo eltrico se oponha ao seu movimento. Quando a diferena de potencial atinge um valor V0 , chamado de potencial frenador, a corrente fotoeltrica torna-se nula, independentemente do valor da intensidade. Nessa condio, nenhum eltron, inclusive o mais rpido ( de maior energia cintica), no alcana o anodo A. A energia cintica mais rpido, se relaciona ao potencial frenador

Kmx

do eltron

V0 , por
Kmx = eV0
(12.1)

A teoria ondulatria clssica afirma que o campo eltrico


2

( I E ). Como a fora eltrica que atua no eltron fotoeltrons seja proporcional a intensidade da radiao. Entretanto, a eq. (12.1) obtida da experincia, mostra que a energia cintica deve independer da intensidade da luz. A Fig. 12.3 mostra o comportamento do potencial frenador V0 como funo da freqncia f da luz incidente sobre uma superfcie de sdio, obtida por Millikan em 1914.

G E G de uma G onda proporcional a sua intensidade F = eE , isso sugere que a energia cintica dos

V0 (Volts)
3 2 1

2,2V 0,65V

f0
4 6 8 10 12

f ( 1014 Hz )
Fig. 12.3- Comportamento do potencial frenador como funo da freqncia da luz incidente numa superfcie de sdio.

79

Observe a presena de um limiar de freqncia f 0 , abaixo do qual o efeito fotoeltrico deixa de ocorrer. Pela teoria clssica, o efeito deveria ocorrer para qualquer freqncia da luz incidente, desde que a intensidade seja suficiente para ejetar os eltrons. Entretanto, o grfico da Fig.3.3 mostra a existncia de um limiar de freqncia para o efeito fotoeltrico para qualquer que seja a intensidade da luz incidente. Este importante resultado experimental valeu a Millikan o prmio Nobel em 1923. Uma outra divergncia importante do efeito fotoeltrico com a teoria ondulatria clssica ocorre com o tempo observado entre a incidncia da luz e a ejeo do eltron. Seja por exemplo, uma placa de potssio a uma distncia R = 1m de uma fonte luminosa pouco intensa, de potncia P0 = 1W . Consideremos que o eltron ejetado tenha sua energia absorvida numa rea circular correspondente a um raio atmico r 10 fonte irradia isotropicamente, a potncia incidente sobre o alvo, ser:
10

m . Se a

Palvo =
Se a energia necessria
19

r 2 1020 = P = 2,5 1021 J / s 2 0 2 4R 4 1


um eltron da superfcie do potssio cerca de

para

remover

E = 2,1eV = 3,4 10

J , o tempo necessrio para o eltron absorv-la, ser


E 3,4 1019 = = 1,4 102 s 2 min Palvo 2,5 1021

t =

(12.2)

Assim, durante todo esse intervalo finito de tempo, o eltron deveria est absorvendo energia da luz at seu escape. Entretanto, nenhum retardo foi jamais observado. De fato, experincias posteriores realizadas em 1928 por Lawrence e Beams, usando uma fonte de luz de intensidade vrias ordens de grandeza menor do que a considerada no exemplo acima, mostraram um atraso de tempo inferior a

109 seg .

Em 1905, Einstein prope a teoria quntica do efeito fotoeltrico. Einstein se baseou na teoria quntica da radiao de um corpo negro proposta por Max Planck em 1900. De acordo com Planck, partculas e campos eletromagnticos oscilantes freqncia podem mudar de energia somente por mltiplos inteiros da energia

J . s a constante de Planck. Einstein sugere que, no processo de ir de um estado de energia nhf para outro ( n 1) hf , a fonte emite uma poro de energia eletromagntica igual, a
quntica

hf

, onde h = 6,63 10

34

E = hf

(12.3)

Einstein considerou que tal poro de energia emitida estivesse localizada num pequeno volume do espao que se afasta da fonte com uma velocidade c. No processo fotoeltrico, um desses quanta de energia ou fton como ficou conhecido, seria totalmente absorvido por um eltron do catodo. Quando um eltron emitido da superfcie do metal, sua energia cintica ser K = hf w , onde hf a energia do fton incidente e w o trabalho necessrio para remover o eltron do metal. Alguns eltrons esto mais fortemente ligados do que outros. Alguns perdem energia por coliso na sua trajetria. No caso do eltron mais fracamente ligado, o fotoeltron deve emergir com a energia cintica mxima

Kmx

dada, por (12.4)

Kmx = hf w0

onde w0 , uma caracterstica especfica do metal denominada de funo trabalho, e representa a energia mnima necessria para o eltron mais fracamente ligado escapar s foras atrativas responsveis pela sua ligao ao metal.

80

Como se pode ver da eq.(12.4), a teoria quntica do efeito fotoeltrico concorda com a observao de Lenard sobre a independncia de

Kmx

com a intensidade luminosa. Aumentar a intensidade da luz implica simplesmente no aumento do

nmero de ftons do feixe luminoso. Apesar dessa operao resultar num aumento da fotocorrente, a energia hf de cada fton no ser alterada e, por conseguinte, a energia transferida para o eltron mais fracamente ligado ao metal. O limiar fotoeltrico

Kmx = 0 , de modo, que

f0 ,

observado por Millikan, pode ser obtido diretamente da eq.(12.4), simplesmente tomando-se

hf 0 = w0

(12.5)

Essa equao mostra que um fton de freqncia

f0

tem energia suficiente somente para ejetar os fotoeltrons sem

excesso de energia na forma de movimento. Se a freqncia for menor que independentemente do valor da intensidade da luz incidente.

f 0 , nenhum fotoeltron ser ejetado do metal,

Finalmente, a emisso de um fotoeltron ser imediata logo que este absorva um fton da luz incidente. A energia fornecida em pacotes concentrados e no se espalha uniformemente sobre uma rea extensa como se supe na teoria ondulatria clssica. Relacionando-se a eq. (12.5) com a eq. (12.4), obtm-se:

V0 = ( h / e ) f w0
Portanto, a teoria de Einstein prev uma relao linear entre Millikan mostrado na Fig.12.3. A inclinao

(12.6)

V0

, est em acordo com o resultado experimental de

h/e

da reta, pode ser calculada diretamente do grfico, como (12.7)

h 2,20V 0,65V = = 3,9 1015V . s e 10 1014 Hz 6 1014 Hz


Usando o valor da carga do eltron,

e = 1,6 1019 C ,

obtm-se um valor para a constante de Planck dada por,

h = 6,2 10

34

J. s .

De uma anlise muito mais cuidadosa, realizada posteriormente utilizando-se superfcies de Ltio,

Millikan obteve um valor

h = 6,57 1034 J . s , com uma preciso da ordem de 0.5% . Esta medida estava muito prxima

do valor de h deduzida da frmula da radiao de Planck. A concordncia numrica de diferentes era notvel. Um valor atual da constante de Planck :

h,

usando teorias totalmente

h = 6,626076 1034 J . s = 4,135669 1015 eV . s


Em 1921 Einstein recebeu o prmio Nobel pela teoria quntica do efeito fotoeltrico. Antes que Millikan comprovasse experimentalmente a teoria de Einstein em 1914, Einstein tinha sido indicado para membro da Academia Prussiana de Cincias por Planck e outros. Hoje a hiptese do fton usada em todo o espectro eletromagntico, no apenas na regio visvel. Com comprimento de onda tpico das microondas, pode-se calcular a energia do fton para obter
5

= 10cm , um

1,2 10 eV

esta energia incapaz de ejetar fotoeltrons de uma superfcie metlica. Por outro lado, para raios X ou que so emitidos por ncleos radioativos, a energia do fton pode ser de eltrons fortemente ligados em tomos extremamente pesados.

. Por ser baixa, , tais como os

106 eV , ou mais. Estes ftons podem retirar

3- MATERIAL NECESSRIO Tubo fotoeltrico, fonte de luz policromtica, fonte de baixa tenso varivel, inversor de polaridade eltrica, voltmetro, ampermetro e cabos. 4- PROCEDIMENTO 4.1- Insira o tubo fotoeltrico no suporte apropriado da fonte de luz policromtica, de modo que o catodo possa ser iluminado como mostra o diagrama esquemtico da figura abaixo.

81

TUBO FOTOELTRICO
CATODO

- +

FONTE DE LUZ POLICROMTICA

ANODO

FONTE DE TENSO VARIVEL


SADA
ENTRADA

CHAVE INVERSORA

AMPERMETRO

VOLTMETRO

4.2- Para cada freqncia

, ou comprimento de onda

, de luz incidente, mea o potencial frenador V0 , dado pela

voltagem lida no voltmetro quando a fotocorrente se anula. Lembre-se que a relao entre comprimento de onda freqncia

f da luz dada por,

c = f

4.3- Repita a experincia mais quatro vezes, anotando todos os valores dos potenciais frenadores Determine os
N

V0

encontrados.

valores mdios dos potenciais frenadores


2

V0 =

1 N

V
i =1

0i

, e os respectivos erros padres

V0 = t

cV
1=1

h N b N 1g
0

V0i

, para cada freqncia de luz incidente, onde

N =5

o nmero total de medidas,

parmetro estatstico de Student ( Captulo C do Manual de Erros, Medidas e Grficos ), que deve ser escolhido com um valor t = 2,13 para que se tenha um nvel de confiana de 90% no erro padro. 4.4- Disponha os pontos experimentais na forma de um grfico V0 f na escalar linear, disponvel na pgina seguinte, e desenhe uma reta que melhor se ajusta sobre esses pontos. Disponha no grfico as barras de erros verticais de dimenses V0 para cada ponto experimental (Para maiores esclarecimentos veja o Apndice E). Utilizando o grfico, determine o limiar fotoeltrico

f 0 , e o valor da constante de Planck h .

5- RESOLVA AS SEGUINTES QUESTES 5.1-Nas experincias do efeito fotoeltrico, a fotocorrente proporcional intensidade da luz. Esse resultado isolado pode ser usado para distinguir as teorias quntica e clssica? Justifique. 5.2- Por que mesmo para radiaes incidentes monocromticas os fotoeltrons so emitidos com diferentes velocidades? 5.3- O limiar fotoeltrico considerado como sendo a objeo mais evidente da teoria ondulatria. Justifique essa afirmativa. 5.4- Considere uma incidncia de luz sobre uma placa fotogrfica. A luz ser gravada se houver uma dissociao de molculas de AgBr da placa. A energia mnima necessria para dissociar essas molculas da ordem de o comprimento de onda limiar, acima do qual a luz no vai sensibilizar a placa fotogrfica.

1019 J . Calcule

5.5- Numa experincia com efeito fotoeltrico, na qual se usa luz monocromtica e um fotocatodo de sdio, encontra-se um potencial frenador de 1.85V para = 3000 A , e de 0.82V para = 4000 A . Com esses dados, determine (a) o valor da constante de Planck, (b) a funo trabalho do sdio, e (c) a freqncia limiar para o sdio?
o o

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REFERNCIAS
[01] David H. Loyd, Physics Laboratory Manual , Secound Edition, Saunders College Publishing, (1997). [02] Luiz Antnio Macedo Ramos, Fsica Experimental, Editora Mercado Aberto de Porto Alegre. [03] Paul Tipler, Fsica, Vol. 3 e 4, 3a edio, Editora Guanabara Koogan/LTC. [04] Halliday, Resnick e Walker, Fundamentos de Fsica, Vol. 3 e 4, 4a edio, Editora Guanabara Koogan/LTC. [05] H. Moyss Nussenzveig, Curso de Fsica, Vol. 4, Ed. Edgard Blcher Ltda , (1998). [06] Marcelo Alonso e Edward J. Finn, Fsica , Ed. Addison Wesley, (1999). [07]- Grant R. Fowles, Introduction to Modern Optics, Dover Publications, Inc, New York, (1989). [08] Eugene Hecht, Optics, Addison-Wesley Publishing Company, Inc, (1987). [09] Francis (1981). [10] Max Born and Emil Wolf, Principles of Optics, Pergamon Press, (1980). [11] Robert Eisberg e Robert Resnick Fsica Quntica , editora campus ltda (1979). [12] Robert Eisberg, Fundamentos de Fsica Moderna , editora John Wiley & Sons [13] John J. Brehm and Willian J. Mullin, Introduction to the Struture of Matter, editora John Wiley & Sons. [14] Paul A. Tipler e Ralph A. Llewellyn, Fsica Moderna, Terceira Edio, Ed. LTC, (2001). A. Jenkins e Harvey E. White, Fundamental of Optics, McGraw-Hill International Editions,

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