PRACTICA 3 TEOREMA DE MUESTREO Objetivos: Estudiar el periodo de muestreo Analizar los efectos de muestrear por debajo de la frecuencia de Nyquist

ist Utilizar el Matlab par el anlisis de seales muestreadas

Fundamento Terico Teorema del muestreo o de Nyquist-Shannon Este teorema dice: Si una seal no contiene componentes en frecuencia mayores a la frecuencia de muestreo m (rad/s), puede caracterizarse por completo con los valores de sus muestras tomadas en instantes dados por Tm= / mx , es decir, que la frecuencia a la cual se debe muestrear una seal f(t) para reconstruirla por completo es m 2mx, donde mx es la frecuencia mxima contenida en f(t). El muestrear una seal a una frecuencia menor a la mnima determinada por el teorema del muestreo, tiene efectos degradatorios sobre la estabilidad de un sistema de control en lazo cerrado y no se podr reconstruir en el dominio del tiempo de manera adecuada la seal digitalizada, por este motivo a menudo se escoge una frecuencia mucho mayor que la calculada segn el teorema de Nyquist.

Efecto aliasing El efecto de traslape se conoce como efecto aliasing (efecto de solapamiento) y ocurre cuando hay un traslapo en el desplazamiento, es decir, copias peridicas en nuestra seal f(t) que se observan como un espectro. En el dominio de frecuencia, notaremos que parte de la seal se trasladar con la seal siguiente a l, en este solapamiento los valores de la frecuencia sern sumados juntos y la forma del espectro de la seal ser indeseablemente alterada. Este solapamiento o aliasing hace posible determinar correctamente la fuerza de la frecuencia. La figura 1 nos da un ejemplo visual de este fenmeno:

Figura 1: El espectro de una seal S(t), S*(t) a wm 2*wmax ,S*(t) a wm 2*wmax

Filtros antialiasing En la mayora de los casos, el antialiasing consiste en la eliminacin de la informacin de frecuencia demasiado elevada para poder ser representada. En el contexto del procesamiento digital de seales, un procedimiento de antialiasing podra ser, por ejemplo, el filtrado de las frecuencias que exceden el criterio de Nyquist, limitando as el ancho de banda en la seal. Para eliminar el aliasing, los sistemas de digitalizacin incluyen filtros pasa bajo, que eliminan todas las frecuencias que sobrepasan la frecuencia crtica (corresponde a la mitad de la frecuencia de muestreo elegida m) en la seal de entrada. Es decir, todas las frecuencias que queden por encima de la frecuencia de muestreo seleccionada son eliminadas. El filtro paso bajo para este uso concreto recibe el nombre de filtro antialiasing. Se debe resaltar que el abuso de los filtros antialiasing, puede producir el mismo efecto que se quiere evitar, por ejemplo al conectar varios filtros en cascada (en el muestreo, en la conversin digital-analgica, etc.), un filtrado excesivo de una onda que ya cumpla con el requisito para su correcta transformacin A/D puede degenerar y provocar que la onda final presente una pendiente marcada. Trabajo Preparatorio 1. Revisar la teora acerca del periodo de muestreo 2. Consultar los parmetros y funcionamiento de los bloques de Simulink que se encuentran en los ejercicios a implementar en la parte experimental.

Trabajo experimental

1. Analice los efectos del periodo de muestreo en una seal sinusoidal de frecuencia de 120 Hz, para ello se debe implementar el diagrama de bloques de la figura 2 en Simulink

Figura 1. Esquema para el anlisis de una seal sinusoidal muestreada

Obtener las respuestas en el tiempo y el espectro de frecuencias para las siguientes frecuencias de muestreo: a. b. c. d. e. Fm= 60 Hz Fm = 150 Hz Fm= 240 Hz Fm = 600 Hz Fm = 1200 Hz

2. Compare las respuestas de dos plantas idnticas, donde la nica diferencia radica en la seal de entrada (seal sinusoidal de frecuencia 1), en la primera opcin entra la seal directamente y en la segunda la seal es previamente muestreada y luego reconstruida a travs del retenedor de orden cero como se muestra en la figura 3. Analizar qu ocurre al variar la frecuencia de la seal sinusoidal de entrada con T= 1seg.: 1= s/100, s/20, s/5, s/4.5, s/4, s/3.5, s/3, s/2.5, s/2 y s. Frecuencia de muestreo s=2/T Explicar si el tiempo de muestreo es el adecuado.

Figura 3. Esquema para manipulacin de seal

BIBLIOGRAFA KUO, B. Sistemas de Control Digital