ESCUELA DE INGENIEROS INDUSTRIALES DE ALBACETE

DPTO. MECNICA APLICADA E INGENIERA DE PROYECTOS

CIENCIA DE LOS MATERIALES

CUADERNO DE LABORATORIO
PROFESORES: GLORIA BEGOA SNCHEZ BRAVO JESS CANALES VZQUEZ

PRCTICA 1. DETERMINACIN DE LAS CARACTERSTICAS MECNICAS ESTTICAS

ENSAYO DE TRACCIN (UNE-EN ISO 6892-1:2010)

Objetivo del ensayo: Esta norma especifica el mtodo de ensayo de traccin a la temperatura ambiente de los materiales metlicos y define las propiedades mecnicas que pueden determinarse con este ensayo. Para ciertos materiales metlicos y para ciertas aplicaciones, el ensayo de traccin puede ser objeto de normas especficas o de condiciones particulares. UNE-EN ISO 527-1:1996 para polmeros Materiales empleados:

Descripcin del proceso y equipos:

MQUINA DE ENSAYO:

MATERIAL A ENSAYAR:

PROBETA UTILIZADA: ESCALA DE CARGA UTILIZADA: ESCALA DE ALARGAMIENTOS UTILIZADA: SECCIN INICIAL DE LA PROBETA (S0): LONGITUD INICIAL DE LA PROBETA (L0):

LONGITUD CALIBRADA (Lc): LONGITUD FINAL (Lu): RESULTADOS OBTENIDOS:

MDULO DE ELASTICIDAD (E):

LMITE ELSTICO CONVENCIONAL (Rp)AL 0,2%:

RESISTENCIA A LA TRACCIN O CARGA MXIMA (Fm)

ALARGAMIENTO PORCENTUAL DE ROTURA (A%):

ESTRICCIN (Z%):

TIPO Y FORMA DE LA ROTURA:

OBSERVACIONES:

Prctica 2. Influencia de la Temperatura, Aleacin, Precipitacin

de Segundas Fases y Deformacin Plstica en la conductividad de los metales Objetivo de la experiencia: Analizar la influencia de diversos parmetros en las propiedades conductoras de los materiales metlicos. Materiales empleados Para realizar esta prctica hemos empleado lo siguientes elementos: Aleaciones (Aluminio, Aluminio tratado, Aluminio

Calibre. Fuente de corriente continua. Voltmetro. Horno. Metro. Cables.

Aleaciones ( Cobre, Cobre-Zinc y Cobre -Berilio).

Aleaciones (Aluminio, Aluminio tratado, Aluminio, recocido y Aluminio solubilizada). Espiras(Acero, Aluminio recocido, Cobre recocido, Aluminio por acritud). Resistencia caliente.

Descripcin del proceso y equipos -En primer lugar tomamos medidas de las longitudes y secciones de los distintos materiales.
-Ms tarde tomaremos medidas del voltaje a temperatura ambiente aplicando dos corrientes(1.5 mA y 3mA), para evitar cometer grandes errores. A partir de las mediciones tomadas de la resistencia calculamos la conductividad y

resistividad. Para estos calculo usaremos las siguientes formulas:

Resistividad: =

Conductividad: = -En ltimo lugar calentaremos una resistencia hasta conseguir una temperatura de 314C y repetiremos las medidas, para poder ver la influencia de la temperatura en la resistividad.

Resultados obtenidos:

1.- INFLUENCIA DE LA DEFORMACIN PLSTICA EN LAS PROPIEDADES ELCTRICAS.

Las medidas y los resultados obtenidos son:

Material Alumino Aluminio tratado Aluminio recocido Aluminio solubilizado

Diametro( mm) 3 3 3 3 3 3 3 3

Seccin( Longitu V(mV mm) d (cm) I(mA) ) 7,068583 471 138,5 1,5 8,5 7,068583 471 138,5 3 17 7,068583 471 119 1,5 7,5 7,068583 471 119 3 15,1 7,068583 471 120 1,5 7,4 7,068583 471 120 3 14,9 7,068583 471 120 1,5 8,1 7,068583 471 120 3 16,2

Resistivi Conductivi R(m) dad dad 5,666666 0,028920 34,577191 67 799 56 5,666666 0,028920 34,577191 67 799 56 0,029699 33,670112 5 931 41 5,033333 0,029897 33,447131 33 93 53 4,933333 0,029059 34,411879 33 732 59 4,966666 0,029256 34,180927 67 082 38 0,031808 31,438013 5,4 626 45 0,031808 31,438013 5,4 626 45

En vista de los resultados obtenidos podemos ver que la conductividad disminuye con los tratamientos a los que sometemos a los metales, tambin podemos ver que el aluminio tratado es el que posee mayor conductividad de los aluminios tratados. Por el contrario el aluminio solubilizado posee mayor resistividad que el resto.

2.- INFLUENCIA DE LA ALEACIN EN LA CONDUCTIVIDAD.

Las medidas y los resultados obtenidos son:

Material Cobre Cobre Cromo CobreBerilio

Diametro( mm) 5 5 10 10 10 10

Seccin( Longitu V(mV Resistivi Conductivi mm) d (cm) I(mA) ) R(m) dad dad 19,63495 0,933333 0,016659 60,024149 408 110 1,5 1,4 33 961 97 19,63495 0,966666 0,017254 57,954351 408 110 3 2,9 67 96 69 78,53981 0,233333 0,020362 49,110668 634 90 1,5 0,35 33 175 15 78,53981 0,233333 0,020362 49,110668 634 90 3 0,7 33 175 15 78,53981 0,466666 0,036578 27,338271 634 100,2 1,5 0,7 67 757 94 78,53981 0,466666 0,036578 27,338271 634 100,2 3 1,4 67 757 94

A partir de los resultados que hemos obtenido podemos concluir que la conductividad del metal puro es mayor que la de las aleaciones, es decir, posee menos resistividad. Tambin podemos ver que la aleacin Cobre Cromo posee mayor conductividad que la aleacin Cobre Berilio.

3.- INFLUENCIA DE LA TEMPERATURA EN LA CONDUCTIVIDAD.

Las medidas y los resultados obtenidos son:

Podemos concluir que la conductividad disminuye con el aumento de la temperatura, ya que los tomos poseen mayor movimiento y dificulta el movimiento de los electrones por la red.

OBSERVACIONES.
Hemos observado que la conductividad disminuye con la temperatura, las aleaciones con otros metales y los tratamientos, por lo que obtenemos una mayor resistividad.

PRCTICA 3. DETERMINACIN DE LA DUREZA DE LOS MATERIALES

ENSAYO DE DUREZA ROCKWELL.(UNE-EN ISO 6508-1:2007

(Metales), EN 843-4:2005 (Cermicos), UNE-EN ISO 2039-2:2000 (Plsticos)) Objetivo: Esta parte de la Norma ISO 6508 especfica el mtodo para ensayos de dureza Rockwell para materiales metlicos.

Materiales empleados:

Descripcin del proceso y equipos:

Penetradores utilizados: Carga inicial: Carga final: Tiempo de ejecucin del ensayo: Tipo de dureza (B , C, F) o escala empleada .Resultado obtenido: MATERIAL HR B HR C HR F RESISTE. A TRACCIN

Observaciones:

ENSAYO DE DUREZA BRINELL. (UNE-EN ISO 6506-1:2006)

Objetivo del ensayo: Esta parte de la Norma ISO 6506 especfica el mtodo de dureza Brinell para materiales metlicos y se aplica hasta el lmite de 650 HB. Materiales empleados:

Descripcin del proceso y equipos: Material a ensayar: Probeta utilizada: Penetrador empleado: Carga aplicada: Tiempo de ejecucin: Dimetro de la huella: Resultado obtenido:

Observaciones:

ENSAYO DE DUREZA VICKERS. MICRODUREZA.( UNE-EN

ISO 6507-1:2006 (Metales), EN 843-4:2005 (Cermicos))

Objetivo del ensayo: El ensayo de dureza Vickers se especifica en esta parte de la Norma ISO 6507 para longitudes de diagonales de huella de entre 0,020 mm y 1,400 mm. Los valores de la carga en esta parte de la Norma ISO 6507 se calcularon a partir de los valores de los valores en kilogramos-fuerza. Estos se introdujeron antes de que fuera adoptado el Sistema Internacional de Unidades (SI). Para materiales y/o productos especiales existan Normas Internacionales particulares Materiales empleados:

Descripcin del proceso y equipos: Material a ensayar: Probeta utilizada: Penetrador utilizado: Cargas empleadas: Medida de las diagonales: Diagonal media: Tiempo de ejecucin: Resultado obtenido:

Observaciones:

PRCTICA 4. TCNICAS PARA LA CARACTERIZACIN MICROESTRUCTURAL DE MATERIALES. MICROSCOPA PTICA.

METALOGRAFA
Objetivo: Revelar la organizacin espacial de fases y compuestos que conforman un material metlico. La estructura, condicionada por la diferente constitucin atmica, por la formacin de combinaciones qumicas y por la forma de crecimiento (orientacin y tamao) de los cristales, es en muchos casos un punto de referencia de las caractersticas, de la clase de fabricacin y de las transformaciones sufridas por los materiales metlicos. Material a ensayar:

Desbaste efectuado:

Pulido mecnico:

Microscopio utilizado:

Determinacin de inclusiones en aceros: TIPO A Delg. Gruesa TIPO B Delg. Gruesa TIPO C Delg. Gruesa TIPO D Delg. Gruesa

Ataque qumico: Reactivo empleado: Tiempo de ataque:

Lavado:

Determinacin del tamao de grano austentico en aceros: Mtodo utilizado: Nmero de tamao de grano obtenido: Aumentos empleados para la determinacin: Ilustrar la microestructura obtenida.

Estructura metalogrfica observada:

Conclusiones:

Observaciones:

PRCTICA 5. TRATAMIENTOS TRMICOS EN ACEROS Objetivo de la experiencia.

Analizar el efecto del carbono y de los elementos aleantes con diferentes velocidades de enfriamiento en productos de acero Realizar sobre muestras de aceros los siguientes tratamientos trmicos. 1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8. Un tratamiento de recocido. Un tratamiento de Normalizado Un tratamiento de temple a cuatro muestras de distintos aceros. Realizar tratamientos de revenido a diferentes temperaturas (300, 450 y 600C) a las muestras templadas de los aceros suministrados. Medir la dureza obtenida en cada tratamiento, comprobando tras el temple, la dureza martenstica correspondiente al acero. Deducir las resistencias aproximadas obtenidas en cada tratamiento. Observacin microscpica de la estructura obtenida en cada tratamiento, identificando los constituyentes microestructurales aparecidos. Obtener la curva de dureza en funcin de la temperatura de revenido. Obtener la curva TTT, en funcin del contenido en carbono y elementos aleantes. Dibujar las velocidades de enfriamiento empleadas en los tratamientos trmicos anteriores, sobre las mismas y determinar que constituyentes aparecen.

Descripcin del proceso y equipo

Resultados obtenidos

Para el enfriamiento despus del revenido se elegir el medio ms adecuado segn el acero.

VISITA LABORATORIOS. TCNICAS DE CARACTERIZACIN ESTRUCTURAL DE MATERIALES (DIFRACCIN RAYOS X).

Objetivo de la visita: Presentacin de un equipo para el anlisis de la caracterizacin estructural de un material cristalino mediante difraccin de rayos X. La difraccin por rayos X es una de las tcnicas ms habituales en laboratorios de caracterizacin de materiales, ya que nos permite determinar la estructura de la muestra que estamos analizando, es decir, como se ordenan los tomos constituyentes en el espacio. La difraccin de rayos en muestra policristalina permite abordar la identificacin de fases cristalinas (puesto que todos los slidos cristalinos poseen su difractograma caracterstico) tanto en su aspecto cualitativo como cuantitativo. Tambin se realizan por resta tcnica los estudios de polimorfismo, transiciones de fase, y soluciones slidas, medida del tamao de partcula, determinacin de diagramas de fase, etc.

Descripcin del experimento: El experimento consiste en generar rayos X aplicando una diferencia de voltaje en un electrodo metlico. La radiacin generada es filtrada y se enfoca para que interaccione con la muestra. El detector hace un barrido en un rango de ngulos . Cuando las condiciones dictaminadas por la ley de Bragg se cumplen, se observa un mximo de difraccin. Su posicin va a definir la distancia entre planos de la estructura y a partir del conjunto de estas distancias podemos reconstruir la estructura del material. Mediante una serie de clculos que tienen en cuenta la posicin de los mximos as como su intensidad, se puede incluso calcular con precisin las posiciones atmicas EQUIPO DE ENSAYO: Muestras utilizadas:

Tipo de radiacin utilizada:

o o o

Fuente de radiacin: Longitud de onda de la radiacin: Radiacin de rayos X monocromtica o con doblete (Ka1/Ka2) y su relacin de intensidades.

Geometra del experimento difraccin. Intervalo angular. Intensidad del fondo continuo del difractograma.

Resultados obtenidos Parmetros de los mximos de difraccin presentes en el difractograma :

ndices de Miller (HKL). ngulo de Bragg medido en grados (2/deg). Corresponde a las posiciones de los mximos de difraccin en el eje horizontal del difractograma. Espaciado reticular medido en (d/): calculado mediante la Ley de Bragg. Intensidad relativa (I/rel): calculada en % con respecto al mximo ms intenso del difractograma. Anchura a media altura (FWHM) de cada mximo de difraccin

CONCLUSIONES: Diferenciar entre los difractogramas obtenidos de dos materiales estudiados. Ilustra de distinta forma la relacin existente entre la estructura cristalina de los materiales y el diagrama de difraccin de rayos X

VISITA LABORATORIOS. MICROSCOPA ELECTRNICA (SEM). MATERIALOGRAFA. La microscopa electrnica es una tcnica de gran importancia en la caracterizacin de materiales, ya que nos permite obtener imgenes directas de la microestructura del material, incluso a escala atmica. El funcionamiento es similar al de un microscopio ptico, aunque en este caso la radiacin de la fuente de iluminacin es un haz de electrones acelerados, que son ms energticos (menor longitud de onda que la radiacin de la luz visible 400-700nm) y permiten obtener un mejor poder de resolucin Los microscopios electrnicos se basan en las interacciones que se producen entre un haz de electrones y un slido. Dependiendo de la naturaleza de las mismas, aparecen los diferentes tipos de microscopa electrnica, tal y como se recogen en el siguiente esquema: Haz Incidente
Electrones Auger (AES) Catodoluminiscencia (CL) Electrones Retrodispersados (SEM) Electrones Secundarios(SEM) Rayos X (EDS)

Electrones Dispersados Inelsticamente (EELS)

Electrones Dispersados Elsticamente (ED)

Electrones Transmitidos (TEM)

La tcnica de microscopa electrnica de barrido SEM se utiliza para la observacin y anlisis de superficies suministrando informacin de relieve, textura, tamao y forma de grano y composicin qumica de muestras biolgicas, minerales, materiales cermicos, mtalicos y polimricos.

5.1.3. Descripcin del microscopio utilizado: El siguiente esquema representa el funcionamiento de un microscopio SEM.

Fuente de Electrones Lentes de Foco Detector Ra yo s X Control Magnificaci n Amplificad or

Sistema de B a r r i d o Pantalla

Lente Final

Muestra

Sistema de Bombas Bombas

Colector d e e
-

Los electrones se generan en una fuente de hilo de W donde se aplica una diferencia de potencial de hasta 30 kV. Los electrones generados son dirigidos por una serie de lentes magnticas para formar un haz coherente que incide sobre la muestra. En la cmara y tras la interaccin del haz con el espcimen hay una serie de detectores estratgicamente colocados que permiten recoger los electrones secundarios y/o retrodispersados, a partir de los cuales y mediante amplificadores de seal, permiten obtener una imagen aumentada de la muestra. Asimismo, el equipo cuenta con un detector de Energa Dispersada por Rayos X (EDX), que permite determinar de manera cualitativa la composicin en cualquier punto/regin de la muestra analizada.

Conclusiones