RADIACION ELECTROMAGNETICA La radiacin electromagntica es el producto de la variacin peridica de los campos magnticos (H) y elctricos (E).

La regin del espacio en la que la materia est sometida a algn tipo de fuerza se conoce como campo. La luz visible es un tipo de radiacin electromagntica, que se comporta como una onda que se propaga en el espacio y otras veces se comporta como un conjunto de fotones. A este fenmeno se le conoce como dualidad de la radiacin.

Longitud de onda (l): la distancia entre dos mximos de la onda, y se mide en metros o angstroms (1 A =10-10 m). Frecuencia (u) o (f): es el numero de mximos consecutivos que pasan por un punto en un tiempo determinado. Se mide en hercios (Hz = 1 ciclo/seg). Tambin es conocido su inverso, el periodo, (T=1/u). Amplitud (A). Es la distancia que hay entre el punto de inflexin de la onda y el mximo.

La energa de una onda electromagntica tiene relacin directa con su frecuencia:

E h

Donde h=constante de Planck = 6.63x10-34 J.Seg. De esto deducimos dos reglas importantes: Las ondas con una frecuencia alta, y longitud de onda pequea, sern muy energticas Las ondas con una frecuencia baja, y longitud de onda grande, sern menos energticas.

GENERACION DE RAYOS X Los rayos X son radiaciones electromagnticas, como lo es la luz visible, o las radiaciones ultravioleta e infrarroja, y lo nico que los distingue de las dems radiaciones electromagnticas es su llamada longitud de onda, que es del orden de 10-10 m (equivalente a la unidad de longitud que conocemos como Angstrom). En el siglo XIX el cientfico britnico William Crookes, inicia la investigacin sobre los efectos de ciertos gases al aplicarles descargas de energa. Estos experimentos se desarrollaban en un tubo vaco, y electrodos para generar corrientes de alto voltaje. Este tubo, al estar cerca de placas fotogrficas, generaba en las mismas algunas imgenes borrosas. En 1850, Daniel Ruhmkorff, invento un generador elctrico que permite obtener tensiones muy elevadas, del orden de los miles o decenas de miles de voltios a partir de una fuente de corriente continua. Esta constituido de un bobinado primario (pocas vueltas de hilo aislado) y de un bobinado secundario (varias decenas, incluso centenas de millar de vueltas de hilo muy fino). Posteriormente Nikola Tesla, en 1887, estudia el efecto creado por los tubos de Crookes. Una de las consecuencias de su investigacin fue advertir a la comunidad cientfica el peligro para los organismos biolgicos que supone la exposicin a estas radiaciones. El 8 de noviembre de 1895 el fsico Wilhelm Conrad Rntgen, realiz experimentos con los tubos de HittorffCrookes (o simplemente tubo de Crookes) y la bobina de Ruhmkorff. Mediante esta bobina y un tubo de Crookes, analiz los rayos catdicos con la intencin de evitar la fluorescencia violeta que producan los rayos catdicos en las paredes de un vidrio del tubo. Para ello, crea un ambiente de oscuridad, y cubre el tubo con una funda de cartn negro.

Al conectar su equipo por ltima vez, se sorprendi al ver un dbil resplandor amarillo-verdoso a lo lejos, y observ un oscurecimiento en una solucin de cristales de platino-cianuro de bario, cuando apagaba el tubo. Al encender de nuevo el tubo, el resplandor se produca nuevamente aun cuando la solucin era alejada y comprob que la fluorescencia se segua produciendo, as repiti el experimento y determin que los rayos creaban una radiacin muy penetrante, pero invisible. Observ que los rayos atravesaban grandes capas de papel e incluso metales menos densos que el plomo. El descubridor de estos tipos de rayos tuvo tambin la idea del nombre. Los llam "rayos incgnita", o lo que es lo mismo: "rayos X" porque no saba que eran, ni cmo eran provocados. Rayos desconocidos, un nombre que les da un sentido histrico. De ah que muchos aos despus, pese a los descubrimientos sobre la naturaleza del fenmeno, se decidi que conservaran ese nombre. Los rayos X y gamma, al no tener carga, no pueden ser frenados lentamente por ionizacin al atravesar un material. Sufren otros mecanismos que al final los hacen desaparecer, transfiriendo su energa , pueden atravesar varios centmetros de un slido, o cientos de metros de aire, sin sufrir ningn proceso ni afectar la materia que cruzan. Luego sufren uno de tres efectos y depositan all gran parte de su energa. Los tres mecanismos de interaccin con la materia son : a) El efecto fotoelctrico consiste en que el fotn se encuentra con un electrn del material y le transfiere toda su energa, desapareciendo el fotn original. El electrn secundario adquiere toda la energa del fotn en forma de energa cintica, y es suficiente para desligarlo de su tomo y convertirlo en proyectil. Se frena ste por ionizacin y excitacin del material

b) En el efecto Compton el fotn choca con un electrn como si fuera un choque entre dos esferas elsticas. El electrn secundario adquiere slo parte de la energa del fotn y el resto se la lleva otro fotn de menor energa (esto que implica?) y desviado.

c) Cuando un fotn energtico se acerca al campo elctrico intenso de un ncleo puede suceder la produccin de pares. En este caso el fotn se transforma en un par electrn- positrn. Como la suma de las masas del par es 1.02 MeV, no puede suceder si la energa del fotn es menor que esta cantidad. Si la energa del fotn original en mayor que 1.02 MeV, el excedente se lo reparten el electrn y el positrn como energa cintica, pudiendo ionizar el material. El positrn al final de su trayecto forma un positronio y luego se aniquila producindose dos fotones de aniquilacin, de 0.51 MeV cada uno.

PROPIEDADES DE LOS RAYOS X Poder de penetracin. Atraviesan la materia orgnica y absorben en mayor o menor proporcin , segn el numero atmico, la densidad y el espesor de los elementos atravesados Efecto luminiscente: Los rayos X tienen la particularidad que al incidir sobre ciertas sustancias estas emiten luminiscencia (Fluorescencia). En el caso de los minerales fotoluminiscentes, la luz es absorbida durante un determinado periodo de tiempo y, al ser emitida, lo hace con una longitud de onda menor que la incidente, es decir, no se trata de un fenmeno ptico de difraccin o reflexin. Ejemplo: el sulfuro de zinc platinocianuro de bario, wolframato de calcio, etc. Efecto fotogrfico: Al actuar sobre la emulsin de las pelculas fotogrficas, producen un cambio qumico (imagen latente) que se hace visible mediante un tratamiento posterior (revelado, fijado y lavado), con un mayor o menor ennegrecimiento, cuanto mayor es la cantidad de radiacin absorbida, mayor ser el ennegrecimiento. Esta es la base de la imagen radiolgica. Ionizacin. Tienen la propiedad de ionizar cuando chocan con suficiente energa contra la materia. Es decir, pueden tanto eliminar como aadir electrones. Efecto Biolgico. Son los efectos mas importantes par el hombre y se estudian desde el aspecto beneficioso para el ser humano en la radioterapia, y desde el negativo, como sus efectos perjudiciales

Fluorescencia: Se restringe a la luminiscencia causada por rayos ultravioleta y se caracteriza por tener un tiempo caracterstico Fosforescencia: Es una luminiscencia que perdura una vez cortada la excitacin. Luminiscencia es todo proceso de emisin de luz cuyo origen no radica exclusivamente en las altas temperaturas sino que, por el contrario, es una forma de "luz fra" en la que la emisin de radiacin lumnica es provocada en condiciones de temperatura ambiente o baja.

GENERACION DE RAYOS X Los rayos X son producto de la desaceleracin rpida de electrones muy energticos (del orden 1000eV) al chocar con un blanco metlico. La produccin de rayos X se da en un tubo de rayos X que puede variar dependiendo de la fuente de electrones y puede ser de dos clases: tubos con filamento o tubos con gas.

Caractersticas del tubo. El tubo con gas se encuentra a una presin de aproximadamente 0.01 mmHg y es controlada mediante una vlvula; posee un ctodo de aluminio cncavo, el cual permite enfocar los electrones y un nodo. Las partculas ionizadas de nitrgeno y oxgeno, presentes en el tubo, son atradas hacia el ctodo y nodo. Los iones positivos

son atrados hacia el ctodo e inyectan electrones a este. Posteriormente los electrones son acelerados hacia el nodo (que contiene al blanco) a altas energas para luego producir rayos X. El mecanismo de refrigeracin y la ventana son los mismos que se encuentran en el tubo con filamento. El tubo de rayos X est constituido por dos electrodos (ctodo y nodo), una fuente de electrones (ctodo caliente) y un blanco. Los electrones se aceleran mediante una diferencia de potencial entre el ctodo y el nodo. RADIACION DE FRENADO Cuando un electrn de alta energa pasa cerca del ncleo se desva debido a la interaccin electromagntica. Como consecuencia de este proceso de desvo, el electrn pierde energa en forma de un fotn X, cuya energa (longitud de onda) puede tomar cualquier valor (hasta el valor que llevaba el electrn incidente).

El microscopio electrnico de barrido MEB- es el mejor mtodo adaptado al estudio de la morfologa de las superficies. A diferencia de un microscopio ptico que utiliza fotones del espectro visible, la imagen entregada por el SEM se genera por la interaccin de un haz de electrones que "barre" un rea determinada sobre la superficie de la muestra. La parte principal de un microscopio electrnico de barrido es la denominada columna de electrones la cual lleva alojados en su interior los siguientes elementos: Un can de electrones con un filamento que acta como emisor o fuente de iluminacin, por analoga con un sistema ptico. Un sistema de lentes electromagnticas encargado de focalizar y reducir a un dimetro muy pequeo el haz de electrones producido por el filamento Un sistema de barrido que hace recorrer el haz de electrones ya focalizado por la superficie de la muestra Uno o varios sistemas de deteccin que permiten captar el resultado de la interaccin del haz de electrones con la muestra y transformarlo en una seal elctrica. Una salida conectada a una o varias bombas que producen el vaco necesario para que el conjunto funcione adecuadamente. Adems, el microscopio posee diversos sistemas que permiten observar las seales elctricas procedentes de los detectores, en forma de imgenes en un monitor de TV, fotografa, espectro de elementos, etc. En el grfico se han dibujado dos detectores. Uno, el de electrones secundarios, que son los electrones arrancados a la propia muestra por la accin del haz incidente. Con esta seal obtenemos en un

monitor una imagen de la muestra, muy parecida a la visin del ojo humano debido a la gran profundidad de foco de esta seal. El otro detector, de rayos X, captura este tipo de seal, con la que obtenemos un espectro de elementos, decir un anlisis qumico elemental de la muestra. La tcnica esencialmente consiste en hacer incidir en la muestra un haz de electrones. Este bombardeo de electrones provoca la aparicin de diferentes seales que, captadas con detectores adecuados, nos proporcionan informacin acerca de la naturaleza de la muestra.

Electrones primarios Son los electrones que atraviesan la muestra sin ser afectados. Electrones Secundarios La seal de electrones secundarios es la que se emplea normalmente para obtener una imagen de la muestra. Es la seal que nos proporciona una imagen ms real de la superficie que estemos estudiando, se considera un electrn secundario aquel que emerge de la superficie de la muestra con una energa inferior a 50 eV(electronvoltios). Electrones Retrodispersados La seal de electrones retrodispersados est compuesta por aquellos electrones que emergen de la muestra con una energa superior a 50 eV(electronvoltios). Estos electrones proceden en su mayora del haz incidente que rebota en el material despus de diferentes interacciones La intensidad de la seal de retrodispersados, para una energa dada del haz, depende del numero atmico del material (a mayor numero atmico mayor intensidad) Este hecho permite distinguir fases de un material de diferente composicin qumica. Las zonas con menor Z se vern mas oscuras que las zonas que tienen mayor nmero atmico. Esta es la aplicacin principal de la seal de retrodispersados.

ANLISIS DE IMGENES Las micrografas siguientes corresponden a la misma zona de una soldadura de un objeto de una aleacin PlataCobre-Niquel. En la imagen de secundarios no se aprecian con claridad las fases de la aleacin, mientras que en la imagen de retrodispersados vemos con claridad estas fases. Un anlisis de rayos X puntual de cada fase mostrara que las zonas claras estn compuestas por Plata y las oscuras por una aleacin Cobre-Niquel.

La resolucin espacial de los electrones secundarios es mucho mejor que la de los RX. Como resultado de esto, una caracterstica de la muestra lo suficientemente grande para ser observada con la seal de secundarios puede no ser suficientemente grande como para contener todo el volumen de interaccin del que emanan los RX. Con frecuencia, el haz de electrones al penetrar en la muestra causa la emisin de RX desde regiones de la superficie o de regiones cercanas, que tienen diferente composicin que las del punto de incidencia del haz.

La adquisicin de un espectro de RX consiste en recoger durante un determinado tiempo, normalmente del orden de minutos, los fotones de RX que proceden de la muestra, clasificndolos segn su energa. Como puede verse en la figura, un espectro de dispersin de energas se presenta usualmente como un histograma en donde el eje horizontal son unidades de energa, en Kiloelectronvoltios (KeV), en este caso de 0.00 a 10.240, y el eje vertical nmero de cuentas o intensidad, en este caso 65536 cuentas la altura total de la escala, que se va autoajustando a medida que crece el nmero de cuentas de la energa del pico ms alto. Por ltimo, una vez adquirido el espectro, con la ayuda de patrones o sin ellos y mediante el software adecuado se puede realizar de forma automtica el anlisis cualitativo, es decir, la identificacin de picos y el anlisis cuantitativo o calculo de la concentracin de los diferentes elementos. PREPARACION DE MUESTRAS La preparacin de muestras es, en general, sencilla. Los requisitos indispensables que deben cumplir son ausencia de lquidos, es decir, la muestra tiene que estar seca y adems debe ser conductora de la corriente elctrica. Este ltimo requisito se cumple en los metales pero no as en otro tipo de materiales, por lo que para hacer a la muestra conductora se la recubre de una capa de algn material conductor tal como el carbn o el oro. Este recubrimiento ha de ser suficientemente grueso como para que circule la corriente elctrica que se deposita en la muestra y suficientemente delgado para que no enmascare o tape las caractersticas superficiales de inters. Tcnica de recubrimiento con oro Cuando el propsito del anlisis de una muestra no incluye la obtencin de un espectro de RX, un elemento que se utiliza frecuentemente para recubrir la superficie es el oro. El grfico muestra esquemticamente lo que se conoce como "sputtering". Consiste en una fuente de alimentacin en corriente contnua regulable de 1 a 3 KV conectada por una parte a una tarjeta de oro u oropaladio y por otra parte al portamuestras. El conjunto va acoplado a una bomba de vaco. La introduccin de un gas tal como el argon en la campana de vaco provoca que los tomos de argon impacten en la tarjeta de oro y se desprendan tomos de dicha tarjeta que son atraidos hacia la muestra en la cual quedan depositados proporcionando un espesor de recubrimiento que depende del tiempo de exposicin. Tcnica de recubrimiento con carbono En el caso de precisarse un anlisis elemental en una muestra no conductora es necesario recubrir la superficie de un elemento lo ms transparente posible a los RX. Este elemento es el carbono. Uno de los tipos de metalizadores de carbono se muestra esquemticamente en el grfico. Consiste en dos electrodos conectados a una fuente de corriente alterna de bajo voltaje y alta intensidad entre los que se intercala una barra de carbono terminada en una punta afilada. Al pasar la corriente, la punta de la barra se va evaporando, de forma que roca la muestra con una fina capa de carbono. La punta va acoplada a un muelle que la mantiene en todo momento en contacto con el otro electrodo. Todo el conjunto est encerrado en vaco con el fin de facilitar la deposicin de la pelcula de carbono sobre la muestra.

ESPECTROSCOPIA DE ENERGA DISPERSIVA (EDS O EDX) El EDS es un procedimiento estndar para identificar y cuantificar la composicin elemental de muestras con reas tan pequeas de hasta micrmetros cbicos. Posee cuatro componentes principales: la fuente de energa, detector de rayos X, procesador de pulso y un analizador. Identifica la composicin elemental de materiales para todos los elementos de nmero atmico mayor que el boro. La mayora de los elementos se detectan en concentraciones del orden 0,1%.

El detector se utiliza para convertir la energa de rayos X en seales de voltaje, esta informacin se enva a un procesador de pulso, que mide las seales y las enva a un analizador para la visualizacin y anlisis de datos. Mediante esta tcnica los fluidos pueden ser identificados y diferenciados con respecto a otros. La tcnica utiliza rayos X que son emitidos desde la muestra durante el bombardeo de un haz de electrones para caracterizar la composicin elemental del volumen analizado. Cuando la muestra es bombardeada por el haz de electrones del SEM o un analizador de sonda de electrones, los electrones son expulsados desde los tomos que comprenden la superficie de la muestra. Resultando una vacante de electrones y esta es llenada por un electrn de la capa superior y unos rayos x son emitidos para balancear la diferencia de energa entre los dos electrones. Las aplicaciones del EDS incluyen: 1. Materiales de evaluacin Contaminantes Perfiles de contenido de fsforo Mltiples anlisis in situ de las reas de Polmeros, identificacin de rellenos y su qumica 2. Anlisis La identificacin Incgnitas de identificacin 3. Investigacin en Verificacin Certificacin y especificacin de enchapados de de controles de de e identificacin difusin elemental glassivacion cm de dimetro falla. contaminantes calidad: material

en 1 micra

la a 10

ESPECTROSCOPIA DISPERSIVA DE LONGITUD DE ONDA (WDX O WDS) La tcnica de WDS es la tcnica mas directamente comparable al EDS, ambos usan rayos x de electrn excitado que permite la caracterizacin de una muestra. Las dos tcnicas son bastante combinadas en la tcnica de microanlisis con sonda de electrones (EPMA por sus siglas en ingles) para formar un sistema de microanlisis altamente cuantitativo. El WDS identifica la composicin elemental de los materiales fotografiados en un microscopio electrnico con una mejor resolucin espectral, sensibilidad y capacidad para determinar las concentraciones de elementos ligeros que se puede lograr con EDS. La mayora de los elementos se detectan por debajo del 0,1% y tan bajos como pocas ppm. Principio de operacin. Los fotones de rayos-X excitados por el haz de electrones son ordenados usando un cristal de difraccin cuya colocacin angular relativa a la muestra y al fotodetector es una nica medida de su longitud de onda. Como con el EDS, la distribucin espectral resultante es automticamente comparada con los de los estndares actuales o espectros de fluorescencia de rayos X de formulaciones de materiales sintticos. Las aplicaciones incluyen del WDS: 1. Determinacin de los elementos superpuestos espectralmente, como: S, en presencia de Pb o Mo W o Ta en Si, o N en Ti Br en Al, donde en dispositivos semiconductores es comun que ocurra fallas.

2. Deteccin de baja concentracin de especies (hasta 100 e incluso 10 ppm):

P o S en metales Contaminantes en los catalizadores de metales preciosos. Traza de contaminacin de metales pesados Rendimiento-degradacin en la soldadura de alta temperatura de aleaciones

3. Anlisis de elementos de bajo nmero atmicos: Composicin de cermicas avanzadas y materiales compuestos B en pelculas de BPSG (sensibilidad de hasta 2000 ppm) Oxidacin y corrosin de metales Caracterizacin de materiales biomdicos y modificados orgnicamente Caracterizacin de polmeros con respecto a rellenos y contaminantes

WDS vs. EDS El microanlisis de rayos X en el microscopio de electrnico de barrido es complementado usando EDS y WDS. El EDS es mas comn su uso debido a su simplicidad y rapidez, mientras que el WDS ofrece una importante y un refinamiento bastante critico de los datos del EDS, ofreciendo: 1. Anlisis de elementos ligeros con al menos un orden de magnitud 2. Alta sensitividad que los disponibles instrumentos de EDS 3. Resolucin de los picos de los espectros sobrepuestos para mejorar la especificidad elemental. 4. Limites de deteccin mas bajos en toda la tabla peridica 5. Anlisis cuantitativo mas exacto 6. El WDS difiere del EDS en que este usa los patrones de difraccion creados por la interaccion de la materia con la luz como sus datos prmarios. 7. El WDS tiene una resolucion espectral mas fina que un EDS. 8. El WDS tambien impide los problemas asociados con los artefactos en EDS (picos falsos, ruido desde los amplificadores y micrfonos. 9. En WDS solo un elemento puede ser analizado a la vez, mientras con EDS se rene dentro de los lmites, un amplio espectro de todos los elementos de una muestra.