Ignacio Moreno Velasco

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11.- Sistemas de adquisicin de datos (SAD) 11.1.- INTRODUCCIN

En primera aproximacin, podemos dividir las tarjetas de adquisicin de datos genricas en los bloques bsicos de la figura superior: Entradas analgicas: Se realiza la conversin a valores discretos de las seales analgicas de entrada. Salidas analgicas: Se convierten valores discretos en seales analgicas. En la figura podemos ver dos canales de salida analgicos. Entradas/salidas digitales: Para la adquisicin/generacin de seales digitales. Control: Circuitera encargada de controlar todo el flujo de datos entre los distintos bloques incluyendo la temporizacin de las conversiones A/D y D/A. Interfaz con el bus: Se encarga de realizar las tareas de comunicacin entre la tarjeta y el bus del ordenador.

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11.2.- ENTRADAS ANALGICAS

Esquema bsico de entrada analgica de una tarjeta DAQ:

11.2.1.- MULTIPLEXADO ANALGICO Los equipos de instrumentacin que constan de varios canales incluyen en su mayora multiplexores analgicos que permiten abaratar el coste por canal

Ejemplo de sistema de adquisicin de datos con multiplexor analgico.

El A/D toma una muestra de un canal e inmediatamente el multiplexor se encarga de conmutar la entrada del conversor para capturar la seal del siguiente canal. Esto significa que la velocidad de muestreo hay que dividirla entre el nmero de canales multiplexados.
P. ej. Tarjeta de adquisicin, 8 canales, frecuencia de muestreo mxima 100KHz. Si queremos muestrear los 8 canales, la mxima frecuencia por canal ser de 12,5 KHz.

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11.2.1.1.- Construccin interna INTERRUPTOR ANALGICO CMOS

Construccin interna de un interruptor analgico caracterizado por la disposicin paralelo de un MOSFET de canal n y otro de canal p. Esta configuracin permite que la corriente fluya en ambos sentidos con la misma facilidad

11.2.1.2.- Parmetros EN CONTINUA:

Circuito equivalente del MPC506A para cuantificar su precisin esttica

ZL carga con componente resistiva y capacitiva RON Resistencia del interruptor cerrado. Vara con la tensin de entrada y con la de alimentacin. Tomaremos el peor caso para una alimentacin fija. ROFF Resistencia con interruptor abierto. RS1, , RS16 Resistencias de cada fuente de seal.

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IBIAS Corriente de polarizacin para los MOSFET del interruptor. Llamada corriente de fugas.

%Error =

R s + R ON 100 R s + R ON + R L

(Vanse clculos del circuito potenciomtrico)

Si RS = 100 , RON = 1 , RL = 10k Error 01% Por lo tanto es aconsejable:

Mantener la impedancia de la carga tan alta como se pueda

minimizando as el efecto de la resistencia

de la fuente y de RON. (Habitualmente la carga ser la entrada de un amplificador)

Utilizar fuentes de seal con la menor impedancia posible.

(Problemas con sensores generadores cuya Por lo general, deben usarse

impedancia de salida es elevada)

En la salida conectar

dispositivos de muy poca corriente de polarizacin.

amplificadores con entradas basadas en FET para entradas menores de 50mV FS. EN ALTERNA: CAPACIDADES PARSITAS
Diafona:

Es la cantidad de seal de un canal abierto que se acopla en la seal de un canal cerrado

Diafona por acoplo capacitivo:

Figura inicial para el estudio del acoplo capacitivo. Puede comprobarse que corresponde al caso en que un canal (Vn) est abierto mientras el otro est conectado a una carga RL Cabe recordar que en el estudio de este tipo de interferencias, se estableci que la alta impedancia del circuito interferido (RL) favorece el acoplo. Como RL suele corresponder con la impedancia de entrada de un amplificador, se cumple esa premisa.

En resumen, se produce una interferencia por acoplo capacitivo entre canales debido a las capacidades parsitas de los interruptores del multiplexor.
Diafona por inyeccin de carga:

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10

Cparsita

500

Vs1=5V

Vs2=1v

En el ejemplo de la figura: 1. El condensador intenta cargarse a 5 V a travs de 10 2. El condensador intenta descargarse a 1 V a travs de 500 , pero no le d tiempo por ser la resistencia mucho mayor (500 >> 10 ). 3. Cuando se vuelve a muestrear Vs1 se vuelve a cargar 4. Cuando se muestrea Vs2 la tensin ha aumentado parecindose cada vez ms al valor de Vs2 pues todava queda carga almacenada.
Aislamiento

Tambin se especifica el aislamiento entre canales (Off isolation) que puede definirse como la diafona producida cuando todos los canales se encuentra abiertos.

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+ -

Vo

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11.2.1.3.- Ejemplo de especificaciones HI-509

Analog Signal Range, VIN = Tiempo de establecimiento al 001 % = Off Isolation = Channel Input Capacitance, CS(OFF) = Channel Output Capacitance, CD(OFF) = Input to Output Capacitance, CDS(OFF) =

15 V 600 ns 50 dB mnimo. 10 pF 12 pF 008 pF

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11.2.1.4.- Ampliacin del nmero de canales Cuando los canales de entrada de nuestro SAD son insuficientes, se puede recurrir a unidades externas de multiplexado que nos permiten llegar a los 256 canales o ms. Aunque en el ejemplo la frecuencia de muestreo ha bajado hasta los 390 Hz (100000 Hz/256 canales), puede ser suficiente para algunos tipos de seal de baja frecuencia, como las procedentes de sensores de temperatura, humedad, etc.

11.2.1.5.- Mtodos de muestreo de varios canales MUESTREO CONTINUO:

Las muestras se toman a intervalos regulares.

Inconvenientes:
Cuando se necesita analizar la relacin de fase entre seales se debe realizar un muestreo simultaneo de ellas. En este caso la multiplexacin impedira dicho anlisis.

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MUESTREO SIMULTANEO:

Las muestras se toman a simultaneamente, ya que cada canal tiene su propia circuitera (n de conversores A/D = n de canales) aumento de coste. Es necesario cuando se pretende analizar la relacin de fase de las seales AC en el dominio temporal. MUESTREO A INTERVALOS:

A intervalos regulares se muestrean rpidamente (diferencias de microsegundos) todos los canales. Se obtienen las ventajas del muestreo simultaneo manteniendo los costes del muestreo continuo.
Vlido para seales de baja frecuencia como las medidas de temperatura o presin.

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11.2.2.- DISPARO

La correcta eleccin del modo de disparo en una aplicacin permite ahorrar tiempo y espacio en
disco ya que permite capturar nicamente la parte interesante de la seal.

Es muy importante en captura de transitorios.

LATENCIA DE DISPARO Tiempo mximo desde el disparo hasta la primera lectura. JITTER

Variacin de la latencia entre una adquisicin y otra. Ambos parmetros dependen del tipo de disparo.
11.2.2.1.- Disparo por Software

Es realizado por el software del PC (P. ej. LabVIEW). Es mayor que en los otros modos de disparo. Depende de las prestaciones del ordenador. Un valor tpico de latencia es 0,1 ms o menor (IOTECH WaveBook 512/516)
11.2.2.2.- Digital

La tarjeta dispone de una entrada digital. Normalmente usa niveles TTL. Sensible al flanco de subida o bajada (Seleccionable por software). Latencia menor de 200 ns (IOTECH WaveBook 512/516).

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DISPARO DIGITAL POR PATRN.

En este caso el disparo se produce cuando en la entrada digital especfica se da una combinacin de
bits seleccionada.

Util para capturar ruido, vibraciones o cualquier otra perturbacin fsica que se produce en un
punto concreto de una secuencia digital de un PLC, rels.

Latencia menor de 200 ns, patrn de 16 bits en puerto digital (IOTECH WaveBook 516)
11.2.2.3.- Analgico Puede ser por nivel (encima/debajo de un valor especificado) Por flanco (ascendente/descendente) MONOCANAL

Se utiliza uno de los canales de entrada analgica para disparar la adquisicin. El nivel puede programarse en intervalos de valor igual a la resolucin (p. ej. 2'44 mV para 12 bits y
+- 5V). MULTICANAL

Se puede configurar individualmente cada canal con un criterio de disparo. IOTECH WaveBook 516: Puede incluso configurar el disparo usando todos los canales de forma
que el disparo se produzca cuando: - Cualquiera de ellos alcance una condicin (OR) - Todos ellos alcancen la condicin (AND) DISPARO POR PULSO

Permite relacionar seales lentas con la ocurrencia de un pulso de alta velocidad. IOTECH WaveBook 516: Dispone de una entrada al efecto. El usuario puede definir un pulso de
amplitud entre +- 5V y una anchura de entre 10 ns y 100 us.

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En la figura puede verse un ejemplo de barrido en un IOTECH WaveBook 512/516, observese que:

Cada barrido (Scan group) se produce tras un intervalo programable. En cada barrido, el orden de los canales es configurable. Cada adquisicin tiene su propia ganancia y modo (unipolar/bipolar)
11.2.2.4.- Modos de adquisicin POST-TRIGGER La tarjeta solamente adquiere datos tras alcanzar la condicin de disparo:

Modo lineal infinito: Una vez alcanzada la condicin, la adquisicin contina indefinidamente
hasta que se reciba la orden de stop o cuando se agoten los recursos disponibles del PC.

Modo circular infinito: Una vez alcanzada la condicin contina indefinidamente llenando un
buffer circular hasta que se reciba la orden de stop. Cuando el buffer se llena se sobreescriben los datos previos, de forma que contenga los datos mas recientes. Un ejemplo tpico es un ensayo

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destructivo donde la adquisicin se da por finalizad una vez que el dispositivo falle. As slo se tendrn las muestras correspondientes al momento previo al fallo.

Modo lineal finito: Una vez alcanzada la condicin, la adquisicin se detiene tras el nmero de
barridos que se especifique. Util cuando se conoce la duracin del evento.

Modo circular finito: Se adquieren datos en el buffer circular hasta completar un nmero
determinado de barridos. PRE-TRIGGER Permite la adquisicin de datos previos a la condicin de disparo. Puede usarse en combinacin con cualquiera de los modos Post-trigger. La velocidad de barrido y el nmero de barridos puede ser distinto antes y despus del barrido.

Modo circular: Los datos adquiridos antes del disparo se guardan en un buffer circular,
sobreescribiendose una vez lleno.

Modo lineal: En este caso se contina adquiriendo datos sin sobreescribir los anteriores. Si la
condicin de disparo tarda en ocurrir, este modo requerir muchos recursos del PC para evitar la prdida de datos. Este modo es til cuando no se conoce el nmero de barridos previos. EJEMPLO:

Figura 1 Configuracin del disparo en una tarjeta IOTECH WaveBook 512/516

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En la figura podemos ver como el barrido incluye 5 canales, cada uno de los cuales est configurado de forma distinta. 1. Se han configurado 25000 barridos previos al disparo y 3.000.000 con posterioridad. 2. La velocidad del barrido es de 125 KHz antes del disparo, mientras que una vez ocurrido este, la velocidad del barrido es de 1 MHz. 3. Se ha elegido una condicin de disparo que debe darse simultaneamente (AND) en todos los canales del barrido.

11.2.3.- EJEMPLOS

Diagrama de bloques de las entradas analgicas de la tarjeta NI Lab-PC+

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