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CURSO:

CONTROL ESTADISTICO DE LA CALIDAD

Ingeniera Industrial VIII ciclo


Prof. Zoila Lpez Salavarra zls@upnorte.edu.pe

UNIDAD 2:
CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS Y ANLISIS DE CAPACIDAD DE PROCESO
LOGRO DE LA UNIDAD: Los alumnos al finalizar la unidad tendrn las competencias para utilizar las herramientas bsicas de calidad, seleccionando las apropiadas para cada problema presentado en un determinado proceso. Elabora grficos de control y los utiliza apropiadamente para determinar si un proceso se encuentra o no bajo control estadstico, identificando causas comunes y especiales de variacin Evalua si un proceso es capaz de elaborar un producto o servicio de acuerdo con las especificaciones.

UNIDAD 2:
CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS Y ANLISIS DE CAPACIDAD DE PROCESO
TEMAS A DESARROLLAR: Herramientas bsicas para el CEC: Hoja de recogida de datos, Histograma, diagrama de Pareto, diagrama de Ishikawa, lluvia de ideas, diagrama de dispersin. Grficos de control.

Anlisis de capacidad de proceso:

Grficos de control para atributos

Campos de accin
Control estadstico de la calidad

Control estadstico de procesos

Muestreo de aceptacin

Grficos de control para variables

Grficos de control para atributos

Tipos de grficos de control


Grficos de control

Grficos de control para variables

Grficos de control para atributos

GC X -R

GC X -S

GC P , NP

GC
C, U

Grficos de control para atributos


o Grfico de control p y np
Basados en la distribucin binomial p = proporcin defectuosa n = tamao de la muestra

o Grfico de control c y u
Basados en la distribucin de Poisson c = conteo de atributos n = tamao de la muestra

Grfica p
o Artculo defectuosos: Es un producto que no rene ciertos atributos, por lo que no se le deja pasar a la siguiente etapa del proceso, pudiendo ser reprocesado o rechazado. o La carta p muestra las variaciones en la fraccin o proporcin de artculos defectuosos por muestra, es ampliamente utilizada para evaluar el desempeo de una parte o todo un proceso o subgrupo. o De cada lote, embarque, pedido o cada cierta parte de la produccin, se toma una muestra o subgrupo de n artculos, que puede ser la totalidad o una parte de las piezas bajo anlisis. o Las n piezas de cada subgrupo son inspeccionadas y cada una es catalogada como defectuosa o no. Luego graficar.

Grfica np
o Si el tamao de subgrupo es diferente, se opta por la carta p, pero si el tamao de subgrupos es constante puede optarse por la carta np. Para convertir una carta np en una carta p, basta dividir la escala entre el tamao de muestra (ejm.120). o Cuando se quieren analizar las variables del tipo pasa-no pasa en un proceso y se toman muestras de tamao constante, el criterio para elegir entre una carta p o np es segn se prefiera entre proporcin de defectuosos o nmero de defectuosos. o En la carta np se tiene la ventaja de que se grafica directamente el nmero de defectuosos y no es necesario calcular la proporcin; mientras que en la carta p es ms fcil evaluar la magnitud de las fallas en el proceso en trminos porcentuales.

Lmites de control grfico p


LCS p p z LCI p p z p 1 p n

p 1 p n
k

z = 2 para lmites 95.5%; z = 3 para lmites 99.7%

n
i 1

x
i 1 k i 1

# Subgrupos o muestras # Items defectuosos en muestra i Tamao de muestra i

p 1 p n donde n es el tamao de cada muestra

Lmites de control grfico np


LCS np n p z n p(1 p)
z = 2 para lmites 95.5%; z = 3 para lmites 99.7%

LCI np n p z n p (1 p) n debe ser una constante

Grfica c y u (para defectos)


o Es frecuente que en los procesos industriales existan variables de atributos como la siguiente: nmero de defectos por artculos (rollo fotogrfico, zapato, prenda de vestir, circuito electrnico, mueble); en las que en cada producto se puede tener ms de un defecto o atributo no satisfecho, y sin embargo no catalogar a tal producto como defectuoso. Por ejemplo, un mueble puede tener algunos defectos en su terminado y se puede utilizar con relativa normalidad. Es decir, son variables de atributos que al estar presentes en un artculo no necesariamente implica que no siga o no pase a la siguiente etapa del proceso, contrariamente a lo que sucede con las cartas p y np.

Grfica c y u (para defectos)


o Otro tipo de variables que tambin es importante evaluar son las siguientes: nmero de errores por trabajador, cantidad de accidentes, nmero de quejas por mal servicio, errores tipogrficos por pgina en un peridico, nmero de fallas en un equipo, etc. o Las variables de este tipo se pueden ver como el nmero de eventos que ocurren por unidad, se comportan de acuerdo a la distribucin de Poisson. La que tiene dos caractersticas esenciales: que el nmero de oportunidades o situaciones potenciales para encontrar defectos es grande, pero la probabilidad de encontrar un defecto en una situacin particular es pequea.

Grfica c (nmero de defectos)


o Su objetivo es analizar la variabilidad del nmero de defectos por subgrupo o muestra, cuando el tamao de ste se mantiene constante. o c promedio se estima al dividir el total de defectos encontrados entre el total de subgrupos o muestras. o La carta c es aplicable donde el tamao de subgrupo o muestra es constante; por ejemplo una semana, una mesa, una pieza, 100 artculos, un metro de tela, 100 muebles o cualquier otro subgrupo de tamao constante. Cuando no permanece constante se aplica la carta u. o Los lmites de una carta c reflejan la variacin esperada para el nmero de defectos por subgrupo o muestra.

Grfica u (nmero de defectos por unidad)


o Analiza la variacin del nmero promedio de defectos por artculo o unidad de referencia. Se usa cuando el tamao del subgrupo no es constante. o En la carta u, para cada subgrupo o muestra, se grafica el nmero promedio de defectos por unidad, ui, que se obtiene de dividir el total de defectos encontrados en el subgrupo o muestra entre el total de artculos en el subgrupo

Lmites de control grfico c


LCS c c 3 c
Usar 3 para lmites 99.7%

LCI c c 3 c
# Defectos en unidad i

i 1

ci
# Unidades muestreadas

Lmites de control grfico u


LCSu u 3 u / n
Usar 3 para lmites 99.7%

LCI u u 3 u / n
# Defectos en unidad i

i 1

ui
# Unidades muestreadas

Grficos de control para atributos


Tamao de la muestra Unidades defectuosas Defectos

Constante

np Cantidad de unidades defectuosas p Porcentaje o proporcin de unidades defectuosas

c Cantidad de defectos en la muestra u Cantidad promedio de defectos por unidad

No constante

Ejemplo
En una empresa de embutidos, se evala el proceso de empaquetado para asegurar un adecuado sellado de los envases. Cada hora se registra el nmero de paquetes con sellado defectuoso, y el nmero de paquetes producidos en dicha hora. Analizar los datos y establecer los lmites de control

Ejemplo
En una fbrica de muebles se inspecciona el acabado de las mesas cuando salen de la seccin de laqueado y se registra los defectos encontrados. Analizar los datos y determinar los lmites de control

Ejemplo
o En una fbrica se ensamblan artculos electrnicos y al final del proceso se hace una inspeccin por muestreo para detectar defectos relativamente menores, y as retroalimentar el proceso para enfocar bien las acciones de mejora. En la tabla se presenta el nmero de defectos observados en muestreos realizados sobre 10 lotes consecutivos de piezas electrnicas. El nmero de piezas inspeccionadas en cada lote es variable.

Ejemplo
Lote Tamao de muestra, ni 20 20 20 20 15 15 15 25 25 25 Defectos encontrados, ci 17 24 16 26 15 15 20 18 26 10

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

Ejemplo
Lote Tamao de muestra, ni 20 20 20 20 15 15 15 25 25 25 Defectos encontrados, ci 17 24 16 26 15 15 20 18 26 10 ui= ci/ni

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

0.85 1.20 0.80 1.30 1.00 1.00 1.33 0.72 1.04 0.40

Desarrollo de ejercicios