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DIFRACCIÓN DE RAYOS X (DRX) UP VM
DIFRACCIÓN DE RAYOS
X (DRX)
UP VM
DIFRACCIÓN DE RAYOS X (DRX) UP VM

DIFRACCIÓN DE RAYOS X

La difracción de rayos X es una de las herramientas más utilizadas para el estudio de la estructura atómica de la materia.

También son muy usadas la difracción de

electrones y de neutrones.

Los Rayos X son radiaciones electromagnéticas penetrantes cuya longitud de onda va desde un rango de 0,5 a 2,5 Aº.

Cuanto menor es la longitud de onda de los

Rayos X, mayores son su energía y poder de penetración.

DIFRACCIÓN DE RAYOS X

Los rayos de mayor longitud de onda, se conocen como Rayos X blandos.

Los de menor longitud de onda, se denominan Rayos X duros

Los Rayos X formados por una mezcla de muchas

longitudes de onda diferentes se conocen como Rayos X ‘blancos’.

La teoría de la difracción, es decir, la relación entre

el diagrama de difracción y la distribución espacial

de los átomos, es la misma para los tres tipos de radiación.

COMO SE PRODUCEN

Electrones

impactan

blanco

acelerados

un

sobre

Los átomos del blanco

de

sufren

procesos

excitación

de

relajación emiten fotones

X

La mayor parte de la energía se transforma en calor

En

el

proceso

excitación de relajación emiten fotones X  La mayor parte de la energía se transforma en

COMO SE PRODUCEN

La desaceleración de los electrones, al llegar al blanco, genera fotones X de diferentes longitudes de ondas (radiación

blanca)

Una pequeña parte de los electrones provoca el fenómeno anterior, dando lugar a las líneas

rayos-X

de

características

Una pequeña parte de los electrones provoca el fenómeno anterior, dando lugar a las líneas rayos-X
QUE ES LA DIFRACCIÓN? • Las ondas se componen sumando en cada punto sus amplitudes
QUE ES LA DIFRACCIÓN?
• Las ondas se
componen
sumando en cada
punto sus
amplitudes en
función de la
dirección aparecen
zonas de máxima
intensidad (ondas
en fase) y zonas de
intensidad nula
(ondas desfasadas)

LEY DE BRAGG

m=orden de

difracción 1,2,3,…

Diferencia de camino óptico:

2x=ML + LN=2ML=2LN

Se producen interferencias constructivas si se cumple:

2x=mλ

sen θ =x/d x=d*sen θ

λ = 2dhkl*sen θ

Ley de Bragg : = 2 d sen θ

se cumple: • 2x=m λ • sen θ =x/d x=d*sen θ • λ = 2 dhkl

USO GENERAL

La difracción de rayos X es una técnica versátil, no-destructiva y analítica para la determinación de:

Fases

Estructura

Textura

Tensiones

Que pudieran estar presentes en materiales:

sólidos, polvos, y líquidos

EJEMPLOS DE APLICACIONES

Determinación de la estructura de los materiales

Determinación de los cambios de fases en las estructuras.

Determinación de esfuerzos residuales.

Determinación de la posición de los aceros en elementos estructurales de hormigón armado.

Determinar espesores de recubrimiento de aceros de refuerzo.

Determinación de zonas afectadas en barras de acero.

En la microestructura de las partículas.

Detección de poros en las obras pretensadas.

La microradiografía.

Dos radiografías pueden combinarse en un proyector para producir una imagen tridimensional llamada estereoradiograma.

La radiografía en color también se emplea para mejorar el

detalle.

La microsonda de electrones, que utiliza un haz de electrones muy para generar rayos X sobre una muestra en una superficie de sólo una micra cuadrada, proporciona una información muy detallada.

MUESTRAS

Forma: Las muestras pueden ser sólidos, polvos, pastillas prensadas, lentes, discos fundidos o líquidos

Tamaño: muestras típicas son de 32 mm (1 14 pulgadas) de diámetro, o se colocan en tazas especiales, soportes y soportes

Profundidad de muestreo puede variar desde unos

pocos micrómetros hasta un milímetro o más, dependiendo de la energía de rayos X utilizado y composición de la matriz de la muestra

Preparación de la muestra puede implicar ninguna,

pulido para obtener una superficie plana, molienda y

granulación, o fusión en un flujo

VENTAJAS

Aplicable a muestras diferentes, incluyendo sólidos

Relativamente rápida y fácil de aprender

Resultados semicuantitativos se pueden obtener de muchas muestras sin uso de normas; mayoría de las

normas se pueden mantener durante largos

periodos de tiempo, porque la mayoría de las aplicaciones son para sólidos

La instrumentación es relativamente barato

LIMITACIONES

Los límites de detección para las determinaciones de masa son normalmente unas pocas ppm a unas pocas decenas de ppm, dependiendo de la energía de rayos X usada y la composición de la muestra matriz

Para las muestras de capa fina, los límites de detección son aproximadamente 100 ng/cm2

No es adecuado para elementos de número

atómico menos de 11 a menos equipo especial

está disponible, en cuyo caso los elementos hasta el número atómico 6 se puede determinar

TIEMPO ESTIMADO DEL ANÁLISIS

30 s a 5 min en la mayoría de los casos; miles de muestras puede ser manejado en unos pocos días

MÉTODOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X Método Radiación Muestra Detector Información Suministrada Laue
MÉTODOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X
Método
Radiación
Muestra
Detector
Información Suministrada
Laue
Policromática
Monocristal
Película
Simetría Cristalina
Fotográfica
Giratoria u
Monocromática
Monocristal
Película
Parámetros Cristalinos
Oscilante
Fotográfica
Weissemberg
Monocromática
Monocristal
Película
Fotográfica
Simetría Cristalina (grupo especial)
Parámetros Cristalinos
Intensidades Difractadas (estructuras
cristalinas)
identificación
Precesión
Monocromática
Monocristal
Película
Fotográfica
Simetría Cristalina (grupo especial)
Parámetros Cristalinos
Intensidades Difractadas (estructuras
cristalinas)
Identificación
Difractometro
Monocromática
Monocristal
Contador
Simetría Cristalina (grupo especial)
de
Electrónico
Parámetros Cristalinos
Monocristal
Intensidades Difractadas (estructuras
cristalinas)
identificación
Debye-
Monocromática
Polvo
Película
Scherrer
Cristalino
Fotográfica
Parámetros Cristalinos
Identificación
Difractometro
de Polvo
Monocromática
Polvo
Contador
Cristalino
Electrónico
Parámetros Cristalinos
Intensidades Difractadas (análisis
cuantitativo de las fases cristalinas)
Identificación

MÉTODOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X

MÉTODOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X
MÉTODOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X
MÉTODOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X
MÉTODOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X
MÉTODOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X
MÉTODOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X
MÉTODOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X
MÉTODOS DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X

BIBLIOGRAFIA

ASM Metals Handbook Volume 10, Materials Characterization, manuals, etc. I. Title: American Society for Metals. Handbook Committee.