PREPARACIN DE LA SESION DOCENTE 2012

1

1. TITULO: INTERFERENCIA PTICA.
2. PROPSITOS Y FUNDAMENTACION TERICA
2.1. PROPSITOS
2.1.1. Comprender el fenmeno de interferencia ptica.
2.1.2. Identificar las condiciones para que se d el fenmeno de la interferencia ptica.
2.1.3. Conocer la clasificacin de los sistemas interferomtricos.
2.1.4. Comprender el funcionamiento, clasificacin y aplicaciones de los principales interfermetros.
2.1.5. Entender el fenmeno de interferencia en pelculas dielctricas con dos y mltiples haces.

2.2. FUNDAMENTACIN TERICA (ver anexo 1.).
2.2.1. INTRODUCCIN.
2.2.2. CONSIDERACIONES GENERALES
2.2.3. CONDICIONES PARA LA INTERFERENCIA
2.2.4. INTERFEROMETROS DE DIVISION DE FRENTE DE ONDA.
2.2.4.1. Experimento de Young
2.2.4.2. Espejo doble de Fresnel.
2.2.4.3. Prisma de Fresnel.
2.2.4.4. Espejo Lloyd.
2.2.5. INTERFEROMETROS DE DIVISION DE AMPLITUD.
2.2.5.1. Interfermetro de Michelson.
2.2.5.2. Interfermetro de Mach-Zehnder
2.2.5.3. Interfermetro de Sagnac.
2.2.5.4. Interfermetro de Pohl.
2.2.6. PELCULAS DIELCTRICAS INTERFERENCIA DE DOS HACES.
2.2.6.1. Franjas de igual inclinacin.
2.2.6.2. Franjas de igual espesor.
2.2.7. TIPOS Y LOCALIZACIN DE LAS FRANJAS DE INTERFERENCIA.
2.2.8. INTERFERENCIA CON HACES MULTIPLES.
2.2.8.1. Interfermetro de Fabry Perot.
2.2.9. ACTIVIDADES
2.2.9.1. Resumen de Frmulas.
2.2.9.2. Preguntas Tipo Seleccin Mltiple con nica Respuesta
2.2.9.3. Crucigramas.
2.2.9.4. Problemas Resueltos
2.2.9.5. Problemas Propuestos
2.2.9.6. Experimentos.

3. ESTRATEGIA PEDAGGICA.
Este tema se desarrollar con una exposicin por parte del profesor, con ayuda de un proyector (Video Beam) y el tablero segn
sea necesario, en donde se expondrn los conceptos ms importantes, deducciones, demostraciones, problemas aplicativos y
actividades de refuerzo y de sntesis. Adicionalmente se realizarn algunos experimentos prcticos que contribuyan a
comprender con mayor facilidad los conceptos de este tema.
El estudiante contar con notas de clase del profesor facilitadas por l en donde se encuentra el tema desarrollado junto con las
actividades a desarrollar en clase, igualmente las actividades extraclase. Adicionalmente habr dentro de las actividades
problemas modelos resueltos para que el estudiante los analice y tenga recursos que le permita enfrentarse a los problemas
propuestos.
4. RECURSOS DIDCTICOS
4.1. PROYECTOR VIDEO BEAM
4.2. EXPERIMENTOS DIDCTICOS
4.3. SIMULACIONES.
4.4. VIDEOS.


PREPARACIN DE LA SESION DOCENTE 2012
2
5. EVALUACION Y ACTIVIDADES DE RETROALIMENTACION. (ver anexo 2.)
5.1. RESUMEN DE FRMULAS.
5.2. PREGUNTAS TIPO SELECCIN MULTIPLE CON UNICA RESPUESTA
5.3. CRUCIGRAMAS.
5.4. PROBLEMAS RESUELTOS
5.5. PROBLEMAS PROPUESTOS
5.6. EXPERIMENTOS


6. BIBLIOGRAFIA.
6.1. Libros
6.2. EUGENE HECHT. Optics. Ed. Addison Wesley. ISBN 0-321-18878-0. pp. 385-438. 2002.
6.3. MAX BORN and EMIL WOLF. Principles of Optics. Ed. Cambrige University Press. ISBN 0-521-64222-1. pp. 286-409.
2005.
6.4. BAHAA E. A. SALEH and MALVIN CARL TEICH. Fundamentals of Photonics. Ed. John Wiley & Sons. ISBN 0-471-2-1374-
8. pp. 63-77. 1991.
6.5. HNABOOK OF OPTICS VOLUME I. Fundamentals, techniques and Design. Sponsored by the OSA. Part 2. Chapter 2.
Ed. McGraw-Hill. ISBN 0-07-047740-7. 1995.
6.6. P. HARIHARAN. Optical Interferometry. Ed. Academy Press(An Imprint of Elsevier Science). ISBN 0-12-311630-9. 2003.
6.7. DANIEL MALACARA et. al. Interferogram Analysis for Optical testing. Ed. Taylor & Francis. ISBN 1-57444-682-7. 2005.

6.8. Artculos.

6.8.1. R. N. Wolfe y F. C. Eisen, Irradiance Distribution in a Lloyd Mirror Interference Pattern. Opt. Soc. Am. 38, 706 (1948).
6.8.2. H. D. Polster, Multiple Beam Interferometry. Appl Opt. 8, 522 (1969).
6.8.3. J. M. Burch. Nature, 171,889 (1953).
6.8.4. J. M. Burch. J. Opt. Soc. Am., 52, 600 (1962).
6.8.5. R. M. Scott, Scatter Plate Interferometry, Appl. Opt. 8, 531 (1969).
6.8.6. J. B. Houston, Jr. How to Make and Use a Scatterplate Interferometer, Optical Spectra, pag. 32, Junio, 1970.

6.9. Link de internet
6.9.1. http://www.fisica.ru/dfmg/viewhw3.php?proj_ID=881&t_id=2137&title=%D3PTICA
6.9.2. http://www.ub.edu/javaoptics/
6.9.3. http://en.wikipedia.org/wiki/Interference_%28wave_propagation%29
6.9.4. http://fismoderna.wikispaces.com/Experimento+de+Michelson-Morley
6.9.5. http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/ondas/interferencia_0/interferencia_0.htm
6.9.6. http://www.olympusmicro.com/primer/java/doubleslit/index.html
6.9.7. http://www.olympusmicro.com/primer/java/interference/index.html










APUNTES DE INTERFERENCIA PTICA - ANEXO 1 2012
1
1. INTRODUCCIN.
Una de las manifestaciones ms comunes de la interferencia ptica son los
intrincados colores que resplandecen sobre una mancha de aceite en el
pavimento asfaltico mojado o tambin los presentes en una pompa de
jabn.

Figura 1. Interferencia ptica en pompas de jabn(a), pelcula de aceite (b). (Las
imgenes del texto se tomaron de la Bibliografa relacionada)

Este problema esta de alguna manera relacionado con la interaccin de
varias ondas en el agua (ver figura 1), en donde estas al superponerse se
pueden anular completamente. Dependiendo de la frecuencia y la
separacin de la dos fuentes puntuales puede generarse un patrn muy
particular (ver figura 2).

Figura 2. Interferencia de dos fuentes puntuales.
Los fenmenos que provienen de la interferencia ptica son mucho ms
fciles interpretarlos desde la teora ondulatoria de la naturaleza
electromagntica de la luz. La expresin que describe la perturbacin
ptica es la ecuacin diferencial parcial homognea de segundo orden, la
cual obedece al importante principio de superposicin
2 2
2 2
2 2
1
; ;
o o o o
o o
E B
E B c
t t
c c
c
c c
V = V = =
c c

Por tanto, la inestabilidad del campo elctrico resultante E , en punto
del espacio donde dos o ms ondas de luz se superponen, es igual a
la suma vectorial de las perturbaciones constitutivas individuales.
As mismo, la interferencia ptica es una interaccin de dos o ms
ondas de luz que producen una irradiancia resultante, la cual no es
igual a la suma de la irradiancias de sus componentes.
2. CONSIDERACIONES GENERALES
De acuerdo con el principio de superposicin, la intensidad del campo
elctrico E, en un punto en el espacio, est dada por
1 2 3
E E E E = + + + , pero la perturbacin ptica (campo elctrico),
varia en un tiempo sumamente rpido de
14 14
4.3 10 7.5 10 Hz a Hz haciendo que el campo real sea
una cantidad prcticamente indetectable. Por otro parte la existencia de
una gran cantidad de detectores (fotoceldas, bolmetros, emulsiones
fotogrficas, ojos), que detectan la irradiancia (promedio en el tiempo de la
intensidad luminosa), en un tiempo conocido como tiempo de integracin
que vara dependiendo de la rapidez de este dispositivo. Por tanto, es
conveniente para el estudio de la interferencia ptica atacar el problema
por medio de la irradiancia.
En gran parte el estudio de la interferencia ptica se puede realizar sin
especificar la forma del frente de onda, pues sus resultados pueden ser
aplicados en forma general.
Consideremos dos fuentes puntuales
1
S y
2
S emitiendo ondas
monocromticas (una frecuencia) de la misma frecuencia en un medio
homogneo. Adems, consideramos que la separacin a sea mucho
ms grande que . Coloquemos el punto P lo mas lejos de las fuentes
de tal forma que podamos considerar que los frentes de ondas sean
planos en P .

Figura 3. Dos fuentes puntuales superpuestas espacialmente.
Por facilidad consideraremos ondas linealmente polarizadas de la forma
1 01 1 1 2 02 2 2
( , ) cos( ) ( , ) cos( ) E r t E k r wt y E r t E k r wt o o = + = +
La irradiancia en P esta dada por
2
I v E c = , como solo nos
concierne la irradiancias relativas en el mismo medio, no tendremos en
cuenta por el momento el factor v c puesto que es solo un factor
multiplicativo y trabajaremos como
2
I E = , promedio en el tiempo de la magnitud de la intensidad
( ) ( )
2
1 2 1 2
I E E E E E E E = = = + +

Por lo tanto
2 2 2
1 2 1 2
2 I E E E E E = = + +

Quedando
2 2 2
1 2 1 2
2 I E E E E E = = + +

La irradiancia queda
1 2 12
I I I I = + +
El ltimo trmino de la irradiancia resultante se conoce como trmino de
interferencia, para evaluarlo
1 2 01 02 1 1 2 2
cos( ) cos( ) E E E E k r wt k r wt o o = + +
o
1 2 01 02 1 1 1 1
2 2 2 2
cos( ) cos( ) ( ) ( )
cos( ) cos( ) ( ) ( )
E E E E k r wt sen k r sen wt
k r wt sen k r sen wt
o o
o o
(
= + + +

(
+ + +


Teniendo en cuenta que el promedio en el tiempo de una funcin ( ) f t ,
sobre un intervalo T es
' '
1
( ) ( )
t T
t
f t f t dt
T
+
=
}
El periodo t de la funcin armnica es muy pequeo
comparado con T .
Despus de multiplicar y sacar promedio del trmino de interferencia
queda
1
1 2 01 02 1 1 2 2 2
cos( ) E E E E k r k r o o ( = +


Donde se utiliz el hecho de que
2 2
1 1
2 2
cos , cos 0, wt sen wt y senwt wt = = =
por tanto el
trmino de interferencia queda.
(a) (b)


APUNTES DE INTERFERENCIA PTICA - ANEXO 1 2012
2
12 01 02
cos I E E o =
, donde
1 1 2 2
k r k r o o o = +
, es la
diferencia de fase. La cual proviene de combinar una diferencia de
longitud de trayectoria y una diferencia de fase inicial. Analizaremos por
ahora el caso donde
01
E
es paralela a
02
E
, bajo esta condicin se puede
dar un tratamiento escalar
12 01 02
cos I E E o = , esta ecuacin se puede escribir de una forma ms
conveniente, si
2 2
2 2 01 02
1 1 2 2
2 2
E E
I E y I E = = = =
Por tanto el trmino de interferencia queda
12 1 2
2 cos I I I o =
En donde la irradiancia total es
1 2 1 2
2 cos I I I I I o = + +


Figura 4. Variacin de la intensidad como una funcin de la diferencia de fase
entre dos ondas interfiriendo.
Un mximo de irradiancia se obtiene cuando cos 1 o =
Osea cuando 0, 2 , 4 , o t t =
max 1 2 1 2
2 I I I I I = + +
Vemos que la diferencia de fase es un mltiplo entero de 2t y por tanto
las perturbaciones estn en fase. Se habla entonces de interferencia
constructiva total.
Un mnimo de irradiancia se obtiene cuando cos 1 o =
Osea cuando , 3 , 5 , o t t t =
min 1 2 1 2
2 I I I I I = +
Vemos que la diferencia de fase es un nmero impar de t y por tanto las
perturbaciones estn 180
o
fuera de fase. Se habla entonces de
interferencia destructiva total.
Cuando cos 0 o =
sea cuando
, 3 , 5 ,
2 2 2
t t t
o = 1 2
I I I = +
Para valores intermedios fuera de fase.
1 2 max
0 cos 1 I I I I o < < + < < Interferencia constructiva
1 2 min
0 cos 1 I I I I o > > + > > Interferencia destructiva
Cuando las amplitudes de las ondas que llegan a P son iguales, es decir
01 02
E E = entonces
1 2 0
I I I = = , la ecuacin de se puede escribir
( )
0
2 1 cos I I o = +
2
0
4 cos
2
I I
o
=

De la cual se deduce que
min
0 I = y
max 0
4 I I =
Lo visto anteriormente es igualmente valido para las ondas esfricas
emitidas por
1
S y
2
S . Tales ondas se pueden expresar como
1 1 01 1 1 1 2 2 02 2 2 2
( , ) ( ) exp[ ( )] ( , ) ( ) exp[ ( )] E r t E r i kr wt y E r t E r i kr wt o o = + = +
Los termino
1
r y
2
r son los radios de los frentes de onda esfricos que se
superponen en P . En este caso
1 2 1 2
( ) ( ) k r r o o o = +
Bajo las condiciones en que la separacin entre
1
S y
2
S sea pequea
comparada con
1
r y
2
r y cuando adems la regin de interferencia sea
pequea en el mismo sentido. Bajo esta circunstancias puede considerarse
que las amplitudes de los campos sean independientes de la posicin y si
adems las fuentes emisoras son de igual intensidad
1 2 0
I I I = =
tenemos que
| |
2
1
0 1 2 1 2 2
4 cos ( ) ( ) I I k r r o o = +

Los mximos de irradiancia ocurren cuando
2m o t = Siempre que 0, 1, 2, 3, m=
Los mnimos de irradiancia ocurren cuando
(2 1) m o t = + Siempre que 0, 1, 2, 3, m=
Teniendo en cuenta la definicin de o , las ecuaciones anteriores se
pueden rescribir.
Mximo cuando:
2 1
1 2
[2 ( )]
( )
m
r r
k
t o o +
=
Mnimo cuando:
2 1
1 2
[ (2 1) ( )]
( )
m
r r
k
t o o + +
=
Cualquiera de estas ecuaciones define una familia de superficies, cada
una de las cuales es un hiperboloide de revolucin. Los vrtices de los
hiperboloide estn separados por distancias iguales. Los focos estn
localizados en
1
S y
2
S . Si la ondas estn en fase al salir del emisor
2 1
0 o o = , las ecuaciones anteriores se simplifican a,
1 2
2
( )
m
r r m
k
t
= =
, superficies de irradiancia mxima
1 2
(2 1)
( ) (2 1)
2
m
r r m
k
t +
= = +
, superficies de irradiancia mnima.


En la siguiente figura5(a) se muestra unas pocas superficies de irradiancia
mximas (ver Si colocamos una pantalla de observacin en cualquier
direccin de corte, en la regin de interferencia, se vern zonas claras y
oscuras, conocidas como franjas de interferencia, su forma depender de
Figura 5. Superficies de interferencias de dos ondas esfricas.


APUNTES DE INTERFERENCIA PTICA - ANEXO 1 2012
3
la direccin de corte. En la figura 5(b) se observan franjas de interferencia
cuya direccin de corte contiene las dos fuentes.
3. CONDICIONES PARA LA INTERFERENCIA
- Las fuentes deben ser coherentes. Que la diferencia de fase se
mantenga constante.
- Las dos fuentes deben tener casi la misma frecuencia.
- Es muy conveniente utilizar una fuente para producir de ella dos
fuentes secundarias coherentes.
- Se obtendrn patrones ms claros (mximo contraste) si las
amplitudes de las ondas son iguales.
- La interferencia de la luz polarizada. Leyes de Fresnel Arago.



- Dos estados de polarizacin lineal coherentes ortogonales no
pueden interferir en el sentido de que
12
0 I = y no resultan franjas.
- Dos estados de polarizacin lineal coherentes paralelos
pueden interferir en una misma regin del espacio.
- Dos estados linealmente polarizados de luz natural (no
coherente) no pueden interferir.

4. INTERFEROMETROS DE DIVISION DE FRENTE DE ONDA.
4.1. Experimento de Young
Consideremos una onda plana monocromtica iluminando una
rendija larga y angosta.

De esa rendija primaria emerger una onda cilndrica; y supongamos que
esta onda, a su vez, cae en don rendijas
1
S y
2
S muy juntas, angostas y
paralelas, como se muestra en la figura 7. Cuando exista simetra los
segmentos del frente de onda primario que llegan a las dos rendijas
estarn exactamente en fase, y las rendijas constituirn dos fuentes
secundarias coherentes. Se espera que donde quiera que las ondas que
vienen de
1
S y
2
S se superpongan, ocurrir interferencia (siempre que la
diferencia de camino ptico sea menor que la longitud de coherencia).
Consideremos la construccin que se muestra en la figura 8.

En una situacin realista la distancia de las fuentes hasta las pantallas
sera larga en comparacin con las distancia a entre las dos rendijas, y
todas las franjas estaran bastante cerca del centro O de la pantalla. La
diferencia de camino entre los rayos a lo largo de
1
S P y
2
S P se puede
obtener, con buena aproximacin, trazando una lnea perpendicular desde
2
S hasta
1
S P(B). Esta diferencia de camino est dada por
( ) ( ) ( )
1 1 2
S B S P S P = o
( )
1 1 2
S B r r =
Teniendo en cuenta la aproximacin la distancia de la pantalla a la fuente
la diferencia de camino se puede expresar como
1 2
r r au = ya que sen u u ~
Observemos que
tan
y
sen
s
u u u ~ ~ = y as
1 2
a
r r y
s
=
Conocemos que la interferencia constructiva ocurre cuando
1 2
r r m =
m
s
y m
a
=

La anterior relacin da la posicin de la m-sima franja brillante sobre la
pantalla, si contamos como el mximo en 0 como la franja cero.
La posicin angular de la franjas es
m
m
a

u =

Si obtenemos el espacio entre franjas consecutivas en la pantalla.
1
( 1)
m m
s s
y y m m
a a

+
= +
s
y
a
A =

Si tenemos en cuenta la diferencia de fase
1 2
( ) k r r o = y la
intensidad para la interferencia de dos ondas esfricas en el infinito, la
cual podemos reescribir como
2 1 2
( )
4 cos
2
o
k r r
I I

= Siempre que
los dos haces sean coherentes y tengan irradiancia iguales
o
I . Con
1 2
a
r r y
s
=
La irradiancia resultante queda
2
4 cos
o
ya
I I
s
t

=


El comportamiento de esta ecuacin, se puede observar en la figura 10(a),
donde los mximos consecutivos estn separados por y A . El
comportamiento de esta funcin puede ser obtenida si realizamos un
barrido con un detector, como en la figura 9.

Figura 9. Franjas de interferencia en el experimento de young.
Figura 8. Diagrama de Experimento de Young.

Figura 7. Esquema del experimeto de Young.
Figura 6. Interferencia de luz polarizada


APUNTES DE INTERFERENCIA PTICA - ANEXO 1 2012
4
Para el m-simo orden de interferencia m longitudes de onda enteras
caben dentro de la distancia
1 2
r r . Por ejemplo para 1 m= la
diferencia de camino es igual una longitud de onda , como se muestra
en la figura 9.

Este interfermetro se puede montar con relativa facilidad. Las partes
necesarias son: una fuente intensa de luz, seguida de una celda de agua
con el propsito de refrigerar si es necesario. La luz de la lmpara sino es
monocromtica (un solo color) se puede obtener con un filtro de color
colocado en frente de la lmpara. Pero si contamos con un lser de no
habra necesidad de un filtro de color. Ver figura 11.

El principio fsico y las consideraciones matemticas se aplican
directamente a otros interfermetros de divisin de frente de onda. Entre
ellos estn los siguientes:
4.2. Espejo doble de Fresnel.

Este consiste en dos espejos planos metalizados al frente e inclinados
uno con respecto al otro, con un ngulo muy pequeo, como se ve en la
figura 9. Una porcin de onda cilndrica que proviene de la rendija S se
refleja en el primer espejo, mientras que otra porcin del frente de onda
se refleja en el segundo espejo. Un campo de interferencia existe en la
regin donde las dos ondas se superponen una sobre la otra. Las
imgenes (
1
S y
2
S ) de la rendija S en los dos espejos se pueden
considerar como fuentes coherentes separadas una distancia a . De la
ley de reflexin, se muestra en la figura 9 que
1
SA S A = ,
2
SB S B =
, de tal forma que
1
SA AP r + = y
2
SB BP r + = . La diferencia de
camino ptico entre los rayos es simplemente
1 2
r r . Los mximos
ocurre cuando
1 2
r r m = . De tal forma que la separacin entre
franjas es nuevamente
s
y
a
A =
Donde s es la distancia entre el plano de las dos fuentes virtuales (
1
S y
2
S ) y la pantalla de observacin.

4.3. Prisma de Fresnel.

Este interfermetro consiste en dos prismas unidos en las bases como se
muestra en la Figura 13. El frente de onda cilndrico llega a ambos
prismas. La porcin superior del frente de onda se refracta hacia abajo,
mientras que el segmento inferior se refracta hacia arriba. En la regin
de superposicin ocurre la interferencia. Aqu de nuevo, existen dos
fuentes virtuales,
1
S y
2
S , separadas por una distancia a . La
separacin de las franjas es la misma que para los anteriores
interfermetros.
4.4. Espejo Lloyd.

Consta de una pieza de dielctrico o metal que sirve como espejo, del
cual se refleja una porcin del frente de onda cilndrico que sale de la
rendija S , como muestra la figura 14. La otra porcin del frente de onda
viaja directamente de la rendija a la pantalla. Para la separacin a ,
entre las dos ondas coherentes, tomamos la distancia entre la rendija
real y su imagen
1
S en el espejo. El espacio entre las franjas es
tambin ( ) s a . La caracterstica que distingue este dispositivo es
que a incidencia rasante 90
o
i
u ~ el haz reflejado sufre un cambio de
fase de 180
o
, por tanto la diferencia de fase entre los dos haces es
1 2
( ) k r r o t =
Y por tanto la irradiancia queda
2
4
o
ay
I I sen
s
t

| |
=
|
\ .

El patrn de franjas para el espejo de Lloyd es complementario del
interfermetro de Young; es decir, los mximos del patrn corresponde a
valores de y que corresponden a los mnimos del otro patrn, as la cara
reflectiva del espejo es equivalente a 0 y = , la cual corresponde al centro
de una franja oscura. La mitad inferior del patrn ser obstruda por la
presencia del espejo.

5. INTEREFEROMETROS DE DIVISION DE AMPLITUD.
Supngase que una onda luminosa incide sobre un espejo semi-plateado.
Parte de la onda ser transmitida y parte de la onda ser reflejada. Tanto
la onda trasmitida como la onda reflejada tendrn amplitudes ms bajas
que la original. Se puede decir en forma figurada que la amplitud de la
onda ha sido dividida. Si las dos ondas producidas por divisin pueden ser
reunidas de alguna manera sobre un detector, habr interferencia, en
tanto la coherencia original entre los dos haces no haya sido afectada.
Existir un patrn de franjas estable cuando la diferencia de camino sea
menor a la longitud de coherencia.

Figura 14. Espejo Lloyd

Figura 13. Biprisma de Fresnel.

Figura 12. Espejo doble de Fresnel.

Figura 11. Montaje para estudiar el experimento de Young.

Figura 10. (a) Irradiancia versus separacion del las franjas. (b) separacion de la
franjas versus separacin de las aberturas.


APUNTES DE INTERFERENCIA PTICA - ANEXO 1 2012
5
5.1. Interfermetro de Michelson.
El ms conocido e histricamente importante de todos los interfermetros
de divisin de amplitud es el interfermetro de Michelson, mostrado en la
figura 15.

Una fuente extensa (placa difusora de vidrio esmerilado iluminada por
una lmpara) emite una onda, parte de la cual viaja hacia la derecha. El
divisor de haz O divide la onda en dos, una parte de la onda viaja a
1
M
y otra hacia
2
M . Las dos ondas sern reflejadas por los espejos
1
M
y
2
M , y regresadas al divisor de haz. Parte de la onda que viene de
2
M pasa a travs del divisor de haz hacia el detector y parte de la onda
proveniente de
1
M es desviada o reflejada por el divisor tambin hacia
el detector. Por lo tanto las dos ondas se unen y es posible que se
produzca interferencia.

Obsrvese que un haz pasa a travs de O tres veces mientras que el
otro para una vez nicamente. En consecuencia, cada haz cruzara igual
espesor de vidrio nicamente cuando una placa compensadora C se
introduzca en el brazo
1
OM . El compensador es un duplicado exacto
del divisor de haz con la excepcin de un recubrimiento plateado sobre el
divisor de haz. Este es colocado a un ngulo de 45
o
tal que O y C
sean paralelas una respecto a la otra. Con el compensador en su lugar
cualquier diferencia de camino ptico aparece de la diferencia de camino
real.

Para entender cmo se forman las franjas, se hace referencia a la
construccin mostrada en la figura 16, donde los componentes fsicos
son representados mas como superficies matemticas. Un observador
en la posicin del detector vera simultneamente ambos espejos
1
M y
2
M junto con la fuente E en el divisor del haz. De acuerdo a esto
podemos redibujar el interfermetro como si todos los elementos
estuvieran en lnea recta. En este
'
1
M corresponde a la imagen de
1
M
en el divisor y E ha sido girada para estar alineada con O y
2
M .

Las posiciones de estos elementos en el diagrama dependen de sus
distancias relativas respecto O. Por ejemplo los espejos pueden estar
delante, en el mismo sitio o detrs el uno del otro. Las superficies
1
E y
2
E son las imgenes de la fuente E en los espejos
1
M y
2
M
respectivamente.

Considere un punto S sobre la fuente emitiendo luz en todas las
direcciones; y sigamos el curso de uno de los rayos salientes. En
realidad una onda de S se dividir en O y sus componentes se
reflejaran posteriormente en
1
M y
2
M . En nuestro diagrama
esquemtico, se representa reflejando el rayo en
2
M y
'
1
M . Para un
observador en D los dos rayos reflejados aparecern provenientes de
los puntos imagen
1
S y
2
S . Como se puede ver en la figura, la
diferencia de camino ptico para estos rayos esta cerca de 2 cos d u
que representa una diferencia de fase 2 cos
o
k d u . Existe un trmino
adicional de fase proveniente del hecho, que la onda que atraviesa el
brazo
2
OM es reflejado internamente en el divisor de haz, mientras
que la onda del brazo
1
OM es reflejada externamente en O.

Si el divisor de haz es simplemente una placa de vidrio no recubierta, el
cambio de fase relativo proveniente de las dos reflexiones ser de t
radianes. Habr interferencia destructiva cuando
2 cos
m o
d m u =
Donde m es un entero. Si esta condicin se satisface para el punto S
entonces, ser igualmente bien satisfecha para cualquier punto sobre E
que este sobre el circulo
'
OS , donde
'
O est localizado sobre el eje
del detector. Un observador ver un patrn de franjas circulares
concntricas con el eje central de su cristalino.

La dependencia de
m
u
con respecto a
o

en la ecuacin anterior nos dice

que si usamos una fuente que contenga un nmero dado de
componentes de frecuencia (una lmpara de mercurio luz blanca),
cada uno de tales componentes generara un sistema propio de franjas
(franjas concntricas de colores).

Un patrn de interferencia de luz cuasimonocromatica consiste
tpicamente en un nmero grande de anillos brillantes y oscuros,
alternados. Un anillo en particular corresponde a un orden fijo m .
Conforme
2
M se mueve hacia
'
1
M , d decrece y de acuerdo a la
ecuacin anterior cos
m
u aumenta y
m
u por tanto decrece. Luego los
anillos se comprimen hacia el centro, con el orden mayor desapareciendo
siempre y cuando d decrezca por 2
o
. Cada anillo de los que queda
se va haciendo cada vez ms ancho conforme las franjas van
desapareciendo en el centro, hasta que nicamente unas pocas llenan
toda la pantalla. En el momento en que 0 d = , la franja central se
habr expandido, llenando totalmente el campo de visin. Debido al
corrimiento de fase en t , resultante de la reflexin en divisor de haz,
toda la pantalla tendr un mnimo de interferencia. Se continua moviendo
2
M aun mas las franjas reaparecern en el centro y se movern hacia
afuera.

La posicin angular de cualquier anillo del p-esimo anillo oscuro est
dada por
1
2
o
p
p
d

u
| |
=
|
\ .

Las franjas resultantes de igual inclinacin (
m
const u = ) localizadas al
infinito (rayo saliendo en forma paralela, observables a ojo), son
algunas veces llamadas franjas de Haidinger en honor al fsico
austriaco Wilhelm Karl Haidinger (1795-1871). Cuando los espejos del
interfermetro estn inclinados el uno respecto al otro haciendo un
ngulo pequeo, es decir, cuando
1
M y
2
M no son totalmente
perpendiculares entre s, se observan franjas de Fizeau. La cua de aire
formada entre
2
M y
'
1
M produce un patrn de franjas rectas y paralelas
(franjas de Fizeau).


Figura 16. Un rearreglo conceptual del interferometro de Michelson.

Figura 15. El interferometro de Michelson.


APUNTES DE INTERFERENCIA PTICA - ANEXO 1 2012
6
Es evidente que el interfermetro de Michelson se puede usar para hacer
medidas de longitud bastante precisas. Cuando el espejo mvil es
desplazado en 2
o
, cada franja se mover a la posicin previamente
ocupada por una franja adyacente. Por tanto nicamente se necesita
contar el nmero de franjas N , que pasan por cierto punto de
referencia, para determinar la distancia recorrida
d A
por el espejo mvil,
o sea
2
o
d N

A =

Michelson uso este mtodo para medir el nmero de longitudes de ondas
de la lnea roja de Cadmio que correspondan al metro patrn de Sevres,
cerca de Paris.
5.2. Interfermetro de Mach-Zehnder

Este interfermetro consta de dos espejos y dos divisores de haz, como
muestra la figura 17. Las dos ondas dentro del aparato viajan a lo largo
de caminos separados. Una pequea diferencia entre los caminos se
puede producir por un ligero giro de uno de los divisores de haz. Dado
que los caminos estn separados, el interfermetro es relativamente
difcil de alinear.

Interponiendo un objeto en uno de los haces, se alterar la diferencia de
camino ptico y por lo tanto cambiar el patrn de franjas. Una aplicacin
comn de este instrumento consiste en observar la variacin de densidad
de flujo de gases dentro de cmaras, por ejemplo de tneles de viento.
Un haz pasa a travs de las ventanas pticamente plana de las cmaras
de prueba, por donde fluye el gas, mientras que el otro haz cruza placas
compensadoras apropiadas.

5.3. Interfermetro de Sagnac.

Este interfermetro es relativamente fcil de alinear, bastante estable y a
pesar de todo tiene poco uso prctico.
En la figura 18 se muestra dos formas posibles de interfermetros de
Sagnac. La caracterstica particular de este dispositivo es que existen
dos caminos idnticos pero opuestos en la direccin de la trayectoria, y
que ambos forman caminos cerrados antes que se unan para formar
interferencia. Un pequeo cambio en uno de los espejos producir una
diferencia de camino ptico y se obtendrn franjas. Puesto que los haces
estn superpuestos y por lo tanto son inseparables, el interfermetro no
puede se usado para los usos convencionales, que en general dependen
de la posibilidad de imponer variaciones sobre nicamente uno de los
brazos del interfermetro.

5.4. Interfermetro de Pohl.

Este interfermetro es simplemente una pelcula semitransparente
iluminada por la luz proveniente de una fuente puntual. En este caso las
franjas son reales y se pueden producir sobre una franja colocada en
cualquier lugar pero en la vecindad del interfermetro y sin usar una lente
condensadora. Se utiliza una fuente de luz conveniente (luz blanca o luz
laser), cuya luz sale por un pequeo orificio y una pelcula delgada la
cual es una pieza de mica ordinaria pegada sobre una cubierta de libro
negra la cual sirve de fondo opaco.


6. PELICULAS DIELCTRICAS INTERFERENCIA DE DOS
HACES.
Se dice que una capa de algn material transparente es una pelcula
delgada para cierta longitud de onda de radiacin electromagntica cuando
su espesor es del orden de la longitud de onda.
6.1. Franjas de igual inclinacin.

Inicialmente , consideramos el caso sencillo de una placa transparente y
paralela de material dielctrico con un espesor d . Supongamos que es
no absorbente y que los coeficientes de reflexin de amplitud en las
caras son tan bajos, que nicamente vale la pena considerarse los dos
primeros haces reflejados
1r
E y
2r
E (ambas han sufrido solo una
reflexin).


De acuerdo a la figura 21(a) la diferencia de camino ptico para los dos
primeros rayos reflejados est dada por
( ) ( ) ( )
1 f
n AB BC n AD
(
A = +


Y puesto que
( ) ( )
cos
t
AB BC d u = = ,
Consideremos a S como una fuente puntual monocromtica. La pelcula
sirve como un dispositivo de divisin de amplitud, tal que
1r
E y
2r
E
pueden ser considerados como provenientes de dos fuentes coherentes
virtuales colocadas atrs de la pelcula. Los rayos reflejados son

Figura 21. Franjas de igual inclinacin. Franjas vistas sobre una
pequea porcin de la pelcula.

Figura 20. Luz reflejada de la parte superior e inferior de
una pelcula delgada.

Figura 19. Interfermetro de Pohl.

Figura 18. Interfermetro de Sagnac.

Figura 17. El interfermetro de Mach-Zender.


APUNTES DE INTERFERENCIA PTICA - ANEXO 1 2012
7
paralelos cuando dejan la pelcula y se pueden unir cuando en un punto
P sobre el plano focal de un una lente convergente o sobre la retina del
ojo cuando est enfocado en el infinito ver figura 21(a).

Luego
( )
1
2
cos
f
t
n d
n AD
u
A =
Ahora para encontrar la expresin para
( )
AD ,
( ) ( )
i
AD AC senu =
Si hacemos uso de la ley de Snell, esto se transforma en
( ) ( )
1
f
t
n
AD AC sen
n
u =
Donde
( )
2 tan
t
AC d u =
La expresin para Aahora es
( )
2
2
1
cos
f
t
t
n
sen u
u
A =
O finalmente


La diferencia de fase correspondiente es el producto del nmero de onda
en el vacio con A, es decir,
o
k A. Si la pelcula est sumergida en un
solo medio, el ndice de refraccin se puede escribir simplemente como
1 2
n n n = = ; hay que darse cuenta que n puede ser menor que
f
n ,
como en el caso de la pompa de jabn en el aire; o mayor que
f
n ,
como ocurre en una capa de aire dentro de dos placas delgadas de
vidrio. En cualquier caso habr un corrimiento adicional en la fase como
resultado de las reflexiones mismas. Recordemos que
independientemente de la polarizacin de la luz incidente, los haces, uno
reflejado interna y otro externamente, sufrirn un cambio relativo de fase
de t radianes. De acuerdo a ello
o
k o t = A
Y ms simplemente
4
cos
f
t
o
n
d
t
o u t

=
O
( )
1 2
2 2 2
4
f i
o
d
n n sen
t
o u t

=

El signo del corrimiento no es relevante, de tal modo que escogeremos el
signo negativo para hacer las ecuaciones un poco ms simples.

Los mximos en luz reflejada de interferencia, un punto brillante
aparecer en P cuando 2m o t = , sea un mltiplo par de t . En
este caso la ecuacin inicial de la fase queda
(Mximos) ( ) cos 2 1 0,1, 2,
4
f
t
d m m

u = + =

Donde se ha usado el hecho de que
f o f
n = . Esto
corresponde a mnimos de luz trasmitida.

Los mnimos de interferencia en luz reflejada(mximos en
transmitida) resultan cuando ( ) 2 1 m o t = , es decir
mltiplos impares de t . Para tal caso en la ecuacin inicial de la fase
queda
(Mnimos)
cos 2 0,1, 2,
4
f
t
d m m

u = =

El ngulo
i
u o equivalentemente
t
u , determinado por la
posicin de P , a su vez controlar o . Las franjas que
aparezcan en los puntos
1
P y
2
P de la figura 21(c) son
correspondientemente, conocidas como franjas de igual
inclinacin. Recordemos que cada fuente puntual sobre la
fuente extendida es incoherente con respecto a las otras.

Observese que conforme la pelcula se hace ms gruesa, la
separacin
( )
AC entre
1r
E y
2r
E tambin aumenta ya que
( )
2 tan
t
AC d u =

Cuando solo uno de los rayos puede entrar a la pupila del ojo, el
patrn de interferencia desaparecer. Puede ser usada una lente
de mayor dimetro para atrapar ambos rayos, haciendo una vez
ms posible la observacin del patrn. La separacin puede
disminuirse reduciendo
t
u y por tanto
i
u , o sea, observando la
pelcula casi a incidencia normal. La franjas de igual inclinacin
observadas en esta forma para placas gruesas se conocen como
franjas de Haidinger . Con una fuente extendida ellas consiste
de una serie de bandas circulares concntricas centradas sobre la
perpendicular del ojo(o de la lente), Como se puede observar en la
figura 22.

6.2. Franjas de igual espesor.
Existe toda una clase de franjas de interferencia para los cuales el
espesor ptico,
f
n d , es el parmetro dominante ms que
i
u . Estas se
llaman franjas de igual espesor. Bajo iluminacin con luz blanca la
iridiscencia con pompas de jabn, capas de aceite (con unas pocas
longitudes de onda de gruesa), todas ellas son resultado de variaciones
en el espesor de la pelcula. Las bandas de interferencia de este tipo
son anlogas al contorno de lneas de altura constante de un mapa
topogrfico. Cada franja es un lugar geomtrico de todos los puntos en
la pelcula para el cual el espesor ptico es constante. Si
f
n no vara, de
tal modo que las franjas en realidad corresponden a regiones de igual
espesor en la pelcula. Estas pueden ser tiles para determinar aspectos
bien importantes de la superficie de elementos pticos: lentes, prismas,
etc. Por ejemplo una superficie que va a ser examinada se pone en
contacto con un plano ptico (Una superficie que esta pticamente
plana que se desva no ms de 4 respecto a un plano perfecto o
ms pequeo).

El aire entre el espacio de las dos superficies genera un patrn de
interferencia de pelculas delgadas. Si la superficie bajo prueba es
plana, una serie de bandas rectas e igualmente espaciadas indicar que
hay una pelcula de aire en forma de cua, tal como se muestra en la
figura 23. Cuando se observa casi a incidencia normal, en la forma
ilustrada en la figura 23, los contornos provenientes de una pelcula no
uniforme (cua de aire) se llaman franjas de Fizeau.



Figura 22. Franjas circulares de Haidinger centrales sobre el eje
de la lente.
2 cos
f t
n d u A =


APUNTES DE INTERFERENCIA PTICA - ANEXO 1 2012
8

Para una cua delgada de ngulo pequeo o (ver figura 23), la
diferencia de camino ptico entre los dos rayos puede ser aproximada
por
2 cos
f t
n d u A = , donde d es el espesor para un punto en
particular, es decir
d xo =
Para ngulos pequeos de
i
u la condicin para interferencia mxima es
( )
1
2
2
o f m
m n d + =
O
( )
1
2
2
o m f
m x n o + =
Puesto que
f f o
n = ,
m
x puede escribirse como
1 2
2
m f
m
x
o
+ | |
=
|
\ .

Los mximos ocurren a distancias desde el vrtice dadas por 4
f
o ,
3 4
f
o , etc. y las franjas consecutivas estn separadas por una
distancia x A , dada por
2
f
x o A =
Obsrvese que la diferencia de espesor de la pelcula es 2
f
.
Puesto que el haz reflejado en la superficie inferior cruza la pelcula dos
veces ( 0
i t
u u ~ ~ ), los mximos adyacentes difieren en longitud de
camino ptico por
f
. Tambin se observa que el espesor de la
pelcula para varios mximos esta dado por
( ) 1
2
f
m
d m

= +
Cruzando la pelcula dos veces se obtiene un cambio de fase de t el
cual, cuando se suma al corrimiento de t resultante de la reflexin,
pone a los dos rayos en fase.

Examinemos ahora los llamados anillos de Newton que se presentan
en una configuracin parecida a la de la figura 24.


Aqu la lente se coloca sobre un plano ptico e iluminado a incidencia
normal con luz cuasimonocromatica. La cantidad de uniformidad en
el patrn de crculos concntricos es una medida del grado de
perfeccin de la lente. Siendo R el radio de curvatura de una lente
convexa, la relacin entre la distancia x y el espesor d de la
pelcula est dada por

( )
2
2 2
x R R d =
O ms simplemente por
2 2
2 x Rd d =
Puesto que R d >> esto se convierte en
2
2 x Rd =
Nuevamente necesitaremos suponiendo que necesitamos
nicamente examinar los primeros dos haces reflejados
1r
E y
2r
E .
El m-esimo orden de interferencia para un mximo ocurrir en la
pelcula delgada cuando su espesor est de acuerdo con la relacin
1
2
2 ( )
f m o
n d m = +
El radio del m-esimo anillo brillante se encuentra por lo tanto
combinando las dos ltimas expresiones para obtener
1 2
1
2
( )
m f
x m R ( = +


Igualmente el radio del m-esimo anillo negro es
1 2
( )
m f
x m R =
Si las dos piezas estn en contacto (sin polvo), la franja central en
ese punto ( 0
o
x = ) claramente ser el mnimo de orden cero, un
resultado comprensible puesto que d se hace cero en ese punto.
En luz trasmitida, el patrn observado ser el complementario de la
luz reflejada, de tal modo que ahora el centro aparecer brillante.

7. TIPOS Y LOCALIZACION DE LAS FRANJAS DE
INTERFERENCIA.

Frecuentemente es importante conocer dnde estarn localizadas las
franjas producidas en un sistema interferomtrico. Es decir, en qu lugar
necesitamos posicionar nuestro detector. En general, el problema de
localizar las franjas es caracterstico de un interfermetro dado, es decir, se
tiene que resolver para cada dispositivo por separado.
Las franjas se pueden clasificar en dos categoras:
- Reales
o Localizadas: Que se pueden ver en una pantalla sin el
uso de un sistema adicional de enfoque, y se pueden
observar sobre una superficie particular del espacio.
Ver figura 25.
o No localizadas: Que se pueden ver en una pantalla sin
el uso de un sistema adicional de enfoque, y se pueden
observar en cualquier lugar del espacio. Ej. El
experimento Young. As mismo el interfermetro de
Michelson con cua de aire.
- Virtuales
o Localizadas: Que no se pueden ver en una pantalla, y
se pueden observar sobre una superficie particular del
espacio. El experimento de Michelson con espejos
paralelos, las franjas circulares sern virtuales
localizadas al infinito. Ver tambin figura 25.

8. INTEREFERENCIA CON HACES MULTIPLES.

Figura 25. Localizacin de la franjas.

Figura 24. Anillos de newton.

Figura 23. Franjas de una pelcula en forma de cua.


APUNTES DE INTERFERENCIA PTICA - ANEXO 1 2012
9
Existen circunstancias bajo las cuales un gran nmero de ondas
mutuamente coherentes pueden interferir. De hecho, si los coeficientes de
reflexin de amplitud r , para la placa de caras paralelas ilustrada en la
figura 21(a) no son pequeos como en los casos anteriores, las ondas
reflejadas de alto orden
3 4
, , ,
r r
E E llegan a ser importantes. Una
placa de vidrio ligeramente plateada sobre ambos lados tal que los r se
aproximen a la unidad, generar un nmero grande de rayos reflejados
internamente. Consideremos nicamente situaciones donde la pelcula,
sustrato y medio externo son dielctricos transparentes. Esto evita los
cambios de fase ms complicados que resultan de superficies recubiertas
con metales.
Supondremos que la pelcula es no absorbente y
1 2
n n = de acuerdo a
la figura 26 . Los coeficientes de transmisin de amplitud estarn
representados por t (fraccin de la amplitud trasmitida al entrar a la
pelcula) y
'
t (fraccin trasmitida cuando una onda sale de la pelcula).
Como se muestra en la figura, las amplitudes escalares de las ondas
reflejadas
1 2 3
, , , ,
r r r
E E E son respectivamente
, '3
, , , ,
o o o
E r E trt E tr t donde
o
E es la amplitud de la onda inicial
incidente y
'
r r = . El signo menos indica un corrimiento de fase de
180
o
. De igual forma las ondas trasmitidas
1 2 3
, , , ,
t t t
E E E tendrn
amplitudes
' ' 2 ' ' 4 '
, , , .
o o o
E tt E tr t E tr t
Consideremos el conjunto de rayos paralelos reflejados, cada rayo posee
su propia relacin fija de fase con respecto a los otros rayos reflejados. La
diferencia de fase surge como una combinacin de la diferencia en el
camino ptico y los cambios de fase debido a las varias reflexiones. A
pesar de ello, las ondas son mutuamente coherentes y si se recogen y se
ponen en foco sobre el punto P con una lente, todas ellas interferirn.


Es necesario tener en cuenta lo siguiente:
- Todas las ondas excepto la primera,
1r
E sufren un nmero
impar de reflexiones dentro de la pelcula.
- Se deduce que para cada reflexin interna la componente del
campo paralelo al plano de incidencia cambia de fase, ya sea en
t o 0 , dependiendo del ngulo interno incidente (
i p
u u <
o
p i c
u u u > >
).
- La componente del campo perpendicular al plano de incidencia
no sufre cambio en la fase para la reflexin interna. Por tanto, no
existe un cambio de fase relativo entre las ondas resultantes de
un nmero impar de tales reflexiones. Ver figura 27.
Por tanto la onda
1r
E , debido a su reflexin en la primera superficie,
estar fuera de fase en 180
o
con respecto a las otras ondas. El cambio
de fase est incluido en el hecho que
'
r r = y
'
r ocurre con potencias
impares.
Los campos pticos en P estn dados por
1
' ' ( )
2
'3 ' ( 2 )
3
'5 ' ( 3 )
4
'(2 3) ' [ ( 1) ]
iwt
r o
i wt
r o
i wt
r o
i wt
r o
N i wt N
Nr o
E E re
E E tr t e
E E tr t e
E E tr t e
E E tr t e
o
o
o
o

=
=
=
=
=

Donde
iwt
o
E e es la onda incidente.
Los trminos , 2 , , ( 1) N o o o son las contribuciones a la fase
provenientes de una diferencia de camino ptico entre rayos adyacentes
(
o
k o = A). Existe una contribucin adicional proveniente de la distancia
ptica recorrida para llegar a P. Pero como es comn a todos los rayos, ha
sido omitida. El corrimiento relativo de fase sufrido por el primer rayo como
resultado de la reflexin est incluido en la cantidad
'
r .

La onda escalar reflejada resultante es entonces
1 2 3 r r r r Nr
E E E E E = + + + + , sustituyendo (Figura 28)
' ' ( ) '(2 3) ' [ ( 1) ] iwt i wt N i wt N
r o o o
E E re E tr t e E tr t e
o o
= + +
Esto se puede reescribir
' ' ' 2 ' 2 2 ' 2 2
{ [1 ( ) ( ) ( ) ]}
iwt i i i i N
r o
E E e r r tt e r e r e r e
o o o o
= + + + + +
Si
' 2
1
i
r e
o
< , y si el numero de trminos en la serie se aproxima al
infinito, la serie converge a
( )
' 2
1 1
i
r e
o
. La onda resultante llega a
ser
' '
' 2
1
i
iwt
r o i
r tt e
E E e r
r e
o
o

(
= +
(

En el caso de absorcin cero, cuando no se saca energa de las ondas,
podemos usar las relaciones
'
r r = y
' 2
1 tt r = , para escribir la
ecuacin anterior como
( )
2
1
1
i
iwt
r o i
r e
E E e
r e
o
o

( =

(



Figura 28. Diagrama de fasores.

Figura 27. Corrimiento de fase producido nicamente de las reflexiones.
(internas
'
i p
u u < ).

Figura 26. Interferencia con haces mltiples


APUNTES DE INTERFERENCIA PTICA - ANEXO 1 2012
10
La densidad de flujo reflejada en P es entonces
*
2
r r r
I E E = o sea
( )( )
( )( )
2 2
2 2
1 1
2 1 1
i i
o
r
i i
E r e e
I
r e r e
o o
o o
+
+

=


La cual se puede transformar en
( )
( )
2
4 2
2 1 cos
1 2 cos
r i
r
I I
r r
o
o

=
+

Donde
2
2
i o
I E = . Si usamos la identidad trigonomtrica
2
cos 1 2
2
sen
o
o
| |
=
|
\ .
, la anterior ecuacin se transforma en
( ) ( )
( ) ( )
2
2 2
2
2 2
2 1 2
1 2 1 2
r i
r r sen
I I
r r sen
o
o
(

=
(
+


Si introducimos una cantidad nueva conocida como coeficiente de finura
F , de modo que
2
2
2
1
r
F
r
| |
=
|

\ .

La ecuacin anterior queda
( )
( )
2
2
2
1 2
r
i
Fsen
I
I Fsen
o
o
=
+

Por otro lado, la onda escalar trasmitida es
'
1
' ' 2 ( )
2
' ' 4 ( 2 )
3
' ' 6 ( 3 )
4
' '(2 1) [ ( 1) ]
iwt
t o
i wt
t o
i wt
t o
i wt
t o
N i wt N
Nt o
E E tt e
E E tt r e
E E tt r e
E E tt r e
E E tt r e
o
o
o
o

=
=
=
=
=

Que al sumarlas dan
'
2
1
iwt
t o i
tt
E E e
r e
o
(
=
(

La densidad de flujo en el punto
'
P es
' 2
4 2
( )
(1 ) 2 cos
t i
tt
I I
r r o
=
+

Si usamos la identidad trigonomtrica
( )
2
cos 1 2 2 sen o o =
, y
consideramos que la energa de la onda no es absorbida (
' 2
1 tt r = ),
entonces la anterior ecuacin se transforma en
( ) ( )
2
2 2
1
1 2 1 2
t i
I I
r r sen o
=
(
+


Si tenemos en cuenta el coeficiente de finura, la ecuacin anterior se
reduce a


El trmino ( )
1
2
( ) 1 2 A Fsen u o

( +

es conocido como la funcin
de Airy. Representa la distribucin de la densidad de flujo trasmitida (figura
29(a)). La funcin complementaria | | 1 ( ) A u , representa la distribucin
de la densidad de flujo reflejada (figura 29(b)). Cuando 2 m o t = la
funcin de Airy toma el valor de uno, para todos los valores de F y por lo
tanto r , lo cual significa que para luz trasmitida nos encontramos los
mximos. Lo contrario ocurre para la luz reflejada. Mientras r se acerca
ms al valor de 1, la densidad de flujo trasmitida es pequea excepto en
los puntos donde se encuentran los mximos, los cuales son ms agudos.

8.1. INTERFEROMETRO DE FABRY PEROT.

El interfermetro de haces mltiples construido por Charles
Fabry y Alfred Perot, es de suma importancia en la ptica
moderna. Su valor radica en el hecho de que adems de ser
un dispositivo espectroscpico de alto poder de resolucin,
tambin sirve como cavidad resonante bsica para el laser.
En principio, el instrumento consta de dos superficies planas,
paralelas, altamente reflectantes y separadas una distancia
d . En la prctica, dos planos pticos de vidrio
semiplateados o aluminizados forman las superficies
reflectoras. El espacio de aire, entre las placas, generalmente
vara de algunos milmetros a varios centmetros cuando el
aparato se usa para interferometra y frecuentemente la
distancia aumenta considerablemente cuando se usa como
cavidad resonante del laser. Cuando el espacio d puede
variarse mecnicamente con el movimiento de uno de los
espejos se llama interfermetro. Cuando los espejos se
mantienen fijos se ajustan con algn tipo de tornillo suele
llamarse etaln.

En la figura 30 se muestra iluminado por una fuente
extendida. A travs del etaln se traza nicamente un rayo
emitido desde algn punto
1
S sobre la fuente. Entrando por
la placa parcialmente plateada, se refleja varias veces dentro
del espacio d . Los rayos trasmitidos son recogidos por una
lente y enfocados sobre una pantalla, donde interfieren
para formar un punto brillante o oscuro. Todos los rayos
incidentes sobre el mismo espacio separador con un ngulo
dado resultarn en una sola franja brillante. Con una fuente

Figura 30. Etaln de Fabry-Perot

Figura 29. (a) Funcin de Airy. (b) uno menos la funcin de Airy,
( )
2
1
1 2
t
i
I
I Fsen o
=
+


APUNTES DE INTERFERENCIA PTICA - ANEXO 1 2012
11
difusa ancha, las bandas de interferencia sern anillos
concntricos delgados, correspondientes al patrn de
trasmisin de haces mltiples.

El interfermetro de Fabry-Perot se usa frecuentemente para
examinar la estructura detallada de las lneas espectrales. Las
ondas de luz hipotticamente monocromticas puras
generan una patrn de franjas circulares. Pero es una funcin
de , de tal manera que si la fuente estuviera formada por
dos componentes monocromticas tendramos dos sistemas
de anillos superpuestos.



RESUMEN INTERFERENCIA PTICA PROFESOR NSTOR ALONSO ARIAS HERNNDEZ PTICA
1
1. RESUMEN - INTERFERENCIA PTICA
Ecuacin de onda electromagntica en el vacio
2 2
2 2
2 2
1
; ;
o o o o
o o
E B
E B c
t t
c c
c
c c
V = V = =
c c

2. CONSIDERACIONES GENERALES
Ecuacin de onda monocromtica
1 01 1 1 2 02 2 2
( , ) cos( ) ( , ) cos( ) E r t E k r wt y E r t E k r wt o o = + = +

La irradiancia en P esta dada por
2
I v E c = ,
La irradiancia total para dos ondas electromagnticas 1 2 12
I I I I = + +
promedio en el tiempo de una funcin ' ' 1
( ) ( )
t T
t
f t f t dt
T
+
=
}

Valor medio de algunas funciones importantes:
2 2 1 1
2 2
cos ; cos 0, wt sen wt y senwt wt = = =
la diferencia de fase. 1 1 2 2
k r k r o o o = +

Irradiancia de cada onda
2 2
2 2 01 02
1 1 2 2
2 2
E E
I E y I E = = = =

Irradiancia total :
1 2 1 2
2 cos I I I I I o = + +


Un mximo de irradiancia se obtiene cuando cos 1 o =
Interferencia constructiva total.
O sea cuando 0, 2 , 4 , o t t =
max 1 2 1 2
2 I I I I I = + +
Un mnimo de irradiancia se obtiene cuando cos 1 o =
interferencia destructiva total.
O sea cuando , 3 , 5 , o t t t =
min 1 2 1 2
2 I I I I I = +
Cuando cos 0 o =
sea cuando
, 3 , 5 ,
2 2 2
t t t
o = 1 2
I I I = +
Para valores intermedios fuera de fase.
1 2 max
0 cos 1 I I I I o < < + < < Interferencia constructiva
1 2 min
0 cos 1 I I I I o > > + > > Interferencia destructiva
Cuando
1 2 0
I I I = = , la ecuacin de se puede escribir
( )
0
2 1 cos I I o = +
2
0
4 cos
2
I I
o
=

- Si se considera ondas esfricas emitidas por
1
S y
2
S .
1 1 01 1 1 1 2 2 02 2 2 2
( , ) ( ) exp[ ( )] ( , ) ( ) exp[ ( )] E r t E r i kr wt y E r t E r i kr wt o o = + = +
Si
1 2 0
I I I = = tenemos que | |
2 1
0 1 2 1 2 2
4 cos ( ) ( I I k r r o o = +



Los mximos de irradiancia ocurren cuando
2m o t = Siempre que 0, 1, 2, 3, m=
Los mnimos de irradiancia ocurren cuando
(2 1) m o t = + Siempre que 0, 1, 2, 3, m=
Teniendo en cuenta la definicin de o , las ecuaciones anteriores se pueden rescribir.
Mximo cuando:
2 1
1 2
[2 ( )]
( )
m
r r
k
t o o +
=
Minimo cuando:
2 1
1 2
[ (2 1) ( )]
( )
m
r r
k
t o o + +
=
Si las ondas estn en fase
2 1
0 o o =
1 2
2
( )
m
r r m
k
t
= = , superficies de irradiancia mxima
1 2
(2 1)
( ) (2 1)
2
m
r r m
k
t +
= = + , superficie de irradiancia mnima.
2. CONDICIONES PARA LA INTERFERENCIA
- Las fuentes deben ser coherentes. Que la diferencia de fase se mantenga constante.
- Las dos fuentes deben tener casi la misma frecuencia.
- Es muy conveniente utilizar una fuente para producir de ella dos fuentes secundarias
coherentes.
- Se obtendrn patrones ms claros (mximo contraste) si las amplitudes de las ondas son
iguales.
- La interferencia de la luz polarizada. Leyes de Fresnel Arago.
- Dos estados de polarizacin lineal coherentes ortogonales no pueden interferir
en el sentido de que
12
0 I = y no resultan franjas.
- Dos estados de polarizacin lineal coherentes paralelos pueden interferir en una
misma regin del espacio.
- Dos estados linealmente polarizados de luz natural (no coherente) no pueden
interferir.



RESUMEN INTERFERENCIA PTICA PROFESOR NSTOR ALONSO ARIAS HERNNDEZ PTICA
2
3. INTERFEROMETROS DE DIVISION DE FRENTE DE ONDA.
3.1. Experimento de Young
La interferencia constructiva ocurre cuando
1 2
r r m =
m
s
y m
a
=
La posicin angular de la franjas es
m
m
a

u =
Espacio entre franjas consecutivas
s
y
a
A =

La irradiancia resultante
2
4 cos
o
ya
I I
s
t

=

3.2. Espejo doble de Fresnel.
s
y
a
A =
3.3. Espejo Lloyd.

1 2
( ) k r r o t =

la irradiancia queda
2
4
o
ay
I I sen
s
t

| |
=
|
\ .


4. INTEREFEROMETROS DE DIVISION DE AMPLITUD.
4.1. Interfermetro de Michelson.

Habr interferencia destructiva cuando
2 cos
m o
d m u =
Donde m es un entero.
La posicin angular del p-esimo anillo oscuro
1
2
o
p
p
d

u
| |
=
|
\ .

Distancia recorrida d A por el espejo mvil
2
o
d N

A =

5. PELICULAS DIELECTRIAS INTERFERENCIA DE DOS HACES.
5.1. Franjas de igual inclinacin.



cambio de fase
( )
1 2
2 2 2
4
f i
o
d
n n sen
t
o u t

=

Los mximos en luz reflejada de interferencia,
(Mximos) ( ) cos 2 1 0,1, 2,
4
f
t
d m m

u = + =
Donde se ha usado el hecho de que
f o f
n = . Esto corresponde a mnimos de luz
trasmitida.

Los mnimos de interferencia en luz reflejada(mximos en transmitida)
(Mnimos) cos 2 0,1, 2,
4
f
t
d m m

u = =

5.2. Franjas de igual espesor.
1 2
2
m f
m
x
o
+ | |
=
|
\ .

Las franjas consecutivas estn separadas por una distancia x A , dada por
2
f
x o A =

Espesor de la pelcula para varios mximos ( ) 1
2
f
m
d m

= +
Anillos de Newton
Si R d >>
2
2 x Rd =
El m-simo orden de interferencia
1
2
2 ( )
f m o
n d m = +
El radio del m-simo anillo brillante
1 2
1
2
( )
m f
x m R ( = +


El radio del m-simo anillo negro es
1 2
( )
m f
x m R =


6. TIPOS Y LOCALIZACION DE LAS FRANJAS DE INTERFERENCIA
Las franjas se pueden clasificar en dos categoras:
o Reales: (Localizadas y No localizadas)
o Virtuales Localizadas:
7. INTEREFERENCIA CON HACES MULTIPLES.
La onda resultante reflejada
( )
2
1
1
i
iwt
r o i
r e
E E e
r e
o
o

(
( =

(


La densidad de flujo reflejada en P
( )
( )
2
4 2
2 1 cos
1 2 cos
r i
r
I I
r r
o
o

=
+

Coeficiente de finura
2
2
2
1
r
F
r
| |
=
|
\ .

Razn entre la onda reflejada y la onda incidente
( )
( )
2
2
2
1 2
r
i
Fsen I
I Fsen
o
o
=
+

La onda trasmitida
'
2
1
iwt
t o i
tt
E E e
r e
o
(
=
(

La densidad de flujo en el punto
'
P es

( ) ( )
2
2 2
1
1 2 1 2
t i
I I
r r sen o
=
( +


( )
2
1
1 2
t
i
I
I Fsen o
=
+
.
La funcin Airy. ( )
1
2
( ) 1 2 A Fsen u o

( +


La funcin complementaria | | 1 ( ) A u ,


2 cos
f t
n d u A =


ACTIVIDADES - ANEXO 2 2012
1
1. PREGUNTAS TIPO SELECCIN MULTIPLE CON UNICA
RESPUESTA
1.1.1. Sobre una recta se sita una fuente luminosa puntual, una lmina
con dos pequeos huecos muy cercanos una pantalla. Sobre la pantalla
se ver:
a) Una iluminacin uniforme
b) Un punto luminoso
c) Dos puntos luminosos
d) Crculos concntricos luminosos y oscuros
e) Franjas luminosas

1.1.2. Los colores que se ven sobre las burbujas de jabn se deben al
fenmeno de:
a) Polarizacin
b) Difraccin
c) Interferencia
d) Dispersin
e) Difusin.
Las preguntas 9.2.3 y 9.2.4 se refieren a la siguiente informacin.
Una onda plana de longitud de onda llega sobre dos rendijas separadas
una distancia a , como muestra la figura.








1.1.3. El primer mnimo de interferencia se produce en la direccin de la
flechas. La distancia s es:
a) 4
b) 2
c)
d) 3 2
e) 2
1.1.4. El segundo mnimo de interferencia se produce en la direccin de
las flechas. La distancia s es:
a) 4
b) 2
c)
d) 3 2
e) 2
1.1.5. En la pantalla P situada a la distancia d , la distancia entre dos
franjas oscuras es:
a) 2 d a
b) d a
c) 3 2 d a
d) 2 d a
e) 4 d a
Las preguntas 1.2.6 a 1.2.8 se refieren a la siguiente informacin:
Se dirige un haz de longitud de onda perpendicular a una lmina de aire
de espesor e , producida por dos placas de vidrio.

1.1.6. Cul es la diferencia de camino entre los dos rayos que se
reflejan?
a) e
b) 2e
c) 2
2
e

+
d) 2e +
e) 2 2 e +
1.1.7. Cul es el espesor mnimo para que haya interferencia constructiva?
a) 0
b) 4
c) 2
d)
e) 2
1.1.8. Cul es el espesor mnimo para que haya interferencia destructiva?
f) 0
g) 4
h) 2
i)
j) 2
2. CRUCIGRAMA
1
1 2
4 3
2 5

6 3

4 5

6
7
7
8


9


HORIZONTAL
1. Se presenta en forma total cuando la
diferencia de fase entre dos ondas es de
un nmero impar de t .
2. Es la funcin que describe el patrn de
interferencia en la interferencia de haces
mltiples.
3. Dispositivo que permite medir
longitudes con buena resolucin,
utilizando la interferencia de dos o ms
haces luminosos
4. Interfermetro conformado por un
espejo. cuyo patrn de interferencia se
presenta cuando se ilumina sobre l en
forma rasante con luz coherente.
5. Uno de los autores del Interfermetro
que consta de dos espejos y dos
divisores de haz. Las dos ondas dentro
del aparato viajan a lo largo de caminos
separados.
6. Uno de los autores del Interfermetro
que consta de un divisor de haz y dos o
tres espejos. Los caminos son idnticos
pero opuestos en la direccin de la
trayectoria, formando caminos cerrados
antes que se unan.
7. Patrn de Interferencia formado
debido a una pelcula de aire entre
una interface plana y otra esfrica.
8. Se presenta en forma total cuando la
diferencia de fase entre dos ondas es de
un nmero par de 2t .
9. Franjas de igual inclinacin formadas
en el interfermetro de Michelson.
VERTICAL
1. Fenmeno que se presenta
como resultado de la
superposicin de dos ondas
coherentes.
2. Diferencia que permite
establecer el tipo de
interferencia entre dos ondas
luminosas
3. Interfermetro conformado por
una pelcula semitransparente
iluminada por la luz proveniente
de una fuente puntual.
4. Se observan cuando los
espejos en un interfermetro de
Michelson sus espejos son
perpendiculares.
5. Se observan como resultado de
la superposicin de dos ondas
luminosas coherentes en el
espacio.
6. Uno de los diseadores del
experimento que pretenda
corroborar la existencia del ter.
7. Participo en las condiciones
necesarias para que se
presente interferencia.








s

a

P


ACTIVIDADES - ANEXO 2 2012
2
3. PROBLEMAS RESUELTOS
3.1 Considere el patrn de franjas circulares de las franjas de
Haidinger que resultan de una pelcula de 2 mm de espesor
e ndice de refraccin 1,5. Para iluminacin monocromtica
de = 600 nm, encuentre el orden de la franja central
( = 0). Ser brillante u oscura?

Desarrollo
De la cos 2 0,1, 2,
4
f
t
d m m

u = = que
corresponde a los mnimos de interferencia para luz
reflejada en una pelcula delgada con franjas de igual
inclinacin, despejando m
2 cos0
f o
m n d = 2
f o
m n d =
2(1.5) (2 ) (600 ) m mm nm =

3 9
2(1.5) (2 10 ) (600 10 ) 10.000 m mts mts

= =
Un mnimo, por lo tanto, una regin central oscura.

3.2 Imagnese que tenemos una antena a la orilla de un lago
recogiendo una seal de una radio estrella lejana que est
llegando justamente arriba del horizonte. Escriba
expresiones para y para la posicin angular de la estrella
cuando la antena detecta su primer mnimo.

Desarrollo
Esta configuracin corresponde a un espejo de Lloyd

{ 2 [ (90 2 )] } k a sen sen a sen o o o o t = +
(1 cos2 ) / 2 ka sen o o o t = +
El mximo ocurre para 2 o t = cuando
2
( ) (1 cos 2 ) 2 sen a sen o o o = =
El primer mximo
1
( 2 ) sen a o

=

3.3 Se observan franjas cuando un haz paralelo de luz de
longitud de onda 500 nm est incidiendo
perpendicularmente sobre una pelcula de forma de cua y
con ndice de refraccin 1.5 Cul es el ngulo de la cua
si la separacin de franjas es de 1/3 cm?
Desarrollo
2
f
x

o
A = ,
2
o
f
n x

o =
A



3.4 Considere el patrn de interferencia del interfermetro de
Michelson como proveniente de dos haces con igual
densidad de flujo. Usando la ec.
2
0
4 cos
2
I I
o
= calcule el
ancho. Cul es la separacin, en , entre dos mximos
adyacentes? Cul es entonces la finura?
Desarrollo


El ancho medio de la franja se da cuando

2
1
cos
2 2
o
=
2
cos
2 2
o
=

2 2
o t
= o t = por lo tanto t =
La separacin entre mximos es de
La finura se defina como
4. PROBLEMAS PROPUESTOS
4.1 Sea

y

Donde los frentes de onda no estn especificados
explcitamente y E1 y E2 son vectores complejos
dependiendo del espacio y la fase inicial. Demuestre que el
trmino de interferencia est dado por
(1)
Usted tendr que evaluar trminos de la forma

para T t Demostrar que la ec. (1) conduce a la ec.
12 01 02
cos I E E o = para ondas planas.
4.2 Si se considera la distribucin espacial de energa para dos
fuentes puntuales. Se Menciona que para el caso donde la
separacin promedia espacialmente cero. Por
qu esto es cierto? Qu sucede cuando a es mucho
menor que ?

4.3 Obtendremos un patrn de interferencia en el experimento
de Young (fig. 7) si reemplazamos la fuente rendija S por un
solo filamento largo de una ampolla? Qu ocurrir si
reemplazamos las rendijas y por esas mismas
ampollas?


4.4 Al examinar las condiciones bajo las cuales las
aproximaciones de la ec.
1 2
r r au = son vlidas:
a) Aplique la ley de los cosenos al tringulo en la
fig. 8 para obtener

b) Desarrolle esto en series de Maclaurin
obtenindose


ACTIVIDADES - ANEXO 2 2012
3

c) A la luz de la ec.
2
0
4 cos
2
I I
o
= demuestre que si
es igual a sen es necesario que
.

4.5 Cul es la expresin general para la separacin de las
franjas de un biprisma de Fresnel de ndice n sumergido en
un medio que tiene un ndice de refraccin n?

4.6 Usando el espejo de Lloyd se observaron franjas de rayo X,
la separacin de las cuales se encontr que era igual a
0,0025 cm. La longitud de onda usada fue 8,33 . Si la
distancia fuente-pantalla es 3 m, qu tan arriba del plano
del espejo estuvo la fuente puntual de rayos X?

4.7 La fig. 9.72 ilustra la disposicin usada para probar lentes.


Demuestre que

Cuando son despreciables en comparacin con
, respectivamente. (Recuerde el teorema de
geometra plana que relaciona los productos de los
segmentos de las cuerdas intersectantes.) Pruebe que el
radio de la m - sima franja oscura es entonces

Cmo se relaciona esto con la ec.
1 2
( ) ?
m f
x m R =
4.8. Dibuje la configuracin que usted usara para ver anillos de
Newton en un interfermetro Twyman Green.

Empezando con la ec.
'
2
1
iwt
t o i
tt
E E e
r e
o
(
=
(

para las ondas
transmitidas, calcule la densidad de flujo, o sea,
' 2
4 2
( )
(1 ) 2 cos
t i
tt
I I
r r o
=
+


4.9. Determine el ndice de refraccin y espesor de una pelcula
depositada sobre una superficie de vidrio tal que
la luz que incide normalmente con longitud de onda 540 nm
no es reflejada.

4.10. Ilumine el portaobjetos de microscopio (o mejor un
portaobjetos de vidrio recubierto delgado). Franjas coloreadas
se pueden ver fcilmente con una lmpara fluorescente
ordinaria que sirve como fuente ancha o una luz de mercurio
de la calle como una fuente puntual. Describa las franjas.
Ahora rote el vidrio. Cambia el patrn? Pruebe de nuevo con
una hoja de plstico, de las utilizadas para preservar
alimentos, estirada a lo largo de la parte superior de una
copa.


4. EXPERIMENTOS
4.1. EXPERIMENTO DE YOUNG
Tome un espejo de 5cmX5cm y con dos hojas de afeitar muy juntas
(puede inclinarlas para logra que sus bordes (filos) queden aun mas
unidos) trace dos lneas paralelas sobre el espejo de tal forma que la
separacin entre ellas sea lo ms pequea posible (de esto depende
la calidad del experimento). Ilumine con un diodo laser comercial por
la parte plateada del espejo de tal forma que se cubra las dos
ranuras con el haz y observe sobre una pantalla (blanca
preferiblemente) ubicada a una distancia determinada el patrn de
interferencia. Observe que sucede si usted se aleja o se acerca de
la pantalla. Realice diferentes ranuras con separaciones diferentes y
observe la dependencia de la separacin de las ranuras con el paso
de las franjas. Si le es posible tener dos lseres de diferentes
longitudes de onda (color, en el mercado se consiguen con relativa
facilidad los lseres verdes, violetas y rojos), evalu la dependencia
de la longitud de onda con el paso de las franjas.
4.2. EXPERIMENTO DE LA CUA DE AIRE
Adquiera dos lminas de portaobjetos, un diodo laser comercial y un
cabello. Posicione el cabello en medio de las dos lminas en uno de
sus extremos, de tal forma que se genere una cua de aire. En un
cuarto oscuro al iluminar el sistema creado se podr observar el
patrn de interferencia por trasmisin. Cmo podra utilizar este
experimento para medir el espesor del cabello.

4.3. EXPERIMENTO DE FRANJAS DE IGUAL ESPESOR DE
COLORES
Con la ayuda de dos lminas de portaobjetos y una cartulina negra,
se pueden observar franjas de interferencia de igual espesor.
Coloque sobre la cartulina negra las dos lminas de portaobjeto, una
encima de la otra. En el intermedio de las dos lminas quedara una
capa de aire muy pequea. Si iluminamos con luz blanca (el de una
bombilla comn) en un ambiente con baja luminosidad, se
observarn franjas coloreadas. Presione con la punta de un esfero y
observe los cambios en el sistema de franjas.